KR100377311B1 - 광기록 방법 및 광기록 장치 - Google Patents

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Abstract

큰 기록 마크를 형성할 수 있는 미리 결정된 광 빔에 의해, 광기록 매체의 특정 트랙의 인접 트랙에 반전 패턴을 기록한다. 그 후, 특정 트랙에서의 반전 패턴에 인접하는 영역에 정회전 패턴(normal pattern)을 광 빔의 기록 강도를 변화시키면서 기록한다. 각각의 광 빔 조건에 대응하여, 특정 트랙을 재생시켜 복수의 판독 신호를 검출한다. 또한, 각각의 광 빔 조건에 대응하여, 인접 트랙을 재생시켜 복수의 판독 신호를 검출한다. 상기 복수의 광 빔 조건과, 특정 트랙 및 인접 트랙의 판독 신호에 기초하여 특정 트랙에 있어서의 최적 기록 조건을 결정하고, 상기 최적 기록 조건으로 특정 트랙에 정보를 기록한다. 이에 따라, 상호 인접하는 트랙사이에 기록 감도의 차이가 존재하는 경우에도, 기록 마크의 폭을 최적으로 제어하고, 신호 재생시의 트랙사이의 크로스토크나 신호 기록 시의 크로스 소거를 최소한으로 억제하여, 트랙의 고밀도화를 실현할 수 있다.

Description

광기록 방법 및 광기록 장치{OPTICAL RECORDING METHOD AND OPTICAL RECORDING DEVICE}
본 발명은, 광기록 매체에 대해 정보를 기록하는 광기록 방법 및 광기록 장치에 관한 것으로, 특히 기록 조건을 안정적으로 최적화할 수 있는 광기록 방법 및 광기록 장치에 관한 것이다.
최근, 광 디스크의 고밀도화의 연구가 점점 활발히 진행되고 있지만, 광 디스크에 조사하는 광 빔의 기록광량이나, 광자기 디스크에 인가하는 외부 인가 자계의 기록 자계 강도등의 기록 조건이 변화하면, 기록 마크의 폭(트랙과 직각인 방향)이 변동하여 똑같은 기록을 할 수 없기 때문에, 고밀도 기록이 곤란하다는 문제점이 있었다.
이 해결 방법으로서, 특개평11-73700호 공보(1999년 3월 16일 공개; USP6, 125, 085에 대응)에 개시된 기록광량 및 기록 자계 강도의 제어 방법이 있다. 이 방법으로는, 특정 트랙(기록 파워의 최적화를 행하는 트랙)에 제1 테스트 패턴을 기록한 후, 인접하는 트랙에, 제1 테스트 패턴을 기록했을 때와 동일한 기록광량 또는 기록 자계 강도로 제2 테스트 패턴을 기록하고, 특정 트랙을 재생시킨다. 이 재생 신호의 진폭 레벨은, 재생시에 있어서의 크로스토크나, 인접하는 트랙으로부터의 크로스 소거[cross-erase]의 영향을 가미한 진폭 레벨이 되기 때문에, 이 재생 신호의 진폭 레벨로부터 최적의 기록광량 및 기록 자계 강도를 설정할 수 있다.
또한, 특개평10-69639호 공보(1998년 3월 10일 공개)에는 랜드·그루브 기록을 행하는 경우의 기록 방법에 대해 기재되어 있다. 여기서는, 광기록 매체의 소정 트랙 및 그것에 인접하는 트랙을 우선 소거한다. 이어서, 인접 트랙에 기록 파워를 변화시켜 소정의 정보를 기록한다. 계속해서, 상기 소정 트랙을 재생시켜 재생 신호 레벨을 검출한다. 그리고 그 재생 신호 레벨과 상기 기록 파워를 관련시키고, 재생 신호 레벨이 급격히 증대하는 기록 파워를, 상기 소정 트랙에서의 최적의 기록 파워로 설정한다.
또, 이 특개평10-69639호 공보의 제5 실시의 형태(〔0071〕∼〔0073〕단락) 에는 랜드·그루브 양방으로 최적 기록 파워를 구하는 것이 기재되어 있다. 여기서는, 예를 들면 랜드의 기록 파워를 구할 때에, 그루브에 대해 신호를 기록하고, 그 후 랜드를 재생시켜 재생 신호 레벨이 급격히 증대하는 기록 파워를 랜드의 최적 기록 파워라고 한다.
그런데, 상기된 특개평11-73700호 공보에 기재된 방법으로는, 특정 트랙으로의 최적의 기록광량 및 기록 자계 강도를 설정하기 위해, 특정 트랙(기록 파워의 최적화를 행하는 트랙)의 재생시에 있어서의 크로스토크를 이용하고 있다. 이것은 인접하는 트랙에서의 기록 동작에 따라, 특정 트랙에 끼치는 영향을 나타내고, 특정 트랙에서의 기록 동작이, 인접하는 트랙에 끼치는 영향을 나타내는 것은 아니다.
따라서, 특정 트랙과 인접하는 트랙사이에 기록 감도차가 존재하면, 기록광량 및 기록 자계 강도를 최적으로 설정할 수 없다고 하는 문제가 있었다.
또한, 특개평10-69639호 공보에 기재하는 방법도, 마찬가지로, 인접하는 트랙에서의 기록 동작에 따라 특정 트랙(기록 파워의 최적화를 행하는 트랙)에 끼치는 영향을 특정 트랙을 재생시킴으로써 검출하고, 이에 따라 특정 트랙에서의 최적의 기록 파워를 구하고, 특정 트랙과 인접하는 트랙에 기록 감도차가 존재하면, 기록광량 및 기록 자계 강도를 최적으로 설정할 수 없다.
본 발명은, 상기된 바와 같은 문제를 해결하기 위해 이루어진 것으로, 그 목적은, 인접하는 트랙 간에 기록 감도의 차이가 존재하는 경우에도, 기록 마크의 폭을 최적으로 제어하고, 신호 재생 시의 트랙 간의 크로스토크나, 신호 기록 시의 크로스 소거(기록 마크 단부가 인접 트랙의 기록광의 유출[spillover]에 의해 소거되는 현상)를 최소한으로 억제하고, 트랙의 고밀도화를 실현할 수 있는, 광기록 방법 및 광기록 장치를 제공하는 것에 있다.
상기된 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 따른 제1 광기록 방법은, 광기록 매체에 정보를 기록하는 광기록 방법으로서, 트랙 폭보다도 넓은 기록 마크를 형성할 수 있는 미리 결정된 기록 조건으로, 광기록 매체의 제1 트랙에 제1 테스트 패턴을 기록하는 단계와, 제1 테스트 패턴의 기록 후에, 제1 트랙과 인접하는 제2 트랙에서의 제1 테스트 패턴의 기록 영역에 인접하는 영역에, 제2 테스트 패턴을, 복수의 기록 조건으로 기록하는 단계와, 상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 제1 트랙을 재생시켜 제1 판독 신호를 검출하는 단계와, 상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 제2 트랙을 재생시켜 제2 판독 신호를 검출하는 단계와, 상기 복수의 기록 조건과, 제1 판독 신호 및 제2 판독 신호에 기초하여, 제2 트랙에서의 최적 기록 조건을 결정하는 단계와, 상기 최적 기록 조건으로, 제2 트랙에 정보를 기록하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기된 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 따른 제1 광기록 장치는, 광기록 매체에, 적어도 광 빔을 조사하여, 정보를 기록하는 광기록 장치로서, 제2 트랙으로의 기록 조건을 설정할 때에, 트랙 폭보다도 넓은 기록 마크를 형성할 수 있는 미리 결정된 기록 조건으로 광기록 매체의 제1 트랙에 제1 테스트 패턴을 기록함과함께, 제1 테스트 패턴의 기록 후에, 제1 트랙과 인접하는 제2 트랙에서의 제1 테스트 패턴의 기록 영역에 인접하는 영역에, 제2 테스트 패턴을 복수의 기록 조건으로 기록하는 기록 수단과, 상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 제1 트랙을 재생시켜 제1 판독 신호를 검출함과 함께, 상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 제2 트랙을 재생시켜 제2 판독 신호를 검출하는 판독 수단과, 상기 복수의 기록 조건과, 제1 판독 신호 및 제2 판독 신호에 기초하여, 제2 트랙에서의 최적 기록 조건을 결정하는 최적 기록 조건 설정 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
상기 제1 광기록 방법 및 광기록 장치에서는, 제2 트랙에 정보를 기록하는 것에 있어서, 트랙 폭보다도 넓은 기록 마크를 형성할 수 있는 미리 결정된 기록 조건으로 제1 트랙에 제1 테스트 패턴을 기록한 후, 제2 트랙에 복수의 기록 조건으로 제2 테스트 패턴을 기록하고, 상기 복수의 조건과, 제2 트랙으로부터 검출한 제2 판독 신호 및 제1 트랙으로부터 검출한 제1 판독 신호에 기초하여, 제2 트랙의 최적 기록 조건을 결정한다.
이에 따라, 제2 트랙으로부터 검출한 제2 판독 신호에 기초하여 충분한 재생 신호를 얻을 수 있는 조건을 구함과 함께, 제1 트랙으로부터 검출한 제1 판독 신호에 기초하여 크로스 소거가 생기지 않은 조건을 구하고, 이들 조건을 만족하도록 제2 트랙의 최적 기록 조건을 설정할 수 있다. 그 때문에, 제1 트랙과 제2 트랙사이에 기록 감도의 차이가 생겼다고 해도, 제2 트랙의 기록 조건을 적절한 기록 조건으로 설정할 수 있다. 그 결과, 신호 재생시의 트랙 간의 크로스토크나, 신호 기록시의 인접 트랙으로의 크로스 소거를 최소한으로 억제하여, 트랙 밀도의 고밀도화를 실현할 수 있다.
본 발명에 따른 제2 광기록 방법은, 광기록 매체에 정보를 기록하는 광기록 방법으로서, 트랙 폭보다도 넓은 기록 마크를 형성할 수 있는 미리 결정된 기록 조건으로, 광기록 매체의 제1 트랙에 제1 테스트 패턴을 기록하는 단계와, 제1 테스트 패턴의 기록 후에, 제1 트랙과 인접하는 제2 트랙에서의 제1 테스트 패턴의 기록 영역에 인접하는 영역에, 제2 테스트 패턴을, 복수의 기록 조건으로 기록하는 단계와, 상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 제2 트랙을 재생시켜 제2 판독 신호를 검출하는 단계와, 제2 판독 신호가 소정의 상태가 되는 기록 조건인 제2 기록 조건을 구하고, 그 제2 기록 조건에 대해 연산을 가함으로써, 제2 기록 조건보다도 큰 기록 마크를 형성할 수 있는 기록 조건을 구하여 이 기록 조건을 최적 기록 조건으로 결정하는 단계와, 상기 최적 기록 조건으로, 제2 트랙에 정보를 기록하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 제2 광기록 장치는, 광기록 매체에, 적어도 광 빔을 조사하여, 정보를 기록하는 광기록 장치로서, 제2 트랙으로의 기록 조건을 설정할 때에, 트랙 폭보다도 넓은 기록 마크를 형성할 수 있는 미리 결정된 기록 조건으로 광기록 매체의 제1 트랙에 제1 테스트 패턴을 기록함과 함께, 제1 테스트 패턴의 기록 후에, 제1 트랙과 인접하는 제2 트랙에서의 제1 테스트 패턴의 기록 영역에 인접하는 영역에, 제2 테스트 패턴을 복수의 기록 조건으로 기록하는 기록 수단과, 상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 제2 트랙을 재생시켜 제2 판독 신호를 검출하는 판독 수단과, 제2 판독 신호가 소정의상태가 되는 기록 조건인 제2 기록 조건을 구하고, 그 제2 기록 조건에 대해 연산을 가함으로써, 제2 기록 조건보다도 큰 기록 마크를 형성할 수 있는 기록 조건을 구하여 이 기록 조건을 최적 기록 조건으로 결정하는 최적 기록 조건 설정 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
상기 제2 광기록 방법 및 광기록 장치에서는, 제2 트랙에 정보를 기록할 때에, 트랙 폭보다도 넓은 기록 마크를 형성할 수 있는 미리 결정된 기록 조건으로 제1 트랙에 제1 테스트 패턴을 기록한 후, 제2 트랙에 복수의 기록 조건으로 제2 테스트 패턴을 기록하고, 제2 트랙으로부터 검출된 제2 판독 신호가 소정의 상태가 되는 제2 기록 조건에 연산을 가함으로써 제2 기록 조건보다도 큰 기록 마크를 형성할 수 있는 기록 조건을 구하고, 이 기록 조건을 제2 트랙의 최적 기록 조건으로 결정한다. 이에 따라, 제2 트랙으로부터 충분한 재생 신호를 얻을 수 있는 기록 조건을 제2 트랙의 최적 기록 조건으로 설정할 수 있다.
본 발명에 따른 제3 광기록 방법은, 광기록 매체에 정보를 기록하는 광기록 방법으로서, 트랙 폭보다도 넓은 기록 마크를 형성할 수 있는 미리 결정된 기록 조건으로, 광기록 매체의 제1 트랙에 제1 테스트 패턴을 기록하는 단계와, 제1 테스트 패턴의 기록 후에, 제1 트랙과 인접하는 제2 트랙에서의 제1 테스트 패턴의 기록 영역에 인접하는 영역에, 제2 테스트 패턴을, 복수의 기록 조건으로 기록하는 단계와, 상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하고, 제1 트랙을 재생시켜 제1 판독 신호를 검출하는 단계와, 제1 판독 신호가 소정의 상태가 되는 기록 조건인 제1 기록 조건을 구하고, 그 제1 기록 조건에 대해 연산을 가함으로써, 제1 기록 조건보다도 작은 기록 마크를 형성할 수 있는 기록 조건을 구하여 이 기록 조건을 최적 기록 조건으로 결정하는 단계와, 상기 최적 기록 조건으로, 제2 트랙에 정보를 기록하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 제3 광기록 장치는, 광기록 매체에, 적어도 광 빔을 조사하여, 정보를 기록하는 광기록 장치로서, 제2 트랙으로의 기록 조건을 설정할 때에, 트랙 폭보다도 넓은 기록 마크를 형성할 수 있는 미리 결정된 기록 조건으로 광기록 매체의 제1 트랙에 제1 테스트 패턴을 기록함과 함께, 제1 테스트 패턴의 기록 후에, 제1 트랙과 인접하는 제2 트랙에서의 제1 테스트 패턴의 기록 영역에 인접하는 영역에, 제2 테스트 패턴을 복수의 기록 조건으로 기록하는 기록 수단과, 상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 제1 트랙을 재생시켜 제1 판독 신호를 검출하는 판독 수단과, 제1 판독 신호가 소정의 상태가 되는 기록 조건인 제1 기록 조건을 구하고, 그 제1 기록 조건에 대해 연산을 가함으로써, 제1 기록 조건보다도 작은 기록 마크를 형성할 수 있는 기록 조건을 구하여 이 기록 조건을 최적 기록 조건으로 결정하는 최적 기록 조건 설정 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
상기 제3 광기록 방법 및 광기록 장치에서는, 제2 트랙에 정보를 기록할 때에, 트랙 폭보다도 넓은 기록 마크를 형성할 수 있는 미리 결정된 기록 조건으로 제1 트랙에 제1 테스트 패턴을 기록한 후, 제2 트랙에 복수의 기록 조건으로 제2 테스트 패턴을 기록하고, 제1 트랙으로부터 검출된 제1 판독 신호가 소정의 상태가 되는 제1 기록 조건에 연산을 가함으로써 제1 기록 조건보다도 작은 기록 마크를형성할 수 있는 기록 조건을 구하고, 이 기록 조건을 제2 트랙에서의 최적 기록 조건으로 결정한다. 이에 따라, 제2 트랙으로부터 제1 트랙으로의 크로스토크가 생기지 않은 기록 조건을 제2 트랙의 최적 기록 조건으로 설정할 수 있다.
본 발명의 또 다른 목적, 특징, 및 우수한 점은, 이하에 나타내는 기재된 것에 의해 충분히 알 수 있을 것이다. 또한, 본 발명의 이점은, 첨부 도면을 참조한 다음의 설명에서 명백해질 것이다.
