KR100835807B1 - 클럭 절환 회로 - Google Patents
클럭 절환 회로 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100835807B1 KR100835807B1 KR1020060091060A KR20060091060A KR100835807B1 KR 100835807 B1 KR100835807 B1 KR 100835807B1 KR 1020060091060 A KR1020060091060 A KR 1020060091060A KR 20060091060 A KR20060091060 A KR 20060091060A KR 100835807 B1 KR100835807 B1 KR 100835807B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- clock
- circuit
- synchronization
- selection signal
- synchronization circuit
- Prior art date
Links
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims abstract description 31
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 6
- 102100040862 Dual specificity protein kinase CLK1 Human genes 0.000 abstract description 20
- 102100040844 Dual specificity protein kinase CLK2 Human genes 0.000 abstract description 20
- 101000749294 Homo sapiens Dual specificity protein kinase CLK1 Proteins 0.000 abstract description 20
- 101000749291 Homo sapiens Dual specificity protein kinase CLK2 Proteins 0.000 abstract description 20
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 7
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/04—Generating or distributing clock signals or signals derived directly therefrom
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/04—Generating or distributing clock signals or signals derived directly therefrom
- G06F1/08—Clock generators with changeable or programmable clock frequency
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/04—Generating or distributing clock signals or signals derived directly therefrom
- G06F1/06—Clock generators producing several clock signals
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
Abstract
해저드나 듀티비의 붕괴를 발생시키지 않고, 클럭 절환을 행할 수 있는 클럭 절환 회로를 제공한다. 클럭 선택 신호(SEL)를 제1 클럭(CLK1)으로 동기화하는 제1 동기화 회로(1)와, 제1 동기화 회로(1)에 의해 제1 클럭(CLK1)으로 동기화된 클럭 선택 신호(SEL)를 제2 클럭(CLK2)으로 동기화하는 제2 동기화 회로(2)와, 제1 동기화 회로(1)에 의해 제1 클럭(CLK1)에 동기된 클럭 선택 신호(SEL)에 동기하여, 「1」(하이 레벨)을 출력하고, 그 후에, 제2 동기화 회로(2)에 의해 제2 클럭(CLK2)으로 동기화된 클럭 선택 신호(SEL)에 동기하여 제2 클럭(CLK2)을 선택하는 클럭 선택 회로(5)를 구비한다.
동기화, 선택, 클럭 선택, AND 회로, 절환
Description
도 1은 본 발명의 실시 형태에 따른 클럭 절환 회로의 회로도.
도 2는 본 발명의 실시 형태에 따른 클럭 절환 회로의 동작 타이밍도.
도 3은 클럭 선택 회로의 구체적인 회로도.
도 4는 클럭 선택 회로의 구체적인 회로도.
도 5는 클럭 선택 회로의 구체적인 회로도.
도 6은 종래예의 클럭 절환 회로의 동작 타이밍도.
<도면의 주요부분에 대한 간단한 설명>
1 : 제1 동기화 회로
2 : 제2 동기화 회로
3 : 제1 선택 회로
4 : 제2 선택 회로
5 : 클럭 선택 회로
6 : AND 회로
7 : 제3 동기화 회로
[특허 문헌 1] 일본특허공개공보 평7-248843호
[특허 문헌 2] 일본특허공개공보 제2003-223237호
[특허 문헌 3] 일본특허공개공보 제2003-347931호
[특허 문헌 4] 일본특허공개공보 제2004-54350호
[특허 문헌 5] 일본특허공개공보 제2005-50327호
본 발명은, 상호 비동기이며 또한 주파수가 상이한 제1 및 제2 클럭을 절환하는 클럭 절환 회로에 관한 것이다.
종래의 클럭 절환 회로는, 도 6에 도시한 바와 같이, 제1 클럭(CLK1)과 제2 클럭(CLK2)을 단순히 클럭 선택 신호(SEL)에 응답하여 절환하는 것이었다. 또한, 특허 문헌 1 내지 5와 같은 클럭 절환 회로가 알려져 있다.
