KR100866355B1 - Ｉｃ 테스터 및 테스트 보드의 착탈 방법 - Google Patents
Ｉｃ 테스터 및 테스트 보드의 착탈 방법 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 테스트 보드의 착탈 공간을 줄일 수 있는 IC 테스터를 실현하는 것을 목적으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명은, 테스트 보드를 테스트 헤드로부터 수평 방향으로 착탈하는 IC 테스터를 개량한 것이다. 본 장치는, 테스트 보드의 서로 대향하는 측면에 설치되는 축과, 상기 축이 삽입되는 홈을 가지고, 회전에 의해 테스트 보드를 수평하게 하거나 또는 거의 직립시키는 회전 플레이트와, 상기 회전 플레이트에 장착되고, 회전 플레이트를 지지하는 실린더를 구비한 것을 특징으로 한다.
IC 테스터, 실린더, 회전 플레이트, 공간 절약, 착탈 방법, 테스트 보드, 테스트 헤드
Description
도 1은 본 발명의 일실시예를 나타낸 구성도이다.
도 2는 도 1에 나타낸 장치의 동작을 설명하는 도면이다.
도 3은 본 발명의 제2 실시예를 나타낸 구성도이다.
[부호의 설명]
1: 테스트 헤드 본체 2: 테스트 보드
21, 22: 축 3: 머니퓰레이터
4: 회전 플레이트 5: 실린더
6: 대차 63: 승강 플레이트
[특허 문헌 1] 일본국 특개평 9-288147호 공보
[특허 문헌 2] 일본국 특개평 10-300816호 공보
[특허 문헌 3] 일본국 특개 2003-160299호 공보
본 발명은, 테스트 보드를 테스트 헤드로부터 수평 방향으로 착탈하는 IC 테스터 및 테스트 보드의 착탈 방법에 관한 것이며, 테스트 보드의 착탈 공간을 줄일 수 있는 IC 테스터 및 테스트 보드의 착탈 방법에 관한 것이다.
IC 테스터는, 예를 들면, IC 및 LSI 등의 피시험 대상을 시험하는 것이다. 그리고, IC 테스터는, 핀 일렉트로닉스 보드로 불리는 프린트 기판이 다수 탑재되는 테스트 헤드를 구비하고, 상기 테스트 헤드에 피시험 대상의 패키지를 장착하는 소켓이 다수개 설치되는 테스트 보드를 장착하고 있다. 테스트 보드는, 피시험 대상의 종류에 따라 교체나 핀 일렉트로닉스 보드의 유지 관리를 위하여, 테스트 헤드로부터 착탈 가능하게 되어 있다. 이와 같은 장치는, 예를 들면 특허 문헌 1 내지 특허 문헌 3 등에 기재되어 있다.
이와 같은 장치에서는, 테스트 보드를 수평으로 이동시켜서, 테스트 헤드로부터 분리하고 있으므로, 테스트 보드의 착탈 공간이 필요하다. IC 테스터는, 클린 룸에 다수개 설치되고, 착탈 공간이 필요하여, IC 테스터의 설치 대수가 적어지는 문제점이 있었다.
따라서, 본 발명의 목적은, 테스트 보드의 착탈 공간을 줄일 수 있는 IC 테스터 및 테스트 보드의 착탈 방법을 실현하는 것이다.
전술한 바와 같은 과제를 달성하기 위해, 본 발명의 제1 수단은,
테스트 보드를 테스트 헤드로부터 수평 방향으로 착탈하는 IC 테스터에 있어 서,
상기 테스트 보드의 서로 대향하는 측면에 설치되는 축과,
상기 축이 삽입되는 홈을 가지고, 회전에 의해, 상기 테스트 보드를 수평하게 하거나 또는 거의 직립되는 회전 플레이트와,
상기 회전 플레이트에 장착되고, 회전 플레이트를 지지하는 실린더
를 구비한 것을 특징으로 한다.
제2 수단은, 제1 수단에 있어서,
회전 플레이트와 실린더가 테스트 헤드에 장착되는 것을 특징으로 한다.
제3 수단은, 제1 수단에 있어서,
회전 플레이트가 회전 가능하게 장착되는 동시에, 실린더가 장착되고, 테스트 헤드를 회전시키는 머니퓰레이터(manipulator)를 설치한 것을 특징으로 한다.
제4 수단은, 제1 내지 제3 수단 중 어느 하나의 수단이며,
회전 플레이트가 회전하고, 테스트 보드가 거의 직립될 때, 테스트 보드를 유지하는 설치대를 설치한 것을 특징으로 한다.
제5 수단은,
테스트 보드를 테스트 헤드로부터 수평 방향으로 착탈하는 테스트 보드의 착탈 방법에 있어서,
상기 테스트 보드를 슬라이드시켜서, 상기 테스트 보드의 서로 대향하는 측면에 설치되는 축이 회전 가능한 회전 플레이트에 삽입되는 단계와,
실린더를 사용하여, 상기 회전 플레이트를 회전시켜서, 상기 테스트 보드를 거의 직립시키는 단계
를 구비한 것을 특징으로 한다.
