KR100690377B1 - 방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호 처리방법 - Google Patents

방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호 처리방법 Download PDF

Info

Publication number
KR100690377B1
KR100690377B1 KR1020040061453A KR20040061453A KR100690377B1 KR 100690377 B1 KR100690377 B1 KR 100690377B1 KR 1020040061453 A KR1020040061453 A KR 1020040061453A KR 20040061453 A KR20040061453 A KR 20040061453A KR 100690377 B1 KR100690377 B1 KR 100690377B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
radiation
detection signal
impulse response
irradiation
radiation detection
Prior art date
Application number
KR1020040061453A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20050018620A (ko
Inventor
오카무라쇼이치
후지이케이이치
아다치수수무
히라사와신야
요시무타토시노리
다나베코이치
아사이시게야
니시무라아키히로
Original Assignee
가부시키가이샤 시마즈세이사쿠쇼
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 가부시키가이샤 시마즈세이사쿠쇼 filed Critical 가부시키가이샤 시마즈세이사쿠쇼
Publication of KR20050018620A publication Critical patent/KR20050018620A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100690377B1 publication Critical patent/KR100690377B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
    • G01T1/171—Compensation of dead-time counting losses
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/42—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
    • A61B6/4208—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
    • A61B6/4233—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector using matrix detectors
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/44—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis
    • A61B6/4429—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis related to the mounting of source units and detector units
    • A61B6/4435—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis related to the mounting of source units and detector units the source unit and the detector unit being coupled by a rigid structure
    • A61B6/4441—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis related to the mounting of source units and detector units the source unit and the detector unit being coupled by a rigid structure the rigid structure being a C-arm or U-arm
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/58—Testing, adjusting or calibrating apparatus or devices for radiation diagnosis
    • A61B6/582—Calibration
    • A61B6/583—Calibration using calibration phantoms
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/58—Testing, adjusting or calibrating apparatus or devices for radiation diagnosis
    • A61B6/587—Alignment of source unit to detector unit
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S378/00—X-ray or gamma ray systems or devices
    • Y10S378/901—Computer tomography program or processor

Abstract

본 발명의 방사선 촬상장치는, X선관에 의한 X선 조사에 따라 FPD에서 추출된 X선 검출신호에 포함되는 시간지연분을, 감쇠시정수의 값이 다른 강도의 복수개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 의한 것으로서 제거할 때, 단수의 감쇠시정수 및 강도를 가정한 경우에 X선 조사에서 X선 비조사로 이행했을 때의 비조사상태에서 X선 검출신호의 노이즈 레벨로 감쇠하는지 여부를 판단하여, 설정된 시정수·강도로 적절(OK)하면 그때의 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로 특정하여, 특정된 임펄스 응답을 이용하여 시간지연분을 제거하고, 보정후 방사선 검출신호를 구한다.
시간지연 제거부, 임펄스 응답 특정부, X선

