KR101001248B1 - 표면특성을 이용한 금속패턴 형성방법 및 이에 따라 형성된금속패턴 - Google Patents
표면특성을 이용한 금속패턴 형성방법 및 이에 따라 형성된금속패턴 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101001248B1 KR101001248B1 KR1020070080132A KR20070080132A KR101001248B1 KR 101001248 B1 KR101001248 B1 KR 101001248B1 KR 1020070080132 A KR1020070080132 A KR 1020070080132A KR 20070080132 A KR20070080132 A KR 20070080132A KR 101001248 B1 KR101001248 B1 KR 101001248B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- metal
- surface modification
- modification layer
- substrate
- hydrophobic surface
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/16—Coating processes; Apparatus therefor
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/09—Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/26—Processing photosensitive materials; Apparatus therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/027—Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34
- H01L21/0271—Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34 comprising organic layers
- H01L21/0273—Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34 comprising organic layers characterised by the treatment of photoresist layers
- H01L21/0274—Photolithographic processes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/6715—Apparatus for applying a liquid, a resin, an ink or the like
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Architecture (AREA)
- Structural Engineering (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Abstract
Description
Claims (25)
- 친수성 기재에 소수성 표면개질층을 형성하는 단계;레이저를 이용하여 원하는 패턴형상으로 소수성 표면개질층을 제거하는 단계;원하는 패턴형상으로 소수성 표면개질층이 제거된 기재면에 끓는점이 최소 10℃ 차이나는 2가지 이상의 분산매의 혼합 분산매에 분산된 친수성 금속염 혹은 금속나노입자 분산액을 코팅하는 단계; 및친수성 금속염 혹은 금속나노입자 분산액의 분산매를 제거하는 단계를 포함하여 금속 미세패턴 형성방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 친수성 기재는 유리, 실리콘 웨이퍼, 금속기판, 아크릴 고분자, 폴리카보네이트 고분자, 사이클로 올레핀 고분자, 에폭시 고분자 및 에스테르 고분자 필름으로 구성되는 그룹으로부터 선택된 일종임을 특징으로 하는 금속 미세패턴 형성방법.
- 제 2항에 있어서, 상기 친수성 기재의 친수성이 충분하지 않는 경우, 자외선-산소 처리, 플라즈마 처리, 코로나 처리 또는 염기처리하여 기재 표면을 친수화함을 특징으로 하는 금속 미세패턴 형성방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 친수성 기재는 투명함을 특징으로 하는 금속 미세패턴 형성방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 소수성 표면개질층은 친수성 기재와 접착가능하고 표면이 소수성 특성을 갖는 소수성 표면개질층 형성물질로 형성됨을 특징으로 하는 금속 미세패턴 형성방법.
- 제 5항에 있어서, 상기 소수성 표면개질층 형성물질은 물과의 접촉각이 60도 이상임을 특징으로 하는 금속 미세패턴 형성방법.
- 제 5항에 있어서, 소수성 표면개질층 형성물질은 테플론 및 불화에틸렌프로필렌을 포함하는 불소계 고분자 혹은 불소계 고무, 폴리다이메틸실록산, 폴리에틸메틸실록산 및 폴리메틸페닐실록산을 포함하는 실리콘계 고분자나 실리콘계 고무, 및 폴리에틸아크릴레이트, 폴리벤질프로필아크릴레이트, 디펜타에리트리톨펜타아크릴레이트, 및 폴리이소보닐메타아크릴레이트를 포함하는 아크릴레이트계 고분자로 구성되는 그룹으로부터 선택된 최소 일종임을 특징으로 하는 금속 미세패턴 형성방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 소수성 표면개질층은 두께가 형성하고자 금속 미세패턴 두께 이상임을 특징으로 하는 금속 미세패턴 형성방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 소수성 표면개질층은 두께가 형성하고자 금속 미세패턴 두께 이하임을 특징으로 하는 금속 미세패턴 형성방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 친수성 기재와 상기 소수성 표면개질층의 접착력을 증대시키기 위해 상기 친수성 기재와 상기 소수성 표면개질층 사이에 접착개선층이 형성됨을 특징으로 하는 금속 미세패턴 형성방법.
