KR100676818B1 - Panel inspection apparatus - Google Patents
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Abstract
본 발명은, 패널을 검사하기 위한 패널검사장치에 관한 것으로서, 상기 패널을 지지하는 센터링유닛과; 상기 센터링유닛에 지지된 상기 패널의 배면으로 광을 공급하는 백라이트와; 상기 패널에 대해 이동가능하게 마련되며, 상기 패널의 액티브영역이 노출되도록 상기 패널의 가장자리인 테두리영역을 커버하는 마스크와; 상기 패널에 대해 이동가능하게 마련되며, 상기 패널에 전기적인 신호를 인가하도록 상기 패널의 전극과 접촉가능하게 마련된 핀보드와; 상기 패널의 전방에 마련되며, 상기 마스크에 의해 커버된 상기 패널의 액티브영역 및 상기 마스크의 이동에 의해 노출된 상기 패널의 전체면 중 어느 하나를 촬영하는 촬영부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 의하여, 구조를 단순하며 패널의 액티브영역검사 및 외관검사의 검사시간을 줄일 수 있다.The present invention relates to a panel inspection apparatus for inspecting a panel, comprising: a centering unit supporting the panel; A backlight for supplying light to the rear surface of the panel supported by the centering unit; A mask provided to be movable relative to the panel, the mask covering an edge area of the panel so that the active area of the panel is exposed; A pinboard movably provided with respect to the panel, the pinboard being in contact with an electrode of the panel to apply an electrical signal to the panel; And a photographing unit provided in front of the panel and photographing any one of an active area of the panel covered by the mask and an entire surface of the panel exposed by the movement of the mask. As a result, the structure is simple and the inspection time of the active area inspection and the appearance inspection of the panel can be reduced.
Description
도 1은 종래 패널의 액티브영역검사용 패널검사장치의 개략도,1 is a schematic view of a panel inspection apparatus for active area inspection of a conventional panel;
도 2는 종래 패널의 외관검사용 패널검사장치의 개략도,2 is a schematic view of a panel inspection apparatus for inspecting the appearance of a conventional panel;
도 3은 본 발명에 따른 패널검사장치의 개략도,3 is a schematic view of a panel inspection apparatus according to the present invention;
도 4는 본 발명의 일예에 따른 패널검사장치의 사시도,4 is a perspective view of a panel inspection apparatus according to an embodiment of the present invention,
도 5 내지 도 7은 도 4의 패널검사장치의 작동 사시도이다.5 to 7 is an operation perspective view of the panel inspection apparatus of FIG.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>
1 : 패널검사장치 5 : 패널1: Panel inspection device 5: Panel
8 : 전극 9 : 베이스부재8
10 : 백라이트 15 : 보호판10: backlight 15: shield
20 : 센터링유닛 21 : 센터링부재20: centering unit 21: centering member
23 : 센터링부재구동부 30 : 지지대23: centering member drive unit 30: support
32 : 프론트라이트 33 : 마스크32: Frontlight 33: Mask
35 : 핀보드 41 : 마스크구동부35: pin board 41: mask driver
42 : 제1구동부 45 : 제2구동부42: first driving unit 45: second driving unit
51 : 지지대구동부 60 : 촬영부51: support unit driving unit 60: photographing unit
61 : 카메라61: camera
본 발명은 패널검사장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 패널의 액티브영역 검사 및 외관검사를 용이하게 수행하도록 구조를 개선한 패널검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a panel inspection apparatus, and more particularly, to a panel inspection apparatus having an improved structure so as to easily perform an active region inspection and an appearance inspection of a panel.
일반적으로, 패널은 LCD(LIQUID CRYSTAL DISPLAY)에 장착되어 화상을 형성하는 것으로서, 화상이 형성되는 액티브영역과, 액티브영역의 외측에 마련된 테두리영역을 포함한다. 이러한 패널은 여러 단계의 제조공정을 거쳐 제조되며, 이러한 제조공정에는 성능 등을 검사하기 위한 검사과정이 포함된다.In general, the panel is mounted on an LCD (Liquid Crystal Display) to form an image, and includes an active area where an image is formed and an edge area provided outside the active area. Such a panel is manufactured through several stages of manufacturing process, and the manufacturing process includes an inspection process for inspecting performance and the like.
