KR100687772B1 - 유도가열기기용 전류 검출 회로 - Google Patents

유도가열기기용 전류 검출 회로 Download PDF

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    • H05B6/02Induction heating
    • H05B6/04Sources of current

Abstract

본 발명은, 온도 상승의 영향으로 인해 발생하는 다이오드의 역방향 누설 전류에 의한 순방향 전류의 손실분을 보상할 수 있도록 구성된 유도가열기기용 전류 검출 회로에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 주위온도가 높은 환경에서 검출되는 부하 전류의 피크치에 대한 오차를 최소화할 수 있는 효과가 있다. 본 발명은, 유도가열조리기, 유도가열난방기 등 고열을 발생하고 정밀한 부하전류의 제어가 필요한 기기에 적용할 경우, 기기에 대한 신뢰성을 높일 수 있어 유익하다.

Description

유도가열기기용 전류 검출 회로 {electric current detection circuit for induction heating device}
도 1은 종래의 전류 검출 회로를 나타낸 도면,
도 2의 (a)는 도 1에 도시된 다이오드의 이상적인 순방향 전류치를 간략히 나타낸 도면,
도 2의 (b)는 도 1에 도시된 다이오드의 온도영향으로 감소된 순방향 전류치 및 온도영향에 따른 역방향 누설전류치를 간략히 나타낸 도면,
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유도가열기기용 전류 검출 회로를 나타낸 도면,
도 4의 (a)는 도 3에 도시된 다이오드의 이상적인 순방향 전류치를 간략히 나타낸 도면,
도 4의 (b)는 도 3에 도시된 다이오드의 온도영향으로 감소된 순방향 전류치 및 온도영향에 따른 역방향 누설전류치를 간략히 나타낸 도면,
도 4의 (c)는 도 4의 (b)에 나타낸 다이오드의 역방향 누설전류치가 도 3에 도시된 제너다이오드에 의해 감소된 상태를 간략히 나타낸 도면,
도 5는 본 발명의 제2 실시예에 따른 유도가열기기용 전류 검출 회로를 나타낸 도면,
도 6의 (a)는 도 5에 도시된 다이오드의 이상적인 순방향 전류치를 간략히 나타낸 도면,
도 6의 (b)는 도 5에 도시된 다이오드의 온도영향으로 감소된 순방향 전류치 및 온 도영향에 따른 역방향 누설전류치를 간략히 나타낸 도면,
도 6의 (c)는 도 6의 (b)에 나타낸 다이오드의 순방향 전류치가 도 5에 도시된 션트 저항에 의해 증가된 상태를 간략히 나타낸 도면,
도 7은 본 발명의 제3 실시예에 따른 유도가열기기용 전류 검출 회로를 나타낸 도면,
도 8의 (a)는 도 7에 도시된 다이오드의 이상적인 순방향 전류치를 간략히 나타낸 도면,
도 8의 (b)는 도 7에 도시된 다이오드의 온도영향으로 감소된 순방향 전류치 및 온도영향에 따른 역방향 누설전류치를 간략히 나타낸 도면,
도 8의 (c)는 도 8의 (b)에 나타낸 다이오드의 역방향 누설전류치가 도 7에 도시된 제너다이오드에 의해 감소되고 다이오드의 순방향 전류치가 도 7에 도시된 션트 저항에 의해 증가된 상태를 간략히 나타낸 도면.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
CT : 전류 변압기 D1: 다이오드
R1, R2: 저항 C1: 캐패시터
ZD1: 제너다이오드 OA: 연산증폭기
본 발명은 유도가열기기용 전류 검출 회로에 관한 것으로, 보다 상세하게는 온도변화에 민감한 다이오드의 누설전류를 보상하여 정밀도를 향상하고 오차값을 최소화할 수 있는 유도가열기기용 전류 검출 회로에 관한 것이다.