Description

방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호 처리방법{RADIOGRAPHIC APPARATUS AND RADIATION DETECTION SIGNAL PROCESSING METHOD}
도1은 실시예의 X선 투시 촬영장치의 전체 구성을 나타내는 블록도이다.
도2는 실시예 장치에 이용되는 FPD의 구성을 나타내는 평면도이다.
도3은 실시예 장치에 의한 X선 촬영의 실행시의 X선 검출신호의 샘플링 상황을 나타내는 모식도이다.
도4는 제1 실시예에서의 임펄스 응답을 특정할 때까지의 X선 검출신호 처리방법의 순서를 나타내는 플로우차트이다.
도5는 제1, 제2 실시예에서의 임펄스 응답을 특정한 후의 X선 검출신호 처리방법의 순서를 나타내는 플로우차트이다.
도6은 제1, 제2 실시예에서의 X선 검출신호 처리방법에서의 시간지연 제거용의 재귀적 연산처리 프로세스를 나타내는 플로우차트이다.
도7은 제1 실시예에서의 X선 조사상황을 나타내는 도면이다.
도8은 제2 실시예에서의 임펄스 응답을 특정할 때까지의 X선 검출신호 처리방법의 순서를 나타내는 플로우차트이다.
도9는 방사선 입사상황을 나타내는 도면이다.
도10은 도9의 입사상황에 대응한 시간지연상황을 나타내는 도면이다.
도11은 감쇠시정수의 값을 각각 고정했을 때의 조사상태에서 비조사상태로 이행했을 때의 검출신호의 상황을 나타내는 도면이다.
본 발명은, 방사선 조사수단에 의한 방사선의 조사에 따라 방사선 검출수단으로부터 방사선 검출신호가 소정의 샘플링 시간 간격으로 신호 샘플링 수단에 의해 추출됨과 동시에, 추출된 방사선 검출신호에 의거하여 방사선 화상이 얻어지도록 구성되어 있는 의료용 혹은 공업용의 방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호 처리방법에 관한 것으로, 특히 방사선 검출수단의 임펄스 응답을 구성하는 지수함수의 시정수와 강도를 구하는 기술에 관한 것이다.
방사선 촬상장치의 대표적인 장치의 하나인 의료용 X선 투시 촬영장치에 있어서, 최근 X선관에 의한 X선 조사에 따라 생기는 피검체의 X선 투과상을 검출하는 X선 검출기로서, 반도체 등을 이용한 극히 다수개의 X선 검출소자를 X선 검출면에 종횡으로 배열한 플랫패널형 X선 검출기(이하, 적절하게 「FPD」라 한다)가 이용되고 있다.
즉 X선 투시 촬영장치에서는, X선관에 의한 피검체로의 방사선 조사에 따라 FPD에서 X선 화상 1장분의 X선 검출신호가 샘플링 시간 간격으로 추출된다. 그 X선 검출신호에 의거하여, 샘플링 시간 간격마다 피검체의 X선 투과상에 대응하는 X선 화상이 얻어지는 구성이 X선 투시 촬영장치에서는 취해져 있다. FPD를 이용한 경 우, 종래부터 이용되고 있는 이미지 인텐시파이(intensify) 등에 비해, 경량이고, 또 복잡한 검출 왜곡이 발생하지 않으므로, 장치 구조면과 화상 처리면에서 유리하다.
그러나, FPD를 이용한 경우, FPD에 기인하는 시간지연에 의한 악영향이 X선 화상에 나타난다는 문제가 있다. 구체적으로는, FPD에서 X선 검출신호를 추출하는 샘플링 시간 간격이 짧은 경우, 추출할 수 없는 신호의 나머지가 시간지연분으로서 다음의 X선 검출신호에 더해진다. 그 때문에, FPD에서 1초 동안에 30회의 샘플링 시간 간격으로 화상 1장분의 X선 검출신호를 추출해 X선 화상을 작성하여 동화상 표시하는 경우, 시간지연분이 전(前) 화면에 잔상으로 나타나, 화상의 더블링을 일으키는 결과, 동화상이 뿌옇게 되는 등의 문제점이 생긴다.
이 FPD의 시간지연문제에 대해, 미국특허 명세서 제5249123호에서는, 컴퓨터 단층화상(CT화상)의 취득의 경우에 있어서, FPD에서 샘플링 시간 간격(Δt)으로 추출되는 방사선 검출신호에서 시간지연분을 연산처리로 제거하는 기술이 제안되어 있다.
즉 상기 미국특허 명세서에서는, 샘플링 시간 간격으로 추출되는 각 방사선 검출신호에 포함되는 시간지연분을 시간지연분이 여러개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 의한 것으로서, 방사선 검출신호(yk)에서 시간지연분을 제거한 보정후 방사선 검출신호(Xk)로 하는 연산처리를 다음 식에 의해 행하고 있다.
xk = [yk-Σn=1 N{αn·[1-exp(Tn)]·exp(T n)·Snk}]/Σn=1 Nβn
여기서, Tn = -Δt/τn, Snk = xk-1+exp(Tn)·S n(k-1),
βn = αn·[1-exp(Tn)]
단, Δt : 샘플링 시간 간격,
k : 샘플링한 시계열 내의 k번째 시점을 나타내는 첨자,
N : 임펄스 응답을 구성하는 시정수가 다른 지수함수의 갯수,
n : 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중 하나를 나타내는 첨자
αn : 지수함수 n의 강도
τn : 지수함수 n의 감쇠시정수
그러나, 발명자들이 상기 미국특허 명세서가 제안하는 연산처리기술을 적용 실시한 바로서는, 시간지연에 기인하는 아티팩트가 회피되지 않고, 또 정상적인 X 선 화상도 얻을 수 없다는 결과밖에 얻을 수 없어, FPD의 시간지연은 해소되지 않는 것이 확인되었다.
본 발명은, 이와 같은 사정을 감안하여 행해진 것으로, 방사선 검출수단으로부터 추출된 방산선 검출신호에서 방사선 검출수단에 기인하는 방사선 검출신호의 시간지연을 간편하게 구할 수 있는 방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호 처리방법을 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.
상기 문제를 해결하기 위해, 이하의 방법을 생각할 수 있다. 이 방법에 의하 면, 이 FPD의 시간지연에 대해서, 다음의 재귀식 a~c에 의해, FPD의 임펄스 응답에 기인하는 시간지연을 제거하고 있다.
Xk = [Yk-Σn=1 N[αn·〔1-exp(Tn)〕·exp(T n)·Snk] … a
Tn = -Δt/τn … b
Snk = Xk-1+exp(Tn)·Sn(k-1) … c
단, Δt : 샘플링 시간 간격,
k : 샘플링한 시계열 내의 k번째 시점을 나타내는 첨자,
Yk : k번째 샘플링 시점에서 추출된 방사선 검출신호,
Xk : Yk에서 시간지연분을 제거한 보정후 방사선 검출신호,
Xk-1 : 일시점 전의 Xk,
Sn(k-1) : 일시점 전의 Snk,
exp : 지수함수
N : 임펄스 응답을 구성하는 시정수가 다른 지수함수의 갯수,
n : 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중 하나를 나타내는 첨자
αn : 지수함수 n의 강도,
τn : 지수함수 n의 감쇠시정수
이 재귀식적 연산에서는, FPD의 임펄스 응답 계수인, N, αn, τn을 사전에 구해 두고, 그것을 고정한 상태에서 방사선 검출신호(Yk)를 식 a~c에 적용해, 그 결과, 시간지연분을 제거한 Xk를 산출하게 된다.
그런데, 상술한 방법은 감쇠시정수가 1개만이면 임펄스 응답을 구성하는 지수함수를 1개 이용하는 것만으로 되지만, 서로 다른 감쇠시정수가 복수개 있으면 임펄스 응답을 구성하는 지수함수도 동수 필요하게 된다. 복수개의 지수함수를 이용하면 시간지연분을 제거하는 보정연산에도 시간이 걸린다. 또한 복수개의 감쇠시정수와 강도를 구하는 것도 시간이 걸린다.
그래서, 발명자들은 서로 다른 감쇠시정수가 복수개 있어서도 1개의 감쇠시정수에 특정할 수 있을지 없을지에 대해서 생각해 봤다. 즉 특정할 수 있으면 그 특정된 1개 지수함수로 구성되는 임펄스 응답만을 이용하여 보정연산을 행하면 된다. 도9는 방사선 입사상황을 나타내는 도면이며, 도10은 도9의 입사상황에 대응한 시간지연상황을 나타내는 도면이다.
도9에 나타내는 바와 같이, X선이 입사되면, 입사선량에 따른 본래의 신호에, 도10에 사선으로 나타내는 시간지연분이 더해져 방사선 검출신호(Yk)는 도10 중에 굵은 선으로 나타내게 된다. 상술한 수법을 이용하여 시간지연분, 즉 도10의 사선부분을 제거하여 본래의 신호부분을 추출할 수 있다.
도10의 사선부분에 나타내는 임펄스 응답에 기인하는 시간지연에 대해서는, 상술한 바와 같이 서로 다른 감쇠시정수가 복수개 있으면 임펄스 응답을 구성하는 지수함수도 동수(同數) 존재한다. 그런데, 도10의 사선부분에 나타내는 시간지연 중, X선 비조사의 부분에 대해서도 시간지연이 감쇠하면서도 존재한다. 이 X선 비조사상태에서의 시간지연분이 감쇠시정수와 강도 혹은 X선 조사시간에 의해 변화하는 것에 착안하여, 노이즈 레벨까지 감쇠시키는 값을 가지는 감쇠시정수와 강도 혹은 X선 조사시간에 의거하여 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로 특정한다는 식견을 얻었다. 그래서, 본 명세서 중에서의 『노이즈 레벨』이란, 0 이상의 신호강도이지만, 0에 한없이 가까운 것이 바람직하다. 따라서, 오퍼레이터가 X선 비조사상태에서도 신호를 무시할 수 있다고 판단되면, 그 때의 레벨이 노이즈 레벨로 판단된다.
이와 같은 식견에 의거하는 본 발명은, 다음과 같은 구성을 하고 있다.
즉 본 발명에 관한 방사선 촬상장치는, 피검체를 향해 방사선을 조사하는 방사선 조사수단과, 피검체를 투과한 방사선을 검출하는 방사선 검출수단과, 상기 방사선 검출수단으로부터 방사선 검출신호를 소정의 샘플링 시간 간격으로 추출하는 신호 샘플링 수단을 구비하고, 피검체로의 방사선 조사에 따라 방사선 검출수단으로부터 샘플링 시간 간격으로 출력되는 방사선 검출신호에 의거하여 방사선 화상을 얻을 수 있도록 구성된 방사선 촬상장치에 있어서, 상기 장치는 이하의 요소를 포함한다:
