KR100581677B1 - 프린트 기판용 검사장치 - Google Patents

Abstract

검사장치(10)는 제어장치(32)와 측정장치(35)를 포함하는 고정부(30)와, 전기적 검사(예컨대, 통전 검사) 대상의 전극 패턴을 갖는 프린트 기판(11)에 형성된 접점(12)과 접촉하는 접촉 단자(21)를 포함하는 이동부(20)로 구성된다. 접촉 단자는 다수의 제1 배선(25)을 통해 접속절환장치(23)에 접속되고, 이 접속절환장치는 제1 배선을 선택적으로 절환하는 이동부에 배열된다. 다수의 제3 배선(20a, 20b)은 고정부와 선택적으로 절환되는 제1 배선 사이의 접속을 설정하도록 배열되며, 제3 배선의 수는 제1 배선의 수보다 적다.

Description

프린트 기판용 검사장치{INSPECTION APPARATUS FOR PRINTED BOARD}

도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 검사장치의 주요부와 블록을 도시하는 블록선도.

도 2는 통전 검사를 실행하기 위해 서로에 대해 근접되는 접촉 단자와 프린트 기판의 접점을 개략적으로 도시하는 측면도.

도 3은 검사장치의 하우징에 설치된 기계적 요소와 전기적 요소를 도시하는 평면도.

도 4는 검사장치의 하우징에 설치된 선택적 요소를 도시하는 정면도.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>

10 : 검사장치 11 : 프린트 기판

20 : 이동부 20a, 20b, 30a : 배선

21 : 접촉 단자 22 : 접촉 단자 지지부

23 : 접속절환장치 25 : 배선

27 : 접속절환신호 수신기 30 : 고정부

32 : 제어장치 35 : 측정장치

36 : 접속절환신호 송신기

본 발명은, 접촉 단자를 프린트 기판의 접점에 접촉함으로써 프린트 기판에 전기적 검사를 실행하는 프린트 기판(즉, 프린트 회로기판 또는 프린트 배선기판)용 검사장치에 관한 것이다.

본 출원은 일본국 특허원 2003-8937호를 우선권 주장하여, 그 내용이 본원에 참고로 인용되고 있다.

종래, 배선 또는 라인에 의한 통전의 검출시 전극 패턴을 갖는 프린트 기판에 검사가 행해지고 있고, 즉, 접촉 단자를 각 프린트 기판에 배열된 접점에 접속하기 위해 검사장치가 동작되고, 일본국 특허원 평11-340588호에 개시되어 있다. 상기 검사장치는 이동부에 부착된 각종 접촉 단자를 갖고, 접촉 단자가 배선의 일 단부에 접속되고, 그 타단부는 고정부가 부착되고 접촉 단자로부터 전달되는 검출 신호를 측정하는 측정부에 접속된다.

프린트 기판의 검사 표면에는, 전극 패턴과 통전되는 다수의 접점을 갖는 절연막에 전극 패턴이 적층되어 있다. 구리 등의 탄성적으로 변형할 수 있는 소정의 재료가 전극 패턴의 형성에 사용된다. 통전 검사에서, 프린트 기판이, 편평하게 형성되는 검사장치의 상부면에 고정되는 반면, 접촉 단자가 프린트 기판의 접점과 접촉하도록 프린트 기판 아래로 수직방향으로 이동부가 하강된다. 또한, 프린트 기판은 다수의 전극 패턴을 형성하는 시이트와 같이 전체에 형성되며, 이동부에 배열된 프로브 헤드에 접촉 단자가 고정된다.

전술한 검사장치는 검사 대상 프린트 기판의 전체 표면에 적합한 형상과 크기로 적절하게 설계되는 프로브 헤드의 생성에 비교적 고비용을 유발한다. 이 때문에, 다수의 전극 패턴 유니트가 형성된 인쇄 기판을 검사할 때, 전극 패턴을 차례로 각각 검사하도록 하나의 전극 패턴 유니트에 적합한 검사 프로브 헤드를 이용하는 이른바 단계 반복 방법(step-and-repeat method)이 실행된다. 이 방법을 사용해도, 고정부에 수반되는 측정부가 많은 배선에 접속되어, 그 수는 접촉 단자의 수와 동일하다. 따라서, 종래 검사장치는 이동부와 고정부 사이에 요구되는 많은 배선에 의해 배선이 방대해지는 결점을 갖는다.

