KR100462378B1 - Liquid crystal display device and its contact resistance measuring method - Google Patents
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Abstract
본 발명은 모듈상태에서 액정패널의 패드와 TAB 간의 콘택저항을 전기적으로 직접 측정할 수 있는 테스트패턴을 구비한 액정표시소자 및 그의 콘택저항 측정방법에 관한 것이다.The present invention relates to a liquid crystal display device having a test pattern capable of directly measuring the contact resistance between the pad of the liquid crystal panel and the TAB in a module state and a method of measuring contact resistance thereof.
본 발명은 액정패널에 다수의 액정셀들이 블록단위로 배열되고, 게이트 TAB 이 상기 블록단위로 다수개 배열되어 각 블록의 액정셀의 게이트패드에 연결되며, 데이터 TAB 이 상기 블록단위로 다수개 배열되어 각 블록의 액정셀의 데이터 패드에 연결되는 액정표시소자에 있어서, 상기 각 액정셀 블록의 액정셀의 게이트 패드에 형성된 게이트 테스트 패턴과; 액정셀의 데이터 패드에 형성된 데이터 테스트 패턴을 구비한다.According to the present invention, a plurality of liquid crystal cells are arranged in block units in a liquid crystal panel, and a plurality of gate TABs are arranged in block units and connected to gate pads of liquid crystal cells of each block, and a plurality of data TABs are arranged in block units. A liquid crystal display device connected to a data pad of a liquid crystal cell of each block, the liquid crystal display device comprising: a gate test pattern formed on a gate pad of a liquid crystal cell of each liquid crystal cell block; And a data test pattern formed on the data pad of the liquid crystal cell.
Description
본 발명은 평판표시소자에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 모듈상태에서 액정패널의 패드와 TAB 간의 콘택저항을 전기적으로 직접 측정할 수 있는 테스트패턴을 구비한 액정표시소자에 관한 것이다. 또한, 액정패널에 형성된 테스트 패턴과 TAB DP 형성된 테스트 패턴을 멀티미터로 측정하여 액정패널과 게이트 TAB 및 데이트 TAB 간의 콘택저항을 측정할 수 있는 액정표시소자의 콘택저항 측정방법에 관한 것이다.The present invention relates to a flat panel display device, and more particularly, to a liquid crystal display device having a test pattern that can directly measure the contact resistance between the pad of the liquid crystal panel and the TAB in a module state. The present invention also relates to a method for measuring contact resistance of a liquid crystal display device capable of measuring contact resistance between the liquid crystal panel, the gate TAB, and the data TAB by measuring a test pattern formed on the liquid crystal panel and a test pattern formed on the TAB DP with a multimeter.
일반적으로 액정모듈공정을 진행하는 데 있어서, 액정셀이 배열된 패널에 대한 테스트를 수행하여 불량여부를 판정하며, 테스트 결과 양품으로 판정된 액정패널의 패드와 드라이버가 장착된 게이트 및 데이타 TAB(Tape Automated Bonding)을 본딩하는 공정을 진행하게 된다. In general, in the process of liquid crystal module processing, a test is performed on a panel in which liquid crystal cells are arranged to determine whether there is a defect, and a gate and data TAB (Tape) in which a pad and a driver of a liquid crystal panel determined as a good result are tested. Automated Bonding) is performed.
이와같이 양품의 패널에 대하여 본딩공정을 진행하더라도 TAB 본딩공정 진행후 다량의 라인 결함(line defect)이 발생된다. 액정패널의 패드와 드라이버가 장착된 TAB을 본딩하기 위하여 도전성 필름(ACF)이 사용되는데, TAB 본딩을 위하여 사용되는 도전성 필름에 의한 접촉저항은 액정표시소자의 품질과 신뢰성에 중요한 영향을 미치게 될 뿐만 아니라 라인결함에 직접적으로 관련된다.In this way, even when the bonding process is performed on the panel of the good product, a large amount of line defects are generated after the TAB bonding process. A conductive film (ACF) is used to bond the TAB on which the pad and driver of the liquid crystal panel are mounted. The contact resistance of the conductive film used for the TAB bonding has an important effect on the quality and reliability of the liquid crystal display device. Rather, it is directly related to line defects.
