KR19990052417A

KR19990052417A - LCD

Info

Publication number: KR19990052417A
Application number: KR1019970071881A
Authority: KR
Inventors: 김진국; 안수용
Original assignee: 김영환; 현대전자산업 주식회사
Priority date: 1997-12-22
Filing date: 1997-12-22
Publication date: 1999-07-05

Abstract

본 발명은 모듈상태에서 라인결함의 원인을 명확하게 검출할 수 있는 태스트패턴을 구비한 액정표시소자에 관한 것이다.The present invention relates to a liquid crystal display device having a task pattern that can clearly detect the cause of line defects in a module state.

본 발명은 액정모듈에는 다수의 액정셀들이 블록단위로 배열되고, 각 액정셀의 게이트라인 및 데이터 라인에 게이트 패드 및 데이터 패드가 각각 연결되며, 게이트 TAB 이 상기 블록단위로 다수개 배열되어 각 블록의 액정셀의 게이트패드에 연결되며, 데이터 TAB 이 상기 블록단위로 다수개 배열되어 각 블록의 액정셀의 데이터 패드에 연결되는 액정표시소자에 있어서, 상기 액정셀 블록마다 형성된 게이트 패스트 패턴과 데이터 테스트 패턴을 구비하는 액정표시소자를 제공하는 것을 특징으로 한다.According to the present invention, a plurality of liquid crystal cells are arranged in block units in a liquid crystal module, gate pads and data pads are connected to gate lines and data lines of each liquid crystal cell, respectively, and a plurality of gate TABs are arranged in block units. A liquid crystal display device connected to a gate pad of a liquid crystal cell of which a plurality of data TABs are arranged in block units and connected to a data pad of a liquid crystal cell of each block, wherein the gate fast pattern and the data test formed for each liquid crystal cell block are provided. A liquid crystal display device having a pattern is provided.

본 발명의 게이트 테스트패턴은 상기 데이터 라인과 나란하게 배열되어 상기 게이트 패드와 교차하는 테스트라인과; 상기 테스트 라인의 양단에 형성된 테스트패드를 구비하고, 상기 데이타 테스트패턴은 상기 게이트 라인과 나란하게 배열되어 상기 데이타 패드와 교차하는 테스트라인과; 상기 테스트 라인의 양단에 형성된 테스트패드를 구비한다.The gate test pattern of the present invention includes: a test line arranged in parallel with the data line and crossing the gate pad; A test line having test pads formed at both ends of the test line, wherein the data test pattern is arranged in parallel with the gate line and crosses the data pad; And test pads formed at both ends of the test line.

Description

LCD

본 발명은 평판표시소자에 관한 것으로서, 모듈상태에서 라인결함의 원인을 명확하게 파악할 수 있는 테스트 패턴을 구비한 액정표시소자에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a flat panel display device, and more particularly, to a liquid crystal display device having a test pattern capable of clearly identifying the cause of line defects in a module state.

일반적으로 액정모듈공정을 진행하는 데 있어서, 액정셀이 배열된 패널에 대한 테스트를 수행하여 불량여부를 판정하며, 테스트 결과 양품으로 판정된 액정패널의 패드와 드라이버를 TAB(Tape Automated Bonding) 공정을 진행하여 본딩한다.In general, in the liquid crystal module process, a test is performed on a panel in which liquid crystal cells are arranged to determine whether there is a defect, and a TAB (Tape Automated Bonding) process is performed on a pad and a driver of a liquid crystal panel determined as a good result. Proceed and bond.

이와같이 양품의 패널에 대하여 본딩공정을 진행하더라도 TAB 본딩공정 진행후 다량의 라인 결함이 발생된다.As such, even if the bonding process is performed on the good panels, a large amount of line defects are generated after the TAB bonding process.

그러나, TAB 본딩공정에 의해 다량으로 발생하는 라인 결함은 그 원인을 추정하기 힘들며, 이로 인하여 정확한 라인 결함에 대한 원인규명없이 TAB을 제거하고 다시 양품의 TAB을 재부착하여 간접적으로 확인할 수밖에 없었다.However, it is difficult to estimate the cause of a large amount of line defects caused by the TAB bonding process, and thus, it was indirectly confirmed by removing the TAB and reattaching the good TAB again without identifying the cause of the exact line defect.

본 발명은 상기한 바와같은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 액정패널에 테스트패턴을 형성하여 라인 결함의 원인을 정확하게 분석할 수 있는 액정표시소자를 제공하는 데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object thereof is to provide a liquid crystal display device capable of accurately analyzing a cause of line defects by forming a test pattern on a liquid crystal panel.

또한, 본 발명은 모듈상태에서 라인결함의 원인을 정확히 분석가능하여 불필요한 TAB 리페어를 대폭 감소시킬 수 있는 액정표시소자를 제공하는 데 그 목적이 있다.In addition, an object of the present invention is to provide a liquid crystal display device capable of accurately analyzing the cause of line defects in a module state, thereby greatly reducing unnecessary TAB repair.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 라인결함용 테스트 패턴을 구비한 액정표시소자의 평면 구조도,1 is a planar structure diagram of a liquid crystal display device having a test pattern for line defects according to an embodiment of the present invention;

도 2는 본 발명의 라인 결함분석 방법을 설명하기 위한 도면,2 is a view for explaining a line defect analysis method of the present invention,

(도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명)(Explanation of symbols for the main parts of the drawing)

10 : 액정모듈 20 : 데이터 TAB10: liquid crystal module 20: data TAB

30 : 게이트 TAB DPAD : 데이터 패드30: Gate TAB DPAD: Data Pad

GPAD : 게이트 패드 DL : 데이터 라인GPAD: Gate Pad DL: Data Line

GL : 게이트 라인 DTP : 데이터 테스트 패턴GL: Gate Line DTP: Data Test Pattern

GTP : 게이트 테스트 패턴 TPAD : TAB 의 테스트 패턴GTP: Gate Test Pattern TPAD: TAB Test Pattern

GTPL : 게이트 테스트 패턴의 테스트 라인GTPL: Test Line of Gate Test Pattern

GTPAD : 게이트 테스트 패턴의 테스트 패드GTPAD: Test Pad of Gate Test Pattern

DTPL : 데이터 테스트 패턴의 테스트 라인DTPL: Test Line of Data Test Pattern

DTPAD : 데이터 테스트 패턴의 테스트 패드DTPAD: Test Pad for Data Test Patterns

LC : 액정 셀 BL : 액정 셀블럭LC: Liquid Crystal Cell BL: Liquid Crystal Cell Block

상기한 본 발명의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 액정모듈에는 다수의 액정셀들이 블록단위로 배열되고, 각 액정셀의 게이트라인 및 데이터 라인에 게이트 패드 및 데이터 패드가 각각 연결되며, 게이트 TAB 이 상기 블록단위로 다수개 배열되어 각 블록의 액정셀의 게이트패드에 연결되며, 데이터 TAB 이 상기 블록단위로 다수개 배열되어 각 블록의 액정셀의 데이터 패드에 연결되는 액정표시소자에 있어서, 상기 액정셀 블록마다 형성된 게이트 패스트 패턴과 데이터 테스트 패턴을 구비하는 액정표시소자를 제공하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object of the present invention, in the liquid crystal module, a plurality of liquid crystal cells are arranged in block units, and a gate pad and a data pad are connected to gate lines and data lines of each liquid crystal cell, respectively, and a gate TAB. And a plurality of data TABs are arranged in block units and connected to gate pads of liquid crystal cells of each block, and a plurality of data TABs are arranged in block units and connected to data pads of liquid crystal cells of each block. A liquid crystal display device having a gate fast pattern and a data test pattern formed for each liquid crystal cell block is provided.

본 발명의 실시예에 따르면, 상기 게이트 테스트패턴은 상기 데이터 라인과 나란하게 배열되어 상기 게이트 패드와 교차하는 테스트라인과; 상기 테스트 라인의 양단에 형성된 테스트패드를 구비하는 것을 특징으로 한다.According to an exemplary embodiment of the present invention, the gate test pattern may include: a test line arranged parallel to the data line and crossing the gate pad; And test pads formed at both ends of the test line.

본 발명의 실시예에 따르면, 상기 게이트 테스트패턴의 테스트라인은 상기 게이트 라인과 동일한 물질로 이루어지고, 상기 게이트 테스트패턴의 테스트패드는 상기 게이트 라인물질과 상기 데이터 라인물질의 이중구조로 이루어지는 것을 특징으로 한다.According to an exemplary embodiment of the present invention, the test line of the gate test pattern is made of the same material as the gate line, and the test pad of the gate test pattern is formed of a dual structure of the gate line material and the data line material. It is done.

본 발명의 실시예에 따르면, 상기 게이트 테스트 패턴과 교차하는 부분의 게이트 패드는 상기 게이트 테스트패턴과의 콘택을 위한 사각형 형태의 콘택부분을 포함하는 것을 특징으로 한다.According to an exemplary embodiment of the present invention, the gate pad of the portion crossing the gate test pattern may include a rectangular contact portion for contact with the gate test pattern.

본 발명의 실시예에 따르면, 상기 데이타 테스트패턴은 상기 게이트 라인과 나란하게 배열되어 상기 데이타 패드와 교차하는 테스트라인과; 상기 테스트 라인의 양단에 형성된 테스트패드를 구비하는 것을 특징으로 한다.According to an exemplary embodiment of the present invention, the data test pattern may include: a test line arranged in parallel with the gate line and crossing the data pad; And test pads formed at both ends of the test line.

본 발명의 실시예에 따르면, 상기 데이터 테스트패턴의 테스트라인은 상기 게이트 라인과 동일한 물질로 이루어지고, 상기 게이트 테스트패턴의 테스트패드는 상기 게이트 라인물질과 상기 데이터 라인물질의 이중구조로 이루어지는 것을 특징으로 한다.According to an embodiment of the present invention, the test line of the data test pattern is made of the same material as the gate line, and the test pad of the gate test pattern is formed of a double structure of the gate line material and the data line material. It is done.

본 발명의 실시예에 따르면, 상기 데이타 테스트 패턴과 교차하는 부분의 데이타 패드는 상기 데이타 테스트패턴과의 콘택을 위한 사각형 형태의 콘택부분을 포함하는 것을 특징으로 한다.According to an exemplary embodiment of the present invention, the data pad of the portion intersecting the data test pattern may include a rectangular contact portion for contact with the data test pattern.

이하 본 발명의 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 액정표시소자의 평면구조를 도시한 것이다. 본 발명의 액정표시소자는 액정패널(10)에 콘택저항을 측정할 수 있는 테스트 패턴(DTP)을 구비한다. 도 1을 참조하면, 본 발명은 액정패널(10)에 다수의 액정셀(LC)이 블록단위로 배열된다.1 illustrates a planar structure of a liquid crystal display device according to an exemplary embodiment of the present invention. The liquid crystal display device of the present invention is provided with a test pattern (DTP) for measuring the contact resistance on the liquid crystal panel 10. Referring to FIG. 1, in the present invention, a plurality of liquid crystal cells LC are arranged in block units in the liquid crystal panel 10.

액정패널(10)의 각 블록에 대해 다수의 데이터 TAB(20)이 배열되는데, 하나의 블록에 배열된 상기 액정셀(LC)의 데이터 라인(DL)에 연결된 데이터 패드(DPAD1 - DPADN)가 해당하는 하나의 데이터 TAB(20)에 전기적으로 연결된다. 이러한 데이터 패드(DPAD)에는 상기 데이터 패드(DPAD)의 라인 결함을 분석하기 위한 데이터 테스트 패턴(DTP)을 형성한다.A plurality of data TABs 20 are arranged for each block of the liquid crystal panel 10, and the data pads DPAD1-DPADN connected to the data line DL of the liquid crystal cell LC arranged in one block correspond to each other. Is electrically connected to one data TAB 20. The data pad DPAD forms a data test pattern DTP for analyzing line defects of the data pad DPAD.

이때, 데이터 패드(DPAD)의 라인 결함에 대한 원인을 분석하기 위한 테스트 패턴(DTP)은 액정패널(10)에 블록단위로 형성되는데, 각 블록의 상기 게이트 라인(GL)을 따라 나란히 배열되는 테스트 라인(DTPL)과, 상기 테스트 라인(DTPL)의 양측에 형성된 테스트 패드(DTPAD)를 구비한다.In this case, the test pattern DTP for analyzing the cause of the line defect of the data pad DPAD is formed in the liquid crystal panel 10 in units of blocks. The test is arranged side by side along the gate line GL of each block. A line DTPL and test pads DTPAD formed on both sides of the test line DTPL.

이때, 데이터 테스트 패턴(DTP)은 테스트 라인(DTPL)이 게이트 메탈로 형성되고, 테스트패드(GTPAD)는 게이트 라인과 데이터 라인을 콘택시켜 형성한다.In this case, the test line DTPL is formed of the gate metal, and the test pad GTPAD is formed by contacting the gate line and the data line.

도 1을 참조하면, 상기 데이타 테스트 패턴(DTP)은 상기 게이트 라인(GL)과 나란하게 형성되어 상기 각 블록(BL)내의 데이터 패드(DPAD)과 교차하게 된다. 상기 데이터 테스트 패턴(DTP)의 테스트 라인(DTPL)은 상기 데이터 패드(DPAD)와 교차되어 오버랩되는 부분은 사각형 형태의 콘택부분(DCP)을 구비한다.Referring to FIG. 1, the data test pattern DTP is formed to be parallel to the gate line GL to cross the data pad DPAD in each block BL. The test line DTPL of the data test pattern DTP crosses and overlaps the data pad DPAD and includes a rectangular contact portion DCP.

이와 마찬가지로, 액정패널(10)의 블록(BL)별로 다수의 게이트 TAB(30)이 배열되는데, 하나의 블록(BL)에 배열된 상기 액정셀(LC)의 게이트 라인(GL)에 연결된 게이트 패드(GPAD1 - GPADN)가 하나의 게이트 TAB(30)에 전기적으로 연결된다.Similarly, a plurality of gates TAB 30 are arranged for each block BL of the liquid crystal panel 10, and gate pads connected to the gate line GL of the liquid crystal cell LC arranged in one block BL. (GPAD1-GPADN) is electrically connected to one gate TAB 30.

이러한 게이트 패드(GPAD)에도 상기 게이트 패드(GPAD)의 라인 결함을 분석하기 위한 게이트 테스트 패턴(GTP)이 형성되는데, 게이트 패드(GPAD)의 라인 결함에 대한 원인을 분석하기 위한 테스트 패턴(GTP)도 상기 게이트 패드(GPAD)의 라인결함 분석을 위한 테스트 패턴(DTP)과 마찬가지로 상기 액정패널(10)에 블록단위로 형성된다.A gate test pattern GTP is formed on the gate pad GPAD to analyze a line defect of the gate pad GPAD, and a test pattern GTP to analyze the cause of the line defect of the gate pad GPAD. In addition, as in the test pattern DTP for line defect analysis of the gate pad GPAD, the liquid crystal panel 10 is formed in block units.

이때, 게이트 패드(GPAD)의 라인 결함 분석용 테스트 패드(GTP)는 각 블록의 상기 데이타 라인(DL)을 따라 나란히 배열되는 테스트 라인(DTPL)과, 상기 테스트 라인(GTPL)의 양측에 형성된 테스트 패드(GTPAD)를 구비한다.In this case, the test pad GTP for the line defect analysis of the gate pad GPAD includes a test line DTPL arranged side by side along the data line DL of each block, and a test formed on both sides of the test line GTPL. A pad GTPAD is provided.

데이터 테스트 패턴(GTP)은 테스트 라인(GTPL)이 게이트 메탈로 형성되고, 테스트패드(GTPAD)는 게이트 라인과 데이터 라인을 콘택시켜 형성한다.In the data test pattern GTP, the test line GTPL is formed of a gate metal, and the test pad GTPAD is formed by contacting the gate line and the data line.

상기 게이트 테스트 패턴(GTP)은 상기 데이터 라인(DL)과 나란하게 형성되어 상기 각 블록(BL)내의 게이트 패드(GPAD)와 교차하게 된다. 상기 게이트 테스트 패턴(GTP)의 테스트 라인(GTPL)은 상기 게이트 패드(GPAD)와 교차되어 오버랩되는 부분은 사각형 형태의 콘택부분(GCP)을 구비한다.The gate test pattern GTP is formed to be parallel to the data line DL to cross the gate pad GPAD in each block BL. The test line GTPL of the gate test pattern GTP intersects with and overlaps the gate pad GPAD and has a rectangular contact portion GCP.

도 1에 있어서, 게이트 패드(GPAD)와 연결되는 게이트 TAB(30)에는 게이트 패드(GPAD)에 인가되는 신호의 정상동작을 확인하기 위한 테스트 패턴(TPAD1, TPADN)를 구비하는데, 이 테스트 패턴(TPAD1, TPADN)는 신호라인중 각 셀블럭(BL)의 첫 번째 액정셀이 연결되는 첫 번째 게이트 패드(GPAD1)와 마지막 액정셀이 연결되는 마지막 게이트 패드(GPADN)에 형성된게 된다.In FIG. 1, the gate TAB 30 connected to the gate pad GPAD includes test patterns TPAD1 and TPADN for confirming normal operation of a signal applied to the gate pad GPAD. TPAD1 and TPADN are formed on the first gate pad GPAD1 to which the first liquid crystal cell of each cell block BL is connected and the last gate pad GPADN to which the last liquid crystal cell is connected.

또한, 데이터 패드(DPAD)와 연결되는 데이터 TAB(20)에도 데이타 패드(DPAD)에 인가되는 신호의 정상동작을 확인하기 위한 테스트 패턴(TPAD1, TPADN)를 구비하는데, 이 테스트 패턴(TPAD1, TPADN)는 신호라인중 각 셀블럭(BL)의 첫 번째 액정셀이 연결되는 첫 번째 데이터 패드(DPAD1)와 마지막 액정셀이 연결되는 마지막 데이터 패드(DPADN)에 형성된게 된다.In addition, the data TAB 20 connected to the data pad DPAD also includes test patterns TPAD1 and TPADN for confirming normal operation of a signal applied to the data pad DPAD. The test patterns TPAD1 and TPADN are also provided. ) Is formed on the first data pad DPAD1 to which the first liquid crystal cell of each cell block BL is connected and the last data pad DPADN to which the last liquid crystal cell is connected.

상기한 바와같은 구조의 테스트 패턴(GTP, DTP)을 구비한 액정표시소자에 있어서, 라인 결함의 원인을 분석하는 방법을 설명하면 다음과 같다.In the liquid crystal display device having the test patterns GTP and DTP having the above-described structure, a method of analyzing the cause of line defects will be described below.

액정모듈상에서 라인 결함이 발생하였을 경우를 설명한다. 도 2에서와 같이, 액정모듈공정을 진행하는 동안에 라인 결함이 발생되었다고 가정하면, 결함이 발생된 셀블럭(LC)에서 라인 결함이 발생된 위치를 확인한다.A case where a line defect occurs on the liquid crystal module will be described. As shown in FIG. 2, assuming that a line defect occurs during the liquid crystal module process, the position where the line defect occurs in the defective cell block LC is identified.

결함이 발생된 데이터 패드(DPAD) 또는 게이트 패드(GPAD)의 위치가 확인되면, 해당하는 데이터 패드(DPAD) 또는 게이트 패드(DPAD)에 해당하는 데이터 테스트패턴(DTP) 또는 게이트 테스트 패턴(GTP)을 쇼트시킨다.When the location of the defective data pad DPAD or gate pad GPAD is confirmed, the data test pattern DTP or gate test pattern GTP corresponding to the corresponding data pad DPAD or gate pad DPAD is determined. Short.

즉, 데이터 패드(GPAD)에 결함이 발생된 경우에는, 결함이 발생된 데이터 패드(DPAD)를 해당하는 데이터 테스트패턴(DTP)의 테스트 라인(DTPL)과 레이저 용접을 통해 쇼트시킨다. 또한, 게이트 패드(GPAD)에 결함이 발생된 경우에는, 결함이 발생된 데이터 패드(DPAD)를 해당하는 게이트 테스트패턴(GTP)의 테스트 라인(GTPL)과 레이저 용접을 통해 쇼트시킨다.That is, when a defect occurs in the data pad GPAD, the defective data pad DPAD is shorted by laser welding with the test line DTPL of the corresponding data test pattern DTP. In addition, when a defect occurs in the gate pad GPAD, the defective data pad DPAD is shorted by laser welding with the test line GTPL of the corresponding gate test pattern GTP.

이와같이 라인 결함이 발생된 게이트 또는 데이터 패드(GPAD, DPAD)를 테스트 패턴(GTP, DTP)와 쇼트시킨 다음 상기와 같이 게이트 패드(GPAD)와 쇼트된 게이트 테스트패드(GTPAD) 또는 데이터 패드(DPAD)와 쇼트된 데이터 테스트 패턴(DTP)의 테스트패드(DTPAD)의 신호를 오실로 스코프등의 계기를 이용하여 측정한다.The gate or data pads GPAD and DPAD in which the line defects are generated are shorted with the test patterns GTP and DTP, and the gate test pad GTPAD or the data pad DPAD shorted with the gate pad GPAD as described above. The signal of the test pad (DTPAD) of the shorted data test pattern (DTP) is measured using an instrument such as an oscilloscope.

상기 측정결과, 상기 테스트패드(GTPAD, DTPAD)로부터 파형이 정상적으로 출력되는 경우에는 상기 라인결함이 액정패널(10)의 이상에 기인한 것으로서, 이 경우에는 리페어가 불가능하다.As a result of the measurement, when the waveform is normally output from the test pads GTPAD and DTPAD, the line defect is caused by the abnormality of the liquid crystal panel 10. In this case, repair is impossible.

한편, 상기 테스트패드(GTPAD, DTPAD)로부터 파형이 비정상적으로 출력되는 경우에는, 액정모듈공정을 위한 액정패널(10)과 게이트 TAB(30) 또는 데이터 TAB(20)간의 본딩공정시 도전성 필름의 콘택저항이 불량인 경우에 발생되는 라인결함으로서, 이 경우에는 게이트 TAB(30) 또는 데이터 TAB(20)을 리페어하므로써, 라인결함에 대한 리페어가 가능하다.On the other hand, when the waveform is abnormally output from the test pad (GTPAD, DTPAD), the contact of the conductive film during the bonding process between the liquid crystal panel 10 and the gate TAB 30 or data TAB 20 for the liquid crystal module process As a line defect generated when the resistance is bad, in this case, repair of the line defect is possible by repairing the gate TAB 30 or the data TAB 20.

