KR101042036B1 - 봉착패널 및 플라즈마 디스플레이 패널의 제조방법 - Google Patents

봉착패널 및 플라즈마 디스플레이 패널의 제조방법 Download PDF

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에이이치 이이지마
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가부시키가이샤 아루박
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Abstract

방전전압의 상승을 억제할 수 있는 봉착패널(100)이 제공된다. 이러한 봉착패널(100)은, 한 쌍의 기판(1, 2) 사이의 전체 둘레에 배치된 수지재료를 포함하는 봉착재(20)를 구비한 봉착패널(100)로서, 봉착재(20)로부터 방출되는 불순물 가스 및 봉착재(20)를 투과하여 침입하는 불순물 가스를 흡착하는 게터(22)가 봉착재(20)의 내부 둘레를 따라 연속적으로 또는 단속적으로 형성되어 있다. 또한, 봉착패널(100)의 내부에서 발생한 자외선이 봉착재(20)에 입사하는 것을 차폐하는 자외선 차폐벽(24)이 봉착재(20)의 내부 둘레를 따라 연속적으로 형성되어 있다.
Figure R1020087024645
봉착패널, 자외선, 연속적, PDP, 흡착

Description

봉착패널 및 플라즈마 디스플레이 패널의 제조방법{Sealing panel and method for producing plasma display panel}
본 발명은 봉착패널 및 플라즈마 디스플레이 패널의 제조방법에 관한 것이다.
삭제
플라즈마 디스플레이 패널은, 유지전극 및 주사전극이 형성된 전면기판과, 어드레스 전극 및 형광체가 형성된 배면기판을 구비하고 있다. 두 기판은 둘레부에 배치된 봉착재에 의해 고착되고, 두 기판의 사이에 방전가스가 봉입되어 있다.
각 전극의 사이에 전압을 인가하면, 방전가스가 플라즈마화하여 자외선이 방사된다. 이 자외선이 형광체에 입사하여 형광체가 여기되고 가시광이 방출되게 되어 있다.
두 기판의 봉착재로서, 종래는 저융점 유리가 채용되었지만, 최근에는 수지재료를 채용하는 기술이 제안되었다(예를 들어, 특허문헌 1 참조). 수지재료를 채용하면, 패널봉착시의 가열조건 및 냉각조건이 완화되기 때문에, 패널 제조시간을 대폭적으로 단축할 수 있다.
특허문헌 1: 일본특허공개 2002-75197호 공보
그러나, 봉착재로서 수지재료를 채용하면, 패널 봉착시에 불순물 가스(수분이나 탄산가스 등)가 수지재료에서 패널 내부로 방출될 우려가 있다. 또한, 봉착재로서 저융점 유리에 바인더로서 수지재료를 혼합시킨 것을 사용하는 경우에도, 패널 봉착시에 불순물 가스가 패널 내부로 방출될 우려가 있다. 또한, 패널 봉착 후에도 불순물 가스가 봉착재를 투과하여 패널 외부에서 내부로 침입할 우려가 있다. 또, 패널 내부에서 발생한 자외선이 봉착재에 입사하면, 수지재료가 분해되어 불순물(CH계 등) 가스가 패널 내부로 방출될 우려가 있다. 이러한 불순물 가스에 의해, 패널 내부에 봉입되어 있는 방전가스의 순도가 저하되어 방전전압이 상승하는 문제가 있다. 방전전압의 상승에 따라, 플라즈마 디스플레이 패널의 소비전력이 증가하게 된다.
또한, 패널 봉착시에 봉착재에서 패널 내부로 방출된 불순물 가스는 기판 표면에 형성된 피막에 흡착된다. 이에 의해, 기판 표면의 2차 전자 방출계수가 저하되어 방전전압이 상승한다. 또, 기판 사이에 소정 시간의 전압인가(초기 에이징 처리)를 행하면, 방전에 의해 기판 표면으로부터 불순물 가스가 이탈하므로, 방전전압은 안정된다. 그러나, 이탈한 불순물 가스가 기판 사이에 체류함으로써, 불순물 가스의 이탈속도가 저하되기 때문에, 장시간의 초기 에이징 처리가 필요하게 된다.
본 발명은, 상기 과제를 해결하기 위한 것으로서, 방전전압의 상승을 억제할 수 있는 봉착패널 및 플라즈마 디스플레이 패널의 제조방법의 제공을 목적으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위해서, 본 발명에 관한 봉착패널은, 한 쌍의 기판 사이의 전체 둘레에 배치된 수지재료를 포함하는 봉착재와, 상기 봉착재에 의해 상기 한 쌍의 기판 사이에 봉입된 방전가스를 구비한 봉착패널로서, 상기 봉착재로부터 방출되는 불순물 가스 및 상기 봉착재를 투과하여 침입하는 불순물 가스를 흡착하는 흡착재가 상기 봉착재의 내주를 따라 연속적으로 또는 단속적으로 형성되어 있는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 봉착재는, 유리재료에 바인더로서 수지재료를 혼합시킨 것일 수도 있다.