그러나, TAB 본딩공정에 의해 다량으로 발생하는 라인 결함은 그 원인을 추정하기 힘들며, 이로 인하여 정확한 라인 결함에 대한 원인규명없이 TAB을 제거하고 다시 양품의 TAB을 재부착하여 간접적으로 확인할 수밖에 없었다.However, it is difficult to estimate the cause of a large amount of line defects caused by the TAB bonding process, and thus, it was indirectly confirmed by removing the TAB and reattaching the good TAB again without identifying the cause of the exact line defect.
본 발명은 상기한 바와같은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 모듈상태에서 액정패널의 패드와 TAB 간의 콘택저항을 전기적으로 직접 측정할 수 있는 테스트패턴을 구비한 액정표시소자를 제공하는 데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a liquid crystal display device having a test pattern which can directly measure the contact resistance between the pad of the liquid crystal panel and the TAB in a module state. There is this.
본 발명의 다른 목적은 액정모듈에 형성된 테스트 패턴과 TAB 이 형성된 테스트 패턴을 멀티미터로 측정하여 액정모듈과 게이트 TAB 및 데이트 TAB 간의 콘택저항을 측정할 수 있는 액정표시소자의 콘택저항 측정방법을 제공하는 데 그 목적이 있다.Another object of the present invention is to provide a method for measuring contact resistance of a liquid crystal display device capable of measuring contact resistance between a liquid crystal module, a gate TAB, and a data TAB by measuring a test pattern formed on a liquid crystal module and a test pattern on which a TAB is formed with a multimeter. Its purpose is to.
또한, 본 발명의 다른 목적은 액정패널에 테스트패턴을 형성하여 패드와 TAB 의 콘택저항을 시각적으로 확인할 수 있도록 한 액정표시소자를 제공하는 데 그 목적이 있다.In addition, another object of the present invention is to provide a liquid crystal display device by forming a test pattern on the liquid crystal panel to visually check the contact resistance of the pad and the TAB.
또한, 본 발명은 모듈상태에서 라인결함의 원인을 정확히 분석가능하여 불필요한 TAB 리페어를 대폭 감소시킬 수 있는 액정표시소자를 제공하는 데 그 목적이 있다. In addition, an object of the present invention is to provide a liquid crystal display device capable of accurately analyzing the cause of line defects in a module state, thereby greatly reducing unnecessary TAB repair.
상기한 본 발명의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 액정패널에 다수의 액정셀들이 블록단위로 배열되고, 게이트 TAB 이 상기 블록단위로 다수개 배열되어 각 블록의 액정셀의 게이트패드에 연결되며, 데이터 TAB 이 상기 블록단위로 다수개 배열되어 각 블록의 액정셀의 데이터 패드에 연결되는 액정표시소자에 있어서, 상기 각 액정셀 블록의 액정셀의 게이트 패드에 형성된 게이트 테스트 패턴과; 액정셀의 데이터 패드에 형성된 데이터 테스트 패턴을 구비하는 액정표시소자를 제공하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object of the present invention, a plurality of liquid crystal cells are arranged in block units in a liquid crystal panel, and a plurality of gate TABs are arranged in block units and connected to gate pads of liquid crystal cells of each block. And a plurality of data TABs arranged in block units and connected to data pads of a liquid crystal cell of each block, the liquid crystal display device comprising: a gate test pattern formed on a gate pad of a liquid crystal cell of each liquid crystal cell block; A liquid crystal display device having a data test pattern formed on a data pad of a liquid crystal cell is provided.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 게이트 테스트패턴은 각 셀블럭에 배열된 액정셀중 첫 번째 액정셀과 마지막 액정셀의 게이트 패드에 형성되고, 데이터 테스트 패턴은 첫 번째 액정셀과 마지막 액정셀의 데이터 패드에 형성되는 것을 특징으로 한다.According to an embodiment of the present invention, the gate test pattern is formed on the gate pads of the first liquid crystal cell and the last liquid crystal cell among the liquid crystal cells arranged in each cell block, and the data test pattern is formed of the first liquid crystal cell and the last liquid crystal cell. It is characterized in that formed on the data pad.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 게이트 TAB 에는 상기 게이트 패드에 연결되는 다수의 신호라인중 첫 번째 액정셀과 마지막 액정셀의 게이트 패드에 각각 연결되는 신호라인에 테스트 패턴이 형성되고, 상기 데이타 TAB 에는 상기 데이타 패드에 연결되는 다수의 신호라인중 첫 번째 액정셀과 마지막 액정셀의 데이타 패드에 각각 연결되는 신호라인에 테스트 패턴이 형성되어 있는 것을 특징으로 한다.According to an exemplary embodiment of the present invention, a test pattern is formed on the gate TAB, and a test pattern is formed on signal lines connected to gate pads of a first liquid crystal cell and a last liquid crystal cell among a plurality of signal lines connected to the gate pad, and the data TAB. The test pattern may be formed on signal lines connected to the first liquid crystal cell and the data pad of the last liquid crystal cell among the plurality of signal lines connected to the data pad.