샘플링 시간 간격으로 추출되는 각 방사선 검출신호에 포함되는 시간지연분을 감쇠시정수가 다른 복수개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 의한 것으로서 재귀적 연산처리에 의해 각 방사선 검출신호로부터 제거하는 시간지연 제거수단;
상기 복수개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로부터, 방사선 조사에서 방사선 비조사로 이행했을 때의 비조사상태에서 방사선 검출신호의 노이즈 레벨로 감쇠시키는 값을 가지는 상기 감쇠시정수에 의거하여 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로 특정하는 임펄스 응답 특정수단을 구비하며;
상기 임펄스 응답 특정수단에서 특정된 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답을 이용하여, 상기 시간지연 제거수단은 시간지연분을 제거하여 보정후 방사선 검출신호를 구한다.
본 발명에 관한 방사선 촬상장치에 의하면, 방사선 조사수단에 의한 피검체로의 조사선에 따라 방사선 검출수단에서 소정의 샘플링 시간 간격으로 출력되는 방사선 검출신호에 포함되는 시간지연분을, 감쇠시정수가 다른 복수개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 의한 것으로서, 시간지연 제거수단이 제거될 때, 방사선의 선량에 대응한 임펄스 응답을 이용하여 제거하고, 얻어진 보정후 방사선 검출신호로부터 방사선 화상이 취득된다.
그리고, 시간지연 제거수단에 의한 연산처리에 의해 방사선 검출신호에서 시간지연분을 제거할 때, 복수개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로부터, 방사선 조사에서 방사선 비조사로 이행했을 때의 비조사상태에서 방사선 검출신호의 노이즈 레벨로 감쇠시키는 값을 가지는 감쇠시정수에 의거하여 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 임펄스 응답 특정수단은 특정하고, 특정된 임펄스 응답을 이용하여 시간지연분을 제거하고, 보정후 방사선 검출신호를 구하므로, 임펄스 응답을 구성하는 지수함수를 1개 특정하는 것만으로 되며, 시간지연을 간단하게 구할 수 있다. 또한 노이즈 레벨은 방사선 비조사상태에서도 신호를 무시할 수 있는 레 벨이므로, 특정된 임펄스 응답은 신뢰성이 높게 된다.
더욱 신뢰성이 높은 임펄스 응답을 얻기 위해서, 상술한 방사선 촬상장치에 있어서,
상기 임펄스 응답 특정수단은, 방사선 조사에서 방사선 비조사로 이행했을 때의 비조사상태의 개시 1초 이내에 방사선 검출신호의 노이즈 레벨로 감쇠시킨 값을 가지는 감쇠시정수 및 방사선의 강도를 이용하여 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로 특정하는 것이 바람직하다.
이러한 장치에 의하면, 방사선 조사에서 방사선 비조사로 이행했을 때의 비조사상태의 개시 1초 이내에 방사선 검출신호의 노이즈 레벨로 감쇠시키는 값을 가지는 감쇠시정수 및 방사선의 강도를 이용하여 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로 특정함으로써, 특정된 임펄스 응답은, 더욱 신뢰성이 높게 된다. 이와 같이 노이즈 레벨로 감쇠하는 시간은 짧으면 짧을수록 임펄스 응답에 대해서 신뢰성이 높게 된다.
또 더욱 신뢰성이 높은 임펄스 응답을 얻기 위해서, 방사선 촬상장치에 있어서,
상기 임펄스 응답 특정수단은, 0.5초에서 1.0초까지의 범위의 값을 가지는 감쇠시정수 및 방사선 조사에서 방사선 비조사로 이행했을 때의 비조사상태에서 방사선 검출신호의 노이즈 레벨로 감쇠시키는 값을 가지는 방사선의 강도를 이용하여 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 한정하는 것이 바람직하다.
이러한 장치에 의하면, 0.5초에서 1.0초까지의 범위의 값을 가지는 감쇠시정 수 및 방사선 조사에서 방사선 비조사로 이행했을 때의 비조사상태에서 방사선 검출신호의 노이즈 레벨로 감쇠시키는 값을 가지는 방사선의 강도를 이용하여 단수의지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로 특정함으로써, 특정된 임펄스 응답은, 더욱 신뢰성이 높게 된다. 또한 감쇠시정수를 고정하는 경우에는, 비조사상태에서는 도11에 나타내는 바와 같은 감쇠가 된다. 감쇠시정수가 1.0초를 초과하면 도11 중의 1점쇄선(감쇠시정수를 2.0초로 고정)과 2점쇄선으로 나타내는 바와 같이 노이즈 레벨로 감쇠하는 것이 완만하게 되어 버리고, 반대로 감쇠시정수가 0.5초 미만에서는 도11 중의 파선(감쇠시정수를 0.4초로 고정)으로 나타내는 바와 같이 노이즈 레벨로 일단 감쇠한 후, 크게 진폭하여 노이즈 레벨을 초과해 버린다. 이와 같이, 감쇠시정수를 고정하여 강도를 결정하는 경우에는, 바람직한 범위는 0.5초에서 1.0초까지이다.
또 방사선 검출신호를 노이즈 레벨까지 적절하게 감쇠하기 위해, 방사선 촬상장치에 있어서,
상기 방사선 조사에서 상기 방사선 비조사로 이행했을 때에, 방사선 조사상태에서의 방사선 조사시간이 5초에서 15초까지의 범위가 되도록 상기 방사선 조사수단은 방사선을 조사하는 것이 바람직하다.
이러한 장치에 의하면, 방사선 조사에서 방사선 비조사로 이행했을 때에, 방사선 조사상태에서의 방사선 조사시간이 5초에서 15초까지의 범위가 되도록 방사선 조사수단이 방사선을 조사함으로써, 방사선 검출신호를 노이즈 레벨까지 적절하게 감쇠할 수 있다. 상술한 바와 같이 방사선 조사시간에 의해서도 시간지연분이 변화 한다는 식견을 얻고 있다. 이 시간을 조정한 결과, 방사선 조사시간이 5초에서 15초까지의 범위의 경우에 있어서 방사선 검출신호를 노이즈 레벨까지 적절하게 감쇠할 수 있다는 것을 알았다.
상술한 방사선 촬상장치에 있어서,
상기 시간지연 제거수단은 방사선 검출신호에서 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식 A~C,
Xk = [Yk-Σn=1 N[αn·〔1-exp(Tn)〕·exp(T n)·Snk] … A
Tn = -Δt/τn … B
Snk = Xk-1+exp(Tn)·Sn(k-1) … C
단, Δt : 샘플링 시간 간격,
k : 샘플링한 시계열 내의 k번째 시점을 나타내는 첨자,
Yk : k번째 샘플링 시점에서 추출된 방사선 검출신호,
Xk : Yk에서 시간지연분을 제거한 보정후 방사선 검출신호,
Xk-1 : 일시점 전의 Xk,
Sn(k-1) : 일시점 전의 Snk,
exp : 지수함수
N : 임펄스 응답을 구성하는 시정수가 다른 지수함수의 갯수,
n : 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중 하나를 나타내는 첨자
αn : 지수함수 n의 강도,
τn : 지수함수 n의 감쇠시정수
에 의해 행하고;
상기 시간지연분을 제거할 때에는, 상기 임펄스 응답 특정수단에서 특정된 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답을 이용하여 행하도록 구성하는 것이 바람직하다.
방사선 검출신호에서 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식A~C에 의해 행하는 경우에는, 식 A~C라는 간략한 점화식에 의해 시간지연분을 제거한 보정후 방사선 검출신호(Xk)가 빠르게 구해진다.
또 방사선 촬상장치에 있어서, 상기 방사선 검출수단의 일예는, 다수개의 X선 검출소자를 X선 검출면에 종횡으로 배열한 플랫패널형 X선 검출기이다.
또 본 발명에 관한 방사선 촬상장치는, 의료용 장치에도 공업용 장치에도 적용할 수 있다. 의료용 장치의 일예는, X선 투시 촬영장치이며, 다른 일예는 X선 CT장치이다. 공업용 장치의 일예는 비파괴 검사기기이다.
또 본 발명에 관한 방사선 검출신호 처리방법은, 피검체를 조사하여 검출된 방사선 검출신호를 소정의 샘플링 시간 간격으로 추출하고, 샘플링 시간 간격으로 출력되는 방사선 검출신호에 의거하여 방사선 화상을 얻는 신호처리를 행하는 방사선 검출신호 처리방법에 있어서, 상기 방법은 이하의 공정을 포함한다:
샘플링 시간 간격으로 추출되는 각 방사선 검출신호에 포함되는 시간지연분을 감쇠시정수가 다른 복수개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 의한 것으로서 재귀적 연산처리에 의해 각 방사선 검출신호로부터 제거하는 공정;
상기 제거하는 공정의 전에는, 상기 복수개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로부터, 방사선 조사에서 방사선 비조사로 이행했을 때의 비조사상태에서 방사선 검출신호의 노이즈 레벨로 감쇠시키는 값을 가지는 상기 감쇠시정수에 의거하여 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 미리 특정하는 공정;
상기 특정하는 공정에서 특정된 임펄스 응답을 이용하여, 상기 제거하는 공정에서 시간지연분을 제거하여, 보정후 방사선 검출신호를 구하는 공정.
본 발명에 관한 방사선 검출신호 처리방법에 의하면, 본 발명에 관한 방사선 촬상장치를 바람직하게 실시할 수 있다.
더욱 신뢰성이 높은 임펄스 응답을 얻기 위해서, 상술한 방사선 검출신호 처리방법에 있어서, 상기 특정하는 공정에서는, 방사선 조사에서 방사선 비조사로 이행했을 때의 비조사상태의 개시 1초 이내에 방사선 검출신호의 노이즈 레벨로 감쇠시키는 값을 가지는 감쇠시정수 및 방사선의 강도를 이용하여 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로 특정하여 행하는 것이 바람직하다.
