KR100285564B1 - 금전등록기의 키보드 불량 검사 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 금전 등록기의 키보드 불량을 검사하기 위한 방법에 관한 것으로, 특히 생산 공정에서 키보드를 검사 할 때 단선, 합선 그리고 키의 접점 상태에 불량이 있는 지를 신속하게 판단 할 수 있게 하는 금전 등록기의 키보드 불량 검사방법을 제공하는데 그 목적이 있다. 본 발명의 금전 등록기의 키보드 불량 검사 방법은 키 매트릭스 구조로 된 금전 등록기의 키보드에서 상기 키 매트릭스의 가로 선과 세로 선에 놓여진 각각 하나씩의 키들의 스캔 코드 값을 금전 등록기의 메모리 상에 미리 저장시켜 놓는 단계; 키보드 불량 검사를 할 때 상기 키들을 개별적으로 입력받는 단계; 상기 단계에서 소정 키를 입력받을 때 상기 메모리 상에 저장되어 있는 스캔 코드 값 중의 해당 키 값이 스캔되지 않을 때 단선이라고 판단하는 단계; 상기 입력 단계에서 입력된 소정 키의 스캔 코드 값이 상기 메모리 상에 저장되어 있는 소정 키의 스캔 코드 값과 일치하지 않을 때 합선이라고 판단하는 단계; 상기 키보드 상의 모든 키를 누른 뒤 각각의 키의 접점 상태를 검사하는 단계; 및 상기 단선, 합선과 접점 상태 검사 단계에서 에러가 발생했을 때 에러 메시지를 디스플레이하는 단계로 이루어진다.

Description

금전등록기의 키보드 불량 검사 방법

본 발명은 금전 등록기의 키보드 불량을 검사하기 위한 방법에 관한 것으로, 특히 생산 공정에서 키보드를 검사 할 때 단선, 합선 그리고 키의 접점 상태에 불량이 있는 지를 신속하게 판단하여 수리를 용이하게 할 수 있게 하는 금전 등록기의 키보드 불량 검사 방법에 관한 것이다.

일반적으로 키보드는 전자식 금전 등록기나 컴퓨터, 즉 키보드에 연결된 장치가 특정한 동작을 할 수 있도록 명령을 하거나, 기본 데이터를 입력시키기 위해 사용되는 입력 장치이다. 이러한 키보드는 단독으로 사용되지는 못하지만 내부에 마이크로 프로세스가 있어 키보드를 계속적으로 스캔하여 눌려진 키에 해당하는 데이터 값을 연결된 장치에 전송하는 역할을 한다.

제1도는 일반적인 전자식 금전 등록기의 사시도이다. 제1도에 도시된 각 부호는 키보드(20), 바코드 리더(30), 프린터(80), 디스플레이(90)를 나타낸다.

종래에는 전자식 금전 등록기나 컴퓨터 등에 사용되는 키보드의 생산 공정상에서 키보드의 불량 유무를 검사하기 위해서 검사자가 각각의 키를 하나씩 눌러서 키의 불량 유무를 판단하였다. 그러므로 검사자의 실수가 발생할 수 있고 또한 검사에 많은 시간이 걸리는 문제점이 있었다.

본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 생산 공정에서 키보드를 검사 할 때 단선, 합선 그리고 키의 접점 상태에 불량이 있는 지를 신속하게 판단하여 수리를 용이하게 할 수 있게 하는 금전 등록기의 키보드 불량 검사 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.

전술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 금전 등록기의 키보드 불량 검사 방법은 키 매트릭스 구조로 된 금전 등록기의 키보드에서 상기 키 매트릭스의 가로선과 세로선에 놓여진 각각 하나씩의 키들의 스캔 코드 값을 금전 등록기의 메모리상에 미리 저장시켜 놓는 단계; 키보드 불량 검사를 할 때 상기 키들을 개별적으로 입력받는 단계; 상기 입력 단계에서 소정 키를 입력받을 때 상기 메모리 상에 저장되어 있는 스캔 코드 값 중의 해당 키 값이 스캔되지 않을 때 단선이라고 판단하는 단계; 상지 입력 단계에서 입력된 소정 키의 스캔 코드 값이 상기 메모리 상에 저장되어 있는 소정 키의 스캔 코드 값과 일치하지 않을 때 합선이라고 판단하는 단계; 상기 키보드 상의 모든 키를 누른 뒤 각각의 키의 접점 상태를 검사하는 단계; 및 상기 단선, 합선과 접점 상태 검사 단계에서 에러가 발생했을 때 에러 메시지를 디스플레이하는 단계로 이루어진다.

제1도는 일반적인 전자식 금전 등록기의 사시도.

제2도는 일반적인 전자식 금전 등록기의 시스템 블록도.

