KR100977324B1 - 계측기의 멀티 탐침 장치 - Google Patents

계측기의 멀티 탐침 장치 Download PDF

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KR100977324B1 KR1020030029512A KR20030029512A KR100977324B1 KR 100977324 B1 KR100977324 B1 KR 100977324B1 KR 1020030029512 A KR1020030029512 A KR 1020030029512A KR 20030029512 A KR20030029512 A KR 20030029512A KR 100977324 B1 KR100977324 B1 KR 100977324B1
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Abstract

본 발명은 계측기의 멀티 탐침 장치에 관한 것으로서, 직경이 다른 다수의 팁을 내장하여 대상물의 단자 간격에 상관없이 용이하게 탐침할 수 있도록, 상,하 방향으로 일정 길이의 도전성 와이어가 관통되고, 양측방의 대응 위치에는 상,하 방향으로 절개부가 형성된 동시에, 상,하 방향으로 개구된 통상(筒狀)의 상몸체과, 상기 상몸체의 각 절개부에 상,하 방향으로 일정 거리 움직일 수 있도록 결합되고, 하부에는 스프링이 결합된 버튼과, 상기 상몸체가 결합되는 동시에, 버튼이 위치되고, 적어도 두 개 이상의 통공을 갖는 탐침 고정판이 고정되도록 내부에 내부 돌출턱이 형성된 통상(筒狀)의 중몸체와, 상기 중몸체 및 탐침 고정판의 통공 및 스프링을 관통하여 상단이 상기 각각의 버튼에 결합되고, 하단의 직경은 서로 다르게 형성되어 있는 일정 길이의 탐침과, 상기 탐침중 어느 한 탐침이 하부의 개구를 통해 선택적으로 외부로 돌출되어 각종 전기적 테스트나 검사시에 전기적으로 접촉되도록 하는 하몸체를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 함.
탐침, 도전성 와이어, 탐침 고정판

