KR100288310B1 - 측색치의 보정 방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은, 분광계, 비색계 또는 비중계와 같은 색도 측정계를 사용하여 임의의 온도에서 착색 물질 샘플의 비색 측정치를 측정하고, 온도에 따른 비색 측정치의 변화를 기준으로 하여 상기 측정된 비색 측정치를 수정하며, 이 비색 측정치의 변화는 두개의 다른 온도중 낮은 온도에서 하나의 착색 물질 샘플을 관찰한 비색 측정치들 사이의 차이로부터 정산함으로써, 특정 온도에서의 비색 측정치를 측정하는 방법에 관한 것이다. 분광계를 사용하는 경우에는, 착색된 물질 샘플의 분광 반사율 또는 분광 투과율을 특정한다. 한편, 분광 반사율 또는 분광 투과율은, 두개의 다른 온도중 낮은 온도에서 염료 또는 안료에 대해서 미리 측정한다. 각 파장에서의 흡수 개수(K)의 차이(ΔK), 산란계수(S)의 차이(ΔS), 및 흡수 계수(D)의 차이 (ΔD)를, 미리 관찰한 분광 반사율 또는 분광 투과율로부터 정산한다. 임의의 온도에서 관찰한 분광 투과율 또는 분광 반사율을 수정한 후, 수득된 K,S, 및 D의 값을 사용하여 특정 온도에서의 비색 측정치를 구한다. 이 방법에 따르면, 온도 변화에 따른 관찰상의 차이 없이 임의의 온도 조건에서 간단한 작업을 통해 단일 또는 혼합된 색의 착색가를 상당히 정확하게 측정할 수 있다.
Description
본 발명은 각종 착색 물체의 측색치(測色値, colorimetric value)의 보정방법, 보다 구체적으로는 측색치의 측정시 온도 변화에 의한 측정치의 오차를 보정하여 항상 우수한 정확도로 측색치를 측정하는 방법에 관한 것이다.
착색 제품의 색상을 관리하는 데 있어 이제까지는 CIE 표준 색도계에 부합되는 L*,a*, b*와, 먼셀(Munsell) 컬러계에 부합되는 먼셀가와 같은 수치화된 측색치(이하, '측색치'로 약칭함)를 사용하는 방법을 주로 이용해 왔다. 그러나, 이들 방법에 의해 산출된 측색치는 측정 온도에 따라 변동되어 오차가 생긴다는 단점이 있다. 이러한 단점을 보완하기 위해, 제품의 측색치를 동일한 온도 조건에서 측정하거나, 또는 측정시마다 표준 샘플을 측정하여 이 표준 측정값과 제품의 측색치를 비교하는 방법을 오랫동안 사용해왔다.
통상 이러한 온도에 따른 측색치의 변동은, 온도 변화 1℃ 당 색도차(ΔE*) 약 0.1 ∼ 0.3의 오차를 발생시킨다. 따라서, 보다 정확한 측정이 요구되는 경우에는 샘플의 온도 변화를 1℃ 이내로 유지시키면서 측정해야 한다. 그러나, 매 측정시마다 온도 변화를 정확히 1℃ 이내로 유지시키기 위해서는 고가의 설비와 복잡한 조작이 필요하다. 따라서, 통상의 대안적 방법으로서, 표준 샘플과 타겟 샘플의 측색치를 동시에 측정하여 온도 변화에 따른 오차의 영향을 가능한 한 없애는 방법이 이용되고 있다.
그러나, 표준 샘플의 측색치를 반복적으로 측정하는 조작은 관리 공정으로서 번잡하며, 표준 샘플을 장기간 보관하는 과정에서 변색이나 오염이 발생하지 않도록 배려해야 한다. 또한, 보관 중에 감성되고 변색되는 물질은 표준 샘플로 사용할 수 없기 때문에, 이러한 형태의 감성에 내성을 지닌 물질을 매측정시마다 별도로 제조해줘야 하는 문제도 있다.