이러한 패널의 검사과정은 전기적인 신호를 통해 패널의 화상이 형성되는 액티브영역의 성능을 검사하는 액티브영역 검사와, 패널의 액티브영역 및 테두리영역의 외관 품질을 검사하는 외관검사로 나누어질 수 있다.The inspection process of the panel may be divided into an active area inspection for inspecting the performance of the active region in which the image of the panel is formed through an electrical signal and an appearance inspection for inspecting the appearance quality of the active region and the edge region of the panel.
도 1은 종래 패널의 액티브영역의 성능을 검사하기 위한 패널검사장치의 개략도이다. 이 도면에 도시된 바와 같이, 이러한 종래의 패널검사장치(101)는 패널(105)의 하부에 마련된 백라이트(110)와, 백라이트(110)와 패널(105) 사이에 마련되어 패널(105)을 지지하며 백라이트(110)에서 발생된 광이 패널(105)의 액티브영역에만 비추도록 패널(105)의 테두리영역을 커버하는 패널지그(120)와, 패널(105)의 상측에 마련되어 패널(105)의 액티브영역을 촬영하는 카메라(130)를 포함한다.1 is a schematic diagram of a panel inspection apparatus for inspecting the performance of an active area of a conventional panel. As shown in the figure, the conventional
이러한 구성에 의해, 종래의 패널검사장치(101)는 백라이트(110)에 전원을 인가하며 패널(105)에 전기적인 신호를 인가하여 액티브영역에 기준 화상을 형성시킨 후, 액티브영역에서 화상의 품질 및 밝기의 균일도 등을 검사할 수 있다.With this arrangement, the conventional
도 2는 종래 패널의 외관을 검사하기 위한 패널검사장치의 개략도이다. 이 도면에 도시된 바와 같이, 이러한 종래의 패널검사장치(201)는 패널(205)의 하부에 마련된 백라이트(210)와, 패널(205)의 상측에 마련되어 패널(205)의 전체 외관을 촬영하는 카메라(230)를 포함한다.2 is a schematic diagram of a panel inspection apparatus for inspecting the appearance of a conventional panel. As shown in this figure, the conventional
이러한 구성에 의해, 종래의 패널검사장치(201)는 백라이트(210)에 전원을 인가하여 패널(205) 전체면의 외관에 찍힘이나 긁힘 등을 유무를 검사할 수 있다.By such a configuration, the conventional
그러나, 이러한 종래의 패널검사장치들은 패널의 액티브영역검사 및 외관검사를 수행하도록 각각 별도로 마련되며, 각 패널검사장치 사이에는 패널을 이송하기 위한 별도의 이송수단이 마련되어야 하므로, 패널검사장치의 구조가 복잡하고 검사시간이 길어지는 문제점이 있다.However, these conventional panel inspection apparatuses are separately provided to perform active area inspection and appearance inspection of the panel, and a separate transport means for transporting the panel must be provided between each panel inspection apparatus, so that the structure of the panel inspection apparatus Is complicated and the inspection time is long.
그리고, 이러한 종래의 패널검사장치는 각 패널에 맞게 별도의 패널지그가 마련되어야 하므로, 다양화 크기를 갖는 패널들을 용이하게 지지할 수 있는 방안이 요구된다.In addition, since the conventional panel inspection apparatus has to be provided with a separate panel jig for each panel, a method capable of easily supporting panels having a diversified size is required.
따라서, 본 발명의 목적은, 구조를 단순하며 패널의 액티브영역검사 및 외관검사의 검사시간을 줄일 수 있는 패널검사장치를 제공하는 것이다.Accordingly, it is an object of the present invention to provide a panel inspection apparatus which is simple in structure and can reduce inspection time of active region inspection and appearance inspection of a panel.
