KR100910472B1 - 시험편 처리장치 - Google Patents

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Abstract

시험편 처리장치를 제공한다.
본 발명은 시험편 가공대(2)에 시험편(1)을 공급하고 가공된 시험편(1)을 회수하도록 상기 시험편 가공대(2)에 인접하게 위치하는 시험편 공급회수부(20); 공급된 시험편(1)이 상기 시험편 가공대(2)에 구비된 가공판(3)에 밀착되게 위치하도록 상기 시험편 가공대(2)에 구비되는 시험편 고정부(70); 및 가공된 시험편(1)을 보관하도록 상기 시험편 공급회수부(20)에 인접하게 위치하는 시험편 보관부(80); 를 포함하여 구성된다.
본 발명에 의하면, 그리드 형성 등의 가공될 시험편을 용이하게 시험편 가공대에 공급하고 가공된 시험편을 용이하게 회수하여 보관할 수 있고, 이러한 것을 수작업으로 하지 않아도 되기 때문에 시험편 가공작업의 효율성이 높아지며, 가공될 시험편을 가공판에 밀착하게 위치시킬 수 있어서, 시험편에 그리드 형성 등의 가공을 행하는 경우 그리드의 형상이 왜곡되지 않기 때문에 시험편을 이용한 시험시 정밀하면서도 정확한 시험 데이터값을 얻을 수 있다.
시험편, 시험편 가공, 그리드, 에칭, 시험편 처리

Description

시험편 처리장치{Apparatus for dealing with specimen}
본 발명은 시험편 처리장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 시험편을 가공하는 시험편 가공대에 시험편을 용이하게 공급하고 가공된 시험편을 용이하게 회수하여 보관할 수 있으며 시험편을 시험편 가공대의 가공판에 밀착되도록 위치시켜서 그리드 형성 등과 같은 정밀한 시험편 가공을 가능하게 하는 시험편 처리장치에 관한 것이다.
일반적으로, 자동차용 판재 등의 성형성을 평가하기 위해서는 소재의 프레스 성형 전과 성형 후의 변형률을 부위별로 측정하는 방법을 사용한다.
상기와 같은 소재의 성형성을 평가하기 위한 소재의 시험편은 프레스 성형 전에 그 표면에 그리드를 형성하는 작업을 하게 된다.
종래에 이와 같은 그리드 형성작업은 그리드가 그려진 현상용 종이를 덮고 그 상부에 에칭용 액체를 공급한 후 전류가 통과되도록 하여 시험편 표면에 그리드가 형성되게 하는 에칭작업을 이용하였고, 이외에도 레이저를 사용하여 시험편 표면에 그리드를 형성시키는 방법을 이용하였다.
도1은 레이저를 이용하여 시험편 표면에 그리드를 형성시키는 것을 개략적으로 나타낸 것으로, 그리드가 형성될, 즉 가공될 시험편(1)을 시험편 가공대(2)에 올려놓은 후 시험편 가공대(2)에 구비되고 레이저 발진기가 장착된 그리드 형성장치(100)에서 레이저를 조사하여 시험편(1)의 표면에 도1의 (a)에 도시된 바와 같이 원형의 그리드가 형성되게 한다.
이러한 그리드 형성작업시 가공될 시험편(1)의 표면이 평탄하지 않은 경우에는 시험편(1)이 시험편 가공대(2)의 가공면에 밀착되게 위치하지 못하여, 도1의 (b)에 도시된 바와 같이 시험편(1)과 시험편 가공대(2)의 가공면과의 사이에 간격이 생기게 된다.
상기와 같은 간격이 생기면 도1의 (a)에 도시된 바와 같이 시험편(1)에 원형으로 형성되어야 할 그리드가 도1의 (b)에 도시된 바와 같이 타원형으로 형성된다는 문제점이 있었다.
따라서, 타원형의 그리드가 형성된 시험편(1)을 사용하여 성형성 평가를 하게 되는 경우 정밀한 시험데이터 값을 얻을 수 없다는 문제점이 있었다.
