KR100303529B1 - 원통형물체의검사장치 - Google Patents
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Abstract
물체의 단부표면을 조사하는 수단, 물체축에 평행한 단부표면에 의해 반사된 방사선을 검출하는 검출기수단과 검출기 수단에 직접 반사된 방사선을 갖는 단부표면의 비율을 계산하는 계산기 수단을 포함하는 원통형 물체의 단부표면 검사장치에서 조사수단은 고리소스를 구성하고 고리중심은 물체축과 일치하고 반사된 방사선에 투명하여 검출기 수단에 반사된 빛이 고리를 통해 방해받지않고 통과하고 고리소스가 단부표면을 가로질러 균일하게 방사되게하는 관련된 수단을 갖는다.
Description
제 1 도는 원통형 팰릿의 단부면 검사를 위한 구성이 도시된 도면.
제 2 도는 핵연료 팰릿의 축방향 단면도.
제 3 도는 상이한 고리형 광원을 사용하여 핵연료 팰릿을 조명하는 효과가 도시된 일련의 세 그래프.
제 4 도는 제 1 도에 도시된 구성을 따라 검사를 수행하기 위한 특정 형태의 장치에 대한 부분 단면 측면도.
제 5 도는 원통형 팰릿의 단부면에 대한 검사를 수행하기 위한 다른 장치의 측면도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1,35 : 팰릿 1a : 단부면
3,5,19,21,25,27 : 고리형 광원 7,23,29 : 광검출기
9 : 렌즈 11 : 트랙
13 : 이송 기구 15,27 : 빔
31 : 휠 33 : 경사부
37 : 보어스코프 39 : 프로브
41 : 고리형 발광체 선단 43 : 광원
45 : 광케이블 47 : TV 카메라
49 : 유니트 50 : 케이블
본 발명은 표면의 결함을 검출하기 위해 원통형 물체, 특히 상기 물체의 단부면을 검사하기 위한 장치에 관한 것이다. 물체는 핵연료 팰릿(pellet)일 수 있다.
핵연료 팰릿과 같은 원통형 물체는 매우 엄격한 제조 품질 조건을 만족해야 한다. 상기 물체는 조작자의 처리없이 자동화 제조 공정에 의해 제조될 수 있고, 상기 공정에서는 자동 장치를 이용한 물체 표면 결함의 검출이 필요하다. 물체는 예를 들어 UO2(이산화 우라늄) 팰릿과 같은 소결된 산화 원통형 팰릿일 수 있다. 소결된 팰릿은 스테인레스강 피복관에 삽입되고, 관은 연료핀(fuel pin)을 형성하도록 밀봉되며, 일단의 핀은 예를 들어 PWR형 또는 BWR형인 경수로와 같은 원자로에 사용되는 연료 요소를 형성하도록 조립된다. 팰릿은 피복관에 삽입되기 전에 자동 검사를 필요로 한다.
본 발명의 목적은 자동 처리 및 운반 시스템의 검사 단계에 구성된 핵연료 팰릿과 같은 원통형 물체의 단부면을 자동검사하기 위한 장치 및 방법을 제공하는 것이다.
공지 기술에서 물체의 검사에 대한 여러 광학 기술이 공지되어 있다. 예를 들어 GB 2104651A, GB 2057675A, EP 093422A, EP 048072A, US 5012117, US 4923066 및 US 4667113에 개시되어 있다. 그러나, 상기 기술중의 어느 것도 핵연료 팰릿의 단부면에 사용되기에는 적합하지 않다.
본 발명에 따라, 원통형 물체의 단부면을 검사하기 위한 장치가 제공되고, 상기 장치는 조사 수단, 검출기 수단 및 계산기 수단으로 구성되며, 상기 조사 수단은 물체의 단부면을 조사하고, 상기 검출기 수단은 단부면에 의해 물체의 축에 평행하게 반사된 방사선을 검출하며, 상기 계산기 수단은 검출기 수단으로직접 방사선을 반사시킨 단부면의 비율을 계산하고, 상기 조사 수단은 고리형 광원으로 구성되며, 고리형 광원의 중심은 물체의 축과 일치하고, 검출기 수단으로 반사된 방사선이 방해받지 않고 고리형 광원을 통과하도록, 고리형 광원은 반사 방사선을 투과시키며, 고리형 광원은 상기 단부면을 가로질러 균일한 조사가 이루어지도록 하는 상기 고리형 광원에 결합된 수단을 가진다.