Description

계측기의 멀티 탐침 장치{Multi-probing device of instrument}
도 1은 본 발명에 따른 계측기의 멀티 탐침 장치의 분해 사시도이다.
도 2는 본 발명에 따른 계측기의 멀티 탐침 장치의 결합 단면도이다.
도 3은 본 발명에 따른 계측기의 멀티 탐침 장치의 작용 상태를 도시한 단면도이다.
도 4는 본 발명에 따른 계측기의 멀티 탐침 장치의 다른 작용 상태를 도시한 단면도이다.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >
100; 본 발명에 의한 계측기의 멀티 탐침 장치
110; 상몸체 111; 상부 개구
112; 절개부 113; 제1절개부
114; 제2절개부 115; 제3절개부
116; 하부 개구 117; 몰딩물
118; 도전성 와이어 120; 버튼
121; 상부 걸림턱 122; 하부 결합턱
125; 스프링 130; 중몸체
131; 탐침 고정판 132; 통공
133; 고정 원판 134; 상부 개구
135; 내부 돌출턱 136; 하부 개구
140,140a; 탐침 141,141a; 결합봉
142,142a; 결합 몸통 143,143a; 팁
150; 하몸체 151; 상부 개구
152; 하부 개구
본 발명은 계측기의 멀티 탐침 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게 설명하면 직경이 다른 다수의 팁을 내장하여 대상물의 단자 간격에 상관없이 용이하게 탐침할 수 있는 계측기의 멀티 탐침 장치에 관한 것이다.
통상 반도체 패키지나 각종 전자 부품에는 다수의 외부 단자가 노출되어 있다. 이러한 외부 단자는 계측기 탐침 장치 즉, 팁(tip)이 접속되어 각종 전기적 테스트 또는 고장이 확인되고 있으며, 상기 외부 단자는 그 피치(pitch)가 좁을 경우도 있고, 넓을 경우도 있다. 일반적으로 이러한 탐침 장치의 팁은 소정 직경으로 확정되어 전선에 연결되어 있는데, 이러한 종래의 탐침 장치는 상기 팁의 직경이 고정되어 있어, 외부 단자의 피치가 팁의 직경보다 조밀한 경우에는 쇼트(short) 또는 오픈(open)이 빈번하게 발생되는 문제가 있다. 이러한 쇼트 또는 오픈 현상은 또한 계측기 및 각종 전자 부품에 직접적인 손상을 주는 경우도 있다.
따라서, 본 발명은 상술한 종래의 문제점을 극복하기 위한 것으로서, 본 발명의 목적은 직경이 다른 다수의 팁을 내장하여 대상물의 단자 간격에 상관없이 용이하게 탐침할 수 있는 계측기의 멀티 탐침 장치를 제공하는데 있다.
상기한 목적을 달성하기 위해 본 발명에 의한 계측기의 멀티 탐침 장치는 상,하 방향으로 일정 길이의 도전성 와이어가 관통되고, 양측방의 대응 위치에는 상,하 방향으로 절개부가 형성된 동시에, 상,하 방향으로 개구된 통상(筒狀)의 상몸체와, 상기 상몸체의 각 절개부에 상,하 방향으로 일정 거리 움직일 수 있도록 결합되고, 하부에는 스프링이 결합된 버튼과, 상기 상몸체가 결합되는 동시에, 버튼이 위치되고, 적어도 두 개 이상의 통공을 갖는 탐침 고정판이 고정되도록 내부에 내부 돌출턱이 형성된 통상(筒狀)의 중몸체와, 상기 중몸체 및 탐침 고정판의 통공 및 스프링을 관통하여 상단이 상기 각각의 버튼에 결합되고, 하단의 직경은 서로 다르게 형성되어 있는 일정 길이의 탐침과, 상기 탐침중 어느 한 탐침이 하부의 개구를 통해 선택적으로 외부로 돌출되어 각종 전기적 테스트나 검사시에 전기적으로 접촉되도록 하는 하몸체를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 상몸체의 절개부는 버튼이 상부에 위치되어 탐침이 하몸체 내측에 위치하도록 하는 제1절개부와, 상기 제1절개부의 하부에 상대적으로 폭이 넓어 버튼이 하강되어 고정시 탐침이 하몸체 외측으로 돌출되도록 하는 제2절개부와, 상기 제2절개부에 연통되어 있되 상기 제1절개부와 폭이 유사한 제3절개부로 이루어질 수 있다.
또한, 상기 도전성 와이어는 상기 탐침 고정판에 납땜되어 있다.
또한, 상기 탐침은 상기 버튼의 하부 결합턱에 결합 고정되는 결합봉과, 상기 결합봉의 하부에 형성되어 상기 탐침 고정판의 통공을 관통하는 결합 몸통과, 상기 결합 몸통의 하부에 형성되어 다양한 직경을 갖는 팁으로 이루어질 수 있다.
또한, 상기 탐침 고정판의 통공은 상기 각 탐침의 결합 몸통과 같은 직경일 수 있다.
또한, 상기 탐침 고정판은 도전체로 형성함이 바람직하다.
또한, 상기 상몸체의 상면에는 상기 도전성 와이어가 관통되는 영역에 몰딩물이 몰딩됨이 바람직하다.
더불어, 상기한 목적을 달성하기 위해 본 발명에 의한 계측기의 멀티 탐침 방법에 의하면, 대략 통상(筒狀)의 몸체에 적어도 두 개 이상의 통공을 갖는 탐침 고정판을 고정시키고, 상기 탐침 고정판의 각 통공에 팁의 직경이 서로 다른 탐침을 결합시켜, 전자 부품의 외부 단자 피치가 작을 경우에는 상대적으로 직경이 작은 탐침이 외부로 돌출되도록 하여 검사하고, 상기 전자 부품의 외부 단자 피치가 클 경우에는 상대적으로 직경이 큰 탐침이 돌출되도록 하여 검사함을 특징으로 한다.