이러한 방법에 의하면, 상기 임펄스 응답 특정수단은, 방사선 조사에서 방사선 비조사로 이행했을 때의 비조사상태의 개시 1초 이내에 방사선 검출신호의 노이즈 레벨로 감쇠시키는 값을 가지는 감쇠시정수 및 방사선의 강도를 이용하여 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로 특정하도록 구성된 방사선 촬상장치를 바 람직하게 실시할 수 있다.
또, 더욱 신뢰성이 높은 임펄스 응답을 얻기 위해, 방사선 검출신호 처리방법에 있어서, 상기 특정하는 공정에서는, 0.5초에서 1.0초까지의 범위의 값을 가지는 감쇠시정수 및 방사선 조사에서 방사선 비조사로 이행했을 때의 비조사상태에서 방사선 검출신호의 노이즈 레벨로 감쇠시키는 값을 가지는 방사선의 강도를 이용하여 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로 특정하여 행하는 것이 바람직하다.
이러한 방법에 의하면, 상기 임펄스 응답 특정수단은 0.5초에서 1.0초까지의 범위의 값을 가지는 감쇠시정수 및 방사선 조사에서 방사선 비조사로 이행했을 때의 비조사상태에서 방사선 검출신호의 노이즈 레벨로 감쇠시키는 값을 가지는 방사선의 강도를 이용하여 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로 특정하도록 구성된 방사선 촬상장치를 바람직하게 실시할 수 있다.
또 방사선 검출신호를 노이즈 레벨까지 적절하게 감쇠하기 위해, 방사선 검출신호 처리방법에 있어서, 상기 방사선 조사에서 상기 방사선 비조사로 이행했을 때에, 방사선 조사상태에서의 방사선 조사시간이 5초에서 15초까지의 범위가 되도록 방사선을 조사하는 것이 바람직하다.
이러한 방법에 의하면, 상기 방사선 조사에서 상기 방사선 비조사로 이행했을 때에, 방사선 조사상태에서의 방사선 조사시간이 5초에서 15초까지의 범위가 되도록 상기 방사선 조사수단은 방사선을 조사하도록 구성된 방사선 촬상장치를 바람직하게 실시할 수 있다.
상술한 방사선 검출신호 처리방법에 있어서,
방사선 검출신호에서 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식 A~C,
Xk = [Yk-Σn=1 N[αn·〔1-exp(Tn)〕·exp(T n)·Snk] … A
Tn = -Δt/τn … B
Snk = Xk-1+exp(Tn)·Sn(k-1) … C
단, Δt : 샘플링 시간 간격,
k : 샘플링한 시계열 내의 k번째 시점을 나타내는 첨자,
Yk : k번째 샘플링 시점에서 추출된 방사선 검출신호,
Xk : Yk에서 시간지연분을 제거한 보정후 방사선 검출신호,
Xk-1 : 일시점 전의 Xk,
Sn(k-1) : 일시점 전의 Snk,
exp : 지수함수
N : 임펄스 응답을 구성하는 시정수가 다른 지수함수의 갯수,
n : 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중 하나를 나타내는 첨자
αn : 지수함수 n의 강도,
τn : 지수함수 n의 감쇠시정수
에 의해 행하고;
상기 시간지연분을 제거하는 공정시에는, 상기 특정하는 공정에서 특정된 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답을 이용하여 행하는 것이 바람직하다.
방사선 검출신호에서 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식 A~C에 의해 행하는 경우에는, 이 재귀적 연산처리를 식 A~C에 의해 행하는 경우의 방사선 촬상장치를 바람직하게 실시할 수 있다.
방사선 검출신호 처리방법의 일예는, 상기 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로 특정하기 위해서, 팬톰(phantom)을 피검체로서 이용하여 상기 특정하는 공정으로 이루어지는 검출신호처리를 행하고, 특정된 임펄스 응답을 이용함과 동시에, 본래의 방사선 검출의 대상을 피검체로서 이용하여, 상기 제거하는 공정 및 구하는 공정으로 이루어지는 검출신호처리를 행하는 것이다.
또 방사선 검출신호 처리방법의 다른 일예는, 방사선 검출신호 처리방법에 있어서,
상기 특정하는 공정은, 이하의 요소를 포함한다:
상기 임펄스 응답을 구성하는 감쇠시정수 및 강도를 가정하여 설정하고, 설정된 임펄스 응답으로 소정의 시간내에 상기 노이즈 레벨까지 감쇠했는지 여부를 판단하는 일련의 조작을 상기 소정의 시간내에 노이즈 레벨까지 감쇠하는 노이즈 응답이 적절하게 될 때까지 반복하여 행하고;
임펄스 응답이 적절한 경우에는, 그 임펄스 응답으로 특정하는 것이다.
또 방사선 검출신호 처리방법에 있어서, 상기 특정하는 공정을 중앙연산처리수단이 행해도 되고, 특정하는 공정을 수동으로 행해도 된다.
본 발명을 설명하기 위해 현재 바람직하다고 생각되는 몇가지의 형태가 도시되어 있지만, 발명이 도시된 바와 같이 구성 및 방책에 한정되는 것은 아니라는 것을 이해해야 한다.
제1 실시예
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 도면에 의거하여 상세하게 설명한다.
도1은 제1 실시예에 관한 X선 투시 촬영장치의 전체 구성을 나타내는 블록도이다.
X선 투시 촬영장치는 도1에 나타내는 바와 같이, 피검체(M)를 향해 X선을 조사하는 X선관(1)(방사선 조사수단)과, 피검체(M)를 투과한 X선을 검출하는 FPD(2)(방사선 검출수단)와, FPD(2)(플랫패널형 X선 검출기)에서 X선 검출신호(방사선 검출신호)를 소정의 샘플링 시간 간격(Δt)으로 디지털화하여 추출하는 A/D변환기(3)(신호 샘플링수단)와, A/D변환기(3)에서 출력되는 X선 검출신호에 의거하여 X선 화상을 작성하는 검출신호 처리부(4)와, 검출신호 처리부(4)에서 취득된 X선 화상을 표시하는 화상 모니터(5)를 구비하고 있다. 즉 피검체(M)로의 X선 조사에 따라 A/D변환기(3)에서 FPD(2)로부터 추출되는 X선 검출신호에 의거하여 X선 화상이 취득됨과 동시에, 취득된 X선 화상이 화상 모니터(5)의 화면에 비추어지는 구성으로 되어 있다. 이하, 제1 실시예의 장치의 각부 구성을 구체적으로 설명한다.
X선관(1)과 FPD(2)는 피검체(M)를 사이에 두고 대향 배치되어 있으며, X선관(1)은 X선 촬영시, X선 조사제어부(6)의 제어를 받으면서 피검체(M)에 콘빔모양의 X선을 조사함과 동시에, X선 조사에 따라 생기는 피검체(M)의 투과 X선상이 FPD(2) 의 X선 검출면에 투영되는 배치관계로 되어 있다.
X선관(1)과 FPD(2)의 각각은 X선관 이동기구(7) 및 X선 검출기 이동기구(8)에 의해 피검체(M)에 따라 왕복 이동 가능하게 구성되어 있다. 또 X선관(1)과 FPD(2)가 이동할 때는, X선관 이동기구(7) 및 X선 검출기 이동기구(8)가 조사 검출계 이동제어부(9)의 제어를 받아 X선의 조사중심이 FPD(2)의 X선 검출면의 중심에 항상 일치하는 상태가 유지되는 구성으로 되어 있다. 또한 X선관(1)과 FPD(2)의 대향 배치를 유지한 채 함께 이동시키는 구성으로 되어 있다. 물론 X선관(1)과 FPD(2)가 이동함에 따라 피검체(M)로의 X선 조사위치가 변화하는 것에 의해 촬영위치가 이동하게 된다.
FPD(2)는 도2에 나타내는 바와 같이, 피검체(M)에서의 투과 X선 상(像)이 투영되는 X선 검출면에 다수의 X선 검출소자(2a)가 피검체(M)의 체축(體軸)방향(X)과 체측(體側)방향(Y)을 따라 종횡으로 배열된 구성으로 되어 있다. 예를 들면 종30㎝×횡30㎝ 정도의 넓이의 X선 검출면에 X선 검출소자(2a)가 종1536×횡1536의 매트릭스로 종횡으로 배열되어 있다. FPD(2)의 각 x선 검출소자(2a)가 검출신호 처리부(4)에서 작성되는 X선 화상의 각 화소와 대응관계에 있으며, FPD(2)에서 추출된 X선 검출신호에 의거하여 검출신호 처리부(4)에서 X선 검출면에 투영된 투과 X선 상(像)에 대응하는 X선 화상이 작성된다.
A/D변환기(3)는, X선 화상 1장씩의 X선 검출신호를 샘플링 시간 간격(Δt)으로 연속적으로 추출하고, 후단의 메모리부(10)에서 X선 화상작성용의 X선 검출신호를 기억함과 동시에, X선 검출신호의 샘플링 동작(추출)을 X선 조사의 이전에 개시 하도록 구성되어 있다.
즉 도3에 나타내는 바와 같이, 샘플링 시간 간격(Δt)으로, 그 시점의 투과 X선 상(像)에 대한 모든 X선 검출신호가 수집되어 메모리부(10)에 차례차례 저장되어 간다. X선을 조사하기 이전의 A/D변환기(3)에 의한 X선 검출신호의 추출개시는, 오퍼레이터의 수동조작에 의해 행해지는 구성이라도 되며, X선 조사 지시조작 등과 연동하여 자동적으로 행해지는 구성이라도 된다.
또 제1 실시예의 X선 투시 촬영장치는, 도1에 나타내는 바와 같이, FPD(2)에서 샘플링 시간 간격으로 추출되는 각 X선 검출신호에 포함되는 시간지연분을, 감쇠시정수가 다른 복수개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 의한 것으로서 재귀적 연산처리에 의해 각 X선 검출신호에서 시간지연분을 제거한 보정후 X선 검출신호를 산출하는 시간지연 제거부(11)와, 복수개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로부터, X선 조사에서 X선 비조사로 이행했을 때의 비조사상태에서 X선 검출신호의 노이즈 레벨로 감쇠시키는 값을 가지는 감쇠시정수에 의거하여 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로 특정하는 임펄스 응답 특정부(12)를 구비하고 있다.
즉 FPD(2)의 경우, 도10에 나타내는 바와 같이, 각 시각에서의 X선 검출신호에는, 과거의 X선 조사에 대응하는 신호가 시간지연분(사선부분)으로서 포함된다. 이 시간지연분을 시간지연 제거부(11)에서 제거하여 시간지연이 없는 보정후 X선 검출신호로 함과 동시에, 보정후 X선 검출신호에 의거하여 검출 신호 처리부(4)에서 X선 검출면에 투영된 투과 X선 상(像)에 대응하는 X선 화상을 작성하는 구성으로 되어 있다.