그리고, 본 발명의 다른 목적은, 다양한 크기의 패널을 지지할 수 있는 패널검사장치를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a panel inspection apparatus capable of supporting panels of various sizes.
상기 목적은, 본 발명에 따라, 패널을 검사하기 위한 패널검사장치에 있어서, 상기 패널을 지지하는 센터링유닛과; 상기 센터링유닛에 지지된 상기 패널의 배면으로 광을 공급하는 백라이트와; 상기 패널에 대해 이동가능하게 마련되며, 상기 패널의 액티브영역이 노출되도록 상기 패널의 가장자리인 테두리영역을 커버하는 마스크와; 상기 패널에 대해 이동가능하게 마련되며, 상기 패널에 전기적인 신호를 인가하도록 상기 패널의 전극과 접촉가능하게 마련된 핀보드와; 상기 패널의 전방에 마련되며, 상기 마스크에 의해 커버된 상기 패널의 액티브영역 및 상기 마스크의 이동에 의해 노출된 상기 패널의 전체면 중 어느 하나를 촬영하는 촬영부를 포함하는 것을 특징으로 하는 패널검사장치에 의해 달성된다.The above object is, according to the present invention, a panel inspection apparatus for inspecting a panel, comprising: a centering unit supporting the panel; A backlight for supplying light to the rear surface of the panel supported by the centering unit; A mask provided to be movable relative to the panel, the mask covering an edge area of the panel so that the active area of the panel is exposed; A pinboard movably provided with respect to the panel, the pinboard being in contact with an electrode of the panel to apply an electrical signal to the panel; And a photographing unit provided in front of the panel and photographing any one of an active area of the panel covered by the mask and an entire surface of the panel exposed by the movement of the mask. Is achieved by.
여기서, 상기 센터링유닛은 상기 패널을 상기 마스크와 상기 핀보드 및 상기 촬영부 중 적어도 하나의 중심에 위치하도록 지지할 수 있다.The centering unit may support the panel to be positioned at the center of at least one of the mask, the pinboard, and the photographing unit.
상기 센터링유닛은, 상기 패널의 양측면과 접촉가능하게 마련된 적어도 한 쌍의 센터링부재와, 상기 한 쌍의 센터링부재가 상기 패널에 접촉하여 지지하도록 상기 한 쌍의 센터링부재를 이동하는 센터링부재구동부를 포함할 수 있다.The centering unit includes at least one pair of centering members provided to be in contact with both side surfaces of the panel, and a centering member driving unit for moving the pair of centering members to support the pair of centering members in contact with the panel. can do.
상기 패널의 전방에 마련되어 상기 패널의 전면으로 광을 공급하는 프론트라이트를 더 포함할 수 있다.It may further include a front light provided in front of the panel to supply light to the front of the panel.
상기 백라이트에 대해 이동가능하게 상기 패널의 전방에 마련된 지지대를 더 포함하며, 상기 지지대는 상기 프론트라이트를 지지하며, 상기 마스크 및 상기 핀보드를 이동가능하게 지지할 수 있다.The apparatus may further include a support provided at the front of the panel to be movable with respect to the backlight, wherein the support may support the front light and movably support the mask and the pinboard.
상기 지지대에 대해 상기 마스크 및 상기 핀보드를 일체로 이동하도록 지지하는 마스크구동부를 더 포함하며, 상기 마스크구동부는 상기 마스크 및 상기 핀보드를 상기 지지대의 판면에 기립한 방향으로 이동시키는 제1구동부와, 상기 마스크 및 상기 핀보드를 상기 지지대의 판면과 나란한 방향으로 이동시키는 제2구동부를 포함할 수 있다.And a mask driver configured to integrally move the mask and the pinboard with respect to the support, wherein the mask driver includes a first driver configured to move the mask and the pinboard in a direction standing up against the plate surface of the support. And a second driving part for moving the mask and the pin board in a direction parallel to the plate surface of the support.
상기 마스크는 상기 패널의 전면 테두리영역과 접촉가능하게 마련될 수 있다.The mask may be provided to be in contact with the front edge of the panel.
