KR100650380B1 - 방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호 처리방법 - Google Patents

방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호 처리방법 Download PDF

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Abstract

라이브 상 및 마스크 상으로부터 서브트랙션(DSA처리)을 행하여 서브트랙션 상을 얻을 때에, X선 검출신호에 포함되는 시간지연분은, 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 의한 것으로서, 재귀적 연산처리에 의해 각 X선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하여 보정후 X선 검출신호를 구하고, 이들의 보정후 검출 신호로부터 라이브 상 및 마스크 상을 각각 얻는다.
라이브 상, 마스크 상, 서브트랙션, 임펄스 응답, 시간지연분.

Description

방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호 처리방법{RADIOGRAPHIC APPARATUS AND RADIATION DETECTION SIGNAL PROCESSING METHOD}
도 1은 실시예의 X선 투시촬영 장치의 전체구성을 나타내는 블럭도,
도 2는 실시예 장치에 사용되고 있는 FPD의 구성을 나타내는 평면도,
도 3은 실시예 장치에 의한 X선 촬영의 실행시의 X선 검출신호의 샘플링 상황을 나타내는 모식도,
도 4는 실시예에서의 X선 검출신호 처리방법의 순서를 나타내는 플로우차트,
도 5는 실시예에서의 X선 검출신호 처리방법에서의 시간지연 제거용의 재귀적 연산 처리 프로세스를 나타내는 플로우차트,
도 6은 방사선 입사 상황을 나타내는 도면,
도 7은 시간지연 상황을 나타내는 도면이다.
본 발명은, 방사선 조사수단에 의한 방사선의 조사에 따라 방사선 검출수단으로부터 방사선 검출신호가 소정의 샘플링 시간 간격으로 신호 샘플링수단에 의해 추출되는 동시에, 추출된 방사선 검출신호에 의거해서 방사선 화상이 얻어지도록 구성되어 있는 의료용 혹은 공업용의 방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호 처리방법에 관한 것으로, 특히 방사선 검출수단의 시간지연에 기인하는 DSA(서브트랙션 처리)화상의 열화를 개선하는 기술에 관한 것이다.
종래, 피검자의 혈관상태를 관찰하는 X선 투시 촬영장치로서, 디지털 서브트랙션 안지오그래피(Digital Subtraction Angiography, DSA)가 있다. 이 장치로는, 조영제가 투여되기 전의 피검체의 소정의 부위를 X선 촬영하고, 계속하여, 조영제가 투여된 피검체의 동일한 부위를 촬영한다. 조영제가 투여된 피검체의 X선상(즉 라이브 상)은, 혈관이 조영되어 있는 화상이며, 그것으로부터 조영제가 투여되기 전의 혈관이 조영되어 있지 않는 X선상(즉 마스크 상)을 빼는 것에 의해, 혈관만을 강조한 서브트랙션 상을 얻고 있다. 또, 서브트랙션 처리는 소위 뺄셈이지만, 『일본국 특개 2000-41973호 공보』에 개시되어 있는 바와 같이, SN비를 향상시키기 위해 복수회의 촬영에 의해 얻는 마스크 상을 가산 평균하거나, 경시적으로 얻은 라이브 상에 가중 가산평균을 행하는 것도 있다.
그렇지만, 이들의 화상을 촬영하는 방사선 검출기(방사선 검출수단)로서, 다수개의 X선 검출소자를 X선 검출면에 종횡으로 배열한 플랫 패널형 X선 검출기(이하, 적절히 「FPD」라고 한다)를 사용한 경우에는, FPD의 시간지연에 의해 잔상이 발생하는 문제점이 있다. 이 시간지연분이 충분히 제거될 수 없는 것에 기인하여 잔상이 발생한다.
본 발명은, 이러한 사정에 감안한 것이며, 방사선 검출수단으로부터 추출된 방사선 검출신호로부터 방사선 검출수단에 기인하는 방사선 검출신호의 시간지연을 충분히 제거할 수 있고, 서브트랙션 상을 고정밀도로 얻을 수 있는 방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호 처리방법을 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.
상기 문제를 해결하기 위해서, 발명자들은, FPD에 기인하는 시간지연에 의한 잔상 등은, 샘플링 시간 간격으로 추출되는 각 방사선 검출신호에 포함되는 시간지연분에 상당하는 것에 생각해봤다. 또, 이러한 시간지연분을 충분히 제거하기 위해서, 이하의 방법을 생각할 수 있다. 이 방법에 의하면, 이 FPD의 시간지연에 대하여, 다음 재귀식 A~C에 의해, FPD의 임펄스 응답에 기인하는 시간지연을 제거하고 있다.
Figure 112006043056110-pat00037
단, Δt : 샘플링 시간 간격,
k : 샘플링한 시계열 내의 k번째 시점을 나타내는 첨자,
Yk : k번째 샘플링 시점에서 추출된 방사선 검출신호,
Xk : Yk에서 시간지연분을 제거한 보정후 방사선 검출신호,
Xk-1 : 일시점 전의 Xk,
Sn(k-1) : 일시점 전의 Snk,
exp : 지수함수
N : 임펄스 응답을 구성하는 시정수가 다른 지수함수의 갯수,
n : 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중 하나를 나타내는 첨자,
Figure 112004034846700-pat00001
: 지수함수 n의 강도,
Figure 112004034846700-pat00002
: 지수함수 n의 감쇠시정수
이 재귀식 연산에서는, FPD의 임펄스 응답 계수인, N,
Figure 112006043056110-pat00038
,
Figure 112006043056110-pat00039
을 사전에 구해 두고, 그것을 고정한 상태에서 방사선 검출신호 Yk를 식 A~C에 적용하고, 그 결과, 시간지연분을 제거한 Xk를 산출하게 된다.
여기에서, 상술한 방법의 구체적인 내용에 대해서, 도 6, 도 7을 이용하여 설명한다. 도 6은, 방사선 입사 상황을 나타내는 도면임과 동시에, 도 7은, 시간지연 상황을 나타내는 도면이며, 도면 중의 종축은 입사방사선 강도를 나타내고, 시간 tO~t1은 마스크 상의 촬영, 시간 t2~t3은 라이브 상의 촬영을 나타낸다. 도 6에 나타내는 바와 같이, 시간 t0~t1 및 t2~t3의 사이에 방사선이 입사되면, 입사선량에 따른 본래의 신호에, 도 7에 사선으로 나타내는 시간지연분이 더해져, 방사선 검출신호 Yk는 도 7 중에 굵은 선으로 나타나게 된다.
