KR101009271B1 - 라인 내의 유동 매질의 적어도 하나의 파라미터 검출 장치 - Google Patents
라인 내의 유동 매질의 적어도 하나의 파라미터 검출 장치 Download PDFInfo
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Description
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- 라인(3) 내의 유동 매질의 적어도 하나의 파라미터를 검출하기 위한 장치로서, 주 유동 방향과 관련하여 예정된 방향으로 상기 라인(3) 내에 삽입될 수 있고 상기 라인 내에서 상기 주 유동 방향(18)으로 흐르는 매질의 적어도 하나의 부분 유동을 안내하기 위한 적어도 하나의 측정 채널(30)을 가진 부분(6)과, 상기 적어도 하나의 파라미터를 검출하기 위해 상기 측정 채널에 배치된 적어도 하나의 측정 소자(9)를 포함하는 라인 내의 유동 매질의 적어도 하나의 파라미터 검출 장치에 있어서,상기 부분(6)에는, 매질의 부분 유동의 유입을 위한 유입 영역(27)과 상기 유입 영역(27)으로부터 분기된 측정 채널(30)을 가진 채널 구조가 형성되며, 상기 유입 영역(27)은 분리 개구(33)를 가진 분리 구역(28)을 포함하고, 서로 마주 놓인, 상기 유입 영역(27)의 내벽들(37, 38)로부터 적어도 2개의 돌출부들(51, 52)이 상기 유입 영역(27) 내로 돌출하고,상기 돌출부들(51, 52)은 상기 주 유동 방향(18)을 향한, 상기 유입 영역(27)의 개구(21) 영역에 배치되며, 상기 주 유동 방향에 대해 횡으로 상기 유입 영역 내로 돌출하고,상기 적어도 2개의 돌출부들(51, 52)의, 서로를 향한 단부들(53, 54)은 갭(60)에 의해 서로 이격되고,상기 돌출부들(51, 52)은 상기 분리 구역(28) 상류에서, 매체내의 입자들이 상기 갭(60)을 통해 직접 상기 분리 구역(28)내에 이르도록 배치되고,상기 주 유동 방향을 향한, 상기 돌출부들(51, 52)의 면들(55, 56)은 상기 주 유동 방향(18)에 대해서 적어도 부분적으로 경사지거나 만곡되는 것을 특징으로 하는 라인 내의 유동 매질의 적어도 하나의 파라미터 검출 장치.
- 삭제
- 제 1 항에 있어서, 상기 적어도 2 개의 돌출부들(51, 52)은 서로 반사 대칭으로 형성되는 것을 특징으로 하는 라인 내의 유동 매질의 적어도 하나의 파라미터 검출 장치.
- 삭제
- 삭제
- 제 1 항에 있어서, 상기 분리 구역(28)은 스로틀 구조(47, 48)가 제공된 분리 채널(28a)을 포함하며, 상기 분리 채널은 상기 분리 개구(33)로 통하는 것을 특징으로 하는 라인 내의 유동 매질의 적어도 하나의 파라미터 검출 장치.
- 제 6 항에 있어서, 상기 스로틀 구조는 좁아진 횡단면을 갖는 상기 분리 채널(28a)의 섹션(47)으로 형성되는 것을 특징으로 하는 라인 내의 유동 매질의 적어도 하나의 파라미터 검출 장치.
- 제 6 항에 있어서, 상기 스로틀 구조는 상기 분리 채널(28a)의 내벽에 배치된, 분리 방향으로 연장된 리브(48)로 형성되는 것을 특징으로 하는 라인 내의 유동 매질의 적어도 하나의 파라미터 검출 장치.
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