주지되어 있다시피, 근래 많은 전자/전기 기기들은 그 동작을 제어함에 있어서 보다 정밀한 부하 전류 조절이 요구되고 있는 추세이다. 이를 위해 부하 전류가 목표치 대로 정확하게 출력되고 있는 지가 체크되어야 하므로, 폐루프(Close Loop) 방식에 의해 부하 전류를 피드백(Feed Back)받아 검출하는 전류 검출 회로가 필수적이다.
이러한, 전류 검출 회로는, 통상적으로, 도 1에 도시한 바와 같이, 부하전류를 입력받아 이를 측정에 용이한 소전류로 변성하는 전류변성기(Current Transformer)(CT)와, 전류 변성기(CT)의 2차측 출력 전압 레벨을 설계값으로 설정하기 위해 설치되는 저항(R1)과, 전류 변성기(CT)의 2차측으로 출력되는 교류를 반파 정류 및 평활하여 측정전류의 피크치를 검출 하기 위한 다이오드(D1) 및 캐패시터(C1) 및, 다이오드(D1) 및 캐패시터(C1)에 의해 검출된 측정전류의 피크치에 대한 출력을 버퍼링(Buffering)하는 연산증폭기(Operational Amplifier)(OA)를 포함하여 구성된다.
그런데, 코일에 전류를 흘려 열을 발생함으로써 조리용기에 담은 음식을 가열하는 조리기구(예컨대, 유도가열조리기구 등)에 채용되어 있는 전류 검출 회로는, 조리기구의 특성 상 고열에 노출되게 되고 이로 인해 회로 전체의 온도가 상승하게 된다.
상기 전류 검출 회로 중 온도에 가장 민감한 소자가 다이오드로서, 다이오드 는 온도가 상승할 수록 역방향 누설전류가 증가한다는 것은 주지의 사실이다.
즉, 다이오드에 흐르는 이상(Ideal)적인 순방향 전류(A)는 도 2의 (a)와 같으나, 주위 온도에 영향을 받아 온도가 상승할 경우, 도 2의 (b)에 도시한 바와 같이, 다이오드에 대해 역방향으로 흐르는 누설전류(ΔA)가 증가하면서, 다이오드를 흐르는 순방향 전류(A')가 감소된다(A' = A - ΔA).
이와 같이, 다이오드를 흐르는 순방향 전류(A')의 변화로 인해, 다이오드와 캐패시터를 통해 검출되는 부하 전류의 피크치에 오차가 발생하는 문제점이 있었다.
본 발명은 상기한 바와 같은 종래기술의 문제점을 해소하기 위해 안출한 것으로, 본 발명의 목적은 온도 상승에 따른 다이오드의 역방향 누설전류 증가에 따른 전류 검출값의 변화분을 상쇄시킴으로써, 부하 전류 검출에 대한 정밀성을 향상시키고 제품의 신뢰성을 높일 수 있는 유도가열기기용 전류 검출 회로를 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 제1 실시예에 따른 유도가열기기용 전류 검출 회로는, 애노드가 입력측에 연결되고 캐소드가 출력측에 연결된 다이오드 및 일단이 상기 다이오드의 캐소드에 연결되고 타단이 접지되어 있는 캐패시터에 의해 입력 전류의 피크치를 검출하도록 구성되고, 캐소드가 상기 다이오드의 캐소드에 연결되고 애노드가 접지되어 있는 제너다이오드를 더 포함함을 특징으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 제2 실시예에 따른 유도가열기기용 전류 검출 회로는, 애노드가 입력측에 연결되고 캐소드가 출력측에 연결된 다이오드 및 일단이 상기 다이오드의 캐소드에 연결되고 타단이 접지되어 있는 캐패시터에 의해 입력 전류의 피크치를 검출하도록 구성되고, 일단이 상기 다이오드의 캐소드에 연결되고 타단이 접지되어 있는 션트 저항을 더 포함함을 특징으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 제3 실시예에 따른 유도가열기기용 전류 검출 회로는, 애노드가 입력측에 연결되고 캐소드가 출력측에 연결된 다이오드 및 일단이 상기 다이오드의 캐소드에 연결되고 타단이 접지되어 있는 캐패시터에 의해 입력 전류의 피크치를 검출하도록 구성되고, 캐소드가 상기 다이오드의 캐소드에 연결되고 애노드가 접지되어 있는 제너다이오드와, 일단이 상기 다이오드의 캐소드에 연결되고 타단이 접지되어 있는 션트 저항을 더 포함함을 특징으로 한다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
[제1 실시예]
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유도가열기기용 전류 검출 회로를 나타내며, 본 발명의 제1 실시예에 따른 전류 검출 회로는,전류 변성기(CT)와 저항(R1)과 다이오드(D1)와 캐패시터(C1)와 연산 증폭기(OA) 및 제너다이오드(ZD1)를 포함한다.