도 7에서 나타내는 바와 같이, 마스크 상의 촬영을 행한 후에 라이브 상의 촬영을 행하기 까지의 사이에서도, 실제로는 마스크 상에 관한 임펄스 응답이 감쇠하면서도 방사선 검출신호의 성분이 조금이지만에 남아 있다. 이 때문에, 마스크 상의 촬영의 후에 연속하지 않고 단속적으로 라이브 상의 촬영을 행한 경우, 즉 마스크 상과 라이브 상의 시간적인 관계를 끊고 촬영을 행한 경우에, 각각의 화상에서 시간지연을 제거하여도, 라이브 상의 시간지연의 제거에 있어서 마스크 상에서의 시간지연이 겹치는 것에 기인하여, 시간지연분이 충분히 제거할 수 없어 잔상이 발생하는 것을 알 수 있다. 그렇다면, 실제로 얻어진 라이브 상과 마스크 상 등의 화상에 관한 방사 검출신호로부터, 영향을 미치는 모든 시간지연분을 각각 제거하고, DSA처리를 행하면 된다.
이러한 식견에 의거하는 본 발명은, 다음과 같은 구성을 채용한다.
즉, 본 발명에 관한 방사선 촬상장치는, 피검체를 향해서 방사선을 조사하는 방사선 조사수단과, 피검체를 투과한 방사선을 검출하는 방사선 검출수단과, 상기 방사선 검출수단으로부터 방사선 검출신호를 소정의 샘플링 시간 간격으로 추출하는 신호 샘플링수단을 구비하고, 피검체로의 방사선 조사에 따라 방사선 검출수단으로부터 샘플링 시간 간격으로 출력되는 방사선 검출신호에 의거해서 라이브 상과 마스크 상을 촬상하고, 라이브 상과 마스크 상을 서브트랙션하는 것에 의해 서브트랙션 상을 얻는 방사선 촬상장치에 있어서, 상기 장치는 이하의 요소를 포함한다:
샘플링 시간 간격으로 추출되는 각 방사선 검출신호에 포함되는 시간지연분을 단수 또는 감쇠시정수가 다른 복수개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 의한 것으로서 재귀적 연산처리에 의해 각 방사선 검출신호로부터 제거하는 시간지연 제거수단을 구비하고;
라이브 상과 마스크 상을 시간적으로 연속하여 촬상하기 위해서 라이브 상에 관한 방사선 검출신호 및 마스크 상에 관한 방사선 검출신호를 샘플링 시간 간격마다 시간적으로 연속하여 검출하고, 상기 시간지연 제거수단에 의해 각 방사선 검출 신호로부터 시간지연분이 제거되어 구해진 보정후 방사선 검출신호로부터 라이브 화상 및 마스크 화상을 각각 얻고, 서브트랙션 상을 얻는다.
본 발명에 관련된 방사선 촬상장치에 의하면, 방사선 조사수단에 의한 피검체로의 조사선에 따라 방사선 검출수단으로부터 소정의 샘플링 시간 간격으로 출력되는 방사선 검출신호에 의거해서 라이브 상과 마스크 상을 촬상하고, 라이브 상과 마스크 상을 서브트랙션하는 것에 의해 서브트랙션 상을 얻는다. 샘플링 시간 간격으로 추출되는 각 방사선 검출신호에 포함되는 시간지연분은, 단수 또는 감쇠시정수가 다른 복수개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 의한 것으로서, 재귀적 연산처리에 의해 각 방사선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하여 보정후 방사선 검출신호를 구한다. 라이브 상과 마스크 상을 시간적으로 연속해서 촬상하기 위해서 라이브 상에 관한 방사선 검출신호 및 마스크 상에 관한 방사선 검출신호를 샘플링 시간 간격마다 시간적으로 연속해서 검출함으로써, 이들의 시간지연분에 대해서는 시간적으로 관계가 있고, 이 시간지연분에 관한 화상의 촬상 후에 다른 화상을 촬상할 경우에는, 그 후자의 화상에도 영향을 미치고 있다. 서로 영향을 미치는 이 시간지연분을 이용함으로써 방사선 검출수단에 기인하는 방사선 검출신호의 시간지연을 충분히 제거할 수 있다. 또한, 서로 영향을 미치는 시간지연분이 제거된, 이들의 보정후 검출신호로부터 라이브 상 및 마스크 상을 각각 얻음으로써, 라이브 상과 마스크 상을 서브트랙션함으로써 얻는 서브트랙션 상에 대해서도 시간지연분을 충분히 제거 할 수 있다.
상술한 방사선 촬상장치에 있어서,
상기 시간지연 제거수단은 방사선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식 A~C,
Figure 112006043056110-pat00040
단, Δt : 샘플링 시간 간격,
k : 샘플링한 시계열 내의 k번째 시점을 나타내는 첨자,
Yk : k번째 샘플링 시점에서 추출된 방사선 검출신호,
Xk : Yk에서 시간지연분을 제거한 보정후 방사선 검출신호,
Xk-1 : 일시점 전의 Xk,
Sn(k-1) : 일시점 전의 Snk,
exp : 지수함수
N : 임펄스 응답을 구성하는 시정수가 다른 지수함수의 갯수,
n : 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중 하나를 나타내는 첨자,
Figure 112004034846700-pat00006
: 지수함수 n의 강도,
Figure 112004034846700-pat00007
: 지수함수 n의 감쇠시정수
에 의해 행해지도록 구성하는 것이 바람직하다.
방사선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식 A~C에 의해 행하는 경우에는, 식 A~C라는 간결한 점화식에 의해 시간지연분을 제거한 보 정후 방사선 검출신호 Xk가 빠르게 구해진다.
이 점화식에 의해 구해진 방사선 검출신호 Xk를 이용하여, 예를 들어 이하와 같은 마스크 상이나 라이브 상을 구해도 된다.