상기와 같이 하여 본 발명에 의한 계측기의 멀티 탐침 장치에 의하면, 첫째, 전자 부품의 단자 피치가 팁 직경보다 조밀한 경우 상대적으로 가느다란 팁을 선택하여 쇼트와 오픈이 발생하지 않게 하여 작업을 용이하게 한다.
둘째, 기타 측정 작업시 힘이 요구되는 작업에는 팁이 굵은 것을 사용해 팁의 휨이나 부러지는 현상을 억제할 수 있게 된다.
셋째, 팁이 휘거나 부러져 사용이 불가능할 경우 교체를 용이하게 수행할 수 있게 된다.
넷째, 팁의 보관 및 팁의 교체 그리고, 이동시 찰과상에 의한 안전 사고도 예방할 수 있게 된다.
이하, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명하면 다음과 같다.
도 1을 참조하면, 본 발명에 따른 계측기의 멀티 탐침 장치(100)의 분해 사시도가 도시되어 있고, 도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 계측기의 멀티 탐침 장치(100)의 결합 단면도가 도시되어 있다.
도시된 바와 같이 본 발명에 따른 계측기의 멀티 탐침 장치(100)는 최상부에 위치되어 도전성 와이어(118)가 관통되는 상몸체(110)와, 상기 상몸체(110)에 결합되는 다수의 버튼(120)과, 상기 상몸체(110)의 하부에 결합되며 내부에 탐침 고정판(131)이 내장되는 중몸체(130)와, 상기 중몸체(130)에 결합되는 다수의 탐침(140,140a)과, 상기 다수의 탐침(140,140a)이 내부에 위치되거나 선택된 탐침(140 또는 140a)이 외부로 돌출될 수 있도록 하는 하몸체(150)로 이루어져 있다.
먼저, 상기 상몸체(110)는 상,하 방향으로 개구된 통상(筒狀)으로서, 상,하 방향으로 일정 길이의 도전성 와이어(118)가 관통되고, 양측방의 대응 위치에는 상,하 방향으로 절개부(112)가 형성되어 있다.
여기서, 상기 상몸체(110)의 하부에는 하부 개구(116)가 형성되고, 상부에는 도전성 와이어(118)가 통과될 정도의 상부 개구(111)가 형성되어 있다. 물론, 상기 상부 개구(111)에는 상기 와이어(118)가 관통된 후 움직이지 않도록 몰딩물(117)(도 2 참조)이 몰딩되어 있다.
또한, 상기 상몸체(110)의 절개부(112)는 버튼(120)이 상부에 위치되어 탐침(140 또는 140a)이 하몸체(150) 내측에 위치하도록 하는 제1절개부(113)와, 상기 제1절개부(113)의 하부에 상대적으로 폭이 넓어 버튼(120)이 하강되어 고정시 탐침(140 또는 140a)이 하몸체(150) 외측으로 돌출되도록 하는 제2절개부(114)와, 상기 제2절개부(114)에 연통되어 있되 상기 제1절개부(113)와 폭이 유사한 제3절개부(115)로 이루어져 있다.
상기 버튼(120)은 상기 상몸체(110)의 각 절개부(112)에 상,하 방향으로 일정 거리 움직일 수 있도록 결합되고, 하부에는 스프링(125)이 결합되어 있다. 좀더 구체적으로 상기 버튼(120)은 상기 제1절개부(113) 또는 제2절개부(114) 외측으로 돌출되는 상부 걸림턱(121)과, 상기 스프링(125) 및 탐침(140 또는 140a)이 결합되 는 하부 결합턱(122)으로 이루어져 있다.
상기 중몸체(130)는 상,하 방향으로 개구된 통상(筒狀)으로서, 상기 상몸체(110)의 하부에 결합되어 있다. 이는 버튼(120)의 하부 영역 즉, 하부 결합턱(122)이 위치될 수 있고, 적어도 두 개 이상의 통공(132)을 갖는 탐침 고정판(131)이 내부에 고정되도록 내부 돌출턱(135)이 형성되어 있다. 물론, 상기 중몸체(130)도 상호 유사한 직경의 상부 개구(134)와 하부 개구(136)를 갖는다.
여기서, 상기 탐침 고정판(131)은 도전성의 고정 원판(133)이 구비되고, 상기 고정 원판(133)에는 적어도 두 개 이상의 통공(132)이 형성된 형태이다. 물론, 상기 도전성 와이어(118)는 상기 탐침 고정판(131)에 납땜되어 있음으로써, 이 탐침 고정판(131)에 결합되는 탐침(140 또는 140a)과 전기적으로 도통 가능한 상태가 되도록 되어 있다.
상기 탐침(140 또는 140a)은 상기 중몸체(130) 및 탐침 고정판(131)의 통공(132) 및 스프링(125)을 관통하여 상단이 각각의 버튼(120)에 결합되고, 하단의 직경은 서로 다르게 형성되어 있다. 즉, 상기 탐침(140,140a)은 상기 버튼(120)의 하부 결합턱(122)에 결합되는 일정 길이의 결합봉(141,141a)과, 상기 결합봉(141,141a)의 하단에 연장되어 상기 탐침 고정판(131)의 통공(132) 직경과 같은 직경을 갖는 결합 몸통(142,142a)과, 상기 결합 몸통(142,142a)의 하단에 연장되어 그 직경과 같거나, 크거나 또는 동일한 직경을 갖는 팁(143,143a)으로 이루어져 있다. 물론, 이러한 탐침(140)은 도전체로 구비되어, 상기 탐침 고정판(131) 및 와이어(118)를 통해 계측기(도시되지 않음)와 전기적으로 연결되도록 되어 있 다.