도 1의 a∼도 1의 d는 실시의 형태1에 있어서의 기록 조건을 제어하는 방법을 설명하는 도면.
도 2는 실시의 형태1에 있어서의 트랙 Tr(n), 트랙 Tr(n+1)로부터의 판독 신호의 신호 진폭을 나타내는 그래프.
도 3은 실시의 형태1에 있어서의 기록 조건을 제어하는 방법을 설명하는 플로우도.
도 4는 실시의 형태2에 있어서의 트랙 Tr(n), 트랙 Tr(n+1)로부터의 판독 신호의 신호 진폭을 설명하는 그래프.
도 5는 실시의 형태2에 있어서의 기록 조건을 제어하는 방법을 설명하는 플로우도.
도 6의 a∼도 6의 d는 실시의 형태3에 있어서의 기록 조건을 제어하는 방법을 설명하는 도면.
도 7은 실시의 형태3에 있어서의 트랙 Tr(n), 트랙 Tr(n+1)로부터의 판독 신호의 신호 진폭을 나타내는 그래프.
도 8은 실시의 형태3에 있어서의 트랙 Tr(n), 트랙 Tr(n+1)로부터의 판독 신호의 신호 진폭의 다른 예를 나타내는 그래프.
도 9는 본 발명에 있어서의 기록 조건을 제어하는 장치의 구성예를 나타내는 블럭도.
도 10a는 도 9에 있어서의 클럭 추출 회로의 구성을 나타내는 도면.
도 10b 및 도 10c는 도 10a에 있어서의 클럭 추출 회로의 동작을 설명하는 파형도.
도 11은 실시의 형태3에 있어서의 기록 조건을 제어하는 방법을 설명하는 플로우도.
도 12는 종래 기술에 있어서의 기록광량에 대한 재생 신호 진폭의 변화를 설명하는 그래프.
도 13은 인접하는 트랙 간에서의 기록 위치의 어긋남을 설명하는 그래프.
도 14의 a∼도 14의 c는 실시의 형태4에 있어서의 기록 조건을 제어하는 방법을 설명하는 도면.
도 15는 실시의 형태4에 있어서의 트랙 Tr(n)의 신호 진폭 V(n)를 설명하는 그래프.
도 16은 실시의 형태4에 있어서의 기록 조건을 제어하는 방법을 설명하는 플로우도.
도 17은 실시의 형태5에 있어서의 정규화된 신호 진폭 V(n), V(n+1)를 설명하는 그래프.
도 18은 실시의 형태6에 있어서의 기록 조건을 제어하는 방법을 설명하기 위한, 신호 진폭 V(n+1)의 기록광량 의존성을 나타내는 그래프.
도 19a 및 도 19b는 틸트 및 신호 진폭의 주위 내 변동(circumferential variation)을 설명하는 그래프.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
40 : 광자기 디스크
41 : 반도체 레이저
46 : CPU
47 : 구동 회로
48 : 스위치 회로
49 : 재생 광량 설정 회로
50 : 기록광량 설정 회로
51 : 자기 헤드
53 : 테스트 패턴 발생 회로
52 : 구동 회로
(실시의 형태1)
본 발명의 실시의 일 형태에 대해, 광자기 기록을 행하는 광기록 방법 및 광기록 장치를 예로 들어, 도 1의 a∼도 1의 d, 도 2, 및 도 3에 기초하여 설명한다.
또한, 여기서는, 광자기 기록 중 자계 변조 기록을 행하는 경우에 대해 설명한다. 자계 변조 기록에 있어서 최적화해야 할 기록 조건으로는, 기록광량(기록시에 광기록 매체에 조사하는 광 빔의 광량)이나 기록 자계 강도(기록시에 광기록 매체에 인가하는 자계의 강도) 등이 있지만, 설명의 편의상, 자계 변조 기록에 있어서의 기록광량의 최적화의 경우에 대해 설명한다. 한편, 기록 자계 강도의 최적화는, 거의 마찬가지로 설명할 수 있기 때문에 마지막으로 간단히 설명한다. 따라서, 이후에는 기록 자계 강도를 일정하다고 하여, 기록광량을 변화시키면서 최적의 기록광량을 구하는 경우를 예로 들어 설명한다.
본 발명에서는, 특정 트랙 상의 기록 마크의 폭과, 인접 트랙에 기록 마크가 얼마만큼 유출되었는지를 판독 신호량(재생 신호량)으로 검출함으로써, 특정 트랙에서의 기록 마크의 폭을 최적화한다. 즉, 최적의 기록광량을 구한다. 그리고, 그 최적 기록광량에 기초하여 특정 트랙에 정보를 기록한다. 여기서, 기록광량의 최적화는 정보의 기록 동작을 행할 때마다 실행하는 것이 바람직하지만, 이것에 한하는 것은 아니고, 예를 들면, 기록 매체를 장치 내로 장전했을 때에 실행하여도 좋다.
또, 최적 광량 설정 후의 기록 동작은 일반적으로 알려진 동작과 동일하기 때문에, 이하에서는 본 발명의 특징 부분인 최적 광량의 설정 방법(장치)에 대해 설명한다.
또한, 여기서는 광자기 기록 매체의 복수의 트랙 Tr 내의 트랙 Tr(n)에서의 최적인 기록광량을 구하는 경우에 대해 설명하지만, 물론 다른 트랙에 대해서도 마찬가지로 구할 수 있다. 기록광량의 설정은 각 트랙에서 적어도 1회 행하는 것이 바람직하지만, 예를 들면 랜드, 그루브 기록의 경우에는, 랜드와 그루브 각각에 있어서 적어도 1회 기록광량의 설정을 행하면, 반드시 모든 트랙에서 행할 필요는 없고, 복수 트랙마다라도 좋다.
우선, 본 실시의 형태에 있어서의 특징 부분인 기록광량의 최적화의 원리에 대해 설명한다.
(제1 단계)
우선, 도 1의 a에 도시된 바와 같이, 광 빔(1)으로, 최적 광량의 설정 대상인 제2 트랙으로서의 트랙 Tr(n)에 인접하는 트랙 Tr(n-1) 및 Tr(n+1)을 소거한다. 광 빔(1)은, 그에 따라 소거하는 소거 영역(2)의 폭이 트랙 폭보다도 커지는 높은광량으로 설정해 둔다. 여기서, 트랙 Tr(n-1) 및 Tr(n+1)을 소거한다는 것은, 인접 트랙 Tr(n-1) 및 Tr(n+1)에, 제1 테스트 패턴으로서의 소거 패턴을 기록하는 것과 동일하다.
또, 도 1의 a∼도 1의 d에 있어서, 트랙 Tr(n) 및 Tr(n+2)은, 고밀도 트랙의 방식으로서 잘 알려져 있는 랜드/그루브 기록에 있어서는 예를 들면 그루브이고, 트랙 Tr (n-1) 및 Tr(n+1)은 예를 들면 랜드이다.
(제2 단계)
이어서, 도 1의 b에 도시된 바와 같이, 어떤 광량의 광 빔(3)(여기서는 적은 광량)으로 Tr(n), Tr(n+2)에 기록 자계를 반전시키면서, 소정 패턴의, 트랙 폭보다도 좁은 폭(트랙과 직각인 방향의 치수)을 갖는 기록 마크(4)를 형성한다.
(제3 단계)
이어서, 제1 트랙으로서의 트랙 Tr(n)을 판독하여 판독 신호(제2 판독 신호 : 5)를 검출한다. 여기서는, 판독 신호(5)의 진폭을 검출한다. 도 1의 b에서는 기록 마크(4)의 폭은 좁기 때문에, 상기 판독 신호(5)의 진폭 V1은 작아진다.
(제4 단계)
계속해서, 트랙 Tr(n+1)을 판독하여 판독 신호(제1 판독 신호 : 6)를 검출한다. 여기서는, 판독 신호(6)의 진폭을 검출한다. 도 1의 b에서는 기록 마크(4)가 트랙 폭보다도 넓어지는 일이 없기 때문에, 기록 마크(4)의 유출은 없어, 판독 신호(6)의 진폭 V2는 0이 된다.
(제5 단계)
상술된 (제2 단계)∼(제4 단계)을, (제2 단계)에 있어서의 기록광량을 변화시켜 반복한다. 도 1의 c는, 도 1의 b의 경우보다도 광량을 증대시킨 광 빔(7)에 의해 기록을 행하고, 기록 마크(8)의 단부가 대략 트랙의 단부에 접하고 있다. 이 때, 트랙 Tr(n)의 판독 신호(9)의 진폭 V3은 커지지만, 트랙 Tr(n+1)로의 기록 마크(8)의 유출의 영향이 거의 없으므로, 트랙 Tr(n+1)로부터 의 판독 신호(10)의 진폭 V4는 0인 상태이다. 도 1의 d는 더욱 광량을 올린 경우(광 빔 : 11)이고, 트랙 Tr(n)과 Tr(n+2)의 기록 마크(12)의 단부는 인접 트랙 Tr(n+1)로 유출되어, 폭은 넓어진다. 이 때문에, 트랙 Tr(n)로부터 판독된 신호(13)의 진폭 V5는 커서, 트랙 Tr(n+1)로부터 판독된 신호(14)의 진폭 V6도 커진다.
(제6 단계)
이어서, 상기된 트랙 Tr(n), Tr(n+1)로부터의 판독 신호(구체적으로는 진폭 V(n), V(n+1))와 기록광량을 관련시킨다.
도 2는, 도 1의 b의 기록 조건(조건 (b)), 도 1의 c의 기록 조건(조건 (c)), 및 도 1의 d의 기록 조건(조건 (d))에 있어서의 트랙 Tr(n)·Tr(n+2) 기록 후의, 트랙 Tr(n)의 판독 신호의 진폭의 변화 V(n)와 인접 트랙 Tr(n+1)의 판독 신호의 진폭의 변화 V(n+1)를, 기록광량의 증가에 대해 플롯한 것이다. 기록광량이 낮을 때 (도 1의 b)는 신호 진폭 V(n), V(n+1) 모두 작다. 그런데, 기록광량의 증가에 따라 점차로 기록 마크의 폭이 넓어지고, 우선은 신호 진폭 V(n)가, 그리고 다음에 V(n+1)가 증가한다. 신호 진폭 V(n)가 큰 것은 트랙 Tr(n)로의 기록 마크의 폭이 넓은 것을 의미하고, 신호 진폭 V(n+1)이 큰 것은 트랙 Tr(n)로의 기록 마크의 폭이 너무 넓어지고, 인접 트랙 Tr(n+1)로의 기록 마크의 유출이 큰 것을 뜻하고 있다.
따라서, (1) 신호 진폭 V(n)가 큰 조건, 예를 들면 대략 최대치, 최대치로부터 소정 비율 이상(최대치에 대해 소정의 비율이 되는 값 이상), 소정치 이상등의 조건, 및 (2) 신호 진폭 V(n+1)가 작은 조건, 예를 들면 대략 0, 최대치로부터 소정 비율 이하(최대치에 대해 소정의 비율이 되는 값 이하), 소정치 이하등의 조건의 양방을 만족하는 기록광량을 최적 기록광량으로 하면, 적정한 기록광량을 얻을 수 있다.
상기 각 조건을 만족하는 기록광량에 범위가 있는 경우에는, 여러 오차의 영향에 대해 가장 여유를 갖을 수 있도록, 범위의 중심의 기록광량(수치군의 중앙치[median])을 최적 기록광량으로 하는 것이 바람직하다.
이와 같이, 본 실시의 형태에 따르면, 기록광량을 최적으로 제어할 수 있다. 또한, 자계 변조 기록에 있어서 기록광량이 변화해도 기록 마크의 길이는 변화하지 않기 때문에, 판독 신호의 변화를 검출함으로써 기록 마크의 폭만을 최적화할 수 있다.
도 3은, 도 1의 a∼도 1의 d에 도시된 기록 조건 설정 방법의 구체적 동작을 설명하는 플로우차트이다. 이것에 기초하여 구체적 처리를 설명한다.
우선, 미리 인접 트랙 Tr(n-1)과 Tr(n+1)에, 높은 기록광량에 의해 소거 패턴(제1 테스트 패턴)을 기록한다(S1). 이 때의 기록 영역은, 예를 들면 미리 결정된 기록광량 설정 영역으로 한다. 이어서, 기록광량을 낮은 초기치로세트한다(S2). 다음에, 트랙 Tr(n) 및 Tr(n+2)에, S2로써 세트한 기록광량을 갖고 테스트 패턴(제2 테스트 패턴)을 기록한다(S3). 다음에, 소정의 재생 광량으로 세트한다(S4). 다음에, 트랙 Tr(n)의 테스트 패턴을 판독하고, 판독 신호(제2 판독 신호 : 5)의 신호 진폭을 검출한다(S5). 이어서, 이 때의 기록광량과 신호 진폭을 관련시켜 기억한다(S6). 다음에, 트랙 Tr(n+1)을 판독하고, 판독 신호(제1 판독 신호 : 6)의 신호 진폭을 검출한다(S7). 다음에, 이 때의 기록광량과 신호 진폭을 관련시켜 기억한다(S8). 이어서, 기록광량을 소정량만큼 높인다(S9). 기록광량이 테스트 범위를 넘었는지를 판단한다(S10). S10에서, 기록광량이 테스트 범위를 넘지 않는 경우에는, S3으로 복귀되어, 다시 테스트 패턴을 기록한다. S10에서, 기록광량이 테스트 범위를 넘은 경우에는, S6과 S8에서 기억한 신호 진폭 중에서 상술된 조건을 만족하는 기록광량의 범위를 찾는다(S11). 다음에, 그 범위 중심의 기록광량을 최적 기록광량으로 결정한다(S12).
이상 설명된 바와 같이, 본 실시의 형태에서는 트랙 Tr(n)의 기록 조건을 설정하는데, 트랙 Tr(n)의 진폭 V(n)를 검지함으로써 트랙 Tr(n)로부터 충분한 판독 신호를 얻기 위한 조건을 얻음과 함께, 트랙 Tr(n)에 인접하는 트랙 Tr(n+1)의 진폭 V(n+1)를 검지함으로써 트랙 Tr(n)로부터 기록 비트가 유출되지 않는 조건을 얻고 있다. 이 때문에, 그루브/랜드 기록과 같은 트랙 Tr(n)과 트랙 Tr(n+1)의 기록 감도가 다른 경우에도 정확하게 기록 조건을 얻을 수 있다.
또, 본 실시의 형태의 기록광량의 최적화 방법(제어 방법)은, 상기된 것에 한하는 것은 아니고, 여러 변형이 가능하다. 예를 들면, 상기된 S1 후, 트랙Tr(n), Tr(n+2)의 각각 다른 영역에 복수의 기록광량으로 테스트 패턴을 기록하고, 그 후 트랙 Tr(n), Tr(n+1)에 있어서의 상기 복수의 테스트 패턴의 전부를 판독하여 최적의 기록 조건을 구하도록 해도 좋다. 또한, 트랙 Tr(n), 트랙 Tr(n+1)로부터의 판독 신호 진폭의 검출 및 그 진폭의 기록광량과의 관련된 단계는, 당연히 교체해도 상관없다.
또한, 본 실시의 형태에서는 Tr(n-1), Tr(n+2)에 테스트 패턴(소거 패턴도 포함함)을 기록하고 있지만, 반드시 필요하지는 않다. 단, Tr(n-1), Tr(n+2)에 테스트 패턴(소거 패턴도 포함함)을 기록해 두면, 판독 신호 진폭 V(n), V(n+1)를 증대시킬 수 있다.
또한, 여기서는 기록광량의 최적화(설정)에 대해 진술했지만, 기록 자계 강도를 최적화할 때는, 우선 기록광량을 일정하게 해 두고, 기록 자계 강도를 서서히 증가시키면서, 상기된 동작을 행함으로써, 판독 신호의 진폭의 변화에 따라, 기록 마크의 폭을 최적으로 제어할 수 있다.
(실시의 형태2)
본 발명의 다른 실시의 형태에 대해, 도 4 및 도 5에 기초하여 설명한다. 단, 실시의 형태1과 동일한 부분에 대해서는 설명을 생략 또는 간략화한다.