본 발명의 목적은, 이동부와 고정부 사이에 배열된 다수의 배선을 감소시킴으로써, 배선의 부피가 커지지 않고, 이동부의 이동 거리와 이동 속도의 견지에서 자유도를 증가할 수 있는 프린트 기판용 검사장치를 제공하는 데에 있다.

본 발명의 검사장치는 기본적으로 제어장치를 갖는 고정부와, 전기적 검사를 실행하기 위해서 프린트 기판의 다수의 접점과 접촉하는 다수의 접촉 단자를 갖는 이동부를 구비한다. 특히, 검사장치는 이동부에 배열된 접촉 단자에 연결된 다수의 제1 배선, 다수의 제1 배선 내의 배선을 임의로 선택하고 절환하기 위해서 이동부에 배열되는 접속절환장치, 접속절환신호를 접속절환장치에 전달하기 위해 고정부에 배열되는 접속절환신호 송신기, 접속절환신호를 수신하기 위해 이동부에 배열되는 접속절환신호 수신기, 접속절환장치를 향해 접속절환신호를 전달하기 위해서 이동부와 고정부를 서로 접속하도록 배열되는 제2 배선, 및 접속절환장치에 의해 고정부로 절환하는 일부의 제1 배선에 대한 접속을 장치하기 위해 이동부와 고정부를 서로 접속하도록 배열되는 비교적 적은 수의 제3 배선을 구비한다.

전술한 본 발명의 상기 구성에 따르면, 이동부에는 접촉 단자에 접속되는 제1 배선을 절환하는 접속절환장치가 장착되고, 따라서, 접속절환신호를 전달하는 제2 배선과 고정부와 이동부 사이의 고정부에 '선택적으로 절환된' 제1 배선을 접속하는 배선을 배열함으로써, 접촉 단자를 향해 측정 신호를 확실하게 전달할 수 있다. 그 결과, 종래 검사장치에도 불구하고, 이동부에 대해 통전 검사에서 배선이 방대해지는 많은 배선을 유도하지 않도록 할 수 있다. 접촉 단자에 접속된 다수의 제1 배선의 단부가 이동부에 고정된 접속절환장치에 접속된다. 이는 각종 배선의 길이를 현저하게 감소시키므로, 경제적 장점을 제공한다.

또한, 본 발명의 검사장치는 시간 분할 다중 처리(time-division multiplex processing)로 접속절환신호가 전달되는 다중 처리 전달을 실현하는 것을 특징으로 한다. 이는 그 사이에 비교적 적은 수의 배선을 이용하여 이동부와 고정부 사이에 설정된 접속을 구동한다.

본 발명은 첨부 도면을 참조로 실시예에 의해 이하 상세히 설명한다.

도 1은 전기부품과 기계부품을 포함하는 블록선도로서, 본 발명의 바람직한 실시 형태에 따른 프린트 기판용 검사장치(10)의 주요부에 관한 전체 구성과 구조를 개략적으로 도시한다. 이 검사장치(10)는, 통전 또는 절연이 전극 패턴에 관해서 적절하게 설정되는지 여부를 검사하기 위해서, 검사 대상인 프린트 기판(11)에 형성된 전극 패턴(도시생략)의 검사를 실행한다. 특히, 검사장치(10)는 프린트 기판(11)을 소정 위치에 설정하는 설정부, 장착된 드라이브를 동작함으로써 프린트 기판(11)의 표면을 따라 이동될 수 있는 이동부(20), 및 내부에 장착된 각종 장치 및 수단을 제어하는 제어부를 포함하는 고정부(30)를 구성하고, 이에 관해서는 이하에 상세히 설명한다. 또한, 전극 패턴과 통전하는 다수의 접점(12)이 프린트 기판(11)의 표면에 형성되어 있다.