전류 변성기(CT)는 부하전류를 입력받아 이를 측정에 용이한 소전류로 변성하여 출력하고, 저항(R1)은 전류 변성기(CT)의 2차측 출력 전압을 설정하고자 전류 변성기(CT)의 2차측 양단(3, 4)에 연결된다.
다이오드(D1)의 애노드(Anode)는 전류 변성기(CT)의 2차측 일단(3)에 연결되고 다이오드(D1)의 캐소드(Cathod)는 연산 증폭기(OA)의 비반전단자(7)에 연결되며, 상기 캐패시터(C1)의 일단은 일단이 다이오드(D1)의 캐소드에 연결되고 캐패시터(C1)의 타단이 접지된다.
연산 증폭기(OA)의 비반전단자(7)는 다이오드(D1)의 캐소드, 제너다이오드(ZD1)의 캐소드, 및 캐패시터(C1)의 일단에 연결되고, 연산증폭기(OA)의 반전단자(6) 및 출력단자(5)가 서로 연결된다.
제너다이오드(ZD1)의 캐소드는 다이오드(D1)의 캐소드에 연결되고 제너다이오드(ZD1)의 애노드는 접지된다.
이제 상기와 같이 구성된 본 발명의 제1 실시예에 대한 작용 효과를 설명하기로 한다.
전류 변성기(CT)는 1차측 단자(1, 2)로 교류형태의 부하전류를 입력받아 이를 측정에 용이한 교류형태의 소전류로 변성하여 2차측 단자(3, 4)를 통해 출력한다.
전류 변성기(CT)의 2차측으로 출력된 교류는 다이오드(D1)에 의해 반파정류되고, 캐패시터(C1)에 의해 평활되며, 이 다이오드(D1)와 캐패시터(C1)에 의해 전류 변성기(CT)로부터 출력되는 전류의 피크치가 검출된다.
다이오드(D1) 및 캐패시터(C1)에 의해 검출된 피크 전류값은 연산 증폭기(OA)를 통해 버퍼링(Buffering)된 후 즉, 일시 지연된 후 출력된다.
참고적으로, 연산 증폭기(OA)로부터 출력되는 피크 전류값은, 부하 전류를 제어하는 제어장치(예컨대, 유도가열조리기의 코일로 인가되는 전류를 제어하는 마이크로 컴퓨터 등)로 입력되어, 상기 제어장치가 목표치와 실제 출력되는 부하 전 류를 비교할 수 있는 정보로 활용될 수 있다.
이때, 주위 온도가 저온일 경우, 다이오드(D1)의 애노드로부터 캐소드로 흐르는 정상적인 순방향 전류(A)는 도 4의 (a)와 같은 값을 나타내지만, 다이오드(D1)의 주위 온도가 상승할 경우, 도 4의 (b)와 같이, 다이오드(D1)의 캐소드로부터 애노드로 흐르는 역방향 누설전류(ΔA)가 증가하면서, 다이오드(D1)의 순방향 전류(A')가 감소된다(A' = A - ΔA).