이 구성에 의하면, 봉착재로부터 방출되는 불순물 가스 및 봉착재를 투과하여 침입하는 불순물 가스를 흡착재에 의해 흡착할 수 있으므로, 한 쌍의 기판 사이에 봉입된 방전가스의 순도 저하를 억제하는 것이 가능하게 된다. 또한, 불순물 가스가 기판 표면에 흡착되는 것을 방지하는 것이 가능하게 된다. 따라서, 방전전압의 상승을 억제할 수 있다.
또한, 초기 에이징 처리시간을 단축하거나 또는 초기 에이징 처리를 없앨 수 있다.
또한, 상기 흡착재가 동심 형상으로 복수개가 둘레를 따라 설치되어도 된다.
이 구성에 의하면, 불순물 가스를 확실히 흡착할 수 있다.
또한, 상기 복수개 둘레를 따라 설치된 흡착재 중에서 일부의 상기 흡착재가 상기 한 쌍의 기판 중에서 한쪽의 상기 기판에 장착되고, 상기 복수개가 둘레를 따라 설치된 흡착재 중에서 나머지 부분의 상기 흡착재가 상기 한 쌍의 기판 중에서 다른 쪽의 상기 기판에 장착되어도 된다.
이 구성에 의하면, 불순물 가스의 침입경로가 길어짐과 동시에, 그 침입경로를 따라 흡착재가 배치되므로, 불순물 가스의 흡착효율을 향상시킬 수 있다.
또한, 상기 봉착패널의 내부에서 발생한 자외선이 상기 봉착재에 입사하는 것을 차폐하는 자외선 차폐벽이 상기 봉착재의 내부 둘레를 따라 연속적으로 형성되어도 된다.
이 구성에 의하면, 봉착패널의 내부에서 발생한 자외선이 봉착재에 입사하는 것을 방지할 수 있다. 이에 의해, 봉착재로부터의 불순물 가스의 방출을 억제하는 것이 가능하게 되어 방전전압의 상승을 억제할 수 있다.
또한, 상기 한 쌍의 기판 중에서 한쪽의 상기 기판에 세워서 설치된 상기 자외선 차폐벽의 선단이 상기 한 쌍의 기판 중에서 다른 쪽의 상기 기판에 접할 수도 있다.
이 구성에 의하면, 봉착재로부터 방출되는 불순물 가스 및 봉착재를 투과하여 침입하는 불순물 가스를 자외선 차폐벽에 의해 막는 것이 가능하게 되어 방전가스의 순도 저하를 억제할 수 있다.
또한, 상기 흡착재는, 상기 봉착재와 상기 자외선 차폐벽의 사이에 배치되어 있는 것이 바람직하다.
이 구성에 의하면, 자외선 차폐벽에 의해 막힌 불순물 가스를 흡착재에 의해 확실히 흡착할 수 있다.
또한, 상기 봉착패널은 플라즈마 디스플레이 패널이고, 상기 자외선 차폐벽은 상기 플라즈마 디스플레이 패널의 화소 간에 설치된 격벽과 같은 재료로 구성되어 있는 것이 바람직하다.
이 구성에 의하면, 자외선 차폐벽을 격벽과 동시 형성하는 것이 가능하게 되어 제조공정이 간략화되어 제조비용을 저감할 수 있다.
한편, 본 발명에 관한 플라즈마 디스플레이 패널의 제조방법은, 한 쌍의 기판 사이의 전체 둘레를 포함하는 봉착재와, 상기 봉착재에 의해 상기 한 쌍의 기판 사이에 봉입된 방전가스를 구비한 플라즈마 디스플레이 패널의 제조방법으로서, 상기 플라즈마 디스플레이 패널의 내부에서 발생한 자외선이 상기 봉착재에 입사하는 것을 차폐하는 자외선 차폐벽을 상기 플라즈마 디스플레이 패널의 화소 간에 설치되는 격벽과 동시에 형성하는 것을 특징으로 한다.
플라즈마 디스플레이 패널의 격벽은, 인접하는 화소 간의 오방전을 방지하는 것으로서, 한 쌍의 기판의 간격과 같은 높이로 형성된다. 이 격벽과 자외선 차폐벽을 동시 형성함으로써, 자외선 차폐벽을 한 쌍의 기판의 간격과 같은 높이로 형성하는 것이 가능하게 된다.
이에 의해, 플라즈마 디스플레이 패널의 내부에서 발생한 자외선이 봉착재에 입사하는 것을 확실히 방지할 수 있다. 이에 의해, 봉착재로부터의 불순물 가스의 방출을 억제하는 것이 가능하게 되어 방전전압의 상승을 억제할 수 있다.
본 발명에 관한 봉착패널 및 플라즈마 디스플레이 패널의 제조방법에 의하면, 한 쌍의 기판 사이에 봉입된 방전가스의 순도 저하를 억제하는 것이 가능하게 된다. 또한, 불순물 가스가 기판 표면에 흡착되는 것을 방지하는 것이 가능하게 된다. 따라서, 방전전압의 상승을 억제할 수 있다. 또, 에이징 처리시간을 단축하거나 또는 초기 에이징 처리를 없앨 수 있다.
도 1은 3전극 AC형 플라즈마 디스플레이 패널의 분해 사시도이다.
