KR100780312B1 - Inspection Apparatus - Google Patents

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유타카 코사카
요시유키 안도
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가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
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Abstract

본 발명에 따른 검사장치는, 공간절약화 및 작업효율을 향상시키기 위한 검사장치(1)를 제공하기 위한 것이다. 상기 검사장치(1)는 액정패널(7)의 처리공정 도중에 삽입되며, 상기 처리공정의 컨베이어 라인 위에 설치되어 액정패널(7)을 검사하는 프로버(4)와, 상기 컨베이어 라인 위에서 상기 프로버(4)까지 안내된 액정패널(7)을 상기 프로버(4) 내에 반입하는 반입기구(3)와, 상기 프로버(4)에서 검사가 종료된 액정패널(7)을 후공정측의 상기 컨베이어 라인 위로 반출하는 반출기구(5)를 구비한다. 하우징(41)과 이 하우징(41) 내에 수납되어 액정패널(7)이 놓여지는 워크 테이블(42)과, 이 워크테이블(42)에 놓여진 액정패널(7)을 조사(照射)하는 백라이트(43)와, 액정패널(7)의 시험을 행하는 프로브 유닛(45)과, 하우징(41)에 외부로부터 인식할 수 있도록 설치되어 액정패널(7)의 영상을 투영하는 스크린(46)을 구비하고 있다.An inspection apparatus according to the present invention is to provide an inspection apparatus 1 for reducing space and improving work efficiency. The inspection apparatus 1 is inserted during the processing of the liquid crystal panel 7, and is provided on the conveyor line of the processing process to probe the liquid crystal panel 7, and the prober on the conveyor line. The carrying-in mechanism 3 which carries in the prober 4 the liquid crystal panel 7 guided to (4), and the liquid crystal panel 7 which test | inspected in the said prober 4 are complete | finished are said A carrying out mechanism 5 for carrying out onto the conveyor line is provided. A backlight 43 for irradiating the housing 41, the work table 42 accommodated in the housing 41, and the liquid crystal panel 7 placed thereon, and the liquid crystal panel 7 placed on the work table 42. ), A probe unit 45 for testing the liquid crystal panel 7, and a screen 46 mounted on the housing 41 so as to be recognized from the outside and projecting an image of the liquid crystal panel 7. .

검사장치, 액정패널, 프로버, 컨베이어라인 Inspection device, liquid crystal panel, prober, conveyor line

Description

검사장치{Inspection Apparatus} Inspection Device {Inspection Apparatus}

도1은 본 발명의 실시형태에 따른 검사장치를 나타낸 정면도이다.1 is a front view showing a test apparatus according to an embodiment of the present invention.

도2는 본 발명의 실시형태에 따른 검사장치를 나타낸 사시도이다.2 is a perspective view showing an inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

도3은 본 발명의 실시형태에 따른 검사장치를 나타낸 평면도이다.3 is a plan view showing a test apparatus according to an embodiment of the present invention.

도4는 본 발명의 실시형태에 따른 검사장치의 반입기구 및 프로버를 나타낸 정면도이다.4 is a front view showing a carrying in mechanism and a prober of the inspection apparatus according to the embodiment of the present invention.

도5는 본 발명의 실시형태에 따른 검사장치의 반입기구를 나타낸 사시도이다.5 is a perspective view showing a carrying-in mechanism of the inspection apparatus according to the embodiment of the present invention.

도6은 본 발명의 실시형태에 따른 검사장치의 패널 클램프와 패널 리프터를 나타낸 사시도이다.6 is a perspective view showing a panel clamp and a panel lifter of the inspection apparatus according to the embodiment of the present invention.

도7은 본 발명의 실시형태에 따른 검사장치의 프로버를 나타낸 개략측면도이다.Fig. 7 is a schematic side view showing a prober of the inspection apparatus according to the embodiment of the present invention.

*도면의 주요 부호에 대한 설명** Description of Major Symbols in Drawings *

1: 검사장치 2: 반입측 컨베이어1: Inspection device 2: Import side conveyor

2A: 롤러 2B: 회전축2A: roller 2B: axis of rotation

2C: 롤러가이드 3: 반입기구2C: Roller Guide 3: Loading Mechanism

4: 프로버(4) 5: 반출기구4: prober (4) 5: carrying out mechanism

6: 반출측 컨베이어 7: 액정패널 6: Carrying side conveyor 7: Liquid crystal panel

8: 패널 클램프 8A: X 패널 클램프부8: Panel clamp 8A: X panel clamp

8B: Y 패널 클램프부 9: 패널 리프터8B: Y panel clamp part 9: panel lifter

12: 베이스 판 13: 안내레일12: base plate 13: guide rail

14: 슬라이더 15: 실린더14: slider 15: cylinder

16: 클램프 편(片) 20: 베이스판16: clamp piece 20: base plate

21: 안내레일 22: 슬라이더21: guide rail 22: slider

23: 클램프편 24: 프레임23: clamp piece 24: frame

26: 베이스판 27: 가이드 부재26: base plate 27: guide member

28: 구동모터 29: 지주(支柱)28: drive motor 29: prop

30: 패드 32: 프레임30: pad 32: frame

33: 가이드봉 34: 가이드판33: guide rod 34: guide plate

37: 흡착부 38: 반송 암(arm)37: adsorption part 38: conveying arm

41: 하우징 42: 워크테이블41: housing 42: worktable

43: 백라이트 44: Z스테이지43: backlight 44: Z stage

45: 프로브 유닛 46: 스크린45: probe unit 46: screen

47: 광학계 48: 편광판47: optical system 48: polarizing plate

49: 미러 50: 셔터49: mirror 50: shutter

발명의 분야Field of invention

본 발명은 액정패널 등의 검사대상판을 시각적으로 확인해서 행하는 검사장치에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inspection apparatus for visually confirming and performing inspection target plates such as liquid crystal panels.

발명의 배경Background of the Invention

종래에 액정패널 등의 검사대상판의 시험을 행하는 경우에는, 검사대상판을 조명으로 비추고, 프로버로 통전시켜, 검사자가 그 화면을 시각적으로 확인했다. 그러나 이러한 경우, 검사자의 눈에 부담이 크다는 점과, 검사 시의 실수를 감소시키기까지 어느 정도의 숙련을 필요로 한다는 점 등의 문제가 있기 때문에, 검사면을 스크린에 투영해서 그 스크린 위에서 검사하는 것이 제안되어 왔다. 이에 대한 예로서, 일본 특개평 11-52317호 공보 및 일본 특개 2003-270608호 공보의 검사장치가 있다.In the past, when testing a test target plate such as a liquid crystal panel, the test target plate was illuminated by illumination, and energized by a prober, and the inspector visually confirmed the screen. In this case, however, there are problems such as a heavy burden on the examiner's eyes and a certain amount of skill required to reduce mistakes in the inspection, so that the inspection surface is projected on the screen and inspected on the screen. Has been proposed. As an example of this, the inspection apparatus of Unexamined-Japanese-Patent No. 11-52317 and Unexamined-Japanese-Patent No. 2003-270608 is mentioned.

