KR100989123B1 - 박막트랜지스터, 그의 제조 방법 및 그를 이용한 유기전계발광표시장치 - Google Patents

박막트랜지스터, 그의 제조 방법 및 그를 이용한 유기전계발광표시장치 Download PDF

Info

Publication number
KR100989123B1
KR100989123B1 KR1020080101195A KR20080101195A KR100989123B1 KR 100989123 B1 KR100989123 B1 KR 100989123B1 KR 1020080101195 A KR1020080101195 A KR 1020080101195A KR 20080101195 A KR20080101195 A KR 20080101195A KR 100989123 B1 KR100989123 B1 KR 100989123B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
layer
substrate
semiconductor layer
gate electrode
forming
Prior art date
Application number
KR1020080101195A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20100042071A (ko
Inventor
이동규
김무현
Original Assignee
삼성모바일디스플레이주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성모바일디스플레이주식회사 filed Critical 삼성모바일디스플레이주식회사
Priority to KR1020080101195A priority Critical patent/KR100989123B1/ko
Priority to US12/393,473 priority patent/US8026520B2/en
Publication of KR20100042071A publication Critical patent/KR20100042071A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100989123B1 publication Critical patent/KR100989123B1/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, or capacitors or resistors with at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof  ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/78Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
    • H01L29/786Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
    • H01L29/78603Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film characterised by the insulating substrate or support
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/1218Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition or structure of the substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/1248Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition or shape of the interlayer dielectric specially adapted to the circuit arrangement
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/84Passivation; Containers; Encapsulations
    • H10K50/844Encapsulations
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/121Active-matrix OLED [AMOLED] displays characterised by the geometry or disposition of pixel elements
    • H10K59/1213Active-matrix OLED [AMOLED] displays characterised by the geometry or disposition of pixel elements the pixel elements being TFTs
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/80Constructional details
    • H10K59/87Passivation; Containers; Encapsulations
    • H10K59/873Encapsulations
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays

Abstract

본 발명은 박막트랜지스터, 그의 제조방법 및 그를 구비하는 유기전계발광표시장치에 관한 것으로, 기판; 상기 기판 상에 위치하는 보호막; 상기 보호막 상에 위치하는 버퍼층; 상기 버퍼층 상에 위치하는 반도체층; 상기 반도체층 상에 위치하는 게이트 전극; 상기 반도체층과 상기 게이트 전극을 절연시키는 게이트 절연막; 및 상기 게이트 전극과 절연되며 상기 반도체층과 일부가 연결되는 소스/드레인 전극을 포함하며, 상기 보호막은 아민을 포함하는 클레이를 포함하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터 및 그의 제조방법에 관한 것이다.
또한, 기판; 상기 기판 상에 위치하는 보호막; 상기 보호막 상에 위치하는 버퍼층; 상기 버퍼층 상에 위치하는 반도체층; 상기 반도체층 상에 위치하는 게이트 전극; 상기 반도체층과 상기 게이트 전극을 절연시키는 게이트 절연막; 상기 게이트 전극과 절연되며 상기 반도체층과 일부가 연결되는 소오스/드레인 전극; 기판 전면에 걸쳐 위치하는 절연막; 및 상기 소오스/드레인 전극과 전기적으로 연결되는 제 1 전극, 유기막층 및 제 2 전극을 포함하며, 상기 보호막은 아민을 포함하는 클레이를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광표시장치에 관한 것이다.
클레이, 박막트랜지스터