구체적으로 시간지연 제거부(11)는, 각 X선 검출신호로부터 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를, 다음 식 A~C를 이용하여 행한다.
Xk = [Yk-Σn=1 N[αn·〔1-exp(Tn)〕·exp(T n)·Snk] … A
Tn = -Δt/τn … B
Snk = Xk-1+exp(Tn)·Sn(k-1) … C
단, Δt : 샘플링 시간 간격,
k : 샘플링한 시계열 내의 k번째 시점을 나타내는 첨자,
Yk : k번째 샘플링 시점에서 추출된 방사선 검출신호,
Xk : Yk에서 시간지연분을 제거한 보정후 방사선 검출신호,
Xk-1 : 일시점 전의 Xk,
Sn(k-1) : 일시점 전의 Snk,
exp : 지수함수
N : 임펄스 응답을 구성하는 시정수가 다른 지수함수의 갯수,
n : 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중 하나를 나타내는 첨자
αn : 지수함수 n의 강도,
τn : 지수함수 n의 감쇠시정수
즉, 식A의 제2항의 『Σn=1 N[αn·〔1-exp(Tn)〕·exp(Tn )·Snk]』가 시간지연분에 해당하므로, 제1 실시예의 장치에서는, 시간지연분을 제거한 보정후 X선 검출신호(Xk)가 식 A~C이라는 간결한 점화식에 의해 빠르게 구할 수 있다.
제1 실시예의 장치에서는, 이러한 점화식을 더욱 간결하게 하기 위해 임펄스 응답 특정부(12)에 의해 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로 특정하고 있다. 임펄스 응답의 특정에 관한 구체적인 방법에 대해서는, 도4의 플로우차트에서 후술한다.
또한 제1 실시예의 장치에서는, A/D변환기(3)와, 검출신호 처리부(4), X선 조사제어부(6)와 조사검출계 이동제어부(9), 시간지연 제거부(11), 임펄스 응답 특정부(12)는, 조작부(13)에서 입력되는 지시와 데이터 혹은 X선 촬영의 진행에 따라 주 제어부(4)로부터 송출되는 각종 명령에 따라 제어·처리를 실행하는 구성으로 되어 있다.
다음에, 상술의 제1 실시예의 장치를 이용하여 X선 촬영을 실행하는 경우에 대해서, 도면을 참조하면서 구체적으로 설명한다.
도4, 도5는 제1 실시예에서의 X선 검출신호 처리방법의 순서를 나타내는 플로우차트이다. 또한 도4는 임펄스 응답을 특정할 때까지의 X선 검출신호 처리방법의 순서를 나타내며, 도5는 임펄스 응답을 특정한 후의 X선 검출신호 처리방법의 순서를 나타낸다. 또 도7은 제1 실시예에서의 X선 조사상황을 나타내는 도면으로, 제일 위의 도면은 X선 조사의 타이밍 차트, 중앙의 도면은 X선 조사에 의해 얻어진 X선 검출신호의 샘플링 시간 간격마다의 데이터, 제일 아래의 도면은 X선 검출신호 및 보정후 X선 검출신호의 샘플링 시간 간격마다의 데이터이다.
도4의 플로우차트(스텝 S1~S9)에서는, 피검체(M)로서 정지한 피검체(예를 들면 동판 팬톰)를 이용하여 검출신호를 처리한다.
[스텝 S1]
오퍼레이터는, 보정후 X선 검출신호(Xk)가 X선의 비조사상태의 개시 1초 이내에 노이즈 레벨(NL)(도7의 제일 위의 도면 참조)로 감쇠하는 것을 예측하여, 감쇠시정수(τn) 및 강도(αn)를 가정하여 설정한다.
[스텝 S2]
X선 미조사의 상태에서 A/D변환기(3)가 샘플링 시간 간격(Δt)(=1/30초)으로 FPD(2)에서 X선 조사 전의 X선 화상 1장분의 X선 검출신호(Yk)를 추출하기 시작함과 동시에, 추출된 X선 검출신호가 메모리부(10)에 기억되어 진다.
이 스텝 S2에서 스텝 S6까지의 각 스텝은, 임펄스 응답을 특정한 후의 도5 중의 스텝 Q1에서 스텝 Q5까지의 각 스텝과 각각 동일하다.
[스텝 S3]
오퍼레이터의 설정에 의해 X선이 연속 내지 단속적으로 피검체(M)에 조사되는 것과 병행하여, 샘플링 시간 간격(Δt)으로 A/D변환기(3)에 의한 X선 화상 1장분의 X선 검출신호(Yk)의 추출과 메모리부(10)로의 기억이 계속된다.
본 발명자들은, X선 조사시간에 의해서도 시간지연분이 변화한다는 식견을 얻고 있다. 보정후 X선 검출신호(Xk)를 노이즈 레벨까지 적절하게 감쇠하기 위해서는, X선 조사시간은 5초에서 15초까지의 범위가 바람직하고, 조사시간이 10초인 것이 더욱 바람직하다. 제1 실시예에서는 도7의 제일 위의 도면에 나타내는 바와 같이 조사시간을 10초로 한다.
[스텝 S4]
X선 조사가 종료하면 다음의 스텝 S5로 진행하고, X선 조사가 종료되지 않으면 스텝 S3로 되돌아간다.
[스텝 S5]
메모리부(10)에서 1회의 샘플링으로 수집한 X선 화상 1장분의 X선 검출신호(Yk)를 판독한다.
[스텝 S6]
시간지연 제거부(11)가 식 A~C에 의한 재귀적 연산처리를 행하고, 각 X선 검출신호(Yk)에서 시간지연분을 제거한 보정후 X선 검출신호(Xk), 즉 화소값을 구한다.
[스텝 S7]
1회의 샘플링분(X선 화상 1장분)의 보정후 X선 검출신호(Xk)를 화상 모니터(5)에 표시한다(도7의 제일 아래의 도면 참조).
[스텝 S8]
메모리부(10)에 미처리의 X선 검출신호(Yk)가 남아 있으면, 스텝 S5로 되돌아가고, 미처리의 X선 검출신호가 남아 있지 않으면, X선 촬영을 종료한다.
또한 제1 실시예 장치에서는, X선 검출신호(Yk)에 대한 시간지연 제거부(11)에 의한 보정후 X선 검출신호(Xk)의 산출 및 화상 표시 모니터(5)에서의 보정후 X선 검출신호(Xk)의 표시가 샘플링 시간 간격(Δt)(=1/30초)으로 행해진다. 이와 같이 샘플링 시간 간격(Δt)마다 얻어진 보정후 X선 검출신호(Xk)는 도7의 제일 아래의 도면에 나타내는 데이터가 된다.
[스텝 S9]
한쪽에서, 임펄스 응답 특정부(12)는 X선의 조사상태에서 비조사상태로 이행할 때의 비조사상태에 있어서, 보정후 X선 검출신호(Xk)가 도7의 제일 아래의 도면에 나타내는 노이즈 레벨(NL)까지 감쇠했는지 여부를 판단한다. 제1 실시예에서는 임펄스 응답 특정부(12)는 보정후 X선 검출신호(Xk)가 노이즈 레벨(NL)에 도달한 시간이 비조사상태의 개시 1초 이내인지 여부를 판단한다.
그리고, 노이즈 레벨(NL)에 도달한 시간이 개시 1초를 초과한 경우, 또는 노이즈 레벨(NL)에 도달한 시간이 개시 1초 이내라도 그 후에 노이즈 레벨(NL)을 초과한 경우에는, 설정된 감쇠시정수(τn) 및 강도(αn)에서의 임펄스 응답이 적절하지 않은 것으로 임펄스 응답 특정부(12)는 판단한다. 반대로, 노이즈 레벨(NL)에 도달한 시간이 개시 1초 이내이고, 또 그 후에 노이즈 레벨(NL) 미만인 경우에는, 설정된 감쇠시정수(τn) 및 강도(αn)에서의 임펄스 응답이 적절한 것으로 임펄스 응답 특정부(12)는 판단한다.
스텝 S1에서 설정된 감쇠시정수(τn) 및 강도(αn)에서의 임펄스 응답이 적절하지 못한 경우에는, 스텝 S1로 되돌아가 별도의 감쇠시정수(τn) 및 강도(αn)를 가정하여 설정한다. 만약, 임펄스 응답이 적절한 경우에는, 임펄스 응답 특정부(12)는 임펄스 응답으로 특정한다. 이 설정된 감쇠시정수(τn) 및 강도(αn)는 단수이므로, 임펄스 응답의 특정에 의해 1개만의 임펄스 응답이 결정된다.
제1 실시예에서는, 임펄스 응답 특정부(12)가 임펄스 응답을 특정했지만, 다른 구성(예컨대 주제어부(14))이 임펄스 응답의 결정의 기능을 가져도 된다. 또 임펄스 응답이 적절한지 여부에 대해서도 임펄스 응답 특정부(12)가 행했지만, 임펄스 응답 특정부(12) 이외의 구성이 임펄스 응답 특정부(12)에 의한 임펄스 응답의 특정과 개별로 행해도 된다. 즉, 임펄스 응답 특정부(12)와 주제어부(14) 등으로 대표되는 CPU(중앙연산처리수단)에 의해 임펄스 응답의 결정과 임펄스 응답이 적절한지 여부에 대해서 행해도 된다. 또 화상표시 모니터(5)에서의 표시결과를 오퍼레이터가 관측하여, 그 관측에 의거하여 임펄스 응답이 적절한지 여부의 판단을 수동으로 행해도 된다.
여기서, 본 명세서 중에서의 『노이즈 레벨』이란, 0이상의 신호 강도이지만, 0에 한없이 가까운 것이 바람직하다. 따라서, 오퍼레이터가 X선 비조사상태라도 신호를 무시할 수 있다고 판단하면, 그때의 레벨이 노이즈 레벨(NL)이라고 판단 된다. 따라서, 임펄스 응답이 적절한지 여부에 대해서 임펄스 응답 특정부(12)가 행하는 경우에는, 비조사상태에서도 신호를 무시할 수 있는 정도의 노이즈 레벨(NL)을 오퍼레이터가 미리 설정해 두고, 그 설정된 노이즈 레벨(NL)에 따라 임펄스 응답이 적절한지 여부에 대해서 판단하면 된다. 또 임펄스 응답이 적절한지 여부의 판단을 화상 표시 모니터(5)에서의 표시결과로 행하는 경우에는, 오퍼레이터가 표시결과를 관측하여 비조사상태에서도 신호를 무시할 수 있다고 판단한 경우의 임펄스 응답이 적절하다고 하면 된다.
다음에, 도4에서 특정한 임펄스 응답을 이용하여, 도5의 플로우차트를 행한다. 도5의 플로우차트(스텝 Q1~Q8)에서는 피검체(M)로서 본래의 방사선 검출의 대상인 피검체를 이용하여 검출신호를 처리한다.
[스텝 Q1]
도4의 스텝 S2와 동일하다.
[스텝 Q2]
도4의 스텝 S3과 동일하다.
[스텝 Q3]
도4의 스텝 S4과 동일하다.
[스텝 Q4]
도4의 스텝 S5과 동일하다.
[스텝 Q5]
도4의 스텝 S6과 동일하다. 단, 이때에 행해지는 재귀적 연산처리에는 도4에 서 특정된 단수의 임펄스 응답을 이용하여 행한다.
[스텝 Q6]
검출신호 처리부(4)가 1회의 샘플링분(X선 화상 1장분)의 보정후 X선 검출신호(Xk)에 의거해서 X선 화상을 작성한다.
[스텝 Q7]
작성한 X선 화상을 화상 모니터(5)에 표시한다.
[스텝 Q8]