그러나, 제1 클럭(CLK1)과 제2 클럭(CLK2)을 단순히 클럭 선택 신호(SEL)에 응답하여 절환하는 회로에서는, 제1 클럭(CLK1)과 제2 클럭(CLK2)이 상호 비동기이며 또한 주파수가 상이한 경우에는, 해저드나 듀티비의 붕괴가 발생하여, 이들 클럭에 의해 동작하는 회로의 오동작을 초래한다. 예를 들면, 플립플롭의 경우에는, 세트 업/홀드 위반 등에 의해, 메타스테이블 상태를 야기할 우려가 있었다.
따라서, 본 발명의 클럭 절환 회로는, 상호 비동기이며 또한 주파수가 상이 한 제1 및 제2 클럭을 절환하는 클럭 절환 회로에서, 클럭 선택 신호를 상기 제1 클럭으로 동기화하는 제1 동기화 회로와, 상기 제1 동기화 회로에 의해 제1 클럭으로 동기화된 클럭 선택 신호를 제2 클럭으로 동기화하는 제2 동기화 회로와, 상기 제1 동기화 회로에 의해 제1 클럭에 동기된 클럭 선택 신호에 동기해서 로우 또는 하이의 레벨을 출력하고, 그 후 상기 제2 동기화 회로에 의해 제2 클럭으로 동기화된 클럭 선택 신호에 동기하여 제2 클럭을 선택하는 클럭 선택 회로를 구비하는 것을 특징으로 하는 것이다.
<실시예>
다음으로, 본 발명의 실시 형태에 따른 클럭 절환 회로에 대하여 도면을 참조하여 설명한다. 도 1은 이 클럭 절환 회로의 회로도이다.
참조 부호 1은 제1 클럭(CLK1)을 동기화의 기준 클럭으로 하는 제1 동기화 회로로서, 직렬 접속된 2개의 플립플롭(FF1, FF2)으로 구성되어 있다. 또한, 참조 부호 2는 제2 클럭(CLK2)을 동기화의 기준 클럭으로 하는 제2 동기화 회로로서, 직렬 접속된 2개의 플립플롭(FF3, FF4)으로 구성되어 있다.
참조 부호 3은 제1 선택 회로로서, 제어 신호(DATA_SEL)에 응답하여, 클럭 선택 신호(SEL)와 제2 동기화 회로(2)의 출력 신호(CLK2_SEL) 중 어느 하나를 선택한다. 즉, 제어 신호(DATA_SEL)가 「0」일 때에는 클럭 선택 신호(SEL)가 선택되고, 제어 제어 신호(DATA_SEL)가 「1」일 때에는 제2 동기화 회로(2)의 출력 신호(CLK2_SEL)가 선택되어, 제1 동기화 회로(1)에 입력된다.
참조 부호 4는 제2 선택 회로로서, 제어 신호(DATA_SEL)에 응답하여, 클럭 선택 신호(SEL)와 제1 동기화 회로(1)의 출력 신호(CLK1_SEL) 중 어느 하나를 선택한다. 즉, 제어 신호(DATA_SEL)가 「1」일 때에는 클럭 선택 신호(SEL)가 선택되고, 제어 신호(DATA_SEL)가 「0」일 때에는 제1 동기화 회로(1)의 출력 신호(CLK1_SEL)가 선택되어, 제2 동기화 회로(2)에 입력된다.
참조 부호 5는 클럭 선택 회로로서, 테스트 신호(TEST)가 단자 a에 입력되고, 제1 동기화 회로(1)의 출력 신호(CLK1_SEL)가 단자 b에 입력되고, 제2 동기화 회로(2)의 출력 신호(CLK2_SEL)가 단자 c에 입력되며, 이들 신호의 논리 상태에 따라서, 도 1의 진리값 표에 따라 출력 신호(CLK_OUT)를 출력한다. 즉, (a, b, c) = (0, 0, 0) 일 때에는, 제1 클럭(CLK1)이 출력되고, (a, b, c) = (0, 0, 1) 또는 (0, 1, 0) 일 때에는, 「1」(하이 레벨 = 전원 전위 Vdd)이 출력되고, (a, b, c) = (0, 1, 1) 일 때에는 제2 클럭(CLK2)이 출력되며, (a, b, c) = (1, x, x) 일 때에는, 스캔 테스트용으로 테스트 클럭(TEST_CLK)이 출력된다. 여기서, x는 「1」과 「0」중 어느 것이어도 된다.