그러나, 상기 종래의 검사장치는 단일 장치로서 컨베이어 라인의 근방에 설치되며, 컨베이어 라인 위로 이송되는 검사대상판을 일단 컨베이어 라인로부터 취출하여 검사하고, 검사 종료 후에 다시 원래의 컨베이어 라인 위로 되돌려놓는다.However, the conventional inspection apparatus is installed in the vicinity of the conveyor line as a single device, and once the inspection target plate conveyed on the conveyor line is taken out from the conveyor line and inspected, and returned to the original conveyor line after the inspection ends.

이렇게, 컨베이어 라인의 근방에 검사장치를 배치하면 그 검사장치를 위한 공간이 필요하게 되며, 또한 컨베이어 라인과 검사장치와의 사이에서 검사대상판을 이동시키는 이동기구를 설치하기 위한 공간도 필요하게 된다. 이 때문에, 장치의 규모나 부피가 커져버리는 문제점이 있다.Thus, when the inspection apparatus is arranged in the vicinity of the conveyor line, a space for the inspection apparatus is required, and a space for installing a moving mechanism for moving the inspection object plate between the conveyor line and the inspection apparatus is also required. For this reason, there exists a problem that the scale and volume of an apparatus become large.

게다가, 이동기구로 검사대상판을 컨베이어 라인과 검사장치와의 사이에서 이동시키게 되면 작업효율이 악화되는 문제점이 있다.In addition, there is a problem that the work efficiency is deteriorated when the inspection plate is moved between the conveyor line and the inspection device by a moving mechanism.

본 발명은 상술한 바와 같은 문제에 착안하여 이루어진 것으로, 그 목적은, 공간절약화 및 작업효율의 향상을 목표로 하는 검사장치를 제공하는 데 있다.The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object thereof is to provide an inspection apparatus aiming at saving space and improving work efficiency.

본 발명의 상기 및 기타의 목적들은 하기 설명되는 본 발명에 의하여 모두 달성될 수 있다. The above and other objects of the present invention can be achieved by the present invention described below.

본 발명은 공간절약화 및 작업효율의 향상을 목표로 하는 검사장치를 제공하는 데 있다. 보다 상세하게는, 검사대상판의 처리공정의 도중에 삽입되는 검사장치로, 상기 처리공정의 컨베이어 라인 위에 설치되어 상기 검사대상판을 검사하는 프로버와, 상기 컨베이어 라인 위를 상기 프로버까지 안내된 상기 검사대상판을 상기 프로버내에 반입하는 반입기구와, 상기 프로버에서 검사가 종료된 검사대상판을 후공정측의 상기 컨베이어 라인 위에 반출하는 반출기구를 구비하며, 상기 프로버가 외곽을 구성하는 하우징과, 상기 하우징내에 수납되어 상기 검사대상판이 놓여지는 워크테이블과, 상기 워크테이블에 놓여진 상기 검사대상판을 조사(照射)하는 광(光)과, 상기 검사대상판의 시험을 행하는 프로브 유닛과, 상기 하우징에 외부로부터 인식할 수 있도록 설치되어 상기 광에 의해 조사된 상기 검사대상판의 영상을 투영해내는 스크린을 구비하여 구성된 것을 특징으로 한다.The present invention is to provide an inspection apparatus aimed at saving space and improving work efficiency. More specifically, the inspection apparatus is inserted in the middle of the processing process of the inspection object plate, a prober installed on the conveyor line of the treatment process to inspect the inspection object plate, and the inspection table guided on the conveyor line to the prober. A carrying-in mechanism for carrying the upper plate into the prober, and a carrying-out mechanism for carrying out the inspection target plate completed by the prober onto the conveyor line on the post-process side; A worktable housed in the housing, on which the inspection object plate is placed, light for irradiating the inspection object plate placed on the work table, a probe unit for testing the inspection object plate, and external to the housing A screen installed so as to be able to recognize from the screen and projecting an image of the inspection target plate irradiated by the light. Characterized in that provided.

이에 따라, 상기 처리공정의 컨베이어 라인 위에서 이송된 상기 검사대상판을 그 컨베이어 라인 위에서 검사하고, 그대로 컨베이어 라인 위로 이송되도록 할 수 있다.Accordingly, the inspection object plate transferred on the conveyor line of the processing step can be inspected on the conveyor line, and transferred to the conveyor line as it is.

상기 프로버의 반입측에는 상기 컨베이어 라인 위에 출몰(出沒)가능하도록 배치되어 상기 컨베이어 라인 위를 이송되어 온 검사대상판을 위치결정하고 지지하는 클램프와, 상기 클램프로 지지한 검사대상판을 위쪽으로 들어올려서 상기 반입기구에 전달하는 리프터를 구비하는 것이 바람직하다.On the carry-in side of the prober, a clamp is disposed on the conveyor line so as to be protruding and lifts the clamp to position and support the inspected plate conveyed on the conveyor line, and the inspected plate supported by the clamp upwards. It is preferable to have a lifter for delivering to the loading mechanism.

이에 따라, 클램프로 위치결정되어 리프터에 의해 위쪽으로 들어올려진 검사대상판을 반입기구가 잡아서 프로버 내에 정확하게 반입하는 것이 가능해진다.As a result, it is possible to accurately carry the inspection object plate positioned by the clamp and lifted upward by the lifter into the prober.

또한, 상기 프로버의 하우징은 그 반입측 및 반출측에 셔터를 구비하는 것이 바람직하다.In addition, the housing of the prober is preferably provided with a shutter on the carry-in side and the carry-out side thereof.

이에 따라, 셔터가 닫혀지는 것으로 차광이 되며, 스크린 위에 선명한 영상을 투영할 수 있다.Accordingly, the shutter is closed when the shutter is closed, so that a clear image can be projected on the screen.

이하, 본 발명의 실시형태에 따른 검사장치에 대해서, 첨부도면을 참조하면서 설명하도록 하겠다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, the inspection apparatus which concerns on embodiment of this invention is demonstrated, referring an accompanying drawing.

도1은 본 실시형태에 따른 검사장치를 나타낸 정면도, 도2는 본 실시형태에 따른 검사장치를 나타낸 사시도, 도3은 본 실시형태에 따른 검사장치를 나타낸 평면도, 도4는 본 실시형태에 따른 검사장치의 반입기구 및 프로버를 나타낸 정면도, 도5는 본 실시형태에 따른 검사장치의 반입기구를 나타낸 사시도, 도6은 본 실시형태에 따른 검사장치의 패널 클램프와 패널 리프터를 나타낸 사시도, 도7은 본 실시형태에 따른 검사장치의 프로버를 나타낸 개략측면도이다. 아울러, 여기에서는 검사대상판으로서 액정패널을 예로 들어 설명한다.1 is a front view showing the inspection apparatus according to the present embodiment, FIG. 2 is a perspective view showing the inspection apparatus according to the present embodiment, FIG. 3 is a plan view showing the inspection apparatus according to the present embodiment, and FIG. 5 is a perspective view showing a carrying mechanism and a prober of the inspection apparatus according to the present invention, FIG. 5 is a perspective view showing a carrying mechanism of the inspection apparatus according to the present embodiment, and FIG. 6 is a perspective view showing a panel clamp and a panel lifter of the inspection apparatus according to the present embodiment. 7 is a schematic side view showing a prober of the inspection apparatus according to the present embodiment. In addition, it demonstrates here taking a liquid crystal panel as an example to test | inspection plate.