또한, 이러한 그리드 형성작업을 수행하기 위하여 작업자가 일일이 수작업으로 많은 시험편(1)을 시험편 가공대(2)에 공급하고 가공되어 그리드가 형성된 시험편(1)을 회수하여야 하므로 시험편 가공시간이 많이 소요된다는 문제점이 있었다.
이로 인해서, 그리드 형성작업의 효율성이 떨어진다는 문제점이 있었다.
본 발명은 상기한 문제점을 해결하고자 창출된 것으로, 본 발명의 목적은 시험편을 시험편 가공대에 용이하게 공급하고 가공된 시험편을 용이하게 회수하여 보관하며 시험편 가공대의 가공판에 시험편을 밀착되게 위치시킬 수 있어서 그리드 형성 등과 같은 정밀한 시험편 가공을 가능하게 하는 시험편 처리장치를 제공하는 것이다.
상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명은
시험편 가공대에 시험편을 공급하고 가공된 시험편을 회수하도록 상기 시험편 가공대에 인접하게 위치하는 시험편 공급회수부;
공급된 시험편이 상기 시험편 가공대에 구비된 가공판에 밀착되게 위치하도록 상기 시험편 가공대에 구비되는 시험편 고정부; 및
가공된 시험편을 보관하도록 상기 시험편 공급회수부에 인접하게 위치하는 시험편 보관부;
를 포함하여 구성된 시험편 처리장치를 제공한다.
더 바람직하게, 상기 시험편 공급회수부는 시험편이 안착되는 시험편 안착수단; 및 상기 시험편 안착수단에 안착된 시험편을 상기 시험편 가공대에 공급하도록 상기 시험편 안착수단과 연계되고 가공된 시험편을 회수하여 보관할 수 있도록 상기 시험편 보관부와 연계된 시험편 공급회수수단; 을 포함한다.
더 바람직하게, 상기 시험편 안착수단은 상기 시험편 가공대에 인접하게 위치하는 시험편 안착함; 및 상기 시험편 안착함에 구비된 안착판 이동지지수단에 연결되어 이동 및 지지되되 시험편이 안착되는 안착판; 을 포함한다.
더 바람직하게, 상기 안착판 이동지지수단은 일측은 상기 안착판에 연결되고 다른 측은 상기 시험편 안착함에 이동가능하게 연결되며 제1스프링이 삽입된 하나 이상의 제1지지봉; 및 일측은 상기 안착판에 연결되고 다른 측은 상기 시험편 안착함에 구비된 제1모터에 기어박스에 의해서 연결된 이동축; 을 포함한다.
더 바람직하게, 상기 시험편 안착함에는 시험편이 자력에 의해서 서로 떨어져서 위치할 수 있도록 자석이 구비된다.
더 바람직하게, 상기 시험편 공급회수수단은 상기 시험편 안착수단에 포함되는 시험편 안착함에 인접하게 위치하는 지지프레임; 상기 지지프레임에 구비되는 제1실린더 회전수단에 연결되어 회전가능한 제1실린더; 상기 제1실린더의 일측에 구비된 고정판; 상기 고정판에 구비된 제2실린더에 의해서 상기 고정판에 이동가능하게 연결된 이동판; 및 상기 이동판에 구비되어 시험편을 흡착하는 흡착구; 를 포함한다.
더 바람직하게, 상기 제1실린더 회전수단은 상기 지지프레임에 구비되는 제2모터; 상기 제2모터와 연결된 하나 이상의 기어; 일측은 상기 기어와 연결되고 다른 측은 상기 제1실린더에 연결되되 상기 지지프레임에 구비된 베어링에 의해서 회 전가능하게 지지되는 회전축; 을 포함한다.
더 바람직하게, 상기 시험편 고정부는 상기 시험편 가공대에 구비된 제3실린더; 상기 제3실린더에 일측이 연결되며 상기 시험편 가공대에 구비된 힌지축에 의해서 회전가능하게 지지되는 제4실린더; 및 상기 제4실린더의 다른 측에 회전가능하게 구비된 롤러; 를 포함한다.