도 2는 플라즈마 디스플레이 패널의 둘레부에서의 단면도이다.
도 3a는 게터를 구비한 플라즈마 디스플레이 패널의 평면도이다.
도 3b는 게터를 구비한 플라즈마 디스플레이 패널의 평면도이다.
도 3c는 게터를 구비한 플라즈마 디스플레이 패널의 평면도이다.
도 4a는 복수의 게터를 구비한 플라즈마 디스플레이 패널의 설명도이다.
도 4b는 복수의 게터를 구비한 플라즈마 디스플레이 패널의 설명도이다.
도 4c는 복수의 게터를 구비한 플라즈마 디스플레이 패널의 설명도이다.
도 5는 플라즈마 디스플레이 패널의 제조방법의 흐름도이다.
도 6a는 플라즈마 디스플레이 패널의 흡습시험결과를 나타내는 그래프이다.
도 6b는 플라즈마 디스플레이 패널의 흡습시험결과를 나타내는 그래프이다.
도 7a는 플라즈마 디스플레이 패널의 에이징 시험결과를 나타내는 그래프이다.
도 7b는 플라즈마 디스플레이 패널의 에이징 시험결과를 나타내는 그래프이다.
<부호의 설명>
1: 배면기판
2: 전면기판
15: 격벽
16: 방전실
20: 봉착재
22: 게터(흡착재)
24: 자외선 차폐벽
100: 플라즈마 디스플레이 패널(봉착패널)
이하, 본 발명의 실시예에 대해서 도면을 참조하여 설명한다. 또한, 이하의 설명에 이용하는 각 도면에서는, 각 부재를 인식 가능한 크기로 하기 때문에 각 부재의 축척을 적절히 변경하고 있다.
또한, 본 명세서에서 기판의 「내면」이란, 당해 기판의 양 표면 중에서 당해 기판과 쌍을 이루는 기판측의 표면을 말하는 것으로 한다.
(플라즈마 디스플레이 패널)
도 1은 3전극 AC형 플라즈마 디스플레이 패널의 분해 사시도이다. 이 플라즈마 디스플레이 패널(이하, 「PDP」라고 함)(100)은, 대향 배치된 배면기판(1) 및 전면기판(2), 두 기판(1, 2)의 사이에 형성된 복수의 방전실(16)을 구비하고 있다.
배면기판(1)의 내면에는, 소정의 간격으로 스트라이프 형상으로 어드레스 전극(11)이 형성되어 있다. 그 어드레스 전극(11)을 덮도록 유전체층(19)이 형성되어 있다. 또한, 인접하는 어드레스 전극(11)의 사이에서의 유전체층(19)의 상면에는, 어드레스 전극(11)과 평행하게 격벽(리브)(15)이 형성되어 있다. 또, 인접하는 격벽(15)의 사이에서의 유전체층(19)의 상면 및 격벽(15)의 측면에 형광체(17)가 설치되어 있다. 이 형광체(17)는 적색, 녹색, 청색의 어느 하나의 형광을 발광하는 것이다.
한편, 전면기판(2)의 내면에는, 소정의 간격으로 스트라이프 형상으로 표시전극(12)(주사전극(12a) 및 유지전극(12b))이 형성되어 있다. 이 표시전극(12)은 ITO 등의 투명 도전성 재료에 의해 구성되고, 상기 어드레스 전극(11)과 직교하는 방향으로 배치되어 있다. 이 어드레스 전극(11)과 표시전극(12)의 교점이 PDP(100)의 화소가 되어 있다. 또한, 이 표시전극(12)을 덮도록 유전체층(13)이 형성되고, 그 유전체층(13)을 덮도록 보호막(14)이 형성되어 있다. 이 보호막(14)은, 방전가스의 플라즈마화에 의해 발생한 양이온으로부터 유전체층(13)을 보호하는 것으로서, MgO나 SrO 등의 알칼리토류 금속의 산화물에 의해 구성되어 있다.
상술한 배면기판(1)과 전면기판(2)이 점착되어, 인접하는 격벽(15)의 사이에 방전실(16)이 형성되어 있다. 이 방전실(16)의 내부에는 Ne 및 Xe의 혼합가스 등의 방전가스가 봉입되어 있다.
그리고, 어드레스 전극(11)과 주사전극(12a)의 사이에 직류전압을 인가하여 대향(對向)방전을 발생시키고, 주사전극(12a)과 유지전극(12b)의 사이에 교류전압을 인가하여 면(面)방전을 발생시킨다. 그러면, 방전실(16) 내에 봉입된 방전가스가 플라즈마화하여 진공 자외선이 방사된다. 이 자외선에 의해 형광체(17)가 여기되고, 가시광이 전면기판(2)으로부터 방출되게 되어 있다.