- 제 5항에 있어서, 상기 소수성 표면개질층 형성물질은 상기 친수성 기재와 상기 소수성 표면개질층의 접착력을 증대시키기 위해 접착개선물질을 포함함을 특징으로 하는 금속 미세패턴 형성방법.
- 제 11항에 있어서, 상기 접착개선물질은 아크릴옥시프로필트리메톡시실란, 글리시독시프로필트리메톡시실란, 메타크릴옥시프로필트리메톡시실란, 아크릴산, 메타크릴산, N-비닐프탈이미드, N,N’-디메틸아크릴아미드, N-메틸-N-비닐 아세트아미드, 아크릴로일 모르폴린, N-비닐 카프로락탐으로 구성되는 그룹으로부터 선택된 최소 일종 이상임을 특징으로 하는 금속 미세패턴 형성방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 소수성 표면개질층 제거시 레이저로는 상기 소수성 표면개질층에 대하여는 흡수되나, 상기 친수성 기재에는 흡수되지 않는 파장의 레이저가 사용됨을 특징으로 하는 금속 미세패턴 형성방법.
- 제 13항에 있어서, 상기 친수성 기재는 사이클로 올레핀계 고분자 기재이고 상기 소수성 표면개질층은 아크릴레이트계 고분자로 형성되며, 소수성 표면개질층 제거시 레이저로 355 nm 파장의 레이저가 사용됨을 특징으로 하는 금속 미세패턴 형성방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 소수성 표면개질층 제거는 쉐도우 마스크법 또는 스캐너법으로 행하여짐을 특징으로 하는 금속 미세패턴 형성방법.
- 제 15항에 있어서, 상기 소수성 표면개질층 제거는 쉐도우 마스크법으로 행하여지며, KrF레이저 또는 ArF레이저가 사용됨을 특징으로 하는 금속 미세패턴 형성방법.
- 제 15항에 있어서, 상기 소수성 표면개질층 제거는 스캐너법으로 행하여지며, CO2레이저, Nd:YAG 레이저 또는 He-Cd레이저가 사용됨을 특징으로 하는 금속 미세패턴 형성방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 금속염 혹은 금속 나노입자 분산액에서 금속염 혹은 금속 나노입자는 은, 구리, 금, 크롬, 알루미늄, 텅스텐, 아연, 니켈, 철, 백금, 납으로 구성되는 그룹으로부터 선택된 최소 1종 이상의 전도성 금속을 포함하는 금속염 또는 금속나노입자임을 특징으로 하는 금속 미세패턴 형성방법.
- 제 18항에 있어서, 상기 금속염 혹은 금속 나노입자 분산액에서 금속염은 은염 혹은 구리염이며, 상기 금속 나노입자는 은 나노입자 혹은 구리 나노입자임을 특징으로 하는 금속 미세패턴 형성방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 혼합 분산매는 1가 알코올, 다가 알코올, 카르비톨류 및 에틸렌계 불포화 화합물로 구성되는 그룹으로부터 선택된 것으로 끓는점이 최소 10℃ 차이나는 2가지 이상의 분산매의 혼합물임을 특징으로 하는 금속 미세패턴 형성방법.
- 제 20항에 있어서, 상기 혼합 분산매는 메탄올, 에탄올, 이소프로판올, 글리세린, 에틸렌 글리콜, 프로필렌 글리콜, 디에틸렌글리콜 모노부틸에테르, 디에틸렌글리콜 모노메틸에테르, 디에틸렌글리콜 디아크릴레이트, 디펜타에리트리톨 헥사아크릴레이트 및 펜타에리트리톨 트리아크릴레이트, N-메틸-2-피롤리돈으로 구성되는 그룹으로부터 선택된, 끓는점이 최소 10℃ 차이나는 2가지 이상의 분산매의 혼합물임을 특징으로 하는 금속 미세패턴 형성방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 코팅은 스핀코팅, 스프레이 코팅, 슬릿 코팅, 스크린 코팅, 잉크 젯, 바코팅 또는 딥(dip) 코팅법으로 행함을 특징으로 하는 금속 미세패턴 형성방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 분산매 제거단계 후에, 상기 소수성 표면개질층만을 선택적으로 용해하거나 건식식각으로 제거하는 단계를 추가로 포함함을 특징으로 하는 금속 미세패턴 형성방법.