마지막으로, 상기 테스트패드(GTPAD, DTPAD)로부터 파형이 전혀 출력되지 않는 경우에는, 액정패널(10)의 게이트 패드(GPAD) 또는 데이터 패드(DPAD)와 본딩되는 게이트 TAB(30) 또는 데이터 TAB(20)의 인너리드(inner lead)가 오픈되어 발생되는 라인결함으로서, 이 경우에는 게이트 TAB(30) 또는 데이터 TAB(20)을 리페어하므로써, 라인결함에 대한 리페어가 가능하다.Finally, when no waveform is output from the test pads GTPAD and DTPAD, the gate TAB 30 or the data TAB (bonded with the gate pad GPAD or the data pad DPAD of the liquid crystal panel 10). As a line defect generated when the inner lead of 20) is opened, in this case, repair of the line defect is possible by repairing the gate TAB 30 or the data TAB 20.

상기한 바와같은 본 발명에 따르면, 게이트 패드와 게이트 TAB 그리고 데이터 패드와 데이터 TAB 간의 라인결함에 대한 원인을 종래에는 외관검사(visual inspection)에 의해 추정하였으나, 본 발명에서는 액정패널부에 테스트 패턴을 형성하여 줌으로써, 라인 결함에 대한 원인을 정확하게 분석하는 것이 가능하다.According to the present invention as described above, the cause of the line defect between the gate pad and the gate TAB and the data pad and the data TAB is estimated by visual inspection, but in the present invention, the test pattern is applied to the liquid crystal panel. By forming, it is possible to accurately analyze the cause for the line defect.

또한, 본 발명은 모듈상태에서 라인결함의 원인을 정확히 분석하여, 그원인이 TAB 불량에 의한 기인한 라인결함인 경우에만 TAB을 교체하여 리페어하여 줌으로써 불필요한 TAB 리페어를 대폭적으로 감소시킬 수 있다. 따라서, 본 발명은 TAB 본딩공정의 안정화로 액정표시소자의 신뢰성 및 품질을 향상시킬 수 있다.In addition, the present invention accurately analyzes the cause of the line defects in the module state, it is possible to significantly reduce unnecessary TAB repair by replacing and repairing the TAB only when the cause is a line defect due to TAB failure. Therefore, the present invention can improve the reliability and quality of the liquid crystal display by stabilizing the TAB bonding process.

기타, 본 발명은 그 요지를 일탈하지 않는 범위에서 다양하게 변경하여 실시할 수 있다.In addition, this invention can be implemented in various changes within the range which does not deviate from the summary.

Claims

In the liquid crystal module, a plurality of liquid crystal cells are arranged in block units, gate pads and data pads are connected to gate lines and data lines of each liquid crystal cell, respectively, and a plurality of gate TABs are arranged in the block units so that the liquid crystal cells of each block A liquid crystal display device connected to a gate pad of a plurality of data TABs arranged in block units and connected to a data pad of a liquid crystal cell of each block.

A gate fast pattern formed in each of the liquid crystal cell blocks, the test fast line arranged parallel to the data line and having a test line intersecting the gate pad and test pads formed at both ends of the test line;

And a data test pattern formed on each of the liquid crystal cell blocks, the data test pattern including a test line arranged to be parallel to the gate line and intersecting the data pad, and test pads formed at both ends of the test line. .

The liquid crystal display of claim 1, wherein the test line of the gate test pattern is made of the same material as the gate line.

The liquid crystal display device of claim 1, wherein the test pad of the gate test pattern comprises a double structure of the gate line material and the data line material.

The liquid crystal display device of claim 1, wherein the gate pad at the portion crossing the gate test pattern comprises a rectangular contact portion for contact with the gate test pattern.

The liquid crystal display device of claim 1, wherein the test line of the data test pattern is made of the same material as the gate line.

The liquid crystal display device of claim 1, wherein the data pad at the portion intersecting the data test pattern includes a contact portion having a rectangular shape for contact with the data test pattern.