KR200268667Y1 - 포고핀 - Google Patents

Abstract

본 고안은 포고핀(Pogo Pin)을 개시한다. 본 고안의 포고핀은 원통 형상의 하우징 내에 스프링이 배치되고, 상기 스프링을 사이에 두고 상기 하우징의 일측에 스프링 지지부가 배치되고, 상기 하우징의 타측에 접촉부가 배치되도록 구성된다. 또한, 상기 접촉부가 상기 하우징의 내경에 해당하는 직경을 가지며 상기 스프링에 접하는 원통부와, 상기 원통부의 상부면 중앙부에 일체로 돌출하는 선단부로 구성된다.

따라서, 상기 포고핀이 블록의 포고핀 케이스 내에 삽입, 설치된 후 더트 보드의 교체나 수리시에 작업상의 실수로 절단되더라도 상기 접촉부의 선단부만이 절단된다. 이때, 상기 접촉부의 원통부는 상기 포고핀 케이스의 상측부 보다 높게 위치한다. 따라서, 작업자가 상기 절단된 포고핀을 상기 포고핀 케이스로부터 용이하게 인출할 수가 있다.

Description

포고핀{Pogo Pin}

본 고안은 포고핀(Pogo Pin)에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 접촉부가 일부 절단되더라도 포고핀 케이스의 외부로 용이하게 인출할 수 있도록 한 포고핀에 관한 것이다.

일반적으로 웨이퍼 레벨의 제조공정이 완료된 웨이퍼 상의 각 칩들은 패키징공정을 수행하기 전에 EDS(Electrical Die Sorting) 공정에서 테스트 설비에 의해 전기적인 특성 검사를 받게 된다. 또한, 패키징공정이 완료된 패키지들도 테스트 설비에 의해 전기적인 특성 검사를 받게 된다. 이는 상기 웨이퍼의 각 칩들이나패키지들이 반도체장치로서의 특정 기준에 적합하게 제조되었는 지의 여부를 판단하기 위함이다.

최근에 들어, 반도체소자의 고집적화가 진행되면서 포고핀(Pogo Pin)이라는 탐침이 널리 사용되고 있다. 상기 포고핀을 적용한 블록은 테스터와 더트(Device Under Testing: DUT) 보드(또는 테스트 보드)를 전기적으로 접속한다.

종래에는 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 블록(10)에 원형 형상의 포고핀 안착 홀들(11)이 수직 관통하고, 상기 포고핀 안착 홀들(11) 내에 원형 관통 형상의 포고핀 케이스들(20)이 각각 삽입 고정되고, 상기 포고핀 케이스들(20) 내에 포고핀들(30)이 하나씩 대응하여 삽입 설치된다. 더트 보드(40)가 상기 포고핀들(30)에 의해 테스터(50)의 케이블(60)에 전기적으로 연결된다.

여기서, 상기 블럭(10)은 상기 포고핀들(30)을 결합하는 결집판 기능을 하며, 주로 절연성 세라믹 재질로 구성된다. 상기 포고핀 안착 홀들(11)이 상기 블록(10)의 상부면에 일정 간격을 두고 다수개 배치되고, 상기 포고핀 안착 홀들(11)의 하단부의 블럭(10)에는 상기 포고핀 케이스(20)가 더 이상 하강하지 못하고 걸리도록 하기 위한 포고핀 케이스 걸림턱(13)이 형성된다.

또한, 상기 포고핀 케이스 걸림턱(13)을 기준으로 한 상기 포고핀 안착 홀(21)의 상측 부분, 즉 더트 보드(40)를 대향하는 부분의 내경이 상기 포고핀 케이스 걸림턱(13)을 기준으로 한 상기 포고핀 안착 홀(21)의 하측 부분, 상기 테스터(50)의 케이블(60)에 연결된 부분의 내경보다 크다.

