KR100409206B1 - 시험물체의개방공동내의목표물표면상에탐침을위치시키는방법,장치및그시스템 - Google Patents

Abstract

시험 대상의 개방 공동내의 목표물 표면, 특히 사람의 비골점막 표면상에 탐침(60)의 단부(63)를 위치시키기 위한 방법에 있어서, 상기 시험 대상은 주어진 위치에 고정됨으로써, 광학 기계 1은 상기 목표물 표면이 그 광학축 I상에 위치하고 상기 목표물 표면의 위치가 상기 광학축의 종축 방향으로 한정되도록, 조절된다. 이때, 상기 탐침은 그 단부가 상기 광학축상에 위치하고 상기 광학축을 따라 상기 광학 기계에 의해 한정된 상기 목표물 표면 위치로 이동되도록, 작동되는 위치 선정 수단(2)상에 부착된다. 또한, 상기한 방법을 수행하기 위한 장치및 시스템이 개시된다.

Description

시험물체의 개방공동내의 목표물 표면상에 탐침을 위치시키는 방법, 장치 및 그 시스템

본 발명의 연구의 목적은 사람의 뼈, 비골점막(鼻骨粘膜;nasal mucous membrane)상에서 직접 노출되고 적당히 고정된 탐침의 위치를 확보하는 것이다. 코속의 비골점막 관찰시, 예컨대 비골점막에 미치는 영향이 조사될 화학물질을 코구멍속에 주입하거나, 도플러 레이저의 도움을 받아 상기 비골점막에서의 순환(circulation)측정과 같이 비골점막표면에서의 직접 측정을 수행하기 위해, 신중히 결정된 비강내의 위치로 탐침을 삽입하려고 한다. 이러한 측정을 수행함에 있어, 상기 탐침은 상기 비골점막과 관련하여 매우 정확한 위치에 놓여져야 한다. 예컨대, 상기 탐침은 비골 점막 표면에 대해 압박을 주어서는 안되는데, 그 이유는 그러한 압박으로 인하여, 상기 순환을 변경시키는 방위기전(defence mechanism)을 야기시킬 수도 있기 때문이다. 그 결과, 비강내에서의 탐침의 위치결정시, 0.1 mm정도의 위치 정확도가 요구된다. 손의 떨림, 시야를 막는 비강내의 털및 비강내의컴컴함으로 인해, 물론, 상기 비골점막표면에 탐침을 정확히 손으로 위치시키기란 매우 어려운 일이다. 결국, 상기와 같은 예비 측정의 결과, 원하는 수준의 신뢰성 있는 결과를 얻지 못했다.

본 발명은 시험물체의 개방공동, 예컨대 사람또는 동물의 신체공동 특히,비강(鼻腔;nasal cavity)내의 목표물 표면상에 탐침을 위치시키는 방법, 장치및 그 시스템에 관한 것이다.

도 1은 사람의 비강내부에 대해 측정하는 본 발명의 시스템에 대한 실시예를 나타낸 개략 사시도이다.

도 2는 시험 대상이 본 발명의 시스템의 조절을 위해 사용될 모형으로 대체된 것을 제외하고, 도 1의 구성과 유사한 실시예를 나타낸 개략 사시도이다.

따라서, 본 발명의 목적은 비강내의 주어진 위치상에 탐침의 단부를 매우 정확히 위치시킬 수 있는 방법, 장치및 그 시스템을 제공하는데 있다.

상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 일면에 따르면, 시험 대상의 개방 공동내의 목표물 표면상에 탐침(60)의 단부(63)를 위치시키기 위한 방법이 제공되고, 상기 방법은 상기 시험 대상을 주어진 위치에 고정시키는 단계와; 상기 목표물 표면이 광학축 I상에 위치하고 상기 광학축의 종축 방향의 상기 목표물 표면의 위치가 한정되도록, 광학 기계(1)를 조절하는 단계와; 받침대에 의해 지지받는 위치 선정 수단(20)상에 상기 탐침을 부착하는 단계와; 상기 탐침의 단부가 상기 개방 공동속의 일정거리 이격된 상기 광학축상에 위치하도록, 상기 위치 선정 수단(20)으로 하여금 상기 광학축으로 부터 일정거리 떨어져 위치한 선회지점을 중심으로 하여 회전 운동을 수행시키는 단계와; 상기 탐침의 단부가 상기 광학 기계에 의해 한정된 상기 목표물 표면 위치에 도달되도록, 상기 위치 선정 수단을 상기 광학축과 평행하게 이동시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 또다른 일면에 따르면, 시험 대상의 개방 공동내의 목표물 표면상에 탐침(60)의 단부(63)를 위치시키기 위한 장치가 제공되고, 상기 장치는 상기 목표물 표면의 위치를 한정하기 위한 광학 기계(1)와; 상기 장치의 사용중에, 상기광학 기계의 광학축과 일치하는 정렬축을 갖는 상기 장치를 지지하기 위한 받침대(30)와; 상기 장치의 상기 정렬축에 평행한 제 1 축을 따라 변위가능한 제 1 위치 선정 수단(16)과; 상기 탐침 부착부(23)가 설치되고, 상기 제 1 위치 선정 수단에 연결되며, 상기 탐침 부착부(23)가 상기 정렬축상의 위치로 이동될 수 있도록 상기 제 1 축에 수직인 제 2 축을 중심으로 하여 상기 제 1 위치 선정 수단(16)에 대해 회전가능한 제 2 위치 선정 수단(20)을 구비하는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 또다른 일면에 따르면, 시험 대상의 개방 공동내의 목표물 표면상에 탐침(60)의 단부(63)를 위치시키기 위한 시스템이 제공되고, 상기 시스템은 상기 시험 대상을 주어진 위치에 고정시키기 위한 고정 장치(5)와; 상기 목표물 표면의 위치를 한정하기 위한 광학 기계(1)와; 정렬축이 상기 광학 기계의 광학축과 일치하도록 상기 광학 기계에 부착되는 제 6 항내지 제 10중 어느 한 항에 따른 장치를 구비하는 것을 특징으로 한다.