마스크 상의 경우에는, 보정후 X선 검출신호 Xk의 가산 평균에 의한 상기 마스크 상의 작성을 식 D,
Figure 112006043056110-pat00041
단, M : 마스크 상,
J : 마스크 상을 작성하기 위한 Xk의 갯수
에 의해 행한다.
또, 라이브 상의 경우에는, 보정후 X선 검출신호 Xk의 가중 평균을 나타내는 리커시브 처리에 의한 상기 라이브 상의 작성을 식 E,
Figure 112004034846700-pat00009
단, Rk : k번째의 리커시브 처리후의 라이브 상,
Rk-1 : 일시점 전의 Rk,
K : 리커시브의 가중 계수,
에 의해 행한다.
또한, 방사선 촬상장치에 있어서, 상기 방사선 검출수단의 일예는, 다수개의 X선 검출소자를 X선 검출면에 종횡으로 배열한 플랫패널형 X선 검출기이다.
또한, 본 발명에 관련된 방사선 촬상장치는, 의료용 장치에도 공업용 장치에도 적용할 수 있다. 의료용 장치의 일예는, X선 투시촬영 장치이며, 다른 일예는, X선 CT장치이다. 공업용 장치의 일예는, 비파괴 검사기기이다.
또한, 본 발명에 관련된 방사선 검출신호 처리방법은, 방사선을 조사하여 검출된 방사선 검출신호를 소정의 샘플링 시간 간격으로 추출하고, 샘플링 시간 간격으로 출력되는 방사선 검출신호에 의거해서 라이브 상과 마스크 상을 촬상하고, 마스크 상과 라이브 상을 서브트랙션하는 것에 의해 서브트랙션 상을 얻는 신호처리를 행하는 방사선 검출신호 처리방법에 있어서, 상기 방법은 이하의 공정을 포함한다:
(a) 라이브 상과 마스크 상을 시간적으로 연속해서 촬상하기 위해서 라이브 상에 관한 방사선 검출신호 및 마스크 상에 관한 방사선 검출신호를 샘플링 시간 간격마다 시간적으로 연속해서 검출하는 공정;
(b) 샘플링 시간 간격으로 추출되는 각 방사선 검출신호에 포함되는 시간지연분을 단수 또는 감쇠시정수가 다른 복수개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 의한 것으로서 재귀적 연산처리에 의해 각 방사선 검출신호로부터 제거하는 공정;
(c) 각 방사선 검출신호로부터 시간지연분이 제거되어 구해진 보정후 방사선 검출신호로부터 라이브 화상 및 마스크 화상을 각각 얻고, 서브트랙션 상을 얻는 공정.
본 발명에 관련된 방사선 검출신호 처리방법에 의하면, 본 발명에 관련된 방 사선 촬상장치를 바람직하게 실시 할 수 있다.
상술한 방사선 검출신호 처리방법에 있어서,
방사선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식 A~C,
Figure 112006043056110-pat00042
단, Δt : 샘플링 시간 간격,
k : 샘플링한 시계열 내의 k번째 시점을 나타내는 첨자,
Yk : k번째 샘플링 시점에서 추출된 방사선 검출신호,
Xk : Yk에서 시간지연분을 제거한 보정후 방사선 검출신호,
Xk-1 : 일시점 전의 Xk,
Sn(k-1) : 일시점 전의 Snk,
exp : 지수함수
N : 임펄스 응답을 구성하는 시정수가 다른 지수함수의 갯수,
n : 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중 하나를 나타내는 첨자,
Figure 112004034846700-pat00011
: 지수함수 n의 강도,
Figure 112004034846700-pat00012
: 지수함수 n의 감쇠시정수
에 의해 행하는 것이 바람직하다.
방사선 검출신호에서 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식 A~C에 의 해 행하는 경우에는, 이 재귀적 연산처리를 식 A~C에 의해 행하는 경우의 방사선 촬상장치를 바람직하게 실시할 수 있다.
또한, 마스크 상 및 라이브 상의 촬상의 예로서는, 이하와 같은 것을 들 수 있다. 일예는, 마스크 상을 촬상한 후에, 피검체에 조영제를 투여해서 라이브 상을 촬상한다. 또한, 다른 일예는, 피검체를 향해서 방사선을 조사하는 방사선 조사수단에 인가하는 포커스용 전압과 디포커스용 전압을 서로 전환하는 것으로, 마스크 상 및 라이브 상을 각각 촬상한다. 또한, 포커스용 전압과 디포커스용 전압을 서로 전환함으로써, 마스크 상 및 라이브 상을 각각 촬상하는 예로서는, 이하와 같은 것을 들 수 있다. 일예는, 피검체에 조영제를 투여한 상태에서, 디포커스 전압을 상기 방사선 조사수단에 인가시켜서 마스크 상을 촬상한 후에, 포커스 전압을 방사선 조사수단에 인가시켜서 라이브 상을 촬상한다. 다른 일예는, 피검체에 조영제를 투여한 상태에서, 포커스 전압을 방사선 조사수단에 인가시켜서 라이브 상을 촬상한 후에, 디포커스 전압을 상기 방사선 조사수단에 인가시켜서 마스크 상을 촬상한다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 도면에 의거하여 상세하게 설명한다.
도 1은, 실시예에 관한 X선 투시 촬영장치의 전체 구성을 나타내는 블록도이다.
X선 투시 촬영장치는, 도 1에서 나타낸 바와 같이, 피검체(M)를 향해서 X선을 조사하는 X선관(1)(방사선 조사수단)과, 피검체(M)를 투과한 X선을 검출하는 FPD(2)(방사선 검출수단)와, FPD(2)(플랫패널형 X선 검출기)로부터 X선 검출신호(방사선 검출신호)를 소정의 샘플링 시간 간격 △t으로 디지탈화하여 추출하는 A/D 변환기(3)(신호 샘플링수단)와, A/D 변환기(3)로부터 출력되는 X선 검출신호에 의거해서 X선 화상을 작성하는 검출신호 처리부(4)와, 검출신호 처리부(4)에서 취득된 X선 화상을 표시하는 화상 모니터(5)를 구비하고 있다. 즉, 피검체(M)로의 X선 조사에 따라 A/D 변환기(3)에서 FPD(2)로부터 추출되는 X선 검출신호에 의거해 X선화상이 취득됨과 동시에, 취득된 X선 화상이 화상 모니터(5)의 화면에 영사되는 구성으로 되어 있다. 이하, 본 실시예의 장치의 각부 구성을 구체적으로 설명한다.