이동부(20)는 도 3 및 도 4에 도시한 검사장치 하우징(40)의 내측에 배열되고, 프린트 기판(11)의 상부면 위의 좌우방향에 대응하는 X축방향과, 프린트 기판(11)의 상부면 위의 X축방향에 직각으로 교차하는 Y축방향과, X축방향과 Y축방향에 3차원적으로 수직한 Z축을 중심으로 소정 방향(θ)으로 이동될 수 있다. 검사장치 하우징(40)은, 도 4에 도시한 바와 같이, 프린트 기판(11)을 소정 위치에 배열하는 설정부(50)를 추가로 구비하고, 한 쌍의 이동부(20)는 설정부(50)에 설정되는 프린트 기판(11) 상하로 각각 배열된다.

설정부(50)와 이동부(20) 양자는 각종 드라이브를 동작함으로써 이동할 수 있는 조건하에서 베이스(42)에 놓여지며, 이하에 상세히 설명한다. 베이스(42)는 창문형 구멍부(43)가 형성된 상부면을 갖는 프레임으로 구성된다. 설정부(50)는, 구멍부(43)의 양 단부에 각각 배열되는 한 쌍의 지지부재(50a, 50b)로 구성된다.

지지부재(50a)는 구멍부(43)의 일 가장자리를 따라 놓이는 레일(51a)과, 이 레일(51a)을 따라 이동할 수 있는 한 쌍의 지지부(52a, 56a)로 구성된다. 지지부(52a)는, 이 지지부(52a)를 프린트 기판(11)으로 근접하고 프린트 기판에 이 격하는 방향으로 연장된 트랙(예컨대 트랙이 레일(51a)에 수직한 방향으로 연장됨)과, 에어실린더 등에 의해 실현되는 드라이브를 구비하는 구동섹션(53a)과, 구동섹션(53a)의 구동시 트랙을 따라 이동할 수 있는 이동섹션(54a)으로 구성된다. 또한, 프린트 기판(11)의 코너를 고정 유지하는 홀더(55a)가 이동섹션(54a)의 선단부에 형성되어 있다.

지지부(56a)는 전술한 지지부(52)에 대칭으로 전후방향으로 구성되며, 구동섹션(57a) 및 이동섹션(58a)으로 구성되고, 홀더(59a)는 이동섹션(58a)의 선단부에 형성된다. 지지부(52a, 56a)는 프린트 기판(11)의 폭에 따라 조정될 수 있도록 이들 사이의 상호 거리를 증가 또는 감소하기 위해서 레일(51)을 따라 이동할 수 있다. 지지부재(50a)는 레일(71a, 72a)을 따라 이동할 수 있고 프린트 기판(11)의 길이에 따라 적절하게 위치된다.

지지부재(50b)는 전술한 지지부재(50a)에 대칭으로 좌우방향으로 구성되며, 레일(51b) 및 한 쌍의 지지부(52b, 56b)로 구성된다. 지지부(52b)는 구동섹션(53b)과 이동섹션(54b)으로 구성되며, 홀더(55b)가 이동섹션(54b)의 선단부에 형성된다. 동일하게, 지지부(56b)는 구동섹션(57b)과 이동섹션(58b)으로 구성되며, 홀더(59b)가 이동섹션(58b)의 선단부에 형성된다.

지지부(52b, 56b) 양자는 레일(51b)을 따라 이동할 수 있으므로 프린트 기판(11)의 폭에 따라 이들 사이의 상호 거리를 적절하게 조정할 수 있다. 지지부재(50b)는 레일(71b, 72b)을 따라 이동할 수 있고 프린트 기판(11)의 길이에 따라 적절하게 위치된다. 또한, 지지부재(50a)의 이동섹션(54a, 58a)은 구동섹션(53a, 57a)의 트랙을 따라 각각 이동할 수 있는 반면, 지지부재(50b)의 이동섹션(54b, 58b)은 구동섹션(53b, 57b)의 트랙을 따라 각각 이동할 수 있다. 즉, 프린트 기판(11)의 네 모서리가 이동섹션(54a, 58a, 54b, 58b)의 선단부에 형성된 홀더(55a, 59a, 55b, 59b)에 각각 고정 유지되므로, 프린트 기판(11)은 인장하에서 지지된다.