이를 보다 구체적으로 설명하면, 탐침및 상기 탐침을 비골점막 표면상의 공간으로 이동시키기 위한 특수 설계 장치를 위치시키고자 하는 상기 비골점막 표면상의 공간을 한정할 수 있는 광학 기술 조합체를 이용하여, 고도의 반복성으로 반복될 수 있는, 비강내에서의 고도의 정확한 탐침의 위치 선정 동작을 수행할 수 있다.

본 발명을 수행하는데 사용될 수 있는 종래의 적절한 광학 기술은 1985년 스웨덴, 스톡홀름, Sodersjukhuset의 이비인후과학부에서 Jan-Erik Juto에 의해 작성된 "비강 입체 용적 측정법(Rhinostereomety)"이란 제목의 박사논문에 기술되어 있는 비강 입체용적 측정법이다. 비강 입체 용적계(Rhinostereometer)는 마이크로미터 테이블상에 장착되는 현미경으로 구성된다. 상기 현미경의 렌즈및 접안렌즈는 매우 낮은 깊이의 시역(視域)을 형성할 수 있도록 선택된다. 오늘날, 비강 입체 용적계는 비골점막의 부어오름 정도를 측정하기 위해 사용되는데, 이 경우, 상기 비골점막의 작은 단편이 현미경을 통해 관찰되고, 상기 비골점막의 부어오름 정도가 상기 접안렌즈의 눈금에 의해 측정된다.

따라서, 상기 비강 입체 용적계는 탐침을 위치시키는 것 만큼이나, 비강내에 삽입될 광학 기계를 위치시키는 것이 어렵기 때문에, 검사될 비강의 외부에 배치되는 것이 유리하다. 또한, 광학 기계를 삽입하기 위한 공간이 많지 않고, 환자가 겪게되는 불편함이 제기됨은 물론, 상기 비골점막이 손상될 정도로 충격을 받을 위험성이 있어, 나중 측정시에 정확도가 떨어진다.

그러나, 탐침을 비강내에 삽입하기 위한 전술한 광학 기술의 사용과 관련한 한 가지 문제점은 만족스런 빛의 조건을 얻기 위해서는 현미경의 렌즈를 코에 근접하게 위치시키는 것이 필요하므로, 상기 렌즈와 코사이의 간격이 제한된다는 사실이다. 반면에, 비강내에 삽입될 탐침은, 근본적으로 상기 탐침의 나머지 부분이 비골점막과 접촉하지 않고, 탐침 단부가 비강내로 충분히 멀리까지 삽입배치될 수 있도록 약 4∼ 5 cm의 길이를 갖는 직선형태의 강성 단부를 갖추고 있다. 그 결과, 대부분의 경우, 비강 입체 용적계와 코사이에는 상기 탐침의 단부를 위한 충분한 공간이 확보되지 않는다.

이러한 문제점은 상기 비강 입체 용적계로 구성되고 상기 탐침을 2 단계 동작으로 비강내에 삽입하기 위한 받침대에 의해 지지되는 위치선정 수단상에 상기 탐침의 단부를 부착함으로써 해결된다. 그 첫번째 단계에서, 상기 탐침의 단부는, 상기 비강 입체 용적계의 광학축으로 부터 일정간격 떨어져 위치한 선회점을 중심으로 하여 상기 위치선정 수단을 회전시켜, 비강내의 소정거리에 놓이게끔 상기 광학축상의 위치로 또는 상기 광학축에 근접하게 배치되고, 두번째 단계에서는, 상기 탐침의 단부는, 상기 비강 입체 용적계에 의해 한정된 위치를 확보할 때 까지, 특히 상기 위치선정 수단을 상기 광학축과 평행하게 이동시켜 정확한 초점 평면을 확보할 수 있을 때 까지 상기 광학축을 따라 이동된다. 상기 위치선정 수단이 받침대에 의해 지지됨으로써, 손의 떨림과 같이 수동에 의한 탐침의 부정확한 위치선정과 관련한 문제점이 해소된다.

상기 탐침의 단부를 비강내에 삽입하기 위해, 상기 위치선정 수단이 회전되면서 상기 탐침이 회전이동 평면의 홀더상에서 적당하게 회전된다.