Description

박막트랜지스터, 그의 제조 방법 및 그를 이용한 유기전계발광표시장치{Thin Film Trnasitor, Fabricating Method Of The TFT and Organic Light Emitting Display Device Comprising The TFT}
본 발명은 박막트랜지스터, 그의 제조방법 및 그를 구비하는 유기전계발광표시장치에 관한 것으로, 더 상세하게는 기판 상에 Na 양이온이 제거된 무기물 클레이를 포함하는 보호막을 형성하여 소자내로 Na양이온이 소자내에 침투하는 것을 방지하여 소자 손상을 줄일 수 있는 박막트랜지스터, 그의 제조방법 및 그를 구비하는 유기전계발광표시장치에 관한 것이다.
평판 표시 장치 중 유기전계발광표시장치는 응답속도가 1ms 이하로서 고속의 응답속도를 가지며, 소비 전력이 낮고, 자체광이므로 시야각에 문제가 없어서, 장치의 크기에 상관없이 동화상 표시 매체로서 장점이 있다. 또한, 저온 제작이 가능하고, 기존의 반도체 공정 기술을 바탕으로 제조 공정이 간단하므로 향후 차세대 평판 표시 장치로 주목받고 있다.
그러나 유기전계발광표시장치는 수분 및 산소에 의하여 열화되는 특성이 있으며, 기판 등의 불순물등이 소자내로 침투하여 소자를 열화시키는 단점이 있다.
그러므로, 유기전계발광표시장치 소자내로의 수분, 산소 및 불순물등의 침투를 막아 소자의 효율을 높일 수 있는 방법의 연구가 요구된다.
본 발명은 박막트랜지스터, 그의 제조방법 및 유기전계발광표시장치에 관한 것으로써, 기판으로부터 소자로의 불순물의 침투를 방지하여 소자의 열화를 방지할 수 있는 방법을 제공하고자 한다.
본 발명은 박막트랜지스터, 그의 제조방법 및 그를 구비하는 유기전계발광표시장치에 관한 것으로, 기판; 상기 기판 상에 위치하는 보호막; 상기 보호막 상에 위치하는 버퍼층; 상기 버퍼층 상에 위치하는 반도체층; 상기 반도체층 상에 위치하는 게이트 전극; 상기 반도체층과 상기 게이트 전극을 절연시키는 게이트 절연막; 및 상기 게이트 전극과 절연되며 상기 반도체층과 일부가 연결되는 소스/드레인 전극을 포함하며, 상기 보호막은 아민을 포함하는 클레이를 포함하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터 및 그의 제조방법을 제공한다.
또한, 기판; 상기 기판 상에 위치하는 보호막; 상기 보호막 상에 위치하는 버퍼층; 상기 버퍼층 상에 위치하는 반도체층; 상기 반도체층 상에 위치하는 게이트 전극; 상기 반도체층과 상기 게이트 전극을 절연시키는 게이트 절연막; 상기 게이트 전극과 절연되며 상기 반도체층과 일부가 연결되는 소오스/드레인 전극; 기판 전면에 걸쳐 위치하는 절연막; 및 상기 소오스/드레인 전극과 전기적으로 연결되는 제 1 전극, 유기막층 및 제 2 전극을 포함하며, 상기 보호막은 아민을 포함하는 클레이를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광표시장치를 제공한다.
본 발명의 기판 상에 소자 형성 전단계에 보호막을 형성함으로써, 상기 소자 내로의 금속 양이온 및 불순물의 침투를 방지하고자 하는 것으로써, 종래의 방법보다 더 간편한 방법으로 효과를 증진시킬 수 있어 소자열화를 방지하는 효과가 있다.
<실시예1>
도 1a 내지 도 1e는 본 발명에 따른 박막트랜지스터에 관한 단면도이다.
도 1a를 참조하면, 기판(100)을 형성한다. 상기 기판(100)은 유리 또는 플라스틱과 같은 투명한 절연기판이며, 상기 버퍼층(110)은 실리콘 산화막, 실리콘 질화막 또는 이들의 이중층으로 형성할 수 있다.
그리고 나서, 상기 기판(100) 상에 보호막(105)을 형성한다. 상기 보호막(105)은 고분자 클레이 물질이다. 상기 클레이는 1~10㎛의 입자 크기 및 판상의 구조를 갖는 실리카계 물질로서, 상기 클레이를 상기 기판(100)상에 형성하기 전 수용액 분산상태에서 암모늄염과 같은 유기아민화합물과 반응시켜 클레이 내에 포함되어 있는 Na, K, Mg양이온 등과 같은 금속양이온을 유기암모늄염으로 치환시킨 후 형성한다. 상기와 같은 방법으로 형성한 보호막은 판상이 쪼개져 있으므로 적은 양을 사용하여 고내열성 및 기체투과도를 현저히 저감시킬수 있다. 또한, 금속양이온이 유기암모늄염으로 치환시킨 상태로 판상들 사이에 갇혀있으므로 소자내로의 침투를 효과적으로 방지할 수 있다.