상기 백라이트 및 상기 패널 사이에 마련된 보호판을 더 포함할 수 있다.The display device may further include a protection plate provided between the backlight and the panel.
이하에서는 첨부도면을 참조하여 본 발명에 대해 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
본 발명에 따른 패널검사장치(1)는 패널(5)의 화상을 형성하는 액티브영역(6)의 성능을 검사하는 액티브영역검사 및 패널(5)의 전체 외관을 검사는 하는 외관검사를 순차적으로 수행할 수 있도록 마련된 장치이다.The
도 3은 본 발명에 따른 패널검사장치(1)의 개략도이며, 도 4 내지 도 7은 본 발명의 일예에 따른 패널검사장치(1)의 사시도 및 작동 사시도이다. 이들 도면에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 패널검사장치(1)는 패널(5)을 검사하도록 패널(5)을 지지하는 센터링유닛(20)과, 센터링유닛(20)에 지지된 패널(5)의 배면으로 광을 공급하는 백라이트(10)와, 패널(5)에 대해 이동가능하게 마련되며 패널(5)의 액티브영역(6)이 노출되도록 패널(5)의 가장자리인 테두리영역(7)을 커버하는 마스크(33)와, 패널(5)에 대해 이동가능하게 마련되며 패널(5)에 전기적인 신호를 인가하도록 패널(5)의 전극(8)과 접촉가능하게 마련된 핀보드(35)와, 패널(5)의 전방에 마련되어 패널(5)을 검사하기 위해 패널(5)을 촬영하는 촬영부(60)를 포함한다. 본 발명에 따른 패널검사장치(1)는 패널(5)의 전방에 마련되어 패널(5)의 전면(front side)으로 광을 공급하는 프론트라이트(32)를 더 포함할 수 있다. 본 발명에 따른 패널검사장치(1)는 백라이트(10)에 대해 이동가능하게 패널(5)의 전방에 마련된 지지대(30)를 더 포함할 수 있으며, 지지대(30)에 대해 마스크(33) 및 핀보드(35)를 일체로 이동가능하게 지지하는 마스크구동부(41)를 더 포함할 수 있다. 본 발명에 따른 패널검사장치(1)는 백라이트(10) 및 패널(5) 사이에 마련된 보호판(15)을 더 포함할 수 있다.3 is a schematic view of the
패널(5)은 TFT-LCD(THIN FILM TRANSISTOR - LIQUID CRYSTAL DISPLAY)에 장착되어 화상을 형성하는 디스플레이패널을 나타낸다. 그러나, 패널(5)은 PDP(PLASMA DISPLAY PANEL) 및 유기ELD(ELECTRO LUMINESCENCE DISPLAY)와 같은 평면디스플레이에 장착되어 화상을 형성하는 디스플레이패널을 나타낼 수도 있다. 패널(5)은 판 형상의 유리기판 등으로 마련되며, 화상을 형성하도록 전기적 회로를 구성하는 패턴 등이 형성된 상태에서 검사를 받도록 패널검사장치(1)로 이송된다. 패널(5)은 그 중앙에 화상이 형성되는 액티브영역(active area)(6)과, 액티브영역(6)의 외측인 패널(5)의 테두리영역(7)과, 패널(5)의 테두리영역(7)에 패턴 등과 연결되며 핀보드(35)와 접촉가능하게 마련된 다수의 전극(8)을 포함한다. 패널(5)은 패널이송수단(미도시)에 의해 패널검사장치(1)로 공급 및 배출될 수 있다. 그리고, 이러한 패널이송수단은 패널(5)을 안착하여 이송하는 컨베이어방식 및 패널(5)을 진공 흡착하여 후술할 보호판(15)에 안착하는 진공흡착방식 등 다양한 방식으로 구성될 수 있다. 패널(5)은 본 발명의 일예로 도 5에 도시된 바와 같이, 보호판(15)에 안착되어 있으므로, 패널(5)의 전방은 패널(5)의 상측을 나타낸다.The