(봉착재)
도 2는 플라즈마 디스플레이 패널의 둘레부에서의 단면도이다. 배면기판(1)의 둘레부에는, 액자형상으로 돌기(21)가 형성되어 있다. 그 돌기(21)의 선단면과 전면기판(2)의 사이에 수지재료를 포함하는 봉착재(20)가 배치되어 두 기판(1, 2)이 봉착되어 있다. 이 봉착재(20)로서, 구체적으로는 에폭시 수지나 아크릴 수지 등 열경화성 수지 또는 자외선 경화성 수지가 채용되어 있다. 이와 같이 수지재료를 포함하는 봉착재(20)를 채용하면, 저융점 유리로 이루어진 종래의 봉착재를 채용한 경우에 비해 봉착시의 가열조건 및 냉각조건이 완화된다. 따라서, 패널 제조시간을 대폭적으로 단축할 수 있다. 또, 저융점 유리에 바인더로서 수지를 혼합시킨 봉착재를 채용해도 된다.
(흡착재)
그런데, 두 기판(1, 2)의 봉착시에는, 수지재료를 포함하는 봉착재(20)로부터 불순물 가스가 방출된다. 예를 들어, 에폭시 수지 또는 아크릴 수지로 이루어진 봉착재(20)로부터는 H2O 및 CO2 외에 CO나 H2, CH계 가스 등이 방출된다. 또한, 저융점 유리에 아크릴 수지를 혼합시킨 봉착재에서는, 저융점 유리로부터 CO2나 O2가스 등이 방출되고, 아크릴 수지로부터 H2O나 CO2, CO가스 등이 방출된다. 또한, 봉착 후의 봉착재(20)를 투과하여 H2O 등의 불순물 가스가 PDP의 외부에서 내부로 침입할 우려가 있다.
그래서, 봉착재(20)의 내부 둘레를 따라 불순물 가스를 흡착하는 게터(흡착 재)(22)가 설치되어 있다. 이 게터(22)는 수분(H2O)이나 산소(O2)가스, CO나 CO2 등의 탄산가스, CH계의 탄화수소가스 등을 흡착하는 것이다. 게터(22)로서, 구체적으로는 두께 150㎛정도의 시트형상으로 성형된 SrO를 채용하는 것이 가능하다. 또한, 게터(22)로서 Ba나 Ca, Sr 등의 활성금속을 두께 5~10㎛로 형성한 것을 채용해도 되고, Zr-V-Fe-Ti계의 재료를 채용해도 된다.
도 3a~도 3c는 게터를 구비한 플라즈마 디스플레이 패널의 평면도이다. 도 3a에 나타내는 바와 같이, 게터(22)는 봉착재(20)의 내측 전체 둘레에 걸쳐 연속적으로 형성되어 있는 것이 바람직하다. 또, 도 3b 또는 도 3c에 나타내는 바와 같이, 봉착재(20)의 내측 전체둘레에 걸쳐 단속적으로 형성되어도 된다.
또, 게터(22)는, 도 2에 나타내는 바와 같이 봉착재(20)의 내측에서의 배면기판(1)의 표면에 배치되어도 되고, 전면기판(2)의 표면에 배치되어도 된다. 또한, 게터(22)의 두께는, 도 2에 나타내는 바와 같이 두 기판(1, 2)의 간격보다 얇아도 되고, 두 기판(1, 2)의 간격과 동등해도 된다.
도 4a 및 도 4b는 복수의 게터를 구비한 플라즈마 디스플레이 패널의 평면도이다. 도 4a에 나타내는 바와 같이, 봉착재(20)의 내부 둘레를 따라 복수의 게터(22a, 22b)가 동심 형상으로 배치되어도 된다. 복수의 게터(22a, 22b)는, 도 4a에 나타내는 바와 같이 연속적으로 형성되어도 되고, 도 4b에 나타내는 바와 같이 단속적으로 형성되어도 된다. 또한, 복수의 게터 중에서 일부가 연속적으로 형성되고, 나머지 부분이 단속적으로 형성되어도 된다. 이와 같이, 복수의 게터(22a, 22b)를 동심 형상으로 배치함으로써, 불순물 가스를 확실히 흡착할 수 있다.
도 4c는 도 4a의 A-A선에서의 단면도이다. 도 4c에 나타내는 바와 같이, 복수의 게터(22a, 22b) 중에서 일부의 게터(22a)가 배면기판(1)에 장착되고, 나머지 부분의 게터(22b)가 전면기판(2)에 장착되어도 된다. 이에 의해, 불순물 가스의 침입경로가 길어짐과 동시에, 그 침입경로를 따라 게터(22a, 22b)가 배치되므로, 불순물 가스의 흡착효율을 향상시킬 수 있다. 또, 복수의 게터(22a, 22b)가 함께 배면기판(1)에 장착되어도 되고, 함께 전면기판(2)에 장착되어도 된다.
(자외선 차폐벽)
도 2로 되돌아가서, 상술한 게터(22)의 내부 둘레를 따라 연속적으로 자외선 차폐벽(24)이 설치되어 있다. 이 자외선 차폐벽(24)은, 방전실(16)에서 발생한 자외선이 봉착재(20)에 입사하는 것을 방지하는 것으로서, PbO·B2O3·SiO2 등의 자외선 흡수재료에 의해 폭 1 mm정도로 형성되어 있다. 자외선 차폐벽(24)은, 도 2에 나타내는 바와 같이 배면기판(1)에 세워서 설치(立設)되어도 되고, 전면기판(2)에 세워서 설치되어도 된다.