많은 사람들에게 있어, 어떤 물체를 신체의 공동속에 삽입한다는 것은 불쾌감을 줄수 있다. 탐침을 비골 점막 표면의 목적한 위치또는 상기 비골 점막 표면에 근접한 곳에 직접 위치시켜 탐침 삽입에 소요되는 시간을 줄이기 위해서는, 환자와의 협력없이 예비조절이 수행되는 것이 유리하다. 이러한 예비조절로 인해, 상기 탐침의 단부는 비강내의 정확한 위치에 직접 배치될 수 있다.

탐침을 비골 점막 표면에 위치시키기 위한 전술한 기술은 수술과 관련하여 귀또는 뇌와 같은, 사람또는 동물의 다른 신체 공동내부에 탐침을 위치시키는데 사용될 수도 있다. 또한, 이러한 기술은 탐침을 선택가능한 물체의 다른 개방공동내에 위치시키는데 사용될 수 있다. 예컨대, 상기 탐침은 어떤 물질을 공동내에 주입하기 위한 튜브, 공동내에 있는 어떤 샘플을 채취하기 위한 기기또는 공동의 일부분을 확대하기 위한 내시경과 같은 광학기계일 수도 있다.

전술한 비강 입체 용적 측정법이외에, 다른 광학 기술을 사용하는 것도 고려할 수 있다. 다만, 문제가 되는 것은 목표물 표면을 선택하기 위해 개방 공동내부를 들여다 볼 수 있어야 한다는 것과, 예컨대 사용된 광학 기계의 기준점과 관련하여 상기 목표물 표면의 위치가 이용된 전술한 기술에 의해 한정될 수 있어야 한다는 점이다. 더우기, 전술한 바와같이, 상기 광학 기계는 상기 공동외부에 배치되어야 한다.

첨부도면을 참조하여, 실시예를 통해 본 발명이 이하에 설명된다.

첨부 도면에서, 동일한 참조 번호는 동일한 구성요소를 나타낸다.

도면의 명확성을 기하기 위해, 도 1은 시험 대상 F의 비강점막 표면의 주어진 위치에 탐침을 위치시키기 위한 시스템의 (광학축 I를 따라 분리된 상태의)상이한 구성요소들을 도시한 것이다. 본 발명에 따른 시스템은 비강 입체 용적계 1, 위치 선정장치 2, 노우즈 깔대기 4용 홀더 3및 비강점막이 공간속에서 고정위치를 확보하도록 시험 대상 F의 머리를 고정시키기 위한 고정 장치 5를 포함한다.

스웨덴의 스톡홀름의 AB Micromus, Box 10306, S-10055를 통해 구입할 수 있는 상기 비강 입체 용적계 1은 도 1에 현미경 헤드 1a만이 도시되는 외과 수술용 현미경을 구비하고, 상기 헤드 1a는 3개의 직교 방향으로 이동가능하도록 마이크로미터 테이블 1b상에 배치되는데, 그 중 두개의 방향은 수평 평면에 놓인다. 상기 마이크로미터 테이블 1b는 프레임 1c상에 배열된다. 수평 평면에서 회전가능한 상기 현미경은 낮은 깊이의 시역을 제공하기 위해 선택되는 렌즈및 접안렌즈를 포함한다. 상기 현미경을 통해 관찰될 수 있는 윤곽이 분명한 영역은 탐침을 위치시킬 때 상기 탐침의 목표물 표면을 한정하기 위해 사용된다. 상기 현미경은 상기 영역이 수평축들중 한 축에 거의 수직이 되도록 방위 설정된다. 상기 접안 렌즈는 상기 시스템의 다른 수평축에 거의 평행한 밀리미터 눈금을 갖는다.

상기 위치 선정 수단 2는 상기 비강 입체 용적계 1상에, 특히 상기 위치 선정 수단상에 설치된 3개의 유사한 핀(도시생략)을 수용하도록 3개의 홀 6이 형성되는 상기 현미경 헤드 1a의 상부면상에 직접 결합되도록 구성된다. 이와는 달리, 상기 위치 선정 수단은 상기 마이크로미터 테이블의 프레임 1c에 고착가능하게 연결될 수도 있다. 또한, 상기 위치 선정 수단을 분리된 받침대위에 부착하는 것도 고려해 볼 수 있다. 물론, 상기 비강 입체 용적계 1에 대해 상기 위치 선정 수단의 위치가 명확해야 하는 것은 당연하다. 따라서, 모든 경우에, 상기 위치 선정 수단 2는 받침대에 의해 직접또는 상기 비강 입체 용적계 1을 통해 지지받는다.

상기 위치 선정 수단은 수평으로 배열되고 저면에 전술한 핀 6이 설치되는 제 1 상부판 7및, 광학축 방향으로 상기 현미경 헤드 1a에 대향하여 배치되는 상기 제 1 상부판 7의 모서리의 접합부 9에 의해 상기 제 1 상부판 7에 부착되는 제 2 상부판 8을 포함한다. 미세-조절 나사 10에 의해 상기 제 1 상부판 7과 상기 제 2 상부판 8사이의 각도을 조절할 수 있다.