도 3은 종래의 스택구조의 클레이에 관한 도면이고, 도4는 본원발명에 따른 클레이에 관한 구조로서, 도 3의 경우 스택구조를 이루고 있어 쪼개진 판상구조의 도4보다 기체나 불순물들의 통과가 쉬움을 알수 있다. 그러므로 본원발명에 따른 쪼개진 판상구조의 경우 불순물 침투를 방지하기에 보다 효과적이므로 소자의 손상을 줄일 수 있다.
상기 보호막(105)은 기판(100) 상에 도포하여 형성하면 되고, 바람직하게는 접촉식 프린팅, 비접촉식 프린팅, 바코팅, 스핀코팅 등을 사용하여 기판에 형성할 수 있다. 그러므로 상기 보호막(105)의 두께는 제한이 없고, 기판(100)을 코팅할 수 있는 정도면 된다.
이어서, 도 1b를 참조하면, 상기 보호막(105)이 형성된 기판(100) 전면에 걸쳐 버퍼층(110)을 형성한다. 그리고 나서, 상기 버퍼층(110) 상에 다결정 실리콘층으로 이루어진 반도체층(120)을 형성하고, 상기 기판(100) 전면에 걸쳐 게이트 절연막(130)을 형성한다. 이때, 상기 버퍼층(110)은 실리콘 산화막, 실리콘 질화막 및 이들의 이중층등으로 형성할 수 있으며, 게이트 절연막(130)은 실리콘 질화막, 실리콘 산화막 또는 이들의 다중층으로 형성할 수 있다.
도 1c를 참조하면, 상기 반도체층(120)에 대응되도록 게이트 전극(140)을 형성하고, 상기 기판 전면에 걸쳐 층간 절연막(145)을 형성한다. 상기 게이트 전극(140)은 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(Al-alloy), 몰리브덴(Mo), 몰리브덴 합금(Mo-alloy)으로 이루어진 군에서 선택되는 하나를 포함하는 것이 바람직하며, 몰 리브덴-텅스텐(MoW) 합금으로 형성하는 것이 더욱 바람직하다. 그리고, 상기 층간 절연막(145)은 실리콘 질화막, 실리콘 산화막 또는 이들의 다중층으로 형성할 수 있다.
도 1d를 참조하면, 상기 반도체층(120)에 일부가 연결되는 소오스/드레인 전극(150a,150b)을 형성한다.
그러므로 상기와 같은 방법으로 박막트랜지스터를 완성하였다.
<실시예2>
도 2 는 본원발명에 따른 유기전계발광표시장치에 관한 도면이다. <실시예2>는 상기 <실시예1>의 박막트랜지스터를 포함하며, 동일한 설명은 중복을 피하기 위하여 생략한다.
도 2를 참조하면, 반도체층(120), 게이트 전극(140) 및 소오스/드레인 전극(150a, 150b)를 포함하는 기판(100)을 형성하고, 상기 기판(100) 전면에 걸쳐 절연막(160)을 형성한다. 이후, 상기 절연막(160) 상에 상기 소오스/드레인(150a,150b)와 일부가 연결되는 제 1 전극(170)을 형성한다. 그리고 나서, 상기 제 1 전극(170) 상에 제 1 전극(170)의 일부를 개구시키는 화소정의막(180)을 형성한다. 그리고 나서, 상기 제 1 전극(170) 상에 유기막층(190)을 형성하고, 기판(100) 전면에 걸쳐 제 2 전극(200)을 형성한다.
그리하여, 본원발명에 따른 유기전계발광표시장치를 완성한다.
상기 실시예에서는 탑게이트 구조의 박막트랜지스터를 서술하였으나, 바텀게이트 구조의 박막트랜지스터로의 응용도 가능하다.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 설명하였지만, 본 발명은 이에 한정되는 것이 아니고, 특허청구범위와 발명의 상세한 설명 및 첨부한 도면의 범위 안에서 여러 가지로 변형하여 실시하는 것이 가능하고 이 또한 본 발명의 범위에 속하는 것은 당연하다.
도 1a 내지 도 1d는 본 발명에 따른 박막트랜지스터에 관한 도면이다.
도 2는 본 발명에 따른 유기전계발광표시장치에 관한 도면이다.
도 3은 종래기술의 클레이에 관한 도면이다.
도 4는 본원발명에 따른 클레이에 관한 도면이다.