프린트 기판(11) 위에 배열된 이동부(20)는, 베이스(42)의 상부면에 대해 전후방향으로 배열되는 한 쌍의 레일(44a, 44b)을 따라 이동할 수 있는 지지부재(45)에 부착되어 있다. 지지부재(45)는 회전구동부(46a)의 구동시 레일(44a, 44b)을 따라 좌우방향으로 이동할 수 있다. 또한, 트랙과 회전 샤프트를 구비한 구동섹션(47)은 지지부재(45)에 부착된다.

이동부(20)는 구동섹션(47)에 이동가능하게 부착되는 이동섹션(61)에 부착되며, 구동섹션(47)의 구동시 이동섹션(61)과 함께 그 종방향으로 이동할 수 있다. 또한, 이동섹션(61)은 드라이브(도시생략)를 장착하여, 수직방향으로 이동부(20)를 이동시키고 구동시 수직 축을 중심으로 회전시킨다.

프린트 기판(11) 아래에 배열되는 다른 이동부(20)는, 전술한 지지부재(45)와 구동섹션(47)에 수직방향으로 대칭 배열되는 지지부재(48)와 구동섹션(49)을 수반하므로, 수직방향으로 이동가능하고 수직 축을 중심으로 회전할 수 있다.

도 1(도시 간략화를 위해 하나의 이동부(20)를 도시함)에 도시한 바와 같이, 이동부(20)는 각각이 다수의 접촉 단자(21)를 갖는 다수의 접촉 단자 지지부(22), 각각이 접촉 단자 지지부(22)에 접속되는 다수(예컨대 2개)의 접속절환장치(23), 및 고정부(30)에 관해서 신호와 데이터를 전달 및 수신하는 입/출력장치(24)를 구비한다. 상기 접촉 단자(21)는 배선(25)을 통해 접속절환장치(23)에 접속되고, 그 수가 접촉 단자(21)의 수와 동일하다.

각각의 접촉 단자(21)는 얇은 바늘과 같이 형성되므로, 프린트 기판(11) 위의 대응하는 접점(12)에 접촉된다. 이 때, 접촉 단자 사이에 전기가 공급되므로, 접촉 단자(21) 사이에 검출된 전기적 저항치에 따라 프린트 기판(11)의 전극 패턴에 관해서 전도가 적절하게 설정되는지 여부가 결정된다. 품질 제품을 지시하는 특정 프린트 기판에 관해서 과거에 측정된 특정 전기적 저항을 참고로 미리 결정된 소정의 검사 판단치에 대한 비율을 기초로 결정된다. 즉, 전도 검사에서, 검출된 전기적 저항이 검사 판단치에 대해 소정의 비율과 동일하거나 이하일 때, 검사된 프린트 기판은 양호한 제품으로 판정되지만, 검출된 전기적 저항이 소정의 비율 이상 일때에는, 검사된 프린트 기판은 결함 제품으로 판정된다. 절연 검사의 경우, 검출된 전기적 저항이 검사 판단치에 대한 소정의 비율과 동일하거나 이하일 때, 검사된 프린트 기판은 양호한 제품으로 판정되지만, 검출된 전기적 저항이 소정의 비율 이상일 때에는, 검사된 전기적 저항은 결함 제품으로 판정된다.

접속절환장치(23)에는 접촉 단자 지지부(22)와 접촉 단자(21) 각각에 대해서 시작/정지 상태를 절환하는 회로를 장착하고 있다. 이런 절환은 제어장치(32)로부터 보내진 절환신호에 따라 접속절환장치(23)의 내측에 배열되는 스위치에 의해 구동된다. 각각의 접속절환장치(23)는 배선(25)에 접속되고, 그 배선의 수가 접촉 단자 지지부(22)를 통해 접속되는 접촉 단자(21)의 수와 동일하므로, 검사 신호가 배선(25)을 통해 접촉 단자(21)로 보내진다.

접속절환장치(23)는 배선(25)에 의해 다수(예컨대 2개)의 접촉 단자 지지부(22)에 접속되며, 각 접촉 단자 지지부(22)로부터 연장된 모든 배선(25)을 수집하는 번들의 일 단부가 접속절환장치(23)에 접속된다. 각각의 접속절환장치(23)가 그 소정의 위치에 배열되는 적어도 하나의 접속 단자(23a)를 갖고 있으므로, 다수의 접속절환장치(23)는 그 접속 단자(23a)를 상호 접속함으로써 서로 접속될 수 있다. 또한, 소정의 접속절환장치(23)가 접속단자(23a)에 접속된 접속단자(24a)를 갖는 입/출력장치(24)에 접속된다.