그리고, 상기 포고핀들(30)의 하우징(31)이 도전성 재질로 구성되며 상기 포고핀 안착 홀들(11)의 큰 내경과 동일한 외경을 갖는 원형 관통 형상으로 이루어진다. 접촉부(33)가 도전성 재질로 구성되며 상기 하우징(31)의 상측 부분 내에서 상기 하우징(31)에 밀착하며 이동하고 상기 더트 보드(40)의 도전성 패드(41)에 접촉한다. 지지부(35)가 도전성 재질로 구성되고, 상기 포고핀 안착 홀들(11)의 작은 내경과 동일한 외경을 가지며 상기 하우징(31)의 하측 부분에 결합된다. 스프링(37)이 상기 지지부(35)에 의해 지지되고, 상기 접촉부(33)와 상기 지지부(35) 사이에 배치되며 상기 접촉부(33)와 상기 패드(41)의 양호한 접촉을 위해 장력(Tension)을 가하여준다.

또한, 이동 제한부(31a)는 상기 하우징(31)의 일부분이 상기 하우징(31)의 내부 공간을 향해 절곡된 것으로, 상기 접촉부(33)가 상기 지지부(35)를 향해 일정 거리 이상 하향 이동하는 것을 제한하여 준다.

이와 같이 구성되는 종래의 포고핀의 경우, 포고핀 케이스(20)에 포고핀(30)이 삽입, 설치되고, 상기 포고핀(30)의 지지부(35)가 접속수단(도시 안됨)에 의해 테스터(50)의 케이블(60)에 전기적으로 연결된 상태에서 상기 더트 보드(40)가 하향 이동하여 상기 더트 보드(40)의 패드(41)가 포고핀(30)의 접촉부(33)에 대응하여 가압하면, 상기 접촉부(33)의 하단부가 상기 이동 제한부(31a)까지 하향 이동하고 이에 따라 상기 포고핀(30)의 스프링(37)이 탄성적으로 압축되면서 상기 접촉부(33)가 상기 패드(41)에 강하게 접촉하게 된다.

따라서, 웨이퍼의 칩이나 패키지의 전기적인 테스트가 이루어질 수 있다.

그런데, 반도체소자의 종류가 다양하기 때문에 테스트할 반도체소자가 변경될 때마다 해당 더트 보드를 교체하여야 하는 경우가 빈번하다. 또한, 상기 더트 보트의 수리를 수행하여야 하는 경우가 발생하기도 한다. 이러한 경우에는 작업자가 더트 보드의 교체나 수리를 수행하는 도중에 작업상의 부주의나 실수로 인해 상기 접촉부(33)의 원뿔형 선단부가 절단되는 경우가 발생한다.

이때, 작업자는 상기 파손된 포고핀을 새로운 포고핀으로 교체하기 위해 상기 절단된 포고핀(30)을 직접 손으로 상기 블록(10)의 포고핀 케이스(20)로부터 끄집어내고 있다.

그러나, 상기 포고핀(30)의 접촉부(33)는 원통 부분과, 상기 원통 부분에서부터 직경이 서서히 작아지는 원뿔 부분으로 이루어져 있고, 또한 상기 접촉부(33)의 절단 부위의 표면이 상기 포고핀 케이스(20)의 상측 단부와 거의 동일한 높이를 유지한다.

이로써, 상기 절단된 접촉부(33)가 상기 포고핀 케이스(20)의 상측 외부로 튀어나오지 않기 때문에 작업자가 상기 절단된 포고핀(30)을 직접 손으로 상기 포고핀 케이스(20)로부터 끄집어내기 어렵고, 심한 경우, 작업자가 상기 포고핀 케이스(20)를 뜯어낸 후 별도의 기구를 이용하여 상기 포고핀 케이스(20)의 하측부를 통해 밀어내어야 한다.

결국, 상기 절단된 포고핀의 교체 작업에 시간과 인력이 많이 소요된다. 뿐만 아니라 테스트 설비의 가동율이 저하되므로 테스트 설비의 생산성이 저하된다.

따라서, 본 고안의 목적은 접촉부가 일부 절단되더라도 포고핀 케이스로부터 인출해내는 작업의 편의성을 높이도록 한 포고핀을 제공하는데 있다.

본 고안의 다른 목적은 테스트 설비의 가도율을 높여 생산성을 높이도록 한 포고핀을 제공하는데 있다.

도 1은 일반적인 보드간의 인터페이스를 위한 포고핀을 적용한 블록을 나타낸 구성도.