또한, 예를 들어 상업적 생산 공정으로 연속 생산되는 제품, 옥외용 제품 또는 건축 구조물을 대상으로 측색치를 측정하는 경우에는, 온도 변화가 전혀 없는 상태에서 측정할 수가 없으므로, 오차를 포함한 측색치를 그대로 사용해야 하는 경우가 적지 않다.
본 발명자들은 측색치의 온도 의존성을 상세히 규명하기 위해, 착색 물체의 온도와 이들 물체의 측색치 사이의 상호 관계를 연구하였다. 본 발명자들은 연구를 통해 착색 물체의 온도 변화와 측색치의 변동에는 서로 밀접한 관련이 있음을 발견하였으며, 온도에 따른 측색치의 변동 현상을 이용하여, 임의 온도 조건에서 측정한 임의의 측색치를 특정 온도의 측색치로 보정할 수 있다는 점을 확인하였다.
본 발명은 이러한 점들을 근거로 하여 완성된 것이다. 본 발명의 하나의 목적은, 임의 온도 조건에서 온도 변화에 의해 유발되는 측정 오차를 수반하지 않고 측색치를 항상 매우 정확하게 측정하는 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 또다른 목적은 간단한 조작에 의한 관리 공정으로서 효과적인 측색치의 측정 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 또다른 목적은, 임의의 온도하의 배색 작업에서 염료 또는 안료의 정확한 배합비를 산정할 수 있도록 해주는 측색치의 측정 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 목적을 이루기 위한 것으로서, 착색된 물체의 측색치를 측정하는 본 발명의 방법은, 색도 측정계를 사용하여 임의 온도에서 착색 물체 샘플의 측색치를 측정하고, 측정된 측색치를 온도 차이에 따른 측색치의 변화량(이 변화량은 1개의 착색 샘플을 2 지점 이상의 다른 온도에서 측정한 측색치의 차이로부터 정산한 것임)을 기준으로 해서 보정하여 특정 온도에서의 측색치를 결정하는 방법이다.
본 발명의 방법의 하나의 형태는, 색도 측정계로서 분광 광도계 또는 색채계를 사용하여 분광 반사율 또는 색도를 측정하고, 2 지점의 다른 온도 조건에서 측정한 분광 반사율 또는 색도의 차이를 근거로 하여 단위 온도 범위당 분광 반사율 또는 색도의 변화량을 정산한 후, 이 정산된 변화량을 기준으로 해서 분광 반사율 또는 색도를 보정하여 특정 온도에서의 측색치를 구하는 방법이다.
본 발명의 또다른 형태는, 색도 측정계로서 분광 광도계를 사용하여 분광 반사율을 측정하고, 이 측정된 분광 반사율을, 각 파장에서의 흡수 계수(K)와 산란계수(S)의 차이량(ΔK, ΔS) [이 차이량(ΔK, ΔS)은 2 지점 이상의 다른 온도에서 염료 또는 안료에 대해 측정한 분광 반사율로부터 미리 정산한 것임]을 기준으로 하여 하기 언급된 혼합색에 대한 식을 통해 보정함으로써 특정 온도에서의 측색치를 구하는 방법이다.
본 발명의 또다른 형태는, 색도 측정계로서 분광 광도계를 사용하여 분광 투과율을 측정하고, 이 측정된 분광 투과율을, 각 파장에서의 흡광도(D) 차이량(ΔD) [이 차이량(ΔD)은 2 지점 이상의 다른 온도에서 베이스 염료 또는 안료에 대해 측정한 분광 투과율로부터 미리 정산한 것임]을 기준으로 해서 후술된 혼합색에 대한 식을 통해 보정하여 특정 온도에서의 측색치를 결정하는 방법이다.
본 발명에 사용되는 색도 측정계는 분광 광도계, 색채계 및 농도계 등이다. 본 발명에서 보정 계수가 되는 변화량은, 표준 착색 샘플을 2 지점 이상의 다른 온도 조건에서 측정한 측색치의 차이로서 제공된다. 표준 착색 샘플은 반드시 특정의 착색 물체일 필요는 없으며, 각종 염료 또는 안료에 의해 착색된 플라스틱 재료, 또는 컬러 코팅을 가진 금속 재료를 사용할 수 있다. 구체적으로, 착색 샘플에 대해 2 지점의 임의 온도(예, 30℃ 및 50℃)에서 측색치를 측정하고, 이들 측정된 측색치간의 차이를 특정 온도당 변화량인 보정 계수로 정한다. 이때, 변화량은 1℃ 당 변화량인 것이 바람직하다.
측색치의 측정 조작은, 분광 광도계, 색채계 또는 농도계 등의 기기(機器)에 온도 센서를 내장시켜 상기 센서에 의해 측정 온도를 감지하도록 하는 방식으로 실행할 수 있으며, 컴퓨터의 키보드를 통해 특정 온도를 입력시켜 실행할 수도 있다. 임의의 온도 수준에서 측정한 타겟 샘플의 측색치를 특정 온도 수준의 데이터로 환산하고, 이 환산된 데이타를 데이타 베이스화시키면 관리 공정이 더욱 간단해진다.
본 발명은, 측색치와 온도사이의 상관성을 이용하고, 임의 온도에서 측정한 측색치를 특정 온도의 측색치로 보정하는 방법을 채택함으로써 공업적인 관리 기술로서 적합한 색도 측정 방법을 완성하기에 이르렀다. 즉, 본 발명에서는, 2 지점이상의 다른 온도에서 측정한 착색 샘플의 측색치들 사이의 차이(또는 변화량)를 단위 온도당 보정 계수로서 정하였다. 이어서, 타겟 물체 샘플의 측색치를 임의 온도에서 측정한 후, 상기 보정 계수를 사용하여 타겟 온도에서의 측색치로 환산하여 온도 변화에 따른 측정 오차를 효과적으로 없앤다.
결과적으로, 본 발명의 방법에 의하면 간단한 조작을 통해 항상 정확하게 측색치를 측정할 수 있으며, 또한 임의 온도에서 측색치를 모의 측정할 수도 있으므로 일상적인 측색치의 측정 관리 공정으로서 상당히 효과적이다.
본 발명의 방법은, 분광 광도계 또는 색채계를 색도 측정계로서 사용하여 분광 반사율 또는 색도를 측정하고, 2 지점의 다른 온도 조건에서 측정한 분광 반사율 또는 색도의 차이를 기준으로 해서 단위 온도 범위당 이들의 변화량을 정산한 후, 정산된 변화량을 근거로 하여 분광 반사율 또는 색도를 보정함으로써 특정 온도에서의 측색치를 구하는 방법이다.
본 발명에 따르면, 혼합색으로 이루어진 물체의 분광 반사율은 하기 쿠벨카먼크 이론과 던컨 이론을 합성시켜 구할 수 있다. 즉, 물체의 분광 반사율은 쿠벨카 먼크의 이론으로부터 구한 하기 식(1)에서 흡수 계수 및 산란 계수와 함수 관계로서 표시된다.
R=1+K/S -[(K/S)2+(K/S)]·1/2…(1)
식 중, R은 각 파장의 분광 반사율이고, K는 각 파장의 흡수 계수이며, S는 각 파장의 산란 계수이다.
염료 또는 안료가 수종 성분들의 혼합물로 이루어지고, 페인트와 같이 표면 커버력이 강한 경우에는, 상기 식(1)을 하기 던컨 식(2)로 변환시켜 K/S를 표현한다.
K/S=(∑KiCi + Ko)/(∑SiCi + So)…(2)
식 중, Ki는 각 컬러 재료의 흡수 계수이고, Si는 각 컬러 재료의 산란 계수이고, Ko는 매체의 흡수 계수이고, So는 매질의 산란 계수이며, Ci는 각 컬러 재료의 배합비이다.
한편, 인쇄물 등과 같이 하도 코팅이 되어 있는 물체의 K/S값은 하기 식(3)으로 표시된다.
K/S=∑εiCi+(K/S)o…(3)
식 중, εi는 컬러 재료의 단위당 K/S의 값이고, Ci는 각 컬러 재료의 배합비이며, (K/S)o는 하도 코팅의 K/S값이다.
또한, 투명한 물체의 경우에는, 각 염료 또는 안료의 분광 투과율(T)을 하기 식 (4) 및 (5)로 표현된 [램버트 비어] 이론에 적용시켜 흡광도(D)를 구할 수 있다.
T = 10-D… (4)
D = ∑DiCi + Do … (5)
식 중, Di는 컬러 재료의 단위당 흡광도이고, Ci는 각 컬러 재료의 배합비이며, Do는 매체의 흡광도이다.
따라서, 분광 반사율 및 분광 투과율의 1℃ 당 변화량으로부터 각 염료 또는 안료의 흡수 계수 및 산란 계수의 변화량을 정산하거나, 또는 분광 투과율의 변화량으로부터 흡광도의 변화량을 정산한 후, 임의의 온도에서의 혼합색 컬러 샘플의 분광 반사율 및 분광 투과율의 실측정치를, 상기 정산된 변화량을 보정 계수로 사용하여 보정하면 온도 조건의 영향을 없앨 수 있다.
본 발명에 있어서, 보정 계수로서 사용되는 변화량은, 2 지점 이상의 다른 온도에서 측정된 염료 또는 안료의 분광 반사율로부터 구해진 각 파장에서의 흡수 계수(K) 및 산란 계수(S) 사이의 차이, 또는 2 지점 이상의 다른 온도에서 측정된 염료 또는 안료의 분광 투과율(T)로부터 구해진 각 파장에서의 흡광도의 차이로서 제공된다. 이때, 보정 계수의 변화량은 1℃ 당 차이인 것이 바람직하고, 보정계수의 정산은 CCM 방법을 사용하여 자동적으로 실시할 수 있다.
본 발명에 사용된 염료 또는 안료는 구체적으로 제한되지 않으며, 단색 또는 혼합색의 염료 또는 안료로 착색된 플라스틱 및 금속 재료 등의 각종 재료를 사용할 수 있다. 염료의 예로는 안트라퀴논, 헤테로시클릭, 메틴, 페리논 및 페릴렌으로 구성된 군이 있다. 안료의 예로는 산화티탄, 카본 블랙, 산화철 및 울트라마린 등으로 구성된 무기 화합물 군과, 아조, 구리 프탈로시아닌, 페리논, 페릴렌, 퀴나 크리돈 및 피롤 등으로 구성된 유기 화합물 군이 있다.
예를 들어, 경질의 폴리염화비닐 수지를 황색 납 안료(첨가량, 1 phr)로 이루어진 안료로 착색하여 샘플을 제조하고, 분광 광도계를 사용하여 29℃ 및 60℃에서 분광 반사율을 측정한다. 다음, 10 nm 파장 마다의 흡수 계수(K) 및 산란 계수(S)로 환산한다. 환산된 K 및 S로부터 각 파장 마다의 1℃ 당 차이(ΔK, ΔS)를 구하면 표 1의 "b"란에 나열된 값이 얻어진다. 다음, 29℃에서의 측정치에 대해, 보정 계수(ΔK, ΔS)를 사용하여 25℃에서의 흡수 계수(K)와 산란 계수(S)를 각 파장에서 마다 보정하면, 표 1의 "a"란에 나열된 값이 얻어진다. 즉, 25℃를 표준 측정 온도로 하면, 표준 온도에서의 황색 납 안료의 흡수 계수와 산란 계수가 쉽게 구해진다. 동일한 절차에 따라 안료로서 폴리아조 옐로우를 사용한 경우의 결과는 표 2에 제시한다.
다른 염료 및 안료도 동일한 절차를 사용하여 처리한다. 즉, 1℃ 당 각 파장에서 정산된 변화량(ΔK, ΔS, ΔD)을 보정 계수로 사용하여 25℃에서의 흡수 계수(K), 산란 계수(S) 및 흡광도(D)의 값을 구하고, 이것을 보정 계수(ΔK, ΔS, ΔD)와 함께 컴퓨터에 입력하여 데이타 베이스화 시킨다. 이러한 방식으로 색상을 수치 관리할 수 있다.
측정 방법은, 임의의 온도에서 타켓 컬러 샘플에 대해 측정한 분광 반사율 및 투과율을 보정한 후, 이 보정된 값을 JIS Z8729 "L*, a*, b*시스템 및 L*, u*, v*시스템을 이용한 색상 분석 방법" 및 JIS Z8721 "3 속성에 의한 색 표시 방법" 첨부된 표 1 "3 속성에 의한 색표계의 기준"에 근거하여 상응하는 먼셀가로 환산하는 방법이다.
상기 측정 방법은, 분광 광도계, 색채계, 농도계 또는 다른 주변 기기 및 전산 회로에 온도 센서를 내장시켜 놓고 이 센서에 의해 타겟 온도를 감지시킴으로써 표준 온도에서 측색치를 자동적으로 산출할 수 있으며, 또한 실제 용도의 특정 온도를 색도 측정계, 온도 센서 및 계산기가 별도 배치된 시스템에 입력시킬 수도 있다.
본 발명은, 임의의 온도에서 측정된 분광 반사율 및 투과율을, 염료 또는 안료의 분광 반사율 및 투과율과 온도사이의 고유 상호 관계를 이용하여 특정 온도 및 특정 파장에서의 값으로 보정 및 환산하는 방법을 채택함으로써 완성된 것이다. 따라서, 본 발명은, 공업상의 관리시 사용하기 적합한 색상 관리 방법이다. 배합비가 명시되어 있지 않고 염료 또는 안료 보정 계수의 데이타 베이스가 입수 가능하지 않은 경우에는, 2 지점의 다른 온도 수준에서 샘플의 측색치를 측정한 후 이들 값을 표준 온도에서의 값으로 환산하여 배합비를 구한다. 한편, 염료 또는 안료 보정 계수의 데이터 베이스가 입수 가능한 경우에는, 1 지점의 온도 수준에서 샘플의 측색치를 측정하고 그 값을 표준 온도에서의 값으로 환산한다.
본 발명을 통해 측정하고자 하는 대상은, 염료 또는 안료와 배합된 페인트 및 잉크, 또는 페인트 및 잉크에 의해 착색된 플라스틱, 섬유 및 종이, 또는 자연계에 존재하는 다른 착색 물체일 수 있다. 본 발명의 측색치의 측정 방법은 컴퓨터 배색(CCM)시 색상을 관리하는데 효과적으로 이용될 수 있다.
[실시예]
본 발명은 실시예 및 비교예를 참고하여 보다 상세히 설명할 것이며, 본 발명은 이들 실시예의 내용에 국한되지 않는다.
[실시예 1]
일본 페인트 공업 협회(1989)에서 발행한 "페인트용 표준 컬러 샘플서" 중의 색 번호 P29-110을 표준 착색 샘플로 선택하고, 분광 광도계(컬럼 C, 다이니뽄 세이카 고교 가부시키가이샤 제조)를 사용하여 380 nm 내지 700 nm의 파장 범위에서 10 nm 마다의 파장 단위로 샘플 온도 10℃ 및 40℃의 분광 반사율을 측정하였다. 이 측정치를 근거로 하여, 30℃의 온도차에 따른 분광 반사율의 차이로부터 1℃ 당 변화량(ΔR)을 각 파장마다 계산하였다. 그 결과는 표 3에 제시하였다.
다음, 타겟 물질인 착색 샘플에 대해, 10℃, 20℃ 및 30℃의 각 샘플 온도 조건하에서 동일한 분광 광도계를 사용하여 분광 분사율을 측정하였다. 표 3에 제시된 변화량(ΔR)을 보정 계수로 사용하여 10℃ 및 30℃에서 측정된 값으로부터 20℃에서의 예측 반사율을 구하였다. 다음, 예측된 값으로부터 먼셀가를 산출하였다. 그 결과는 표 4에 제시하였다. 표 4에는 또한, 20℃에서 측정한 먼셀가를 기준으로 했을 때 10℃ 및 30℃ 먼셀가와의 색도차(ΔE)를 제시하였다.
상기 표 4의 결과는, 온도 변화에 의한 먼셀가의 분산 범위가 매우 근소한 범위로 제한되며, 정확도가 높은 측정치의 먼셀가가 얻어짐을 말해준다.
[실시예 2∼5]
일본 페인트 공업 협회(1989)에서 발행한 "페인트용 표준 컬러 샘플서" 중에서 4개의 색상을 표준 착색 샘플로서 선택하였다. 먼셀가는, 실시예 1에 사용된 방식과 유사한 방식으로 측정한 착색 샘플의 분광 반사율을 보정 및 환산하여 산출하였다. 얻어진 결과는 표 5에 제시하였다. 표 5의 결과는, 온도 변화에 의해 유발된 색도차(ΔE)가 매우 작고, 또한 이 색도차가 색상의 차이와는 무관하다는 것을 시사해 준다.
[비교예 1∼4]
일본 페인트 공업 협회(1989)에서 발행한 "페인트용 표준 컬러 샘플서"중에서 4개의 색상을 표준 샘플로서 선택하였다. 이들 색상을 10℃, 20℃ 및 30℃의 각 샘플 온도에서의 분광 반사율을 측정하고, 이 실측치로부터 직접 환산한 먼셀가와 색도차(ΔE)를 표 6에 제시하였다. 표 6의 결과는, 상응하는 실시예(표 5 참고)에 비해 색도차(ΔE)가 상당히 분산되어 있음을 말해준다.
[실시예 6]
실시예 1과 동일한 색상의 안료를 폴리에틸렌 수지와 배합하여 착색된 플라스틱 성형판을 제조하고, 실시예 1에서와 동일한 방식으로 측색치를 측정하였다. 얻어진 결과는 표 7에 제시하였다.
표 7의 결과는, 염료 또는 안료로 착색된 플라스틱판 성형판도 또한 실시예 1의 코팅판의 경우에서와 같이 공업적 정확도를 제공하며, 본 발명이 착색 물체의 종류와는 무관하게 효과적으로 적용될 수 있음을 말해준다.
[실시예 7∼12와 비교예 5∼10]
두께가 1mm인 착색된 폴리염화비닐 판(PVC: 100, 안정제:3, 윤활제:1)을 샘플로 하여, 25℃, 40℃ 및 50℃의 온도 조건하에 분광 반사율을 측정하였다. 25℃에서 측정한 분광 반사율로부터 L*, a*, 및 b*의 값을 산출하였다. 이어서, 40℃ 및 50℃에서 측정한 반사율 값으로부터 1℃ 당 변화량을 산출하고, 상기 40℃ 및 50℃에서 측정한 반사율 값으로부터 25℃의 예측 반사율을 구하여 L, a*및 b*의 값을 정산하였다. 표 8은 그 결과를 제시한 것이다. 상단은 25℃에서 실제 측정한 반사율로부터 구한 L, a*및 b*의 값을 나타낸 것이고, 하단은 보정 및 환산된 L, a*및 b*의 값을 나타낸 것이다. 표 8에는 또한 상단값을 기준으로 했을 때의 색도차(ΔE)도 제시하였다.
비교를 위해, 25℃, 40℃ 및 50℃에서 실제 측정한 분광 반사율로부터 정산한 L, a*및 b*값, 및 25℃를 기준으로 했을 때의 40℃ 및 50℃에서의 색도차(ΔE*)를 표 9에 제시하였다. 표 8과 표 9의 결과를 비교한 결과, 실시예의 보정된 색도차(ΔE*)는 비교예에 의한 미보정된 수정전 색도차에 비해 약 1/3 내지 1/15정도 작음을 명백히 확인할 수 있다.
[실시예 11∼18]
두께가 1 mm이고 표 10에 나열된 각종 안료 조성물로 착색된 폴리염화비닐(PVC: 100, 안정제: 3, 윤활제: 1)의 샘플 시트를 제조하였다. 분광 광도계(컬럼C, 다이니뽄 세이카 고교 가부시키가이샤 제조)를 사용하여 25℃, 40℃ 및 50℃에서의 분광 반사율을 측정하였다. CIE 색도계에서의 측색치(L*, a*, b*)를 각각의 실측된 분광 방사율에 대해 정산하였다. 그 결과는 상응하는 안료 번호와 관련하여 표 11에 제시하였다. 40℃ 및 50℃에서의 색도차(ΔE)는 25℃에서의 실측치를 근거로 하여 구하고, 그 결과는 또한 표 11에 제시하였다.
[실시예 13∼20]
비교예 11∼18에서 각각 산출된 각 온도 수준에서의 분광 반사율 실측치와 1℃ 당 베이스 안료의 보정 계수를 사용하고 25℃에서의 실측치를 근거로 해서 40℃ 및 50℃에서의 값을 예측하였는데, 이때 상기 보정 계수는 각 파장의 데이타 베이스로서 컴퓨터에 입력시켜 놓았다. 각 온도에서의 예측치 및 ΔE*의 산정치는 표 12에 제시하였다.
표 12의 색도차(ΔE)를 표 11에 제시된 상응하는 색도차(ΔE)와 비교한 결과, 실시예에서는 각 온도마다의 값이 오차가 적음을 알 수 있다.
[실시예 21]
페릴렌 염료(플라스토-레드 8315, 아리모토 가가쿠 고교 가부시키가이샤 제조)를 0.5% 첨가하여 착색한 폴리스티렌 샘플 시트를 사출 성형 방식으로 제조하여, 58℃ 및 25℃에서 분광 반사율을 측정하였다. 실측치로부터 정산한 색도차(ΔE)는 2.3이었다. 실시예 13∼20에서와 동일한 방식을 사용하여, 각 파장에서 58℃의 분광 반사율을 측정하고, 1℃ 당 소정의 변화량(ΔD)을 사용해서 25℃에서의 분광 투과율을 정산하여 상기 측정치를 보정하였다. 보정된 값과 25℃에서 실제 측정된 색도차(ΔE)를 비교한 결과, 차이는 0.06으로서 무시할 수 있을 정도로 작았다.
전술한 바와 같이, 본 발명에 의하면, 간단한 분광 반사율의 보정 조작에 의해, 색상 측정시 온도 변화로 인한 측정치의 분산(이는 종래 기술의 단점임)을 방지하고, CCM이나 착색 물체의 색상 관리에 있어서 매 측정시마다 온도 변화가 있어도 상기 측정치를 수치화할 수 있다. 따라서, 예를 들어 베이스 염료 또는 안료의 배합비를 정하는 경우, 임의 온도에서의 적정 배합비를 예측할 수 있다. 또한, 색상의 수치 관리면에서도, 임의 온도 하에 측정해도 특정 온도를 지정해주면 특정 온도로 보정할 수 있다. 따라서, 매 측정시마다 표준 샘플을 다시 측정할 필요가 없으며 표준 샘플을 보관하고 관리할 필요도 없기 때문에, 색상에 관한 품질 관리 방법을 현저히 개선시킬 수 있다.
Claims (12)
- 색도 측정계를 사용하여 임의 온도에서 착색 물체 샘플의 측색치를 측정하는 단계, 및 온도 차이로 인한 측색치의 변화량 [이 변화량은 1개의 착색 샘플을 2 지점 이상의 다른 온도에서 측정한 측색치의 차이로부터 정산한 것임]을 기준으로 해서 상기 측정된 측색치를 보정하여 특정 온도에서의 측색치를 구하는 단계를 포함하는 것이 특징인, 착색 물체의 측색치의 보정 방법.
- 제1항에 있어서, 색도 측정계가 분광 광도계, 색채계 또는 농도계인 것이 특징인 측색치의 보정 방법.
- 제1항에 있어서, 색도 측정계로서 분광 광도계를 사용하여 분광 반사율을 측정하고, 측정된 분광 반사율은 단위 온도 범위당 각 파장에서의 분광 반사율의 변화량 [이 변화량은 분광 반사율의 차이로부터 정산한 것임]를 기준으로 해서 보정하여 특정 온도에서의 측색치를 구하는 것이 특징인 측색치의 보정 방법.
- 색도 측정계로서 분광 광도계를 사용하여 임의 온도에서 착색 물체 샘플의 분광 반사율을 측정하는 단계, 및 각 파장에서의 흡수 계수(K)와 산란 계수(S)의 차이량(ΔK, ΔS) [이 차이량(ΔK, ΔS)은 2 지점 이상의 온도에서 실제 측정한 염료 또는 안료의 분광 반사율로부터 미리 정산한 것임]을 기준으로 해서 상기 측정된 분광 반사율을 보정하여 특정 온도에서의 측색치를 구하는 단계를 포함하는 것이 특징인, 착색 물체의 측색치의 보정 방법.
- 색도 측정계로서 분광 광도계를 사용하여 임의 온도에서 착색 물체 샘플의 분광 반사율을 측정하는 단계, 및 각 파장에서 단위 온도 범위당 K/S값(K는 흡수 계수이고, S는 산란 계수임)의 차이량(ΔK/S) [이 차이량은 2 지점 이상의 온도 조건하에서 실제 측정한 염료 또는 안료의 분광 반사율로부터 미리 정산한 것임]을 기준으로 해서 상기 측정된 분광 반사율을 보정하여 특정 온도에서의 측색치를 구하는 단계를 포함하는 것이 특징인, 착색 물체의 측색치의 보정 방법.
- 색도 측정계로서 분광 광도계를 사용하여 임의 온도에서의 착색 물체 샘플의 분광 투과율을 측정하는 단계, 및 각 파장에서 흡광율(D)의 차이량(Δ)[이 차이량(ΔD)은 2 지점 이상의 온도에서 실제 측정한 염료 또는 안료의 분광 투과율로부터 미리 정산한 것임]을 기준으로 해서 상기 측정된 분광 투과율을 보정하여 특정 온도에서의 측색치를 구하는 단계를 포함하는 것이 특징인, 착색 물체의 측색치의 보정 방법.
- 제4항에 있어서, 염료 또는 안료가, 단일 또는 혼합된 염료 또는 안료 조성물에 의해 착색된 금속 물질 또는 합성 수지 물질인 것이 특징인 측색치의 보정 방법.
- 제6항에 있어서, 염료 또는 안료가, 안트라퀴논, 헤테로시클릭 화합물, 메틴, 페리논 및 페릴렌 염료로 구성된 군, 또는 산화 티탄, 카본 블랙, 산화철 및 울트라마린으로 구성된 무기 안료군, 또는 아조, 구리 프탈로시아닌, 페리논, 페릴렌, 퀴나크리돈 및 피롤로 구성된 유기 안료군 중에서 선택된 1개 이상의 화합물로 구성되는 것이 특징인 측색치의 보정 방법.
- 제1항에 있어서, 측색치가 먼셀 컬러계에 부합되는 먼셀가 또는 CIE 표준 색도계에 부합되는 L*, a*, b*로 표현되는 것이 특징인 측색치의 보정 방법.
- 제1항에 있어서, 컴퓨터 배색 작업시 색상 관리에 사용되는 것이 특징인 측색치의 보정 방법.
- 제1항에 있어서, 자연계에 존재하는 물질의 색상 관리에 사용되는 것이 특징인 측색치의 보정방법.
- 제5항에 있어서, 염료 또는 안료가, 단일 또는 혼합된 염료 또는 안료 조성물에 의해 착색된 금속 물질 또는 합성 수지 물질인 것이 특징인 측색치의 보정 방법.
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