백라이트(10)는 패널(5)의 하측에 배치되도록 베이스부재(9)에 의해 지지되어 패널(5)의 배면으로 광을 공급한다. 백라이트(10)와 패널(5) 사이에는 편광판(polarizer plate)(13)과 같은 다양한 광학시트들이 마련될 수 될 수 있다. 백라이트(10)는 다양한 크기의 패널(5)에 광을 공급할 수 있도록 충분히 크게 마련된다.The
보호판(15)은 편광판(13)과 패널(5) 사이에 투명한 재질로 마련되어 공급된 패널(5)과 편광판(13) 등을 보호하게 된다. 보호판(15)은 백라이트(10)의 전체를 커버하도록 충분히 크게 마련된다.The
지지대(30)는 보호판(15)의 상측에 배치되며, 지지대구동부(51)에 의해 베이스부재(9)에 대해 승강가능하게 마련된다. 지지대(30)는 판 형상으로 마련되며, 그 중앙영역에는 마스크(33) 및 핀보드(35)가 통과하도록 지지대관통부(31)가 형성된다. 즉, 지지대(30)는 사각 도넛형상으로 마련된다. 그러나, 지지대(30)는 도넛 형상에 한정되지 않고 다양한 형상으로 마련될 수 있다.The
지지대구동부(51)는 일측이 베이스부재(9)에 결합되고 타측이 지지대(30)에 결합되어 지지대(30)를 베이스부재(9)에 대해 승강시킨다. 지지대구동부(51)는 본 발명의 일예로 실린더방식으로 마련되나, 지지대(30) 및 베이스부재(9)에 결합된 스크루 및 스크루를 회전시켜 지지대(30)를 승강시키는 구동모터와 같은 다양한 방식으로 마련될 수 있다. 지지대구동부(51)는 복수개로 마련되는 것이 바람직하다. The
프론트라이트(32)는 지지대(30)의 하부면에 장착되어 패널(5)의 전면(front side)인 상부면에 광을 공급하게 된다. 프론트라이트(32)는 패널(5)의 상부 측면에 배치되도록 지지대(30)에 결합되어 패널(5)에 경사지게 광을 공급한다. 프론트라이트(32)는 본 발명의 일예로 사각 형상의 패널(5)에 대응하여 사각 도넛형상으로 마련된다. 그러나, 프론트라이트(32)는 도넛형상에 한정되지 않고 다양한 형상으로 마련될 수 있다. The
마스크(33)는 패널(5)의 테두리영역(7)을 커버하도록 판 형상으로 마련된다. 마스크(33)는 패널(5)의 액티브영역(6)이 노출되도록 중앙영역에 마스크관통부(34)가 형성된 도넛형상으로 마련된다. 마스크(33)는 마스크구동부(41)에 의해 이동가능하게 마련된다. 마스크(33)는 패널(5)의 전면 테두리영역(7)과 접촉가능하게 마련된다. 이에, 마스크(33)는 후술할 핀보드(35)의 핀(36)이 패널(5)의 일측에 마련된 전극(8)과 접촉하기 위해 전극(8)을 가압할 경우 패널(5)의 타측이 들릴 수 있는 것을 방지할 수 있다.The
핀보드(35)는 패널(5)의 전극(8)과 접촉가능하게 마련된 복수의 핀(36)을 포함한다. 핀보드(35)는 본 발명의 일예로 마스크(33)와 같이 도넛형상으로 마련되어 마스크(33)의 상측에 마련된다. 핀보드(35)는 마스크(33)의 상측에 마스크(33)와 결합되어 마스크구동부(41)와 함께 이동가능하게 마련된다. 그러나, 핀보드(35)는 마스크(33)와 별도의 구동수단에 의해 이동될 수도 있다.The
마스크구동부(41)는 일측이 지지대(30)에 대해 결합되며, 타측이 마스크(33)에 대해 결합되어 마스크(33) 및 핀보드(35)를 지지대(30)에 대해 이동하게 된다. 마스크구동부(41)는 마스크(33) 및 핀보드(35)를 지지대(30)의 판면에 기립한 방향으로 이동시키는 제1구동부(42)와, 마스크(33) 및 핀보드(35)를 지지대(30)의 판면과 나란한 방향으로 이동시키는 제2구동부(45)를 포함한다.One side of the
마스크구동부(41)는 제1구동부(42)와, 일측이 지지대에 결합되며 타측이 마스크(33)에 대해 결합되어 마스크(33) 및 핀보드(35)를 지지대(30)에 대해 전후방향으로 이동하는 제2구동부(45)를 포함한다.The