X선관(1)과 FPD(2)는 피검체(M)를 사이에 두고 대향배치되어 있고, X선관(1)은 X선 촬영시, X선 조사 제어부(6)의 제어를 받으면서 피검체(M)에 콘빔 모양의 X선을 조사함과 동시에, X선 조사에 따라 발생하는 피검체(M)의 투과 X선상이 FPD(2)의 X선 검출면에 투영되는 배치관계로 되어 있다.
X선관(1)과 FPD(2)의 각각은 X선관 이동기구(7) 및 X선 검출기 이동기구(8)에 의해 피검체(M)에 따라 왕복 이동가능하게 구성되어 있다. 또한, X선관(1)과 FPD(2)의 이동에 대해서는, X선관 이동기구(7) 및 X선 검출기 이동기구(8)가 조사 검출계 이동 제어부(9)의 제어를 받아서 X선의 조사 중심이 FPD(2)의 X선 검출면의 중심에 항상 일치하는 상태가 유지되는 구성되어 있다. 또, X선관(1)과 FPD(2)의 대향배치를 유지한 채로 함께 이동시키는 구성으로 되어 있다. 물론 X선관(1)과 FPD(2)가 이동함에 따라서 피검체(M)로의 X선 조사위치가 변화되는 것에 의해 촬영 위치가 이동하게 된다.
FPD(2)는, 도 2에서 나타낸 바와 같이, 피검체(M)로부터의 투과 X선 상이 투영되는 X선 검출면에 다수의 X선 검출소자(2a)가 피검체(M)의 체축방향 X와 체측방 향 Y에 따라 종횡으로 배열된 구성으로 되어 있다. 예컨대, 종 30cm × 횡 30cm 정도의 넓이의 X선 검출면에 X선 검출소자(2a)가 종 1536 × 횡 1536의 매트릭스로 종횡으로 배열되어 있다. FPD(2)의 각 X선 검출소자(2a)가 검출 신호처리부(4)에서 작성되는 X선 화상의 각 화소와 대응관계에 있고, FPD(2)로부터 추출된 X선 검출신호에 의거해서 검출 신호처리부(4)에서 X선 검출면에 투영된 투과 X선 상에 대응하는 X선 화상이 작성된다.
A/D 변환기(3)는, X선 화상 1장분씩의 X선 검출신호를 샘플링 시간 간격 △t로 연속적으로 추출하고, 후단의 메모리부(10)에서 X선 화상작성용의 X선 검출신호를 기억함과 동시에, X선 검출신호의 샘플링 동작(취득)을 X선 조사 이전에 개시하도록 구성되어 있다.
즉, 도 3에서 나타내는 바와 같이, 샘플링 시간 간격 △t로, 그 시점의 투과 X선 상에 관한 전체의 X선 검출신호가 수집되어 메모리부(10)에 차례로 저장되어 진다. X선을 조사하는 이전의 A/D 변환기(3)에 의한 X선 검출신호의 추출 개시는, 오퍼레이터의 수동조작에 의해 행하여지는 구성이어도 되고, X선 조사 지시 조작 등과 연동해서 자동적으로 행하여지는 구성이어도 된다.
이 메모리부(10)는, 후술하는 시간지연 제거부(11)에 의해 구해진 보정후 X선 검출신호도 기억하도록 구성되어 있고, 이 보정후 X선 검출신호를 라이브 상 및 마스크 상 용의 검출신호로서 기억하고 있다. 메모리부(10)와는 개별로 라이브 상 및 마스크 상 용의 메모리부를 각각 구비해도 된다.
또한, 본 실시예의 X선 투시 촬영장치는, 도 1에서 나타내는 바와 같이, FPD(2)로부터 샘플링 시간 간격으로 추출되는 각 X선 검출신호에 포함되는 시간지연분을, 감쇠시정수가 다른 복수개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 의한 것으로서 재귀적 연산 처리에 의해 각 X선 검출신호로부터 시간지연분을 제거한 보정후 X선 검출신호를 산출하는 시간지연 제거부(11)를 구비하고 있다.
즉, FPD(2)의 경우, 도 7에서 나타내는 바와 같이, 각 시각에서의 X선 검출신호에는, 과거의 X선 조사에 대응하는 신호가 시간지연분(사선부분)으로서 포함된다. 이 시간지연분을 시간지연 제거부(11)에서 제거해서 시간지연이 없는 보정후 X선 검출신호로 함과 동시에, 보정후 X선 검출신호에 의거해서 검출신호 처리부(4)에서 X선 검출면에 투영된 투과 X선 상에 대응하는 X선 화상을 작성하는 구성으로 되어 있다.
구체적으로 시간지연 제거부(11)는, 각 X선 검출신호에서 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를, 다음의 식 A~C를 이용하여 행한다.
Figure 112006043056110-pat00043
단, Δt : 샘플링 시간 간격,
k : 샘플링한 시계열 내의 k번째 시점을 나타내는 첨자,
Yk : k번째 샘플링 시점에서 추출된 X선 검출신호,
Xk : Yk에서 시간지연분을 제거한 보정후 X선 검출신호,
Xk-1 : 일시점 전의 Xk,
Sn(k-1) : 일시점 전의 Snk,
exp : 지수함수
N : 임펄스 응답을 구성하는 시정수가 다른 지수함수의 갯수,
n : 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중 하나를 나타내는 첨자,
Figure 112004034846700-pat00014
: 지수함수 n의 강도,
Figure 112004034846700-pat00015
: 지수함수 n의 감쇠시정수
결국, 식 A의 제 2항의
Figure 112006043056110-pat00044
가 시간지연분에 해당하므로, 본 실시예 장치에서는, 시간지연분을 제거한 보정후 X선 검출신호(Xk)가 식 A~C라는 간결한 점화식에 의해 빠르게 구해진다.