- 소수성 기재에 친수성 표면개질층을 형성하는 단계;레이저를 이용하여 원하는 패턴형상으로 친수성 표면개질층을 제거하는 단계;원하는 패턴형상으로 친수성 표면개질층이 제거된 기재면에 끓는점이 최소 10℃ 차이나는 2가지 이상의 분산매의 혼합 분산매에 분산된 소수성 금속염 혹은 금속나노입자 분산액을 코팅하는 단계; 및소수성 금속염 혹은 금속나노입자 분산액의 분산매를 제거하는 단계를 포함하는 금속 미세패턴 형성방법.
- 청구항 1 또는 24의 방법으로 형성된 금속 패턴.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070080132A KR101001248B1 (ko) | 2007-08-09 | 2007-08-09 | 표면특성을 이용한 금속패턴 형성방법 및 이에 따라 형성된금속패턴 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070080132A KR101001248B1 (ko) | 2007-08-09 | 2007-08-09 | 표면특성을 이용한 금속패턴 형성방법 및 이에 따라 형성된금속패턴 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090015634A KR20090015634A (ko) | 2009-02-12 |
KR101001248B1 true KR101001248B1 (ko) | 2010-12-17 |
Family
ID=40685174
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070080132A KR101001248B1 (ko) | 2007-08-09 | 2007-08-09 | 표면특성을 이용한 금속패턴 형성방법 및 이에 따라 형성된금속패턴 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101001248B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20240031715A (ko) | 2022-09-01 | 2024-03-08 | (주)바이오스마트 | 금속의 접착력을 강화하기 위한 표면처리 방법 |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ITMI20110363A1 (it) * | 2011-03-09 | 2012-09-10 | Cretec Co Ltd | Metodo per ricavare un percorso conduttivo mediante irradiazione laser |
CN108219591B (zh) | 2012-02-29 | 2022-02-18 | 新加坡朝日化学及锡焊制品有限公司 | 包含金属前体纳米颗粒的油墨 |
KR101510304B1 (ko) * | 2012-02-29 | 2015-04-10 | 한국기계연구원 | 친수성 및 소수성 특성을 구비한 하이브리드 전열핀 및 이의 제조방법 |
KR101360625B1 (ko) * | 2012-06-26 | 2014-02-10 | 주식회사 포스코 | 회로의 패터닝 방법 및 이에 의해 제조된 회로 패턴을 갖는 기판 |
KR101685069B1 (ko) * | 2016-04-01 | 2016-12-09 | 금오공과대학교 산학협력단 | 패턴이 형성된 플렉서블 투명전극의 제조방법 |
KR102387760B1 (ko) * | 2016-08-26 | 2022-04-15 | 나징 테크놀로지 코포레이션 리미티드 | 발광 디바이스의 제조 방법, 발광 디바이스 및 하이브리드 발광 디바이스 |
KR102005262B1 (ko) * | 2017-08-21 | 2019-07-31 | 금오공과대학교 산학협력단 | 패턴이 형성된 플렉서블 투명전극의 제조방법 |
WO2019125952A1 (en) * | 2017-12-18 | 2019-06-27 | Tokyo Electron Limited | Plasma treatment method to enhance surface adhesion for lithography |
KR102079317B1 (ko) * | 2018-04-25 | 2020-02-19 | 광운대학교 산학협력단 | 용액 공정 기반의 박막 트랜지스터의 성능을 향상시키는 선택적인 표면 처리를 이용한 패터닝 방법 |
KR102120040B1 (ko) * | 2018-11-01 | 2020-06-10 | 주식회사 라훔나노테크 | 무에칭인쇄형 마이크로 전극의 패턴을 형성하는 방법 |
KR20230081405A (ko) | 2021-11-30 | 2023-06-07 | 한국생산기술연구원 | 레이저 식각을 활용한 이종 금속 도금 패턴 제조방법 및 이를 이용한 칠보 |
KR102564061B1 (ko) | 2021-11-30 | 2023-08-10 | 한국생산기술연구원 | 레이저 식각을 활용한 색유약이 패터닝된 클래드 기판 제조방법 및 이를 이용한 칠보 제품 |
CN116216628B (zh) * | 2023-03-10 | 2024-04-19 | 清华大学 | 一种金属纳米颗粒微图案化学镀结构及其制备方法 |
CN116301442A (zh) * | 2023-05-24 | 2023-06-23 | 浙江大华技术股份有限公司 | 银纳米线触控电极单元及其制备方法和应用 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004330440A (ja) | 2003-04-30 | 2004-11-25 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像形成方法及びパターン形成方法 |
JP2005032862A (ja) | 2003-07-09 | 2005-02-03 | Ricoh Co Ltd | パターン形成方法 |