메모리부(10)에 미처리의 X선 검출신호(Yk)가 남아있으면, 스텝 Q4로 되돌아가고, 미처리의 X선 검출신호가 남아있지 않으면, X선 촬영을 종료한다.
또한, 제1 실시예의 장치에서는, X선 화상 1장분의 X선 검출신호(Yk)에 대한 시간지연 제거부(11)에 의한 보정후 X선 검출신호(Xk)의 산출 및 검출신호 처리부(4)에 의한 X선 화상의 작성이 샘플링 시간 간격(Δt)(=1/30초)으로 행해진다. 즉 1초 동안에 X선 화상을 30매 정도의 스피드로 차례차례로 작성됨과 동시에, 작성된 X선 화상을 연속 표시할 수 있도록도 구성되어 있다. 따라서, X선 화상의 동화표시를 행할 수 있다.
다음에, 도4에서의 스텝 S6 및 도5에서의 스텝 Q5의 시간지연 제거부(11)에 의한 재귀적 연산처리의 프로세스를, 도6의 플로우차트를 이용하여 설명한다.
도6은 제1 실시예에서의 X선 검출신호 처리방법에서의 시간지연 제거를 위한 재귀적 연산처리 프로세스를 나타내는 플로우차트이다.
[스텝 R1]
k=0으로 세트되고, 식 A의 X0=0, 식 C의 Sn0=O이 X선 조사전의 초기값으로 모두 세트된다. 임펄스 응답 특정전(도4)에서도 임펄스 응답 특정후(도5)에서도 지수함수의 수는 단수(N=1)이므로, S10가 0으로 세트되게 된다.
[스텝 R2]
식 A, C에서 k=1로 세트된다. 식 C, 즉, Sn1=X0+exp(Tn)·Sn0에 따라서 Sll가 구해지고, 또 구해진 Sl1와 X선 검출신호(Y1)가 식 A에 대입되는 것으로 보정후 X선 검출신호가 산출된다.
[스텝 R3]
식 A, C에서 k를 1만큼 증가(k=k+1)한 후, 계속해서 식 C에 1시점 전의 Xk-1가 대입되어 Slk가 구해지고, 또한 구해진 Slk와 X선 검출신호(Yk)가 식 A에 대입되는 것으로 보정후 X선 검출신호(Xk)가 산출된다.
[스텝 R4]
미처리의 X선 검출신호(Yk)가 있으면, 스텝 R3으로 되돌아가고, 미처리의 X선 검출신호(Yk)가 없으면, 다음 스텝 R5로 진행한다.
[스텝 R5]
1회의 샘플링 분(X선 화상 1장분)의 보정후 제거 X선 검출신호(Xk)가 산출되 고, 1회의 촬영분에 관한 재귀적 연산처리가 종료가 된다.
이상과 같이, 제1 실시예의 X선 투시 촬영장치에 의하면, 시간지연 제거부(11)에 의한 재귀적 연산처리에 의해 X선 검출신호에서 시간지연분을 제거하여 보정후 X선 검출신호를 산출할 때에, X선의 선량에 따른 FPD(2)의 임펄스 응답을 이용하므로, 고정밀도의 보정후 X선 검출신호가 얻어지게 된다.
상술한 연산처리에 의해 X선 검출신호에서 시간지연분을 제거할 때, 복수개(N개)의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로부터, X선 조사에서 X선 비조사로 이행했을 때의 비조사상태에서 보정후 X선 검출신호의 노이즈 레벨(NL)로 감쇠시키는 값을 가지는 감쇠시정수(τn)에 의거해서 단수(1개)의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로 임펄스 응답 특정부(12)는 특정하고, 특정된 임펄스 응답을 이용하여 시간지연분을 제거하며, 보정후 방사선 검출신호(Xk)를 구하므로, 임펄스 응답을 구성하는 지수함수를 1개 특정하는 것만으로 되고, 시간지연을 간단하게 구할 수 있다. 또 노이즈 레벨(NL)은 X선 비조사상태에서도 신호를 무시할 수 있는 레벨이므로, 특정된 임펄스 응답은 신뢰성이 높은 것으로 된다.
또 제1 실시예에서는, X선 비조사상태의 개시 1초 이내로 노이즈 레벨(NL)로 감쇠시키는 감쇠시정수(τn) 및 강도(αn)를 이용하여 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로 특정함으로써, 특정된 임펄스 응답은, 더욱 신뢰성이 높은 것으로 된다. 이와 같이 노이즈 레벨로 감쇠하는 시간은 짧으면 짧을수록, 임펄스 응답에 대해서 신뢰가 높게 된다.
또 제1 실시예에서는, X선 조사상태에서의 X선 조사시간이 10초이며, 5초에서 15초 사이에서의 범위가 되도록 X선관(1)이 X선을 조사함으로써, X선 검출신호를 노이즈 레벨까지 적절하게 감쇠할 수 있다.
제2 실시예
다음에, 도면을 참조하여 본 발명의 제2 실시예를 설명한다.
도8은 제2 실시예에서의 임펄스 응답을 특정할 때까지의 X선 검출신호 처리방법의 순서를 나타내는 플로우차트이다. 또한 제2 실시예에서의 X선 투시 촬영장치는 임펄스 응답 특정부(12)의 구체적인 기능이 다른것 외에는, 제1 실시예에서의 장치와 같은 구성으로 된다. 또 임펄스 응답을 특정한 후의 X선 검출신호 처리방법의 순서, 시간지연 제거부(11)에 의한 재귀적 연산처리의 프로세스에 대해서도 제1 실시예와 동일하므로 그 설명을 생략한다.
또 제2 실시예의 도8의 플로우차트에 있어서도, 스텝 S2에서 S8까지의 각 스텝은 제1 실시예의 도4 중의 스텝 S2에서 S8까지의 각 스텝과 각각 동일하다.
[스텝 S1a]
오퍼레이터는, X선의 비조사상태에서 노이즈 레벨(NL)로 감쇠하는 것을 예측하여, 강도(αn)를 가정하여 설정한다. 이때, 감쇠시정수(τn)에 대해서는 고정한다. 감쇠시정수(τn)를 고정하여 강도(αn)를 결정하는 경우에는, 감쇠시정수(τn )는 0.5초에서 1.0초까지의 범위가 바람직하고, 감쇠시정수(τn)가 0.5초 부근인 것이 더욱 바람직하다. 제2 실시예에서는 감쇠시정수(τn)를 0.5초로 고정한다.
[스텝 S2]
도4의 스텝 S2와 동일하다.
[스텝 S3]
도4의 스텝 S3와 동일하다.
[스텝 S4]
도4의 스텝 S4와 동일하다.
[스텝 S5]
도4의 스텝 S5와 동일하다.
[스텝 S6]
도4의 스텝 S6와 동일하다.
[스텝 S7]
도4의 스텝 S7와 동일하다.
[스텝 S8]
도4의 스텝 S8와 동일하다.
[스텝 S9a]
임펄스 응답 특정부(12)는, X선의 조사상태에서 비조사상태로 이행할 때의 비조사상태에 있어서, 보정후 X선 검출신호(Xk)가 노이즈 레벨(NL)까지 감쇠했는지 여부를 판단한다. 판단의 방법에 대해서는 제1 실시예와 동일하므로 그 설명을 생략한다. 단, 감쇠시정수(τn)에 대해서는 0.5초에서 1.0초까지의 범위에서 미리 고 정되어 있으므로, 제1 실시예와 같이 비조사상태의 개시 1초내로 한정할 필요는 없고, 비조사상태의 개시에서 소정의 시간내에 감쇠하면 된다. 노이즈 레벨(NL)까지 감쇠하지 않은 경우에는, 설정된 강도(αn)에서의 임펄스 응답이 적절하지 않은 것으로 임펄스 응답 특정부(12)는 판단한다. 반대로, 노이즈 레벨(NL)까지 감쇠한 경우에는 설정된 강도(αn)에서의 임펄스 응답이 적절한 것으로 임펄스 응답 특정부(12)는 판단한다.
스텝 S1a에서 설정된 강도(αn)에서의 임펄스 응답이 적절하지 않은 경우에는, 스텝 S1a으로 되돌아가 별도의 강도(αn)를 가정하여 설정한다. 만약, 임펄스 응답이 적절한 경우에는, 임펄스 응답 특정부(12)는 임펄스 응답으로 특정한다. 이 설정된 강도(αn)는 단수이므로, 임펄스 응답의 특정에 의해 1개만의 임펄스 응답이 결정된다.
또한 제2 실시예에 있어서도, 제1 실시예와 마찬가지로, 임펄스 응답 특정부(12)와 주제어부(14) 등으로 대표되는 CPU(중앙연산처리수단)에 의해 임펄스 응답의 결정과 임펄스 응답이 적절한지 여부에 대해서 행해도 되고, 화상 표시 모니터(5)에서의 표시결과를 오퍼레이터가 관측하여 그 관측에 의거해서 임펄스 응답이 적절한지 여부의 판단을 수동으로 행해도 된다.
이상과 같이, 제2 실시예의 X선 투시 촬영장치에 의하면, 예를 들면 0.5초와 같이 0.5초에서 1.0초까지의 범위의 값을 가지는 감쇠시정수(τn) 및 노이즈 레벨 (NL)로 감쇠시키는 값을 가지는 강도(αn)를 이용하여 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로 특정함으로써, 특정된 임펄스 응답은 더욱 신뢰성이 높은 것으로 된다.
본 발명은 상기 실시형태에 한정되는 것이 아니라, 하기와 같이 변형실시할 수 있다.
(1) 상술한 실시예 장치에서는, 방사선 검출수단이 FPD이었지만, 본 발명은, FPD이외의 X선 검출신호의 시간지연을 일으키는 방사선 검출수단을 이용한 구성의 장치에도 이용할 수 있다.
(2) 상술한 각 실시예 장치는 X선 투시 촬영장치이었지만, 본 발명은 X선 CT장치와 같이 X선 투시 촬영장치 이외의 것에도 적용할 수 있다.
(3) 상술한 각 실시예 장치는 의료용 장치였지만, 본 발명은, 의료용에 한하지 않고, 비파괴 검사기기 등의 공업용 장치에도 적용할 수 있다.
(4) 상술한 각 실시예 장치는, 방사선으로서 X선을 이용하는 장치이었지만, 본 발명은, X선에 한하지 않고, X선 이외의 방사선을 쓰는 장치에도 적용할 수가 있다.
본 발명은, 그 사상 또는 본질로부터 일탈하지 않고 다른 구체적인 형태에서 실시할 수 있고, 따라서, 발명의 범위를 도시하는 것으로서, 이상의 설명에서는 아니고, 부가된 클레임을 참조해야 한다.
본 발명에 관한 방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호 처리방법에 의하면, 시간지연에 관한 연산처리에 의해 방사선 검출신호로부터 시간지연분을 제거할 때, 복수개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로부터, 방사선 조사에서 방사선 비조사로 이행했을 때의 비조사상태에서 방사선 검출신호의 노이즈 레벨로 감쇠시키는 값을 가지는 감쇠시정수에 의거하여 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 임펄스 응답 특정수단은 특정하고, 특정된 임펄스 응답을 이용하여 시간지연분을 제거하고, 보정후 방사선 검출신호를 구하므로, 임펄스 응답을 구성하는 지수함수를 1개 특정하는 것만으로 되며, 시간지연을 간단하게 구할 수 있다.