자외선 차폐벽(24)의 높이는, 한 쌍의 기판(1, 2)의 간격과 동등하게 형성되어 있다. 그 때문에, 배면기판(1)에 세워서 설치된 자외선 차폐벽(24)의 선단이 전면기판(2)에 밀착되어 있다. 이 구성에 의하면, 봉착재(20)로부터 방출되는 불순물 가스 및 봉착재(20)를 투과하여 침입하는 불순물 가스를 자외선 차폐벽에 의해 막는 것이 가능하게 된다. 또한, 상술한 게터(22)는 봉착재(20)와 자외선 차폐벽(24)의 사이에 설치되어 있는 것이 바람직하다.
이 구성에 의하면, 봉착재(20)로부터 방출된 불순물 가스를 자외선 차폐벽(24)에 의해 막은 후에, 게터(22)에 의해 확실히 흡착할 수 있다.
자외선 차폐벽(24)은 격벽(15)과 같은 자외선 흡수재료로 구성되고, 격벽(15)과 같은 배면기판(1)에 세워서 설치되어 있는 것이 바람직하다. 이에 의해, 후술하는 바와 같이 자외선 차폐벽(24)을 격벽(15)과 동시에 형성하는 것이 가능하게 되어 제조공정이 간략화되어 제조비용을 저감할 수 있다.
그런데, PDP의 격벽(15)은 인접하는 방전실(16)의 사이의 오방전을 방지하는 것으로서, 배면기판(1)과 전면기판(2)의 간격과 같은 높이로 형성되어 있다. 이 격벽(15)과 자외선 차폐벽(24)을 동시 형성함으로써, 자외선 차폐벽(24)을 두 기판(1, 2)의 간격과 같은 높이로 형성하는 것이 가능하게 된다. 이에 의해, 방전실(16)에서 발생한 자외선이 봉착재(20)에 입사하는 것을 확실히 방지할 수 있다.
(플라즈마 디스플레이 패널의 제조방법)
다음으로, 본 실시예에 관한 플라즈마 디스플레이 패널의 제조방법에 대해서, 도 2 및 도 5를 이용하여 설명한다. 도 5는 본 실시예에 관한 플라즈마 디스플레이 패널의 제조방법의 흐름도이다.
우선, 도 2에 나타내는 전면기판(2)의 내면에 표시전극(12) 및 유전체층(13)을 형성한다(단계 32). 또한, 배면기판(1)의 내면에 어드레스 전극(11) 및 유전체층(19)을 형성한다(단계 42).
이후, 배면기판(1)의 유전체층(19)의 표면에 격벽(15) 및 자외선 차폐벽(24)을 동시 형성한다(단계 44). 그 구체적인 방법은, 우선 배면기판(1)의 내면에 자외선 흡수재료의 피막을 형성한다. 구체적으로는, 페이스트 형상의 자외선 흡수재료를 인쇄법 등에 의해 두께 200 ㎛정도로 도포하고 건조시켜 상기 피막을 형성한다. 이후, 상기 피막의 표면에 드라이 필름 레지스트(DFR)를 라미네이트한다. 다음에, 이 DFR을 노광 및 현상하고, 격벽(15) 및 자외선 차폐벽(24)의 형상으로 패터닝한다. 이후, 이 DFR패턴을 마스크로 하여 샌드블라스트법을 실시하고, 상기 피막을 격벽(15) 및 자외선 차폐벽(24)의 형상으로 패터닝한다. 이후 DFR을 박리 제거하고, 배면기판(1)을 소성로 내에 투입하여 격벽(15) 및 자외선 차폐벽(24)을 소성한다. 이상에 의해, 배면기판(1)의 내면에 격벽(15) 및 자외선 차폐벽(24)이 형성된다.
또한, 동시 형성의 다른 방법으로서, 어드레스 전극(11) 및 유전체층(19)을 형성하기 전에 배면기판(1)의 내면에 DFR을 라미네이트한다. 다음에, 이 DFR을 노광 및 현상하고, 격벽(15) 및 자외선 차폐벽(24)의 형상으로 패터닝한다. 다음에, 이 DFR패턴을 마스크로 하여 샌드블라스트법을 실시하고, 유리 등의 자외선 흡수 재료로 이루어진 배면기판(1)을 깊이 150 ㎛정도까지 파내려간다. 다음에 DFR을 박리 제거한다. 이상에 의해, 배면기판(1)의 내면에 격벽(15) 및 자외선 차폐벽(24)이 직접 성형된다. 그 후, 어드레스 전극(11) 등을 형성하면 된다. 또, 상기 이외의 방법에 의해 격벽(15) 및 자외선 차폐벽(24)을 동시 형성하는 것도 가능하다.
다음에, 인접하는 격벽의 내측에 형광체(17)를 도포한다.