실시의 형태1에서 진술한 방법은, 트랙 Tr(n)의 신호 진폭의 변화와 인접 트랙 Tr(n+1)의 신호 진폭의 변화를 검출하고, 이들에 기초하여 최적의 광량을 구했지만, 이 실시의 형태1의 방법으로는 최적 광량의 설정이 불가능해지는 경우가 있다.
도 4는, 도 1의 b의 기록 조건(조건 (b)), 도 1의 c의 기록 조건(조건 (c)), 및 도 1의 d의 기록 조건(조건 (d))에 있어서의 트랙 Tr(n) 및 Tr(n+2)에 기록 마크를 기록 후의, 트랙 Tr(n)의 판독 신호의 진폭 V(n)의 변화와 인접 트랙 Tr(n+1)의 판독 신호의 진폭 V(n+1)의 변화를, 기록광량의 증가에 대해 플롯한 것이다. 트랙 Tr(n)로의 기록광량이 커지면, 기록 마크의 폭이 커지기 때문에, 우선은 신호 진폭 V(n)가 증가해가고, 인접 트랙 Tr(n+1)의 신호 진폭 V(n+1)도, 기록 마크의 유출의 영향을 받아 증가해간다.
실시의 형태1에서는, 소정의 신호 진폭 A0을 임계치로 하고, 인접 트랙 Tr(n+1)의 신호 진폭 V(n+1)가 신호 진폭 A0이 되는 조건을 기록 마크의 유출의 영향을 받지 않은 최적 기록광량의 상한으로서 결정하는 것을 생각할 수 있다. 그러나, 이와 같이 기록 마크의 유출의 영향을 받는 것을 판정하기 위한 임계치로서, 소정의 신호 진폭 A0을 설치했을 때, 레이저의 기록광량의 최대치에 제한이 있는 경우나, 광기록 매체의 기록 감도에 변동이 있는 경우에는, 기록광량을 최대로 해도, 인접 트랙 Tr(n+1)의 신호 진폭이 신호 진폭 A0까지 증가하지 않은 경우가 있다. 실시의 형태1에서는, 이러한 경우에 문제점이 생긴다.
그래서, 본 실시의 형태에서는, 상술된 바와 같은 경우에, 트랙 Tr(n)의 신호 진폭 V(n)의 변화만을 이용하여 최적의 광량을 구한다. 이하에 설명한다.
도 4를 참조하여, 신호 진폭 V(n)의 변화로 신호 진폭이 큰 기록광량에서는, 트랙 Tr(n)에 충분한 폭의 마크를 기록할 수 있다. 그러나, 신호 진폭 V(n)가 최대가 되는 기록광량에서는, 트랙 Tr(n)의 폭보다도 큰 마크를 기록하고, 인접 트랙Tr(n+1)에 유출의 영향을 줄 가능성이 있다. 그 때문에, 여기서는, 신호 진폭 V(n)의 최대치보다도 조금 작은 신호 진폭 Al을 임계치로 하고, 신호 진폭 V(n)가 신호 진폭 A1이 되는 기록광량 Px를, 트랙 Tr(n)로의 최적 기록광량의 하한으로서 검출한다. 그리고, 그 기록광량 Px에 기록 마크가 인접 트랙에 유출되지 않을 정도의 소정의 기록광량 Py를 가산함으로써, 트랙 Tr(n)로의 최적 기록광량 Pz(=Px+Py)를 구한다. 소정의 기록광량 Py는, 여러 오차의 영향에 대해 가장 큰 여유를 갖을 수 있도록 설정하는 것이 바람직하다.
또, 여기서는 Px에 소정치(Py)를 가산함으로써 최적의 기록광량을 구했지만, 예를 들면 소정 계수를 승산하는 등의 다른 소정의 연산을 행해서 구할 수도 있다.
도 5는, 상기된 기록 조건 설정 방법의 동작을 설명하는 플로우차트이다. 이하에 이 동작을 설명한다. 단, 여기서는, S1로부터 S10까지는, 실시의 형태1의 도 3의 플로우차트의 S1로부터 S10과 마찬가지이기 때문에 설명을 생략한다.
실시의 형태의 S10에 이어, S8에서 기억된, 테스트 범위 내에서의 최대 기록광량에 있어서의 신호 진폭이 소정의 신호 진폭 A0보다 큰지의 여부를 판단한다 (S20). S20에서, 소정의 신호 진폭 A0을 넘지 않는 경우에는, S6에서 기억된 기록광량과 신호 진폭 중에서, 신호 진폭 Al을 제공하는 기록광량을 검출한다(S21). S21에서 검출된 기록광량에 소정의 기록광량을 가산하고, 최적 기록광량을 결정한다(S22). S20에서, 상기 소정의 신호 진폭 A0을 넘는 경우에는, 도 3의 S11과 마찬가지로, S6과 S8에서 기억한 신호 진폭 중에서 소정 조건을 만족하는 기록광량의 범위를 찾는다(S23). 그 범위 중심의 기록광량을 최적 기록광량으로결정한다(S24).
이상 설명한 바와 같이, 본 실시의 형태의 기록 조건 설정 방법에 따르면, 레이저의 기록광량의 최대치에 제한이 있는 경우나, 광기록 매체의 기록 감도에 변동이 있는 경우에도 최적의 기록 조건을 구할 수 있다.
또, 본 실시의 형태에서는, 인접 트랙 Tr(n+1)의 신호 진폭 V(n+1)로부터 기록광량의 상한이 구해지지 않을 때에 트랙 Tr(n)의 신호 진폭 V(n)로부터만 최적 기록광량을 구했지만, 처음부터 트랙 Tr(n)의 신호 진폭 V(n)가 소정치가 되었을 때의 기록광량에 대해 소정의 연산을 가함으로써 최적의 기록광량을 구해도 좋다.
즉, 실시의 형태1의 최적 기록광량 설정 방법에 있어서, 인접 트랙 Tr(n+1)의 판독 신호(6)의 신호 진폭 V(n+1)의 검출을 행하는 제4 단계를 생략하고, 제6 단계를 대신하여, 설정 대상 트랙 Tr(n)의 판독 신호(5)의 신호 진폭 V(n)가 소정치가 되는 기록광량(제2 기록 조건)을 구하고, 그 기록광량에 대해 소정의 연산을 가함으로써, 그 기록광량보다도 큰 기록 마크를 형성할 수 있는 기록 조건을 구하여 최적 기록 조건으로 하는 단계를 행하여도 좋다.
이 경우, 기록 조건의 설정 시간을 단축할 수 있다.
또한, 기록 조건의 설정 시간을 단축한다는 관점으로 하면, 트랙 Tr(n+1)의 신호 진폭 V(n+1)가 소정치가 되었을 때의 기록광량에 대해 소정의 연산(소정치의 감산, 소정 계수의 승산등)을 가함으로써 최적의 기록광량을 구하는 것도 가능하다.
즉, 실시의 형태1의 최적 기록광량 설정 방법에 있어서, 설정 대상 트랙Tr(n)의 판독 신호(5)의 신호 진폭 V(n)의 검출을 행하는 제3 단계를 생략하고, 제6 단계를 대신하여, 인접 트랙 Tr(n+1)의 판독 신호(6)의 신호 진폭 V(n+1)가 소정치가 되는 기록광량(제1 기록 조건)을 구하고, 그 기록광량에 대해 소정의 연산을 가함으로써, 그 기록광량보다도 작은 기록 마크를 형성할 수 있는 기록 조건을 구하여 최적 기록 조건으로 하는 단계를 행하여도 좋다.
또, 기록 자계 강도를 최적화할 때는, 우선 기록광량을 일정하게 해두고, 기록 자계 강도를 서서히 증가시키면서, 상기된 동작을 행함에 따라, 판독 신호의 진폭의 변화에 따라, 기록 마크의 폭을 최적으로 제어할 수 있다.
(실시의 형태3)
본 발명의 다른 실시의 형태에 대해, 도 2, 도 6의 a∼도 6의 d, 도 7, 도 8, 도 9, 도 10a∼도 10c, 도 11, 도 12, 및 도 13에 기초하여 설명한다. 단, 상술된 각 실시의 형태와 동일한 부분에 대해서는 설명을 생략 또는 간략화한다.
실시의 형태1 및 2에서 진술한 방법은, 특정 트랙의 신호 진폭의 변화와, 인접 트랙으로의 유출을 판독한 신호 진폭의 변화에 따라, 간편하게 기록 마크의 폭을 제어하는 방법이다. 그러나, 도 2에 도시된 트랙 Tr(n+1)의 신호 진폭 V(n+1)의 변화가 작기 때문에, 검출 감도가 낮다.
그래서, 본 실시 형태에서는, 이 신호 진폭을 크게 변화시켜, 고감도로 최적 기록광량을 검출하는 방법에 대해 설명한다.
도 6의 a에 있어서, 미리 양 인접 트랙 Tr(n-1)과 Tr(n+1)에, 높은 기록광량의 광 빔(20)에 의해, 큰 (폭이 넓은) 기록 마크(21)(트랙 폭보다도 넓은 기록 마크)를 기록한다. 이 때, 후술된 외부 클럭 방식의 기록 클럭에 기초하여 기록이 행해진다. 이 기록 마크(21)의 기록 패턴은 후술된 트랙 Tr(n)과 Tr(n+2)에 기록하는 패턴을 반전한 것이다. 이후, 이 트랙 Tr(n-1)과 Tr(n+1)에 기록하는 패턴을 반전 패턴[reverse pattern](제1 테스트 패턴), 트랙 Tr(n)과 Tr(n+2)에 기록하는 패턴을 정회전 패턴[normal pattern](제2 테스트 패턴)이라고 한다.
이어서, 도 6의 b에 있어서, 낮은 기록광량의 광 빔(22)을 트랙 Tr(n)에 조사하면서, 기록 자계를 반전시켜, 정회전 패턴의 기록 마크(23)를 기록한다. 이 때, 후술된 외부 클럭 방식의 기록 클럭에 기초하여 정회전 패턴이 기록되기 때문에, 인접 트랙의 반전 패턴에 동기하여 기록이 행해진다. 인접 트랙의 기록 마크(21)의 폭이 넓을 때는, 기록 마크(23)의 기록시에 그 단부가 깎인다. 기록 마크(23)의 폭은 좁기 때문에, 트랙 Tr(n)의 판독 신호(24)의 진폭 V10은 작다. 또한 인접 트랙에는 반전 패턴의 기록 마크(21)가 기록되기 때문에, 재생 시의 크로스토크에 의해, 기록 마크(23)의 신호의 일부가 상쇄되고, 신호 진폭 V10은 한층 더 작아진다. 그에 대해, 기록 마크(21)의 폭이 크기 때문에, 트랙 Tr(n+1)의 판독 신호(25)의 진폭 V11은 크다.
그런데, 서서히 기록광량을 올리면서 상기된 동작을 반복하면, 기록 마크(23)의 폭은 서서히 넓어진다. 도 6의 c에 있어서, 광 빔(22)보다도 높은 기록광량의 광 빔(26)에 의해, 트랙 Tr(n), Tr(n+2)에 기록 마크(27)가 기록되고, 이것을 판독하면 진폭 V12의 판독 신호(28)가, 또한 인접 트랙 Tr(n+1)을 판독하면 진폭 V13의 판독 신호(29)를 얻을 수 있다.
기록광량을 올리면, 점차로 기록 마크(21)의 단부는 소거되고, 그 폭은 점차로 좁아진다. 또한, 인접 트랙의 기록 마크의 폭이 넓어지고, 크로스토크가 증대한다. 도 6의 d에 있어서, 광 빔(26)보다도 높은 기록광량의 광 빔(30)을 트랙 Tr(n)·Tr(n+2)에 조사하면서 정회전 패턴 기록하면, 트랙 폭보다도 넓은 기록 마크(31)가 기록된다. 이 판독 신호(32)의 진폭 V14는 커진다. 이 때, 기록 마크(21)의 단부는 자계 변조 기록에 의해 소거되고, 그 중앙 부분만이 남은 기록 마크(34)가 된다. 기록 마크(34)의 폭은 좁기 때문에, 판독된 신호(33)의 진폭 V15는 저하한다. 또한, 인접 트랙의 기록 마크(31)로부터의 크로스토크에 의해, 기록 마크(34)의 신호의 일부가 상쇄되고, 신호 진폭은 한층 더 작아진다. 즉, 높은 기록광량의 크로스 소거에 따른 신호 진폭의 감소는, 인접 트랙의 반전 패턴의 크로스토크에 의해 보다 한층 더 증폭된다.
도 6의 b, 도 6의 c, 및 도 6의 d에 도시된 판독 신호의 진폭을 도 7의 V(n), V(n+1)에 도시한다. 기록광량이 낮을 때의 신호 진폭 V(n)를 a1, 실시의 형태1 및 2에 있어서의 신호 진폭 V(n)를 a2로 하면, a1은 a2보다도 훨씬 작다. 이것은, 정회전 패턴의 기록 마크의 일부가 인접 트랙의 반전 패턴으로부터의 크로스토크에 의해 상쇄되었기 때문이다. 이 때, 인접 트랙의 반전 패턴의 신호 진폭 V(n+1)는 크다. 그리고, 기록광량을 올림에 따라 기록 마크의 폭이 넓어지고, 더욱 크로스토크도 감소한다. 이에 따라, 신호 진폭 V(n)는 점차로 증가한다. 또한 기록광량을 올리면, 점차로 반전 패턴의 기록 마크의 단부가 깎이고, 신호 진폭 V(n+1)는 크게 감소한다.
신호 진폭 V(n)가 크고, 또한 신호 진폭 V(n+1)도 커지는 기록광량에서는, 트랙 Tr(n)의 기록 마크의 폭은 넓고, 또한 인접 트랙으로부터의 크로스토크도 작다. 따라서, 이 조건을 만족하는 기록광량을 최적 기록광량이라고 하면 된다. 구체적으로는, 신호 진폭 V(n)가 예를 들면 대략 최대치, 최대치로부터 소정 비율이상, 소정치 이상등의 조건을 만족하고, 또한 신호 진폭 V(n+1)가 예를 들면 대략 최대치, 최대치로부터 소정 비율이상, 소정치 이상등의 조건을 만족하는 기록광량을 최적 기록광량이라고 하면 된다. 여기서, 상기 조건을 만족하는 기록광량의 범위의 중심을 최적 기록광량이라고 하면, 마진을 크게 취할 수 있어, 바람직하다.
이상과 같이, 인접 트랙에 반전 패턴을 기록함으로써, 실시의 형태1 및 2에 비해 신호 진폭의 변화량이 커져, 고감도로 검출하는 것이 가능해진다.
또, 마크의 유출의 영향을 받는 것을 판정하기 위한 임계치로서, 도 8에 도시된 바와 같이, 소정의 신호 진폭 A2를 설치할 때, 레이저의 기록광량의 최대치에 제한이 있는 경우나, 광기록 매체의 기록 감도에 변동이 있는 경우에는, 기록광량을 최대로 해도, 인접 트랙 Tr(n+1)의 신호 진폭이 신호 진폭 A2까지 감소하지 않는 경우가 있다. 그 때에는, 트랙 Tr(n)의 신호 진폭의 변화 V(n)만을 이용한다.
신호 진폭의 변화 V(n)로 신호 진폭이 최대가 되는 기록광량에서는, 트랙 Tr(n)의 폭보다도 큰 마크를 기록할 가능성이 있기 때문에, 도 8와 같이 신호 진폭의 최대치보다도 조금 작은 신호 진폭 A3을 제공하는 기록광량 Px를 검출하고, 그 기록광량 Px에 기록 마크가 인접 트랙으로 유출되지 않을 정도의 소정의 기록광량 Py를 가산함에 따라(또는 소정 계수를 승산하는 등의 소정의 연산을 행함), 트랙Tr(n)로의 최적 기록광량 Pz를 결정할 수 있다.
또, 여기서는, V(n+1)가 소정치 A2까지 감소하지 않은 경우에 V(n)로부터 최적 신호 광량을 구했지만, 처음부터 V(n)로부터만 구하도록 해도 좋다.
이상 설명한 본 실시의 형태에서는 Tr(n-1), Tr(n+2)에 테스트 패턴(소거 패턴도 포함함)을 기록하고 있지만, 반드시 필요하지는 않다. 단, Tr(n-1), Tr(n+2)에 테스트 패턴(소거 패턴도 포함함)을 기록해 두면, 판독 신호 진폭 V(n), V(n+1)를 증대시킬 수 있다.