하지만, 다이오드(D1)의 순방향 전류에 제너다이오드(ZD1)의 애노드로부터 캐소드로 흐르는 순방향 전류가 가세함으로써, 도 4의 (c)와 같이, 다이오드(D1)의 역방향 누설전류(ΔA)가 제너다이오드(ZD1)의 순방향 전류로 인한 상쇄분(ΔAz)만큼 감소하여, 그 값이 "ΔAa"로 감소하게 된다(ΔAa = ΔA - ΔAz).
따라서, 다이오드(D1)의 순방향 전류에 대한 손실분이 현저히 감소하여, 검출되는 부하 전류의 피크치에 대한 오차를 감소시킬 수 있다.
[제2 실시예]
도 5는 본 발명의 제2 실시예에 따른 유도가열기기용 전류 검출 회로를 나타내며, 본 발명의 제2 실시예에 따른 전류 검출 회로는,전류 변성기(CT)와 저항(R1)과 다이오드(D1)와 캐패시터(C1)와 연산 증폭기(OA) 및 션트 저항(R2)을 포함한다.
전류 변성기(CT)는 부하전류를 입력받아 이를 측정에 용이한 소전류로 변성하여 출력하고, 저항(R1)은 전류 변성기(CT)의 2차측 출력 전압을 설정하고자 전류 변성기(CT)의 2차측 양단(3, 4)에 연결된다.
다이오드(D1)의 애노드는 전류 변성기(CT)의 2차측 일단(3)에 연결되고 다이오드(D1)의 캐소드는 연산 증폭기(OA)의 비반전단자(7)에 연결되고, 캐패시터(C1)의 일단은 다이오드(D1)의 캐소드에 연결되고 캐패시터(C1)의 타단은 접지된다.
연산 증폭기(OA)의 비반전단자(7)는 다이오드(D1)의 캐소드와 캐패시터(C1)의 일단 및 션트 저항(R2)의 일단에 연결되고, 연산 증폭기(OA)의 반전단자(6) 및 출력단자(5)가 서로 연결된다.
션트 저항(Shunt Register)(R2)의 일단은 다이오드(D1)의 캐소드에 연결되고 션트 저항(R2)의 타단은 접지된다.
이제 상기와 같이 구성된 본 발명의 제2 실시예에 대한 작용 효과를 설명하기로 한다.
전류 변성기(CT)는 1차측 단자(1, 2)로 교류형태의 부하전류를 입력받아 이를 측정에 용이한 교류형태의 소전류로 변성하여 2차측 단자(3, 4)를 통해 출력한다.
전류 변성기(CT)의 2차측으로 출력된 교류는 다이오드(D1)에 의해 반파정류되고, 캐패시터(C1)에 의해 평활되며, 이 다이오드(D1)와 캐패시터(C1)에 의해 전류 변성기(CT)로부터 출력되는 전류의 피크치가 검출된다.
상기 다이오드(D1) 및 캐패시터(C1)에 의해 검출된 피크 전류값은 연산 증폭기(OA)를 통해 버퍼링된 후, 일시 지연된 후 출력된다.
참고적으로, 상기 연산 증폭기(OA)로부터 출력되는 피크 전류값은, 부하 전류를 제어하는 제어장치(예컨대, 유도가열조리기의 코일로 인가되는 전류를 제어하는 마이크로 컴퓨터 등)로 입력되어, 상기 제어장치가 목표치와 실제 출력되는 부 하 전류를 비교할 수 있는 정보로 활용될 수 있다.
이때, 주위 온도가 저온일 경우, 다이오드(D1)의 애노드로부터 캐소드로 흐르는 정상적인 순방향 전류(A)는 도 6의 (a)와 같은 값을 나타내지만, 다이오드(D1)의 주위 온도가 상승할 경우, 도 6의 (b)와 같이, 다이오드(D1)의 캐소드로부터 애노드로 흐르는 역방향 누설전류(ΔA)가 증가하면서, 다이오드(D1)의 순방향 전류(A')가 감소된다(A' = A - ΔA).