입/출력장치(24)는 접속절환신호를 수신하고 이를 절환신호로 전환하는 접속절환신호 수신기(27)를 내장한다. 또한, 입/출력장치(24)는 입/출력장치(31)로부터 전송된 검사 신호를 입력하고, 접촉 단자(21)를 경유하여 프린트 기판(11)에 전달되고 입/출력장치(31)로 복귀하는 검사신호를 출력하는 입/출력포트(28)를 갖고, 이후 상세히 설명한다. 또한, 입/출력장치(24)는 입/출력장치(31)로부터 접속절환신호출력을 수신하는 입력포트(29)를 갖는다. 입/출력포트(28)는 배선(20a)(20b)으로 접속되고, 입력 포트(29)는 배선(30a)으로 접속된다. 배선(20a)(20b) 또는(30a)의 수는 배선(25)의 수에 비해 상당히 감소된다.

고정부(30)가 검사장치 하우징(40)에 인접 설치된 제어패널(도시생략)의 내측에 배열된다. 접속절환신호의 전달을 실행하고 이동부(20)의 입/출력장치(24)에 대해서 검사 신호의 전달과 수신을 실행하는 전술한 입/출력장치(31) 뿐만 아니라 제어장치(32)를 구비한다.

입/출력장치(31)는, 접촉 단자(21)를 통해 프린트 기판(11)에 전달되고 다시 복귀하는 검사 신호를 출력하기 위해서 배선(20a)(20b)의 단부에 접속된 입/출력포트(33)를 갖는다. 또한 제어장치(32)로부터 보내진 절환신호를 이동부(20)로 출력하기 위해서 배선(30a)의 단부에 접속된 출력단자(34)를 갖는다. 또한, 입/출력장치(31)는 이동부(20)로부터 보내진 검사 신호를 측정하는 회로소자로 구성되는 측정장치(35)와, 접속절환신호를 접속절환신호 수신기(27)로 전달하는 접속절환신호 송신기(36)를 추가로 포함한다.

제어장치(32)는 CPU(37), ROM(38), 및 RAM(39)을 포함한다. ROM(38)은 설정부와 구동섹션의 동작을 실행하는 프로그램과, 접촉 단자(21)에 절환 동작을 실행하기 위해 접속절환장치(23)를 제어하는 프로그램 등과 같은 각종 프로그램을 저장한다. RAM(39)은 통전 검사를 실행하기 위해 요구된 검사 신호와 같은 각종 데이터를 저장하고, 그 내용은 필요시 재기록될 수 있다. CPU(37)는 ROM(38) 및/또는 RAM(39)에 저장된 각종 프로그램과 데이터를 기초로 검사장치(10)를 제어하며, 또한 측정장치(35)에 의해 생성된 측정 결과로부터 얻어지는 검사 결과의 판단을 인식한다.

제어장치(32)는 또한 배선(도시생략)을 통해 전술한 구동섹션(46a)(47)에 접속되므로, 그 위의 구동 제어를 실행한다. 또한, 검사장치(10)에는 사용자(예컨대, 인간 작업자)에 의해 수동 조작되는 조작패널(도시생략)과 검사 결과를 표시하는 표시패널이 장착되어 있다. 입/출력장치(24)(31) 사이를 배선(30a)으로 접속할 때, 디지털 시리얼 통신 기능을 갖는 소위 디지털 버스 또는 케이블을 사용하는 것 이 가능하다.

전술한 구조와 구성을 갖는 검사장치(10)가 프린트 기판(11)의 통전 검사를 실행할 때, 사용자는 먼저 프린트 기판(11)을 설정부(50) 위에 설정한다. 그 다음에, 회전구동부(46a) 등을 구동함으로써, 접촉 단자 지지부(22)는 프린트 기판(11)의 소정 접점(12) 위로 이동된다. 접촉 단자(21)가 접점(12)에 접촉하도록 접촉 단자 지지부(22)는 하강된다. 이 상태에서, 프린트 기판(11)의 전기적 패턴에 전기적 검사가 실행된다. 이후 상세히 설명한다.