더 바람직하게, 상기 시험편 보관부는 상기 시험편 공급회수부에 인접하게 위치하는 시험편 보관함; 및 가공된 시험편이 안착되되 상기 시험편 보관함에 이동가능하게 구비되며 제2스프링이 삽입된 하나 이상의 제2지지봉에 연결되어 지지되는 보관판; 을 포함한다.
본 발명에 의하면, 그리드 형성 등의 가공될 시험편을 용이하게 시험편 가공대에 공급하고 가공된 시험편을 용이하게 회수하여 보관할 수 있다는 효과가 있다.
따라서, 작업자가 일일이 가공될 시험편의 공급과 가공된 시험편의 회수를 하지 않아도 되기 때문에 시험편 가공작업의 효율성이 높아진다는 효과가 있다.
또한, 가공될 시험편을 가공판에 밀착하게 위치시킬 수 있다는 효과가 있다.
따라서, 시험편에 그리드 형성 등의 가공을 행하는 경우 그리드의 형상이 왜곡되지 않기 때문에 시험편을 이용한 시험시 정밀하면서도 정확한 시험 데이터값을 얻을 수 있다는 효과가 있다.
이하, 첨부도면을 참조로 하여 본 발명을 상세하게 설명한다.
도2는 본 발명에 따른 시험편 처리장치의 일실시예를 나타내는 도면이고, 도3은 본 발명에 따른 시험편 처리장치의 일실시예의 시험편 공급회수부를 나타내는 도면이다.
도4는 본 발명에 따른 시험편 처리장치의 일실시예의 시험편 고정부와 그 작동상태를 나타내는 도면이고, 도5는 본 발명에 따른 시험편 처리장치의 일실시예의 시험편 공급회수부의 시험편 안착수단과 시험편 보관부를 나타내는 도면이다.
도시된 바와 같이 본 발명에 따른 시험편 처리장치(10)는 시험편 가공대(2)에 시험편(1)을 공급하고 가공된 시험편(1)을 회수하도록 시험편 가공대(2)에 인접하게 위치하는 시험편 공급회수부(20)와, 공급된 시험편(1)이 시험편 가공대(2)에 구비된 가공판(3)에 밀착되게 위치하도록 시험편 가공대(2)에 구비되는 시험편 고정부(70) 및, 가공된 시험편(1)을 보관하도록 시험편 공급회수부(20)에 인접하게 위치하는 시험편 보관부(80)를 포함하여 구성된다.
따라서, 그리드 형성 등의 가공이 이루어질 시험편(1)이 시험편 공급회수부(20)에 의해서 시험편 가공대(2)에 공급되고, 공급된 시험편(1)이 시험편 가공대(2)에 구비된 그리드 형성장치(100) 등의 시험편 가공기(도시되지 않음)에 의해서 정밀하게 가공될 수 있도록, 시험편 가공대(2)에 구비된 시험편 고정부(70)에 의해서 시험편(1)이 가공판(3)에 밀착되게 위치하여 가공되며, 가공된 시험편(1)은 시험편 공급회수부(20)에 의해서 시험편 보관부(80)에 보관되게 된다.
그러므로, 시험편(1)의 시험편 가공대(2)로의 공급과, 시험편(1)의 가공을 위해서 시험편 가공대(2)의 가공판(3)에 시험편(1)을 밀착되게 위치시키는 것 및, 가공된 시험편(1)을 시험편 보관부(80)에 보관하는 것이 용이하게 이루어질 수 있다.
도2에 도시된 바와 같이 시험편 공급회수부(20)는 시험편(1)이 안착되는 시험편 안착수단(30)과, 시험편 안착수단(30)에 안착된 시험편(1)을 시험편 가공대(2)에 공급하도록 시험편 안착수단(30)과 연계되고 가공된 시험편(1)을 회수하여 보관할 수 있도록 시험편 보관부(80)와 연계된 시험편 공급회수수단(50)을 포함한다.