상기 하몸체(150)도 대략 상,하 방향으로 개구된 통상(筒狀)으로서, 보관이나 운반중에는 상기 다수의 탐침(140,140a)을 외부 환경으로부터 보호하는 역할을 한다. 그러나, 특정 버튼(120)을 하부로 이동시켰을 경우에는 상기 탐침(140,140a)중 어느 한 탐침(140,140a)이 하부 개구(152)를 통해 선택적으로 외부로 돌출되어 각종 전기적 테스트나 검사를 수행하게 된다. 도면중 미설명 부호 151은 하몸체(150)에 형성된 상부 개구이며, 이것의 상부에는 중몸체(130)가 결합된다.
이러한 구성을 하는 본 발명의 작용을 첨부된 도 3 및 도 4를 참조하여 설명하면 다음과 같다. 여기서, 첨부된 도 1 및 도 2도 함께 참조하기로 한다.
먼저 도 3을 참조하면, 상몸체(110)에 결합된 버튼(120)을 하부로 이동시킴과 동시에 측방향으로 약간 움직여 고정시킨다. 즉, 절개부(112)중 제1절개부(113)에 위치하던 버튼(120)의 상부 걸림턱(121)이 제2절개부(114)에 위치되어 고정되도록 한다.
이렇게 하면, 상기 버튼(120)의 하부 결합턱(122)에 결합된 스프링(125)이 압축되면서, 역시 상기 하부 결합턱(122)에 결합된 탐침(140)이 하부로 일정 길이 돌출되게 된다.
이때, 상기 탐침(140)의 결합 몸통(142)은 탐침 고정판(131)의 통공(132)에 결합되어 하부로 움직이게 된다.
여기서, 상기 탐침(140) 및 탐침 고정판(131)은 도전성으로 되어 있고, 또한 상기 탐침 고정판(131)에는 도전성 와이어(118)가 납땜되어 있으며, 이 도전성 와이어(118)는 계측기에 연결되어 있기 때문에, 탐침(140)으로 흐르는 전류 등은 계측기에 인가될 수 있는 상태가 된다.
물론, 상기 탐침 고정판(131)은 중몸체(130)의 내부 돌출턱(135) 상부에 고정되어 있기 때문에, 상기 탐침(140)의 하강시 상기 탐침 고정판(131)이 이동되지는 않는다.
계속해서, 상기 탐침(140)은 하몸체(150)의 하부 개구(152)를 통하여 외부로 돌출됨으로써, 각종 반도체 패키지 또는 전자 부품의 외부 단자에 접촉될 수 있게 된다.
이때, 상기 하몸체(150)를 통해서 돌출되는 탐침(140) 즉, 팁(143)의 직경은 계측하고자 하는 전자 부품 등의 외부 단자에 대한 피치를 고려하여 결정하면 된다. 즉, 외부 단자의 피치가 넓을 경우에는 통상의 팁(143)을 이용하면 되고, 외부 단자의 피치가 매우 작을 경우에는 상대적으로 직경이 작은 팁(143a)(도 4참조)을 이용하면 된다.
한편, 도 4는 도 3과 다르게 도면중 좌측의 버튼(120) 및 탐침(140a)이 작동된 상태를 도시한 것이나, 이것의 작동은 상기 도 3에 도시된 것과 같으므로, 그 작동 설명은 생략하기로 한다.
더불어, 본 발명에 의한 계측기의 멀티 탐침 방법을 설명하면 다음과 같다.
본 발명에 의한 멀티 탐침 방법은 대략 통상(筒狀)의 몸체에 적어도 두 개 이상의 통공을 갖는 탐침 고정판을 고정시키고, 상기 탐침 고정판의 각 통공에 팁의 직경이 서로 다른 탐침을 결합시킨다.
이어서, 계측하고자 하는 전자 부품의 외부 단자 피치가 작을 경우에는 상대적으로 직경이 작은 탐침을 외부로 돌출시켜 계측한다.
또한, 계측하고자 하는 전자 부품의 외부 단자 피치가 클 경우에는 상대적으로 직경이 큰 탐침을 외부로 돌출시켜 계측함으로써, 다양한 피치의 외부 단자를 갖는 전자 부품을 용이하게 계측할 수 있게 된다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 계측기의 멀티 탐침 장치는 첫째, 전자 부품의 단자 피치가 팁 직경보다 조밀한 경우 상대적으로 가느다란 팁을 선택하여 쇼트와 오픈이 발생하지 않게 하여 작업을 용이하게 하는 효과가 있다.
둘째, 기타 측정 작업시 힘이 요구되는 작업에는 팁이 굵은 것을 사용해 팁의 휨이나 부러지는 현상을 억제할 수 있는 효과가 있다.
셋째, 팁이 휘거나 부러져 사용이 불가능할 경우 교체를 용이하게 수행할 수 있는 효과가 있다.
넷째, 팁의 보관 및 팁의 교체 그리고, 이동시 찰과상에 의한 안전 사고도 예방할 수 있는 효과가 있다.
이상에서 설명한 것은 본 발명에 따른 계측기의 멀티 탐침 장치를 실시하기 위한 하나의 실시예에 불과한 것으로서, 본 발명은 상기한 실시예에 한정되지 않고, 이하의 특허청구범위에서 청구하는 바와같이 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변경 실시가 가능한 범위까지 본 발명의 기술적 정신이 있다고 할 것이다.

