KR100831060B1 - 실리콘이 함유된 반도체 에칭 폐액의 재생방법 - Google Patents
실리콘이 함유된 반도체 에칭 폐액의 재생방법 Download PDFInfo
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Abstract
Description
불화실리콘산 1당량에 대한 질산나트륨의 당량비 | 실리콘 제거율(%) |
1 당량 | 42.49 |
1.4 당량 | 56.43 |
2 당량(이론치) | 74.84 |
2.6 당량 | 99.30 |
3.0 당량 | 99.58 |
4.0 당량 | 99.50 |
Claims (6)
- 질산, 불산, 초산 및 실리콘으로 이루어진 반도체 에칭 폐액에 알칼리금속 화합물을 투입하여 불화실리콘산(H2SiF6) 형태로 존재하는 실리콘을 불화규산염(M2SiF6, M은 알칼리금속)으로 침전시켜 분리하는 침전 단계;상기 침전 단계 후 잔존하는 질산, 불산, 초산으로 이루어진 혼산 폐액에 탄소수 4~12의 알코올 추출제를 혼합하여 추출제 내에 상기 초산을 선택적으로 추출되도록 하는 추출 단계; 및,상기 추출 단계 후 초산이 함유된 추출제를 분별증류를 통해 초산을 분리하고 남아있는 추출제는 상기 추출 단계로 이송하여 재사용되도록 하는 분별증류 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 실리콘이 함유된 반도체 에칭 폐액의 재생방법.
- 제1항에 있어서, 상기 침전 단계는 상기 알칼리금속 화합물로서 질산기(NO3)를 포함하는 화합물인 질산나트륨(NaNO3)과 질산칼륨(KNO3), 불소(F)를 포함하는 화합물인 불화나트륨(NaF)과 불화칼륨(KF), 초산기(CH3COO)를 포함하는 화합물인 초산나트륨(NaCH3COO)과 초산칼륨(CH3COOK)으로 구성된 그룹 중에서 선택된 1종을 사용하는 것을 특징으로 하는 실리콘이 함유된 반도체 에칭 폐액의 재생방법.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 알칼리금속 화합물은 상기 불화실리콘산 1당량에 대하여 2.6 ~ 3.0 당량이 되도록 투입되는 것을 특징으로 하는 실리콘이 함유된 반도체 에칭 폐액의 재생방법.
- 질산, 불산, 초산 및 실리콘으로 이루어진 반도체 에칭 폐액에 알칼리토금속 화합물을 투입하여 불화실리콘산 형태로 존재하는 실리콘을 불화규산염(MSiF6, M은 알칼리토금속)으로 침전시켜 분리하는 침전 단계;상기 침전 단계 후 잔존하는 질산, 불산, 초산으로 이루어진 혼산 폐액에 탄소수 4~12의 알코올 추출제를 혼합하여 추출제 내에 상기 초산을 선택적으로 추출되도록 하는 추출 단계; 및,상기 추출 단계 후 초산이 함유된 추출제를 분별증류를 통해 초산을 분리하고 남아있는 추출제는 상기 추출 단계로 이송하여 재사용되도록 하는 분별증류 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 실리콘이 함유된 반도체 에칭 폐액의 재생방법.
- 제4항에 있어서, 상기 침전 단계는 상기 알칼리토금속 화합물로서 질산기(NO3)를 포함하는 화합물인 질산마그네슘[Mg(NO3)24H2O]과 질산칼슘[Ca(NO3)24H2O], 불소(F)를 포함하는 화합물인 불화마그네슘(MgF2)과 불화칼슘(CaF2), 초산기(CH3COO)를 포함하는 화합물인 초산마그네슘(MgCH3COO4H2O)과 초산칼 슘[Ca(CH3COO)2]으로 구성된 그룹 중에서 선택된 1종을 사용하는 것을 특징으로 하는 실리콘이 함유된 반도체 에칭 폐액의 재생방법.
- 제4항 또는 제5항에 있어서, 상기 알칼리토금속 화합물은 상기 불화실리콘산 1당량에 대하여 1.3 ~ 1.5 당량이 되도록 투입되는 것을 특징으로 하는 실리콘이 함유된 반도체 에칭 폐액의 재생방법.
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