이어서, 도 6의 a∼도 6의 d에 도시된 기록 조건 제어 방법을 행하기 위한 광기록 장치에 대해, 도 9에 기초하여 설명한다. 또, 상술된 실시의 형태1의 기록 조건 제어 방법을 행하기 위한 광기록 장치도 완전히 동일한 구성이다.
테스트 패턴 기록 시에는, CPU(46)(최적 기록 조건 설정 수단)로부터 제어 명령 c3이 기록광량 설정 회로(50)로 이송되고, 기록광량 제어 신호 p2가 출력된다. 이 기록광량 제어 신호 p2는, CPU(46)로부터의 스위치 명령 c2에 기초하여 스위치 회로(48)를 통해 구동 회로(47)로 이송된다. 이 구동 회로(47)로부터 출력되는 구동 전류 f에 의해, 반도체 레이저(41)로부터 강한 레이저 빔 b1이 광자기 디스크(40)에 조사된다. 동시에, CPU(46)로부터는 제어 명령 c4가 테스트 패턴 발생 회로(53)로 이송되고, 도 4에 도시된 정회전 패턴과 반전 패턴의 기록 신호 g가 발생된다. 이 기록 신호 g가 구동 회로(52)로 이송되면, 구동 전류 h에 의해 자기 헤드(51)로부터 기록 자계가 발생되어, 광자기 디스크(40)에 정회전 패턴과 반전 패턴이 기록된다. 또, 이 장치에 있어서, CPU(46), 기록광량 설정 회로(50), 테스트 패턴 발생 회로(53), 구동 회로(47, 52), 반도체 레이저(41), 자기 헤드(51)는 기록 수단을 구성하고 있다.
이어서, 판독 신호의 진폭 검출에 대해 설명한다. CPU(46)로부터의 스위치 명령 c2에 의해 재생 광량 설정 회로(49)로부터의 재생 광량 제어 신호 P1이 스위치 회로(48)를 통해 구동 회로(47)로 이송되고, 구동 전류 f에 의해 반도체 레이저(41)로부터 약한 레이저 빔 b1이 광자기 디스크(40)에 조사된다. 반사광 b2는 포토다이오드(42)로 유도된다. 광자기 디스크(40)로부터 판독된 판독 신호 r1은 증폭기(43)에 의해 증폭되고, 판독 신호 r2가 A/D 변환기(44)와 클럭 추출 회로(45)에 입력된다. 클럭 추출 회로(45)는, 재생 신호 r2로부터 후술된 외부 클럭 c를 생성하고, 테스트 패턴 발생 회로(53)로 이송된다. 이에 따라, 정회전 패턴과 인접 트랙의 반전 패턴이 동기하여 기록된다. 또한, 외부 클럭 c는 A/D 변환기(44)에도 이송되고, A/D 변환기(44)로써 판독 신호 r2가 디지털치 d로 변환된다. 이 디지털치 d는 CPU(46)로 이송되고, CPU(46)에서 판독 신호 r2의 진폭이 검출된다. 또, 이 장치에 있어서, CPU(46), 포토다이오드(42), 증폭기(43), A/D 변환기(44)는, 판독 수단을 구성하고 있다.
포토다이오드(42), 반도체 레이저(41), 및 자기 헤드(51)는 파선으로 둘러싸인 픽업(55)에 구비되어 있다. CPU(46)로부터, 제어 명령 c1이 픽업 구동 장치(54)로 이송되면, 도 6의 a∼도 6의 d에 도시된 트랙 Tr(n)·Tr(n+2), 인접 트랙 Tr(n-1)·Tr(n+1)에 광 빔 b1을 이동시켜 조사할 수 있도록, 픽업(55)을 구동시킨다.
CPU(46)는, 제어 명령 c3에 의해 기록광량을 순차 증가시켜, 제어 명령 c1에 의해 소정의 트랙에 광 빔을 이동하면서, 제어 명령 c4에 의해 정회전 패턴을 기록시킨다. 또한, CPU(46)는, 제어 명령 c2에 의해 광 빔 b1을 재생 광량으로 설정하고, 입력되는 디지털치 d에 기초하여 판독 신호 r2의 신호 진폭을 검출한다. 그리고, CPU(46)는, 기록광량마다의 신호 진폭을 순차 기억하고, 소정 조건을 만족하는 기록광량을 최적인 기록광량으로 결정한다.
도 10a는, 도 9에 있어서의 클럭 추출 회로(45)를 설명하는 도면이다. 광자기 디스크(40)로부터의 반사광 b2는, 2 분할광 검출기(two-part photodetector : 42a)에 입력된다. 2개의 출력 신호 r2a·r2b를, 클럭 추출 회로(45)에 있어서의 차동 증폭기(45a)에 입력함으로써, 잘 알려져 있는 푸시풀 방식의 트랙 에러 신호 j를 얻는다. 이 트랙 에러 신호 j에는 후술된 기준 마크(58)로부터의 판독 신호가 포함되어 있다. 이 기준 마크(58)를 검출하기 위해, 히스테리시스 비교기(hysteresis comparator : 45b)는, 트랙 에러 신호 j와 접지 레벨을 비교하고, 기준 마크 검출 신호 k를 생성한다. 히스테리시스 비교기(45b)가, 얻을 수 있는 기준 마크 검출 신호 k를 PLL 회로(45c)에 입력시킴으로써, 기준 마크(58)에 동기한 외부 클럭 c가, PLL 회로(45c)로부터 출력된다.
도 10b 및 도 10c는, 도 10a에 있어서의 클럭 추출 회로(45)의 동작을 설명하는 파형도이다. 도 10b에 있어서 정회전 패턴, 반전 패턴은, 랜드(59), 그루브(60) 각각의 트랙에 기록된다. 여기서는 설명의 편의상, 트랙 Tr(n)을 그루브(60), 트랙 Tr(n-1)을 랜드(59)로 하고, 트랙 Tr(n+1)·Tr(n+2)은 생략한다. 트랙에 따른 방향에는, 기준 마크(58)와 테스트 패턴 기록 영역(57)이 교대로 반복하여 배치되고, 테스트 패턴 기록 영역(57)에는, 정회전 패턴이나 반전 패턴의 기록 마크(56)가 기록된다. 랜드(59)와 그루브(60)에 끼워진 측벽(62)을 주기적으로 사행시킴에 따라, 광자기 디스크의 물리적인 기준 위치를 나타내기 위한 소거 불가능한 기준 마크(58)가 새겨져 있다. 랜드(59)와 그루브(60)에 끼워진 측벽(62)만 사행시키고, 반대의 측벽(63과 64)을 사행시키지 않음에 따라, 트랙의 직각 방향에 인접하는 기준 마크(도시하지 않음)와의 크로스토크가 저감된다. 테스트 패턴 기록 영역(57)은, 이 기준 마크(58)에 의해 구획된 영역을 단위로 하여 설치되어 있다.
예를 들면 그루브(60)를 광 스폿(61)으로 트랙킹하면, 도 10c에 있어서 트랙 에러 신호 j에는 기준 마크(58)로부터의 판독 신호가 포함된다. 이것을 2치화하면, 기준 마크 검출 신호 k를 얻을 수 있다. 이 신호를 PLL 회로(45c)에 입력함으로써, 기준 마크(58)에 동기한 외부 클럭 c를 얻을 수 있다.
또, 여기서 도시된 장치는, 본 발명에 있어서의 모든 실시의 형태의 기록 조건 설정 방법에 있어서 사용할 수 있다. 또한, 여기서는 외부 클럭을 이용한 장치에 대해 설명했지만, 이것에 한하는 것은 아니고, 다른 수단에 의해 생성된 클럭을 이용해도 마찬가지로 실시하는 것이 가능하다.
이어서, 도 11의 플로우차트에 기초하여, 본 실시의 형태의 구체적인 기록 조건 설정 방법에 대해 설명한다.
우선, 미리 인접 트랙 Tr(n-1)과 Tr(n+1)에, 높은 기록광량에 따라, 반전 패턴을 기록한다(S30). 기록광량을 낮은 초기치로 세트한다(S31). 트랙 Tr(n), Tr(n+2)에, S31에서 세트한 기록광량으로 정회전 패턴을 기록한다(S32). 소정의 재생 광량으로 세트한다(S33). 트랙 Tr(n)의 정회전 패턴을 판독하고, 신호 진폭을 검출한다(S34). 이 때의 기록광량과 신호 진폭을 관련시켜 기억한다(S35). 트랙 Tr(n+1)의 반전 패턴을 판독하고, 신호 진폭을 검출한다(S36). 이 때의 기록광량과 신호 진폭을 관련시켜 기억한다(S37). 기록광량을 소정량만큼 높인다(S38). 기록광량이 테스트 범위를 넘었을지 판단한다(S39).
S39에서, 기록광량이 테스트 범위를 넘지 않는 경우에는, S32로 복귀하여, 다시 정회전 패턴을 기록한다. S39에서, 기록광량이 테스트 범위를 넘은 경우에는, S37에서 기억된, 테스트 범위 내에서의 최대 기록광량에 있어서의 신호 진폭이 소정의 신호 진폭 A2보다 작은지의 여부를 판단한다(S40).
S40에서, 소정의 신호 진폭 A2보다 작지 않은 경우에는, S35에서 기억된 기록광량과 신호 진폭 중에서, 신호 진폭 A3을 제공하는 기록광량을 검출한다(S41). S41에서 검출된 기록광량에 소정의 기록광량을 가산하고, 최적 기록광량을 결정한다(S42). S40에서, 소정의 신호 진폭 A2보다 작은 경우에는, S35와 S36에서 기억한 신호 진폭 중에서 소정 조건을 만족하는 기록광량의 범위를 찾는다(S43). 그 범위 중심의 기록광량을 최적 기록광량으로 결정한다(S44).
이어서, 도 12 및 도 13을 이용하여, 상술된 정회전 패턴과 반전 패턴에 사용하는 2 종류의 길이의 마크 및 스페이스를 예로 들어, 신호 진폭의 변화의 측정 데이터를 설명한다.
도 12는, 특개평11-73700호 공보에 개시된 기록광량 및 기록 자계 강도의 제어 방법에서의 기록광량에 대한 재생 신호 진폭의 변화를 나타내고 있다. 이 방법으로는, 우선 특정 트랙의 양 인접 트랙에 높은 기록광량으로 반전 패턴을 기록한 후, 특정 트랙에 소정의 기록광량으로 정회전 패턴을 기록하고, 또 양 인접 트랙에, 특정 트랙에 기록했을 때와 동일한 기록광량으로 반전 패턴을 기록하고, 특정 트랙을 재생시키고 있다. 여기서, 레이저 광원의 파장은 635㎚, 대물 렌즈의 개구수는 0.6, 채널 비트 길이(기록을 위한 변조 후의 비트 단위) T는 47㎱이다. 마크 길이 및 스페이스 길이가 2T, 4T인 경우에, 기록광량에 대한 신호 진폭의 변화를 검출할 수 있는 것을 알 수 있다. 즉, 마크 길이 및 스페이스 길이가 2T 이상이면, 신호 진폭의 변화를 검출할 수 있다.
또, 신호 진폭의 변화를 검출할 수 있는 마크 길이 및 스페이스 길이(=2T)는, 예를 들면 레이저광원의 파장, 대물 렌즈의 개구수가 변한(특이한) 경우에도, 적용할 수 있다. 즉, 그와 같은 경우에도, 신호 진폭의 변화를 검출할 수 있는 마크 길이 및 스페이스 길이는, 2T가 된다.
도 13은, 도 12와 동일한 레이저광원의 파장, 대물 렌즈의 개구수, 채널 비트 길이로써 측정한, 기록광량의 차이에 따라 생기는 트랙 방향으로의 기록 마크의 위치 편차를 나타내고 있다. 이것은, 기록광량이 커짐에 따라, 광기록 매체 상의 온도가 상승하는 범위가 커지기 때문에, 마크가 기록되는 위치는 광 스폿이 진행하는 방향과 역방향으로 어긋나는 것을 나타내고 있다.
따라서, 도 13과 같이 기록광량에 대한 트랙 방향으로의 기록 마크의 위치편차의 데이터를 기억해 두고, 기록광량에 대응하여 기록 비트 위치 편차를 보정(correct)하는 수단(위치 편차 보정 수단)을 설치함에 따라, 반전 패턴과 정회전 패턴에 있어서의 대응하는 각 마크 및 스페이스가 대략 인접하도록 할 수 있고(트랙에 수직인 방향으로 갖추어짐), 마크 길이 및 스페이스 길이가 2T 이상의 길이이면, 신호 진폭의 변화에 기초하여 최적 기록광량을 검출할 수 있다. 이 위치 편차를 보정하는 수단으로는, 예를 들면 도 9에 있어서 클럭 추출 회로(45)로부터의 외부 클럭 c가 테스트 패턴 발생 회로(53)에 입력하는 동안에 설치한, 기록광량에 따라 외부 클럭 c의 위상을 변화시키는 수단을 사용할 수 있다. 또, 후술된 실시의 형태5에 있어서의 제3 테스트 패턴에 대해서도, 마찬가지로 위치 편차 보정 수단을 설치함으로써, 트랙 Tr(n)과 Tr(n+1) 등에 기록하는 반전 패턴의 각 마크, 스페이스가 대략 인접하도록 할 수 있다.
또한, 마크 길이 및 스페이스 길이가, 기록광량의 테스트 범위 내에서 기록 비트 위치 편차의 영향을 받지 않기 때문에 필요한 채널 비트 길이 이상이면, 트랙 방향으로의 기록 마크 길이가 크기 때문에, 기록 마크의 거의 중점에서는 기록광량에 대한 기록 위치의 어긋남의 영향이 없고, 기록 마크의 거의 중점에서 샘플링되는 신호 진폭을 검출하면, 기록광량에 대응하여 상기한 기록 비트 위치 편차를 보정하는 수단을 설치하지 않고, 최적 기록광량을 검출할 수 있다.
도 13에 있어서, 트랙 Tr(n)이 그루브이고, 기록광량 8㎽로부터 13㎽가 테스트 범위이고, 최초로 (제1 단계로) 양 인접 트랙 Tr(n-1)과 Tr(n+1)로 기록하기 위한 높은 기록광량을 11㎽라고 하면, 제1 단계에서의 인접 트랙 Tr(n-1)과 Tr(n+1)에서의 기록 위치는 약 40㎱의 위치이고, 제3 단계에서의 트랙 Tr(n)과 Tr(n+2)의 기록 위치는 기록광량 8㎽에서 기록할 때에 약 130㎱의 위치가 되기 때문에, 약 90㎱의 기록 비트의 위치 편차가 생긴다. 따라서, 기록 비트 위치 편차의 영향을 받지 않기 위해서는 채널 비트 길이 2T가 필요하다. 또한, 기록광량 13㎽에서 기록할 때에 트랙 Tr(n)과 Tr(n+2)의 기록 위치는 약 30㎱의 위치가 되기 때문에, 기록광량 8㎽와는 반대측에 약 10㎱의 기록 비트의 위치 편차가 생긴다. 따라서, 기록 비트 위치 편차의 영향을 받지 않기 위해서는 채널 비트 길이 1T가 필요하다.
따라서, 전체적으로 채널 비트 길이 3T가 위치 편차의 영향을 받지 않도록 하는 데에는 필요하다.
또한, 상술된 바와 같이 신호 진폭의 검출을 행하는 데에는 채널 비트 길이 2T가 필요하기 때문에, 도 13과 같은 특성을 갖을 때에 트랙 Tr(n)이 그루브인 경우, 마크 길이, 스페이스 길이는 2T+3T=5T 이상인 것이 바람직하다.
또, 여기서는 트랙 Tr(n)이 그루브인 경우에 대해 진술했지만, 랜드인 경우에도 마찬가지로 하여, 마크 길이, 스페이스 길이를 위치 편차의 영향이 없도록 설정하는 것이 가능하다.