제 1 측면판 11이 상기 제 2 상부판 8의 한쪽 측면 모서리에 부착되고 상기 제 1 상부판 7에 대해 거의 90°각도로 연장된다. 제 2 측면판 12는 광학축 방향으로 상기 현미경 헤드 1a에 대향하여 배치되는 상기 제 1 측면판 11의 모서리의 접합부 13에 의해 상기 제 1 측면판 11에 부착된다. 미세-조절 나사 14에 의해 상기 제 1 측면판 11과 상기 제 2 측면판 12사이의 각도를 조절할 수 있다.

상기 제 1 측면판 11및 상기 제 2 측면판 12는 상기 제 2 상부판 8에 고착가능하게 결합되는 대신, 상기 제 2 상부판 8에 대한 상기 제 1및 제 2 측면판의 수직 위치가 예컨대, 조절 나사에 의해 조절될 수 있도록 상기 제 2 상부판 8에 이동가능하게 결합될 수도 있다.

활주 요소 16의 형태로 구성된 제 1 위치 선정 수단은 상기 비강 입체 용적계 1의 광학축에 평행한 제 1 축을 따라 변위가능하도록 상기 제 2 측면판 12에 활주가능하게 장착된다. 레버 17은 상기 제 2 측면판 12및 상기 활주 요소 16에 부착됨으로써, 상기 활주 요소 16가 상기 레버 17에 의해 용이하고 편리하게 변위될 수 있다. 상기 현미경 헤드 1a로 부터 이격된 방향의 상기 활주 요소 16의 단부 위치는 상기 활주 요소 16에 형성된 슬롯형태의 홈 19속에서 변위가능한 단부 위치 나사 18및, 상기 제 2 측면판 12상에 설치되는 제동 요소(도시생략)에 의해 한정된다.

암 20형태의 제 1 위치 선정 수단은 상기 단부-위치 나사에 대향하여 위치하는 상기 활주 요소 16의 단부에 회전가능하게 장착된다. 상기 암 20은 상기 제 1 축에 수직인 제 2축을 중심으로 하여, 상기 암 20이 상기 활주 요소 16에 평행한 위치에서 상기 활주 요소 16에 수직인 위치까지 회전될 수 있다. 상기 수직인 위치는 상기 활주 요소 16상에 형성되고 상기 암 20이 더 이상 회전되는 것을 방지해주는 제동 요소 21에 의해 한정된다. 상기 암 20의 회전 반경은, 상기 활주 요소 16속으로 나사결합되고 상기 암 20의 선회점을 구성하는 나사 22'에 대해 접촉하게 되는 조절 나사 22에 의해 조절될 수 있다. 이러한 선회점은 상기 조절 나사 22에 의해 슬릿내에서 상기 암 20의 길이 방향으로 변위될 수도 있고, 고정될 수도 있다. 상기 선회점은 상기 광학축으로 부터 일정 간격 떨어져 위치한다.

탐침 부착부 23은 본래 수직인 축을 중심으로 회전가능하도록 상기 활주 요소 16에서 가장 멀리 떨어진 곳에 위치하는 상기 암 20의 단부상에 장착된다. 상기 탐침 부착부 23는 도 2에 예시된 바와같이, 스냅-인(snap-in)동작에 의해 탐침이 고정될 수 있는 리세스 24를 구비한다. 또한, 상기 탐침 부착부 23는 레버 25를 그 일측에 구비함으로써, 상기 레버에 의해 탐침이 상기 암 20의 회전 평면에서 용이하고 편리하게 회전될 수 있다.

또한, 상기 암 20상에는 상기 부착 레버 25를 고정시키기 위한 요소 26이 설치된다. 상기 고정 요소 26은 상기 암 20의 길이 방향에 대해 횡축방향으로 연장되고 상기 부착 레버 25를 고정시키는 리세스 27을 구비한다. 상기 암 20에 대해 횡축 방향으로 배치된 상기 고정 요소 26의 위치는 조절 나사 28에 의해 조절가능함으로써, 상기 탐침 부착부 23의 각도 위치를 미세하게 조절할 수 있다.

상기 위치 선정 장치는 상기 활주 요소 16에 평행한 정렬축 I를 갖는다. 상기 위치선정 장치가 상기 비강 입체 용적계 1상에 장착될 때, 상기 정렬축 I는 근본적으로 상기 비강 입체 용적계 1의 광학축과 일치해야 한다.

또한, 상기 고정 장치 5는 각각의 환자를 위해 개별적으로 설계된 아크릴 부목 31이 고착가능하게 설치되는 받침대 30를 포함한다. 상기 아크릴 부목 31에 의해, 시험 대상, 특히, 시험 대상의 머리및 코속의 비골점막이 공간또는 좌표 시스템의 주어진 위치에서 고정될 수 있다. 상기 고정 장치 5는 환자가 상기 비강 입체 용적계 1의 프레임 1c에 대해 동일한 위치에 반복적으로 배치되도록 하기 위해, 상기 연결 요소 32에 의해 상기 비강 입체 용적계 1의 프레임 1c에 고착가능하게 연결되는 것이 유리하다.