Claims (15)

  1. 기판;
    상기 기판 상에 위치하는 보호막;
    상기 보호막 상에 위치하는 버퍼층;
    상기 버퍼층 상에 위치하는 반도체층;
    상기 반도체층 상에 위치하는 게이트 전극;
    상기 반도체층과 상기 게이트 전극을 절연시키는 게이트 절연막; 및
    상기 게이트 전극과 절연되며 상기 반도체층과 일부가 연결되는 소스/드레인 전극을 포함하며, 상기 보호막은 아민을 포함하는 클레이를 포함하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 보호막은 고분자 클레이를 포함하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 보호막은 유기암모늄염을 포함하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 클레이는 쪼개진 판상구조인 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터.
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 기판은 유리기판 또는 플라스틱기판인 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터.
  6. 기판을 형성하고,
    상기 기판 전면에 걸쳐 보호막을 형성하고,
    상기 보호막 상에 버퍼층을 형성하고,
    상기 버퍼층상에 반도체층을 형성하고,
    상기 기판전면에 걸쳐 게이트 절연막을 형성하고,
    상기 게이트 절연막 상에 상기 반도체층에 대응되는 게이트 전극을 형성하고,
    상기 기판 전면에 걸쳐 층간 절연막을 형성하고,
    상기 게이트 전극과 절연되며 상기 반도체층과 전기적으로 연결되는 소오스/드레인 전극을 형성하는 것을 포함하며, 상기 보호막은 아민을 포함하는 클레이로 형성하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터의 제조방법.
  7. 제 6항에 있어서,
    상기 보호막은 클레이에 유기아민화합물을 반응시켜 형성하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터의 제조방법.
  8. 제 6항에 있어서,
    상기 보호막은 접촉식 프린팅, 비접촉식 프린팅, 바코팅, 스핀코팅 중 어느 하나를 사용하여 형성하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터의 제조방법.
  9. 기판을 형성하고,
    상기 기판 전면에 걸쳐 보호막을 형성하고,
    상기 보호막 상에 버퍼층을 형성하고,
    상기 버퍼층 상에 게이트 전극을 형성하고,
    상기 게이트 전극 상에 게이트 절연막을 형성하고,
    상기 게이트 전극 상에 대응되는 반도체층을 형성하고,
    상기 게이트 전극과 절연되며 상기 반도체층과 전기적으로 연결되는 소오스/드레인 전극을 형성하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터의 제조방법.
  10. 제 9항에 있어서,
    상기 보호막은 수용액 분산상태의 클레이에 유기아민화합물을 반응시켜 형성하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터의 제조방법.
  11. 기판;
    상기 기판 상에 위치하는 보호막;
    상기 보호막 상에 위치하는 버퍼층;
    상기 버퍼층 상에 위치하는 반도체층;
    상기 반도체층 상에 위치하는 게이트 전극;
    상기 반도체층과 상기 게이트 전극을 절연시키는 게이트 절연막;
    상기 게이트 전극과 절연되며 상기 반도체층과 일부가 연결되는 소오스/드레인 전극;
    기판 전면에 걸쳐 위치하는 절연막; 및
    상기 소오스/드레인 전극과 전기적으로 연결되는 제 1 전극, 유기막층 및 제 2 전극을 포함하며, 상기 보호막은 아민을 포함하는 클레이를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광표시장치.
  12. 제 11항에 있어서,
    상기 보호막은 고분자 클레이를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광표시장치.
  13. 제 11항에 있어서,
    상기 보호막은 유기암모늄염을 포함하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광표시장치.
  14. 제 11항에 있어서,
    상기 클레이는 쪼개진 판상구조인 것을 특징으로 하는 유기전계발광표시장치.
  15. 제 11항에 있어서,
    상기 기판은 유리기판 또는 플라스틱 기판인 것을 특징으로 하는 유기전계발광표시장치.
KR1020080101195A 2008-10-15 2008-10-15 박막트랜지스터, 그의 제조 방법 및 그를 이용한 유기전계발광표시장치 KR100989123B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080101195A KR100989123B1 (ko) 2008-10-15 2008-10-15 박막트랜지스터, 그의 제조 방법 및 그를 이용한 유기전계발광표시장치
US12/393,473 US8026520B2 (en) 2008-10-15 2009-02-26 Thin film transistor, method of fabricating the same, and organic light emitting diode display device having the thin film transistor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080101195A KR100989123B1 (ko) 2008-10-15 2008-10-15 박막트랜지스터, 그의 제조 방법 및 그를 이용한 유기전계발광표시장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20100042071A KR20100042071A (ko) 2010-04-23
KR100989123B1 true KR100989123B1 (ko) 2010-10-20