제6 수단은,
테스트 헤드를 테스트 헤드로부터 수평 방향으로 착탈하는 테스트 보드의 착탈 방법에 있어서,
상기 테스트 보드의 서로 대향하는 측면에 설치되는 축이 삽입되어 있는 회전 플레이트를, 실린더를 사용하여 회전시켜서, 거의 직립 상태의 테스트 보드를 수평으로 유지하는 단계와,
상기 테스트 보드를 슬라이드시켜서, 상기 테스트 헤드에 장착하는 단계
를 구비한 것을 특징으로 한다.
[실시예]
이하에서, 도면을 사용하여 본 발명을 상세하게 설명한다. 도 1은 본 발명의 일실시예를 나타낸 구성도이다.
도 1에 있어서, 테스트 헤드 본체(1)에는, 복수개의 핀 일렉트로닉스 보드가 내부에 설치되고, 슬라이드 레일(11)이 장착된다. 테스트 보드(2)는, 피시험 대상이 장착되는 소켓(도시하지 않음)이 상면에 다수개 설치되고, 테스트 헤드 본체(1)의 상면에 장착되고, 테스트 헤드 본체(1)로부터 슬라이드 레일(11)을 따라 수평 방향으로 착탈된다. 축(21, 22)은, 테스트 보드(2)에 있어서 서로 대향하는 측면에 상하로 경사지게 설치된다. 머니퓰레이터(3)는 테스트 헤드 본체(1)를 회전시킨다. 머니퓰레이터(3)의 회전 기구는 본 발명의 주요부가 아니므로 그에 대한 설 명은 생략한다. 2개의 회전 플레이트(4)는, 대략 직사각형으로 형성되고, 축(21, 22)이 삽입되는 홈(41, 42)을 구비하며, 머니퓰레이터(3)에 설치되는 회전축(31)에 장착된다. 실린더(5)는, 회전 플레이트(4)에 그 일단이 장착되고, 머니퓰레이터(3)에 그 타단이 장착되며, 회전 플레이트(4)를 지지한다.
이와 같은 장치의 동작을, 도 2에 따라서 설명한다. 테스트 보드(2)를 떼어내는 경우, 도 2의 (a)에 나타낸 상태로부터, 테스트 보드(2)를 테스트 헤드 본체(1) 상에서 슬라이드시켜서, 축(21, 22)이 회전 플레이트(4)의 홈(41, 42)에 삽입되게 한다(도 2의 (b)). 그리고, 실린더(5)를 사용하여 회전 플레이트(4)를 회전시킴으로써, 테스트 보드(2)를 회전시켜서, 거의 직립 상태로 만든다(도 2의 (c)).
테스트 보드(2)를 장착하는 경우, 도 2의 (c)에 나타낸 바와 같이, 실린더(5)를 사용하여, 회전 플레이트(4)를 회전시킴으로써, 거의 직립 상태의 테스트 보드(2)를 수평 상태로 만든다(도 2의 (b)). 그리고, 테스트 보드(2)를 테스트 헤드 본체(1) 상에서 슬라이드시켜서, 테스트 보드(2)를 테스트 헤드 본체(1)에 장착한다(도 2의 (a)).
이와 같이, 테스트 보드(2)를 회전 플레이트(4)에 의해 실린더(5)를 사용하여 회전시켜, 테스트 보드(2)를 수평하게 하거나 또는 거의 직립시키므로, 테스트 보드(2)의 착탈 공간를 줄일 수 있다.
다음에, 도 3을 사용하여 제2 실시예에 대하여 설명한다. 도 3에 있어서, 대차(6, 臺車)는 설치대이며, 도시하지 않은 롤러가 하부에 설치된다. 그리고, 대 차(6)는, 바닥 플레이트(61), 지지 플레이트(62), 승강 플레이트(63) 및 승강부(64)로 이루어진다. 바닥 플레이트(61)는, 직사각형이며, 도시하지 않은 롤러가 그 하부에 설치된다. 지지 플레이트(62)는, 직사각형이며, 바닥 플레이트(60)의 짧은 변의 양단에 수직으로 설치되고, 길이 방향의 대략 중앙에 슬릿(621)을 구비한다. 승강 플레이트(63)는, 대략 직사각형으로, 지지 플레이트(62)로부터 내측에 평행하게 설치되고, 축(21)을 유지하는 홈(631) 및 축(22)을 지지하는 절결부(632)를 가진다. 승강부(64)는 사다리꼴 나사(641) 및 너트(642)를 구비한다. 사다리꼴 나사(641)는, 지지 플레이트(62)의 길이 방향으로 슬릿(621)을 따라서 장착된다. 너트(642)는, 사다리꼴 나사(641)에 끼워지고, 슬릿(621)에 삽입되어, 승강 플레이트(63)에 장착된다.