단부면은 평평한 형태이거나 대칭인 오목한 접시형태일 수 있다. 내측 변부 및 외측 변부가 구비된 환형 단부를 가진 튜브형 물체와는 달리, 단부면은 단일 변부에 의해 한계가 구성된 연속면으로 구성될 수 있다.
상기 고리형 광원은 상기 고리형 광원에 결합된 하나 이상의 다른 고리형 광원을 가질 수 있고, 고리형 광원은 모두 상기 축과 일치하는 중심을 가지며, 상기 축의 상이한 위치에 구성되고, 방사선이 검출기 수단까지 방해받지 않고 반사되도록 상기 방사선을 투과시킨다.
본 발명의 원리는, 표면의 구조에 따라 결정되는 범위까지 단부면이 방사선을 검출기 수단으로 반사시킨다는 점이다. 표면이 결함없는 매끄러운 곳에서는, 표면에 의한 방사선의 반사는 정반사, 즉 반사면에 수직인 축에 근접한 반사이다. 단부면이 예를 들어 크랙(crack) 또는 결함을 포함한 곳에서는, 결함에 의한 방사선의 반사는 확산되고, 결함으로부터 검출기 수단으로 반사된 방사선의 강도는 낮다. 검출기 수단을 물체의 축에 구성함으로써, 결함으로 인한 저강도의 정반사를 가진 검출기 수단에 의한 검출은 가능하다.
검출기 수단은 전자 영상 광검출기로 구성될 수 있고, 선택적으로 비영상 광검출기로 구성될 수도 있다. 비영상 광검출기의 경우에, 출력 신호는 검출기에 입사된 방사선의 총량에 비례하고, 광검출기에 수신된 방사선은 물체 단부로부터 방출된다. 영상 광검출기의 경우에, 검출기 수단으로부터 방출된 출력 신호는, 물체 표면의 다른 요소로부터 검출기 수단에 의해 검출된 반사 방사선 강도를 나타내는 요소로 구성된다.
영상 광검출기의 경우에, 계산기 수단은 신호 처리장치로 구성될 수 있고, 상기 신호 처리장치는 검출기 수단에 의해 제공된 출력 신호를 분석한다. 상기 처리장치는 모든 신호 성분 크기를 합하고, 예정 기준 레벨과 총합을 비교한다. 계산기 수단은 또한 영상 처리장치로 구성될 수 있고, 상기 영상 처리장치는 검출기 수단에 의해 제공된 출력 신호를 분석한다. 상기 처리장치는 예정 기준 레벨과 출력 성분 크기를 비교한다. 처리장치는 각각 기준 레벨 위와 아래에 있는 신호 크기(영상으로서의 강도)를 가지는 구성성분 또는 픽셀(pixel)의 수를 계산한다. 기준 레벨 위에 있는 픽셀의 수는 손상되지 않은 물체의 면적을 나타낸다.
일련의 연속된 원통형 물체가 차례로 검사되는 본 발명의 특정 형태에서, 물체는 이송 트랙(track)을 따라 검사 위치로 이송되고, 상기 검사위치에서 상기 물체는 지지용 빔(beam)에 구성되며, 검사될 단부면 이상으로 돌출된 지지용 빔에 물체가 구성될 때, 상기 물체의 축이 물체가 이전에 이동되었던 이송 트랙에 대해 각을 이루며 경사져 구성되도록, 상기 지지용 빔이 구성된다. 예를 들어, 이송 트랙은 수평일 수 있고, 검사될 단부면이 상향으로 향하도록, 검사 위치에 구성된 지지용 빔의 인접부가 경사져 구성될 수 있다. 상기 방법에서, 광원 및 검출기 수단은 물체의 전달과 간섭되지 않고 축에 구성된다.