시험편 안착수단(30)은 도2와 도3에 도시된 바와 같이, 시험편 가공대(2)에 인접하게 위치하는 시험편 안착함(31)과, 시험편 안착함(31)에 구비된 안착판 이동지지수단(40)에 연결되어 이동 및 지지되되 시험편(1)이 안착되는 안착판(32)을 포함한다.
전술된 안착판 이동지지수단(40)은 도3과 도5에 도시된 바와 같이 일측은 안착판(32)에 연결되고 다른 측은 시험편 안착함(31)에 이동가능하게 연결되며 제1스프링(42)이 삽입된 2개의 제1지지봉(41)과, 일측은 안착판(32)에 연결되고 다른 측 은 시험편 안착함(31)에 구비된 제1모터(44)에 기어박스(45)에 의해서 연결된 이동축(43)을 포함한다.
제1지지봉(41)의 개수는 본 실시예에서와 같이 2개에 한정하지 않으며, 안착판(32)을 수평하게 지지할 수 있는 개수라면 어떠한 개수라도 가능하다.
도3과 도5에 도시된 바와 같이, 시험편 안착함(31)에는 시험편(1)이 자력에 의해서 서로 떨어져서 위치할 수 있도록 자석(46)이 구비되어 있다.
안착판(32)은 제1스프링(42)이 삽입되고 시험편 안착함(31)에 일측이 이동가능하게 지지된 2개의 제1지지봉(41)에 의해서 수평하게 지지된다. 따라서, 시험편(1)이 안착판(32)에 도시된 바와 같이 안정되게 안착되게 된다.
안착판(32)은 전술된 바와 같이 이동축(43)과도 연결되어 있고, 이동축(43)은 기어박스(45)에 의해서 제1모터(44)에 연결되어 있기 때문에, 제1모터(44)의 구동에 의해서 이동축(43)이 상하로 이동하면, 안착판(32)도 이에 따라 상하로 이동하게 되어 있다.
따라서, 후술할 시험편 공급회수수단(50)에 포함되는 흡착구(56)가 안착판(32)에 안착된 시험편(1)에 용이하게 도달할 수 있도록 되어 있다.
시험편 공급회수수단(50)은 도2와 도3의 (a)에 도시된 바와 같이, 시험편 안착수단(30)에 포함되는 시험편 안착함(31)에 인접하게 위치하는 지지프레임(51)과, 지지프레임(51)에 구비되는 제1실린더 회전수단(60)에 연결되어 회전가능한 제1실린더(52), 제1실린더(52)의 일측에 구비된 고정판(53), 고정판(53)에 구비된 제2실 린더(55)에 의해서 고정판(53)에 이동가능하게 연결된 이동판(54) 및, 이동판(54)에 구비되어 시험편(1)을 흡착하는 2개의 흡착구(56)를 포함한다.
흡착구(56)의 개수는 본 실시예에 한정되지 않고 시험편(1)을 용이하게 흡착할 수 있는 개수라면 어떠한 개수라도 가능하다.
흡착구(56)에는 진공펌프(도시되지 않음) 등이 연결되어 있어서, 시험편(1)을 흡착할 수 있도록 되어 있다. 이외에도 시험편(1)을 흡착할 수 있는 것이라면 어떠한 것이라도 가능하다.
또한, 고정판(53)과 이동판(54) 사이에는 제2이동가이드(57)가 2개 구비되어 있어서, 이동판(54)이 제2실린더(55)에 의해서 이동하는 것을 용이하게 해준다.
제2이동가이드(57)의 개수도 본 실시예에서와 같이 2개에 한정되지 않고, 이동판(54)이 용이하게 이동할 수 있는 개수라면 어떠한 개수라도 가능하다.
가공판(3)은 시험편 가공대(2)에 구비된 실린더(4)와 제1이동가이드(5)에 의해서 시험편 가공대(2)에서 이동가능하게 되어 있다.