제3도는 본 발명의 설명을 돕기위한 간단한 키 매트릭스의 회로 구성도.

제4도는 본 발명의 금전 등록기의 키보드 불량 검사 방법을 설명하기 위한 키구동부의 회로 구성도.

제5(a)도와 제5(c)도는 본 발명의 금전 등록기의 키보드 불량 검사 방법을 설명하기 위한 순서도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

10 : 중앙처리부 20 : 키보드

25 : 키 구동부 30 : 바코드 리더

40 : 인터페이스 제어부 50 : 서랍 구동부

60 : 램 70 : 롬

80 : 프린터 90 : 디스플레이

이하에서는 첨부 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 금전 등록기의 키보드 불량 검사 방법에 대해서 상세하게 설명한다.

제2도는 일반적인 전자식 금전 등록기의 시스템 블록도이다. 제2도에 도시한 바와 같이, 전자식 금전 등록기 시스템은 전자식 금전 등록기의 각 부분의 동작을 제어하는 중앙처리부(10), 각종 데이터 입력 및 모드를 지정하는 키보드(20), 키보드(20)에 눌려진 키가 있는지를 계속 키 스캔하여 눌려진 키에 해당하는 키 코드를 중앙처리부(10)로 보내는 역할을 하기 위해 마이크로 프로세서, 디코드, 버퍼, 키 매트릭스 등으로 구성된 키 구동부(25), 소정의 키 조작이 있을 때 현금 보관 서랍을 인출시키는 서랍 구동부(50), 시스템 동작용 프로그램과 키보드 불량 검사를 위한 프로그램이 내장되어 있는 롬(70), 입출금 내역을 비롯한 각종 데이터를 저장하고 있는 램(60), 중앙처리부(10)의 제어 하에 고객용 영수증과 각종 처리 결과를 문서로 발행하는 프린터(80), 중앙처리부(10)의 제어 하에 금전 거래 등에 관련된 각종 정보를 표시하는 디스플레이(90) 및 고급 기종의 ECR에는 상품의 바코드 정보를 입력하기 위한 바코드 리더(30)가 부가되기도 한다. 미설명 부호 40은 바코드리더(30)와 중앙처리부(10)를 중계하는 인터페이스 제어부를 나타낸다.

전술한 구성에서 키보드(20)에는 특정 모드에서 키보드 불량 검사를 실시하는 ‘검사키’가 정의되어 있어야 한다.

제3도는 본 발명의 설명을 돕기위한 간단한 키 매트릭스 회로의 예시도로서, 9개의 키가 있는 간단한 키 매트릭스의 경우를 예로 보임으로서 앞으로 제4도와 제5도 등에서 설명 할 본 발명의 키보드 불량 검사 방법의 기본 원리를 설명한다.

제3도에 도시한 바와같이 가로 3개(OUT 1, OUT 2, OUT 3), 세로 3개(IN 1, IN 2, IN 3)의 선을 만나게 하면 9개의 위치가 정해진다. 키보드에 내장된 마이크로 프로세스는 OUT 1부터 OUT 3까지의 출력 단자에 순차적으로 저 전위 신호(논리 0)를 인가하면서 IN 1부터 IN 3의 입력 단자를 스캔(Scan)한다. 키가 눌려 있지 않는 경우에는 각각의 입력단자에서 고 전위 신호(논리 1)가 출력되고 키가 눌려 있으면 저 전위 신호가 출력됨에 따라, 저 전위 신호가 인가된 출력 단자와 저 전위 신호가 입력되는 입력 단자가 교차되는 점의 키가 눌려 있음을 검색할 수 있다. 마이크로 프로세스는 이와 같은 키 스캔(Key Scan) 과정을 통해 어떤 키가 눌렸는지를 확인하는 것이다.

이를 보다 자세히 설명하면 마이크로 프로세스는 OUT 1에 논리 0을 내보내고 IN 1부터 3까지를 읽어본 후, 다시 OUT 2에 논리 0을 내보내고 다시 IN 1부터 3까지를 읽어본다. 그런 후 다시 OUT 3에 논리 0을 내보내고 IN 1부터 3까지를 읽은 후, 또 다시 OUT 1부터 3에 논리 0을 내보내는 일을 계속 반복함으로서 키보드를 스캔한다.

이런 과정에서 어떤 키도 눌려 있지 않은 경우에는 IN 1부터 3까지에 논리 1이 측정된다. 그러나 어떤 키라도 눌리게 되면 입력되는 IN 1부터 3까지에 논리 0이 측정되는 곳이 있다. IN 1에 논리 0이 측정되는 경우에는 S1, S4, S7 중 하나가 눌려 있는 것이고, IN 2가 논리 0으로 되었다면 S2, S5, S8 중 하나가 눌려진 것이다. IN 3이 0이 되면 S3, S6 S9 중 하나가 눌린 것이다.