참조 부호 6은, 제1 동기화 회로(1)의 출력 신호(CLK1_SEL)와 제2 동기화 회로(2)의 출력 신호(CLK2_SEL) 양쪽이 동일 레벨로 된 것, 즉, 그 양쪽이 「1」 혹은 「0」으로 된 것을 검출하기 위한 검출 회로이다. 본 실시 형태에서는, 그 검출 회로(6)의 일례로서, 제1 동기화 회로(1)의 출력 신호(CLK1_SEL)와 제2 동기화 회로(2)의 출력 신호(CLK2_SEL) 양쪽이 「1」인 것을 검출하기 위해 AND 회로를 이용하고 있다. 그들 신호 양쪽이 「1」 혹은 「0」 한쪽을 검출하면 되는 것은, 클럭 선택의 천이 상태에서는 클럭 선택 회로(5)의 출력 신호(CLK_OUT)가 「1」 또는 「0」에 고정되므로 후술하는 제3 동기화 회로(7)로 출력이 전파되는 경우가 없기 때문이다.
참조 부호 7은, 클럭 선택 회로(5)에 의해 선택된 제1 클럭(CLK1) 또는 제2 클럭(CLK2)을 동기화의 기준 클럭으로 하는 제3 동기화 회로로서, 직렬 접속된 2개의 플립플롭(FF5, FF6)으로 구성되어 있다. 이 제3 동기화 회로(7)의 출력 신호가 상술한 제1 및 제2 선택 회로(3, 4)의 제어 신호(DATA_SEL)이다. 또한, 제3 동기화 회로(7)의 제어 신호(DATA_SEL)를 수 클럭 사이클 지연시킴으로써, 클럭 선택이 확실하게 완료된 안정 상태에서 제1 및 제2 선택 회로(3, 4)의 제어를 변경시키는 목적도 있다. 이 제어 신호(DATA_SEL)는, 제1 및 제2 선택 회로(3, 4)의 제어 변경과 마찬가지로 클럭 선택 회로(5)에 의해 선택된 제1 클럭(CLK1) 또는 제2 클럭(CLK2)에서 동작하는 후단의 회로를 제어하기 위한 제어 신호로서도 그대로 이용 가능하다.
또한, 제1, 제2 및 제3 동기화 회로(1, 2, 7)는, 메타스테이블 상태를 회피하기 위해 2단 또는 그 이상의 단수의 플립플롭으로 구성되는 것이 바람직하다.
다음으로, 전술한 클럭 절환 회로의 동작에 대해서 도 2를 참조하면서 설명한다. 제1 클럭(CLK1)과 제2 클럭(CLK2)은 상호 비동기이며 또한 주파수가 상이한 것으로 한다. 우선, 클럭 선택 회로(5)에 의해 제1 클럭(CLK1)이 선택되어 있는 상태에서, 제2 클럭(CLK2)을 선택하기 때문에, 클럭 선택 신호(SEL)가 「0」에서 「1」로 천이된다. 이때에는, 제어 신호(DATA_SEL)는 「0」이기 때문에, 제1 선택 회로(3)는 클럭 선택 신호(SEL)를 선택하고, 제2 선택 회로(4)는 제1 동기화 회 로(1)의 출력 신호(CLK1_SEL)를 선택하고 있다.