또, 본실시예 장치에서는, A/D 변환기(3)와, 검출신호 처리부(4), X선 조사제어부(6)와 조사 검출계 이동 제어부(9), 시간지연 제거부(11), 후술하는 DSA(서브트랙션) 처리부(14)는, 조작부(12)로부터 입력되는 지시나 데이타 혹은 X선 촬영의 진행에 따라서 주제어부(13)로부터 송출되는 각종 명령에 따라 제어·처리를 실행하는 구성으로 되어 있다.
또한, 본 실시예의 X선 투시촬영 장치는, 도 1에서 나타내는 바와 같이, 메모리부(10)에 각각 기억된 각 보정후 X선 검출신호로부터 라이브 상 및 마스크 상을 얻고, 양쪽 화상의 서브트랙션을 행하여 서브트랙션 상을 얻는 DSA 처리부(14) 를 구비하고 있다.
다음에, 상술의 본 실시예 장치를 이용하여 X선 촬영을 실행할 경우에 대해서, 도면을 참조하면서 구체적으로 설명한다.
도 4는 실시예에서의 X선 검출신호 처리방법의 순서를 나타내는 플로우 차트이다.
[단계 1] X선 미조사의 상태에서 A/D 변환기(3)가 샘플링 시간 간격 △t(=1/30초)로 FPD(2)로부터 X선 조사전의 X선 화상 1장분의 X선 검출신호(Yk)를 추출하기 시작하는 동시에, 추출된 X선 검출신호가 메모리부(10)에 기억되어진다.
[단계 2] 오퍼레이터의 설정에 의해 X선이 연속 내지 단속적으로 피검체(M)에 조사되는 것과 병행하여, 샘플링 시간 간격 △t로 A/D 변환기(3)에 의한 X선 화상 1장분의 X선 검출신호 Yk의 추출과 메모리부(10)로의 기억이 계속된다.
이 X선 검출신호(Yk)의 수집 및 메모리부(10)에의 기억은, 마스크 상의 촬상 및 라이브 상의 촬상의 때에,동시에 행하여진다. 단계 S2가 단계 S1로부터 이행한 경우에는, 조영제를 투여하지 않는 마스크 상의 촬상이 단계 S2 이후에서 행하여지고, 단계 S2가 후술하는 단계 S4 [조영제의 투여]로부터 이행한 경우에는, 라이브 상의 촬상이 단계 S2 이후에서 행하여진다. 또한, 마스크 상의 촬상으로부터 라이브 상의 촬상으로 이행하는 사이인 조영제의 투여중과 같이 X선 미조사의 상태에서도, 도 7에서 나타내는 바와 같이 시간지연분에 의해 X선 검출신호(Yk)가 감쇠하면서도 남아 있다. 따라서, 조영제의 투여중이라도 X선 검출신호(Yk)의 수집·기억을 샘플링 시간 간격 △t마다 시간적으로 연속해서 행한다. 이것에 의해, 마스크 상의 촬상 및 라이브 상의 촬상이 시간적으로 연속해서 행하여진다.
〔단계 S3〕X선 조사가 종료하면 단계 S5로 진행하고, X선 조사가 종료하지 않는다면 단계 S2로 되돌아간다.
〔단계 S4〕마스크 상에 관한 X선 조사가 종료한 경우에는, 즉 마스크 상의 촬상이 종료한 경우에는, 단계 S5와 병행하여, 다음 라이브 상의 촬상을 하기 위해 피검체(M)에 조영제를 투여하여 단계 S2로 되돌아가고, 마스크 상과 같이 단계 S2, S3의 처리를 한다.
〔단계 S5〕단계 S4와 병행하여, 메모리부(10)로부터 1회의 샘플링으로 수집한 X선 화상 1장분의 X선 검출신호 Yk를 판독한다.
〔단계 S6〕시간지연 제거부(11)가 식A~C에 의한 재귀적 연산 처리를 행하고, 각 X선 검출신호(Yk)로부터 시간지연분을 제거한 보정후 X선 검출신호(Xk), 즉, 화소값을 구한다. 이 보정후 X선 검출신호 Xk도 메모리부(10)에 기억된다.
〔단계 S7〕메모리부(10)에 미처리의 X선 검출신호(Yk)가 남아 있으면, 단계 S5로 되돌아가고, 미처리의 X선 검출신호(Yk)가 남아 있지 않으면 단계 S8로 진행한다.
〔단계 S8〕보정후 X선 검출신호(Xk)가 조영제 투여전에 수집된 X선 검출신호(Yk)로부터 시간지연분을 제거한 신호의 경우에는, 마스크 상으로 판단하여 메모 리부(10)에 기억된 보정후 X선 검출신호(Xk)를 판독하여 DSA 처리부(14)는 마스크 상을 작성한다. 마스크 상의 작성을 다음의 식 D의 가산 평균에 의해 행한다.
Figure 112006043056110-pat00045
단, M : 마스크 상,
J : 마스크 상을 작성하기 위한 Xk의 갯수
한편, 보정후 X선 검출신호(Xk)가 조영제 투여후에 수집된 X선 검출신호(Yk)로부터 시간지연분을 제거한 신호의 경우에는, 라이브 상으로 판단하여 메모리부(10)에 기억된 보정후 X선 검출신호(Xk)를 판독하고 DSA 처리부(14)는 라이브 상을 작성한다. 라이브 상의 작성을 다음의 식 E의 가중 평균(이하, 적절히 「리커시브 처리 」라고 한다)에 의해 행한다.
Figure 112004034846700-pat00018
단, Rk : k번째의 리커시브 처리후의 라이브 상,
Rk-1 : 일시점 전의 Rk,
K : 리커시브의 가중 계수
본 실시예에서는 K=4로 하고, 본 실시예에 관한 리커시브 처리에 대해서 구체적으로 설명하면, k=0으로 세트되어, 식 E의 R0=0이 X선 조사전의 초기값으로 세트된다. 식 E에서 k=1로 세트된다. 식 E, 즉
Figure 112004034846700-pat00019
에 따라서 1번째의 리커시브 처리 후의 라이브 상(Rl)이 산출된다.