Claims (14)

  1. 피검체를 향해 방사선을 조사하는 방사선 조사수단과, 피검체를 투과한 방사선을 검출하는 방사선 검출수단과, 상기 방사선 검출수단으로부터 방사선 검출신호를 소정의 샘플링 시간 간격으로 추출하는 신호 샘플링 수단을 구비하고, 피검체로의 방사선 조사에 따라 방사선 검출수단으로부터 샘플링 시간 간격으로 출력되는 방사선 검출신호에 의거하여 방사선 화상을 얻을 수 있도록 구성된 방사선 촬상장치에 있어서,
    샘플링 시간 간격으로 추출되는 각 방사선 검출신호에 포함되는 시간지연분을 감쇠시정수가 다른 복수개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 의한 것으로서 재귀적 연산처리에 의해 각 방사선 검출신호로부터 제거하는 시간지연 제거수단;
    상기 복수개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로부터, 방사선 조사에서 방사선 비조사로 이행했을 때의 비조사상태에서 방사선 검출신호의 노이즈 레벨로 감쇠시키는 값을 가지는 상기 감쇠시정수에 의거하여 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로 특정하는 임펄스 응답 특정수단을 포함하여 구비하며;
    상기 임펄스 응답 특정수단에서 특정된 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답을 이용하여, 상기 시간지연 제거수단은 시간지연분을 제거하여 보정후 방사선 검출신호를 구하는 방사선 촬상장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 임펄스 응답 특정수단은, 방사선 조사에서 방사선 비조사로 이행했을 때의 비조사상태의 개시 1초 이내에 방사선 검출신호의 노이즈 레벨로 감쇠시킨 값을 가지는 감쇠시정수 및 방사선의 강도를 이용하여 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로 특정하는, 방사선 촬상장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 임펄스 응답 특정수단은, 0.5초에서 1.0초까지의 범위의 값을 가지는 감쇠시정수 및 방사선 조사에서 방사선 비조사로 이행했을 때의 비조사상태에서 방사선 검출신호의 노이즈 레벨로 감쇠시키는 값을 가지는 방사선의 강도를 이용하여 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로 특정하는 방사선 촬상장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 방사선 조사에서 상기 방사선 비조사로 이행했을 때에, 방사선 조사상태에서의 방사선 조사시간이 5초에서 15초까지의 범위가 되도록 상기 방사선 조사수단은 방사선을 조사하는 방사선 촬상장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 시간지연 제거수단은 방사선 검출신호에서 시간지연분을 제거하는 재귀적 연산처리를 식 A~C,
    Xk = [Yk-Σn=1 N[αn·〔1-exp(Tn)〕·exp(Tn)·Snk] … A
    Tn = -Δt/τn … B
    Snk = Xk-1+exp(Tn)·Sn(k-1) … C
    단, Δt : 샘플링 시간 간격,
    k : 샘플링한 시계열 내의 k번째 시점을 나타내는 첨자,
    Yk : k번째 샘플링 시점에서 추출된 방사선 검출신호,
    Xk : Yk에서 시간지연분을 제거한 보정후 방사선 검출신호,
    Xk-1 : 일시점 전의 Xk,
    Sn(k-1) : 일시점 전의 Snk,
    exp : 지수함수
    N : 임펄스 응답을 구성하는 시정수가 다른 지수함수의 갯수,
    n : 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중 하나를 나타내는 첨자
    αn : 지수함수 n의 강도,
    τn : 지수함수 n의 감쇠시정수
    에 의해 행하고;
    상기 시간지연분을 제거할 때에는, 상기 임펄스 응답 특정수단으로 특정된 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답을 이용하여 행하도록 구성하는 방사선 촬상장치.
  6. 피검체를 조사하여 검출된 방사선 검출신호를 소정의 샘플링 시간 간격으로 추출하고, 샘플링 시간 간격으로 출력되는 방사선 검출신호에 의거하여 방사선 화상을 얻는 신호처리를 행하는 방사선 검출신호 처리방법에 있어서,
    샘플링 시간 간격으로 추출되는 각 방사선 검출신호에 포함되는 시간지연분을 감쇠시정수가 다른 복수개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답에 의한 것으로서 재귀적 연산처리에 의해 각 방사선 검출신호로부터 제거하는 공정;
    상기 제거하는 공정의 전에는, 상기 복수개의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로부터, 방사선 조사에서 방사선 비조사로 이행했을 때의 비조사상태에서 방사선 검출신호의 노이즈 레벨로 감쇠시키는 값을 가지는 상기 감쇠시정수에 의거하여 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로 미리 특정하는 공정;
    상기 특정하는 공정에서 특정된 임펄스 응답을 이용하여, 상기 제거하는 공정에서 시간지연분을 제거하여, 보정후 방사선 검출신호를 구하는 공정을 포함하는, 방사선 검출신호 처리방법.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 특정하는 공정에서는, 방사선 조사에서 방사선 비조사로 이행했을 때의 비조사상태의 개시 1초 이내에 방사선 검출신호의 노이즈 레벨로 감쇠시키는 값을 가지는 감쇠시정수 및 방사선의 강도를 이용하여 단수의 지수함수로 구성되는 임펄 스 응답으로 특정하여 행하는, 방사선 검출신호 처리방법.
  8. 제 6 항에 있어서,
    상기 특정하는 공정에서는, 0.5초에서 1.0초까지의 범위의 값을 가지는 감쇠시정수 및 방사선 조사에서 방사선 비조사로 이행했을 때의 비조사상태에서 방사선 검출신호의 노이즈 레벨로 감쇠시키는 값을 가지는 방사선의 강도를 이용하여 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로 특정하여 행하는 방사선 검출신호 처리방법.
  9. 제 6 항에 있어서,
    상기 방사선 조사에서 상기 방사선 비조사로 이행했을 때에, 방사선 조사상태에서의 방사선 조사시간이 5초에서 15초까지의 범위가 되도록 방사선을 조사하는 방사선 검출신호 처리방법.
  10. 제 6 항에 있어서,
    Xk = [Yk-Σn=1 N[αn·〔1-exp(Tn)〕·exp(Tn)·Snk] … A
    Tn = -Δt/τn … B
    Snk = Xk-1+exp(Tn)·Sn(k-1) … C
    단, Δt : 샘플링 시간 간격,
    k : 샘플링한 시계열 내의 k번째 시점을 나타내는 첨자,
    Yk : k번째 샘플링 시점에서 추출된 방사선 검출신호,
    Xk : Yk에서 시간지연분을 제거한 보정후 방사선 검출신호,
    Xk-1 : 일시점 전의 Xk,
    Sn(k-1) : 일시점 전의 Snk,
    exp : 지수함수
    N : 임펄스 응답을 구성하는 시정수가 다른 지수함수의 갯수,
    n : 임펄스 응답을 구성하는 지수함수 중 하나를 나타내는 첨자
    αn : 지수함수 n의 강도,
    τn : 지수함수 n의 감쇠시정수
    에 의해 행하고;
    상기 시간지연분을 제거하는 공정시에는, 상기 특정하는 공정에서 특정된 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답을 이용하여 행하는 방사선 검출신호 처리방법.
  11. 제 6 항에 있어서,
    상기 단수의 지수함수로 구성되는 임펄스 응답으로 특정하기 위해, 팬톰(phantom)을 피검체로서 이용하여 상기 특정하는 공정으로 이루어지는 검출신호처 리를 행하고, 특정된 임펄스 응답을 이용함과 동시에, 본래의 방사선 검출의 대상을 피검체로서 이용하여, 상기 제거하는 공정 및 구하는 공정으로 이루어지는 검출신호처리를 행하는, 방사선 검출신호 처리방법.
  12. 삭제
  13. 제 6 항에 있어서,
    상기 특정하는 공정을 중앙연산처리수단이 행하는, 방사선 검출신호 처리방법.
  14. 제 6 항에 있어서,
    상기 특정하는 공정을 수동으로 행하는, 방사선 검출신호 처리방법.
KR1020040061453A 2003-08-08 2004-08-04 방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호 처리방법 KR100690377B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003290332A JP4483223B2 (ja) 2003-08-08 2003-08-08 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法
JPJP-P-2003-00290332 2003-08-08