이와 같은 장치의 동작을 설명한다. 도 3의 (a)는, 도 2의 (b)에 나타낸 상태와 마찬가지의 도면이다. 그리고, 실린더(5)를 사용하여 회전 플레이트(4)를 회전시킴으로써, 테스트 보드(2)를 회전시켜서, 거의 직립 상태로 만든다(도 3의 (b)). 사다리꼴 나사(641)를 도시하지 않은 핸들에 의해 회전시켜서, 승강 플레이트(63)를 상승시킨다. 이에 따라, 홈(631)에 축(21)이 끼워져서, 절결부(632)에 축(22)이 올려지고, 홈(41, 42)으로부터 축(21, 22)이 빠지며, 테스트 보드(2)가 상승한다. 그리고, 실린더(5)를 사용하여 회전 플레이트(4)를 회전시켜서, 원래의 위치로 되돌린다(도 3의 (c)). 테스트 보드(2)를 테스트 헤드 본체(1)에 장착하는 경우에는, 상기와 반대로 동작한다.
이와 같이, 회전 플레이트(4)가 회전될 때, 테스트 보드(2)를 유지함과 동시 에, 승강 가능한 승강 플레이트(63)를 구비하는 대차(6)를 설치하였으므로, 테스트 보드(2)를 테스트 헤드 본체(1)로부터 떼어낼 수 있다.
그리고, 머니퓰레이터(3)에 회전 플레이트(4) 및 실린더(5)를 장착하는 구성을 나타내고 있지만, 테스트 헤드 본체(1)에 장착되도록 구성될 수도 있다. 또한, 테스트 헤드 본체(1)와 머니퓰레이터(3)가 별도로 구성되는 것을 나타내고 있지만, 테스트 헤드만으로 구성될 수도 있다.
또한, 축(21, 22)은 1개일 수도 있다. 이것에 대응하여, 홈(41, 42)도 1개일 수도 있다. 마찬가지로, 절결부(632)가 없어도 된다.
제1 내지 제3 수단은, 테스트 보드를 회전 플레이트에 의해 실린더를 사용하여 회전시켜서, 테스트 보드를 수평 또는 거의 직립시키므로, 테스트 보드의 착탈 공간를 줄일 수 있다.
또한, 제4 수단은, 회전 플레이트가 회전하고, 테스트 보드가 거의 직립될 때, 테스트 보드를 유지하는 설치대를 설치하였으므로, 테스트 보드를 테스트 헤드로부터 떼어낼 수 있다.
제5 및 제6 수단은, 테스트 보드를 회전 플레이트에 의해 실린더를 사용하여 회전시켜서서, 테스트 보드를 수평하게 하거나 또는 거의 직립시키므로, 테스트 보드의 착탈 공간을 줄일 수 있다.
Claims (6)
- 테스트 보드를 테스트 헤드로부터 수평 방향으로 착탈하는 IC 테스터에 있어서,상기 테스트 보드의 서로 대향하는 측면에 설치되는 축과,상기 축이 삽입되는 홈을 구비하고, 회전에 의해 상기 테스트 보드를 수평 또는 직립시키는 회전 플레이트와,상기 회전 플레이트에 장착되고, 상기 회전 플레이트를 지지하는 실린더를 구비한 IC 테스터.
- 제1항에 있어서,상기 회전 플레이트와 상기 실린더가 상기 테스트 헤드에 장착되는, IC 테스터.
- 제1항에 있어서,상기 회전 플레이트가 회전 가능하게 장착되는 동시에, 상기 실린더가 장착되고, 상기 테스트 헤드를 회전시키는 머니퓰레이터(manipulator)를 설치한, IC 테스터.
- 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,상기 회전 플레이트가 회전하여, 상기 테스트 보드가 직립될 때, 상기 테스트 보드를 유지하는 설치대를 설치한, IC 테스터.
- 테스트 보드를 테스트 헤드로부터 수평 방향으로 착탈하는 테스트 보드의 착탈 방법에 있어서,상기 테스트 보드를 슬라이드시켜서, 상기 테스트 보드의 서로 대향하는 측면에 설치되는 축이 회전 가능한 회전 플레이트에 삽입되는 단계와,실린더를 사용하여, 상기 회전 플레이트를 회전시켜서, 상기 테스트 보드를 직립시키는 단계를 구비한 테스트 보드의 착탈 방법.
- 테스트 보드를 테스트 헤드로부터 수평 방향으로 착탈하는 테스트 보드의 착탈 방법에 있어서,상기 테스트 보드의 서로 대향하는 측면에 설치되는 축이 삽입되어 있는 회전 플레이트를, 실린더를 사용하여 회전시켜서, 직립 상태의 테스트 보드를 수평으로 유지하는 단계와,상기 테스트 보드를 슬라이드시켜서, 상기 테스트 헤드에 장착하는 단계를 구비한 테스트 보드의 착탈 방법.
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