KR100380575B1 - 바이폴라트랜지스터및그의제조방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 바이폴라 트랜지스터 및 그의 제조방법에 관한 것으로, 특히 저농도 베이스 영역을 고농도 베이스영역 형성시에 평면 확산에 의해 동시에 형성하여 공정이 간단하고 오토 얼라인 기능을 가지며 또한 트랜지스터의 스위칭 속도를 빠르게 하고 전류 증폭률을 증대시킬 수 있는 바이폴라 트랜지스터및 그의 제조방법에 관한 것이다.
상기한 트랜지스터는 제 1도전형의 반도체 기판을 열 산화 시켜 절연막을 형성하고 사진식각 공정을 통하여 베이스 영역의 창을 열고 제 2 도전형의 불순물을 주입한 후 열 산화 확산방법에 의해 고농도 베이스 영역을 형성함과 동시에 측면확산에의해 절연막 마스크 하부에 저농도 베이스 영역을 형성하는 단계와; 에미터가 형성될 부분에 창을 열고 제 1도전형의 불순물을 베이스 표면으로 부터 열산화 확산시킴으로써 에미터 영역을 형성하는 단계와;
에미터 전극과 베이스 전극을 형성하기 위한 창을 열고 상기 에미터 영역와 접촉되는 에미터 전극과 상기 베이스 영역과 접촉되는 베이스 전극및 콜랙터와 접촉되는 콜랙터 전극을 형성하는 단계로 구성되는 것을 특징으로 하는 바이폴라 트랜지스터의 제조방법에 의해 제조된다.

Description

바이폴라 트랜지스터및 그의 제조방법
본 발명은 바이폴라 트랜지스터 및 그의 제조방법에 관한 것으로, 특히 저농도 베이스 영역을 고농도 베이스영역 형성시에 평면 확산에 의해 동시에 형성하여 공정이 간단하고 오토 얼라인 기능을 가지며 또한 트랜지스터의 스위칭 속도를 빠르게 하고 전류 증폭률을 증대시킬 수 있는 바이폴라 트랜지스터및 그의 제조방법에 관한 것이다.
바이폴라 트랜지스터는 스위칭 동작을 할때 온 상태에서 베이스 영역에 과잉 소수 캐리어가 소멸될 때 까지의 축적시간이 필요하므로 유니폴라 소자에 비하여 스윗칭 속도가 느려 주파수 응답 능력이 떨어지는 단점이 있다.
이러한 단점을 극복하기 위한 여러가지 시도가 있었는데 그 중에서 미국 특허 제 4,263,066 호에 "싱글 소오스 침적에 의한 베이스 확산과 P+ 동시에 형성하는 방법"이 제안 되었다.
이 방법은 제 1도에 도시된 바와같이 베이스 공정시에 먼저 옥사이드(12)를 도포한 후 베이스 창을 열고 붕소와 같은 소오스를 침적시킨 후 다시 질화막(34)을 침적시키고, 저농도층을 형성할 부분에 창을 열어 고온 산화 확산을 시키면 창이 안 열린 부분은 고농도의 깊은 정션이 형성되고 창이 열린 부분은 저농도의 얕은 정션이 되게 하는 방법이다.
한편 제 1도에시 부재번호 10은 에피택셜 실리콘 기판, 37은 저농도 베이스 영역, 38은 고농도 베이스 영역, 42는 베이스 전극, 42'는 에미터 전극, 43은 금속화 산화층, 44는 에미터 영역을 각각 가르킨다.
그러나 상기 공정의 특징을 살리기 위해서는 단층을 갖는 정션을 형성하는 것이 필요하며 이러한 정션을 형성하기 위해서는 최소한 2회의 사진식각 공정이 필요하여 공정이 복잡하다.
즉, 베이스 소오스를 도포하기 위한 창을 만들 때 한번이고, 둘째는 질화막을 침적시킨 후 창을 열때가 그 두번째이다.
본 발명의 목적은 저농도 베이스 영역을 고농도 베이스영역 형성시에 평면 확산에 의해 동시에 형성하여 공정이 간단하고 오토 얼라인 기능을 가지며 또한 트랜지스터의 스위칭 속도를 빠르게 하고 전류 증폭률을 증대시킬 수 있는 바이폴라 트랜지스터및 그의 제조방법을 제공하는 것이다.
상기한 목적을 달성하기 위하여, 본발명은 제 1도전형의 반도체 기판을 열산화 시켜 절연막을 형성하고 사진식각 공정을 통하에 베이스 영역의 창을 열고 제 2 도전형의 불순물을 주입한 후 열 산화 확산방법에 의해 고농도 베이스 영역을 형성함과 동시에 측면확산에 의해 절연막 마스크 하부에 저농도 베이스 영역을 형성하는 단계와; 에미터가 형성될 부분에 창을 열고 제 1 도전형의 불순물을 베이스 표면으로 부터 열산화 확산 시킴으로써 에미터 영역을 형성하는 단계와; 에미터 전극과 베이스 전극을 형성하기 위한 창을 열고 상기 에미터 영역과 접촉되는 에미터 전극과 상기 베이스 영역과 접촉되는 베이스 전극및 콜랙터와 접촉되는 콜랙터 전극을 형성하는 단계로 구성되는 것을 특징으로 하는 바이폴라 트랜지스터의 제조 방법을 제공한다.
또한 본 발명은 제 1도전형 반도체 기판과; 상기 기판 위로 부터 소정 깊이를 갖고 교대로 형성된 제 2도전형의 고농도및 저농도 베이스 영역과; 상기 저농도 베이스 영역 상부에 기판 표면으로 부터 형성된 제 1도전형의 에미터 영역으로 구성되는 것을 특징으로 하는 바이폴라 트렌지스터를 제공한다.
이하에 첨부도면을 참조하여 본 발명을 더욱 상세하게 설명한다.
제 3도(가)내지(라)에는 본 발명에 따른 바이폴라 트랜지스터의 제조공정도가 도시되어 있다.
먼저 제 3도 (가)를 참고하면 트랜지스터의 콜랙터로 사용되는 실리콘 기판(1)을 열 산화시켜 절연막(2)을 형성한다. 그 후 제 3도(나)와 같이 사진식각 공정을 통하여 베이스 영역의 창을 열고 콜랙터와 다른 도전형의 불순물을 표면으로 부터 주입하여 베이스 영역(3)을 형성한다. 이때 절연막 마스크(4)를 이용하여 절연막 마스크(4) 아래부분에 불순물의 측면 확산을 이용한 저농도 베이스 영역(31)을 열 산화 확산방법을 이용하여 형성시킨다. 이때 베이스 창에는 산화막이 성장한다. 이경우 절연막 마스크(4)의 폭은 불순물의 측면산화 폭의 두배를 넘지 않아야 한다.
그 후 제 3도(다)와 같이 에미터가 형성될 부분에 창을 열고 베이스와 다른 도전형의 불순물을 베이스 표면으로 부터 열산화 확산시킴으로써 에미터 영역(5)을 형성한다. 이때 베이스 영역(3) 형성 때와 같이 에미터 창에도 절연막이 성장 한다. 이경우 에미터 창의 위치는 저농도 베이스 영역(31)의 상부에 형성 되어야 한다.
이어서, 제 3도(라)와 같이 에미터 전극과 베이스 전극을 형성하기 위한 창을 열고 상기 에미터 영역(5)와 접촉되는 에미터 전극((6)과 상기 베이스 영역(3)과 접촉되는 베이스 전극(7)및 콜랙터와 접촉되는 콜랙터 전극(8)을 형성시키면 본 발명의 바이폴라 트랜지스터가 완성 된다.
상기한바와 같이 본 발명에 따르면, 종래와 달리 베이스 고농도층과 베이스 저농도층을 형성할때 마스크를 한번 사용하여 고농도 베이스 영역파 저농도 베이스영역을 동시에 형성하므로 공정이 간단하고 저농도 층의 형성이 고농도 형성시에 평면 확산을 이용하는 것이므로 오토 얼라인의 기능도 갖게된다.
또한 간단한 공정으로 스윗칭 속도와 전류 증폭률이 향상된 바이폴라 트랜지스터가 얻어진다.
제 1 도는 종래의 바이폴라 트랜지스터의 단면 구조도,
제 2 도는 본 발명에 따른 바이폴라 트랜지스터의 단면 구조도,
제 2 도 (가)내지 (라)는 본 발명에 따른 바이폴라 트랜지스터의 제조공정 단면도이다.
*도면내 주요부분에 대한 부호 설명 *
1: 고농도 반도체 기판 2: 절연막
3: 고농도 베이스 영역 4: 절연막 마스크
5: 에미터 영역 6: 에미터 전극
7: 베이스 전극 8: 콜랙터 전극