이후, 배면기판(1)의 전체 둘레에 봉착재(20) 및 게터(22)를 배치한다(단계 46). 봉착재(20)의 배치는, 페이스트 형상의 봉착재료를 도포함으로써 행한다. 봉착재료의 도포에는, 디스펜서법이나 잉크젯법 등의 액적 토출법 또는 인쇄법 등을 이용하는 것이 가능하다. 또한, 게터(22)의 배치는 폭 3~10 mm정도, 두께 15O ㎛정도의 SrO 재료 시트를 점착함으로써 행한다. 이 SrO 재료 시트는 SrO분말을 금형에 넣어 200~400kgf/cm2의 압력으로 성형하고, N2분위기 중에서 약 1200℃로 약 30분 소성함으로써 형성하는 것이 가능하다.
다음에, 전면기판(2) 및 배면기판(1)을 진공 일괄 처리장치(50)에 투입하여 두 기판(1, 2)을 대기에 노출하지 않고 이하의 봉착공정까지를 행한다.
우선, 배면기판(1)을 진공 중에서 가열하여 수지재료를 포함하는 봉착재(20)로부터 탈가스처리 및 배기처리를 한다(단계 48). 이 가열에 의해, 봉착재(20)로부터 탈가스처리와 함께, 게터(22)의 활성화처리를 하는 것도 가능하다. 또한, 전면기판(2)을 진공 중에서 가열하여 유전체층(13) 등으로부터의 탈가스처리를 한다(단계 34). 다음에, 전면기판(2)의 내면에 EB증착법 등에 의해 보호막(14)을 형성한다(단계 36).
또한, 최근에는 PDP의 소비전력을 삭감하기 위해, 보호막(14)의 구성재료로서 종래의 Mg0를 대신하여 (SrCa)0 등의 Sr0계 물질의 채용이 검토되고 있다. 이 Sr0계 물질은 Mg0에 비해 흡습성이 매우 높고, 게다가 흡습에 의해 변색하는 성질을 가진다. 이 점, 진공 일괄 처리장치(50)에 있어서, 두 기판(1, 2)의 탈가스 처 리공정에서 보호막(14)의 형성공정을 거쳐 두 기판(1, 2)의 봉착공정까지 행함으로써, 보호막(14)의 흡습에 의한 변색 및 방전전압의 상승을 방지할 수 있다.
다음에, 두 기판(1, 2)을 봉착한다(단계 52). 구체적으로는, 우선 챔버 내에 두 기판(1, 2)을 투입하고, 그 챔버 내에 방전가스를 도입한다. 다음에, 두 기판(1, 2)을 얼라이먼트(위치맞춤)하여 가고착한다. 다음에, 두 기판(1, 2)에 전압을 인가하여 에이징 방전을 한다. 또, 두 기판(1, 2)의 전극에 구동전압을 인가하여 발광검사를 한다. 그 결과, 이상이 발견된 배면기판(1) 또는 전면기판(2)을 제거하고, 정상발광이 확인된 두 기판(1, 2)끼리를 고착시킨다. 구체적으로는, 봉착재(20)를 자외선 경화성 수지로 구성한 경우에는 봉착재(20)에 자외선을 조사함으로써, 봉착재(20)를 열경화성 수지로 구성한 경우에는 봉착재(20)를 가열함으로써, 봉착재(20)를 경화시킨다. 이에 의해, 두 기판(1, 2)의 내부에 방전가스가 봉입된 상태에서 두 기판(1, 2)이 봉착된다.
(흡습시험, 에이징 시험)
본원의 발명자는, 상술한 본 실시예에 관한 PDP 및 종래기술에 관한 PDP에 대해서, 흡습시험을 하여 방전전압의 변동을 측정하였다. 본 실시예에 관한 PDP는, 도 2에 나타내는 바와 같이 게터(22) 및 자외선 차폐벽(24)을 구비한 것이다. 구체적으로는, 게터(22)로서 SrO를 N2가스 중에서 소성한 시트형상의 것을 채용하였다. 또한, 자외선 차폐벽(24)의 구성재료로서 격벽(15)과 같은 PbO·B2O3·SiO2를 채용하고, 자외선 차폐벽(24)을 격벽(15)과 동시 형성하였다. 또, 봉착재(20)로는 자외 선 경화성 수지를 채용하였다. 또한, 보호막(14)으로서 SrO·20mol% CaO로 이루어진 두께 8000 옹스트롬의 피막을 EB증착법에 의해 형성하였다. 또한, 방전가스로서 Ne·4% Xe가스를 400Torr에서 봉입하였다.
이에 대해, 종래기술에 관한 PDP는, 본 실시예에 관한 PDP에서 게터(22) 및 자외선 차폐벽(24)을 제외한 것이다.
흡습시험은 85℃에서 습도 95%의 항온조 내에 PDP를 방치함으로써 행하고, 방치시간과 방전유지전압의 관계를 조사하였다.
도 6a 및 도 6b는 PDP의 흡습시험결과를 나타내는 그래프로서, 도 6a는 본 실시예에 관한 PDP의 경우이고, 도 6b는 종래기술에 관한 PDP의 경우이다. 또, 이하의 그래프에서는, 2차원 매트릭스에서 300개의 셀로 이루어진 PDP에 있어서 모든 셀을 방전개시시키는 것에 필요한 구동전압이 최종 셀 점등전압이다. 또한, 모든 셀을 점등시킨 상태에서 구동전압을 서서히 내린 경우에, 최초의 셀이 소등하는 전압이 제1 셀 소등전압이다.