하지만, 션트 저항(R2)이 설치됨으로써, 도 6의 (c)와 같이, 다이오드(D1)의 순방향 전류(
Figure 112004025737978-pat00001
A')가 더욱 증가하여 다이오드(D1)의 역방향 누설전류(ΔA)에 의한 손실분을 상쇄함으로써, 검출되는 부하 전류의 피크치에 대한 오차를 최소화할 수 있다.
상기 션트 저항(R2)에 의해 다이오드(D1)의 순방향 전류(
Figure 112004025737978-pat00002
A')가 증가하는 작용에 대해 부연 설명하면 다음과 같다.
션트 저항(R2)이 없는 상태에서, 다이오드(D1)의 캐소드로부터 연산증폭기(OA)의 비반전단자(7)까지의 경로는 이론적으로 개방회로(Open Circuit)에 해당하여, 실제 다이오드(D1)를 통해 흐르는 전류는 비교적 미약한 값이 된다.
이때, 션트 저항(R2)이 다이오드(D1)의 캐소드에 연결되어 접지되면, 다이오드(D1)의 캐소드로부터 션트 저항(R2)을 통해 접지측으로 연결되는 폐회로가 구성되면서, 다이오드(D1)의 캐소드로부터 션트 저항(R2)을 통해 접지측으로 흐르는 전류가 발생한다.
즉, 상기 접지측으로 흐르는 전류에 의해 다이오드(D1)를 통해 흐르는 전류 의 합이 더욱 커지게 되므로, 다이오드(D1)의 순방향 전류(
Figure 112004025737978-pat00003
A')가 증가하여, 이를 통해 다이오드(D1)의 역방향 누설전류(ΔA)에 의한 손실분을 상쇄할 수 있다.
[제3 실시예]
도 7은 본 발명의 제3 실시예에 따른 유도가열기기용 전류 검출 회로를 나타내며, 본 발명의 제3 실시예에 따른 전류 검출 회로는,전류 변성기(CT)와 저항(R1)과 다이오드(D1)와 캐패시터(C1)와 연산 증폭기(OA)와 제너다이오드(ZD1) 및 션트 저항(R2)을 포함한다.
전류 변성기(CT)는 부하전류를 입력받아 이를 측정에 용이한 소전류로 변성하여 출력하고, 저항(R1)은 전류 변성기(CT)의 2차측 출력 전압을 설정하고자 전류 변성기(CT)의 2차측 양단(3, 4)에 연결된다.
다이오드(D1)의 애노드는 전류 변성기(CT)의 2차측 일단(3)에 연결되고, 다이오드(D1)의 캐소드는 연산 증폭기(OA)의 비반전단자(7)에 연결되며, 상기 캐패시터(C1)의 일단은 다이오드(D1)의 캐소드에 연결되고 캐패시터(C1)의 타단은 접지된다.
연산 증폭기(OA)의 비반전단자(7)는 다이오드(D1)의 캐소드 및 제너다이오드(ZD1)의 캐소드와 캐패시터(C1)의 일단 및 션트 저항(R2)의 일단에 연결되고, 연산증폭기(OA)의 반전단자(6) 및 출력단자(5)가 서로 연결된다.
제너다이오드(ZD1)의 캐소드는 다이오드(D1)의 캐소드에 연결되고 제너다이오드(ZD1)의 애노드는 접지되며, 상기 션트 저항(R2)의 일단은 다이오드(D1)의 캐소드에 연결되고 션트 저항(R2)의 타단은 접지된다.
이제 상기와 같이 구성된 본 발명의 제3 실시예에 대한 작용 효과를 설명하기로 한다.