본 실시형태에 따른 검사장치(1)는, 도1 내지 도4에 나타낸 바와 같이, 액정패널의 제조처리공정의 도중에 삽입되어, 액정패널의 점등검사를 행하는 장치이다. 이 검사장치(1)는, 예를 들면 액정패널의 셀 공정과 모듈 공정과의 사이에 장착되며, 전(前)공정인 셀 공정을 마친 액정패널이 검사장치(1)에서 점등검사되고, 후(後)공정인 모듈공정으로 이송된다.The inspection apparatus 1 which concerns on this embodiment is an apparatus which is inserted in the middle of the manufacturing process of a liquid crystal panel, and performs the lighting test of a liquid crystal panel, as shown to FIG. This inspection apparatus 1 is mounted between the cell process of a liquid crystal panel and a module process, for example, The liquid crystal panel which completed the cell process which was a previous process is light-tested by the inspection apparatus 1, and after (Iii) transferred to the module process,

검사장치(1)는 주로, 반입측 컨베이어(2)와, 반입기구(3)와, 프로버(4)와, 반출기구(5)와, 반출측 컨베이어(6)로 구성된다.The inspection apparatus 1 is mainly comprised by the carry-in conveyor 2, the carry-in mechanism 3, the prober 4, the carry-out mechanism 5, and the carry-out conveyor 6. As shown in FIG.

반입측 컨베이어(2)는 전 공정에서 반송되어 온 액정패널(7)을 프로버(4)의 반입구까지 안내하기 위한 컨베이어이다. 이 반입측 컨베이어(2)는 롤러 컨베이어로 구성된다. 반입측 컨베이어(2)는 구체적으로는 롤러(2A)와 이 롤러(2A)를 회전가능하도록 지지하는 회전축(2B)과 이 회전축(2B)의 양 끝을 지지하는 롤러가이드(2C)로 구성된다. 아울러 롤러(2A)는 자유롭게 회전할 수 있도록 하는 것도 바람직하며, 구동모터(도시 생략)에 연결해서 구동모터로 회전구동시키는 것도 바람직 하다.The carry-in side conveyor 2 is a conveyor for guiding the liquid crystal panel 7 conveyed in the previous process to the carrying inlet of the prober 4. This carry-in conveyor 2 consists of a roller conveyor. The carrying-in conveyor 2 is specifically comprised by the roller 2A, the rotating shaft 2B which supports this roller 2A rotatably, and the roller guide 2C which supports both ends of this rotating shaft 2B. . In addition, it is also preferable that the roller 2A can rotate freely, and it is also preferable that the roller 2A be rotated by the drive motor by being connected to a drive motor (not shown).

이 반입측 컨베이어(2) 내에는, 도5 및 도6에 나타낸 바와 같이, 패널 클램프(8)와 패널 리프터(9)가 설치된다. 이들 패널 클램프(8)와 패널 리프터(9)는 액정패널(7)이 이송되는 컨베이어 라인 위에 위치하며, 반입측 컨베이어(2) 내에 출몰(出沒) 가능하도록 삽입된다. In this carrying-in conveyor 2, as shown to FIG. 5 and FIG. 6, the panel clamp 8 and the panel lifter 9 are provided. These panel clamps 8 and the panel lifter 9 are positioned on the conveyor line to which the liquid crystal panel 7 is conveyed, and are inserted into the carry-in conveyor 2 so that they can be projected out.

패널 클램프(8)는 반입측 컨베이어(2)로 안내되어 온 액정패널(7)을 위치결정하고 지지하기 위한 기구이다. 이 패널 클램프(8)는 X 패널 클램프부(8A)와 Y 패널 클램프부(8B)로 구성된다. X 패널 클램프부(8A)는 X방향(컨베이어 라인을 따르는 방향이다. 액정패널(7)이 이송되는 방향)에 설치되고, 액정패널(7)의 X방향의 위치를 조정하기 위한 기구이다. X 패널 클램프(8A)는 베이스 판(12)과 안내레일(13)과 슬라이더(14)와 실린더(15)와 클램프 편(片)(16)과 이동기구(도시 생략)로 구성된다. 베이스판(12)은 반입측 컨베이어(2) 측에 고정되어 안내레일(13)을 지지하기 위한 판 재료이다. 안내레일(13)은 두개의 슬라이더(14)를 슬라이드 가능하도록 지지하기 위한 레일이다. 이 안내레일(13)은 베이스판(12)에 일체로 고정되며 상기 X축 방향을 따라 설치된다. 슬라이더(14)는 안내레일(13)에 슬라이드 가능하도록 설치된다. 슬라이더(14)는 마주보도록 2개가 설치되며, 안내레일(13)에 안내되어 서로 근접하게 이격되어 형성된다. 실린더(15)는 클램프편(16)을 상하로 이동시키기 위한 기구이다. 실린더(15)는 신축방향을 수직으로 향한 상태로 슬라이더(14)에 일체로 고정되어 있다. 실린더(15)는 전동이나 유압 등에 의해 신축되도록 구성된다. 이에 따라, 실린더(15)는 클램프편(16)을 반입측 컨베이어(2)의 반송 면(반송되는 액정패널(7)이 위치하는 면)으로부터 출몰시키도록 형성된다. 이 실린더(15)는 통상적으로는 수축하여 대기상태가 되며, 반입측 컨베이어(2)로 반송되어 온 액정패널(7)을 설정위치로 위치 결정할 때 연장되어 클램프편(16)이 상기 반송면으로부터 연장되도록 형성된다. 클램프편(16)은 액정패널에 직접 접촉하여 액정패널(7)의 위치결정을 행하기 위한 부재이다. 이 클램프편(16)은 탄성을 갖는 원통형상의 합성수지를 두개 나열해서 구성된다.The panel clamp 8 is a mechanism for positioning and supporting the liquid crystal panel 7 guided to the carry-in conveyor 2. The panel clamp 8 is composed of an X panel clamp portion 8A and a Y panel clamp portion 8B. The X panel clamp portion 8A is provided in the X direction (the direction along the conveyor line. The direction in which the liquid crystal panel 7 is conveyed) and is a mechanism for adjusting the position of the liquid crystal panel 7 in the X direction. The X panel clamp 8A is composed of a base plate 12, a guide rail 13, a slider 14, a cylinder 15, a clamp piece 16, and a moving mechanism (not shown). The base plate 12 is a plate material fixed to the carrying-in side conveyor 2 side and supporting the guide rail 13. The guide rail 13 is a rail for slidably supporting the two sliders 14. The guide rail 13 is integrally fixed to the base plate 12 and is installed along the X-axis direction. The slider 14 is provided to be slidable to the guide rail 13. Two sliders 14 are provided to face each other and are guided to the guide rails 13 so as to be spaced apart from each other. The cylinder 15 is a mechanism for moving the clamp piece 16 up and down. The cylinder 15 is fixed integrally to the slider 14 in a state in which the stretching direction is vertically directed. The cylinder 15 is configured to expand and contract by electric or hydraulic pressure. Thereby, the cylinder 15 is formed so that the clamp piece 16 may be settled out from the conveyance surface (surface in which the liquid crystal panel 7 to be conveyed is located) of the carrying-in conveyor 2. This cylinder 15 is usually contracted and put into a standby state, and is extended when positioning the liquid crystal panel 7 which has been conveyed to the carrying-in conveyor 2 to the set position so that the clamp piece 16 is moved from the conveying surface. It is formed to extend. The clamp piece 16 is a member for directly positioning the liquid crystal panel 7 in direct contact with the liquid crystal panel. This clamp piece 16 is comprised by arranging two elastic synthetic cylindrical resins.