도 6b에 나타내는 종래기술에 관한 PDP의 경우는, 단시간의 방치로 제1 셀 소등전압 및 최종 셀 점등전압이 크게 상승하였다. 이는, 항온조 내의 수분이 봉착재를 투과하여 PDP의 내부에 침입하여 방전가스의 순도가 저하되었기 때문이라고 생각된다.
이에 대해, 도 6a에 나타내는 본 실시예에 관한 PDP의 경우는, 방치시간이 증가해도 전압변동은 5V이내로서, 실용상 문제없는 결과가 얻어졌다. 이는, 봉착재를 투과하여 PDP의 내부에 침입한 수분이 게터에 의해 흡착되어 방전가스의 순도 저하가 억제되었기 때문이라고 생각된다.
또한, 본원의 발명자는, 본 실시예에 관한 PDP 및 종래기술에 관한 PDP에 대해서, 에이징 시험을 하여 방전전압의 변동을 측정하였다. 본 실시예에 관한 PDP로서, 자외선 차폐벽의 효과를 확인하기 위해 게터를 제외한 것을 채용하였다. 또한, 종래기술에 관한 PDP로서, 자외선 차폐벽 및 게터를 제외한 것을 채용하였다.
에이징 시험은, 실온에서 습도 50%의 분위기에서 PDP에 장시간 전압을 인가함으로써 행하여 에이징 시간과 방전유지전압의 관계를 조사하였다.
도 7a 및 도 7b는 PDP의 에이징 시험결과를 나타내는 그래프로서, 도 7a는 본 실시예에 관한 PDP의 경우이고, 도 7b는 종래기술에 관한 PDP의 경우이다.
도 7b에 나타내는 종래기술에 관한 PDP의 경우는, 에이징 시간의 증가와 함께 방전유지전압이 상승하고, 2000시간의 에이징 후에는 최종 셀 점등전압이 약 30V 증가하였다. 이는, PDP의 방전에 의해 발생한 자외선이 장시간에 걸쳐 봉착재에 입사하고, 봉착재에 포함되는 수지재료가 분해되며, CH계의 불순물 가스가 PDP 내부로 방출되어 방전가스의 순도가 저하되었기 때문이라고 생각된다.
이에 대해, 도 7a에 나타내는 본 실시예에 관한 PDP의 경우는, 2000시간의 에이징 후에도 전압 상승은 10V이하이었다. 이는, PDP의 방전에 의해 발생한 자외선이 자외선 차폐벽에 의해 흡수됨으로써, 봉착재로부터의 불순물 가스의 방출이 방지되어 방전가스의 순도 저하가 억제되었기 때문이라고 생각된다.
이상 상술한 바와 같이, 본 실시예에 관한 PDP는, 봉착재의 내부 둘레를 따라 연속적으로 또는 단속적으로 형성된 게터를 가지는 구성으로 하였다. 이 구성에 의하면, 봉착재로부터 방출되는 불순물 가스 및 봉착재를 투과하여 침입하는 불순물 가스를 게터에 의해 흡착할 수 있으므로, 한 쌍의 기판 사이에 봉입된 방전가스의 순도 저하를 억제하는 것이 가능하게 된다. 따라서, 방전전압의 상승을 억제할 수 있다.
또한, 불순물 가스를 게터에 의해 흡착할 수 있으므로, 흡습성을 가지는 보호막에 의해 불순물 가스가 흡착되는 것을 방지할 수 있다. 이에 의해, 기판 표면의 2차 전자 방출계수의 저하를 억제하는 것이 가능하게 되어 방전전압의 상승을 억제할 수 있다. 또, 기판 사이에 소정 시간의 전압인가(초기 에이징 처리)를 하여 보호막으로부터 이탈시킨 불순물 가스를 기판 사이에 체류시키지 않고 게터에 의해 흡착할 수 있다. 이에 의해, 불순물 가스의 이탈을 신속히 완료시키는 것이 가능하게 되어 초기 에이징 처리시간을 단축할 수 있다.
또한, 본 실시예에 관한 PDP는, 상기 봉착재의 내부 둘레를 따라 연속적으로 형성된 자외선 차폐벽을 가지는 구성을 갖는다. 이 구성에 의하면, 봉착패널의 내부에서 발생한 자외선이 자외선 차폐벽에 의해 흡수되므로, 봉착재에 입사하는 것을 방지할 수 있다. 이에 의해, 봉착재로부터의 불순물 가스의 방출을 억제하는 것이 가능하게 되어 방전전압의 상승을 억제할 수 있다.
또한, 본 발명의 기술범위는 상술한 각 실시예에 한정되는 것이 아니라, 본 발명의 취지를 벗어나지 않는 범위에서 상술한 각 실시예에 여러가지의 변경이 이루어진 것을 포함한다.
즉, 각 실시예에서 든 구체적인 재료나 구성 등은 극히 일례에 불과하며, 적 절히 변경이 가능하다.