전류 변성기(CT)는 1차측 단자(1, 2)로 교류형태의 부하전류를 입력받아 이를 측정에 용이한 교류형태의 소전류로 변성하여 2차측 단자(3, 4)를 통해 출력한다.
전류 변성기(CT)의 2차측으로 출력된 교류는 다이오드(D1)에 의해 반파정류되고, 캐패시터(C1)에 의해 평활되며, 이 다이오드(D1)와 캐패시터(C1)에 의해 전류 변성기(CT)로부터 출력되는 전류의 피크치가 검출된다.
다이오드(D1) 및 캐패시터(C1)에 의해 검출된 피크 전류값은 연산 증폭기(OA)를 통해 버퍼링된 후 즉, 일시 지연된 후 출력된다.
참고적으로, 상기 연산 증폭기(OA)로부터 출력되는 피크 전류값은, 부하 전류를 제어하는 제어장치(예컨대, 유도가열조리기의 코일로 인가되는 전류를 제어하는 마이크로 컴퓨터 등)로 입력되어, 상기 제어장치가 목표치와 실제 출력되는 부하 전류를 비교할 수 있는 정보로 활용될 수 있다.
이때, 주위 온도가 저온일 경우, 다이오드(D1)의 애노드로부터 캐소드로 흐르는 정상적인 순방향 전류(A)는 도 8의 (a)와 같은 값을 나타내지만, 다이오드(D1)의 주위 온도가 상승할 경우, 도 8의 (b)와 같이, 다이오드(D1)의 캐소드로부터 애노드로 흐르는 역방향 누설전류(ΔA)가 증가하면서, 다이오드(D1)의 순방향 전류(A')가 감소된다(A' = A - ΔA).
하지만, 다이오드(D1)의 순방향 전류에 제너다이오드(ZD1)의 애노드로부터 캐소드로 흐르는 순방향 전류가 가세하여 도 8의 (c)와 같이, 다이오드(D1)의 역방향 누설전류(ΔA)가 제너다이오드(ZD1)의 순방향 전류로 인한 상쇄분(ΔAz)만큼 감소하여, 그 값이 "ΔAa"로 감소하게 된다(ΔAa = ΔA - ΔAz).
이와 동시에, 도 8의 (c)와 같이, 션트 저항(R2)에 의해 다이오드(D1)의 순방향 전류(
Figure 112004025737978-pat00004
A')가 더욱 증가하여 다이오드(D1)의 역방향 누설전류(ΔA)에 의한 손실분을 상쇄하게 된다.
즉, 1차적으로 다이오드(D1)의 역방향 누설전류(ΔA)에 대한 제너다이오드(ZD1)의 순방향 전류로 인해 다이오드(D1)의 역방향 누설전류(ΔAa)에 의한 손실분이 감소된다.
2차적으로 션트 저항(R2)에 의해 다이오드(D1)의 순방향 전류(
Figure 112004025737978-pat00005
A')가 증가하여 다이오드(D1)의 역방향 누설전류(ΔAa)에 대한 손실분이 더욱 감소된다.
따라서, 검출되는 부하 전류의 피크치에 대한 오차를 최소화할 수 있다.
상기 션트 저항(R2)에 의해 다이오드(D1)의 순방향 전류(
Figure 112004025737978-pat00006
A')가 증가하는 작용에 대해 부연 설명하면 다음과 같다.
션트 저항(R2)이 없는 상태에서, 다이오드(D1)의 캐소드로부터 연산증폭기(OA)의 비반전단자(7)까지의 경로는 이론적으로 개방회로(Open Circuit)에 해당하여, 실제 다이오드(D1)를 통해 흐르는 전류는 비교적 미약한 값이 된다.
이때, 션트 저항(R2)이 다이오드(D1)의 캐소드에 연결되어 접지되면, 다이오드(D1)의 캐소드로부터 션트 저항(R2)을 통해 접지측으로 연결되는 폐회로가 구성되면서, 다이오드(D1)의 캐소드로부터 션트 저항(R2)을 통해 접지측으로 흐르는 전류가 발생한다.