가공판(3)이 실린더(4)의 구동으로 제1이동가이드(5)를 따라 시험편 가공대(2)로부터 시험편 공급회수부(20) 쪽으로 이동한 상태에서, 도3의 (b)에 도시된 바와 같이 제1실린더(52)의 작동에 의해서 흡착구(56)가 시험편(1)을 흡착할 수 있는 위치로 이동하면, 도시된 바와 같이 제2실린더(55)의 작동에 의해서 이동판(54)이 하강하여 이동판(54)에 구비된 흡착구(56)가 안착판(32)에 안착된 시험편(1)과 접촉하게 된다.
이때, 흡착구(56)에 연결된 진공펌프(도시되지 않음) 등을 작동시키면, 시험 편(1)이 흡착구(56)에 흡착하게 된다.
시험편(1)이 흡착된 상태에서 제2실린더(55)를 작동하여 이동판(54)을 상승시키고, 이 상태에서 제1실린더(52)를 작동하여 시험편(1)을 시험편 가공대(2) 쪽으로 이동시키면, 시험편(1)을 가공판(3)의 위에 위치시킬 수 있게 된다.
시험편(1)이 가공판(3)의 위에 위치하면, 제2실린더(55)의 작동으로 이동판(54)을 하강시켜서 시험편(1)이 흡착구(56)에 흡착된 상태에서 가공판(3)에 시험편(1)을 내려놓고, 흡착구(56)의 진공상태를 해제하여 흡착구(56)와 시험편(1)을 분리시킨다.
이후, 실린더(4)를 작동시켜서 시험편 가공대(2)로부터 이동한 가공판(3)을 원래의 위치로 되돌아가게 하여 그리드 형성 등의 시험편(1) 가공준비를 하게 된다.
이에 의하여 그리드 형성 등의 가공이 이루어질 시험편(1)이 시험편 가공대(2)의 가공판(3)에 용이하게 위치시킬 수 있게 된다.
제1실린더 회전수단(60)은 지지프레임(51)에 구비되는 제2모터(61)와, 제2모터(61)와 연결된 하나 이상의 기어(62) 및, 일측은 기어(62)와 연결되고 다른 측은 제1실린더(52)에 연결되되 지지프레임(51)에 구비된 베어링(64)에 의해서 회전가능하게 지지되는 회전축(63)을 포함한다.
따라서, 제2모터(61)가 회전구동되면 이에 연결된 기어(62)가 회전하고, 기어(62)에 연결되고 베어링(64)에 의해서 회전지지되는 회전축(63)이 회전하게 되 어, 회전축(63)에 연결된 제1실린더(52)가 회전하게 된다.
그리드 형성 등의 가공이 끝나면 가공된 시험편(1)이 가공판(3)에 안착된 상태에서, 실린더(4)의 작동으로 제1이동가이드(5)를 따라 시험편 공급회수부(20) 쪽으로 가공판(3)이 이동되게 한다.
이후, 가공된 시험편(1)을 전술된 바와 같이 제1실린더(52)와 제2실린더(55)의 동작으로 이동판(54)의 흡착구(56)에 흡착시킨 후, 제2이동실린더(55)의 동작으로 이동판(54)을 상승시킨 상태에서 제1실린더(52)를 동작하여 흡착구(56)에 흡착된 시험편(1)이 안착함(31) 상부로 이동되게 한다.
이 상태에서 제2모터(61)의 회전구동으로 제1실린더(52)가 회전되게 하면, 흡착구(56)에 흡착된 시험편(1)은 후술할 시험편 보관부(80)의 시험편 보관함(81) 상부에 위치할 수 있게 된다.
이후, 제2실린더(55)의 동작으로 이동판(54)을 하강하고 흡착구(56)와 시험편(1)을 분리시키면, 가공된 시험편(1)이 후술할 보관함(81)에 위치하는 보관판(82)에 안착 되어 보관된다.
이때, 시험편 가공대(2)로부터 시험편 공급회수부(20) 쪽으로 이동한 가공판(3)은 실린더(4)의 작동으로 다시 원래의 위치로 되돌아가거나, 다른 가공될 시험편(1)이 올려진 상태에서 시험편 가공대(2)로 돌아가서 그리드 형성 등의 시험편(1) 가공을 준비하게 된다.