그러면, 제1 동기화 회로(1)에 의해 클럭 선택 신호(SEL)는 제1 클럭(CLK1)으로 동기화된다(도 2의 1). 그리고, 제1 클럭(CLK1)으로 동기화된 클럭 선택 신호(SEL)의 상승에 동기하여, 클럭 선택 회로(5)는 「1」(하이 레벨 = Vdd)을 출력한다(도 2의 2). 그 후에, 제1 클럭(CLK1)으로 동기화된 클럭 선택 신호(SEL)는, 제1 동기화 회로(1)의 출력 신호(CLK1_SEL)로서, 제2 선택 회로(4)에 의해 선택되어, 제2 동기화 회로(2)에 입력되고, 제2 클럭(CLK2)으로 동기화된다(도 2의 3). 그리고, 이 제2 클럭(CLK2)으로 동기화된 제2 동기화 회로(2)의 출력 신호(CLK2_SEL)의 상승에 동기하여, 클럭 선택 회로(5)는 제2 클럭(CLK2)을 선택해서 출력한다(도 2의 4).
또한, 제2 동기화 회로(2)의 출력 신호(CLK2_SEL)가 「1」로 상승하면, AND 회로(6)의 출력 신호는 「0」에서 「1」로 천이된다. 이 AND 회로(6)의 출력 신호는 제3 동기화 회로(7)에 의해, 제2 클럭(CLK2)으로 동기화된다. 그러면, 제3 동기화 회로(7)의 출력 신호인 제어 신호(DATA_SEL)는 「0」에서 「1」로 천이된다. 이에 따라, 제2 선택 회로(4)는 클럭 선택 신호(SEL)를 선택하고, 제1 선택 회로(3)는 제2 동기화 회로(2)의 출력 신호(CLK2_SEL)를 선택하도록 절환된다(도 2의 5).
그 후에, 클럭 선택 신호(SEL)가 「1」에서 「0」으로 천이된다. 그러면, 제2 동기화 회로(2)에 의해 클럭 선택 신호(SEL)는 제2 클럭(CLK2)으로 동기화된다(도 2의 6). 그리고, 제2 클럭(CLK2)으로 동기화된 클럭 선택 신호(SEL)의 하강 에 동기하여, 클럭 선택 회로(5)는 「1」(하이 레벨 = Vdd)을 출력한다.(도 2의 7) 그 후에, 제2 클럭(CLK2)으로 동기화된 클럭 선택 신호(SEL)는, 제2 동기화 회로(2)의 출력 신호(CLK2_SEL)로서, 제1 선택 회로(3)에 의해 선택되어, 제1 동기화 회로(1)에 입력되고, 제1 클럭(CLK1)으로 동기화된다(도 2의 8). 그리고, 이 제1 클럭(CLK1)으로 동기화된 제1 동기화 회로(1)의 출력 신호(CLK1_SEL)의 하강에 동기하여, 클럭 선택 회로(5)는 제1 클럭(CLK1)을 선택해서 출력한다(도 2의 9).
또한, 제2 동기화 회로(2)의 출력 신호(CLK2_SEL)가 「0」으로 하강하면, AND 회로(6)의 출력 신호는 「1」에서 「0」으로 천이된다. 이 AND 회로(6)의 출력 신호는 제3 동기화 회로(7)에 의해, 제1 클럭(CLK1)으로 동기화된다. 그러면, 제3 동기화 회로(7)의 출력 신호인 제어 신호(DATA_SEL)는 「1」에서 「0」으로 천이된다. 이에 따라, 제1 선택 회로(3)는 클럭 선택 신호(SEL)를 선택하고, 제2 선택 회로(4)는 제1 동기화 회로(1)의 출력 신호(CLK1_SEL)를 선택하도록 절환된다(도 2의 10).
이와 같이 하여, 클럭 선택 신호(SEL)를 클럭 선택 회로(5)에 의해 선택되어 있는 클럭으로 동기화함으로써, 선택 신호(SEL)가 비동기이었던 경우에도, 해저드나 듀티비의 붕괴가 발생하지 않는 타이밍에서, 「0」 혹은 「1」의 클럭 정지 상태로의 절환이 가능하고, 또한 선택되어 있는 클럭으로 동기화된 클럭 선택 신호(SEL)를 추가로 비선택측의 클럭으로 동기화함으로써, 해저드나 듀티비의 붕괴가 발생하지 않는 타이밍에서, 클럭의 정지 상태로부터 선택 클럭의 출력 상태로의 절환이 가능하다.