각 물체의 양 단부면이 차례로 검사되도록, 검사 위치가 구성된다. 물체의 한 단부가 제 1 광원 및 검출기 수단(물체의 축에 구성된)을 사용하여 제 1 지지용 빔에서 검사되고, 다른 한 단부는 제 2 광원 및 검출기 수단(물체의 축에 구성된)을 사용하여 제 2 지지용 빔에서 검사되도록, 장치가 구성된다.
이송 트랙 및 지지용 빔은 쿠션 트랜스퍼(Cushion Transfer)(TM) 재료로 형성되고, 상기 쿠션 트랜스퍼 재료는 본원 출원인의 영국 특허 명세서 GB 2223998A에 기술되어 있으며, 상기 문헌의 내용은 본원에서 참고로 인용된다.
본 발명에 따른 장치 및 방법에 의해 검사된 물체는 핵연료 팰릿이다. 팰릿은 소위 PWR 원자로에 사용되는 산화 우라늄 팰릿이다. 팰릿은 또한 소위 MOX 연료용 팰릿이고, 상기 MOX 연료에서 플루토늄 및 산화 우려늄 팰릿의 혼합물이 사용된다.
물체가 MOX 핵연료 팰릿인 곳에서, 상기 팰릿의 이송 및 검사는 외부환경이 차단되는 예를 들어 장갑상자(glovebox)와 같은 방사선에 안정한 구조물에서 이루어진다. 상기 경우에, 팰릿 검사 공간은 제한된다. 상기 경우 광원은 보어스코프(borescope) 장치(기계가공된 홀 및 파이프 등의 조명 및 검사에 사용되는)로 구성되고, 상기 보어스코프 장치는 프로브(probe)의 단부에 구성된 광섬유 링을 가진 프로브 또는 스템(stem)을 가진다. 검출기는 소형 TV 카메라로 구성되고, 상기 TV 카메라는 프로브로부터의 원거리 단부에서 보어스코프 장치에 조립된다. 보어스코프 장치를 통해 링으로 전달하기 위한 광은, 광섬유 광안내 케이블에 의해 보어스코프 장치로 전달된다. TV 카메라용 제어 및 처리 유니트(unit)와 보어스코프에 광을 제공하는 광원은 방사선에 안정한 구조물 외측 원거리에 구성된다.
물체를 검사하기 위해 고리형 광원을 사용하는 것은 GB 2104651A에 공지되어 있다. 그러나, 상기 방법에서 물체는 병의 목부분(neck)이다. 따라서, 검사되는 표면은 단일 변부에 의해 둘러싸인 연속 단부면이 아니다. 핵연료 팰릿 단부면과 같이 단일 변부에 의해 둘러싸인 연속 단부면이 검사될 때, GB 2104651A에 기술된 단일 고리형 광원은 검사면, 특히 표면이 오목한 곳을 가로질러 균일한 조사를 제공하기에 적합하지 않다. 상대 위치가 조절에 의해 적합하게 선택될 수 있는 2개 이상의 고리형 광원을 사용함으로써, 또는 조절가능한 프로브 또는 스템과 스템의 단부에 구성된 광섬유 링을 가지는 보어스코프를 사용함으로써, 검사면은 균일하게 조사될 수 있다. 균일한 조사로 인하여 검출 시스템의 단일 작업에 의해 손상된 표면과 양호한 표면이 구별된다. 상기로 인해, 공지 기술에 사용된 고가의 고속 처리장치를 필요로 하지 않고, 저가의 고해상도 영상 장치가 사용가능하다. 광검출기에 의해 수신된 예를 들어 광인 수신 방사선의 양이 측정 기준인 곳에는, 단일 비영상 광검출기가 사용된다.
본 발명의 실시예는 첨부 도면을 참고로 기술될 것이다.