KR100825476B1 (ko) | 2007-04-18 | 2008-04-28 | 한국기계연구원 | 미세패턴 인쇄방법 |
-
2007
- 2007-08-09 KR KR1020070080132A patent/KR101001248B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004330440A (ja) | 2003-04-30 | 2004-11-25 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像形成方法及びパターン形成方法 |
JP2005032862A (ja) | 2003-07-09 | 2005-02-03 | Ricoh Co Ltd | パターン形成方法 |
KR100825476B1 (ko) | 2007-04-18 | 2008-04-28 | 한국기계연구원 | 미세패턴 인쇄방법 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20240031715A (ko) | 2022-09-01 | 2024-03-08 | (주)바이오스마트 | 금속의 접착력을 강화하기 위한 표면처리 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20090015634A (ko) | 2009-02-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101001248B1 (ko) | 표면특성을 이용한 금속패턴 형성방법 및 이에 따라 형성된금속패턴 | |
KR100922810B1 (ko) | 흑화 전도성 패턴의 제조방법 | |
KR100690929B1 (ko) | 건식필름레지스트를 이용하여 원하는 패턴두께 또는 높은종횡비를 가지는 고해상도패턴 형성 방법 | |
US8540922B2 (en) | Laser patterning of a carbon nanotube layer | |
JP3539179B2 (ja) | 基板、基板の製造方法、集積回路および集積回路の製造方法。 | |
KR101976967B1 (ko) | 미세 라인 제조를 위한 방법 | |
US7405035B2 (en) | Pattern forming method and substance adherence pattern material | |
EP1767989A1 (en) | Method of forming graft pattern, graft pattern material, method of lithography, method of forming conductive pattern, conductive pattern, process for producing color filter, color filter and process for producing microlens | |
JP2006038999A (ja) | レーザ照射を用いた導電性回路形成方法と導電性回路 | |
WO2006031079A1 (en) | Ink composition for etching resist, method of forming etching resist pattern using the same, and method of formng microchannel using the ink composition | |
WO1999059386A1 (fr) | Substrat pour la formation de motifs speciaux et procede de fabrication d'un tel substrat | |
JP2008013809A (ja) | レーザーアブレーションによる機能膜の製造法およびそれに用いるレーザーアブレーション加工用組成物 | |
KR20060123117A (ko) | 엘라스토메릭 스탬프, 잉크 프린팅 방법 및 엘라스토메릭스탬프 생성 방법 | |
CN104246613A (zh) | 处理光敏结构的方法 | |
JP2003114525A (ja) | 導電性パターン材料及び導電性パターンの形成方法 | |
US11920252B2 (en) | SU-8 etching technique using molten salt | |
KR20060081444A (ko) | 포지티브 금속패턴 형성 방법 및 이를 이용한 전자파 차폐필터 | |
KR20100117061A (ko) | 전도성 트랙의 제조방법 | |
KR20140090641A (ko) | 도전성 패턴 형성용 기재, 회로 기판 및 그들의 제조 방법 | |
JP2004021196A (ja) | 光学素子作製方法、これに用いる電着液および光学素子製造装置 | |
JP2006303199A (ja) | パターン形成方法及び有機薄膜トランジスタ | |
JP2004111818A (ja) | パターン形成方法 | |
JP2008004303A (ja) | 導電性パターン形成方法、及びワイヤグリッド型偏光子 | |
JP2010026182A (ja) | 微粒子パターンの形成方法および基板の加工方法 | |
JP4181481B2 (ja) | 基板 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131018 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141017 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150923 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160928 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170919 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181016 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20191016 Year of fee payment: 10 |