또한, 본 발명은 다수의 액정셀들이 블록단위로 배열되고, 각 액정셀 블록의 첫 번째 액정셀과 마지막 액정셀의 게이트 패드 및 데이터 패드에 각각 형성된 게이트 테스트패턴과 데이터 테스트 패턴을 구비하는 액정패널과; 상기 블록단위로 다수개 배열되어 각 블록의 액정셀의 게이트패드에 신호라인이 연결되고, 상기 신호라인중 각 블록의 첫 번째 액정셀과 마지막 액정셀의 게이트 패드에 연결되는 신호라인에 테스트 패턴이 각각 형성되는 게이트 TAB과; 상기 블록단위로 다수개 배열되어 각 블록의 액정셀의 데이터 패드에 신호라인이 연결되고, 상기 신호라인중 각 블록의 첫 번째 액정셀과 마지막 액정셀의 데이터 패드에 연결되는 신호라인에 테스트 패턴이 각각 형성되는 데이터 TAB을 구비하는 액정표시소자에 있어서, 상기 액정모듈의 게이트 패드에 형성된 게이트 테스트 패턴과 상기 게이트 TAB 의 신호라인에 형성된 테스트패턴을 멀티미터로 측정하여 게이트 패드와 게이트TAB 간의 콘택저항을 측정하고, 데이터 패드에 형성된 데이터 테스트패턴과 상기 데이터 TAB 의 신호라인에 형성된 테스트 패턴을 멀티미터로 측정하여 데이터 패드와 데이터 TAB 간의 콘택저항을 측정하는 액정표시소자의 콘택저항 측정방법을 제공하는 것을 특징으로 한다.In addition, the present invention provides a liquid crystal panel in which a plurality of liquid crystal cells are arranged in block units, each having a gate test pattern and a data test pattern formed on a gate pad and a data pad of a first liquid crystal cell and a last liquid crystal cell of each liquid crystal cell block. and; A plurality of signal lines are arranged in the block unit, and signal lines are connected to the gate pads of the liquid crystal cells of each block, and test patterns are connected to the signal lines connected to the gate pads of the first liquid crystal cell and the last liquid crystal cell of each block. Gate TABs each formed; A plurality of signal lines are arranged in the block unit, and signal lines are connected to the data pads of the liquid crystal cells of each block, and test patterns are connected to the signal lines connected to the data pads of the first and last liquid crystal cells of each block. A liquid crystal display device having data TABs, each of which is formed, wherein the gate test pattern formed on the gate pad of the liquid crystal module and the test pattern formed on the signal line of the gate TAB are measured by a multimeter to obtain a contact resistance between the gate pad and the gate TAB. And measuring a contact resistance between the data pad and the data TAB by measuring a data test pattern formed on the data pad and a test pattern formed on the signal line of the data TAB with a multimeter. It is characterized by.