시험편 고정부(70)는 도4의 (a)에 도시된 바와 같이, 시험편 가공대(2)에 구 비된 제3실린더(71)와, 제3실린더(71)에 일측이 연결되며 상기 시험편 가공대(2)에 구비된 힌지축(73)에 의해서 회전가능하게 지지되는 제4실린더(72) 및, 제4실린더(72)의 다른 측에 회전가능하게 구비된 롤러(74)를 포함한다.
따라서, 전술된 바와 같이 시험편(1)이 가공판(3)에 시험편 공급회수수단(50)에 의해서 안착되면, 도4의 (b)에 도시된 바와 같이 제3실린더(71)의 동작으로 제4실린더(72)의 후단부가 들리면서 제4실린더(72)가 힌지축(73)을 중심으로 회전하게 되고, 이때 제4실린더(72)에 회전가능하게 구비된 롤러(74)는 가공판(3)에 위치한 시험편(1)에 닿게 된다.
이후, 제4실린더(72)의 동작으로 롤러(74)를 앞으로 밀어주면, 롤러(74)가 시험편(1) 위로 구르면서 시험편(1)을 가공판(3)에 밀착되게 위치시킨다.
따라서, 시험편(1)에 그리드 형성시 그리드가 왜곡되지 않게 형성되기 때문에 시험편(1)을 이용한 시험에서 정밀하면서도 정확한 시험 데이터값을 얻을 수 있게 된다.
시험편 보관부(80)는 도2와 도5이 (b)에 도시된 바와 같이 시험편 공급회수부(20)에 인접하게 위치하는 시험편 보관함(81)과, 가공된 시험편(1)이 안착되되 시험편 보관함(81)에 이동가능하게 구비되며 제2스프링(84)이 삽입된 2개의 제2지지봉(83)에 연결되어 지지되는 보관판(82)을 포함한다.
제2지지봉(83)의 개수는 본 실시예에 한정되지 않고 보관판(82)을 안정되게 지지할 수 있는 개수라면 어떠한 개수라도 가능하다.
따라서, 전술된 바와 같이 가공된 시험편(1)은 시험편 공급회수수단(50)에 의해서 시험편 보관함(81)의 보관판(82)에 안착되어 보관된다.
이하, 본 발명에 따른 시험편 처리장치(10)의 일실시예를 사용하여 시험편(1)을 시험편 가공대(2)에 공급하고 시험편 가공대(2)에서 가공된 시험편(1)을 보관하는 과정을 설명한다.
시험편 안착함(31)의 안착판(32)에 안착된 가공될 시험편(1)은 제1모터(44)의 구동에 의해서 안착판(32)이 상승되어 흡착구(56)가 흡착하기에 좋은 위치로 이동된다.
제2실린더(55)의 동작으로 이동판(54)이 아래로 하강하여 흡착구(56)가 시험편(1)과 닿게 되고, 이때 흡착구(56)에 연결된 진공펌프(도시되지 않음) 등의 작동으로 시험편(1)이 흡착구(56)에 흡착된다.
흡착구(56)에 흡착된 시험편(1)은 제2실린더(55)의 동작으로 원래의 위치로 상승하게 된다.
이때, 가공판(3)은 실린더(4)의 동작으로 제1이동가이드(5)를 따라 시험편 가공대(2)에서 시험편 공급회수부(20) 쪽으로 이동한다.
이후, 제1실린더(52)의 동작으로 시험편(1)은 시험편 가공대(2)의 가공판(3) 위로 이동한다.
가공판(3) 위로 위치한 시험편(1)은 제2실린더(55)의 동작으로 하강하게 되어 가공판(3)에 안착되고, 흡착구(56)의 진공해제로 흡착구(56)와 시험편(1)은 분 리된다.
가공판(3)은 시험편(1)이 안착된 상태에서 실린더(4)의 작동으로 시험편 가공대(2)의 원래 위치로 되돌아가게 된다.