클럭 선택 회로(5)의 구체적인 회로예를 도 3, 도 4, 도 5에 도시한다. 단, 도 5에 도시하는 회로에 대해서는, (a, b, c)=(0, 0, 1)일 때, 클럭 선택 회로(5)의 출력(CLK_OUT)은 도 1의 진리값 표와 일치하지 않지만, 본 실시 형태에서는 도 2로부터 알 수 있는 바와 같이, (a, b, c)=(0, 0, 1)로 되는 경우는 없으므로, 실질적으로 도 5의 회로는 다른 회로와 마찬가지로 기능한다. 이 회로예와 같이 구성함으로써, 제1 동기화 회로(1)의 출력 신호(CLK1_SEL)와 제2 동기화 회로(2)의 출력 신호(CLK2_SEL)가, 제1 및 제2 클럭(CLK1, CLK2)의 클럭 선택 논리에 양쪽 모두 반영되어, 클럭 선택 회로(5)에서 해저드 등이 발생하는 것을 방지할 수 있다.
본 발명의 클럭 절환 회로에 의하면, 회로의 오동작의 원인으로 되는 해저드나 듀티비의 붕괴를 발생시키지 않고, 클럭 절환을 행할 수 있다.
Claims (8)
- 상호 비동기이며 또한 주파수가 상이한 제1 및 제2 클럭을 절환하는 클럭 절환 회로로서,클럭 선택 신호를 상기 제1 클럭으로 동기화하는 제1 동기화 회로와,상기 제1 동기화 회로에 의해 제1 클럭으로 동기화된 클럭 선택 신호를 제2 클럭으로 동기화하는 제2 동기화 회로와,상기 제1 동기화 회로에 의해 제1 클럭으로 동기화된 클럭 선택 신호에 동기해서 로우 또는 하이의 레벨을 출력하고, 그 후 상기 제2 동기화 회로에 의해 제2 클럭으로 동기화된 클럭 선택 신호에 동기해서 제2 클럭을 선택하는 클럭 선택 회로를 구비하는 것을 특징으로 하는 클럭 절환 회로.
- 상호 비동기이며 또한 주파수가 상이한 제1 및 제2 클럭 중 어느 하나를 선택하도록 하는 값을 갖는 클럭 선택 신호에 의해, 상기 제1 및 제2 클럭을 절환하는 클럭 절환 회로로서,클럭 선택 신호 또는 상기 제2 클럭으로 동기화된 클럭 선택 신호를 제1 클럭으로 동기화하는 제1 동기화 회로와,클럭 선택 신호 또는 상기 제1 클럭으로 동기화된 클럭 선택 신호를 제2 클럭으로 동기화하는 제2 동기화 회로와,클럭 선택 신호가 제2 클럭을 선택하도록 변화한 때에는, 상기 제1 동기화 회로에 의해 제1 클럭에 동기된 클럭 선택 신호에 동기해서 로우 또는 하이의 레벨을 출력하고, 그 후 상기 제2 동기화 회로에 의해 제2 클럭으로 동기화된 클럭 선택 신호에 동기해서 제2 클럭을 선택함과 함께, 클럭 선택 신호가 제1 클럭을 선택하도록 변화한 때에는, 상기 제2 동기화 회로에 의해 제2 클럭으로 동기화된 클럭 선택 신호에 동기해서 로우 또는 하이의 레벨을 출력하고, 그 후 상기 제1 동기화 회로에 의해 제1 클럭으로 동기화된 클럭 선택 신호에 동기해서 제1 클럭을 선택하는 클럭 선택 회로를 구비하는 것을 특징으로 하는 클럭 절환 회로.
- 제2항에 있어서,클럭 선택 신호 또는 상기 제2 동기화 회로에 의해 제2 클럭으로 동기화된 클럭 선택 신호를 선택하여, 상기 제1 동기화 회로에 입력하는 제1 선택 회로와,클럭 선택 신호 또는 상기 제1 동기화 회로에 의해 제1 클럭으로 동기화된 클럭 선택 신호를 선택하여, 상기 제2 동기화 회로에 입력하는 제2 선택 회로를 구비하는 것을 특징으로 하는 클럭 절환 회로.