이하 본 발명의 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 액정표시소자의 평면구조를 도시한 것이다. 본 발명의 액정표시소자는 액정패널(10)에 콘택저항을 측정할 수 있는 테스트 패턴(DTP), (GTP)을 구비한다. 도 1을 참조하면, 본 발명은 액정패널(10)에 다수의 액정셀(LC)이 블록단위(BL)로 배열된다. 1 illustrates a planar structure of a liquid crystal display device according to an exemplary embodiment of the present invention. The liquid crystal display of the present invention includes test patterns DTP and GTP capable of measuring contact resistance in the
액정패널(10)의 게이트패드(GPAD) 및 데이터 패드(DPAD)에 연결되는 게이트 TAB (30) 및 데이터 TAB(20)이 액정패널(10)의 좌측 및 하측에 배열된다. 이때, 게이트 TAB(30) 및 데이터 TAB(20)은 액정셀(LC)이 블록단위(BL)로 배열된 액정패널(10)에 대하여 블록단위로 연결된다.The
도 1에 도시된 바와같이, 각 액정 셀블럭(BL)에 하나의 게이트 TAB(30)이 배열되어 액정셀의 게이트 패드(GPAD)에 전기적으로 연결되고, 그리고 각 블록(BL)에 하나의 데이터 TAB(20)이 배열되어 액정셀(LC)의 데이터 패드(DPAD)전기적으로 연결된다.As shown in FIG. 1, one
상기 액정셀(LC)의 데이터 라인(DL)은 데이터 패드(DPAD1 - DPADN)에 연결되고, 이러한 데이터 패드(DPAD)에는 상기 데이터 패드(DPAD)와 데이터 TAB(20)간의 콘택저항을 측정하기 위한 테스트 패턴(DTP)이 형성된다.The data line DL of the liquid crystal cell LC is connected to data pads DPAD1-DPADN, and the data pad DPAD is used for measuring contact resistance between the data pad DPAD and the
이때, 데이터 패드와 데이터 TAB(20)간의 콘택저항을 측정하기 위한 테스트 패턴(DTP)은 액정패널(10)에 블록단위로 형성되는데, 각 액정 셀블럭(BL)의 첫 번째 데이터 패드(DPAD1)과 마지막 데이터 패드(DPADN)에 형성된다. In this case, the test pattern DTP for measuring the contact resistance between the data pad and the
이와 마찬가지로, 상기 액정패널(10)에 블록단위로 배열된 액정셀(LC)의 게이트라인(GL)은 게이트 패드(GPAD)에 연결되며, 상기 게이트 패드(GPAD)와 게이트 TAB(30)와의 콘택저항을 측정하기 위하여 테스트 패턴(GTP)이 형성된다. Similarly, the gate line GL of the liquid crystal cell LC arranged in block units on the
게이트 패드(GPAD)와 게이트 TAB(30)간의 콘택저항을 측정하기 위한 테스트 패터(GTP)도 상기 데이터 패드에 형성된 테스트패드(DTP)와 마찬가지로 첫 번째 게이트 패드(GPAD1)와 마지막 게이트 패드(GPADN)에 형성된게 된다.The test pattern GTP for measuring the contact resistance between the gate pad GPAD and the
그리고, 게이트 TAB(30)에는 상기 게이트 패드(GPAD)에 형성된 테스트 패턴(GTP)과의 콘택저항을 측정하기 위한 테스트 패턴(TPAD1, TPADN)이 형성되어 있다. 게이트 TAB(30)에 형성되어 있는 테스트 패턴(TPAD1, TPADN)도 마찬가지로 다수의 신호라인중 게이트 패드(GPAD)의 첫 번째 패드(GPAD1)에 연결되는 첫 번째 신호라인과 마지막 패드(GPAD)에 연결되는 마지막 신호라인에 연결되어 있다. Further, test patterns TPAD1 and TPADN are formed in the
게이트 패드(GPAD)와 데이터 패드(DPAD)에 형성된 테스트 패턴(GTP), (DTD)은 각각 공정진행시에 게이트 패드(GPAD)와 데이터 패드(DPAD)와 각각 쇼트되어진다.The test patterns GTP and DTD formed on the gate pad GPAD and the data pad DPAD are shorted with the gate pad GPAD and the data pad DPAD, respectively, during the process.
한편, 데이터 TAB(20)에도 상기 데이터 패드(DPAD)에 형성된 테스트 패턴(DTP)과의 콘택저항을 측정하기 위한 테스트 패턴(TPAD1, TPADN)이 형성되어 있다. 이때, 데이터 TAB(20)에 형성되어 있는 테스트 패턴(TPAD1, TPADN)은 다수의 신호라인중 데이타 패드(GPAD)의 첫 번째 패드(GPAD1)에 연결되는 첫 번째 신호라인과 마지막 패드(GPAD)에 연결되는 마지막 신호라인에 연결되어 있다.The test patterns TPAD1 and TPADN are also formed in the
따라서, TAB 본딩공정후, 액정패널(10)에 형성된 게이트 패드(GPAD)와 게이트 TAB(30) 와의 콘택저항의 측정시, 게이트 패드(GPAD)에 형성된 테스트 패턴(GTP)과 게이트 TAB(30)에 형성된 테스트 패턴(TPAD)간의 콘택저항을 멀티미터로 측정하여 정확한 콘택저항값을 얻을 수 있다. Therefore, after measuring the contact resistance between the gate pad GPAD and the
또한, 데이터 패드(DPAD)와 데이터 TAB(20) 와의 콘택저항의 측정시, 데이터 패드(DPAD)에 형성된 테스트 패턴(DTP)과 데이터 TAB(20)에 형성된 테스트 패턴(DTP)간의 콘택저항을 멀티미터(multi-meter)로 측정하여 콘택저항에 대한 정확한 값을 얻을 수 있다.In addition, when the contact resistance between the data pad DPAD and the
이로써, 패드와 TAB 간의 콘택저항을 모니터링하고 저항값의 변화를 체크하는 것이 가능하게 된다.This makes it possible to monitor the contact resistance between the pad and the TAB and to check the change in the resistance value.