또한, 그루브와 랜드 모두 기록광량을 설정하는 경우에도 동일 마크 길이, 스페이스 길이를 이용하는 경우에는, 광 스폿이 진행하는 방향 및 그 반대 방향에서 가장 큰 위치 편차량을 커버할 수 있도록 마크 길이, 스페이스 길이를 설정하는 것이 바람직하다. 광자기 기록 매체가 도 13과 같은 특성을 지니고, 기록광량 8㎽로부터 13㎽가 테스트 범위이고, 최초로 (제1 단계에서) 양 인접 트랙 Tr(n-1)과Tr (n+1)로 기록하기 위한 높은 기록광량을 11㎽로 하면, 인접 트랙 Tr(n+1)이 랜드일 때, 그루브(트랙 Tr(n))로의 기록광량 8㎽에서의 기록일 때에 약 90㎱의 기록 비트 위치 편차가 생겨, 기록 비트 위치 편차의 영향을 받지 않기 때문에 필요한 채널 비트 길이는 2T가 된다. 한편, 인접 트랙을 Tr(n+1)이 그루브일 때, 랜드(트랙 Tr(n))로의 기록광량 13㎽에서의 기록일 때에 약 55㎱의 기록 비트 위치 편차가 생겨, 기록 비트 위치 편차의 영향을 받지 않기 때문에 필요한 채널 비트 길이는 2T가 된다. 따라서, 기록 비트 위치 편차의 영향을 받지 않기 때문에 필요한 채널 비트 길이는 4T(=2T+2T)가 된다. 따라서, 마크 길이 및 스페이스 길이는 2T+4T=6T 이상인 것이 바람직하다.
이상과 같이, 정회전 패턴과 반전 패턴에 사용하는 2 종류의 길이의 마크 및 스페이스가, 기록 조건의 범위 내에서 기록 비트의 위치 편차의 영향을 받지 않기 때문에 필요한 채널 비트 길이를 L·T로 했을 때에, (2+L)·T이상이면, 기록광량에 대응하여 기록 비트 위치 편차를 보정하는 수단을 설치하지 않고, 최적 기록광량을 검출할 수 있다.
또, 마크 길이와 스페이스 길이가 다른 경우라도 높은 감도로 최적치를 얻을 수 있지만, 동일 길이가 신호의 직류 성분을 제로로 할 수 있어, 신호 진폭(교류 성분)을 검출할 때에 정밀도 좋게 신호 진폭을 검출할 수 있다.
(실시의 형태4)
본 발명의 또 다른 실시의 형태에 대해, 도 14(a)∼도 14(c), 도 15, 및 도 16에 기초하여 설명한다. 단, 상술된 각 실시의 형태와 동일한 부분에 대해서는설명을 생략 또는 간략화한다.
실시의 형태3에서 진술한 방법 및 장치는, 인접 트랙에 미리 반전 패턴을 기록함으로써, 신호 진폭의 변화를 고감도로 검출하는 방법 및 장치였다. 본 실시 형태 예에서는, 더욱 감도를 올려 신호 진폭의 변화를 검출하는 방법에 대해 설명한다.
도 14의 a에 있어서, 우선 사전에 트랙 Tr(n), Tr(n+2)에 높은 광량의 광 빔(70)에 의해, 폭이 넓은 (큰) 기록 마크(71)를 기록한다. 또, 이 때의 기록광량은, 후술된 잔여가 발생만 하면 되므로, 과도하게 낮은 광량만 아니면 좋지만, 더욱 바람직하게는, 통상보다도 높은 광량을 이용하여, 상술된 바와 같이 폭이 넓은 기록 마크를 기록하는 편이 좋다. 단, 이 기록 마크(71)의 기록 패턴은, 상술된 반전 패턴(제3 테스트 패턴)이다.
도 14의 b 이후에는, 실시의 형태3과 마찬가지이다. 즉, 도 14의 b에 있어서, 양 인접 트랙 Tr(n-1), Tr(n+1)에 높은 기록광량의 광 빔(20)에 의해, 폭이 넓은 기록 마크(21)(트랙 폭보다도 넓은 기록 마크)를 기록한다. 이 기록 마크(21)의 기록 패턴은 반전 패턴이다. 이에 따라, 트랙 Tr(n), Tr(n+2)에 미리 기록되어 있던 폭이 넓은 기록 마크(71)는, 그 단부가 깎여, 폭이 좁은 기록 마크(72)가 된다.
이어서, 도 14의 c에 있어서, 낮은 기록광량의 광 빔(22)을 트랙 Tr(n), Tr(n+2)에 조사하면서, 정회전 패턴의 기록 마크(23)를 기록한다. 이 때, 트랙 Tr(n)에 주목하면, 도 14의 b의 반전 패턴(72) 상에, 정회전 패턴(23)을 오버라이트하고 있다. 도 14의 c에 있어서, 기록광량이 낮은 경우에는, 반전 패턴의 잔여가 발생하기 쉽고, 남은 성분에 의해 정회전 패턴의 신호 진폭 V(n)는 저하한다. 이 저하량은, 기록광량이 낮아, 잔여가 클수록 크고, 그리고 잔여의 패턴이 반전 패턴에 가까울수록 커진다.
여기서, 도 15를 이용하여, 정회전 패턴의 신호 진폭 V(n)의 저하에 대해 설명한다. 트랙 Tr(n)에 사전에 반전 패턴이 기록되지 않은 경우(실시의 형태2)의 신호 진폭 V(n)는, 실선 a3으로 나타낸 바와 같이, 기록광량을 올림에 따라 점차로 증가한다. 이에 대해, 트랙 Tr(n)에 사전에 반전 패턴이 기록되는 경우에는, 기록광량이 낮을 때, 도 15 내의 파선 a4로 나타낸 바와 같이, 반전 패턴의 잔여에 의해 신호 진폭이 더욱 감소한다. 이것은, 기록광량이 낮으면 낮을수록, 잔여가 커지고, 신호 진폭은 대폭 감소하는 것을 나타내고 있다. 따라서, 본 실시 형태의 방법에서는, 트랙 Tr(n)에 사전에 반전 패턴이 기록되지 않은 경우에 비해, 신호 진폭의 변화량이 커지고, 더욱 높은 감도에 의해 최적치를 검출할 수 있다.
또, 인접 트랙 Tr(n-1), Tr(n+1)로 반전 패턴을 기록하지 않고, 트랙 Tr(n), Tr(n+2)에만 미리 높은 기록광량으로 반전 패턴을 기록해도, 동일하게 신호 진폭의 변화량이 커진다고 하는 효과를 얻을 수 있다.
도 16은, 도 14의 a∼도 14의 c에 나타낸 기록 조건 제어의 동작을 설명하는 플로우차트이다. 우선, 사전에 트랙 Tr(n), Tr(n+2)에 높은 기록광량에 따라, 반전 패턴을 기록한다(S50). 이후에는, 도 11(실시의 형태3)의 플로우차트와 완전히 동일하고, 이에 따라 최적 기록광량이 결정된다.
또, 이상 설명한 본 실시의 형태에서는 Tr(n-1), Tr(n+2)에 테스트 패턴(소거 패턴도 포함함)을 기록하지만, 반드시 필요하지는 않다. 단, Tr(n-1), Tr(n+2)에 테스트 패턴(소거 패턴도 포함함)을 기록하면, 판독 신호 진폭 V(n), V(n+1)를 증대시킬 수 있다.
(실시의 형태5)
본 발명의 또 다른 실시의 형태에 대해, 도 17에 기초하여 설명한다. 단, 상술된 각 실시의 형태와 동일한 부분에 대해서는 설명을 생략 또는 간략화한다. 본 실시의 형태의 방법으로는, 트랙 Tr(n)의 정회전 패턴과 인접 트랙 Tr(n+1)의 반전 패턴의 신호 진폭의 최대치를 구하여, 이들을 기준으로 하여 각각의 신호 진폭의 변화를 정규화함에 따라(도 9의 장치에서는 CPU(46)가 정규화 수단으로서 정규화를 행함), 동일한 소정 신호 진폭을 바탕으로 하여, 소정 조건을 만족하는 기록광량의 범위를 구하여, 최적 기록광량을 결정한다.
트랙 Tr(n)과 인접 트랙 Tr(n+1)은, 재생 감도가 다른 것을 충분히 생각할 수 있고, 실시의 형태3 및 4에서 진술되어 있는 각각의 트랙의 신호 진폭에는 신호 레벨의 차이가 생긴다.
트랙 Tr(n)에 기록광량을 증가시켜 기록하면, 기록광량이 커지면 기록 마크의 폭이 커지고, 신호 진폭 V(n)는 어느 정도의 값으로 된다. 이것은, 정회전 패턴의 기록 마크의 폭이 재생 시의 광 스폿보다도 커진 것을 나타내고 있다. 한편, 인접 트랙 Tr(n+1)의 신호 진폭 V(n+1)는, 트랙 Tr(n)에의 기록광량이 작을 때에는, 정회전 패턴의 기록 마크의 폭이 작기 때문에, 마크 유출의 영향이 생기지 않는다. 그 때문에, 신호 진폭은 어느 정도의 값이다. 이것도 반전 패턴의 기록 마크의 폭이 재생 시의 광 스폿보다도 크기 때문이다.
이들 신호 진폭 V(n), V(n+1)의 최대치는, 감도의 차이에 따라 신호 레벨이 다르지만, 광 스폿의 사이즈와 동일한 크기, 혹은 그 이상의 크기의 폭을 갖는 기록 마크의 신호 진폭이라고 하는 의미에서 동일 기준이다.
그 때문에, 각각의 신호 진폭 변화를, 각각의 최대 신호 진폭으로 정규화하면, 동일한 소정 신호 진폭을 판정 기준으로 하여 최적 기록광량을 검출하는 것이 가능해진다.
예를 들면, 도 17과 같이, 최대 진폭치를 1로 정규화하여, 트랙 Tr(n)의 신호 진폭 V(n)가 α1(0<a1<1) 이상이 되는 범위의 기록 조건과, 정규화된 인접 트랙 Tr(n+1)의 신호 진폭 V(n+1)가 α1(0<α1<1) 이상이 되는 범위의 기록 조건의, 양쪽을 만족하는 기록 조건을 선택할 수 있다. 여기서, 기록광량의 마진을 크게 취하기 위해서는, 그 범위 중심의 기록광량을 최적 기록 조건으로 하는 것이 바람직하다.
(실시의 형태6)
본 발명의 또 다른 실시의 형태에 대해, 도 18에 기초하여 설명한다. 단, 상술된 각 실시의 형태와 동일한 부분에 대해서는 설명을 생략 또는 간략화한다.
실시의 형태3 및 4에서 진술한 방법 및 장치는, 트랙 Tr(n)의 정회전 패턴의 신호 진폭과 인접 트랙 Tr(n+1)의 반전 패턴의 신호 진폭의 양방을 검출하는 것이었다. 본 실시 형태에서는, 처리의 고속화를 위해, 트랙 Tr(n)의 기록 조건을 구하는데 인접 트랙 Tr(n+1)의 신호 진폭의 변화만을 검출하는 방법에 대해 설명한다.
인접 트랙 Tr(n+1)의 신호 진폭의 변화보다, 트랙 Tr(n)에 기록된 정회전 패턴의 마크 유출의 영향을 알 수 있다. 그 때문에, 마크의 유출의 영향이 생긴 기록광량(예를 들면 신호 진폭 V(n+1)가 소정치 A4 이하가 된 광량)을 검출하고, 그 기록광량 Px에 연산을 가하는 것, 예를 들면 기록광량 Px로부터 소정의 기록광량 Py를 감산하는 (Px-Py를 연산함) 것, 기록광량 Px에 소정 계수를 승산하는 것등에 의해, 인접 트랙 Tr(n+1)에 마크 유출의 영향을 주지 않은 트랙 Tr(n)에의 최적 기록광량 Pz를 결정할 수 있다.
또, 이 방법으로는, 트랙 Tr(n)에 기록한 패턴이 그 트랙으로부터 유출하는 것에 대한 영향을, 인접 트랙 Tr(n+1)을 판독함에 따라 구하고, 그 영향이 없는 기록 조건을 트랙 Tr(n)의 기록 조건으로 하기 위해, 트랙 Tr(n)과 Tr(n+1)에 기록 감도의 차이가 있는 경우라도, 트랙 Tr(n)의 기록 조건을 정확하게 구할 수 있다.
(실시의 형태7)
본 발명의 또 다른 실시의 형태에 대해, 도 6의 a∼도 6의 d, 도 19a, 및 도 19b에 기초하여 설명한다. 단, 상술된 각 실시의 형태와 동일한 부분에 대해서는 설명을 생략 또는 간략화한다. 본 실시의 형태에서는, 신호 진폭에 대한 트랙의 주위 내 변동의 영향을 저감시키고, 감도를 더욱 올려 신호 진폭의 변화를 검출하는 방법에 대해 설명한다.
틸트나 감도차 등의 영향을 받아, 트랙의 동일한 주위 내에서도 신호 진폭은동일하다고는 할 수 없다. 예를 들면, 도 19a와 같이, 트랙의 주위 내에서 틸트가 존재하면, 트랙에 동일한 폭으로 기록된 마크를 판독해도, 도 19b에서 도시된 바와 같이 신호 진폭에 변동이 생긴다. 본 실시의 형태는, 이 문제를 해결하는 것이다. 실시의 형태3(도 6의 a∼도 6의 d)에 도시한 기록 조건의 설정 방법을 기초하여 설명한다.
여기서는, 미리 양 인접 트랙 Tr(n-1)과 Tr(n+1)에 높은 기록광량의 광 빔(20)에 의해 폭이 넓은 반전 패턴(21)을 기록한 후에, 인접 트랙 Tr(n+1)의 신호 진폭을 검출하고, 트랙 방향의 위치에 대응시켜 기억한다. 그리고, 그 후에, 트랙 Tr(n)에 소정의 기록광량으로 정회전 패턴을 기록하고, 트랙 Tr(n), 인접 트랙 Tr(n+1)의 신호 진폭을 검출한다.
이와 같이, 트랙 Tr(n)에 정회전 패턴을 기록하기 전에 인접 트랙 Tr(n+1)의 신호 진폭을 검출해 두면, 그 신호 진폭을 이용하여, 정회전 패턴을 기록 후의 트랙 Tr (n), 인접 트랙 Tr(n+1)의 신호 진폭을 트랙 방향의 위치에 대응시켜 정규화(주위 방향 위치[position in a circumferential direction]의 차이를 보정하기 위한 정규화)할 수 있다(도 9의 장치에서는 CPU(46)가 주위 내의 변동 정규화 수단으로서 정규화함). 그리고, 기록 조건을 바꿀때마다 정규화를 행함으로써, 신호 진폭에 대한 트랙의 주위 내 변동의 영향을 저감시키고, 감도를 더욱 올려 신호 진폭의 변화를 검출하는 것이 가능해진다.
또, 상기 정규화는, 예를 들면 각 기록광량 설정 영역마다의 인접 트랙 Tr (n+1)의 신호 진폭의 평균치에 의해 행할 수 있다. 즉, 우선, 미리 기록광량 설정영역 내에서의 반전 패턴(21)에 대응하는 인접 트랙 Tr(n+1)의 신호 진폭을 구하고, 기록광량 설정 영역 내에서의 진폭치의 평균치를 구해 두고, 그리고 그 평균치에 의해, 트랙 Tr(n)에 정회전 패턴을 기록한 후의 트랙 Tr(n), 인접 트랙 Tr(n+1)의 신호 진폭을 정규화한다.
또, 본 실시의 형태는 틸트 등에 기인하는 주위 방향의 진폭 변동을 억제하는 것으로, 상술된 바와 같이, 정회전 패턴 기록전의 인접 트랙 Tr(n+1)로부터의 신호 진폭을 이용하여, 인접 트랙 Tr(n+1)의 신호 진폭뿐만 아니라, 트랙 Tr(n)의 신호 진폭의 정규화를 행해도, 틸트 등에 기인하는 주위 방향의 진폭 변동이 인접 트랙 간(예를 들면 랜드, 그루브간)에서 대략 동일하기 때문에, 문제는 없다.