상기, 각각의 구동섹션은 CPU(37)로부터 출력된 지시 신호에 응답하여 적절하게 구동되므로, 대응하는 이동섹션의 이동을 유발한다. 접촉 단자 지지부(22)는 CPU(37)로부터 출력된 절환신호에 응답하는 접속절환장치(23)에 의해 선택적으로 동작된다. CPU(37)로부터 출력된 지시 신호는 입/출력장치(31)와 배선(30a)을 통해 디지털 신호로 전달된 후, 입/출력장치(24)로 공급된다.

전술한 상태에서, 입/출력장치(24)가 입/출력장치(31)로부터의 접점절환신호를 수신할 때, 접속절환장치(23)는 배선(25)에 대응 절환되므로 소정의 접촉 단자(21)가 프린트 기판(11)의 대응하는 접점(12)에 접촉된다. 그 후, 입/출력장치(31)로부터 출력된 검사 신호가 배선(20b), 입/출력장치(24), 및 접속절환장치(23)를 통해 순서대로 전달된 후, 프린트 기판(11)으로 공급된다. 일 접점과 접촉하는 일 접촉 단자(21)를 통해 프린트 기판(11)에 공급된 검사 신호는, 다른 접점과 접촉하는 다른 접촉 단자(21)로부터 선택된다. 그 후, 차례로 접속절환장치(23), 입/출력장치(24), 및 배선(20a)을 통해 입/출력장치(31)로 복귀된다. 복귀된 검사 신호를 기초로, 측정장치(35)는 프린트 기판(11)의 특정 검사 영역의 측정, 즉, 전기적 검사를 실행한다.

프린트 기판(11)의 다음 검사영역에 관해서 전기적 검사를 실행하기 위해, 대응하는 이동섹션을 이동시키는 각각의 구동섹션은 적절하게 구동되므로, 접촉 단자 지지부(22)가 상승하고 프린트 기판(11)의 다음 검사 영역을 향해 이동된다. 그 후, 프린트 기판(11)의 다음 검사 영역에 전기적 검사를 맞물리기 위해서 접촉 단자 지지부(22)가 하강된다. 전술한 동작을 순차적으로 반복함으로써, 프린트 기판(11)의 모든 검사영역이 전기적으로 완전히 검사된다.

전술한 바와 같이, 본 발명의 검사장치(10)는 접속절환장치(23)를 구비하는 것을 특징으로 하며, 이것에 의해 접촉 단자(21)와 배선(25)이 절환되고 고정부(30)로부터 출력된 접속절환신호에 응답하여 입/출력포트(28)에 적절하게 접속된다. 따라서, 측정장치(35)는 프린트 기판(11)의 소정의 접점(12)에 초기에 인가된 후 다시 입/출력장치(24)로부터 복귀되는 검사신호를 순차적으로 수신한다. 이처럼, 배선(25)의 수와 접촉 단자(21)의 수에 비해, 이동부(20)와 고정부(30) 사이의 접속을 설정하는 배선(20a)(20b)(30a)의 수를 현저하게 감소하는 것이 가능하다. 또한, 이동부(20)의 이동 거리와 이동속도의 견지에서 자유도를 증가하는 것이 가능하므로, 이에 따라 전기적 검사의 자유도의 향상과 검사 시간의 감소를 유도한다.

전술한 실시 형태는 고정부(30)의 입/출력장치(31)로부터 이동부(20)의 입출력장치(24)로 전달된 접속절환신호에 관해서 시간 분할 다중 처리를 이용하여, 배선(20a, 20b, 30a)의 수를 감소시킨다. 물론, 접속절환신호의 전달에 사용하는 배 선의 수를 감소하기 위한 다른 기술을 이용하는 것이 가능하다. 즉, 전달에서 다른 주파수 대역을 이용하여 다중 처리를 실현할 수 있다.

지금까지 기술한 바와 같이, 본 발명은 이하에 기술하는 다양한 효과와 기술적 특징을 갖는다.