상기한 바와같은 본 발명에 따르면, 게이트 패드와 게이트 TAB 그리고 데이터 패드와 데이터 TAB 간의접촉저항을 종래에는 간접적 외관검사(visual inspection)에 의해 측정하였으나, 본 발명에서는 액정패널에 테스트 패턴을 형성하여 액정모듈에 형성된 테스트 패턴과 TAB DP 형성된 테스트 패턴을 멀티미터로 측정하여 액정패널의 패드와 게이트 TAB 및 데이트 TAB 간의 콘택저항을 전기적인 측정방법으로 직접 측정하는 것이 가능하다.According to the present invention as described above, the contact resistance between the gate pad and the gate TAB and the data pad and the data TAB was conventionally measured by indirect visual inspection, but in the present invention, a liquid crystal panel is formed by forming a test pattern on the liquid crystal panel. By measuring the test pattern formed on the module and the test pattern formed on the TAB DP with a multimeter, it is possible to directly measure the contact resistance between the pad of the liquid crystal panel and the gate TAB and the data TAB by an electrical measurement method.
또한, 액정패널에 형성된 테스트 패턴을 이용하여 TAB 과의 콘택저항을 모니터링하고 콘택저항의 파형변화를 시각적으로 확인할 수 있는 매우 실용적인 콘택저항 측정방법을 제공할 수 있다.In addition, it is possible to provide a very practical contact resistance measuring method for monitoring contact resistance with TAB and visually confirming a change in waveform of the contact resistance using a test pattern formed on the liquid crystal panel.
또한, 본 발명은 모듈상태에서 라인결함의 원인이 콘택저항에 의한 것인가를 정확히 분석 가능하고, 라인결함이 콘택저항에 의한 것이 아닌 경우의 불필요한 TAB 리페어를 대폭 감소시킬 수 있다.In addition, the present invention can accurately analyze whether the cause of line defects is caused by contact resistance in the module state, and can significantly reduce unnecessary TAB repair when the line defects are not caused by contact resistances.
따라서, 본 발명은 TAB 본딩공정의 안정화로 액정표시소자의 신뢰성 및 품질을 향상시킬 수 있다.Therefore, the present invention can improve the reliability and quality of the liquid crystal display by stabilizing the TAB bonding process.
기타, 본 발명은 그 요지를 일탈하지 않는 범위에서 다양하게 변경하여 실시할 수 있다. In addition, this invention can be implemented in various changes within the range which does not deviate from the summary.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 액정표시소자의 평면 구조를 도시한 도면이다.1 is a diagram illustrating a planar structure of a liquid crystal display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
(도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명)(Explanation of symbols for the main parts of the drawing)
10 : 액정모듈 20 : 데이터 TAB10: liquid crystal module 20: data TAB
30 : 게이트 TAB DPAD : 데이터 패드30: Gate TAB DPAD: Data Pad
GPAD : 게이트 패드 DL : 데이터 라인GPAD: Gate Pad DL: Data Line
GL : 게이트 라인 DTP : 데이터 테스트 패턴GL: Gate Line DTP: Data Test Pattern
GTP : 게이트 테스트 패턴 TPAD : TAB 의 테스트 패턴GTP: Gate Test Pattern TPAD: TAB Test Pattern
LC : 액정 셀 BL : 액정 셀블럭LC: Liquid Crystal Cell BL: Liquid Crystal Cell Block
Claims (4)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019970071883A KR100462378B1 (en) | 1997-12-22 | 1997-12-22 | Liquid crystal display device and its contact resistance measuring method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019970071883A KR100462378B1 (en) | 1997-12-22 | 1997-12-22 | Liquid crystal display device and its contact resistance measuring method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR19990052419A KR19990052419A (en) | 1999-07-05 |
| KR100462378B1 true KR100462378B1 (en) | 2005-06-07 |
Family
ID=37302748
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019970071883A KR100462378B1 (en) | 1997-12-22 | 1997-12-22 | Liquid crystal display device and its contact resistance measuring method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR100462378B1 (en) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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