제1구동부(42)는 일측이 지지대에 결합되며 타측이 마스크(33)에 대해 결합되어 마스크(33) 및 핀보드(35)를 지지대(30)에 대해 상하방향으로 이동시킨다. 제1구동부(42)는 지지대(30)에서 상하로 기립된 제1가이드(43)와, 마스크(33) 및 핀보드(35)에 결합되어 제1가이드(43)를 따라 슬라이딩하는 제1슬라이더(44)를 포함한다. 제1구동부(42)는 제1슬라이더(44)가 제1가이드(43)를 따라 슬라이딩할 수 있도록 구동하는 실린더유닛(미도시) 등을 더 포함한다. 제1구동부(42)는 마스크(33) 및 핀보드(35)가 지지대관통부(31)를 통과하여 패널(5)에 접촉가능하게 이동시킨다.One side of the
제2구동부(45)는 일측이 지지대에 결합되며 타측이 마스크(33)에 대해 결합되어 마스크(33) 및 핀보드(35)를 지지대(30)에 대해 전후방향으로 이동시킨다. 제2구동부(45)는 지지대(30)의 상측에 전후방향으로 마련된 제2가이드(46)와, 마스크(33) 및 핀보드(35)에 결합되어 제2가이드(46)를 따라 슬라이딩하는 제2슬라이더(47)와, 제2슬라이더(47)가 제2가이드(46)를 따라 슬라이딩할 수 있도록 구동하는 실린더유닛(48)을 포함한다. 제2구동부(45)는 지지대(30)의 상측으로 상승한 마스 크(33) 및 핀보드(35)를 전후방향으로 이동시킨다.One side of the
촬영부(60)는 패널(5)의 전방에 마련되며 마스크(33)에 의해 커버된 패널(5)의 액티브영역(6) 및 마스크(33)의 이동에 의해 노출된 패널(5)의 전체면 중 어느 하나를 촬영하게 된다. 촬영부(60)는 패널(5)의 전면을 촬영하기 위한 카메라(61)와, 카메라(61)를 지지하는 베이스부재(9)에 대해 지지하는 카메라지지대(63)를 포함한다. 촬영부(60)는 카메라(61)에 의해 촬영된 영상을 분석하여 불량여부를 판단하는 제어부(미도시)와 연결된다.The photographing
카메라(61)는 패널(5)의 상측에 마련되어 패널(5)의 전면을 촬영하게 된다. 카메라(61)는 패널(5)의 액티브영역(6)을 검사하기 위해 마스크(33) 및 핀보드(35)가 패널(5)에 접촉한 경우에는 마스크관통부(34)를 통해 패널(5)의 액티브영역(6)을 촬영하게 되며, 패널(5)의 외관을 검사하기 위해 마스크(33) 및 핀보드(35)가 패널(5)로부터 이동한 경우에는 패널(5)의 액티브영역(6) 및 테두리영역(7)을 포함한 패널(5)의 전체면을 촬영하게 된다.The
센터링유닛(20)은 패널(5)을 마스크(33)와 핀보드(35) 및 촬영부(60) 중 적어도 하나의 중심에 위치하도록 지지한다. 센터링유닛(20)은 패널(5)의 양측면과 접촉가능하게 마련된 적어도 한 쌍의 센터링부재(21)와, 한 쌍의 센터링부재(21)가 패널(5)에 접촉하여 지지하도록 한 쌍의 센터링부재(21)를 이동하는 센터링부재구동부(23)를 포함한다.The centering
센터링부재(21)는 보호판(15)으로 이송된 패널(5)을 지지하도록 보호판(15) 상에 이동가능하게 마련된다. 센터링부재(21)는 패널(5)의 양측면을 지지하도록 한 쌍으로 마련될 수도 있으며, 패널(5)의 좌우 측면 및 전후 측면을 지지하도록 두 쌍으로 마련될 수도 있다. 센터링부재(21)는 패널(5)의 측면과 접촉가능하게 긴 막대형상으로 마련된다.The centering
센터링부재구동부(23)는 한 쌍의 센터링부재(21)와 결합된 구동스크루(24)와, 구동스크루(24)를 회전시켜 센터링부재(21)를 이동시키는 구동모터(25)를 포함한다. 센터링부재구동부(23)는 두 쌍의 센터링부재(21)를 이동시키도록 한 쌍으로 마련될 수 있다.The centering
이러한 구성에 의해, 본 발명에 따른 패널검사장치(1)의 작동 과정을 살펴보면 다음과 같다.With this configuration, looking at the operation of the