Claims (8)

  1. 상,하 방향으로 도전성 와이어가 관통되고, 양측방의 대응 위치에는 상,하 방향으로 절개부가 형성된 동시에, 상,하 방향으로 개구된 통상(筒狀)의 상몸체;
    상기 상몸체의 각 절개부에 상,하 방향으로 움직일 수 있도록 결합되고, 하부에는 스프링이 결합된 버튼;
    상기 상몸체가 결합되는 동시에, 버튼이 위치되고, 상기 버튼의 하부에 적어도 두개의 통공을 갖는 탐침 고정판이 고정되도록 내부에 내부 돌출턱이 형성된 통상(筒狀)의 중몸체;
    상기 중몸체 및 탐침 고정판의 통공 및 스프링을 관통하여 상단이 상기 각각의 버튼에 결합되고, 하단의 직경은 서로 다르게 형성되어 있는 탐침; 및,
    상기 탐침중 어느 한 탐침이 하부의 개구를 통해 선택적으로 외부로 돌출되어 각종 전기적 테스트나 검사시에 전기적으로 접촉되도록 하는 하몸체를 포함하여 이루어진 계측기의 멀티 탐침 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 상몸체의 절개부는 버튼이 상부에 위치되어 탐침이 하몸체 내측에 위치하도록 하는 제1절개부와, 상기 제1절개부의 하부에 상대적으로 폭이 넓어 버튼이 하강되어 고정시 탐침이 하몸체 외측으로 돌출되도록 하는 제2절 개부와, 상기 제2절개부에 연통되어 있되 상기 제1절개부와 폭이 유사한 제3절개부로 이루어진 것을 특징으로 하는 계측기의 멀티 탐침 장치.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 도전성 와이어는 상기 탐침 고정판에 납땜되어 있는 것을 특징으로 하는 계측기의 멀티 탐침 장치.
  4. 제 3항에 있어서, 상기 탐침 고정판은 도전체인 것을 특징으로 하는 계측기의 멀티 탐침 장치.
  5. 제 1 항에 있어서, 상기 탐침은 상기 버튼의 하부 결합턱에 결합 고정되는 결합봉과, 상기 결합봉의 하부에 형성되어 상기 탐침 고정판의 통공을 관통하는 결합 몸통과, 상기 결합 몸통의 하부에 형성되어 서로 다른 직경을 갖는 팁으로 이루어진 것을 특징으로 하는 계측기의 멀티 탐침 장치.
  6. 제 5 항에 있어서, 상기 탐침 고정판의 통공은 상기 각 탐침의 결합 몸통과 같은 직경인 것을 특징으로 하는 계측기의 멀티 탐침 장치.
  7. 제 1 항에 있어서, 상기 상몸체의 상면에는 상기 도전성 와이어가 관통되는 영역에 몰딩물이 몰딩된 것을 특징으로 하는 계측기의 멀티 탐침 장치.
  8. 삭제
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR101930237B1 (ko) 2016-10-25 2018-12-19 대한민국 계측기의 다중 탐침 장치
KR20220047428A (ko) * 2020-10-08 2022-04-18 대한민국(국방부 해군참모총장) 멀티테스터 프로브

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000062366A (ko) * 1996-12-27 2000-10-25 마에다 츠구요시 접촉 탐침 장치
JP2002323515A (ja) 2001-04-25 2002-11-08 Fuji Photo Film Co Ltd コンタクトプローブ

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000062366A (ko) * 1996-12-27 2000-10-25 마에다 츠구요시 접촉 탐침 장치
JP2002323515A (ja) 2001-04-25 2002-11-08 Fuji Photo Film Co Ltd コンタクトプローブ

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101930237B1 (ko) 2016-10-25 2018-12-19 대한민국 계측기의 다중 탐침 장치
KR20220047428A (ko) * 2020-10-08 2022-04-18 대한민국(국방부 해군참모총장) 멀티테스터 프로브
KR102433911B1 (ko) 2020-10-08 2022-08-23 대한민국 멀티테스터 프로브

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