제 1 도에서, 원통형 핵연료 팰릿(pallet)(1)은 검사될 단부면(1a)을 가진다. 팰릿(1)은 점선으로 도시된 축(X)을 가진다. 단부면(1a)을 조명 하도록, 고리형 광원(3,5)(즉, 중공 중심부를 가진 고리 형상의 광원)은 축(X)을 따라 상이한 거리에 구성된다. 고리형 광원(3,5)의 중심은 축(X)과 일치한다. 예를 들어 TV 카메라인 광검출기(7)는 축(X)의 고리형 광원(3,5) 후방에 구성된다. 렌즈(9)가 광원의 초점을 맞추도록 광검출기(7)에 구성된다.
제 1 도에 단순 직원기등으로 도시된 팰릿(1)은 제 2 도에 도시된 단면을 가진 단부면(1a)을 가진다. 프로파일은 단부 랜드(land) 영역(1c) 내부의 접시형상부(1b)로 구성되고, 단부 랜드 영역(1c)은 외주에서 모따기부(chamfer)(1d)를 가진다.
제 1 도에서, 팰릿(1)으로부터 더 원거리에 구성된 고리형 광원(5)은 단부 랜드 영역(1c) 및 접시형상부(1b)의 중심부를 조명한다. 팰릿으로부터 더 근거리에 구성된 고리형 광원(3)은, 고리형 광원(5)에 의해 이미 조명되는 영역을 더 조명하지 않고, 접시형상부(1b)의 외측부 및 모따기부(1d)의 일부를 조명한다. 보다 더 효율적이고 반복가능한 측정은, 고리형 광원(5) 및 고리형 광원(5) 너머에 구성된 고리형 광원(도시되지 않음)에 의해 접시형상부(1b)의 중심부 및 단부 랜드 영역(1c)을 조명함으로써 이루어진다. 팰릿(1)으로부터 고리형 광원까지의 소요 거리는 팰릿(1) 단부면(1a)의 표면 프로파일에 따라 결정되나, 상기는 시행착오에 의해 결정될 수 있다. 상기 시행착오의 효과는 표면 영역을 가로질러 단부면(1a)의 균일한 조명을 제공한다는 점이다.
고리형 광원(3,5)으로부터의 광은 렌즈(9)에 의해 광검출기(7)에 집중된다. 광검출기(7)의 출력은 비디오신호로 구성되고, 상기 비디오 신호는 반사 휘도(brightness)로 표면(1a)의 구성요소 영역에 대한 영상을 나타내는 구성요소로 이루어진다. 높고 낮은 반사 휘도를 가지는 표면 영상의 픽셀(pixel) 수를 결정하여 임의의 확산 반사 결함을 포함하는 표면(1a) 영역의 측정법을 제공하도록, 구성요소는 전술된 방법으로 처리된다.
제 3 도에 제 1 도의 팰릿(1)을 조명하기 위해 3개의 고리형 광원을 사용하는 효과가 도시되어 있다. 각 경우에 조명되는 팰릿은 결함이 없다. 각 그래프에서, 수직축은 검출기(7)에서 검출되는 광의 "회색치(gray value)" 또는 검출 강도를 나타내고, 수평축은 임의 데이터에 대해 조명된 팰릿의 표면을 가로지르는 "픽셀 위치"를 나타낸다.
고리형 광원(3)만을 사용하는 제 3(a) 도에서, 팰릿(1)의 접시형상부(1b)(제 2 도 참조)로부터 반사된 광은 점선(I,I') 사이의 그래프 영역(A)을 형성하고, 단부 랜드 영역(1c)으로부터 반사된 광은 저강도밴드(band)(B,B')를 형성하며, 모따기부(1d)로부터 반사된 광은 예리한 피크(peak)(C,C')를 형성한다.
고리형 광원(5) 및 상기 고리형 광원(5)의 너머에 구성되는 고리형 광원을 사용하나 고리형 광원(3)을 사용하지 않는 효과가 도시된 제 3(b)도에서, 단부 랜드 영역(1c) 및 접시형상부(1b)의 중심에 대한 조명은 영역(A,B,B')의 변형된 형상으로 도시된다.
제 3(c) 도에, 모두 3개의 고리형 광원, 즉 고리형 광원(3,5) 및 상기 고리형 광원(3,5) 너머의 고리형 광원을 사용하는 효과가 도시되어 있다. 상기 경우에, 조명은 팰릿(1)의 단부면(1a)을 가로질러 균일하게 형성된다.
다른 고리형 광원을 사용하지 않고 고리형 광원(3,5)을 사용하는 것은 제 3(c) 도에 도시된 조명 프로파일과 유사한 조명 프로파일을 제공하나, 그래프의 형상이 제 3(c) 도와 같이 균일하지는 않다.
제 4 도에, 검사 장치에 순서대로 전달되는 일련의 팰릿에서 각 팰릿(제 2 도 참조)의 양단부에 대해 제 1 도를 참고로 기술된 검사 기술을 수행하기 위한 장치가 도시되어 있다. 팰릿(도시되지 않음)은 수직벽이 구성된 트랙(11)(벽은 도면 평면에서 운동 방향(Y)에 평행함)에 적층되어 구성된다. 트랙(11)의 단부에 이송 기구(13)가 구성되고, 상기 이송 기구(13)는 수평의 쿠션 트랜스퍼 빔(Cushion Transfer beam)(15) 위에서 팰릿의 이송률을 제어한다. 상기 실시예에 기술된 모든 쿠션 트랜스퍼 빔은, 영국 특허 명세서 GB 2223998A에 기술되어 있는 쿠션 트랜스퍼 재료로 코팅된 V자형 빔이다. 각 빔에서 V자형의 각도는 90°이다. 원통형 팰릿은 빔을 따라 이동되고, 상기 원통형 물체의 곡면은 V자형의 측면에 의해 지지된다.
팰릿이 이송기구(13)로부터 배출될 때, 상기 팰릿은 트랙(11)의 전달 속도보다 빠른 선형 속도로 빔(15)을 따라 가속된다. 상기는 검사중 팰릿이 서로 간섭되지 않도록 팰릿의 분리를 가능하게 한다. 팰릿은 빔(15)의 단부에서 다른 쿠션 트랜스퍼 빔(17)으로 이송된다. 빔(17)은 수평영역(17a), 상기 수평 영역(17a) 후방에 구성된 하강 영역(17b) 또는 경사부, 상기 하강 영역(17b) 후방에 구성된 영역(17c) 및 상기 영역(17c) 후방에 구성된 다른 하강 영역(17d)을 가지고, 상기 영역(17c)은 빔(15)의 일부이며, 수평면에서 진동한다. 팰릿의 한 단부에 대한 검사는 팰릿의 축(X1)에 구성된 고리형 광원(19,21) 및 광검출기(23)에 의해 제 1 도를 참고로 기술된 방법으로 하강 영역(17b)에서 이루어진다. 팰릿의 다른 한 단부에 대한 검사는 팰릿의 축(X2)에 구성된 고리형 광원(25,27) 및 광검출기(29)에 의해 제 1 도를 참고로 기술된 방법으로 수평 영역(17c)에서 이루어진다.
팰릿이 영역(17b)을 따라 하강될 때, 영역(17b) 위에 구성된 회전 휠(wheel)(31)에 의해 부분적으로 구속된다. 휠(31)은 광검출기(23)에 의한 영상 포착 순간에 팰릿의 속도를 감속시키고, 축(X1)을 따라 팰릿이 축방향으로 구성되도록 한다. 영상 포착을 위한 팰릿의 최적 위치는 위치 센서(도시되지 않음)에 의해 감지될 수 있고, 상기 위치 센서는 출력을 광검출기(23) 및 광검출기(23)의 출력 처리장치(도시되지 않음)에 제공한다.
팰릿의 후방 단부에 대한 검사 후, 팰릿은 영역(17c)을 따라 수평으로 이동되고, 상기 영역(17c)에서 상기 팰릿의 선단부는 고리형 광원(25,27) 및 광검출기(29)에 의해 유사한 방법으로 검사된다. 다른 경사 영역(17d)에 의해, 각 팰릿이 수평 영역(17c)으로부터 가속되어 검사될 다음 팰릿과 간섭되지 않는다.