이후, 제3실린더(71)의 작동으로 제4실린더(72)의 후단부가 들리면서 제4실린더(72)가 힌지축(73)을 중심으로 회전하게 되어, 제4실린더(72)에 회전가능하게 구비된 롤러(74)가 가공판(3)에 안착된 시험편(1)의 일측에 닿게 된다.
이후, 제4실린더(72)의 작동으로 롤러(74)가 이동하여 시험편(1)이 가공판(3)에 밀착되게 위치된다.
이 상태에서 시험편(1)에 그 표면에 그리드를 형성시키는 가공작업을 하게 된다.
가공된 시험편(1)은 실린더(4)의 작동으로 가공판(3)에 안착된 상태에서 시험편 가공대(2)에서 시험편 공급회수부(20) 쪽으로 이동하게 되고, 제1실린더(52)와 제2실린더(55)의 동작으로 흡착구(56)에 흡착되어 안착함(31) 위로 이동하게 된다.
이때, 제2모터(61)의 회전으로 제1실린더(52)가 회전하여 가공된 시험편(1)은 흡착구(56)에 흡착된 상태에서 시험편 보관함(81) 위에 위치하게 된다.
시험편 보관함(81) 위에 위치한, 가공된 시험편(1)은 제2실린더(55)의 동작으로 흡착구(56)에 흡착된 상태에서 보관판(82)에 안착되고 흡착구(56)와 분리되어 보관판(82) 위에 안착된 상태에서 시험편 보관함(81)에 보관되게 된다.
시험편 보관함(81)에 보관된, 가공된 시험편(1)은 필요할 때 시험편 보관 함(81)에서 꺼내어서 사용할 수 있게 된다.
이상과 같이 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 이것에 의해 한정되지 않으며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술사상과 아래에 기재될 특허청구범위의 균등범위 내에서 다양한 수정 및 변형이 가능함은 물론이다.
도1은 시험편 가공대에서 시험편의 표면에 그리드를 형성시키는 시험편 가공작업을 나타내는 도면이다.
도2는 본 발명에 따른 시험편 처리장치의 일실시예를 나타내는 도면이다.
도3은 본 발명에 따른 시험편 처리장치의 일실시예의 시험편 공급회수부와 그 작동상태를 나타내는 도면이다.
도4는 본 발명에 따른 시험편 처리장치의 일실시예의 시험편 고정부와 그 작동상태를 나타내는 도면이다.
도5는 본 발명에 따른 시험편 처리장치의 일실시예의 시험편 공급회수부의 시험편 안착수단과 시험편 보관부를 나타내는 도면이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *
1 : 시험편 2 : 시험편 가공대
3 : 가공판 4 : 실린더
5 : 제1이동가이드 10 : 시험편 처리장치
20 : 시험편 공급회수부 30 : 시험편 안착수단
31 : 시험편 안착함 32 : 안착판
40 : 안착판 이동지지수단 41 : 제1지지봉
42 : 제1스프링 43 : 이동축
44 : 제1모터 45 : 기어박스
46 : 자석 50 : 시험편 공급회수수단
51 : 지지프레임 52 : 제1실린더
53 : 고정판 54 : 이동판
55 : 제2실린더 56 : 흡착구
57 : 제2이동가이드 60 : 제1실린더 회전수단
61 : 제2모터 62 : 기어
63 : 회전축 64 : 베어링
70 : 시험편 고정부 71 : 제3실린더
72 : 제4실린더 73 : 힌지축
74 : 롤러 80 : 시험편 보관부
81 : 시험편 보관함 82 : 보관판
83 : 제2지지봉 84 : 제2스프링
100 : 그리드 형성장치

Claims (9)

  1. 시험편 가공대(2)에 시험편(1)을 공급하고 가공된 시험편(1)을 회수하도록 상기 시험편 가공대(2)에 인접하게 위치하는 시험편 공급회수부(20);
    공급된 시험편(1)이 상기 시험편 가공대(2)에 구비된 가공판(3)에 밀착되게 위치하도록 상기 시험편 가공대(2)에 구비되는 시험편 고정부(70); 및
    가공된 시험편(1)을 보관하도록 상기 시험편 공급회수부(20)에 인접하게 위치하는 시험편 보관부(80);
    를 포함하여 구성된 시험편 처리장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 시험편 공급회수부(20)는