Y패널 클램프부(8B)는 Y방향에 배치되며, 액정패널(7)의 Y방향의 위치를 조정하기 위한 기구이다. Y패널 클램프부(8B)는 베이스판(20)과 안내레일(21)과 슬라이더(22)와 클램프편(23)과 이동기구(도시 생략)로 구성된다. 베이스판(20)은 반입측 컨베이어(2)측에 고정되어 안내레일(21)을 지지하기 위한 판재이다. 안내레일(21)은 두개의 슬라이더(22)를 슬라이드 가능하도록 지지하기 위한 레일이다. 이 안내레일(21)은 베이스판(20)에 일체로 고정되며, 상기 Y축방향을 따라 배치된다. 슬라이더(22)는 안내레일(21)에 슬라이드 가능하도록 설치된다. 슬라이더(22)는 마주보도록 2개가 설치되며, 안내 레일(21)에 안내되어 서로 근접하게 이격되도록 형성된다. 각 슬라이더(22)는 도시하지 않는 이동기구에 지지되며, 서로 근접하게 이격되도록 형성된다. 클램프편(23)은 액정패널(7)에 직접 접촉하여 액정패널(7)의 위치결정을 행하기 위한 부재이다. 이 클램프편(23)은 탄성을 갖는 원통형상의 합성수지를 두개로 나열해서 구성된다. 각 클램프편(23)은 거의 U자형으로 형성된 프레임(24)의 앞쪽 끝에 설치된다. 이 프레임(24)의 높이는 클램프편(23)이 반송면으로부터 위쪽으로 연장하여 액정패널(7)의 가장자리에 접촉할 수 있는 높이로 설정 된다. 각 클램프편(23)은 상기 이동기구에 의해 통상적으로 반입측 컨베이어(2)의 폭방향의 가장 바깥쪽에 위치한 대기상태로 놓여지며, X패널 클램프부(8A)로 액정패널(7)이 위치결정될 때 서로 근접하도록 제어된다. 이에 따라 이 X패널 클램프부(8A)와 연동해서 액정패널(7)을 XY방향으로 정확하게 위치결정하도록 형성된다. 이 X패널 클램프부(8A)와 Y패널 클램프부(8B)로 정확하게 위치결정된 액정패널(7)은 패널 리프터(9)에 전달된다. 아울러, 패널 클램프(8)에는 필요에 따라 액정패널(7)의 위치를 검출하는 센서를 구비해도 좋다. 이 센서에 의해 액정패널(7)이 X패널 클램프부(8A)와 Y패널 클램프부(8B)로 위치결정이 가능한 위치에 있는 것을 검출한 후 패널 클램프(8)를 작동시키게 한다.The Y panel clamp portion 8B is arranged in the Y direction and is a mechanism for adjusting the position of the liquid crystal panel 7 in the Y direction. The Y panel clamp portion 8B is composed of a base plate 20, a guide rail 21, a slider 22, a clamp piece 23, and a moving mechanism (not shown). The base plate 20 is a plate material fixed to the carrying-in side conveyor 2 side to support the guide rail 21. The guide rail 21 is a rail for slidably supporting the two sliders 22. The guide rail 21 is integrally fixed to the base plate 20 and is disposed along the Y axis direction. The slider 22 is provided to be slidable to the guide rail 21. Two sliders 22 are installed to face each other, and are guided by the guide rails 21 to be spaced apart from each other. Each slider 22 is supported by a moving mechanism not shown and is formed to be spaced close to each other. The clamping piece 23 is a member for directly contacting the liquid crystal panel 7 to position the liquid crystal panel 7. The clamp piece 23 is configured by arranging two elastic synthetic cylindrical resins. Each clamp piece 23 is provided at the front end of the frame 24 formed substantially in a U shape. The height of the frame 24 is set to a height at which the clamping piece 23 extends upward from the carrying surface to contact the edge of the liquid crystal panel 7. Each clamp piece 23 is placed in the standby state, which is usually located at the outermost side in the width direction of the carry-in conveyor 2 by the moving mechanism, and the liquid crystal panel 7 is positioned with the X panel clamp portion 8A. When controlled to approach each other. As a result, the liquid crystal panel 7 is precisely positioned in the XY direction in conjunction with the X panel clamp portion 8A. The liquid crystal panel 7 accurately positioned by the X panel clamp portion 8A and the Y panel clamp portion 8B is transferred to the panel lifter 9. In addition, the panel clamp 8 may be provided with the sensor which detects the position of the liquid crystal panel 7 as needed. The sensor detects that the liquid crystal panel 7 is in a position where positioning is possible with the X panel clamp portion 8A and the Y panel clamp portion 8B, and then activates the panel clamp 8.

패널 리프터(9)는 패널 클램프(8)로 위치결정해서 지지된 액정패널(7)을 위쪽으로 들어올려서 반입기구(3)에 전달하기 위한 장치이다. 패널 리프터(9)는 베이스판(26)과 가이드부재(27)와 구동모터(28)와 지주(支柱)(29)와 패드(30)로 구성된다. 베이스판(26)은 패널 리프터(9) 전체를 지지하기 위한 판재이다. 베이스판(26)은 반입측 컨베이어(2)의 프레임(32)에 고정된다. 가이드부재(27)는 베이스판(26)에 슬라이드 가능하도록 지지되며, 상하 방향으로 이동하는 부재이다. 가이드 부재(27)는 베이스판(26)에 슬라이드 가능하도록 지지된 4개의 가이드봉(33)과 각 가이드봉(33)을 일체로 지지하는 가이드판(34)으로 구성된다. 구동모터(28)는 가이드부재(27)를 상하로 이동시키기 위한 모터이다. 구동모터(28)는 볼 나사 등을 통해서 가이드부재(27)에 연결되며 구동모터(28)의 회전에 의해 가이드부재(27)가 상하로 승강하도록 형성된다. 지주(29)는 패드(30)를 지지하기 위한 부재이며, 가이드 부재(27)의 가이드판(34)에 4개가 설치된다. 패드(30)는 액정패널(7)의 아랫면에 접촉하여 액정패널(7)을 지지하기 위한 부재이며, 탄성을 갖는 합성수지로 이루어지고, 역원추형으로 형성된다.The panel lifter 9 is a device for lifting and supporting the liquid crystal panel 7 positioned and supported by the panel clamp 8 to the carrying-in mechanism 3. The panel lifter 9 is composed of a base plate 26, a guide member 27, a drive motor 28, a strut 29, and a pad 30. The base plate 26 is a plate for supporting the entire panel lifter 9. The base plate 26 is fixed to the frame 32 of the carry-in conveyor 2. The guide member 27 is slidably supported by the base plate 26 and is a member that moves in the vertical direction. The guide member 27 is comprised from the four guide rods 33 slidably supported by the base plate 26, and the guide plate 34 which supports each guide rod 33 integrally. The drive motor 28 is a motor for moving the guide member 27 up and down. The drive motor 28 is connected to the guide member 27 through a ball screw, etc., and is formed to move the guide member 27 up and down by the rotation of the drive motor 28. The struts 29 are members for supporting the pads 30, and four are provided in the guide plates 34 of the guide members 27. The pad 30 is a member for supporting the liquid crystal panel 7 in contact with the bottom surface of the liquid crystal panel 7. The pad 30 is made of synthetic resin having elasticity and is formed in an inverted cone shape.

반입기구(3)는 도1 내지 도4에 나타낸 바와 같이, 액정패널(7)을 프로버(4) 내에 반입하기 위한 기구이다. 반입기구(3)는 흡착부(37)와 반송 암(arm)(38)과, 이동기구(도시 생략)로 구성된다. 흡착부(37)는 액정패널(7)의 표면에 흡착해서 액정패널(7)을 지지하기 위한 부분이다. 반송 암(arm)(38)은 그 선단부의 흡착부(37)를 통해서 액정패널(7)을 지지하고, 프로버(4) 내로 운반하기 위한 부재이다. 반송 암(38)은 수평방향으로 길게 연장해서 형성되며 액정패널(7)을 프로버(4) 내의 중심부까지 삽입할 수 있도록 형성된다. 이동기구는 반송 암(38)을 지지하여 이 반송 암(38)으로 지지된 액정패널(7)을 프로버(4) 내의 중심부까지 삽입하기 위한 기구이다. 이동기구는 반송 암(38)을 수평방향으로 이동시키는 장치(도시 생략)를 구비하여 구성된다.As shown in Figs. 1 to 4, the carrying in mechanism 3 is a mechanism for carrying the liquid crystal panel 7 into the prober 4. The carrying-in mechanism 3 is comprised from the adsorption | suction part 37, the conveyance arm 38, and a moving mechanism (not shown). The adsorption part 37 is a part which adsorb | sucks on the surface of the liquid crystal panel 7, and supports the liquid crystal panel 7. As shown in FIG. The conveyance arm 38 is a member for supporting the liquid crystal panel 7 through the adsorption portion 37 of the distal end thereof and for transporting it into the prober 4. The conveyance arm 38 extends in the horizontal direction and is formed so that the liquid crystal panel 7 can be inserted to the center part of the prober 4. The moving mechanism is a mechanism for supporting the transfer arm 38 and inserting the liquid crystal panel 7 supported by the transfer arm 38 to the center portion of the prober 4. The moving mechanism is provided with the apparatus (not shown) which moves the conveyance arm 38 in a horizontal direction.

프로버(4)는 액정패널(7)의 점등검사를 행하기 위한 장치이다. 프로버(4)는 액정패널(7)의 제조처리공정의 컨베이어 라인 위에 배치된다. 프로버(4)는 도1 및 도7에 나타낸 바와 같이, 하우징(41), 워크테이블(42), 백라이트(43), Z스테이지(44), 프로브 유닛(45), 스크린(46), 광학계(47), 편광판(48), 미러(49), 셔터(50)로 구성된다.The prober 4 is a device for inspecting the lighting of the liquid crystal panel 7. The prober 4 is arranged on the conveyor line of the manufacturing process of the liquid crystal panel 7. As shown in Figs. 1 and 7, the prober 4 includes a housing 41, a work table 42, a backlight 43, a Z stage 44, a probe unit 45, a screen 46, and an optical system. 47, a polarizing plate 48, a mirror 49, and a shutter 50.

하우징(41)은 프로버(4)의 외곽을 구성하기 위한 부재이다. 이 하우징(41) 안은 차광되어 암실로 형성되며, 이 암실 내에서 액정패널(7)의 검사대상면의 영상 을 스크린(46) 위에 효율적으로 투영하도록 형성된다.The housing 41 is a member for constituting the outline of the prober 4. The inside of the housing 41 is shielded and formed into a dark room, in which the image of the inspection target surface of the liquid crystal panel 7 is projected on the screen 46 efficiently.

워크테이블(42)은 점등검사를 위한 액정패널(7)이 놓여지는 부재이다. 워크테이블(42)은 하우징(41)내의 상기 컨베이어 라인 위에 배치된다. 이에 따라 워크테이블(42)을 상기 컨베이어 라인 위에서 벗어난 위치에 배치됨으로써 생기는 액정패널(7)의 반송시의 불필요한 작동을 억제한다.The work table 42 is a member on which the liquid crystal panel 7 for lighting inspection is placed. The worktable 42 is disposed above the conveyor line in the housing 41. Thereby, unnecessary operation | movement at the time of conveyance of the liquid crystal panel 7 which arises by arrange | positioning the worktable 42 in the position off on the said conveyor line is suppressed.

백라이트(43)는 액정패널(7)을 그 뒷면측에서 조사하여 그 액정패널(7)의 영상을 스크린(46) 위에 투영하기 위한 광원이다. 백라이트(43)는 워크테이블(42)과 Z스테이지(44)의 사이에 설치되며 워크테이블(42)에 놓여진 액정패널(7)을 그 뒷면에서 조사하도록 된다.The backlight 43 is a light source for irradiating the liquid crystal panel 7 from the rear side thereof and projecting an image of the liquid crystal panel 7 onto the screen 46. The backlight 43 is installed between the work table 42 and the Z stage 44 to irradiate the liquid crystal panel 7 placed on the work table 42 from the rear side thereof.

Z스테이지(44)는 워크테이블(42)을 지지해서 상하방향으로 이동시키기 위한 장치이다. 이 Z스테이지(44)는 워크테이블(42)을 상승시키는 것으로 반송 암(38)에 지지되어 Z 스테이지(44)의 바로 위까지 이동된 액정패널(7)을 수용하도록 된다. 게다가, Z 스테이지(44)는 워크테이블(42) 위에 놓여진 액정패널(7)에 프로브 유닛(45)의 프로브 침(도시 생략)을 접촉시킬 때 워크테이블(42)을 상하로 이동시켜서 조정한다.The Z stage 44 is a device for supporting the work table 42 and moving it in the vertical direction. The Z stage 44 raises the work table 42 to accommodate the liquid crystal panel 7 which is supported by the transfer arm 38 and moved up to the top of the Z stage 44. In addition, the Z stage 44 moves and adjusts the worktable 42 up and down when the probe needle (not shown) of the probe unit 45 is brought into contact with the liquid crystal panel 7 placed on the worktable 42.

프로브 유닛(45)은 액정패널(7)의 점등시험을 행하기 위한 부재이다. 프로브 유닛(45)은 그 선단부에 프로브 침(도시 생략)을 구비하며, 이 프로브 침이 액정패널(7)의 단자부(도시 생략)에 접촉하여 점등시험이 행해진다.The probe unit 45 is a member for performing a lighting test of the liquid crystal panel 7. The probe unit 45 is provided with a probe needle (not shown) at its tip, and the probe needle contacts the terminal portion (not shown) of the liquid crystal panel 7 to perform a lighting test.

스크린(46)은 액정패널(7)의 표면의 영상을 투영하기 위한 부재이다. 이 스크린(46)은 투과형이며, 백라이트(43)로 뒷면에서 조사된 상태에서 점등시험을 행 하고 있는 액정패널(7)의 표면의 영상을 확대축소해서 선명하게 투영하도록 형성된다. 스크린(46)은 하우징(41) 내에 상기 컨베이어 라인과 직교하는 벽면에 외부로부터 인식할 수 있도록 설치된다. 이에 따라, 프로젝션 텔레비전과 마찬가지로 점등시험을 행하고 있는 액정패널(7)의 표면의 영상을 확대축소해서 선명하게 투영할 수 있도록 형성된다.The screen 46 is a member for projecting an image of the surface of the liquid crystal panel 7. This screen 46 is transmissive, and is formed to enlarge and reduce the image of the surface of the liquid crystal panel 7 which is being tested by illuminating the backlight 43 with the backlight 43 and projecting it clearly. The screen 46 is installed on the wall 41 orthogonal to the conveyor line in the housing 41 so as to be recognized from the outside. Thereby, it is formed so that the image of the surface of the liquid crystal panel 7 which is performing the lighting test similarly to a projection television can be enlarged and reduced and projected clearly.

광학계(47)는 스크린(46) 위에 초점을 좁히기 위한 부재로, 한개 또는 복수개의 렌즈로 구성된다. 이 광학계(47)로 점등시험을 행하고 있는 액정패널(7)의 표면의 영상을 스크린(46) 위에 확대해서 선명하게 투영하도록 형성되어 있다. The optical system 47 is a member for narrowing the focus on the screen 46 and is composed of one or a plurality of lenses. It is formed so that the image of the surface of the liquid crystal panel 7 which is performing the lighting test by this optical system 47 is enlarged on the screen 46 and projected clearly.

편광판(48)은 액정패널(7)로부터의 영상광을 편광시키기 위한 부재이다. 이 편광판(48)은 본래 액정패널(7)에 삽입되어 있는 편광판 대신에 설치된다. 즉, 액정패널(7)이 제조 도중에, 아직 편광판이 삽입되어 있지 않은 상태로 점등검사를 행하기 때문에, 액정패널(7)에 삽입되는 편광판 대신 상기 편광판(48)이 광학계(47)의 광원 측(아래쪽)에 설치된다.The polarizing plate 48 is a member for polarizing the video light from the liquid crystal panel 7. This polarizing plate 48 is provided in place of the polarizing plate originally inserted into the liquid crystal panel 7. That is, since the liquid crystal panel 7 performs the lighting test while the polarizing plate is not inserted in the middle of the manufacturing process, the polarizing plate 48 is placed on the light source side of the optical system 47 instead of the polarizing plate inserted into the liquid crystal panel 7. It is installed at the bottom.

미러(49)는 액정패널(7)로부터의 영상광을 스크린(46) 쪽으로 반사시키기 위한 미러이다.The mirror 49 is a mirror for reflecting the image light from the liquid crystal panel 7 toward the screen 46.

셔터(50)는 하우징(41)에 액정패널(7)이 출입될 때 개폐하기 위한 부재이다. 하우징(41) 안은 스크린(46) 위에 선명한 영상을 투영하기 위해 암실로 되어 있으며, 액정패널(7)의 출입구를 차광하기 위해 셔터(50)가 반입측 및 반출측의 각각에 설치되어 있다.The shutter 50 is a member for opening and closing when the liquid crystal panel 7 enters and exits the housing 41. Inside the housing 41 is a dark room for projecting a clear image on the screen 46, and a shutter 50 is provided on each of the carrying in side and the carrying out side to shield the entrance and exit of the liquid crystal panel 7.

반출기구(5)는 프로버(4)에서 검사가 종료된 액정패널(7)을 후공정측의 상기 컨베이어 라인 위에 반출하기 위한 기구이다. 이 반출기구(5)는 상기 반입기구(3)와 같은 구성을 갖고 있다.The discharging mechanism 5 is a mechanism for discharging the liquid crystal panel 7 whose inspection is completed by the prober 4 onto the conveyor line on the post-process side. This carrying out mechanism 5 has the same structure as the carrying in mechanism 3 mentioned above.

반출측 컨베이어(6)는 반출기구(5)로부터 액정패널(7)을 수용하여 후공정으로 보내기 위한 장치이다. 이 반출측 컨베이어(6)는 상기 반입측 컨베이어(2)와 같은 구성을 갖고 있다. 반출측 컨베이어(6)에는 반입측 컨베이어(2)의 패널 클램프(8) 및 패널 리프터(9)와 같은 구성의 패널 클램프(8) 및 패널 리프터(9)가 설치되어 있다.The carrying-out conveyor 6 is an apparatus for receiving the liquid crystal panel 7 from the carrying out mechanism 5 and sending it to a post process. This carry-out conveyor 6 has the same structure as the carry-in conveyor 2. The carry-out conveyor 6 is provided with a panel clamp 8 and a panel lifter 9 having the same configuration as the panel clamp 8 and the panel lifter 9 of the carry-in conveyor 2.

상기 각 장치는 제어부(도시 생략)에 접속되어 있다. 이 제어부에는 뒤에 설명하는 동작을 제어하는 제어프로그램이 내장되어 있다.Each said device is connected to the control part (not shown). This control unit has a built-in control program for controlling the operations described later.

이상에서와 같이 구성된 검사장치(1)는 다음과 같이 동작한다.The inspection apparatus 1 configured as described above operates as follows.

전공정으로부터 이송된 액정패널(7)은 검사장치(1)의 반입측 컨베이어(2)에 유입되며, 이 반입측 컨베이어(2)에 안내되어 프로버(4)의 반입구까지 이동한다. 이어서, 패널 클램프(8)의 X패널 클램프부(8A)가 작동하고 각 클램프편(16)이 상승되며, X방향 전후에서 액정패널(7)을 집어서 고정함으로써 X방향의 위치를 결정한다. 이와 동시에 Y 패널 클램프부(8B)도 작동하여, Y방향의 위치를 결정한다. 이에 따라 액정패널(7)이 그 XY방향으로 정확하게 위치가 결정된다.The liquid crystal panel 7 transferred from the previous process flows into the carry-in conveyor 2 of the inspection apparatus 1, and is guided to the carry-in conveyor 2 to the carry-in port of the prober 4. Subsequently, the X-panel clamp part 8A of the panel clamp 8 is operated, each clamp piece 16 is raised, and the position of the X direction is determined by picking up and fixing the liquid crystal panel 7 before and after X direction. At the same time, the Y panel clamp portion 8B also operates to determine the position in the Y direction. As a result, the liquid crystal panel 7 is accurately positioned in the XY direction.

다음에, X패널 클램프부(8A) 및 Y패널 클램프부(8B)의 클램프편(16, 23)이 조금 열리고, 패널 리프터(9)가 작동하여 가이드부재(27)가 상승된다. 이에 따라 패드(30)가 액정패널(7)의 아래쪽 면에 접촉하여 액정패널(7)을 들어올린다. 패널 리프터(9)로 들어올려진 액정패널(7)은 반입기구(3)의 흡착부(37)에 접촉되며, 이 흡착부(37)로 흡착하여 지지된다. 이어서, 상류측의 셔터(50)가 개방되어 반입기구(3)의 반송 암(38)이 컨베이어 라인방향으로 수평이동해서 액정패널(7)을 프로버(4)의 하우징(41) 내에 삽입한다. 구체적으로는 하우징(41) 내의 워크테이블(42)의 바로 위까지 이동되며, Z스테이지(44)에서 워크테이블(42)이 상승하여 액정패널(7)이 워크테이블(42) 위에 놓여진다. 그리고, 반입기구(3)는 하우징(41)으로부터 꺼내지며 셔터(50)가 닫힌다.Next, the clamp pieces 16 and 23 of the X panel clamp part 8A and the Y panel clamp part 8B are slightly opened, and the panel lifter 9 is operated to raise the guide member 27. Accordingly, the pad 30 contacts the lower surface of the liquid crystal panel 7 to lift the liquid crystal panel 7. The liquid crystal panel 7 lifted by the panel lifter 9 is in contact with the adsorption part 37 of the loading mechanism 3, and is adsorbed and supported by this adsorption part 37. Subsequently, the upstream shutter 50 is opened so that the transfer arm 38 of the loading mechanism 3 horizontally moves in the conveyor line direction to insert the liquid crystal panel 7 into the housing 41 of the prober 4. . Specifically, it moves to just above the work table 42 in the housing 41, and the work table 42 is raised in the Z stage 44 so that the liquid crystal panel 7 is placed on the work table 42. Then, the loading mechanism 3 is taken out of the housing 41 and the shutter 50 is closed.

이어서, Z스테이지(44)가 상승하여 프로브유닛(45)의 각 프로브 침이 액정패널(7)의 각 전극에 접촉된다. 그리고, 액정패널(7)에 통전됨과 동시에 백라이트(43)가 점등된다. 이에 따라, 액정패널(7)의 표면의 영상은 편광판(48)을 통해서 광학계(47)로 초점이 모아지며, 미러(49)로 반사되어 스크린(46)에 확대되어 선명하게 투영된다. 검사자는 이 스크린(46)을 보면서 검사를 행한다.Subsequently, the Z stage 44 is raised so that each probe needle of the probe unit 45 contacts each electrode of the liquid crystal panel 7. The backlight 43 is turned on at the same time as the liquid crystal panel 7 is energized. Accordingly, the image of the surface of the liquid crystal panel 7 is focused by the optical system 47 through the polarizing plate 48, reflected by the mirror 49, and magnified and projected clearly on the screen 46. The inspector checks while viewing this screen 46.

액정패널(7)의 검사가 종료하면, 하류측의 셔터(50)가 개방되고, 반출기구(5)의 반송 암(38)이 하우징(41)내에 삽입되고, 흡착부(37)가 워크테이블(42)의 바로 위까지 이동된다. 이어서, 워크테이블(42)이 상승되고, 이에 따라 워크테이블(42) 위의 액정패널(7)을 흡착부(37)에 접촉해서 이 흡착부(37)로 흡착하여 지지되며, 하우징(41)의 외부로 배출된다. 외부에 반출된 액정패널(7)은 반출측 컨베이어(6) 위에 놓여져서 하류측의 컨베이어 라인으로 이송된다.When the inspection of the liquid crystal panel 7 is finished, the downstream shutter 50 is opened, the transfer arm 38 of the discharging mechanism 5 is inserted into the housing 41, and the suction part 37 is provided with the worktable. Is moved to just above 42. Subsequently, the work table 42 is raised, and thus the liquid crystal panel 7 on the work table 42 is brought into contact with the adsorption part 37 to be adsorbed and supported by the adsorption part 37, and the housing 41 is supported. Is discharged to the outside. The liquid crystal panel 7 carried out to the outside is placed on the carrying-out conveyor 6 and transferred to the downstream conveyor line.

본 발명은 상기 실시예에 한정되지 않고, 그 취지를 벗어나지 않는 한, 각종 변경이 가능하다.The present invention is not limited to the above embodiments, and various changes can be made without departing from the spirit thereof.

본 발명에 따른 검사장치(1)는 상기와 같이 작동함으로써 다음과 같은 효과를 갖는다. 검사장치(1)의 프로버(4)를 액정채널(7)의 제조처리공정의 컨베이어 라인 위에 설치하기 때문에, 검사장치(1)를 위한 특별 공간이 불필요하게 되며, 이에 따라 공간 절약화를 달성할 수 있다.The inspection device 1 according to the present invention has the following effects by operating as described above. Since the prober 4 of the inspection apparatus 1 is installed on the conveyor line of the manufacturing process of the liquid crystal channel 7, a special space for the inspection apparatus 1 becomes unnecessary, thereby achieving a space saving. can do.

또한, 컨베이어 라인 위를 이송해 온 액정패널(7)을 그 컨베이어 라인 위에서 검사하여 그대로 컨베이어 라인 위에서 이송되기 때문에 불필요한 작업이 없어지며 작업효율이 향상될 수 있다.In addition, since the liquid crystal panel 7 transferred on the conveyor line is inspected on the conveyor line, the liquid crystal panel 7 is transferred on the conveyor line as it is, thus eliminating unnecessary work and improving work efficiency.

프로버(4)를 하우징(41), 워크테이블(42), 백라이트(43), Z스테이지(44), 프로브유닛(45), 스크린(46), 광학계(47), 편광판(48), 미러(49), 셔터(50)를 구비하며, 액정패널(7)을 컨베이어 라인 위에서 정확하게 위치결정하여 반송하기 때문에 불필요한 작업이 없어지고 작업효율이 향상될 수 있다.The prober 4 has a housing 41, a work table 42, a backlight 43, a Z stage 44, a probe unit 45, a screen 46, an optical system 47, a polarizer 48, and a mirror. 49, the shutter 50 is provided, and since the liquid crystal panel 7 is accurately positioned and conveyed on the conveyor line, unnecessary work is eliminated and work efficiency can be improved.

게다가, 하우징(41) 및 셔터(50)로 하우징(41) 내를 암실로 형성하여 광학계(47) 등으로 스크린(46)에 확대된(액정패널(7)이 스크린(46)보다 큰 경우는 축소된) 선명한 화상을 투영하도록 했기 때문에 검사정밀도를 향상 시킬 수 있다.In addition, when the inside of the housing 41 is formed as a dark room by the housing 41 and the shutter 50 and is enlarged on the screen 46 by the optical system 47 or the like (when the liquid crystal panel 7 is larger than the screen 46, It is possible to improve the inspection accuracy because it is to project the reduced (clear) image.

상기 패널클램프(8)로 위치결정되어 패널 리프터(9)에서 위쪽으로 들어올려진 액정패널(7)을 반입기구(3)가 집어서 프로버(4) 내에 정확하게 반입할 수 있기 때문에 불필요한 작업이 없어지고 작업효율을 향상시킬 수 있다.There is no unnecessary work because the carrying mechanism 3 picks up the liquid crystal panel 7 positioned by the panel clamp 8 and lifted upward from the panel lifter 9 and can be carried in the prober 4 accurately. Can improve the working efficiency.

본 발명의 단순한 변형 내지 변경은 이 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의 하여 용이하게 이용될 수 있으며, 이러한 변형이나 변경은 모두 본 발명의 영역에 포함되는 것으로 볼 수 있다.Simple modifications and variations of the present invention can be readily used by those skilled in the art, and all such variations or modifications can be considered to be included within the scope of the present invention.

Claims (3)

검사대상판의 처리공정의 도중에 삽입되는 검사장치로, Inspector inserted into the inspection process of the plate, 상기 처리공정의 컨베이어 라인 위에 설치되어 상기 검사대상판을 검사하는 프로버와, 상기 컨베이어 라인 위를 상기 프로버까지 안내된 상기 검사대상판을 상기 프로버 내에 반입하는 반입기구와, 상기 프로버에서 검사가 종료된 검사대상판을 후공정측의 상기 컨베이어 라인 위에 반출하는 반출기구를 구비하며,A prober installed on the conveyor line of the processing step to inspect the inspection target plate, an import mechanism for carrying the inspection target plate guided on the conveyor line to the prober into the prober, and an inspection at the prober. A carrying-out mechanism for discharging the finished inspection target plate onto the conveyor line on the post-process side; 상기 프로버가 외곽을 구성하는 하우징과 이 하우징 내에 수납되어 상기 검사대상판이 놓여진 워크테이블과, 이 워크테이블에 놓여진 상기 검사대상판을 조사하는 광(光)과, 상기 검사대상판의 시험을 행하는 프로브유닛과, 상기 하우징에 외부로부터 인식할 수 있도록 설치되고 상기 광으로 조사된 상기 검사대상판의 영상을 투영하는 스크린을 구비하고,A probe unit configured to test the inspection target plate, a work table on which the prober is formed, and a work table in which the inspection object plate is placed, the inspection object plate placed on the work table, and the inspection object plate; And a screen installed in the housing so as to be recognized from the outside and projecting an image of the inspection target plate irradiated with the light. 상기 프로버의 반입측에 상기 컨베이어 라인 위에 출몰가능하도록 설치되어 상기 컨베이어 라인 위를 이송되어 온 검사대상판을 위치결정하고 지지하는 클램프와, 이 클램프로 지지된 검사대상판을 위쪽으로 들어올려서 상기 반입기구에 전달하는 리프터를 구비하는 것을 특징으로 하는 검사장치.A clamp for positioning and supporting the inspection target plate transported on the conveyor line on the carrying-in side of the prober, and lifting the inspection target plate supported by the clamp upward; Inspection device comprising a lifter for transmitting to. 제1항에 있어서, 상기 프로버의 하우징이 그 반입측 및 반출측에 셔터를 구비한 것을 특징으로 하는 검사장치. The inspection apparatus according to claim 1, wherein the housing of the prober is provided with shutters on the carrying in and the carrying out sides thereof. 삭제delete
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100909601B1 (en) 2007-03-12 2009-07-27 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 Inline automatic inspection device and inline automatic inspection system
KR101528282B1 (en) * 2009-12-28 2015-06-12 재단법인 포항산업과학연구원 Forging measurement system for automobile parts

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5525981B2 (en) * 2010-09-28 2014-06-18 株式会社日本マイクロニクス Inspection apparatus and inspection method
US8901947B2 (en) * 2012-09-28 2014-12-02 Electro Scientific Industries, Inc. Probe out-of-position sensing for automated test equipment
CN107389307A (en) * 2016-12-31 2017-11-24 深圳眼千里科技有限公司 Screen automatic detecting machine
JP2019052914A (en) * 2017-09-14 2019-04-04 日本電産サンキョー株式会社 Inspection device
CN110231724B (en) * 2019-04-29 2024-05-24 苏州日和科技有限公司 Probe seat jacking device for liquid crystal display lighting test
JP7219172B2 (en) * 2019-06-14 2023-02-07 日本電産サンキョー株式会社 inspection system
CN111693542A (en) * 2020-06-03 2020-09-22 宿州市迎盛科技有限公司 Mobile phone screen detection device and detection method
CN115060732A (en) * 2022-08-18 2022-09-16 深圳市信润富联数字科技有限公司 Visual inspection equipment

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003270608A (en) * 2002-03-15 2003-09-25 Mecc Co Ltd Inspection device for liquid crystal display panel
JP3519352B2 (en) * 1999-11-19 2004-04-12 ディーイー、エンド、ティー 株式会社 LCD inspection system
KR20040067909A (en) * 2003-01-20 2004-07-30 오에누 덴시 가부시키가이샤 Substrate inspecting apparatus and method the same

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0631029B2 (en) * 1985-06-12 1994-04-27 富士重工業株式会社 Wind glass positioning device
JPH03242566A (en) * 1990-02-20 1991-10-29 Hioki Ee Corp Apparatus for inspecting circuit board
JPH0792190A (en) * 1993-09-21 1995-04-07 Tokusoo Riken:Kk Inspection equipment for printed board
JPH08166779A (en) * 1994-10-11 1996-06-25 Sony Corp Defect inspection apparatus and defect inspection method
JP3442930B2 (en) * 1995-12-28 2003-09-02 シャープ株式会社 How to clean the LCD panel
JP3272642B2 (en) * 1997-08-05 2002-04-08 シャープ株式会社 Inspection equipment for liquid crystal display
JP2001056298A (en) * 1999-08-19 2001-02-27 Ishii Ind Co Ltd Shielding-type article inspection device
JP3976170B2 (en) * 2001-10-16 2007-09-12 株式会社日立プラントテクノロジー Thin article positioning device

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3519352B2 (en) * 1999-11-19 2004-04-12 ディーイー、エンド、ティー 株式会社 LCD inspection system
JP2003270608A (en) * 2002-03-15 2003-09-25 Mecc Co Ltd Inspection device for liquid crystal display panel
KR20040067909A (en) * 2003-01-20 2004-07-30 오에누 덴시 가부시키가이샤 Substrate inspecting apparatus and method the same

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100909601B1 (en) 2007-03-12 2009-07-27 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 Inline automatic inspection device and inline automatic inspection system
KR101528282B1 (en) * 2009-12-28 2015-06-12 재단법인 포항산업과학연구원 Forging measurement system for automobile parts

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