도 2는 종래의 포고핀을 나타낸 확대 단면도.

도 3은 본 고안에 의한 포고핀을 나타낸 확대 단면도.

이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 고안에 의한 포고핀은

블록의 포고핀 케이스 내에 설치되는 원통 형상의 하우징;

상기 하우징 내에 배치되는 스프링;

상기 스프링을 사이에 두고 상기 하우징 내의 일측 부분에 설치되어, 상기 스프링을 지지하는 스프링 지지부;

상기 하우징의 타측 개구 내에 설치되어 상기 스프링 지지부를 향해 이동 가능한 원통부와, 외부 패드와의 접촉을 하도록 하기 위해 상기 원통부의 상부면 중앙부에 일체로 돌출하는 선단부를 갖는 접촉부; 및

상기 하우징의 내부 공간을 향해 상기 하우징의 소정 부분에 절곡되어, 상기 원통부가 상기 스프링 지지부를 향해 일정 거리 이상 이동하는 것을 제한하는 이동 제한부를 포함하는 것을 특징으로 한다.

바람직하게는, 상기 접촉부의 원통부는 상기 선단부가 눌러지지 않는 평상시에 상기 포고핀 케이스의 상측부보다 높게 위치할 수 있다.

이하, 본 고안에 의한 포고핀을 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다. 종래의 부분과 동일 구성 및 동일 작용의 부분에는 동일 부호를 부여한다.

도 3은 본 고안에 의한 포고핀을 나타낸 확대 단면도이다. 도 3에 도시된 바와 같이, 블록(10)에 원형 형상의 포고핀 안착 홀들(11)이 수직 관통하고, 상기 포고핀 안착 홀들(11) 내에 원형 관통 형상의 포고핀 케이스들(20)이 각각 삽입 고정되고, 상기 포고핀 케이스들(20) 내에 포고핀들(130)이 하나씩 대응하여 삽입 설치된다.

여기서, 상기 블럭(10)은 상기 포고핀들(130)을 결합하는 결집판 기능을 하며, 주로 절연성 세라믹 재질로 구성된다. 상기 포고핀 안착 홀들(11)이 상기 블록(10)의 상부면에 일정 간격을 두고 다수개 배치되고, 상기 포고핀 안착 홀들(11)의 내부 하단부에는 상기 포고핀 케이스(20)가 더 이상 하강하지 못하고 걸리도록 하기 위한 포고핀 케이스 걸림턱(13)이 형성된다.

또한, 상기 포고핀 케이스 걸림턱(13)을 기준으로 한 상기 포고핀 안착 홀(21)의 상측 부분, 즉 더트 보드(40)를 대향하는 부분의 내경이 상기 포고핀 케이스 걸림턱(13)을 기준으로 한 상기 포고핀 안착 홀(21)의 하측 부분, 즉 테스터(도시 안됨)의 케이블에 연결된 부분의 내경보다 크다.

그리고, 상기 포고핀들(130)의 하우징(31)이 도전성 재질로 구성되며 상기 포고핀 안착 홀들(11)의 큰 내경과 동일한 외경을 갖는 원형 관통 형상으로 이루어진다. 접촉부(39)가 도전성 재질로 구성되며 상기 하우징(31)의 상측 부분 내에서 상기 하우징(31)에 밀착하며 이동하고 상기 더트 보드(40)의 도전성 패드(41)에 접촉한다. 지지부(35)가 도전성 재질로 구성되고, 상기 포고핀 안착 홀들(11)의 작은 내경과 동일한 외경을 가지며 상기 하우징(31)의 하측 부분 내에 결합된다. 스프링(37)이 상기 지지부(35)에 의해 지지되고, 상기 접촉부(39)와 상기 지지부(35) 사이에 배치되며 상기 접촉부(39)와 상기 패드(41)의 양호한 접촉을 위해 장력(Tension)을 가하여준다.

또한, 이동 제한부(31a)는 상기 하우징(31)의 내부 공간을 향해 상기 하우징(31)의 일부분이 절곡된 것으로, 상기 접촉부(39)가 상기 지지부(35)를 향해 일정 거리 이상 하향 이동하는 것을 제한하여 준다.