우선, 지지대구동부(51)에 의해 지지대(30)를 베이스부재(9)에 대해 상승시켜 보호판(15) 상에 패널(5)을 안착시키며, 센터링유닛(20)을 구동하여 패널(5)을 지지하게 된다(도 5참조). 그리고, 지지대구동부(51)에 의해 지지대(30)를 베이스부재(9)에 대해 하강시킨 후, 마스크구동부(41)의 제2구동부(45)에 의해 마스크(33) 및 핀보드(35)를 지지대관통부(31)에 대응하여 전후방향으로 이동시킨다(도 6참조). 그런 후, 마스크구동부(41)의 제1구동부(42)에 의해 마스크(33) 및 핀보드(35)를 지지대관통부(31)를 통과해 패널(5)에 접촉시킨다(도 7참조). 그리고, 백라이트(10) 및 프론트라이트(32)에 전원을 인가하며, 핀보드(35)의 핀(36)을 통해 패널(5)의 전극(8)을 전기적신호를 인가하여 패널(5)의 액티브영역(6)에 화상을 형성시킨다. 그런 후, 카메라(61)에 의해 패널(5)의 액티브영역(6)을 촬영하여 액티브영역(6)의 불량여부를 판단하도록 액티브영역검사를 수행할 수 있다. 그리고, 마스크구동부(41)의 제1구동부(42) 및 제2구동부(45)를 순차적으로 작동시켜 도 4에 도시된 상태로 마스크(33) 및 핀보드(35)를 이동시킨다. 그리고, 센터링유닛(20)을 구동하여 패널(5)로부터 센터링부재(21)를 이탈 시킨다. 그런 후, 카메라(61)에 의해 패널(5)의 액티브영역(6) 및 테두리영역(7)을 포함한 전체면을 촬영하여 패널(5)의 외관의 불량여부를 판단하도록 외관검사를 수행할 수 있다.First, the
이에, 본 발명에 따른 패널검사장치는 패널(5)의 액티브영역검사 및 외관검사를 하나의 장치에서 수행할 수 있도록 함으로써 구조를 단순화 시킬 수 있으며, 검사시간을 줄일 수 있다.Accordingly, the panel inspection apparatus according to the present invention can simplify the structure and reduce the inspection time by allowing the active area inspection and the appearance inspection of the
그리고, 본 발명에 따른 패널검사장치는 센터링유닛에 의해 다양한 크기의 패널을 지지할 수 있다.In addition, the panel inspection apparatus according to the present invention can support panels of various sizes by the centering unit.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 구조를 단순하며 패널의 액티브영역검사 및 외관검사의 검사시간을 줄일 수 있는 패널검사장치를 제공할 있다.As described above, according to the present invention, it is possible to provide a panel inspection apparatus which is simple in structure and can reduce inspection time of active region inspection and appearance inspection of the panel.
그리고, 센터링유닛을 마련하여 다양한 크기의 패널을 지지할 수 있는 패널검사장치를 제공할 수 있다.In addition, a centering unit may be provided to provide a panel inspection apparatus capable of supporting panels of various sizes.
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