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20050018620A KR20050018620A (ko) 2005-02-23
KR100690377B1 true KR100690377B1 (ko) 2007-03-09

Family

ID=34114124

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020040061453A KR100690377B1 (ko) 2003-08-08 2004-08-04 방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호 처리방법

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7313218B2 (ko)
JP (1) JP4483223B2 (ko)
KR (1) KR100690377B1 (ko)
CN (1) CN100337592C (ko)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006334085A (ja) * 2005-06-01 2006-12-14 Shimadzu Corp 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法
GB0601865D0 (en) * 2006-01-30 2006-03-08 Bp Chem Int Ltd Process
WO2007096937A1 (ja) * 2006-02-20 2007-08-30 Shimadzu Corporation 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法
WO2007096968A1 (ja) * 2006-02-23 2007-08-30 Shimadzu Corporation 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法
US20100019176A1 (en) * 2006-12-12 2010-01-28 Koichi Tanabe Imaging apparatus
JP4888599B2 (ja) * 2008-07-24 2012-02-29 株式会社島津製作所 光または放射線撮像装置
JP5405093B2 (ja) * 2008-12-05 2014-02-05 富士フイルム株式会社 画像処理装置及び画像処理方法
US9610053B2 (en) * 2013-01-08 2017-04-04 Shimadzu Corporation Radiographic device
CN105816191A (zh) * 2016-02-29 2016-08-03 魏苗苗 一种心脏内科急救检测胸腔设备
KR102365068B1 (ko) * 2020-06-17 2022-02-17 연세대학교 산학협력단 방사선 치료 장비의 환자 정도관리용 선량 평가 방법 및 시스템
KR102388907B1 (ko) * 2020-06-23 2022-04-21 연세대학교 원주산학협력단 즉발 감마선영상 및 양전자방출단층영상을 이용한 체내 양성자 선량분포 측정장치의 제어모듈

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4000425A (en) * 1975-08-01 1976-12-28 Craig Dwin R Apparatus for producing axial tomograms
US5265013A (en) * 1990-11-19 1993-11-23 General Electric Company Compensation of computed tomography data for X-ray detector afterglow artifacts
US5517544A (en) * 1991-02-20 1996-05-14 Elscint Ltd. Afterglow artifact reduction
US5249123A (en) 1991-11-25 1993-09-28 General Electric Company Compensation of computed tomography data for detector afterglow
US5359638A (en) * 1992-03-30 1994-10-25 General Electric Company Method for recursive filtering residual afterglow from previous computed tomography scans
US6295331B1 (en) * 1999-07-12 2001-09-25 General Electric Company Methods and apparatus for noise compensation in imaging systems
US6493646B1 (en) * 2000-02-16 2002-12-10 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc High order primary decay correction for CT imaging system detectors
JP2002202395A (ja) * 2000-12-28 2002-07-19 Hitachi Ltd 原子炉出力測定装置
US6665616B2 (en) * 2001-04-17 2003-12-16 Medhat W. Mickael Method for determining decay characteristics of multi-component downhole decay data
JP2003061945A (ja) * 2001-08-30 2003-03-04 Hitachi Medical Corp Ｘ線ｃｔ装置
JP4164282B2 (ja) * 2002-04-16 2008-10-15 キヤノン株式会社 放射線撮影装置、放射線撮影方法及びコンピュータプログラム
US20030223539A1 (en) * 2002-05-31 2003-12-04 Granfors Paul R. Method and apparatus for acquiring and storing multiple offset corrections for amorphous silicon flat panel detector
DE10361397A1 (de) * 2003-12-29 2005-07-28 Siemens Ag Bildaufnahmevorrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
US20050031070A1 (en) 2005-02-10
KR20050018620A (ko) 2005-02-23
JP2005058348A (ja) 2005-03-10
CN1579329A (zh) 2005-02-16
CN100337592C (zh) 2007-09-19
US7313218B2 (en) 2007-12-25
JP4483223B2 (ja) 2010-06-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100891580B1 (ko) 방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호처리 방법
KR100627151B1 (ko) 방사선 촬영장치
KR100690377B1 (ko) 방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호 처리방법
KR100970540B1 (ko) 방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호처리방법
KR100645901B1 (ko) 방사선 촬상장치
KR100650380B1 (ko) 방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호 처리방법
KR100987857B1 (ko) 방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호 처리방법
KR100704245B1 (ko) 방사선 단층촬영장치 및 방사선 검출신호 처리방법
KR100650381B1 (ko) 방사선 촬상장치 및 방사선검출 신호처리 방법
JP4581504B2 (ja) 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法
KR100652787B1 (ko) 방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호 처리방법
JP4924384B2 (ja) 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
J201 Request for trial against refusal decision
AMND Amendment
B701 Decision to grant
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130201

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140204

Year of fee payment: 8

LAPS Lapse due to unpaid annual fee