최종적으로, 경사 영역(17b,17d)을 하강하여 이동함으로써 손실된 높이를 회복하기 위해, 팰릿은 빔(15)의 점진적으로 경사져 구성된 경사부(33)를 따라 상향이동된다. 경사부(33)는 수평면에서 진동한다.
제 5 도에 도시된 구성에서, MOX 연료 팰릿(35)은 보어스코프(borescope)(37)에 의해 조명되고, 상기 보어스코프(37)은 중공 광전도 프로브(probe)(39)를 가지며, 상기 중공 광전도 프로브(39)의 단부에 고리형 발광체 선단(tip)(41)이 구성된다. 고리형 발광체 선단(41)의 중심은 팰릿(35)의 축(도시되지 않음)과 일치한다. 고리형 발광체 선단(41)에 대한 광은 광원(43)에 의해 제공되고, 광케이블(45)을 통해 보어스코프(37)로 공급되며, 보어스코프(37)를 통해 고리형 발광체 선단(41)으로 공급된다. 소형 TV 카메라(47)가 보어스코프(37)의 후방 단부에 구성된다. 카메라(47)는 케이블(50)의 전기 도선을 통해 유니트(unit)(49)에 의하여 제어된다.
고리형 발광체 선단(41)으로부터의 광이 팰릿(35)의 단부면에 집중되고 상기 팰릿(35)의 단부면을 균일하게 조명할 때까지, 보어스코프(37)의 위치가 조절된다. 팰릿(35)의 단부면으로부터 방출된 광은 중공형태인 보어스코프(37)의 내부를 통해 후방으로 반사되고, TV 카메라(47)에 전달된다. 카메라(47)의 출력은 케이블(50)의 다른 도선을 통해 유니트(49)로 전달되고, 상기 유니트(49)에서 상기 출력은 처리장치(도시되지 않음)에 의해 처리된다.
카메라 보어스코프(37), 프로브(39), 선단(41) 및 팰릿(35)은 장갑상자(glovebox) 내부에 구성된다. 팰릿은 자동 처리 장비에 의해 상기 장갑상자내에 구성될 수 있다. 유니트(49) 및 광원(43)은 장갑상자 외부에 구성된다.
Claims (17)
- (정정) 원통형 물체의 단부면을 검사하기 위한 장치에 있어서, 상기 장치는 조사 수단, 검출기 수단 및 계산기 수단으로 구성되고, 상기 조사 수단은 물체의 단부면을 조사하며, 상기 검출기 수단은 단부면에 의해 물체의 축에 평행하게 반사된 방사선을 검출하고, 상기 계산기 수단은 검출기 수단에 직접 방사선을 반사시킨 단부면의 비율을 계산하며, 조사 수단은 2개 이상의 고리형 광원으로 구성되고, 고리형 광원의 중심은 물체의 축과 일치하며, 고리형 광원은 검출기 수단으로 반사된 방사선이 방해받지 않고 고리형 광원을 통과하도록, 반사 방사선을 투과시키고, 고리형 광원이 동시에 상기 단부면을 조명할 때, 상기 단부면을 가로질러 균일한 조사가 이루어지도록, 고리형 광원의 상대 위치가 조절되는 것을 특징으로 하는 장치.
- (삭제)
- (정정) 제 1 항에 있어서, 검출기 수단은 비영상 광검출기로 구성되고, 상기 비영상 광검출기는 작동시 광검출기에 입사된 방사선의 총량에 비례하는 출력 신호를 제공하는 것을 특징으로 하는 장치.
- (정정) 제 1 항에 있어서, 검출기 수단은 전자 영상 광검출기로 구성되고, 상기 전자 영상 광검출기는 작동시 반사된 방사선 강도를 나타내는 성분으로 구성된 출력 신호를 제공하며, 상기 반사된 방사선 강도는 물체 표면의 상이한 요소로부터 검출기 수단에 의해 검출되는 것을 특징으로 하는 장치.
- (정정) 제 4 항에 있어서, 계산기 수단은 신호 처리장치로 구성되고, 상기 신호 처리장치는 작동시 검출기 수단에 의해 제공된 출력 신호를 분석하는 것을 특징으로 하는 장치.
- (정정) 제 5 항에 있어서, 작동시 처리장치가 성분 크기를 합하고 예정 기준 레벨과 총합을 비교하도록, 상기 처리장치가 구성되는 것을 특징으로 하는 장치.
- (정정) 제 6 항에 있어서, 계산기 수단은 영상 처리장치로 구성되고, 상기 영상 처리장치는 작동시 출력 성분 크기와 예정 기준 레벨을 비교함으로써 검출기 수단에 의해 제공된 출력 신호를 분석하며, 처리장치는 각각 기준 레벨 위와 아래에 구성된 신호 크기를 가지는 구성성분 또는 픽셀의 수를 계산하고, 기준 레벨 위에 구성된 픽셀의 수는 손상되지 않은 검사물체의 면적으로 나타내는 것을 특징으로 하는 장치.
- (정정) 제 1 항에 있어서, 일련의 연속된 원통형 물체가 차례로 검사되고, 물체는 이송 트랙을 따라 검사 위치로 이송되며, 상기 검사 위치에서 상기 물체는 지지용 빔에 구성되고, 검사될 단부면 이상으로 돌출된 지지용 빔에 물체가 구성될 때, 상기 물체의 축이 물체가 이전에 이동되었던 이송 트랙에 대해 각을 이루며 경사져 구성되도록, 상기 지지용 빔이 구성되는 것을 특징으로 하는 장치.
- (정정) 제 8 항에 있어서, 이송 트랙은 수평이고, 검사될 단부면이 상향으로 향하도록, 검사 위치에 구성된 지지용 빔의 인접부가 경사져 구성되는 것을 특징으로 하는 장치.
- (정정) 제 8항에 있어서, 각 물체의 양 단부면이 차례로 검사되도록, 검사 위치가 구성되는 것을 특징으로 하는 장치.
- (정정) 제 9 항에 있어서, 물체의 한 단부가 물체의 축에 구성된 제 1 광원 및 검출기 수단을 사용하여 제 1 지지용 빔에서 검사되고, 다른 한 단부는 물체의 축에 구성된 제 2 광원 및 검출기 수단을 사용하여 제 2 지지용 빔에서 검사되도록, 장치가 구성되는 것을 특징으로 하는 장치.
- (정정) 제 8 항에 있어서, 이송 트랙 및 지지용 빔은 쿠션 트랜스퍼(TM) 재료로 형성되는 것을 특징으로 하는 장치.
- (정정) 제 1 항에 있어서, 장치에 의해 검사되는 물체는 핵연료 팰릿인 것을 특징으로 하는 장치.
- (정정) 제 13 항에 있어서, 물체는 MOX 핵연료 팰릿이고, 상기 팰릿의 이송 및 검사는 외부 환경이 차단되는 방사선에 안정한 구조물에서 수행되는 것을 특징으로 하는 장치.
- (정정) 제 14 항에 있어서, 조사 수단은 보어스코프 장치로 구성되고, 상기 보어스코프 장치는 프로브의 단부에 구성된 광섬유 링을 가진 프로브 또는 스템을 가지는 것을 특징으로 하는 장치.
- (정정) 제 15 항에 있어서, 검출기는 TV 카메라로 구성되고, 상기 TV 카메라는 프로브로부터의 원거리 단부에서 보어스코프 장치에 조립되는 것을 특징으로 하는 장치.
- (정정) 제 15 항에 있어서, 사용시 보어스코프 장치를 통해 링으로 전달하기 위한 광은, 광섬유 광안내 케이블에 의해 보어스코프 장치로 전달되고, TV 카메라용 제어 및 처리 유니트와 보어스코프에 광을 제공하는 광원은 방사선에 안정한 구조물 외측 원거리에 구성되는 것을 특징으로 하는 장치.
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