상기 고정 장치 5상에 부착되는 상기 홀더 3은 종래의 이경(耳鏡)또는 비경(鼻鏡)이 될 수도 있는 상기 노우즈 깔대기 4가 장착되는 접합암 35을 구비한다. 상기 접합암 35은 상기 접합 요소들이 상호간에 자유롭게 이동할 수 있도록 다양한 방식으로 움직이거나, 상기 접합 요소들이 서로에 대해 고정되도록 조절 나사 40에 의해 고정될 수도 있다.

도 1에 예시된 시스템은 다음과 같이 작동한다. 탐침이 환자의 코속의 비골점막 표면에 배치되거나 상기 비골점막에 근접하게 배치되는 경우, 우선, 환자에따라 별도로 설계된 아크릴 부목 31을 환자로 하여금 이빨로 물어고정시키도록 함으로써, 환자 F의 머리가 상기 고정 장치 5에 의해 공간또는 좌표계에서 고정된다. 그런다음, 비공(鼻孔;nasal meatus)의 폭을 약간 넓히고 머리카락및 점막을 따로 유지하기 위해, 나중에 상기 탐침이 삽입될 비공속으로 상기 노우즈 깔대기 4가 유입된다.

그 다음 단계에서, 검사를 수행하는 사람은 상기 비강 입체 용적계를 통해 보고, 상기 비강 입체 용적계를 이동및 회전시켜 비골점막 표면의 목표물 표면을 선택함으로써, 상기 목표물 표면이 정확한 초점 평면에 위치하게 된다. 이 경우, 상기 노우즈 깔대기 4의 위치는, 상기 비강 입체 용적계의 위치가 상기 마이크로미터 테이블 1b상에서 고정되는 것과 같이, 상기 조절 나사 40에 의해 고정된다. 또한, 상기 접안 렌즈의 눈금상에 있는 상기 목표물 표면의 위치를 주시한다. 상기 비강 입체 용적계는, 상기 목표물 표면이 밀리미터 눈금의 중심에, 즉 상기 광학축상에 위치하도록 방위 설정되는 것이 유리하다. 그러나, 어떤 경우에는, 상기 목표물 표면을 상기 광학축에서 약간 이격된 곳에 위치시키는 것이 필요하거나 적절할 수도 있다.

이 단계에서, 상기 광학축이 고정되고, 상기 목표물 표면의 위치가 상기 비강 입체 용적계에 대해 한정되거나, 상기 비강 입체 용적계가 좌표의 원점역할을 하는 좌표계내에서 한정되었다. 이때, 환자는 물고 있던 아크릴 부목 31을 놓은 다음, 상기 노우즈 깔대기 4에서 환자의 코를 빼낸다. 그리고, 상기 아크릴 부목 31은 상기 고정 장치에서 제거되고, T자형 몸체 53내에 홈 52가 형성되는 T자형 요소51와, 목표 지점 56을 구비하고 있고 상기 T 자형 요소 51의 평면에 수직으로 연장되며 상기 T 자형 몸체의 가로대 55를 따라 이동가능한 보조 목표물 표면 54를 포함하는 목표물-표면 모형 50(도 2에 도시됨)으로 대체된다. 상기 가로대 55상에서의 상기 보조 목표물-표면 54의 위치는 상기 비강 입체 용적계의 광학축 I상에 위치하도록 조절되고, 상기 홈 52내의 목표물-표면 모형의 부착지점은 상기 보조 목표물-표면 54가 상기 비강 입체 용적계의 정확한 초점 평면에 위치하고 상기 목표지점 54가 상기 비강 입체 용적계의 눈금의 중심에 위치하도록 조절된다. 상기와 같은 조절이 수행되면, 상기 보조 목표물-표면 54는, 환자가 상기 아크릴 부목 31에 의해 고정되었을 때 비골점막 표면상의 목표물 표면에 의해 이전에 확보되었던 것과 동일한 공간 위치를 확보한다. 그러나, 상기 보조 목표물-표면 54는 반드시 필요한 것은 아니며, 이하에서 설명되는 상기 조절과정은, 상기 탐침의 단부가 정확한 위치에 도달한 시점을 관찰하기 위해 상기 비강 입체 용적계를 통해 봄으로써, 수행될 수도 있다.

그 다음 단계에서, 탐침 60은 도 2에 도시된 바와같이, 스냅-인 동작에 의해 상기 탐침 부착부 23에 부착된다. 이때, 상기 암 20은 상기 활주 요소 16에 거의 평행인 위치로 회전되고, 상기 선회점 22'는 상기 암 20의 회전 반경이 최대가 되지 않도록 상기 암 20상에서 소정 간격 이격된 위치로 조절된다. 상기 탐침 60은 호스 62에 연결되는 직선형태의 강성 단부 61을 구비한다. 상기 단부 61의 최외단부 63은 경사 표면에 대해 적합하게 쓰이도록 약간 각도를 이룬채 형성되어야 한다. 상기 탐침 60이 스냅-인 동작에 의해 부착되는 경우, 상기 부착 레버 25는 상기 활주 요소 16상에서 회전된다. 이러한 회전 운동중에, 상기 부착 레버 25는 이동가능하기 때문에, 상기 부착 요소 23는 상기 암 20상에서 회전될 수 있다. 또한, 상기한 회전 운동중에, 상기 암 20의 회전 반경은, 상기 암이 상기 활주 요소 16상의 제동 요소 21와 접촉하게 될 때 까지, 증가한다. 이 위치에서, 상기 탐침 60의 단부는 노우즈 깔대기 4속의 소정 거리 이격된 안쪽지점에 위치하게 된다. 이때, 상기 부착 레버 25는 상기 고정 요소 26상에 고정된다. 상기 활주 요소 16에 수직인 상기 부착 요소 23의 위치는 상기 탐침 60의 최외단부 63이 상기 광학축상에 위치하도록 상기 암 20상의 조절 나사 22에 의해 조절되고, 상기 탐침 부착부 23의 각도 위치는 상기 탐침 60의 최외단부 63이 상기 접안 렌즈의 눈금상의 기록된 지점에 위치하고 상기 탐침의 단부의 나머지 부분이 상기 광학축에 평행하게 위치하도록 상기 고정 요소 26상의 조절 나사 28에 의해 미세하게 조절된다.

따라서, 상기 광학축에 대한 탐침 단부의 위치가 결정되었기 때문에, 상기 활주 요소 16는 상기 레버 17에 의해 상기 보조 목표물 표면 54의 방향으로 이동된다. 상기 탐침 60의 최외단부 63이 상기 보조 목표물 표면 54에 접근할 때, 상기 비강 입체 용적계를 통해 상기 최외단부 63를 볼 수 있다. 이때, 필요한 경우, 상기 조절 나사 22및 28에 의해 상기 광학축에 대한 상기 탐침의 최외단부 63의 위치를 미세하게 조절할 수도 있고, 그에 따라, 상기 최외단부 63이 레버 17에 의해 상기 목표지점 56상의 보조 목표물 표면 54에 인가된다. 상기 탐침 60의 최외단부 63이 상기 위치를 확보하는 경우, 상기 홈 19내에서 단부-위치 나사 18를 이동시켜 상기 활주 요소 16의 위치가 조절됨으로써, 상기 활주 요소 16가 제동부(도시생략)에 걸려 고정된다. 상기 위치 선정 장치 2는 상기 탐침 60의 최외단부 63이 환자의 비골점막 표면의 정확한 위치로 직접 이동되도록 사전-설정(pre-set)되었다.

그 다음, 상기 활주 요소 16는 상기레버 17에 의해 뒤로 후퇴하고 상기 암 20이 회전되어 그 중심에서 멀어지고, 상기 부착 레버 25는 상기 탐침 60이 상기 노우즈 깔대기 4로 부터 분리 이동되어 상기 광학축 I에서 멀어지도록 해제된다. 상기 노우즈 깔대기 4를 위한 상기 홀더 3은 다양한 방식으로 이동되고, 상기 목표물 표면 모형 50이 환자와 대체되어, 그 결과 환자가 다시 한번 아크릴 부목을 물어야 하기 때문에, 비골점막의 목표물 표면은 상기 비강 입체 체적계가 조절되었을 때의 위치에서 한번 더 고정된다. 이때, 상기 노우즈 깔대기 4는 환자의 비공속으로 한번 더 삽입되고 상기 광학축이 상기 노우즈 깔대기 4의 중심에 놓이도록 위치 선정된다.

상기 탐침 단부 63은, 상기 활주 요소 16상의 제동 요소 21에 걸려 정지될 때 까지 상기 암 20을 회전시키고, 상기 부착 레버 25를 상기 제동 요소 26상에 부착하며, 상기 활주 요소 16를 상기 레버 17에 의해 상기 단부-위치 나사 18에 의해 한정된 단부 위치로 이동시킴으로써, 상기 비골 점막 표면의 정확한 위치에 용이하고 편리하게 위치될 수 있다.

만약, 비골 점막의 부어오름 정도가 비강내의 측정중에 변한다면, 상기 광학축에 수직인 상기 탐침 단부 63의 위치는 상기 제 1및 제 2 측면판 11및 12상의 미세 조절 나사 14에 의해 조절될 수 있다.

상기 위치 선정 장치가 사용될 때, 상기 제 2 상부판 8은, 상기 활주 요소16의 종축이 상기 광학 종축에 대해 수직 평면으로 약간 기울어 지고 상기 광학축상에 직접 위치하는 탐침의 단부 63가 되고 상기 탐침의 강성 단부의 나머지 부분이 상기 광학축에 대해 상기 수직 평면으로 약간 기울어지도록, 상기 제 1 상부판 7에 대해 다소 경사지는 것이 유리하다. 이러한 방식으로, 상기 탐침 단부가 상기 탐침 단부의 나머지 부분에 의해 가리워지지는 않을 것이다.

전술한 동작 모드의 대체 실시예로서, 환자의 참여없이 사전-설정 동작이 수행될 수 있다. 상기 목표물-표면 모형 50의 상기 보조 목표물 표면 54에 대해 상기 비강 입체 용적계 1를 조절하여 동작을 개시함으로써, 상기 보조 목표물 표면 54는 상기 비강 입체 용적계의 정확한 초점 평면내에 위치하게 된다(상기 고정 장치 5는 옆으로 이동되고 사용되지 않음). 이때, 상기 탐침 60은 상기 활주 요소 16에 수직인 위치로 회전될 수 있는 상기 암 20상의 탐침 부착부 23상에 고정된다. 상기 부착 레버 25는 상기 고정 요소 26상에 고정되고, 상기 암 20은 상기 탐침의 단부 63이 상기 보조 목표물 표면 54에 인가되도록 상기 활주 요소 16에 의해 상기 광학축과 평행하게 이동된다. 상기 탐침 단부 63가 상기 보조 목표물 표면 54에 가까워지면, 상기 탐침 단부 63은 상기 비강 입체 용적계 1을 통해 볼수 있고 상기 탐침 단부 63의 위치는 상기조절 나사 28및 22에 의해 미세하게 조절된다. 상기 탐침 단부 63이 목적한 위치를 확보하면, 상기 활주 요소 16의 위치는 상기 나사 18에 의해 조절된다. 이로서, 상기 사전-설정 동작이 완료되었다. 상기 탐침 단부 63이 환자에게 위치하게 되면, 상기 목표물-표면 모형 50은 환자가 물고 있던 아크릴 부목으로 대체된다. 상기 노우즈 깔대기 4가 환자의 비공속에 삽입되어 고정된다. 환자의목표물 표면이 정확한 초점 평면에서 보여질 수 있도록 상기 비강 입체 용적계가 조절된다. 만약, 상기 비강 입체 용적계 1의 광학 요소가 조절되지 않았다면, 환자의 비강내의 상기 목표물 표면은 상기 비강 입체 용적계 1에 대해 상기 보조 목표물 표면 54에 의해 이전에 확보되었던 것과 동일한 위치에 놓이게 된다. 상기 위치 선정 장치 2는 상기 비강 입체 용적계 1에 고착가능하게 연결되기 때문에, 상기 탐침 단부 63은 상기 암 20을 회전시키고, 상기 부착 레버 25를 상기 고정 요소 26상에 고정시키며, 상기 활주 요소 16을 상기 조절 나사 18에 의해 한정된 위치로 이동시킴으로써, 상기 목표물 표면상에 위치될 수 있다.

물론, 전술한 실시예및 동작 모드는 첨부된 특허 청구의 범위의 범위내에서 수정될 수 있는 예에 불과하다. 예컨대, 상기 탐침 단부는 상기 위치 선정 장치에 의해 비골 점막 표면에 직접 위치하기 때문에, 상기 위치 선정 장치가 사전-설정될 필요는 없다.

본 발명은 특히, 이비인후과 분야에서, 비강 입체 용적계를 이용하여 사람또는 동물의 비강내의 비골 점막의 부어오름 정도를 측정하기 위해 코속의 비골점막 관찰시, 비골 점막상에서 직접 노출되고 적당히 고정된 탐침의 위치를 확보하는데 사용된다.

Claims (14)

1. 시험 대상의 개방 공동내의 목표물 표면상에 탐침(60)의 단부(63)를 위치시키기 위한 방법에 있어서,

   상기 시험 대상을 주어진 위치에 고정시키는 단계와;

   상기 목표물 표면이 광학축 I상에 위치하고 상기 광학축의 종축 방향의 상기 목표물 표면의 위치가 한정되도록, 광학 기계(1)를 조절하는 단계와;

   받침대에 의해 지지받는 위치 선정 수단(20)상에 상기 탐침을 부착하는 단계와;

   상기 탐침의 단부가 상기 개방 공동속의 일정거리 이격된 상기 광학축상에 위치하도록, 상기 위치 선정 수단(20)으로 하여금 상기 광학축으로 부터 일정거리 떨어져 위치한 선회지점을 중심으로 하여 회전 운동을 수행시키는 단계와;

   상기 탐침의 단부가 상기 광학 기계에 의해 한정된 상기 목표물 표면 위치에 도달되도록, 상기 위치 선정 수단을 상기 광학축과 평행하게 이동시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
2. 제 1 항에 있어서, 상기 위치 선정 수단이 회전 운동을 수행하는 동안, 상기 탐침을 상기 회전 운동 평면에 있는 상기 위치 선정 수단상에서 회전시키는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
3. 제 1 항또는 제 2 항에 있어서, 상기 광학 기계가 조절된 후에, 상기 시험 대상을 상기 주어진 위치로 부터 제거하는 단계와;

   상기 탐침의 단부(63)가 상기 광학 기계에 의해 한정된 목표물 표면 위치로 이동된 후에, 상기 위치 선정 수단(20)의 위치를 기록하는 단계와;

   상기 탐침의 단부가 상기 광학 기계에 의해 한정된 목표물 표면 위치에 더 이상 놓이지 않도록, 상기 위치 선정 수단을 이동시키는 단계와;

   상기 시험 대상을 상기 주어진 위치에 다시 고정시키는 단계와;