- 제3항에 있어서,상기 제1 동기화 회로의 출력 신호와 상기 제2 동기화 회로의 출력 신호가 동일 레벨로 된 것을 검출하는 검출 회로와,이 검출 회로의 출력 신호를 상기 클럭 선택 회로에 의해 선택된 제1 클럭 또는 제2 클럭에 동기시키는 제3 동기화 회로를 구비하고,상기 제3 동기화 회로의 출력 신호에 의해 상기 제1 및 제2 선택 회로를 제어한 것을 특징으로 하는 클럭 절환 회로.
- 제4항에 있어서,상기 제1, 제2 및 제3 동기화 회로는, 2단 이상의 플립플롭으로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 클럭 절환 회로.
- 제1항에 있어서,상기 클럭 선택 회로에는 테스트 클럭이 입력되고, 테스트 신호에 응답하여 상기 테스트 클럭을 출력하는 것을 특징으로 하는 클럭 절환 회로.
- 제2항에 있어서,상기 클럭 선택 회로에는 테스트 클럭이 입력되고, 테스트 신호에 응답하여 상기 테스트 클럭을 출력하는 것을 특징으로 하는 클럭 절환 회로.
- 제2항에 있어서,상기 제1 및 제2 동기화 회로는, 2단 이상의 플립플롭으로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 클럭 절환 회로.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005273360A JP2007086960A (ja) | 2005-09-21 | 2005-09-21 | クロック切り替え回路 |
JPJP-P-2005-00273360 | 2005-09-21 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070033267A KR20070033267A (ko) | 2007-03-26 |
KR100835807B1 true KR100835807B1 (ko) | 2008-06-05 |
Family
ID=37883450
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060091060A KR100835807B1 (ko) | 2005-09-21 | 2006-09-20 | 클럭 절환 회로 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7656980B2 (ko) |
JP (1) | JP2007086960A (ko) |
KR (1) | KR100835807B1 (ko) |
CN (1) | CN100535826C (ko) |
TW (1) | TWI355574B (ko) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7952516B2 (en) * | 2006-09-26 | 2011-05-31 | Lockheed Martin Corporation | System and method for coherent frequency switching in DDS architectures |
JP2009044489A (ja) | 2007-08-09 | 2009-02-26 | Panasonic Corp | 転送性能最適化機能付非同期吸収回路 |
JP5317356B2 (ja) * | 2010-02-26 | 2013-10-16 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | クロック制御信号生成回路、クロックセレクタ、及び情報処理装置 |
JP2012205100A (ja) | 2011-03-25 | 2012-10-22 | Toshiba Corp | メモリシステム、メモリコントローラ、及び同期化装置 |
GB2499374A (en) * | 2012-01-30 | 2013-08-21 | St Microelectronics Grenoble 2 | Circuit supplying two clock frequencies, while changing from one frequency to the other does not supply a clock signal. |
JP6008386B2 (ja) * | 2012-04-02 | 2016-10-19 | 日本電気通信システム株式会社 | 半導体装置とそのテスト方法 |
JP6007676B2 (ja) * | 2012-08-29 | 2016-10-12 | 富士通株式会社 | 判定支援装置、判定装置、メモリコントローラ、システム、および判定方法 |
JP2017097629A (ja) * | 2015-11-25 | 2017-06-01 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 車載制御装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR950015047A (ko) * | 1993-11-05 | 1995-06-16 | 김희수 | 3.5"플로피 디스크 드라이브내장형 디스플레이모듈 |
JPH10154021A (ja) | 1996-09-30 | 1998-06-09 | Toshiba Corp | クロック切換装置およびクロック切換方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4229699A (en) * | 1978-05-22 | 1980-10-21 | Data General Corporation | Multiple clock selection system |
JPH07248843A (ja) | 1994-03-14 | 1995-09-26 | Fuji Facom Corp | クロック切り替え回路 |
JP2003223237A (ja) | 2002-01-30 | 2003-08-08 | Oki Electric Ind Co Ltd | クロック切替回路 |
JP2003347931A (ja) | 2002-05-29 | 2003-12-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Pllを搭載した半導体集積回路 |
JP2004054350A (ja) | 2002-07-16 | 2004-02-19 | Sony Corp | クロック切り替え回路 |