어떤 키가 눌렸는가는 OUT 1부터 3 중에 어떤 것에 논리 0을 가했는가를 확인하면 된다. OUT 2에 논리 0을 내보낼 때 IN 2가 논리 0이 되었다고 가정하면 OUT 2와 IN 2가 만나는 곳은 S5 밖에 없다. 결국 S5가 눌려진 것이라는 것을 알 수 있다.

위와 같은 방식으로 키 매트릭스를 통하여 키를 인식할 때, 만약 S1 키가 눌려졌을 때 IN 1에 논리 0이 들어오지 않는 다면 S1 키가 연결된 선에 단선이 났음을 알 수 있는 것이다. 또 같은 줄(행, 열)의 키 중 하나 이상이 합선되어 있거나 일부러 두 개 이상의 키를 누르고 있지 않는다면 동시에 두 개 이상의 입력 포트에 논리 0이 관찰되거나 한 입력 포트에서 순차적으로 스캔되는 값이 둘이상 논리 0일 수는 없다. 그리고 모든 키가 눌려져 있다 하더라도 마이크로 프로세스는 OUT 1부터 3까지 순차적으로 신호를 내보내서 IN 1부터 3까지를 스캔함으로서 하나 하나의 키가 눌려져 있는지를 인식 할 수 있다. 이는 지그를 이용하여 모든 키를 누른 후 접점 검사를 실시 할 때 이용된다.

이러한 원리를 이용하여 키보드를 검사할 때 키 매트릭스의 행과 열에 있는 하나씩의 키만 검사하여 모든 키의 단선/합선 유무를 검사 할 수 있는데, 그러기 위해서는 정상적인 하나의 키가 눌려졌을 때 모든 입력 포트 상에서 스캔되는 스캔 코드 값을 미리 저장하고 있다가 키보드를 검사하기 위해 키를 누를 때 발생되는 스캔 코드 값과 비교하여 그 값의 차이에 의하여 단선과 합선임을 판단하면 되는 것이다.

만약 최소의 키를 이용하여 모든 키를 검사하고 싶다면 행(가로선)과 열(세로선)을 하나의 키로 검사할 수 있게 대각선 방향의 키들을 이용하면 된다. 예를 들어 제3도에 도시한 S1, S5, S9키를 누를 때 발생하는 스캔 코드 값을 기억하고 있으면 나머지 키들에 대한 단선/합선 검사가 가능하다. 이를 설명하면 S1키를 누를 때 정상상태라면 OUT 1에서 논리 0을 내 보낼 때 입력 포트 상에는 각각 0, 1, 1의 값이 스캔 되어야 한다. 그런데 만약 입력 포트 IN 1에 0의 값이 스캔 되지 않는다면 S1, S4, S7이 연결된 선 어딘가에 단선이 되었다는 것이고, 0, 1, 1이 아니라 0, 0, 1 이나 0, 1, 0이 스캔된다면 키 S2나 S3에 합선이 발생한 것이다. 또한 S1키가 눌린 동안 OUT1에서 OUT3까지 논리 0을 내보낼 때 입력 포트 IN 1에서 순차적으로 스캔되는 값에 둘이상의 논리 0이 있다면 S4나 S7상에 합선이 발생한 걸로 볼 수 있다. 그 다음 S5키를 누를 때 발생된 스캔 코드 값과 미리 입력 되어져있는 정상상태의 스캔 코드 값을 비교하면 S5가 연결된 선 상의 합선 유무와 단선 유무를 검사할 수 있다. 이렇게 S9까지 검사하면 키 매트릭스 상의 모든 키를 검사할 수 있는 것이다. 출력과 입력 포트가 각각 8개씩인 64키의 경우는 대각선 방향의 8개의 키만으로 전체 키보드의 단선/합선 검사가 가능하며, 16개의 출력 포트와 8개의 입력 포트로 구성된 키보드는 대각선 방향의 8개 키와 나머지 8열들을 검사하기 위한 8개 키를 합한 16개의 키만 있으면 검사가 가능하다.

이러한 원리를 이용한 본 발명의 키보드 불량 검사 방법을 제4도에서 64키를 가질 수 있는 키보드를 실시예로 들어 설명하기로 한다.

제4도는 본 발명의 금전 등록기의 키보드 불량 검사 방법을 설명하기 위한 키구동부의 회로 구성도이다. 앞에서 설명한 바와 같이, 키 구동부(25)는 키보드(20)에 눌려진 키가 있는지를 계속 키 스캔하여 눌려진 키에 해당하는 키 코드를 중앙처리부(10)로 보내는 역할을 하는 곳으로 마이크로 프로세스, 디코더, 버퍼와 키매트릭스 등으로 구성되어 있다.