(1) 본 발명의 검사장치는 제어장치와 측정장치를 포함하는 고정부와, 전기적 검사를 위해 프린트 기판의 접점과 접촉하는 접촉 단자를 포함하는 이동부를 기본적으로 포함한다. 본 발명은 접촉 단자에 접속된 배선을 적절하게 절환하는 적어도 하나의 접속절환장치를 배열하는 것을 특징으로 한다. 따라서, 측정신호(또는 검사신호)가 접속절환신호의 전달을 위해 이동부와 고정부 사이의 배선과, 적절하게 절환되는 접촉 단자에 접속된 배선과 고정부 사이의 배선에 의해 접촉 단자에 확실하게 전달될 수 있다. 이처럼, 방대해지는 배선을 유발하는 많은 배선의 이동부 없이 통전 검사가 실행될 수 있다. 또한, 접촉 단자에 대해 배열된 많은 배선이 접촉 단자로부터, 이동부에 인접 배열되고 이동부에 연결되는 접속절환장치로 간단히 연장된다. 즉, 비용의 경제적 장점을 유발하는 접촉 단자에 배열된 배선의 전체 길이를 현저하게 감소하는 것이 가능하다.

(2) 본 발명의 중요한 구성 요소는, 시간 분할 다중 처리로, 프린트 기판의 접점에 접촉하는 접촉 단자를 적절하고 선택적으로 절환하기 위해서 고정부에서 이동부로 전달된 접속절환신호의 전달을 허용하는 것이다. 이는 고정부와 이동부 사이를 접속하는 배선의 총 수를 현저하게 감소시킨다.

(3) 전술한 바와 같이, 프린트 기판의 접점에 적절하게 접촉하는 접촉 단자에 대해 배열된 많은 배선의 전체 길이의 감소에 의해, 그리고 검사신호와 접속절환신호의 전달과 수신을 위해 고정부와 이동부 사이를 접속하는 배선의 총 수의 감소에 의해, 고정부와 이동부 사이의 부피 큰 배선을 피하면서, 이동부의 이동 거리와 이동 속도의 견지에서 자유도를 현저하게 개선하는 것이 가능하다.

본 발명의 사상 또는 기본적 특징을 이탈하지 않고 여러 형태로 구현될 수 있으므로, 본 실시형태는 예시적이고 제한적이 아니며, 본 발명의 범위가 첨부된 특허청구범위와 전술한 상세한 설명에 의해 한정되기 때문에, 청구범위의 경계와 영역 또는 이런 경계와 영역의 등가물에 해당하는 모든 변화가 청구범위에 의해 채택되는 것이다.

Claims (3)

1. 위에 다수의 접점(12)을 갖는 프린트 기판(11)의 전기적 검사를 위한 검사장치로서,

   제어장치(32)를 갖는 고정부(30)와,

   상기 프린트 기판의 상기 다수의 접점과 각각 접촉하는 다수의 접촉 단자(21)를 가지며, 상기 프린트 기판의 표면을 따라 이동하는 이동부(20)와,

   상기 이동부내에 다수의 접촉 단자와 직접 접속하는 다수의 제1 배선(25)과,

   접속절환신호에 응하여 다수의 제1 배선을 선택적으로 절환하기 위해, 상기 이동부에 배열되는 적어도 하나의 접속절환장치(23)와,

   상기 접속절환신호를 송신하기 위해, 상기 고정부의 내측에 배열된 접속절환신호 송신기(36)와,

   접속절환신호를 수신하기 위해, 상기 이동부의 내측에 배열된 접속절환신호 수신기(27)와,

   상기 고정부에서 상기 이동부로 상기 접속절환신호의 송신을 위한 다수의 제2 배선(30a)과,

   상기 고정부와 상기 접속절환신호에 응하여 절환되는 상기 제1 배선의 일부와의 사이의 접속을 설정하기 위해, 상기 제1 배선의 수보다 적고 상기 고정부와 상기 이동부 사이에 배열되는 다수의 제3 배선(20a, 20b)을 포함하는 검사장치.
2. 제1항에 있어서,

   상기 접속절환신호는 시간 분할 다중 처리(time division multiplexing)로 상기 고정부에서 상기 이동부로 전달되는 것을 특징으로 하는 검사장치.
3. 제1항에 있어서,

   상기 고정부는 측정을 실행하기 위해서 상기 제3 배선을 통해 상기 접촉 단자로 검사 신호를 보내고, 다시 검사신호가 복귀하는 측정장치(35)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 검사장치.

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