식 E에서 k를 1만큼 증가(k=k+1)한 후, 계속해서 식 E에 1시점 전의 Rk-1이 대입되어 k번째의 리커시브 처리 후의 라이브 상(Rk)이 산출된다.
〔단계 S9〕마스크 상 및 라이브 상을 작성하면, 마스크 상과 라이브 상의 DSA 처리를 DSA 처리부(14)가 행하여, 서브트랙션 상을 얻는다.
〔단계 S10〕작성한 서브트랙션 상을 화상 모니터(5)에 표시한다.
또, 본 실시예 장치에서는, X선 화상 1장분의 X선 검출신호(Yk)에 대한 시간지연 제거부(11)에 의한 보정후 X선 검출신호(Xk)의 산출 및 검출 신호처리부(4)에 의한 X선 화상의 작성이 샘플링 시간 간격 △t(=1/30초)로 행하여진다. 즉, 1초 사이에 X선 화상을 30장 정도의 스피드로 차례차례로 작성됨과 동시에, 작성된 X선 화상을 연속표시 할 수 있도록도 구성되어 있다. 따라서, X선 화상의 동화표시(動畵表示)를 행할 수 있다.
다음에, 도 4에서의 단계 S6의 시간지연 제거부(11)에 의한 재귀적 연산 처리의 프로세스를, 도 5의 플로우 차트를 이용하여 설명한다.
도 5는 실시예에서의 X선 검출신호 처리방법에서의 시간지연 제거를 위한 재귀적 연산 처리 프로세스를 나타내는 플로우 차트이다.
[단계 Q1] k=0로 세트되어, 식 A의 X0=0, 식 C의 Sn0=O이 X선 조사전의 초기값으로 모두 세트된다. 지수함수의 수가 3개(N=3)의 경우는, S10, S20, S30이 모두 0 으로 세트 되게 된다.
[단계 Q2] 식 A, C에서 k=1로 세트된다. 식 C, 즉, Sn1=X0+exp(Tn)·S n0에 따라서 Sll, S21, S31이 구해지고, 또 구해진 Sl1, S21 , S31과 X선 검출신호(Y1)가 식 A에 대입되는 것으로 보정후 X선 검출신호가 산출된다.
[단계 Q3] 식A, C에서 k를 1만큼 증가(k=k+1)한 후, 계속해서 식 C에 1시점 전의 Xk-1가 대입되어 Slk, S2k, S3k가 구해지고, 또한 구해진 Slk, S2k, S3k와 X선 검출신호(Yk)가 식 A에 대입되는 것으로 보정후 X선 검출신호(Xk)가 산출된다.
[단계 Q4] 미처리의 X선 검출신호(Yk)가 있으면, 단계 Q3으로 되돌아가고, 미처리의 X선 검출신호(Yk)가 없으면, 다음 단계 Q5로 진행한다.
[단계 Q5] 1회의 샘플링 분(X선 화상 1장분)의 보정후 제거 X선 검출신호(Xk)가 산출되고, 1회의 촬영분에 관한 재귀적 연산 처리가 종료가 된다.
이상과 같이, 본 실시예의 X선 투시 촬영 장치에 의하면, X선관(1)에 의한 피검체(M)로의 X선에 따라 FPD(2)로부터 샘플링 시간 간격 △t(=1/30초)로 출력되는 X선 검출신호(Yk)에 근거해서 라이브 상과 마스크 상을 촬상하고, 라이브 상과 마스크 상을 서브트랙션하는 것에 의해 서브트랙션 상을 얻는다. 샘플링 시간 간격 △t로 추출되는 각 X선 검출신호(Yk)에 포함되는 시간지연분은, 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 의한 것으로서, 식 A~C의 재귀적 연산처리에 의해 시간지연 제거 부(11)는 각 방사선 검출신호(Yk)로부터 시간지연분을 제거해서 보정후 방사선 검출신호(Xk)를 구한다. 라이브 상과 마스크 상을 시간적으로 연속하여 촬상하기 위해서 라이브 상에 관한 X선 검출신호(Yk) 및 마스크 상에 관한 X선 검출신호(Yk)를 샘플링 시간 간격 △t마다 시간적으로 연속해서 검출해서 수집함으로써 이들의 시간지연분에 관해서는 시간적으로 관계가 있고, 이 시간지연분에 관한 마스크 상(도 7 참조)의 촬상 후에 라이브 상을 촬상할 경우에는, 그 라이브 상에도 영향을 미치게 된다. 서로 영향을 미치는 이 시간지연분을 이용함으로써 방사선 검출수단인 FPD(2)에 기인하는 X선 검출신호의 시간지연분이 충분히 제거 될 수 있다. 또한, 서로 영향을 미치는 시간지연분이 제거된, 이들의 보정후 검출신호(Xk)로부터 라이브 상 및 마스크 상을 각각 얻음으로써, 라이브 상과 마스크 상을 서브트랙션함으로써 얻어진 서브트랙션 상에 관해서도 시간지연분을 충분히 제거할 수 있다.
본 발명은, 상기 실시형태에 한정되는 것은 아니고, 하기와 같이 변형실시 할 수 있다.
(1) 상술한 실시예 장치에서는, 방사선 검출수단이 FPD이었지만, 본 발명은, FPD이외의 X선 검출신호의 시간지연을 발생시키는 방사선 검출수단을 이용한 구성의 장치에도 이용할 수 있다.
(2) 상술한 실시예 장치는 X선 투시 촬영장치이었지만, 본 발명은 X선 CT장치와 같이 X선 투시 촬영장치이외의 것에도 적용할 수 있다.
(3) 상술한 실시예 장치는 의료용 장치였지만, 본 발명은, 의료용에 한하지 않고, 비파괴 검사기기 등의 공업용 장치에도 적용할 수 있다.
(4) 상술한 실시예 장치는, 방사선으로서 X선을 쓰는 장치이었지만, 본 발명은, X선에 한하지 않고, X선 이외의 방사선을 이용하는 장치에도 적용할 수가 있다.