US6865135B2 (en) * | 2003-03-12 | 2005-03-08 | Micron Technology, Inc. | Multi-frequency synchronizing clock signal generator |
JP4559788B2 (ja) | 2003-07-14 | 2010-10-13 | パナソニック株式会社 | 信号切り替え装置、信号切り替え方法及びデータ受信装置 |
TWI289678B (en) * | 2004-10-26 | 2007-11-11 | Via Tech Inc | Method of testing synchronous clock chip and chip capable of synchronously testing clock |
US7545190B2 (en) * | 2007-05-01 | 2009-06-09 | Advanced Micro Devices, Inc. | Parallel multiplexing duty cycle adjustment circuit with programmable range control |
-
2005
- 2005-09-21 JP JP2005273360A patent/JP2007086960A/ja not_active Withdrawn
-
2006
- 2006-09-19 US US11/523,096 patent/US7656980B2/en active Active
- 2006-09-20 KR KR1020060091060A patent/KR100835807B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2006-09-20 TW TW095134721A patent/TWI355574B/zh not_active IP Right Cessation
- 2006-09-21 CN CNB2006101389277A patent/CN100535826C/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR950015047A (ko) * | 1993-11-05 | 1995-06-16 | 김희수 | 3.5"플로피 디스크 드라이브내장형 디스플레이모듈 |
JPH10154021A (ja) | 1996-09-30 | 1998-06-09 | Toshiba Corp | クロック切換装置およびクロック切換方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20070063744A1 (en) | 2007-03-22 |
KR20070033267A (ko) | 2007-03-26 |
JP2007086960A (ja) | 2007-04-05 |
US7656980B2 (en) | 2010-02-02 |
TWI355574B (en) | 2012-01-01 |
TW200712826A (en) | 2007-04-01 |
CN1936766A (zh) | 2007-03-28 |
CN100535826C (zh) | 2009-09-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100835807B1 (ko) | 클럭 절환 회로 | |
JP4524662B2 (ja) | 半導体メモリチップ | |
US7944241B1 (en) | Circuit for glitchless switching between asynchronous clocks | |
US20110116337A1 (en) | Synchronising between clock domains | |
US7961012B2 (en) | Apparatus and method for preventing generation of glitch in a clock switching circuit | |
US7586337B2 (en) | Circuit for switching between two clock signals independently of the frequency of the clock signals | |
JP2008216185A (ja) | Scanテスト回路、半導体集積回路及びスキャンイネーブル信号タイミング制御回路部 | |
US9891279B2 (en) | Managing IR drop | |
US7246286B2 (en) | Testing methods and chips for preventing asnchronous sampling errors | |
JP2013145135A (ja) | 半導体集積回路及びそのテスト方法 | |
KR102530884B1 (ko) | 반도체 메모리 장치 및 반도체 메모리 장치의 동작 방법 | |
KR100635873B1 (ko) | 글리치 제거가 가능한 내장 시스템 | |
US9647650B2 (en) | Clock generating device | |
KR100460763B1 (ko) | 클럭스위칭회로 | |
US7555083B2 (en) | Synchronizing circuit for stably generating an output signal | |
JP2011158440A (ja) | クロック生成回路、半導体集積回路およびその試験システム | |
US7752516B2 (en) | Semiconductor device and scan test method | |
KR20080012574A (ko) | 클럭 스위칭 회로 | |
JP6530288B2 (ja) | 半導体装置および半導体装置のテスト方法 | |
KR100492692B1 (ko) | 테스트 장치 | |
KR100460762B1 (ko) | 클럭선택회로 | |
JP2000022507A (ja) | クロック信号切り換え装置 | |
KR100807116B1 (ko) | 지연 고정 루프 | |
KR100800138B1 (ko) | 디엘엘 장치 | |
US7583544B2 (en) | Data reading circuit |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120507 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130430 Year of fee payment: 6 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |