KR100780312B1 - Inspection Apparatus - Google Patents
Inspection Apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- KR100780312B1 KR100780312B1 KR1020060074120A KR20060074120A KR100780312B1 KR 100780312 B1 KR100780312 B1 KR 100780312B1 KR 1020060074120 A KR1020060074120 A KR 1020060074120A KR 20060074120 A KR20060074120 A KR 20060074120A KR 100780312 B1 KR100780312 B1 KR 100780312B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- liquid crystal
- crystal panel
- prober
- inspection
- carrying
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
- B65G13/00—Roller-ways
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
- B65G49/00—Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for
- B65G49/05—Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles
- B65G49/06—Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles for fragile sheets, e.g. glass
- B65G49/061—Lifting, gripping, or carrying means, for one or more sheets forming independent means of transport, e.g. suction cups, transport frames
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2601—Apparatus or methods therefor
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
- B65G2201/00—Indexing codes relating to handling devices, e.g. conveyors, characterised by the type of product or load being conveyed or handled
- B65G2201/02—Articles
- B65G2201/0214—Articles of special size, shape or weigh
- B65G2201/022—Flat
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
본 발명에 따른 검사장치는, 공간절약화 및 작업효율을 향상시키기 위한 검사장치(1)를 제공하기 위한 것이다. 상기 검사장치(1)는 액정패널(7)의 처리공정 도중에 삽입되며, 상기 처리공정의 컨베이어 라인 위에 설치되어 액정패널(7)을 검사하는 프로버(4)와, 상기 컨베이어 라인 위에서 상기 프로버(4)까지 안내된 액정패널(7)을 상기 프로버(4) 내에 반입하는 반입기구(3)와, 상기 프로버(4)에서 검사가 종료된 액정패널(7)을 후공정측의 상기 컨베이어 라인 위로 반출하는 반출기구(5)를 구비한다. 하우징(41)과 이 하우징(41) 내에 수납되어 액정패널(7)이 놓여지는 워크 테이블(42)과, 이 워크테이블(42)에 놓여진 액정패널(7)을 조사(照射)하는 백라이트(43)와, 액정패널(7)의 시험을 행하는 프로브 유닛(45)과, 하우징(41)에 외부로부터 인식할 수 있도록 설치되어 액정패널(7)의 영상을 투영하는 스크린(46)을 구비하고 있다.An inspection apparatus according to the present invention is to provide an inspection apparatus 1 for reducing space and improving work efficiency. The inspection apparatus 1 is inserted during the processing of the liquid crystal panel 7, and is provided on the conveyor line of the processing process to probe the liquid crystal panel 7, and the prober on the conveyor line. The carrying-in mechanism 3 which carries in the prober 4 the liquid crystal panel 7 guided to (4), and the liquid crystal panel 7 which test | inspected in the said prober 4 are complete | finished are said A carrying out mechanism 5 for carrying out onto the conveyor line is provided. A backlight 43 for irradiating the housing 41, the work table 42 accommodated in the housing 41, and the liquid crystal panel 7 placed thereon, and the liquid crystal panel 7 placed on the work table 42. ), A probe unit 45 for testing the liquid crystal panel 7, and a screen 46 mounted on the housing 41 so as to be recognized from the outside and projecting an image of the liquid crystal panel 7. .
검사장치, 액정패널, 프로버, 컨베이어라인 Inspection device, liquid crystal panel, prober, conveyor line
Description
도1은 본 발명의 실시형태에 따른 검사장치를 나타낸 정면도이다.1 is a front view showing a test apparatus according to an embodiment of the present invention.
도2는 본 발명의 실시형태에 따른 검사장치를 나타낸 사시도이다.2 is a perspective view showing an inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
도3은 본 발명의 실시형태에 따른 검사장치를 나타낸 평면도이다.3 is a plan view showing a test apparatus according to an embodiment of the present invention.
도4는 본 발명의 실시형태에 따른 검사장치의 반입기구 및 프로버를 나타낸 정면도이다.4 is a front view showing a carrying in mechanism and a prober of the inspection apparatus according to the embodiment of the present invention.
도5는 본 발명의 실시형태에 따른 검사장치의 반입기구를 나타낸 사시도이다.5 is a perspective view showing a carrying-in mechanism of the inspection apparatus according to the embodiment of the present invention.
도6은 본 발명의 실시형태에 따른 검사장치의 패널 클램프와 패널 리프터를 나타낸 사시도이다.6 is a perspective view showing a panel clamp and a panel lifter of the inspection apparatus according to the embodiment of the present invention.
도7은 본 발명의 실시형태에 따른 검사장치의 프로버를 나타낸 개략측면도이다.Fig. 7 is a schematic side view showing a prober of the inspection apparatus according to the embodiment of the present invention.
*도면의 주요 부호에 대한 설명** Description of Major Symbols in Drawings *
1: 검사장치 2: 반입측 컨베이어1: Inspection device 2: Import side conveyor
2A: 롤러 2B: 회전축2A:
2C: 롤러가이드 3: 반입기구2C: Roller Guide 3: Loading Mechanism
4: 프로버(4) 5: 반출기구4: prober (4) 5: carrying out mechanism
6: 반출측 컨베이어 7: 액정패널 6: Carrying side conveyor 7: Liquid crystal panel
8: 패널 클램프 8A: X 패널 클램프부8:
8B: Y 패널 클램프부 9: 패널 리프터8B: Y panel clamp part 9: panel lifter
12: 베이스 판 13: 안내레일12: base plate 13: guide rail
14: 슬라이더 15: 실린더14: slider 15: cylinder
16: 클램프 편(片) 20: 베이스판16: clamp piece 20: base plate
21: 안내레일 22: 슬라이더21: guide rail 22: slider
23: 클램프편 24: 프레임23: clamp piece 24: frame
26: 베이스판 27: 가이드 부재26: base plate 27: guide member
28: 구동모터 29: 지주(支柱)28: drive motor 29: prop
30: 패드 32: 프레임30: pad 32: frame
33: 가이드봉 34: 가이드판33: guide rod 34: guide plate
37: 흡착부 38: 반송 암(arm)37: adsorption part 38: conveying arm
41: 하우징 42: 워크테이블41: housing 42: worktable
43: 백라이트 44: Z스테이지43: backlight 44: Z stage
45: 프로브 유닛 46: 스크린45: probe unit 46: screen
47: 광학계 48: 편광판47: optical system 48: polarizing plate
49: 미러 50: 셔터49: mirror 50: shutter
발명의 분야Field of invention
본 발명은 액정패널 등의 검사대상판을 시각적으로 확인해서 행하는 검사장치에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE
발명의 배경Background of the Invention
종래에 액정패널 등의 검사대상판의 시험을 행하는 경우에는, 검사대상판을 조명으로 비추고, 프로버로 통전시켜, 검사자가 그 화면을 시각적으로 확인했다. 그러나 이러한 경우, 검사자의 눈에 부담이 크다는 점과, 검사 시의 실수를 감소시키기까지 어느 정도의 숙련을 필요로 한다는 점 등의 문제가 있기 때문에, 검사면을 스크린에 투영해서 그 스크린 위에서 검사하는 것이 제안되어 왔다. 이에 대한 예로서, 일본 특개평 11-52317호 공보 및 일본 특개 2003-270608호 공보의 검사장치가 있다.In the past, when testing a test target plate such as a liquid crystal panel, the test target plate was illuminated by illumination, and energized by a prober, and the inspector visually confirmed the screen. In this case, however, there are problems such as a heavy burden on the examiner's eyes and a certain amount of skill required to reduce mistakes in the inspection, so that the inspection surface is projected on the screen and inspected on the screen. Has been proposed. As an example of this, the inspection apparatus of Unexamined-Japanese-Patent No. 11-52317 and Unexamined-Japanese-Patent No. 2003-270608 is mentioned.
그러나, 상기 종래의 검사장치는 단일 장치로서 컨베이어 라인의 근방에 설치되며, 컨베이어 라인 위로 이송되는 검사대상판을 일단 컨베이어 라인로부터 취출하여 검사하고, 검사 종료 후에 다시 원래의 컨베이어 라인 위로 되돌려놓는다.However, the conventional inspection apparatus is installed in the vicinity of the conveyor line as a single device, and once the inspection target plate conveyed on the conveyor line is taken out from the conveyor line and inspected, and returned to the original conveyor line after the inspection ends.
이렇게, 컨베이어 라인의 근방에 검사장치를 배치하면 그 검사장치를 위한 공간이 필요하게 되며, 또한 컨베이어 라인과 검사장치와의 사이에서 검사대상판을 이동시키는 이동기구를 설치하기 위한 공간도 필요하게 된다. 이 때문에, 장치의 규모나 부피가 커져버리는 문제점이 있다.Thus, when the inspection apparatus is arranged in the vicinity of the conveyor line, a space for the inspection apparatus is required, and a space for installing a moving mechanism for moving the inspection object plate between the conveyor line and the inspection apparatus is also required. For this reason, there exists a problem that the scale and volume of an apparatus become large.
게다가, 이동기구로 검사대상판을 컨베이어 라인과 검사장치와의 사이에서 이동시키게 되면 작업효율이 악화되는 문제점이 있다.In addition, there is a problem that the work efficiency is deteriorated when the inspection plate is moved between the conveyor line and the inspection device by a moving mechanism.
본 발명은 상술한 바와 같은 문제에 착안하여 이루어진 것으로, 그 목적은, 공간절약화 및 작업효율의 향상을 목표로 하는 검사장치를 제공하는 데 있다.The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object thereof is to provide an inspection apparatus aiming at saving space and improving work efficiency.
본 발명의 상기 및 기타의 목적들은 하기 설명되는 본 발명에 의하여 모두 달성될 수 있다. The above and other objects of the present invention can be achieved by the present invention described below.
본 발명은 공간절약화 및 작업효율의 향상을 목표로 하는 검사장치를 제공하는 데 있다. 보다 상세하게는, 검사대상판의 처리공정의 도중에 삽입되는 검사장치로, 상기 처리공정의 컨베이어 라인 위에 설치되어 상기 검사대상판을 검사하는 프로버와, 상기 컨베이어 라인 위를 상기 프로버까지 안내된 상기 검사대상판을 상기 프로버내에 반입하는 반입기구와, 상기 프로버에서 검사가 종료된 검사대상판을 후공정측의 상기 컨베이어 라인 위에 반출하는 반출기구를 구비하며, 상기 프로버가 외곽을 구성하는 하우징과, 상기 하우징내에 수납되어 상기 검사대상판이 놓여지는 워크테이블과, 상기 워크테이블에 놓여진 상기 검사대상판을 조사(照射)하는 광(光)과, 상기 검사대상판의 시험을 행하는 프로브 유닛과, 상기 하우징에 외부로부터 인식할 수 있도록 설치되어 상기 광에 의해 조사된 상기 검사대상판의 영상을 투영해내는 스크린을 구비하여 구성된 것을 특징으로 한다.The present invention is to provide an inspection apparatus aimed at saving space and improving work efficiency. More specifically, the inspection apparatus is inserted in the middle of the processing process of the inspection object plate, a prober installed on the conveyor line of the treatment process to inspect the inspection object plate, and the inspection table guided on the conveyor line to the prober. A carrying-in mechanism for carrying the upper plate into the prober, and a carrying-out mechanism for carrying out the inspection target plate completed by the prober onto the conveyor line on the post-process side; A worktable housed in the housing, on which the inspection object plate is placed, light for irradiating the inspection object plate placed on the work table, a probe unit for testing the inspection object plate, and external to the housing A screen installed so as to be able to recognize from the screen and projecting an image of the inspection target plate irradiated by the light. Characterized in that provided.
이에 따라, 상기 처리공정의 컨베이어 라인 위에서 이송된 상기 검사대상판을 그 컨베이어 라인 위에서 검사하고, 그대로 컨베이어 라인 위로 이송되도록 할 수 있다.Accordingly, the inspection object plate transferred on the conveyor line of the processing step can be inspected on the conveyor line, and transferred to the conveyor line as it is.
상기 프로버의 반입측에는 상기 컨베이어 라인 위에 출몰(出沒)가능하도록 배치되어 상기 컨베이어 라인 위를 이송되어 온 검사대상판을 위치결정하고 지지하는 클램프와, 상기 클램프로 지지한 검사대상판을 위쪽으로 들어올려서 상기 반입기구에 전달하는 리프터를 구비하는 것이 바람직하다.On the carry-in side of the prober, a clamp is disposed on the conveyor line so as to be protruding and lifts the clamp to position and support the inspected plate conveyed on the conveyor line, and the inspected plate supported by the clamp upwards. It is preferable to have a lifter for delivering to the loading mechanism.
이에 따라, 클램프로 위치결정되어 리프터에 의해 위쪽으로 들어올려진 검사대상판을 반입기구가 잡아서 프로버 내에 정확하게 반입하는 것이 가능해진다.As a result, it is possible to accurately carry the inspection object plate positioned by the clamp and lifted upward by the lifter into the prober.
또한, 상기 프로버의 하우징은 그 반입측 및 반출측에 셔터를 구비하는 것이 바람직하다.In addition, the housing of the prober is preferably provided with a shutter on the carry-in side and the carry-out side thereof.
이에 따라, 셔터가 닫혀지는 것으로 차광이 되며, 스크린 위에 선명한 영상을 투영할 수 있다.Accordingly, the shutter is closed when the shutter is closed, so that a clear image can be projected on the screen.
이하, 본 발명의 실시형태에 따른 검사장치에 대해서, 첨부도면을 참조하면서 설명하도록 하겠다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, the inspection apparatus which concerns on embodiment of this invention is demonstrated, referring an accompanying drawing.
도1은 본 실시형태에 따른 검사장치를 나타낸 정면도, 도2는 본 실시형태에 따른 검사장치를 나타낸 사시도, 도3은 본 실시형태에 따른 검사장치를 나타낸 평면도, 도4는 본 실시형태에 따른 검사장치의 반입기구 및 프로버를 나타낸 정면도, 도5는 본 실시형태에 따른 검사장치의 반입기구를 나타낸 사시도, 도6은 본 실시형태에 따른 검사장치의 패널 클램프와 패널 리프터를 나타낸 사시도, 도7은 본 실시형태에 따른 검사장치의 프로버를 나타낸 개략측면도이다. 아울러, 여기에서는 검사대상판으로서 액정패널을 예로 들어 설명한다.1 is a front view showing the inspection apparatus according to the present embodiment, FIG. 2 is a perspective view showing the inspection apparatus according to the present embodiment, FIG. 3 is a plan view showing the inspection apparatus according to the present embodiment, and FIG. 5 is a perspective view showing a carrying mechanism and a prober of the inspection apparatus according to the present invention, FIG. 5 is a perspective view showing a carrying mechanism of the inspection apparatus according to the present embodiment, and FIG. 6 is a perspective view showing a panel clamp and a panel lifter of the inspection apparatus according to the present embodiment. 7 is a schematic side view showing a prober of the inspection apparatus according to the present embodiment. In addition, it demonstrates here taking a liquid crystal panel as an example to test | inspection plate.
본 실시형태에 따른 검사장치(1)는, 도1 내지 도4에 나타낸 바와 같이, 액정패널의 제조처리공정의 도중에 삽입되어, 액정패널의 점등검사를 행하는 장치이다. 이 검사장치(1)는, 예를 들면 액정패널의 셀 공정과 모듈 공정과의 사이에 장착되며, 전(前)공정인 셀 공정을 마친 액정패널이 검사장치(1)에서 점등검사되고, 후(後)공정인 모듈공정으로 이송된다.The
검사장치(1)는 주로, 반입측 컨베이어(2)와, 반입기구(3)와, 프로버(4)와, 반출기구(5)와, 반출측 컨베이어(6)로 구성된다.The
반입측 컨베이어(2)는 전 공정에서 반송되어 온 액정패널(7)을 프로버(4)의 반입구까지 안내하기 위한 컨베이어이다. 이 반입측 컨베이어(2)는 롤러 컨베이어로 구성된다. 반입측 컨베이어(2)는 구체적으로는 롤러(2A)와 이 롤러(2A)를 회전가능하도록 지지하는 회전축(2B)과 이 회전축(2B)의 양 끝을 지지하는 롤러가이드(2C)로 구성된다. 아울러 롤러(2A)는 자유롭게 회전할 수 있도록 하는 것도 바람직하며, 구동모터(도시 생략)에 연결해서 구동모터로 회전구동시키는 것도 바람직 하다.The carry-in
이 반입측 컨베이어(2) 내에는, 도5 및 도6에 나타낸 바와 같이, 패널 클램프(8)와 패널 리프터(9)가 설치된다. 이들 패널 클램프(8)와 패널 리프터(9)는 액정패널(7)이 이송되는 컨베이어 라인 위에 위치하며, 반입측 컨베이어(2) 내에 출몰(出沒) 가능하도록 삽입된다. In this carrying-in
패널 클램프(8)는 반입측 컨베이어(2)로 안내되어 온 액정패널(7)을 위치결정하고 지지하기 위한 기구이다. 이 패널 클램프(8)는 X 패널 클램프부(8A)와 Y 패널 클램프부(8B)로 구성된다. X 패널 클램프부(8A)는 X방향(컨베이어 라인을 따르는 방향이다. 액정패널(7)이 이송되는 방향)에 설치되고, 액정패널(7)의 X방향의 위치를 조정하기 위한 기구이다. X 패널 클램프(8A)는 베이스 판(12)과 안내레일(13)과 슬라이더(14)와 실린더(15)와 클램프 편(片)(16)과 이동기구(도시 생략)로 구성된다. 베이스판(12)은 반입측 컨베이어(2) 측에 고정되어 안내레일(13)을 지지하기 위한 판 재료이다. 안내레일(13)은 두개의 슬라이더(14)를 슬라이드 가능하도록 지지하기 위한 레일이다. 이 안내레일(13)은 베이스판(12)에 일체로 고정되며 상기 X축 방향을 따라 설치된다. 슬라이더(14)는 안내레일(13)에 슬라이드 가능하도록 설치된다. 슬라이더(14)는 마주보도록 2개가 설치되며, 안내레일(13)에 안내되어 서로 근접하게 이격되어 형성된다. 실린더(15)는 클램프편(16)을 상하로 이동시키기 위한 기구이다. 실린더(15)는 신축방향을 수직으로 향한 상태로 슬라이더(14)에 일체로 고정되어 있다. 실린더(15)는 전동이나 유압 등에 의해 신축되도록 구성된다. 이에 따라, 실린더(15)는 클램프편(16)을 반입측 컨베이어(2)의 반송 면(반송되는 액정패널(7)이 위치하는 면)으로부터 출몰시키도록 형성된다. 이 실린더(15)는 통상적으로는 수축하여 대기상태가 되며, 반입측 컨베이어(2)로 반송되어 온 액정패널(7)을 설정위치로 위치 결정할 때 연장되어 클램프편(16)이 상기 반송면으로부터 연장되도록 형성된다. 클램프편(16)은 액정패널에 직접 접촉하여 액정패널(7)의 위치결정을 행하기 위한 부재이다. 이 클램프편(16)은 탄성을 갖는 원통형상의 합성수지를 두개 나열해서 구성된다.The
Y패널 클램프부(8B)는 Y방향에 배치되며, 액정패널(7)의 Y방향의 위치를 조정하기 위한 기구이다. Y패널 클램프부(8B)는 베이스판(20)과 안내레일(21)과 슬라이더(22)와 클램프편(23)과 이동기구(도시 생략)로 구성된다. 베이스판(20)은 반입측 컨베이어(2)측에 고정되어 안내레일(21)을 지지하기 위한 판재이다. 안내레일(21)은 두개의 슬라이더(22)를 슬라이드 가능하도록 지지하기 위한 레일이다. 이 안내레일(21)은 베이스판(20)에 일체로 고정되며, 상기 Y축방향을 따라 배치된다. 슬라이더(22)는 안내레일(21)에 슬라이드 가능하도록 설치된다. 슬라이더(22)는 마주보도록 2개가 설치되며, 안내 레일(21)에 안내되어 서로 근접하게 이격되도록 형성된다. 각 슬라이더(22)는 도시하지 않는 이동기구에 지지되며, 서로 근접하게 이격되도록 형성된다. 클램프편(23)은 액정패널(7)에 직접 접촉하여 액정패널(7)의 위치결정을 행하기 위한 부재이다. 이 클램프편(23)은 탄성을 갖는 원통형상의 합성수지를 두개로 나열해서 구성된다. 각 클램프편(23)은 거의 U자형으로 형성된 프레임(24)의 앞쪽 끝에 설치된다. 이 프레임(24)의 높이는 클램프편(23)이 반송면으로부터 위쪽으로 연장하여 액정패널(7)의 가장자리에 접촉할 수 있는 높이로 설정 된다. 각 클램프편(23)은 상기 이동기구에 의해 통상적으로 반입측 컨베이어(2)의 폭방향의 가장 바깥쪽에 위치한 대기상태로 놓여지며, X패널 클램프부(8A)로 액정패널(7)이 위치결정될 때 서로 근접하도록 제어된다. 이에 따라 이 X패널 클램프부(8A)와 연동해서 액정패널(7)을 XY방향으로 정확하게 위치결정하도록 형성된다. 이 X패널 클램프부(8A)와 Y패널 클램프부(8B)로 정확하게 위치결정된 액정패널(7)은 패널 리프터(9)에 전달된다. 아울러, 패널 클램프(8)에는 필요에 따라 액정패널(7)의 위치를 검출하는 센서를 구비해도 좋다. 이 센서에 의해 액정패널(7)이 X패널 클램프부(8A)와 Y패널 클램프부(8B)로 위치결정이 가능한 위치에 있는 것을 검출한 후 패널 클램프(8)를 작동시키게 한다.The Y
패널 리프터(9)는 패널 클램프(8)로 위치결정해서 지지된 액정패널(7)을 위쪽으로 들어올려서 반입기구(3)에 전달하기 위한 장치이다. 패널 리프터(9)는 베이스판(26)과 가이드부재(27)와 구동모터(28)와 지주(支柱)(29)와 패드(30)로 구성된다. 베이스판(26)은 패널 리프터(9) 전체를 지지하기 위한 판재이다. 베이스판(26)은 반입측 컨베이어(2)의 프레임(32)에 고정된다. 가이드부재(27)는 베이스판(26)에 슬라이드 가능하도록 지지되며, 상하 방향으로 이동하는 부재이다. 가이드 부재(27)는 베이스판(26)에 슬라이드 가능하도록 지지된 4개의 가이드봉(33)과 각 가이드봉(33)을 일체로 지지하는 가이드판(34)으로 구성된다. 구동모터(28)는 가이드부재(27)를 상하로 이동시키기 위한 모터이다. 구동모터(28)는 볼 나사 등을 통해서 가이드부재(27)에 연결되며 구동모터(28)의 회전에 의해 가이드부재(27)가 상하로 승강하도록 형성된다. 지주(29)는 패드(30)를 지지하기 위한 부재이며, 가이드 부재(27)의 가이드판(34)에 4개가 설치된다. 패드(30)는 액정패널(7)의 아랫면에 접촉하여 액정패널(7)을 지지하기 위한 부재이며, 탄성을 갖는 합성수지로 이루어지고, 역원추형으로 형성된다.The
반입기구(3)는 도1 내지 도4에 나타낸 바와 같이, 액정패널(7)을 프로버(4) 내에 반입하기 위한 기구이다. 반입기구(3)는 흡착부(37)와 반송 암(arm)(38)과, 이동기구(도시 생략)로 구성된다. 흡착부(37)는 액정패널(7)의 표면에 흡착해서 액정패널(7)을 지지하기 위한 부분이다. 반송 암(arm)(38)은 그 선단부의 흡착부(37)를 통해서 액정패널(7)을 지지하고, 프로버(4) 내로 운반하기 위한 부재이다. 반송 암(38)은 수평방향으로 길게 연장해서 형성되며 액정패널(7)을 프로버(4) 내의 중심부까지 삽입할 수 있도록 형성된다. 이동기구는 반송 암(38)을 지지하여 이 반송 암(38)으로 지지된 액정패널(7)을 프로버(4) 내의 중심부까지 삽입하기 위한 기구이다. 이동기구는 반송 암(38)을 수평방향으로 이동시키는 장치(도시 생략)를 구비하여 구성된다.As shown in Figs. 1 to 4, the carrying in
프로버(4)는 액정패널(7)의 점등검사를 행하기 위한 장치이다. 프로버(4)는 액정패널(7)의 제조처리공정의 컨베이어 라인 위에 배치된다. 프로버(4)는 도1 및 도7에 나타낸 바와 같이, 하우징(41), 워크테이블(42), 백라이트(43), Z스테이지(44), 프로브 유닛(45), 스크린(46), 광학계(47), 편광판(48), 미러(49), 셔터(50)로 구성된다.The
하우징(41)은 프로버(4)의 외곽을 구성하기 위한 부재이다. 이 하우징(41) 안은 차광되어 암실로 형성되며, 이 암실 내에서 액정패널(7)의 검사대상면의 영상 을 스크린(46) 위에 효율적으로 투영하도록 형성된다.The
워크테이블(42)은 점등검사를 위한 액정패널(7)이 놓여지는 부재이다. 워크테이블(42)은 하우징(41)내의 상기 컨베이어 라인 위에 배치된다. 이에 따라 워크테이블(42)을 상기 컨베이어 라인 위에서 벗어난 위치에 배치됨으로써 생기는 액정패널(7)의 반송시의 불필요한 작동을 억제한다.The work table 42 is a member on which the
백라이트(43)는 액정패널(7)을 그 뒷면측에서 조사하여 그 액정패널(7)의 영상을 스크린(46) 위에 투영하기 위한 광원이다. 백라이트(43)는 워크테이블(42)과 Z스테이지(44)의 사이에 설치되며 워크테이블(42)에 놓여진 액정패널(7)을 그 뒷면에서 조사하도록 된다.The
Z스테이지(44)는 워크테이블(42)을 지지해서 상하방향으로 이동시키기 위한 장치이다. 이 Z스테이지(44)는 워크테이블(42)을 상승시키는 것으로 반송 암(38)에 지지되어 Z 스테이지(44)의 바로 위까지 이동된 액정패널(7)을 수용하도록 된다. 게다가, Z 스테이지(44)는 워크테이블(42) 위에 놓여진 액정패널(7)에 프로브 유닛(45)의 프로브 침(도시 생략)을 접촉시킬 때 워크테이블(42)을 상하로 이동시켜서 조정한다.The
프로브 유닛(45)은 액정패널(7)의 점등시험을 행하기 위한 부재이다. 프로브 유닛(45)은 그 선단부에 프로브 침(도시 생략)을 구비하며, 이 프로브 침이 액정패널(7)의 단자부(도시 생략)에 접촉하여 점등시험이 행해진다.The
스크린(46)은 액정패널(7)의 표면의 영상을 투영하기 위한 부재이다. 이 스크린(46)은 투과형이며, 백라이트(43)로 뒷면에서 조사된 상태에서 점등시험을 행 하고 있는 액정패널(7)의 표면의 영상을 확대축소해서 선명하게 투영하도록 형성된다. 스크린(46)은 하우징(41) 내에 상기 컨베이어 라인과 직교하는 벽면에 외부로부터 인식할 수 있도록 설치된다. 이에 따라, 프로젝션 텔레비전과 마찬가지로 점등시험을 행하고 있는 액정패널(7)의 표면의 영상을 확대축소해서 선명하게 투영할 수 있도록 형성된다.The
광학계(47)는 스크린(46) 위에 초점을 좁히기 위한 부재로, 한개 또는 복수개의 렌즈로 구성된다. 이 광학계(47)로 점등시험을 행하고 있는 액정패널(7)의 표면의 영상을 스크린(46) 위에 확대해서 선명하게 투영하도록 형성되어 있다. The
편광판(48)은 액정패널(7)로부터의 영상광을 편광시키기 위한 부재이다. 이 편광판(48)은 본래 액정패널(7)에 삽입되어 있는 편광판 대신에 설치된다. 즉, 액정패널(7)이 제조 도중에, 아직 편광판이 삽입되어 있지 않은 상태로 점등검사를 행하기 때문에, 액정패널(7)에 삽입되는 편광판 대신 상기 편광판(48)이 광학계(47)의 광원 측(아래쪽)에 설치된다.The
미러(49)는 액정패널(7)로부터의 영상광을 스크린(46) 쪽으로 반사시키기 위한 미러이다.The
셔터(50)는 하우징(41)에 액정패널(7)이 출입될 때 개폐하기 위한 부재이다. 하우징(41) 안은 스크린(46) 위에 선명한 영상을 투영하기 위해 암실로 되어 있으며, 액정패널(7)의 출입구를 차광하기 위해 셔터(50)가 반입측 및 반출측의 각각에 설치되어 있다.The
반출기구(5)는 프로버(4)에서 검사가 종료된 액정패널(7)을 후공정측의 상기 컨베이어 라인 위에 반출하기 위한 기구이다. 이 반출기구(5)는 상기 반입기구(3)와 같은 구성을 갖고 있다.The discharging
반출측 컨베이어(6)는 반출기구(5)로부터 액정패널(7)을 수용하여 후공정으로 보내기 위한 장치이다. 이 반출측 컨베이어(6)는 상기 반입측 컨베이어(2)와 같은 구성을 갖고 있다. 반출측 컨베이어(6)에는 반입측 컨베이어(2)의 패널 클램프(8) 및 패널 리프터(9)와 같은 구성의 패널 클램프(8) 및 패널 리프터(9)가 설치되어 있다.The carrying-out
상기 각 장치는 제어부(도시 생략)에 접속되어 있다. 이 제어부에는 뒤에 설명하는 동작을 제어하는 제어프로그램이 내장되어 있다.Each said device is connected to the control part (not shown). This control unit has a built-in control program for controlling the operations described later.
이상에서와 같이 구성된 검사장치(1)는 다음과 같이 동작한다.The
전공정으로부터 이송된 액정패널(7)은 검사장치(1)의 반입측 컨베이어(2)에 유입되며, 이 반입측 컨베이어(2)에 안내되어 프로버(4)의 반입구까지 이동한다. 이어서, 패널 클램프(8)의 X패널 클램프부(8A)가 작동하고 각 클램프편(16)이 상승되며, X방향 전후에서 액정패널(7)을 집어서 고정함으로써 X방향의 위치를 결정한다. 이와 동시에 Y 패널 클램프부(8B)도 작동하여, Y방향의 위치를 결정한다. 이에 따라 액정패널(7)이 그 XY방향으로 정확하게 위치가 결정된다.The
다음에, X패널 클램프부(8A) 및 Y패널 클램프부(8B)의 클램프편(16, 23)이 조금 열리고, 패널 리프터(9)가 작동하여 가이드부재(27)가 상승된다. 이에 따라 패드(30)가 액정패널(7)의 아래쪽 면에 접촉하여 액정패널(7)을 들어올린다. 패널 리프터(9)로 들어올려진 액정패널(7)은 반입기구(3)의 흡착부(37)에 접촉되며, 이 흡착부(37)로 흡착하여 지지된다. 이어서, 상류측의 셔터(50)가 개방되어 반입기구(3)의 반송 암(38)이 컨베이어 라인방향으로 수평이동해서 액정패널(7)을 프로버(4)의 하우징(41) 내에 삽입한다. 구체적으로는 하우징(41) 내의 워크테이블(42)의 바로 위까지 이동되며, Z스테이지(44)에서 워크테이블(42)이 상승하여 액정패널(7)이 워크테이블(42) 위에 놓여진다. 그리고, 반입기구(3)는 하우징(41)으로부터 꺼내지며 셔터(50)가 닫힌다.Next, the
이어서, Z스테이지(44)가 상승하여 프로브유닛(45)의 각 프로브 침이 액정패널(7)의 각 전극에 접촉된다. 그리고, 액정패널(7)에 통전됨과 동시에 백라이트(43)가 점등된다. 이에 따라, 액정패널(7)의 표면의 영상은 편광판(48)을 통해서 광학계(47)로 초점이 모아지며, 미러(49)로 반사되어 스크린(46)에 확대되어 선명하게 투영된다. 검사자는 이 스크린(46)을 보면서 검사를 행한다.Subsequently, the
액정패널(7)의 검사가 종료하면, 하류측의 셔터(50)가 개방되고, 반출기구(5)의 반송 암(38)이 하우징(41)내에 삽입되고, 흡착부(37)가 워크테이블(42)의 바로 위까지 이동된다. 이어서, 워크테이블(42)이 상승되고, 이에 따라 워크테이블(42) 위의 액정패널(7)을 흡착부(37)에 접촉해서 이 흡착부(37)로 흡착하여 지지되며, 하우징(41)의 외부로 배출된다. 외부에 반출된 액정패널(7)은 반출측 컨베이어(6) 위에 놓여져서 하류측의 컨베이어 라인으로 이송된다.When the inspection of the
본 발명은 상기 실시예에 한정되지 않고, 그 취지를 벗어나지 않는 한, 각종 변경이 가능하다.The present invention is not limited to the above embodiments, and various changes can be made without departing from the spirit thereof.
본 발명에 따른 검사장치(1)는 상기와 같이 작동함으로써 다음과 같은 효과를 갖는다. 검사장치(1)의 프로버(4)를 액정채널(7)의 제조처리공정의 컨베이어 라인 위에 설치하기 때문에, 검사장치(1)를 위한 특별 공간이 불필요하게 되며, 이에 따라 공간 절약화를 달성할 수 있다.The
또한, 컨베이어 라인 위를 이송해 온 액정패널(7)을 그 컨베이어 라인 위에서 검사하여 그대로 컨베이어 라인 위에서 이송되기 때문에 불필요한 작업이 없어지며 작업효율이 향상될 수 있다.In addition, since the
프로버(4)를 하우징(41), 워크테이블(42), 백라이트(43), Z스테이지(44), 프로브유닛(45), 스크린(46), 광학계(47), 편광판(48), 미러(49), 셔터(50)를 구비하며, 액정패널(7)을 컨베이어 라인 위에서 정확하게 위치결정하여 반송하기 때문에 불필요한 작업이 없어지고 작업효율이 향상될 수 있다.The
게다가, 하우징(41) 및 셔터(50)로 하우징(41) 내를 암실로 형성하여 광학계(47) 등으로 스크린(46)에 확대된(액정패널(7)이 스크린(46)보다 큰 경우는 축소된) 선명한 화상을 투영하도록 했기 때문에 검사정밀도를 향상 시킬 수 있다.In addition, when the inside of the
상기 패널클램프(8)로 위치결정되어 패널 리프터(9)에서 위쪽으로 들어올려진 액정패널(7)을 반입기구(3)가 집어서 프로버(4) 내에 정확하게 반입할 수 있기 때문에 불필요한 작업이 없어지고 작업효율을 향상시킬 수 있다.There is no unnecessary work because the
본 발명의 단순한 변형 내지 변경은 이 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의 하여 용이하게 이용될 수 있으며, 이러한 변형이나 변경은 모두 본 발명의 영역에 포함되는 것으로 볼 수 있다.Simple modifications and variations of the present invention can be readily used by those skilled in the art, and all such variations or modifications can be considered to be included within the scope of the present invention.
Claims (3)
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005298074A JP2007107973A (en) | 2005-10-12 | 2005-10-12 | Inspection device |
JPJP-P-2005-00298074 | 2005-10-12 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070040713A KR20070040713A (en) | 2007-04-17 |
KR100780312B1 true KR100780312B1 (en) | 2007-11-29 |
Family
ID=38033949
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060074120A KR100780312B1 (en) | 2005-10-12 | 2006-08-07 | Inspection Apparatus |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2007107973A (en) |
KR (1) | KR100780312B1 (en) |
TW (1) | TW200714952A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100909601B1 (en) | 2007-03-12 | 2009-07-27 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | Inline automatic inspection device and inline automatic inspection system |
KR101528282B1 (en) * | 2009-12-28 | 2015-06-12 | 재단법인 포항산업과학연구원 | Forging measurement system for automobile parts |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5525981B2 (en) * | 2010-09-28 | 2014-06-18 | 株式会社日本マイクロニクス | Inspection apparatus and inspection method |
US8901947B2 (en) * | 2012-09-28 | 2014-12-02 | Electro Scientific Industries, Inc. | Probe out-of-position sensing for automated test equipment |
CN107389307A (en) * | 2016-12-31 | 2017-11-24 | 深圳眼千里科技有限公司 | Screen automatic detecting machine |
JP2019052914A (en) * | 2017-09-14 | 2019-04-04 | 日本電産サンキョー株式会社 | Inspection device |
CN110231724B (en) * | 2019-04-29 | 2024-05-24 | 苏州日和科技有限公司 | Probe seat jacking device for liquid crystal display lighting test |
JP7219172B2 (en) * | 2019-06-14 | 2023-02-07 | 日本電産サンキョー株式会社 | inspection system |
CN111693542A (en) * | 2020-06-03 | 2020-09-22 | 宿州市迎盛科技有限公司 | Mobile phone screen detection device and detection method |
CN115060732A (en) * | 2022-08-18 | 2022-09-16 | 深圳市信润富联数字科技有限公司 | Visual inspection equipment |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003270608A (en) * | 2002-03-15 | 2003-09-25 | Mecc Co Ltd | Inspection device for liquid crystal display panel |
JP3519352B2 (en) * | 1999-11-19 | 2004-04-12 | ディーイー、エンド、ティー 株式会社 | LCD inspection system |
KR20040067909A (en) * | 2003-01-20 | 2004-07-30 | 오에누 덴시 가부시키가이샤 | Substrate inspecting apparatus and method the same |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0631029B2 (en) * | 1985-06-12 | 1994-04-27 | 富士重工業株式会社 | Wind glass positioning device |
JPH03242566A (en) * | 1990-02-20 | 1991-10-29 | Hioki Ee Corp | Apparatus for inspecting circuit board |
JPH0792190A (en) * | 1993-09-21 | 1995-04-07 | Tokusoo Riken:Kk | Inspection equipment for printed board |
JPH08166779A (en) * | 1994-10-11 | 1996-06-25 | Sony Corp | Defect inspection apparatus and defect inspection method |
JP3442930B2 (en) * | 1995-12-28 | 2003-09-02 | シャープ株式会社 | How to clean the LCD panel |
JP3272642B2 (en) * | 1997-08-05 | 2002-04-08 | シャープ株式会社 | Inspection equipment for liquid crystal display |
JP2001056298A (en) * | 1999-08-19 | 2001-02-27 | Ishii Ind Co Ltd | Shielding-type article inspection device |
JP3976170B2 (en) * | 2001-10-16 | 2007-09-12 | 株式会社日立プラントテクノロジー | Thin article positioning device |
-
2005
- 2005-10-12 JP JP2005298074A patent/JP2007107973A/en active Pending
-
2006
- 2006-08-04 TW TW095128718A patent/TW200714952A/en unknown
- 2006-08-07 KR KR1020060074120A patent/KR100780312B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3519352B2 (en) * | 1999-11-19 | 2004-04-12 | ディーイー、エンド、ティー 株式会社 | LCD inspection system |
JP2003270608A (en) * | 2002-03-15 | 2003-09-25 | Mecc Co Ltd | Inspection device for liquid crystal display panel |
KR20040067909A (en) * | 2003-01-20 | 2004-07-30 | 오에누 덴시 가부시키가이샤 | Substrate inspecting apparatus and method the same |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100909601B1 (en) | 2007-03-12 | 2009-07-27 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | Inline automatic inspection device and inline automatic inspection system |
KR101528282B1 (en) * | 2009-12-28 | 2015-06-12 | 재단법인 포항산업과학연구원 | Forging measurement system for automobile parts |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW200714952A (en) | 2007-04-16 |
JP2007107973A (en) | 2007-04-26 |
KR20070040713A (en) | 2007-04-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100780312B1 (en) | Inspection Apparatus | |
KR100654218B1 (en) | Apparatus For Inspecting External Appearance Of Liquid Crystal Panel | |
KR100791132B1 (en) | Macro inspection apparatus and macro inspection method | |
KR100775024B1 (en) | Device for testing edge of glass substrate and method thereof | |
JP4756766B2 (en) | Work feeding device | |
KR20080083567A (en) | Inline automatic inspection apparatus and inline automatic detection system | |
KR20060094356A (en) | Apparatus for testing lcd panel | |
KR100279260B1 (en) | Liquid crystal injection and liquid crystal injection opening inspection system of liquid crystal cell | |
CN110333611A (en) | A kind of detection method of supporting mechanism and display panel | |
KR100699733B1 (en) | Visual inspecting method and apparatus | |
KR100230987B1 (en) | Wafer inspection system having optical character reader | |
KR20110111237A (en) | Repair apparatus | |
KR100278115B1 (en) | Liquid crystal panel inspection device | |
CN206531573U (en) | Light guide plate briliancy detection means | |
CN111065903B (en) | Inspection apparatus | |
CN117347390A (en) | Glass cover plate edge detection device | |
JP2010286342A (en) | Substrate holding device, defect inspection device and defect correction device | |
TW201625931A (en) | An adjustable vacuum absorbing device, and a material sheet detecting apparatus, a material sheet transfer apparatus comprising the same | |
JP2009251529A (en) | Lighting inspection apparatus | |
CN110849910A (en) | Automatic change defect detecting equipment | |
KR100690210B1 (en) | The complex surface inspection system of glass for pannel using moniter | |
KR20120060348A (en) | Apparatus for repairing a substrate | |
TWI391649B (en) | Light-on tester for panel defect and light-on test method for panel defect | |
JPH0986655A (en) | Sample conveyer | |
JP3907797B2 (en) | Board inspection equipment |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
G170 | Publication of correction | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20101011 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130822 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161013 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190911 Year of fee payment: 14 |