예를 들어, 상기 실시예에서는 본 발명을 플라즈마 디스플레이 패널에 적용하였지만, 본 발명을 전계방출 디스플레이 패널에 적용하는 것도 가능하다. 전계방출 디스플레이 패널은, 화소마다 배치된 전자 방출원(에미터)에서 진공 중으로 전자를 방출하고 형광체에 부딪쳐 발광시키는 것이다. 구체적인 전계방출 디스플레이 패널로서, 돌기형상의 전자방출소자를 구비한 FED(Field Emission Display)나, 표면전도형의 전자방출소자를 구비한 SED(Surface-Conduction Electron-Emitter Display) 등을 들 수 있다. 이 전계방출 디스플레이 패널에 본 발명을 적용한 경우에도, 방전전압의 상승을 억제하는 것이 가능하다.
본 발명은, 봉착패널 및 플라즈마 디스플레이 패널의 제조방법에 적용할 수 있다.

Claims (10)

  1. 한 쌍의 기판 사이의 전체 둘레에 배치된 수지재료를 포함하는 봉착재와, 상기 봉착재에 의해 상기 한 쌍의 기판 사이에 봉입된 방전가스를 구비한 봉착패널로서,
    상기 봉착재로부터 방출되는 불순물 가스 및 상기 봉착재를 투과하여 침입하는 불순물 가스를 흡착하는 흡착재가 상기 봉착재의 내부 둘레를 따라 연속적으로 또는 단속적으로 형성되어 있으며,
    상기 봉착패널의 내부에서 발생한 자외선이 상기 봉착재에 입사하는 것을 차폐하며, 상기 봉착재로부터 방출되는 불순물 가스 및 상기 봉착재를 투과하여 침입하는 불순물 가스를 막아주는 자외선 차폐벽이 상기 봉착재의 내부 둘레를 따라 연속적으로 형성되어 있으며, 상기 한 쌍의 기판의 내부에 상기 방전가스가 봉입된 상태에서 상기 한 쌍의 기판이 봉착되는 것을 특징으로 하는 봉착패널.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 봉착재는, 유리재료에 바인더로서 수지재료를 혼합시킨 것임을 특징으로 하는 봉착패널.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 흡착재가 동심 형상으로 복수개가 둘레를 따라 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 봉착패널.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 복수개가 둘레를 따라 설치된 흡착재 중에서 일부의 상기 흡착재가 상기 한 쌍의 기판 중에서 한쪽의 상기 기판에 장착되고,
    상기 복수개가 둘레를 따라 설치된 흡착재 중에서 나머지 부분의 상기 흡착재가 상기 한 쌍의 기판 중에서 다른 쪽의 상기 기판에 장착되어 있는 것을 특징으로 하는 봉착패널.
  5. 삭제
  6. 제1항에 있어서,
    상기 한 쌍의 기판 중에서 한쪽의 상기 기판에 세워서 설치된 상기 자외선 차폐벽의 선단이 상기 한 쌍의 기판 중에서 다른 쪽의 상기 기판에 접하는 것을 특징으로 하는 봉착패널.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 흡착재는, 상기 봉착재와 상기 자외선 차폐벽의 사이에 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 봉착패널.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 봉착패널은 플라즈마 디스플레이 패널이고, 상기 자외선 차폐벽은 상기 플라즈마 디스플레이 패널의 화소 간에 설치된 격벽과 동일한 재료로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 봉착패널.
  9. 한 쌍의 기판 사이의 전체 둘레에 배치된 수지재료를 포함하는 봉착재와, 상기 봉착재에 의해 상기 한 쌍의 기판 사이에 봉입된 방전가스를 구비한 플라즈마 디스플레이 패널의 제조방법으로서,
    상기 플라즈마 디스플레이 패널의 내부에서 발생한 자외선이 상기 봉착재에 입사하는 것을 차폐하고, 상기 봉착재로부터 방출되는 불순물 가스 및 상기 봉착재를 투과하여 침입하는 불순물 가스를 막아주는 자외선 차폐벽을 상기 플라즈마 디스플레이 패널의 화소 사이에 설치되는 격벽과 동시에 상기 봉착재의 내부 둘레를 따라 연속적으로 형성하고, 상기 한 쌍의 기판의 내부에 상기 방전가스가 봉입된 상태에서 상기 한 쌍의 기판이 봉착되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 제조방법.
  10. 한 쌍의 기판 사이의 전체 둘레에 배치된 수지재료를 포함하는 봉착재와, 상기 봉착재에 의해 상기 한 쌍의 기판 사이에 봉입된 방전가스를 구비한 플라즈마 디스플레이 패널의 제조방법으로서,
    상기 플라즈마 디스플레이 패널의 내부에서 발생한 자외선이 상기 봉착재에 입사하는 것을 차폐하고, 상기 봉착재로부터 방출되는 불순물 가스 및 상기 봉착재를 투과하여 침입하는 불순물 가스를 막아주는 자외선 차폐벽을 상기 플라즈마 디스플레이 패널의 화소 사이에 설치되는 격벽과 동시에 형성하고, 상기 한 쌍의 기판의 내부에 상기 방전가스가 봉입된 상태에서 상기 한 쌍의 기판이 봉착되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 제조방법.
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