또한, 상기 접촉부(39)는 상기 하우징(31)의 내경과 동일한 직경을 가지며 상기 스프링(37)에 접하는 원통부(39a)와, 상기 원통부(39a)의 상부면의 중앙부로부터 상측으로 일체로 돌출 연결되며 상기 더트 보드(40)의 패드(41)에 접촉하는 선단부(39b)로 구성된다. 여기서, 상기 선단부(39b)가 상기 패드(40)에 의해 눌러지지 않는 평상시에는 상기 원통부(39a)의 상측부가 상기 포고핀 케이스(20)의 상측구보다 높게 위치하는 것이 바람직하다.

따라서, 작업자가 해당 더트 보드의 교체나 수리를 수행할 때, 작업상의 부주의나 실수로 인해 상기 접촉부(39)가 절단되는 경우가 발생하더라도 상기 접촉부(39)의 원통부(39a)가 일부 절단되는 대신에 상기 접촉부(39)의 선단부(39b)가 상기 원통부(39a)의 상부면의 중앙부로부터 절단되어버린다. 이때, 상기 원통부(39a)의 상측부가 상기 포고핀 케이스(20)의 상측으로 돌출하여 위치한다.

따라서, 작업자가 상기 포고핀 케이스(20)의 상측으로 돌출한, 절단된 원통부(39a)를 직접 손으로 잡을 수 있으므로 종래에 비하여 상기 포고핀(130)을 상기 포고핀 케이스(20)로부터 외부로 용이하게 인출할 수가 있다. 그 결과, 상기 포고핀의 교체 작업에 시간과 인력이 적게 소요되므로 포고핀의 교체 작업의 편의성이 높아진다. 뿐만 아니라 테스트 설비의 가동율이 높아지므로 테스트 설비의 생산성이 높아진다.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 고안에 의한 포고핀은 원통 형상의 하우징 내에 스프링이 배치되고, 상기 스프링을 사이에 두고 상기 하우징의 일측에 스프링 지지부가 배치되고, 상기 하우징의 타측에 접촉부가 배치되도록 구성된다. 또한, 상기 접촉부가 상기 하우징의 내경에 해당하는 직경을 가지며 상기 스프링에 접하는 원통부와, 상기 원통부의 상부면 중앙부에 일체로 돌출하는 선단부로 구성된다.

따라서, 상기 포고핀이 블록의 포고핀 케이스 내에 삽입, 설치된 후 더트 보드의 교체나 수리시에 작업상의 실수로 절단되더라도 상기 접촉부의 선단부만이 절단된다. 이때, 상기 접촉부의 원통부는 상기 포고핀 케이스의 상측부보다 높게 위치한다. 따라서, 작업자가 상기 절단된 포고핀을 상기 포고핀 케이스로부터 용이하게 인출할 수가 있다.

한편, 본 고안은 도시된 도면과 상세한 설명에 기술된 내용에 한정하지 않으며 본 고안의 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 형태의 변형도 가능함은 이 분야에 통상의 지식을 가진 자에게는 자명한 사실이다.

Claims (2)

1. 블록의 포고핀 케이스 내에 설치되는 원통 형상의 하우징;

   상기 하우징 내에 배치되는 스프링;

   상기 스프링을 사이에 두고 상기 하우징 내의 일측 부분에 설치되어, 상기 스프링을 지지하는 스프링 지지부;

   상기 하우징의 타측 개구 내에 설치되어 상기 스프링 지지부를 향해 이동 가능한 원통부와, 외부 패드와의 접촉을 하도록 하기 위해 상기 원통부의 상부면 중앙부에 일체로 돌출하는 선단부를 갖는 접촉부; 및

   상기 하우징의 내부 공간을 향해 상기 하우징의 소정 부분에 절곡되어, 상기 원통부가 상기 스프링 지지부를 향해 일정 거리 이상 이동하는 것을 제한하는 이동 제한부를 포함하는 포고핀.
2. 제 1 항에 있어서, 상기 접촉부의 원통부는 상기 선단부가 눌러지지 않는 평상시에 상기 포고핀 케이스의 상측부보다 높게 위치하는 것을 특징으로 하는 포고핀.