    시험편(1)이 안착되는 시험편 안착수단(30); 및
    상기 시험편 안착수단(30)에 안착된 시험편(1)을 상기 시험편 가공대(2)에 공급하도록 상기 시험편 안착수단(30)과 연계되고 가공된 시험편(1)을 회수하여 보관할 수 있도록 상기 시험편 보관부(80)와 연계된 시험편 공급회수수단(50);
    을 포함하는 것을 특징으로 하는 시험편 처리장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 시험편 안착수단(30)은
    상기 시험편 가공대(2)에 인접하게 위치하는 시험편 안착함(31); 및
    상기 시험편 안착함(31)에 구비된 안착판 이동지지수단(40)에 연결되어 이동 및 지지되되 시험편(1)이 안착되는 안착판(32);
    을 포함하는 것을 특징으로 하는 시험편 처리장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 안착판 이동지지수단(40)은
    일측은 상기 안착판(32)에 연결되고 다른 측은 상기 시험편 안착함(31)에 이동가능하게 연결되며 제1스프링(42)이 삽입된 하나 이상의 제1지지봉(41); 및
    일측은 상기 안착판(32)에 연결되고 다른 측은 상기 시험편 안착함(31)에 구비된 제1모터(44)에 기어박스(45)에 의해서 연결된 이동축(43);
    을 포함하는 것을 특징으로 하는 시험편 처리장치.
  5. 제3항 또는 제4항에 있어서, 상기 시험편 안착함(31)에는 시험편(1)이 자력에 의해서 서로 떨어져서 위치할 수 있도록 자석(46)이 구비된 것을 특징으로 하는 시험편 처리장치.
  6. 제2항에 있어서, 상기 시험편 공급회수수단(50)은
    상기 시험편 안착수단(30)에 포함되는 시험편 안착함(31)에 인접하게 위치하는 지지프레임(51);
    상기 지지프레임(51)에 구비되는 제1실린더 회전수단(60)에 연결되어 회전가능한 제1실린더(52);
    상기 제1실린더(52)의 일측에 구비된 고정판(53);
    상기 고정판(53)에 구비된 제2실린더(55)에 의해서 상기 고정판(53)에 이동가능하게 연결된 이동판(54); 및
    상기 이동판(54)에 구비되어 시험편(1)을 흡착하는 하나 이상의 흡착구(56);
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 시험편 처리장치.
  7. 제6항에 있어서, 상기 제1실린더 회전수단(60)은
    상기 지지프레임(51)에 구비되는 제2모터(61);
    상기 제2모터(61)와 연결된 하나 이상의 기어(62);
    일측은 상기 기어(62)와 연결되고 다른 측은 상기 제1실린더(52)에 연결되되 상기 지지프레임(51)에 구비된 베어링(64)에 의해서 회전가능하게 지지되는 회전축(63);
    을 포함하는 것을 특징으로 하는 시험편 처리장치.
  8. 제1항에 있어서, 상기 시험편 고정부(70)는
    상기 시험편 가공대(2)에 구비된 제3실린더(71);
    상기 제3실린더(71)에 일측이 연결되며 상기 시험편 가공대(2)에 구비된 힌지축(73)에 의해서 회전가능하게 지지되는 제4실린더(72); 및
    상기 제4실린더(72)의 다른 측에 회전가능하게 구비된 롤러(74);
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 시험편 처리장치.
  9. 제1항에 있어서, 상기 시험편 보관부(80)는
    상기 시험편 공급회수부(20)에 인접하게 위치하는 시험편 보관함(81); 및
    가공된 시험편(1)이 안착되되 상기 시험편 보관함(81)에 이동가능하게 구비되며 제2스프링(84)이 삽입된 하나 이상의 제2지지봉(83)에 연결되어 지지되는 보관판(82);
    을 포함하는 것을 특징으로 하는 시험편 처리장치.
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