(5) 상술한 실시예에서는, 마스크 상을 작성하는데 각 보정후 X선 검출신호 (Xk)를 가산 평균하여 구하고, 라이브 상을 작성하는데 각 보정후 X선 검출신호(Xk)로부터 리커시브 처리를 행하여 구했지만, 라이브 상이나 마스크 상의 작성에 대해서는, 보통 이용되는 마스크 상이나 라이브 상의 작성하는 방법이면 상술한 처리에 한정되지 않는다. 예컨대, 단독의 보정후 X선 검출신호(Xk)로부터 마스크 상이나 라이브 상을 각각 얻어도 된다.
(6) 상술한 실시예에서는, 마스크 상으로서 조영제가 투여되기 전의 X선 투시상을 이용함과 동시에, 라이브 상으로서 조영제가 투여된 피검체의 X선 투시상을 이용했지만, 이들의 화상에 대해서는, 상술한 X선 투시상에 한정되지 않는다. 예컨대, X선관에 공급하는 고전압장치(도시 생략)와 X선관과의 사이에, 포커스용 전압과 디포커스용 전압을 전환하는 전환기(도시 생략)을 개재시켜, 피검체에 조영제를 투여한 상태에서 디포커스 전압을 X선관에 인가시켜서 고주파성분이 제거된 화상을 촬영하고, 그 다음에 포커스 전압을 X선관에 인가시켜서 고주파성분이 남아 있는 화상을 촬영한다. 고주파성분이 제거된 전자의 화상에 관한 X선 검출신호에 시간지연분을 제거하고, 그 제거된 화상을 마스크 상으로 하면 되고, 고주파성분이 남아 있는 후자의 화상에 관한 X선 검출신호에 시간지연분을 제거하고, 그 제거된 화상을 라이브 상으로 하면 된다.
(7) 상술한 실시예에서는, 마스크 상을 촬상한 후에 조영제를 투여해서 라이브 상을 촬상했지만, 예컨대 상술한 변형예(6)과 같이 조영제를 투여한 상태에서 포커스 전압과 디포커스 전압과의 전환에 의해 마스크 상과 라이브 상을 연속해서 촬영하는 경우에는, 먼저 포커스 전압의 전환으로 라이브 상을 촬영한 후에 디포커스 전압의 전환으로 마스크 상을 촬영해도 된다.
※ 본 발명은, 그 사상 또는 본질로부터 일탈하지 않고 다른 구체적인 형태에서 실시할 수 있고, 따라서, 발명의 범위를 도시하는 것으로서, 이상의 설명에서는 아니고, 부가된 클레임을 참조해야 한다.
(1) 상술한 실시예 장치에서는, 방사선 검출수단이 FPD이었지만, 본 발명은, FPD이외의 X선 검출신호의 시간지연을 발생시키는 방사선 검출수단을 이용한 구성의 장치에도 이용할 수 있다.
(2) 상술한 실시예 장치는 X선 투시 촬영장치이었지만, 본 발명은 X선 CT장치와 같이 X선 투시 촬영장치이외의 것에도 적용할 수 있다.
(3) 상술한 실시예 장치는 의료용 장치였지만, 본 발명은, 의료용에 한하지 않고, 비파괴 검사기기 등의 공업용 장치에도 적용할 수 있다.
(4) 상술한 실시예 장치는, 방사선으로서 X선을 쓰는 장치이었지만, 본 발명은, X선에 한하지 않고, X선 이외의 방사선을 이용하는 장치에도 적용할 수가 있 다.
(5) 상술한 실시예에서는, 마스크 상을 작성하는데 각 보정후 X선 검출신호 (Xk)를 가산 평균하여 구하고, 라이브 상을 작성하는데 각 보정후 X선 검출신호(Xk)로부터 리커시브 처리를 행하여 구했지만, 라이브 상이나 마스크 상의 작성에 대해서는, 보통 이용되는 마스크 상이나 라이브 상의 작성하는 방법이면 상술한 처리에 한정되지 않는다. 예컨대, 단독의 보정후 X선 검출신호(Xk)로부터 마스크 상이나 라이브 상을 각각 얻어도 된다.
(6) 상술한 실시예에서는, 마스크 상으로서 조영제가 투여되기 전의 X선 투시상을 이용함과 동시에, 라이브 상으로서 조영제가 투여된 피검체의 X선 투시상을 이용했지만, 이들의 화상에 대해서는, 상술한 X선 투시상에 한정되지 않는다. 예컨대, X선관에 공급하는 고전압장치(도시 생략)와 X선관과의 사이에, 포커스용 전압과 디포커스용 전압을 전환하는 전환기(도시 생략)을 개재시켜, 피검체에 조영제를 투여한 상태에서 디포커스 전압을 X선관에 인가시켜서 고주파성분이 제거된 화상을 촬영하고, 그 다음에 포커스 전압을 X선관에 인가시켜서 고주파성분이 남아 있는 화상을 촬영한다. 고주파성분이 제거된 전자의 화상에 관한 X선 검출신호에 시간지연분을 제거하고, 그 제거된 화상을 마스크 상으로 하면 되고, 고주파성분이 남아 있는 후자의 화상에 관한 X선 검출신호에 시간지연분을 제거하고, 그 제거된 화상을 라이브 상으로 하면 된다.
(7) 상술한 실시예에서는, 마스크 상을 촬상한 후에 조영제를 투여해서 라이 브 상을 촬상했지만, 예컨대 상술한 변형예(6)과 같이 조영제를 투여한 상태에서 포커스 전압과 디포커스 전압과의 전환에 의해 마스크 상과 라이브 상을 연속해서 촬영하는 경우에는, 먼저 포커스 전압의 전환으로 라이브 상을 촬영한 후에 디포커스 전압의 전환으로 마스크 상을 촬영해도 된다.