Claims (2)

  1. 제1 도전형의 반도체 기판을 열 산화시켜 절연막을 형성하고 사진식각 공정을 통하여 베이스 영역을 노출하는 창을 형성하는 단계;
    상기 창을 통하여 제2 도전형의 불순물을 주입하는 단계;
    열산화 확산 방법에 의해 고농도 베이스 영역을 형성하고, 동시에 측면 확산에 의해 절연막 마스크 하부에 저농도 베이스 영역을 형성하는 단계;
    에미터가 형성될 부분에 창을 열고 제1 도전형의 불순물을 베이스 표면으로부터 열산화 확산시킴으로써 에미터 영역을 형성하는 단계;
    에미터 전극과 베이스 전극을 형성하기 위한 창을 열고 상기 에미터 영역과 접촉되는 에미터 전극과 상기 베이스 영역과 접촉되는 베이스 전극 및 콜렉터와 접촉되는 콜렉터 전극을 형성하는 단계로 구성되는 것을 특징으로 하는 바이폴라 트랜지스터의 제조 방법.
  2. 제1 도전형 반도체 기판;
    상기 기판 위로부터 소정 깊이로 형성되어 있는 제2 도전형의 고농도 베이스 영역;
    상기 제2 도전형의 고농도 베이스 영역을 열확산시켜 그 주위에 형성된 제2 도전형 저농도 베이스 영역;
    상기 제2 도전형 저농도 베이스 영역 상부를 중심으로 하여 그 주변의 상기제2 도전형 고농도 베이스 영역에 걸쳐 상기 기판 표면으로부터 소정 깊이로 형성되어 있는 제1 도전형의 에미터 영역으로 구성되는 것을 특징으로 하는 바이폴라 트랜지스터.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH03120727A (ja) * 1989-10-03 1991-05-22 Sony Corp 半導体装置

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