   상기 위치 선정 수단을 상기 기록 위치로 작동시켜, 상기 탐침의 단부(63)를 상기 광학 기계에 의해 한정된 목표물 표면 위치로 이동시키는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
4. 제 3 항에 있어서, 상기 시험 대상이 상기 주어진 위치로 부터 제거된 후, 보조 목표물 표면(54)을 상기 광학축위에 배치하는 단계와;

   상기 보조 목표물 표면이 상기 광학 기계(1)에 의해 한정된 목표물 표면 위치에 도달할 때 까지, 상기 보조 목표물 표면을 변위시키는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
5. 제 1 항또는 제 2 항에 있어서, 상기 시험 대상이 주어진 위치에 고정되기 전에, 보조 목표물 표면(54)이 상기 광학 기계(1)의 광학축상의 종축 방향의 한정된 위치를 확보하도록, 상기 광학 기계를 조절하는 단계와;

   상기 탐침을 상기 위치 선정 수단(20)상에 부착하는 단계와;

   상기 탐침의 단부(63)가 상기 보조 목표물 표면 54상에 위치하도록, 상기 위치 선정 수단(20)을 작동시키는 단계와;

   상기 위치 선정 수단(20)의 위치를 기록하는 단계와;

   상기 탐침의 단부가 상기 보조 목표물 표면상에 더 이상 놓이지 않도록, 상기 위치 선정 수단(20)을 이동시키는 단계를 추가로 포함하고;

   상기 시험 대상이 주어진 위치에 고정된 후, 상기 광학 기계를 조절하는 단계는 상기 목표물 표면이 상기 광학 기계에 대한, 상기 보조 목표물 표면에 의해 이전에 확보된 것과 동일한 위치에 놓이도록 수행되고, 상기 위치 선정 수단(20)의 회전 운동및 상기 광학축과 평행한 상기 위치 선정 수단(20)의 변위는 상기 위치 선정 수단(20)의 상기 기록된 위치에 의해 수행되는 것을 특징으로 하는 방법.
6. 시험 대상의 개방 공동내의 목표물 표면상에 탐침(60)의 단부(63)를 위치시키기 위한 장치에 있어서,

   상기 목표물 표면의 위치를 한정하기 위한 광학 기계(1)와;

   상기 장치의 사용중에, 상기 광학 기계의 광학축과 일치하는 정렬축을 갖는 상기 장치를 지지하기 위한 받침대(30)와;

   상기 장치의 상기 정렬축에 평행한 제 1 축을 따라 변위가능한 제 1 위치 선정 수단(16)과;

   상기 탐침 부착부(23)가 설치되고, 상기 제 1 위치 선정 수단에 연결되며,상기 탐침 부착부(23)가 상기 정렬축상의 위치로 이동될 수 있도록 상기 제 1 축에 수직인 제 2 축을 중심으로 하여 상기 제 1 위치 선정 수단(16)에 대해 회전가능한 제 2 위치 선정 수단(20)을 구비하는 것을 특징으로 하는 장치.
7. 제 6 항에 있어서, 상기 제 2 위치 선정 수단(20)은 상기 제 1 축에 수직인 방향으로 변위가능한 것을 특징으로 하는 장치.
8. 제6항에 있어서, 상기 탐침 부착부(23)는 상기 제 2 위치 선정 수단상에 회전가능하게 배치되는 것을 특징으로 하는 장치.
9. 제6항에 있어서, 상기 탐침의 단부가 상기 광학 기계에 의해 한정되는 상기 목표물 표면 위치에 놓일 때, 상기 제 1및 제 2 위치 선정 수단의 조절을 기록하기 위한 수단(18,19; 22,27,28)가 설치되어, 상기 탐침의 단부가 상기 기록된 조절에 의해 상기 위치로 이동될 수 있는 것을 특징으로 하는 장치.
10. 제6항에 있어서, 상기 상기 제 2 위치 선정 수단상에 상기 탐침 부착부(23)의 위치를 기록하기 위한 수단(27,28)이 설치되는 것을 특징으로 하는 장치.
11. 제6항에 있어서, 상기 장치는 상기 광학 기계에 의해 지지되는 것을 특징으로 하는 장치.
12. 시험 대상의 개방 공동내의 목표물 표면상에 탐침(60)의 단부(63)를 위치시키기 위한 시스템에 있어서,

    상기 시험 대상을 주어진 위치에 고정시키기 위한 고정 장치(5)와;

    상기 목표물 표면의 위치를 한정하기 위한 광학 기계(1)와;

    정렬축이 상기 광학 기계의 광학축과 일치하도록 상기 광학 기계에 부착되는 제 6 항내지 제 10중 어느 한 항에 따른 장치를 구비하는 것을 특징으로 하는 시스템.
13. 제 12 항에 있어서, 상기 광학 기계는 3 가지의 직교 방향으로 변위가능하도록 프레임(1c)상에 장착되는 현미경(1a)을 포함하고, 상기 목표물 표면의 위치는 상기 목표물 표면이 상기 현미경의 정확한 초점 평면에 위치하도록 상기 현미경을 변위시켜 한정되는 것을 특징으로 하는 시스템.
14. 제12항에 있어서, 상기 고정 장치상에 부착가능한 보조 목표물 표면(54)을 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 시스템.

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