Claims (9)

  1. (A)피검체를 향해서 방사선을 조사하는 방사선 조사수단과, (B)피검체를 투과한 방사선을 검출하는 방사선 검출수단과, (C)상기 방사선 검출수단으로부터 방사선 검출신호를 소정의 샘플링 시간 간격으로 추출하는 신호 샘플링수단을 구비하며,
    (1)피검체에의 방사선 조사에 따라 방사선 검출수단으로부터 샘플링 시간 간격으로 출력되는 방사선 검출신호에 의거해서 라이브 상과 마스크 상을 촬상하고, (2)라이브 상과 마스크 상을 서브트랙션함으로써 서브트랙션 상을 얻는 방사선 촬상장치에 있어서, 상기 장치는 이하의 요소를 포함한다:
    (D)샘플링 시간 간격으로 추출되는 각 방사선 검출신호에 포함되는 시간지연분을 단수 또는 감쇠시정수가 다른 복수개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 의한 것으로하여 재귀적 연산처리에 의해 각 방사선 검출신호로부터 제거하는 시간지연 제거수단을 구비하고;
    상기(1)은, (3)라이브 상과 마스크 상을 시간적으로 연속해서 촬상하기 위하여 라이브 상에 관한 방사선 검출신호 및 마스크 상에 관한 방사선 검출신호를 샘플링 시간 간격마다 시간적으로 연속해서 검출하고, (4)상기 시간지연 제거수단에 의해 각 방사선 검출신호로부터 시간지연분이 제거되어 구해진 보정후 방사선 검출신호로부터 라이브 화상 및 마스크 화상을 각각 얻고, 상기(2)는, (5)서브트랙션 상을 얻는다.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 시간지연 제거수단은 방사선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식 A~C,
    Figure 112006043056110-pat00046
    단, Δt : 샘플링 시간 간격,
    k : 샘플링한 시계열 내의 k번째 시점을 나타내는 첨자,
    Yk : k번째 샘플링 시점에서 추출된 방사선 검출신호,
    Xk : Yk에서 시간지연분을 제거한 보정후 방사선 검출신호,
    Xk-1 : 일시점 전의 Xk,
    Sn(k-1) : 일시점 전의 Snk,
    exp : 지수함수
    N : 임펄스 응답을 구성하는 시정수가 다른 지수함수의 갯수,
    n : 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중 하나를 나타내는 첨자,
    Figure 112006043056110-pat00021
    : 지수함수 n의 강도,
    Figure 112006043056110-pat00022
    : 지수함수 n의 감쇠시정수
    에 의해 행해지도록 구성되는, 방사선 촬상장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 보정후 X선 검출신호 Xk의 가산 평균에 의한 상기 마스크 상의 작성을 식 D,
    Figure 112006043056110-pat00047
    단, M : 마스크 상,
    J : 마스크 상을 작성하기 위한 Xk의 갯수
    에 의해 행하는, 방사선 촬상장치.
  4. 제 2 항에 있어서,
    상기 보정후 X선 검출신호 Xk의 가중 평균을 나타내는 리커시브 처리에 의한 상기 라이브 상의 작성을 식 E,
    Figure 112004034846700-pat00024
    단, Rk : k번째의 리커시브 처리후의 라이브 상,
    Rk-1 : 일시점 전의 Rk,
    K : 리커시브의 가중 계수
    에 의해 행하는, 방사선 촬상장치.
  5. 방사선을 조사하여 검출된 방사선 검출신호를 소정의 샘플링 시간 간격으로 추출하고, 샘플링 시간 간격으로 출력되는 방사선 검출신호에 의거하여 라이브 상과 마스크 상을 촬상하고, 마스크 상과 라이브 상을 서브트랙션하는 것에 의해 서브트랙션 상을 얻는 신호처리를 행하는 방사선 검출신호 처리방법에 있어서,
    상기 방법은:
    (a) 라이브 상과 마스크 상을 시간적으로 연속하여 촬상하기 위해 라이브 상에 관한 방사선 검출신호 및 마스크 상에 관한 방사선 검출신호를 샘플링 시간 간격 마다 시간적으로 연속하여 검출하는 공정;
    (b) 샘플링 시간 간격으로 추출되는 각 방사선 검출신호에 포함되는 시간지연분을 단수 또는 감쇠시정수가 다른 복수개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 의한 것으로서 재귀적 연산처리에 의해 각 방사선 검출신호로부터 제거하는 공정;
    (c) 각 방사선 검출신호에서 시간지연분이 제거되어 구해진 보정후 방사선 검출신호로부터 라이브 화상 및 마스크 화상을 각각 얻고, 서브트랙션 상을 얻는 공정을 포함하는, 방사선 검출신호 처리방법.
  6. 제 5 항에 있어서,
    방사선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식 A~C,
    Figure 112006043056110-pat00048
    단, Δt : 샘플링 시간 간격,
    k : 샘플링한 시계열 내의 k번째 시점을 나타내는 첨자,
    Yk : k번째 샘플링 시점에서 추출된 방사선 검출신호,
    Xk : Yk에서 시간지연분을 제거한 보정후 방사선 검출신호,
    Xk-1 : 일시점 전의 Xk,
    Sn(k-1) : 일시점 전의 Snk,
    exp : 지수함수
    N : 임펄스 응답을 구성하는 시정수가 다른 지수함수의 갯수,
    n : 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중 하나를 나타내는 첨자,
    Figure 112006043056110-pat00026
    : 지수함수 n의 강도,
    Figure 112006043056110-pat00027
    : 지수함수 n의 감쇠시정수
    에 의해 행하는, 방사선 검출신호 처리방법.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 보정후 X선 검출신호 Xk의 가산 평균에 의한 상기 마스크 상의 작성을 식 D,
    Figure 112006043056110-pat00049
    단, M : 마스크 상,
    J : 마스크 상을 작성하기 위한 Xk의 갯수
    에 의해 행하는, 방사선 검출신호 처리방법.
  8. 제 6 항에 있어서,
    상기 보정후 X선 검출신호 Xk의 가중 평균을 나타내는 리커시브 처리에 의한 상기 라이브 상의 작성을 식 E,
    Figure 112004034846700-pat00029
    단, Rk : k번째의 리커시브 처리후의 라이브 상,
    Rk-1 : 일시점 전의 Rk,
    K : 리커시브의 가중 계수
    에 의해 행하는, 방사선 검출신호 처리방법.
  9. 제 5 항에 있어서,
    상기 마스크 상을 촬상한 후에, 피검체에 조영제를 투여하여 상기 라이브 상을 촬상하는, 방사선 검출신호 처리방법.
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