Family

ID=42098070

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020080101195A KR100989123B1 (ko) 2008-10-15 2008-10-15 박막트랜지스터, 그의 제조 방법 및 그를 이용한 유기전계발광표시장치

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8026520B2 (ko)
KR (1) KR100989123B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101298034B1 (ko) 2011-11-23 2013-08-20 주식회사 아이브이웍스 패시베이션층 형성 방법

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010027767A (ja) * 2008-07-17 2010-02-04 Seiko Epson Corp 薄膜デバイス、薄膜デバイスの製造方法及び電子機器
KR101320173B1 (ko) 2011-05-12 2013-10-22 삼성전기주식회사 유기 발광 다이오드 및 이의 제조방법
KR20180088099A (ko) 2017-01-26 2018-08-03 삼성전자주식회사 전자 장치에 있어서 광 검출 장치 및 방법

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050113040A (ko) * 2004-05-28 2005-12-01 삼성에스디아이 주식회사 박막 트랜지스터 및 그 제조방법과 박막 트랜지스터를포함하는 평판표시장치
KR20050113360A (ko) * 2004-05-27 2005-12-02 삼성에스디아이 주식회사 이중 버퍼층 구조의 박막 트랜지스터와 그 제조방법
KR100759681B1 (ko) 2006-03-29 2007-09-17 삼성에스디아이 주식회사 유기 전계 발광표시장치

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11102867A (ja) * 1997-07-16 1999-04-13 Sony Corp 半導体薄膜の形成方法およびプラスチック基板
JP2001021850A (ja) 1999-07-06 2001-01-26 Sony Corp 固体変位素子、光学素子及び干渉フィルター
KR20010095437A (ko) 2000-03-30 2001-11-07 윤덕용 발광물질/점토 나노복합소재를 이용한 유기 전기 발광 소자
JP5002112B2 (ja) 2001-06-13 2012-08-15 エクソンモービル・ケミカル・パテンツ・インク 低透過性ナノ複合物
JP2003133070A (ja) * 2001-10-30 2003-05-09 Seiko Epson Corp 積層膜の製造方法、電気光学装置、電気光学装置の製造方法、有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法、及び電子機器
JP2003142262A (ja) * 2001-11-06 2003-05-16 Seiko Epson Corp 電気光学装置、膜状部材、積層膜、低屈折率膜、多層積層膜、電子機器
JP2004004150A (ja) * 2002-05-13 2004-01-08 Sumitomo Chem Co Ltd 積層位相差フィルム及びそれを用いた液晶表示装置
KR100894651B1 (ko) * 2002-07-08 2009-04-24 엘지디스플레이 주식회사 액티브 매트릭스형 유기 전계발광 표시패널 및 그의제조방법
US7072248B2 (en) * 2002-09-09 2006-07-04 E. I. Du Pont De Nemours And Company Rapidly low temperature curable high gas barrier coating
US7125916B2 (en) * 2003-10-14 2006-10-24 National Chung-Hsing University Method for producing nanosilica plates
KR20050073855A (ko) * 2004-01-12 2005-07-18 삼성전자주식회사 플렉셔블 디스플레이 및 그 제조 방법
KR100553758B1 (ko) 2004-02-02 2006-02-20 삼성에스디아이 주식회사 유기 전계 발광 소자
KR101045235B1 (ko) 2004-05-24 2011-06-30 윤진산 층상 실리카계 클레이의 개질방법
KR20060104531A (ko) * 2005-03-30 2006-10-09 삼성에스디아이 주식회사 발광표시장치의 제조방법
JP2007233185A (ja) * 2006-03-02 2007-09-13 Fujifilm Corp 光学フィルム、反射防止フィルム、偏光板および画像表示装置
KR100797529B1 (ko) 2006-07-27 2008-01-24 주식회사 대우일렉트로닉스 백색 오엘이디 소자 및 그 제조방법
JP4285527B2 (ja) * 2006-10-30 2009-06-24 三菱マテリアル株式会社 切削ヘッド交換式工具およびそのアーバと切削ヘッドとの締結方法
KR20080039594A (ko) 2006-11-01 2008-05-07 삼성전자주식회사 액정 표시 장치