본 실시의 형태의 수법을 실시의 형태4에 적용하는 경우에는, 트랙 Tr(n)에 기록한 반전 패턴(제3 테스트 패턴)으로부터의 판독 신호의 신호 진폭을 이용하여, 소정의 기록 조건으로 정회전 패턴을 기록한 후의, 트랙 Tr(n)과 인접 트랙 Tr(n+1)의 신호 진폭을 정규화해도 되고, 트랙 Tr(n)에 기록한 반전 패턴(제3 테스트 패턴)으로부터의 판독 신호의 신호 진폭을 이용하여 정회전 패턴을 기록한 후의 트랙 Tr(n)의 신호 진폭의 정규화를 행하고, 인접 트랙 Tr(n+1)에 기록한 반전 패턴으로부터의 판독 신호의 신호 진폭을 이용하여 정회전 패턴을 기록한 후의 인접 트랙 Tr(n+1)의 신호 진폭의 정규화를 행하여도 좋다.
또한, 본 실시의 형태의 수법은 상술된 실시의 형태5에도 적용할 수 있다. 이 경우, 본 실시의 형태에 따른 주위 방향의 진동 진폭의 변동을 억제하기 위한 정규화와, 인접 트랙 간의 감도의 차이를 보정하기 위한 정규화의 2 종류의 정규화가 행해지게 된다.
이상, 본 발명의 실시의 형태에 대해 설명했지만, 본 발명은 이 실시 형태에 한정되는 것은 아니고, 예를 들면, 기록 자계 강도의 최적화에도 적용할 수 있다. 또한, 자계 변조 기록을 예로 들어 설명했지만, 광 변조 기록에 있어서도 마찬가지로 기록 마크의 폭의 변화를 신호 진폭에 의해 검출할 수 있기 때문에, 고감도로 기록광량의 최적치를 구할 수 있다.
또한, 섹터마다에 기록 조건을 변화시키고, 최적 기록광량을 구할 수 있다.
또한, 1 섹터 내에 복수의 기록 조건을 제공함에 따라, 최적 기록광량을 구할 수 있다.
또, 이상의 실시의 형태에서는, 특정 트랙 Tr(n)로부터의 판독 신호(제2 판독 신호), 인접 트랙 Tr(n+1)로부터의 판독 신호(제1 판독 신호) 중 적어도 한쪽의 진폭치를 구하고, 그것에 기초하여 최적 기록광량을 구하였다. 그러나, 본 발명은 진폭치에 한하는 것은 아니고, 제2 판독 신호, 제1 판독 신호가 소정의 상태가 되는 조건(예를 들면, 제2 판독 신호, 제1 판독 신호의 지터(jitter)나 에러율이 소정의 상태가 되는 조건)을 구하고, 그에 기초하여 최적 기록광량을 구해도 상관없다.
예를 들면, ①도 6의 a∼도 6의 d나 도 14의 a∼도 14의 c에 도시된 바와 같은 제1 테스트 패턴, 제2 테스트 패턴을 기록하고, 제2 판독 신호의 지터가 작고(또한 에러율이 작음), 또한 제1 판독 신호의 지터가 작아지는 (에러율이 작음) 조건을 최적 기록 조건으로 하는 방법, ②도 6의 a∼도 6의 d나 도 14의 a∼도 14의c에 도시된 바와 같은 제1 테스트 패턴, 제2 테스트 패턴을 기록하고, 제2 판독 신호의 지터가 원하는 값(예를 들면, 10%∼20% 정도의 값)이 되는 (또는 에러율이 원하는 값(예를 들면 10-4∼10-3정도의 값)이 됨) 기록 조건에 대해 소정의 연산을 행하고, 그 기록 조건보다도 큰 기록 마크를 형성할 수 있는 조건을 최적 기록 조건으로 하는 방법, ③도 6의 a∼도 6의 d나 도 14의 a∼도 14의 c에 도시된 바와 같은 제1 테스트 패턴, 제2 테스트 패턴을 기록하고, 제1 판독 신호의 지터가 원하는 값(예를 들면 10%∼20% 정도의 값)이 되는(또는 에러율이 원하는 값(예를 들면 10-4∼10-3정도의 값)이 됨) 기록 조건에 대해 소정의 연산을 행하고, 그 기록 조건보다도 큰 기록 마크를 형성할 수 있는 조건을 최적 기록 조건으로 하는 방법등에 따라 최적 기록 조건을 구할 수 있다. 또한, 도 1의 a∼도 1의 d에 도시된 바와 같은 제1 테스트 패턴 및 제2 테스트 패턴을 기록한 경우에도, 마찬가지로, 제2 판독 신호 및 제1 판독 신호 중 적어도 한쪽의 지터나 에러율에 기초하여 최적 기록 조건을 구할 수 있다. 특히, 특정 트랙으로부터의 재생 신호(제2 판독 신호) 및 인접 트랙으로부터의 재생 신호(제1 판독 신호)의 양방의 지터 혹은 에러율에 기초하여 최적 기록 조건을 구하면, 특정 트랙으로부터의 재생 신호로서 충분한 재생 신호를 얻을 수 있고, 또한 인접 트랙으로부터의 재생 신호에 의해 크로스 소거가 생기지 않은 최적 기록 조건을 구할 수 있다. 그 때문에, 인접하는 트랙 간에 기록 감도의 차이가 생겼다고 해도 적절한 기록 조건을 구하는 것이 가능해진다.
또한, 상술된 실시의 형태에서는 최적 기록 조건을 구하기 위해 판독 신호의진폭을 이용하였기 때문에, 실시의 형태5에서 진술한 정규화나, 실시의 형태7에서 진술한 주위 방향의 정규화에 있어서도 판독 신호의 진폭치에 따라 정규화를 실행하지만, 본 발명은 이것에 한하는 것은 아니고, 지터나 에러율등과 같은 판독 신호로부터의 검출량에 의해서도 정규화를 실행할 수 있다.
또, 여기서는, 외부 클럭 추출을 위한 기준 마크로서, 랜드와 그루브에 끼워진 측벽을 이용하고 있지만, 기준 마크로 하여 사전에 광기록 매체에 기록되는 형태이면 된다.
또, 이상의 실시의 형태에서는, 외부 클럭 추출에 푸시풀 신호를 이용하고 있지만, 접선 푸시풀 신호(tangential push-pull signal)나 RF 합 신호 등, 기준 마크를 검출할 수 있는 신호이면, 무엇이든 좋다.
또한, 상기 실시의 형태1·2에서는 제1 테스트 패턴으로서 소거 패턴을 사용했지만 이것에 한하는 것은 아니다. 또한, 실시의 형태3∼7에서는 제1 테스트 패턴으로서 반전 패턴을, 제2 테스트 패턴으로서 정회전 패턴을 이용했지만, 본 발명은 이것에 한하는 것은 아니고, 적어도 제1 테스트 패턴과 제2 테스트 패턴이 다르면 된다.
또, 이상의 모든 실시의 형태의 설명은, 광자기 기록을 대상으로 하고 있지만, 이것에 한하지 않고, 상변화 기록 등의 다른 광기록 매체에 있어서도 마찬가지로 실시하는 것이 가능하다.
이상과 같이, 제1 발명의 광기록 방법은, 광기록 매체에 정보를 기록하는 광기록 방법에 있어서, 큰 기록 마크를 형성할 수 있는 미리 결정된 기록 조건으로,광기록 매체의 제1 트랙에 제1 테스트 패턴을 기록하고, 제1 테스트 패턴의 기록 후에, 제1 트랙과 인접하는 제2 트랙에서의 제1 테스트 패턴의 기록 영역에 인접하는 영역에, 제2 테스트 패턴을, 복수의 기록 조건으로 기록하고, 상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 제1 트랙을 재생시켜 제1 판독 신호를 검출하고, 상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 제2 트랙을 재생시켜 제2 판독 신호를 검출하고, 상기 복수의 기록 조건과, 제1 판독 신호 및 제2 판독 신호에 기초하여, 제2 트랙에서의 최적 기록 조건을 결정하고, 상기 최적 기록 조건으로, 제2 트랙에 정보를 기록하는 방법이다.
또한, 이상과 같이, 제2 발명의 광기록 방법은, 광기록 매체에 정보를 기록하는 광기록 방법에 있어서, 큰 기록 마크를 형성할 수 있는 미리 결정된 기록 조건으로, 광기록 매체의 제1 트랙에 제1 테스트 패턴을 기록하고, 제1 테스트 패턴의 기록 후에, 제1 트랙과 인접하는 제2 트랙에서의 제1 테스트 패턴의 기록 영역에 인접하는 영역에, 제2 테스트 패턴을, 복수의 기록 조건으로 기록하고, 상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 제2 트랙을 재생시켜 제2 판독 신호를 검출하고, 제2 판독 신호가 소정의 상태가 되는 기록 조건인 제2 기록 조건을 구하고, 그 제2 기록 조건에 대해 연산을 가함으로써, 제2 기록 조건보다도 큰 기록 마크를 형성할 수 있는 기록 조건을 구하여 최적 기록 조건으로 하고, 상기 최적 기록 조건으로, 제2 트랙에 정보를 기록하는 방법이다.
또한, 이상과 같이, 제3 발명의 광기록 방법은, 광기록 매체에 정보를 기록하는 광기록 방법에 있어서, 큰 기록 마크를 형성할 수 있는 미리 결정된 기록 조건으로, 광기록 매체의 제1 트랙에 제1 테스트 패턴을 기록하고, 제1 테스트 패턴의 기록 후에, 제1 트랙과 인접하는 제2 트랙에서의 제1 테스트 패턴의 기록 영역에 인접하는 영역에, 제2 테스트 패턴을, 복수의 기록 조건으로 기록하고, 상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 제1 트랙을 재생시켜 제1 판독 신호를 검출하고, 제1 판독 신호가 소정의 상태가 되는 기록 조건인 제1 기록 조건을 구하고, 그 제1 기록 조건에 대해 연산을 가함으로써, 제1 기록 조건보다도 작은 기록 마크를 형성할 수 있는 기록 조건을 구하여 최적 기록 조건으로 하고, 상기 최적 기록 조건으로, 제2 트랙에 정보를 기록하는 방법이다.
또한, 이상과 같이, 제4 발명의 광기록 방법은, 제1 발명의 광기록 방법에 있어서, 제1 판독 신호가 소정의 상태에 달하지 않은 경우에는, 제2 판독 신호가 소정의 상태가 되는 기록 조건인 제2 기록 조건을 구하고, 그 제2 기록 조건에 대해 연산을 가함으로써, 제2 기록 조건보다도 큰 기록 마크를 형성할 수 있는 기록 조건을 구하여 최적 기록 조건으로 하는 방법이다.
또한, 이상과 같이, 제5 발명의 광기록 장치는, 광기록 매체에, 적어도 광 빔을 조사하여, 정보를 기록하는 광기록 장치에 있어서, 제2 트랙으로의 기록 조건을 설정할 때에, 큰 기록 마크를 형성할 수 있는 미리 결정된 기록 조건으로 광기록 매체의 제1 트랙에 제1 테스트 패턴을 기록함과 함께, 제1 테스트 패턴의 기록 후에, 제1 트랙과 인접하는 제2 트랙에서의 제1 테스트 패턴의 기록 영역에 인접하는 영역에, 제2 테스트 패턴을 복수의 기록 조건으로 기록하는 기록 수단과, 상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 제1 트랙을 재생시켜 제1 판독 신호를 검출함과 함께, 상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 제2 트랙을 재생시켜 제2 판독 신호를 검출하는 판독 수단과, 상기 복수의 기록 조건과, 제1 판독 신호 및 제2 판독 신호에 기초하여, 제2 트랙에서의 최적 기록 조건을 결정하는 최적 기록 조건 설정 수단을 구비하는 구성이다.
또한, 이상과 같이, 제6 발명의 광기록 장치는, 광기록 매체에, 적어도 광 빔을 조사하여, 정보를 기록하는 광기록 장치에 있어서, 제2 트랙으로의 기록 조건을 설정할 때에, 큰 기록 마크를 형성할 수 있는 미리 결정된 기록 조건으로 광기록 매체의 제1 트랙에 제1 테스트 패턴을 기록함과 함께, 제1 테스트 패턴의 기록 후에, 제1 트랙과 인접하는 제2 트랙에서의 제1 테스트 패턴의 기록 영역에 인접하는 영역에, 제2 테스트 패턴을 복수의 기록 조건으로 기록하는 기록 수단과, 상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 제2 트랙을 재생시켜 제2 판독 신호를 검출하는 판독 수단과, 제2 판독 신호가 소정의 상태가 되는 기록 조건인 제2 기록 조건을 구하고, 그 제2 기록 조건에 대해 연산을 가함으로써, 제2 기록 조건보다도 큰 기록 마크를 형성할 수 있는 기록 조건을 구하여 최적 기록 조건으로 하는 최적 기록 조건 설정 수단을 구비하는 구성이다.
또한, 이상과 같이, 제7 발명의 광기록 장치는, 제6 발명의 광기록 장치에 있어서, 상기 최적 기록 조건 설정 수단은, 제2 판독 신호의 진폭치가 소정치가 되는 기록 조건을 제2 기록 조건으로 하는 구성이다.
또한, 이상과 같이, 제8 발명의 광기록 장치는, 광기록 매체에, 적어도 광 빔을 조사하여, 정보를 기록하는 광기록 장치에 있어서, 제2 트랙으로의 기록 조건을 설정할 때에, 큰 기록 마크를 형성할 수 있는 미리 결정된 기록 조건으로 광기록 매체의 제1 트랙에 제1 테스트 패턴을 기록함과 함께, 제1 테스트 패턴의 기록 후에, 제1 트랙과 인접하는 제2 트랙에서의 제1 테스트 패턴의 기록 영역에 인접하는 영역에, 제2 테스트 패턴을 복수의 기록 조건으로 기록하는 기록 수단과, 상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하고, 상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 제1 트랙을 재생시켜 제1 판독 신호를 검출하는 판독 수단과, 제1 판독 신호가 소정의 상태가 되는 기록 조건인 제1 기록 조건을 구하고, 그 제1 기록 조건에 대해 연산을 가함으로써, 제1 기록 조건보다도 작은 기록 마크를 형성할 수 있는 기록 조건을 구하여 최적 기록 조건으로 하는 최적 기록 조건 설정 수단을 구비하는 구성이다.
또한, 이상과 같이, 제9 발명의 광기록 장치는, 제8 발명의 광기록 장치에 있어서, 상기 최적 기록 조건 설정 수단은, 제1 판독 신호의 진폭치가 소정치가 되는 기록 조건을 제1 기록 조건으로 하는 구성이다.
또한, 이상과 같이, 제10 발명의 광기록 장치는, 제5 발명 내지 제9 발명 중 어느 한 광기록 장치에 있어서, 상기 판독 수단이 검출한 판독 신호로부터의 검출량을 정규화하여, 각 트랙 간의 감도의 차이를 보정하는 정규화 수단을 구비하는 구성이다.
또한, 이상과 같이, 제11 발명의 광기록 장치는, 제7 발명 또는 제9 발명의 광기록 장치에 있어서, 상기 판독 수단이 검출한 판독 신호의 신호량을, 판독 신호의 진폭의 최대치로 정규화하는 정규화 수단을 구비하는 구성이다.
또한, 이상과 같이, 제12 발명의 광기록 장치는, 제5 발명 내지 제11 발명 중 어느 한 광기록 장치에 있어서, 주위 방향의 변동을 보정하도록, 제1 판독 신호와 제2 판독 신호 중 적어도 한쪽의 검출량을 정규화하는 주위 내의 변동 정규화 수단을 구비하는 구성이다.
또한, 이상과 같이, 제13 발명의 광기록 장치는, 제7, 9, 11의 발명 중 어느 한 광기록 장치에 있어서, 상기 기록 수단이 제1 테스트 패턴을 기록한 후로서 제2 테스트 패턴을 기록하기 전에, 상기 판독 수단에 제1 트랙을 재생시켜 주위 내 변동 정규화용 신호를 검출시키고, 상기 주위 내 변동 정규화용 신호의 신호 진폭에 의해, 제1 판독 신호와 제2 판독 신호 중 적어도 한쪽의 신호 진폭을 정규화하는 주위 내 변동 정규화 수단을 구비하는 구성이다.
또한, 이상과 같이, 제14 발명의 광기록 장치는, 제7, 9, 11의 발명 중 어느 한 광기록 장치에 있어서, 상기 기록 수단이 제2 테스트 패턴을 기록하기 전에, 상기 기록 수단에 제2 트랙에 제1 테스트 패턴과 동일한 패턴인 제3 테스트 패턴을 기록시킴과 함께, 상기 기록 수단이 제2 테스트 패턴을 기록하기 전에, 상기 판독 수단에 제1 트랙과 제2 트랙 중 적어도 한쪽을 재생시켜 주위 내 변동 정규화용 신호를 검출시키고, 상기 주위 내 변동 정규화용 신호의 신호 진폭에 의해, 제1 판독 신호와 제2 판독 신호 중 적어도 한쪽의 신호 진폭을 정규화하는 주위 내 변동 정규화 수단을 구비하는 구성이다.
또한, 이상과 같이, 제15 발명의 광기록 장치는, 제5 발명 내지 제14 발명 중 어느 한 광기록 장치에 있어서, 제1 테스트 패턴 및 제2 테스트 패턴은 2T(T는채널 비트 길이)이상의 마크와 스페이스를 조합시킨 패턴으로 이루어지고, 상기 기록 수단이 기록하는 제1 테스트 패턴과 제2 테스트 패턴이 상호 대응하는 마크 및 스페이스가 인접하도록 기록 위치를 보정하는 위치 편차 보정 수단을 구비하는 구성이다.
또한, 이상과 같이, 제16 발명의 광기록 장치는, 제15 발명의 광기록 장치에 있어서, 상기 기록 수단은, 제2 테스트 패턴을 기록하기 전에, 제2 트랙에 제3 테스트 패턴을 기록하고, 상기 위치 편차 보정 수단은, 제1 테스트 패턴과 제3 테스트 패턴이 상호 대응하는 마크 및 스페이스가 인접하도록 기록 위치를 보정하는 구성이다.
또한, 이상과 같이, 제17 발명의 광기록 장치는, 제5 발명 내지 제16 발명 중 어느 한 광기록 장치에 있어서, 제1 테스트 패턴 및 제2 테스트 패턴은, T를 채널 비트 길이로 하고, L을 상기 기록 수단이 제2 테스트 패턴을 기록하는 기록 조건의 범위 내에서 기록 비트의 위치 편차의 영향을 받지 않기 위해 필요한 채널 비트수로 했을 때에, (2+L)·T 이상의 마크와 스페이스를 조합한 패턴으로 이루어지는 구성이다.
또한, 이상과 같이, 제18 발명의 광기록 장치는, 제5 발명 내지 제17 발명에 기재된 광기록 장치에 있어서, 제1 트랙은 랜드나 그루브 중 어느 한쪽에 형성된 트랙으로, 제2 트랙은 기타에 형성된 트랙의 구성이다.
이와 같이, 본 발명의 광기록 방법 및 광기록 장치의 한 형태는, 특정 트랙에서의 최적화 기록 조건을, 그 특정 트랙에 복수의 기록 조건으로 테스트 패턴을기록하고, 그 특정 트랙으로부터의 재생 신호 및 인접 기록 트랙으로부터의 재생 신호에 기초하여 설정한다.
상기된 형태에서는, 기록 조건을 설정하고 싶은 특정 트랙에 실제로 기록을 행하고, 그 특정 트랙으로부터의 재생 신호에 기초하여 충분한 재생 신호를 얻을 수 있는 조건을 구함과 함께, 또한 인접 트랙으로부터의 재생 신호에 의해 크로스토크가 생기지 않은 조건을 구한다. 그 때문에, 인접한 트랙 간에 기록 감도의 차이가 생기는 것으로 해도 적절한 기록 조건을 구하는 것이 가능해진다. 그 결과, 신호 재생 시의 트랙 간의 크로스토크나, 신호 기록 시의 인접 트랙으로의 크로스 소거를 최소한으로 억제하여, 트랙 밀도의 고밀도화를 실현할 수 있다.
또한, 본 발명의 광기록 방법, 광기록 장치의 다른 한 형태는, 특정 트랙에서의 최적화 기록 조건을, 그 특정 트랙에 복수의 기록 조건으로 테스트 패턴을 기록하고, 그 특정 트랙으로부터의 재생 신호가 소정의 상태가 되는 기록 조건으로 연산을 행함으로써 설정한다.
상기한 형태에서는, 기록 조건을 설정하고 싶은 특정 트랙에 실제로 기록을 행하고, 그 특정 트랙으로부터의 재생 신호에 기초하여 충분한 재생 신호를 얻을 수 있는 조건을 구한다. 그 때문에, 인접하는 트랙 간에 기록 감도의 차이가 생겼다고 해도 적절한 기록 조건을 구하는 것이 가능해진다. 그 결과, 신호 재생시의 트랙 간의 크로스토크나, 신호 기록 시의 인접 트랙으로의 크로스 소거를 최소한으로 억제하여, 트랙 밀도의 고밀도화를 실현할 수 있다.
또한, 본 발명의 광기록 방법, 광기록 장치의 다른 한 형태는, 특정 트랙에서의 최적화 기록 조건을, 그 특정 트랙에 복수의 기록 조건으로 테스트 패턴을 기록하고, 인접 트랙으로부터의 재생 신호가 소정의 상태가 되는 기록 조건에 연산을 행함으로써 설정한다.
상기한 형태에서는, 기록 조건을 설정하고 싶은 특정 트랙에 실제로 기록을 행하고, 인접 트랙으로부터의 재생 신호에 기초하여 충분한 재생 신호를 얻을 수 있는 조건을 구하기 때문에, 인접하는 트랙 간에 기록 감도의 차이가 생겼다고 해도 적절한 기록 조건을 구하는 것이 가능해진다. 그 결과, 신호 재생 시의 트랙 간의 크로스토크나, 신호 기록 시의 인접 트랙으로의 크로스 소거를 최소한으로 억제하여, 트랙 밀도의 고밀도화를 실현할 수 있다.
발명의 상세한 설명의 항에 있어서 이루어진 구체적인 실시 형태 또는 실시예는, 어디까지나, 본 발명의 기술 내용을 분명히 하는 것으로서, 그와 같은 구체예에만 한정하여 협의로 해석되는 것이 아니고, 본 발명의 정신과 다음에 기재하는 특허 청구 사항과의 범위 내에서, 여러가지로 변경하여 실시할 수 있는 것이다.
본 발명은, 인접하는 트랙 간에 기록 감도의 차이가 존재하는 경우에도, 기록 마크의 폭을 최적으로 제어하고, 신호 재생 시의 트랙 간의 크로스토크나, 신호 기록 시의 크로스 소거(기록 마크 단부가 인접 트랙의 기록광의 유출에 의해 소거되는 현상)를 최소한으로 억제하고, 트랙의 고밀도화를 실현할 수 있는, 광기록 방법 및 광기록 장치를 제공한다.

Claims (61)

  1. 광기록 매체에 정보를 기록하는 광기록 방법으로서,
    트랙 폭보다도 넓은 기록 마크를 형성할 수 있는 미리 결정된 기록 조건으로, 광기록 매체의 제1 트랙에 제1 테스트 패턴을 기록하는 단계와,
    제1 테스트 패턴의 기록 후에, 제1 트랙과 인접하는 제2 트랙에서의 제1 테스트 패턴의 기록 영역에 인접하는 영역에, 제2 테스트 패턴을, 복수의 기록 조건으로 기록하는 단계와,
    상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 제1 트랙을 재생시켜 제1 판독 신호를 검출하는 단계와,
    상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 제2 트랙을 재생시켜 제2 판독 신호를 검출하는 단계와,
    상기 복수의 기록 조건과, 제1 판독 신호 및 제2 판독 신호에 기초하여, 제2 트랙에서의 최적 기록 조건을 결정하는 단계와,
    상기 최적 기록 조건으로, 제2 트랙에 정보를 기록하는 단계
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1 판독 신호를 검출하는 단계에서는, 제1 판독 신호의 진폭을 검출하고,
    상기 제2 판독 신호를 검출하는 단계에서는, 제2 판독 신호의 진폭을 검출하고,
    상기 최적 기록 조건을 결정하는 단계에서는, 상기 복수의 기록 조건과 상기 제1 판독 신호 및 제2 판독 신호의 진폭에 기초하여, 상기 최적 기록 조건을 결정하는
    것을 특징으로 하는 광기록 방법.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 제1 판독 신호를 검출하는 단계에서는, 제1 판독 신호의 지터를 검출하고,
    상기 제2 판독 신호를 검출하는 단계에서는, 제2 판독 신호의 지터를 검출하고,
    상기 최적 기록 조건을 결정하는 단계에서는, 상기 복수의 기록 조건과 상기 제1 판독 신호 및 제2 판독 신호의 지터에 기초하여, 상기 최적 기록 조건을 결정하는
    것을 특징으로 하는 광기록 방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 제1 판독 신호를 검출하는 단계에서는, 제1 판독 신호의 에러율을 검출하고,
    상기 제2 판독 신호를 검출하는 단계에서는, 제2 판독 신호의 에러율을 검출하고,
    상기 최적 기록 조건을 결정하는 단계에서는, 상기 복수의 기록 조건과 상기 제1 판독 신호 및 제2 판독 신호의 에러율에 기초하여, 상기 최적 기록 조건을 결정하는
    것을 특징으로 하는 광기록 방법.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 최적 기록 조건을 결정하는 단계에서는, 제1 판독 신호가 소정의 상태에 달하지 않은 경우에는, 제2 판독 신호가 소정의 상태가 되는 기록 조건인 제2 기록 조건을 구하고, 그 제2 기록 조건에 대해 연산을 가함으로써, 제2 기록 조건보다도 큰 기록 마크를 형성할 수 있는 기록 조건을 구하여 이 기록 조건을 최적 기록 조건으로 결정하는 것을 특징으로 하는 광기록 방법.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 최적 기록 조건을 결정하는 단계에서는, 제1 판독 신호의 진폭이 소정의 임계치에 도달하여 있는지의 여부를 판정하고, 제1 판독 신호의 진폭이 임계치에 도달하여 있는 경우에는, 상기 복수의 기록 조건과 상기 제1 판독 신호 및 제2 판독 신호의 진폭에 기초하여 상기 최적 기록 조건을 결정하는 한편, 제1 판독 신호의 진폭이 임계치에 도달하지 않은 경우에는, 제2 판독 신호의 진폭이 소정치가되는 기록 조건인 제2 기록 조건을 구하고, 그 제2 기록 조건에 대해 연산을 가함으로써, 제2 기록 조건보다도 큰 기록 마크를 형성할 수 있는 기록 조건을 구하여 이 기록 조건을 최적 기록 조건으로 결정하는 것을 특징으로 하는 광기록 방법.
  7. 광기록 매체에 정보를 기록하는 광기록 방법으로서,
    트랙 폭보다도 넓은 기록 마크를 형성할 수 있는 미리 결정된 기록 조건으로, 광기록 매체의 제1 트랙에 제1 테스트 패턴을 기록하는 단계와,
    제1 테스트 패턴의 기록 후에, 제1 트랙과 인접하는 제2 트랙에서의 제1 테스트 패턴의 기록 영역에 인접하는 영역에, 제2 테스트 패턴을, 복수의 기록 조건으로 기록하는 단계와,
    상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 제2 트랙을 재생시켜 제2 판독 신호를 검출하는 단계와,
    제2 판독 신호가 소정의 상태가 되는 기록 조건인 제2 기록 조건을 구하고, 그 제2 기록 조건에 대해 연산을 가함으로써, 제2 기록 조건보다도 큰 기록 마크를 형성할 수 있는 기록 조건을 구하여 이 기록 조건을 최적 기록 조건으로 결정하는 단계와,
    상기 최적 기록 조건으로, 제2 트랙에 정보를 기록하는 단계
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록 방법.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 제2 판독 신호를 검출하는 단계에서는, 제2 판독 신호의 진폭을 검출하고,
    상기 최적 기록 조건을 결정하는 단계에서는, 제2 판독 신호의 진폭이 소정치가 되는 기록 조건을 제2 기록 조건으로 하여 구하는
    것을 특징으로 하는 광기록 방법.
  9. 제7항에 있어서,
    상기 제2 판독 신호를 검출하는 단계에서는, 제2 판독 신호의 지터를 검출하고,
    상기 최적 기록 조건을 결정하는 단계에서는, 제2 판독 신호의 지터가 소정치가 되는 기록 조건을 제2 기록 조건으로 하여 구하는
    것을 특징으로 하는 광기록 방법.
  10. 제7항에 있어서,
    상기 제2 판독 신호를 검출하는 단계에서는, 제2 판독 신호의 에러율을 검출하고,
    상기 최적 기록 조건을 결정하는 단계에서는, 제2 판독 신호의 에러율이 소정치가 되는 기록 조건을 제2 기록 조건으로 하여 구하는
    것을 특징으로 하는 광기록 방법.
  11. 광기록 매체에 정보를 기록하는 광기록 방법으로서,
    트랙 폭보다도 넓은 기록 마크를 형성할 수 있는 미리 결정된 기록 조건으로, 광기록 매체의 제1 트랙에 제1 테스트 패턴을 기록하는 단계와,
    제1 테스트 패턴의 기록 후에, 제1 트랙과 인접하는 제2 트랙에 있어서의 제1 테스트 패턴의 기록 영역에 인접하는 영역에, 제2 테스트 패턴을, 복수의 기록 조건으로 기록하는 단계와,
    상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 제1 트랙을 재생시켜 제1 판독 신호를 검출하는 단계와,
    제1 판독 신호가 소정의 상태가 되는 기록 조건인 제1 기록 조건을 구하고, 그 제1 기록 조건에 대해 연산을 가함으로써, 제1 기록 조건보다도 작은 기록 마크를 형성할 수 있는 기록 조건을 구하여 이 기록 조건을 최적 기록 조건으로 결정하는 단계와,
    상기 최적 기록 조건으로, 제2 트랙에 정보를 기록하는 단계
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 제1 판독 신호를 검출하는 단계에서는, 제1 판독 신호의 진폭을 검출하고,
    상기 최적 기록 조건을 결정하는 단계에서는, 제1 판독 신호의 진폭이 소정치가 되는 기록 조건을 제1 기록 조건으로 하여 구하는
    것을 특징으로 하는 광기록 방법.
  13. 제11항에 있어서,
    상기 제1 판독 신호를 검출하는 단계에서는, 제1 판독 신호의 지터를 검출하고,
    상기 최적 기록 조건을 결정하는 단계에서는, 제1 판독 신호의 지터가 소정치가 되는 기록 조건을 제1 기록 조건으로 하여 구하는
    것을 특징으로 하는 광기록 방법.
  14. 제11항에 있어서,
    상기 제1 판독 신호를 검출하는 단계에서는, 제1 판독 신호의 에러율을 검출하고,
    상기 최적 기록 조건을 결정하는 단계에서는, 제1 판독 신호의 에러율이 소정치가 되는 기록 조건을 제1 기록 조건으로 하여 구하는
    것을 특징으로 하는 광기록 방법.
  15. 광기록 매체에, 적어도 광 빔을 조사하여, 정보를 기록하는 광기록 장치로서,
    제2 트랙으로의 기록 조건을 설정할 때에, 트랙 폭보다도 넓은 기록 마크를 형성할 수 있는 미리 결정된 기록 조건으로 광기록 매체의 제1 트랙에 제1 테스트패턴을 기록함과 함께, 제1 테스트 패턴의 기록 후에, 제1 트랙과 인접하는 제2 트랙에 있어서의 제1 테스트 패턴의 기록 영역에 인접하는 영역에, 제2 테스트 패턴을 복수의 기록 조건으로 기록하는 기록 수단과,
    상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 제1 트랙을 재생시켜 제1 판독 신호를 검출함과 함께, 상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 제2 트랙을 재생시켜 제2 판독 신호를 검출하는 판독 수단과,
    상기 복수의 기록 조건과, 제1 판독 신호 및 제2 판독 신호에 기초하여, 제2 트랙에 있어서의 최적 기록 조건을 결정하는 최적 기록 조건 설정 수단
    을 구비하는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 최적 기록 조건 설정 수단은, 제1 판독 신호가 소정의 상태에 달하지 않은 경우에는, 제2 판독 신호가 소정의 상태가 되는 기록 조건인 제2 기록 조건을 구하고, 그 제2 기록 조건에 대해 연산을 가함으로써, 제2 기록 조건보다도 큰 기록 마크를 형성할 수 있는 기록 조건을 구하여 이 기록 조건을 최적 기록 조건으로 결정하는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  17. 제15항에 있어서,
    상기 최적 기록 조건 설정 수단은, 제1 판독 신호의 진폭이 소정의 임계치에 도달하여 있는지의 여부를 판정하고, 제1 판독 신호의 진폭이 임계치에 도달하여있는 경우에는, 상기 복수의 기록 조건과 상기 제1 판독 신호 및 제2 판독 신호의 진폭에 기초하여 상기 최적 기록 조건을 결정하는 한편, 제1 판독 신호의 진폭이 임계치에 도달하지 않은 경우에는, 제2 판독 신호의 진폭이 소정치가 되는 기록 조건인 제2 기록 조건을 구하고, 그 제2 기록 조건에 대해 연산을 가함으로써, 제2 기록 조건보다도 큰 기록 마크를 형성할 수 있는 기록 조건을 구하여 이 기록 조건을 최적 기록 조건으로 결정하는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  18. 제15항에 있어서,
    상기 판독 수단에 의해 제1 판독 신호 및 제2 판독 신호로부터 검출된 검출량 중 적어도 한쪽을 정규화하여, 각 트랙 간의 감도의 차이를 보정하는 정규화 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  19. 제15항에 있어서,
    상기 판독 수단에 의해 검출된 제1 판독 신호 및 제2 판독 신호 중 적어도 한쪽의 신호량을, 제1 판독 신호 및 제2 판독 신호의 진폭의 최대치로 정규화하는 정규화 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  20. 제15항에 있어서,
    주위 방향의 변동을 보정하도록, 상기 판독 수단에 의해 검출된 제1 판독 신호 및 제2 판독 신호 중 적어도 한쪽의 검출량을 정규화하는 주위 내의 변동 정규화 수단(circumferential variation normalizing means)을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  21. 제15항에 있어서,
    상기 기록 수단의 기록하는 제2 테스트 패턴은, 제1 테스트 패턴의 반전 패턴으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  22. 제15항에 있어서,
    제1 테스트 패턴 및 제2 테스트 패턴은 2T(T는 채널 비트 길이) 이상의 마크와 스페이스를 조합한 패턴으로 이루어지고,
    상기 기록 수단의 기록하는 제1 테스트 패턴과 제2 테스트 패턴이 상호 대응하는 마크 및 스페이스가 인접하도록 기록 위치를 보정하는 위치 편차 보정 수단을 더 포함하는
    것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  23. 제22항에 있어서,
    상기 기록 수단은, 제2 테스트 패턴을 기록하기 전에, 제2 트랙에 제3 테스트 패턴을 기록하고,
    상기 위치 편차 보정 수단은, 제1 테스트 패턴과 제3 테스트 패턴이 상호 대응하는 마크 및 스페이스가 인접하도록 기록 위치를 보정하는
    것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  24. 제23항에 있어서,
    상기 제3 테스트 패턴은, 제1 테스트 패턴과 동일한 패턴인 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  25. 제15항에 있어서,
    제1 테스트 패턴 및 제2 테스트 패턴은, T를 채널 비트 길이로 하고, L을 상기 기록 수단이 제2 테스트 패턴을 기록하는 기록 조건의 범위 내에서 기록 비트의 위치 편차의 영향을 받지 않기 때문에 필요한 채널 비트수로 했을 때에, (2+L) ·T 이상의 마크와 스페이스를 조합한 패턴으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  26. 제15항에 있어서,
    제1 트랙은 랜드나 그루브 중 어느 한쪽에 형성된 트랙이고, 제2 트랙은 그 외에 형성된 트랙인 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  27. 제15항에 있어서,
    상기 판독 수단은, 제1 판독 신호의 진폭을 검출함과 함께, 제2 판독 신호의 진폭을 검출하고,
    상기 최적 기록 조건 설정 수단은, 상기 복수의 기록 조건과 상기 제1 판독 신호 및 제2 판독 신호의 진폭에 기초하여, 상기 최적 기록 조건을 결정하는
    것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  28. 제15항에 있어서,
    상기 판독 수단은, 제1 판독 신호의 지터를 검출함과 함께, 제2 판독 신호의 지터를 검출하고,
    상기 최적 기록 조건 설정 수단은, 상기 복수의 기록 조건과 상기 제1 판독 신호 및 제2 판독 신호의 지터에 기초하여, 상기 최적 기록 조건을 결정하는
    것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  29. 제15항에 있어서,
    상기 판독 수단은, 제1 판독 신호의 에러율을 검출함과 함께, 제2 판독 신호의 에러율을 검출하고,
    상기 최적 기록 조건 설정 수단은, 상기 복수의 기록 조건과 상기 제1 판독 신호 및 제2 판독 신호의 에러율에 기초하여, 상기 최적 기록 조건을 결정하는
    것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  30. 광기록 매체에, 적어도 광 빔을 조사하여, 정보를 기록하는 광기록 장치로서,
    제2 트랙으로의 기록 조건을 설정할 때에, 트랙 폭보다도 넓은 기록 마크를 형성할 수 있는 미리 결정된 기록 조건으로 광기록 매체의 제1 트랙에 제1 테스트 패턴을 기록함과 함께, 제1 테스트 패턴의 기록 후에, 제1 트랙과 인접하는 제2 트랙에 있어서의 제1 테스트 패턴의 기록 영역에 인접하는 영역에, 제2 테스트 패턴을 복수의 기록 조건으로 기록하는 기록 수단과,
    상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 제2 트랙을 재생시켜 제2 판독 신호를 검출하는 판독 수단과,
    제2 판독 신호가 소정의 상태가 되는 기록 조건인 제2 기록 조건을 구하고, 그 제2 기록 조건에 대해 연산을 가함으로써, 제2 기록 조건보다도 큰 기록 마크를 형성할 수 있는 기록 조건을 구하여 이 기록 조건을 최적 기록 조건으로 결정하는 최적 기록 조건 설정 수단
    을 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  31. 제30항에 있어서,
    상기 판독 수단은, 제2 판독 신호의 진폭을 검출하고,
    상기 최적 기록 조건 설정 수단은, 제2 판독 신호의 진폭이 소정치가 되는 기록 조건을 상기 제2 기록 조건으로 하여 구하는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  32. 제30항에 있어서,
    상기 판독 수단에 의해 제2 판독 신호로부터 검출된 검출량을 정규화하여, 각 트랙 간의 감도의 차이를 보정하는 정규화 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  33. 제31항에 있어서,
    상기 판독 수단에 의해 검출된 제2 판독 신호의 신호량을, 제2 판독 신호의 진폭의 최대치로 정규화하는 정규화 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  34. 제30항에 있어서,
    주위 방향의 변동을 보정하도록, 상기 판독 수단에 의해 검출된 제2 판독 신호의 검출량을 정규화하는 주위 내의 변동 정규화 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  35. 제31항에 있어서,
    상기 기록 수단이 제1 테스트 패턴을 기록한 후로서 제2 테스트 패턴을 기록하기 전에, 상기 판독 수단에 제1 트랙을 재생시켜 주위 내 변동 정규화용 신호를 검출시키고, 상기 주위 내 변동 정규화용 신호의 신호 진폭에 따라, 제1 판독 신호와 제2 판독 신호 중 적어도 한쪽의 신호 진폭을 정규화하는 주위 내 변동 정규화 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  36. 제30항에 있어서,
    상기 기록 수단이 기록하는 제2 테스트 패턴은, 제1 테스트 패턴의 반전 패턴으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  37. 제31항에 있어서,
    상기 기록 수단이 제2 테스트 패턴을 기록하기 전에, 상기 기록 수단에 제3 테스트 패턴을 기록시킴과 함께, 상기 기록 수단이 제2 테스트 패턴을 기록하기 전에, 상기 판독 수단에 제1 트랙과 제2 트랙 중 적어도 한쪽을 재생시켜 주위 내 변동 정규화용 신호를 검출시키고, 상기 주위 내 변동 정규화용 신호의 신호 진폭에 따라, 제1 판독 신호 및 제2 판독 신호 중 적어도 한쪽의 신호 진폭을 정규화하는 주위 내 변동 정규화 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  38. 제37항에 있어서,
    상기 제3 테스트 패턴은, 제1 테스트 패턴과 동일한 패턴인 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  39. 제30항에 있어서,
    제1 테스트 패턴 및 제2 테스트 패턴은 2T(T는 채널 비트 길이) 이상의 마크와 스페이스를 조합시킨 패턴으로 이루어지고,
    상기 기록 수단이 기록하는 제1 테스트 패턴과 제2 테스트 패턴이 상호 대응하는 마크 및 스페이스가 인접하도록 기록 위치를 보정하는 위치 편차 보정 수단을 더 포함하는
    것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  40. 제39항에 있어서,
    상기 기록 수단은, 제2 테스트 패턴을 기록하기 전에, 제2 트랙에 제3 테스트 패턴을 기록하고,
    상기 위치 편차 보정 수단은, 제1 테스트 패턴과 제3 테스트 패턴이 상호 대응하는 마크 및 스페이스가 인접하도록 기록 위치를 보정하는
    것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  41. 제40항에 있어서,
    상기 제3 테스트 패턴은, 제1 테스트 패턴과 동일한 패턴인 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  42. 제30항에 있어서,
    제1 테스트 패턴 및 제2 테스트 패턴은, T를 채널 비트 길이로 하고, L을 상기 기록 수단이 제2 테스트 패턴을 기록하는 기록 조건의 범위 내에서 기록 비트의 위치 편차의 영향을 받지 않기 때문에 필요한 채널 비트수로 했을 때에, (2+L)·T이상의 마크와 스페이스를 조합한 패턴으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  43. 제30항에 있어서,
    제1 트랙은 랜드나 그루브 중 어느 한쪽에 형성된 트랙이고, 제2 트랙은 그 외에 형성된 트랙인 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  44. 제30항에 있어서,
    상기 판독 수단은, 제2 판독 신호의 지터를 검출하고,
    상기 최적 기록 조건 설정 수단은, 제2 판독 신호의 지터가 소정치가 되는 기록 조건을 상기 제2 기록 조건으로 하여 구하는
    것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  45. 제30항에 있어서,
    상기 판독 수단은, 제2 판독 신호의 에러율을 검출하고,
    상기 최적 기록 조건 설정 수단은, 제2 판독 신호의 에러율이 소정치가 되는 기록 조건을 상기 제2 기록 조건으로 하여 구하는
    것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  46. 광기록 매체에, 적어도 광 빔을 조사하여, 정보를 기록하는 광기록 장치로서,
    제2 트랙으로의 기록 조건을 설정할 때에, 트랙 폭보다도 넓은 기록 마크를 형성할 수 있는 미리 결정된 기록 조건으로 광기록 매체의 제1 트랙에 제1 테스트 패턴을 기록함과 함께, 제1 테스트 패턴의 기록 후에, 제1 트랙과 인접하는 제2 트랙에 있어서의 제1 테스트 패턴의 기록 영역에 인접하는 영역에, 제2 테스트 패턴을 복수의 기록 조건으로 기록하는 기록 수단과,
    상기 복수의 기록 조건 각각에 대응하여, 제1 트랙을 재생시켜 제1 판독 신호를 검출하는 판독 수단과,
    제1 판독 신호가 소정의 상태가 되는 기록 조건인 제1 기록 조건을 구하고, 그 제1 기록 조건에 대해 연산을 가함으로써, 제1 기록 조건보다도 작은 기록 마크를 형성할 수 있는 기록 조건을 구하여 이 기록 조건을 최적 기록 조건으로 결정하는 최적 기록 조건 설정 수단
    을 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  47. 제46항에 있어서,
    상기 판독 수단은, 제1 판독 신호의 진폭을 검출하고,
    상기 최적 기록 조건 설정 수단은, 제1 판독 신호의 진폭이 소정치가 되는 기록 조건을 상기 제1 기록 조건으로 하여 구하는
    것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  48. 제46항에 있어서,
    상기 판독 수단에 의해 제1 판독 신호로부터 검출된 검출량을 정규화하여, 각 트랙 간의 감도의 차이를 보정하는 정규화 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  49. 제47항에 있어서,
    상기 판독 수단에 의해 검출된 제1 판독 신호의 신호량을, 제1 판독 신호의 진폭의 최대치로 정규화하는 정규화 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  50. 제46항에 있어서,
    주위 방향의 변동을 보정하도록, 상기 판독 수단에 의해 검출된 제1 판독 신호의 검출량을 정규화하는 주위 내 변동 정규화 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  51. 제47항에 있어서,
    상기 기록 수단이 제1 테스트 패턴을 기록한 후로서 제2 테스트 패턴을 기록하기 전에, 상기 판독 수단에 제1 트랙을 재생시켜 주위 내 변동 정규화용 신호를 검출시키고, 상기 주위 내 변동 정규화용 신호의 신호 진폭에 따라, 제1 판독 신호 및 제2 판독 신호 중 적어도 한쪽의 신호 진폭을 정규화하는 주위 내 변동 정규화수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  52. 제46항에 있어서,
    상기 기록 수단이 기록하는 제2 테스트 패턴은, 제1 테스트 패턴의 반전 패턴으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  53. 제47항에 있어서,
    상기 기록 수단이 제2 테스트 패턴을 기록하기 전에, 상기 기록 수단에 제3 테스트 패턴을 기록시킴과 함께, 상기 기록 수단이 제2 테스트 패턴을 기록하기 전에, 상기 판독 수단에 제1 트랙과 제2 트랙 중 적어도 한쪽을 재생시켜 주위 내 변동 정규화용 신호를 검출시키고, 상기 주위 내 변동 정규화용 신호의 신호 진폭에 따라, 제1 판독 신호 및 제2 판독 신호 중 적어도 한쪽의 신호 진폭을 정규화하는 주위 내 변동 정규화 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  54. 제53항에 있어서,
    상기 제3 테스트 패턴은, 제1 테스트 패턴과 동일한 패턴인 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  55. 제46항에 있어서,
    제1 테스트 패턴 및 제2 테스트 패턴은 2T(T는 채널 비트 길이) 이상의 마크와 스페이스를 조합한 패턴으로 이루어지고,
    상기 기록 수단이 기록하는 제1 테스트 패턴과 제2 테스트 패턴이 상호 대응하는 마크 및 스페이스가 인접하도록 기록 위치를 보정하는 위치 편차 보정 수단을 더 포함하는
    것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  56. 제55항에 있어서,
    상기 기록 수단은, 제2 테스트 패턴을 기록하기 전에, 제2 트랙에 제3 테스트 패턴을 기록하고,
    상기 위치 편차 보정 수단은, 제1 테스트 패턴과 제3 테스트 패턴이 상호 대응하는 마크 및 스페이스가 인접하도록 기록 위치를 보정하는
    것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  57. 제56항에 있어서,
    상기 제3 테스트 패턴은, 제1 테스트 패턴과 동일한 패턴인 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  58. 제46항에 있어서,
    제1 테스트 패턴 및 제2 테스트 패턴은, T를 채널 비트 길이로 하고, L을 상기 기록 수단이 제2 테스트 패턴을 기록하는 기록 조건의 범위 내에서 기록 비트의위치 편차의 영향을 받지 않기 위해 필요한 채널 비트수로 했을 때에, (2+L)·T 이상의 마크와 스페이스를 조합한 패턴으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  59. 제46항에 있어서,
    제1 트랙은 랜드나 그루브 중 어느 한쪽에 형성된 트랙이고, 제2 트랙은 다른 쪽에 형성된 트랙인 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  60. 제46항에 있어서,
    상기 판독 수단은, 제1 판독 신호의 지터를 검출하고,
    상기 최적 기록 조건 설정 수단은, 제1 판독 신호의 지터가 소정치가 되는 기록 조건을 상기 제1 기록 조건으로 하여 구하는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
  61. 제46항에 있어서,
    상기 판독 수단은, 제1 판독 신호의 에러율을 검출하고,
    상기 최적 기록 조건 설정 수단은, 제1 판독 신호의 에러율이 소정치가 되는 기록 조건을 상기 제1 기록 조건으로 하여 구하는
    것을 특징으로 하는 광기록 장치.
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