즉, 상기 접지측으로 흐르는 전류에 의해 다이오드(D1)를 통해 흐르는 전류의 합이 더욱 커지게 되므로, 다이오드(D1)의 순방향 전류(
Figure 112004025737978-pat00007
A')가 증가하여, 이를 통해 다이오드(D1)의 역방향 누설전류(ΔA)에 의한 손실분을 상쇄할 수 있다.
상기에서 본 발명은 특정 실시예를 예시하여 설명하지만 본 발명이 상기 실시예에 한정되는 것은 아니다. 당업자는 본 발명에 대한 다양한 변형, 수정을 용이하게 만들 수 있으며, 이러한 변형 또는 수정이 본 발명의 특징을 이용하는 한 본 발명의 범위에 포함된다는 것을 명심해야 한다.
상술한 바와 같이 본 발명은, 온도 상승의 영향으로 인해 발생하는 다이오드의 역방향 누설 전류에 의한 순방향 전류의 손실분을 보상할 수 있도록 구성한 것으로, 주위온도가 높은 환경에서 검출되는 부하 전류의 피크치에 대한 오차를 최소화할 수 있는 효과가 있다. 이러한, 본 발명은, 유도가열조리기, 유도가열난방기 등 고열을 발생하고 정밀한 부하전류의 제어가 필요한 기기에 적용할 경우, 기기에 대한 신뢰성을 높일 수 있어 유익하다.

Claims (3)

  1. 유도가열기기의 부하전류를 측정용의 소전류로 변성하여 2차측으로 출력하는 전류변성기(CT)와, 이 전류 변성기(CT)의 2차 측에서 애노드가 입력측에 연결되고 캐소드가 출력측에 연결된 다이오드(D1) 및 일단이 상기 다이오드(D1)의 캐소드에 연결되고 타단이 접지되어 있는 캐패시터(C1)에 의해 입력 전류의 피크치를 검출하고 이 검출된 전류의 피크치를 버퍼부(OA)를 통해 출력하여 유도가열기기의 부하전류를 제어하는 유도가열기기의 제어장치로 입력하는 유도가열기기용 전류 검출 회로에 있어서,
    상기 다이오드(D1)와 상기 버퍼부(OA)의 사이에 설치되고 캐소드가 상기 다이오드(D1)의 캐소드 및 상기 버퍼부(OA)의 입력단에 공통 연결되고 애노드가 접지되어 있는 제너다이오드(ZD1)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유도가열기기용 전류 검출 회로.
  2. 삭제
  3. 유도가열기기의 부하전류를 측정용의 소전류로 변성하여 2차측으로 출력하는 전류변성기(CT)와, 이 전류 변성기(CT)의 2차 측에서 애노드가 입력측에 연결되고 캐소드가 출력측에 연결된 다이오드(D1) 및 일단이 상기 다이오드(D1)의 캐소드에 연결되고 타단이 접지되어 있는 캐패시터(C1)에 의해 입력 전류의 피크치를 검출하고 이 검출된 전류의 피크치를 버퍼부(OA)를 통해 출력하여 유도가열기기의 부하전류를 제어하는 유도가열기기의 제어장치로 입력하는 유도가열기기용 전류 검출 회로에 있어서,
    상기 다이오드(D1)와 상기 버퍼부(OA)의 사이에 설치되고 캐소드가 상기 다이오드(D1)의 캐소드 및 상기 버퍼부(OA)의 입력단에 공통 연결되고 애노드가 접지되어 있는 제너다이오드(ZD1)와,
    일단이 상기 다이오드(D1)의 캐소드에 및 상기 버퍼부(OA)의 입력단에 공통 연결되고 타단이 접지되어 있는 션트 저항(R2)을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유도가열기기용 전류 검출 회로.
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