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050113360A (ko) * 2004-05-27 2005-12-02 삼성에스디아이 주식회사 이중 버퍼층 구조의 박막 트랜지스터와 그 제조방법
KR20050113040A (ko) * 2004-05-28 2005-12-01 삼성에스디아이 주식회사 박막 트랜지스터 및 그 제조방법과 박막 트랜지스터를포함하는 평판표시장치
KR100759681B1 (ko) 2006-03-29 2007-09-17 삼성에스디아이 주식회사 유기 전계 발광표시장치

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101298034B1 (ko) 2011-11-23 2013-08-20 주식회사 아이브이웍스 패시베이션층 형성 방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR20100042071A (ko) 2010-04-23
US8026520B2 (en) 2011-09-27
US20100090224A1 (en) 2010-04-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7407881B2 (ja) 表示装置
JP6806812B2 (ja) 半導体装置
KR101785924B1 (ko) 반도체 장치 및 그 제작 방법
JP2022000896A (ja) 半導体装置
CN102544109B (zh) 半导体装置
JP5408842B2 (ja) 発光装置およびその製造方法
CN101728000B (zh) 导电氧氮化物及导电氧氮化物膜的制造方法
US9806285B2 (en) Organic light-emitting diode display and manufacturing method thereof
TW201251000A (en) Organic light emitting diode display and manufacturing method of the same
JP2014106539A (ja) アレイ基板及びアレイ基板の製造方法、並びにディスプレイデバイス
TW201250859A (en) Method of manufacturing semiconductor device
US20180090521A1 (en) Thin Film Transistor, Array Substrate, Methods For Fabricating The Same, And Display Device
US9184224B2 (en) Organic light-emitting diode display and manufacturing method thereof
CN104218063A (zh) 有机发光显示装置及其制造方法
US8860035B2 (en) Organic light emitting diode display and manufacturing method thereof
KR100989123B1 (ko) 박막트랜지스터, 그의 제조 방법 및 그를 이용한 유기전계발광표시장치
US10121883B2 (en) Manufacturing method of top gate thin-film transistor
KR100855489B1 (ko) 평판표시소자 및 그 제조방법
CN104362157B (zh) 一种阵列基板及其制作方法、显示装置
US9190426B2 (en) Display device and method of manufacturing the same
WO2021227106A1 (zh) 显示面板及其制作方法
CN108447874A (zh) 阵列基板及其制造方法、显示面板、电子装置
WO2020118988A1 (zh) 显示面板及其制作方法
KR20080095540A (ko) 박막 트랜지스터 및 그 제조방법, 이를 포함하는평판표시장치
CN106992189A (zh) 氧化物半导体tft基板结构及氧化物半导体tft基板的制作方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130930

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20141001

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150930

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170928

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20181001

Year of fee payment: 9