키보드의 불량을 찾아내기 위해 각 키가 정상적으로 작동하는 가를 검사하기 위해서는 우선 키 매트릭스 상에서 인쇄 회로 기판(Printed Circuit Board. 이하 “PCB”)이나 키보드의 패튼이 절단 또는 합선되어 있는 가를 검사하여야 한다.

이를 위해 모든 키를 누르지 않고 최소 키(본 예에서는 키 매트릭스 상에서 대각선으로 위치한 키)를 사용하여 키보드를 검사하기 위해 프로그램에 미리 설정된 키(A-H)만을 검사하면 된다. 즉 키(A)를 누를 경우, 출력부의 Y0에 키가 눌려 있을 때 발생하는 논리 “0”이 출력되면 입력부에는 D0만이 논리 “0”이 입력되어져야 한다. 이것은 PCB나 키보드의 패들이 단선되어 있지 않다는 것을 의미한다.

이렇게 단선 유무를 검사한 뒤에는 합선 유무를 검사하게 되는데 키(A)를 사람이 누르고 있는 시간은 아무리 짧아도 수십 ms서 수백 ms이므로 그 동안에 출력부의 Y0에서 Y7까지 수십 번을 반복하여 스캐닝하기 때문에 출력부의 Y1에서 Y7까지 스캐닝 할 때에는 입력부의 D0의 리턴 값이 논리 “1”이 되어야 한다. 그렇지 않고 논리 “0”이 된다면 출력부의 Y1에서 Y7의 어떤 라인과 입력부의 D0간에 합선이 발생했음을 의미한다.

이와 같은 방식으로 계속 키(H)까지 검사하면 키보드의 모든 키에 대하여 단선이나 합선과 같은 불량 유무를 검사할 수 있다.

키보드의 불량을 찾아내기 위해 각 키가 정상적으로 작동하는 가를 검사하기 위해서는 단선이나 합선 검사 외에도 키 각각의 접점 상태가 완벽한가도 검사하여야 한다. 이를 위해서는 모든 키를 동시에 누를 수 있는 검사용 지그를 이용하여 키 전체를 누른 상태에서 각각의 키에 대한 접점 상태를 검사하면 된다. 즉 모든 키가 지그에 의해 눌려져 있을 때 접선되어 있지 않는 키가 있다면 이 키의 접점 상태가 불량이므로 이 키가 불량이라는 것을 에러 메시지로 디스플레이 해주면 된다.

제5(a)도 내지 제5(c)도는 본 발명의 금전 등록기의 키보드 불량 검사 방법을 설명하기 위한 순서도이다. 제5(a)도는 키보드 불량 검사 중 키보드의 단선/합선 검사를 하는 부분을 도시하고, 제5(b)도부터는 키보드 불량 검사 중 접점 상태를 검사하는 부분을 도시한다. 생산 공정 상에서 키보드 불량 검사를 개시하면 검사자가 단계(S10)에서 특정 모드에서 검사키를 입력한다. 그러면 단계(S20)에서 ROM상에 저장되어 있던 키보드 불량 검사 프로그램에 미리 저장되어 있던 특정키(A-H)의 스캔 코드 값이 RAM영역에 저장되고 키 입력을 기다린다.

단계(S30)내지 (S50)에서는 키(A)를 누를 것을 디스플레이 하고 단선일 경우 키의 눌림을 파악하지 못함으로 키가 눌려졌는지를 파악하기 위해 일정시간 기다린 후 일정 시간 안에 어떤 신호도 들어오지 않는 다면 단선인걸로 판단하여 단치(S60)에서 단선임을 디스플레이 해준다. 키가 입력되었다면 단계(S70)에서 입력된 키의 스캔 코드 값이 램에 저장된 스캔 코드 값과 다른 스캔 코드 값을 가지는 지를 파악하여, 만약 다른 코드 값이 있다면 그 키의 행/열 패턴에 합선이 발생 했음을 단계(S80)에서 에러 메시지로 디스플레이 해준다.

단계(S70)에서 다른 스캔 코드 값이 없다면 정상이므로 단계(S30)의 단선 검사와 단계(S70)의 합선 검사를 키(H)까지 반복하여 검사한 뒤 단계(S90)로 이동한다. 단계(S90)에서는 단선/합선 검사 종료 메시지를 디스플레이 한다.

다음 단계인 단계(S100)에서 키보드의 접점 상태를 검사하기 위해 모든 키를 누를 것을 디스플레이 해준다. 다음 단계(S110)에서 지그를 이용하여 모든 키를 누른 후에 단계(S120)와 (S130)에서 모든 키를 스캔하여 접점 상태 검사를 실시하여 접점 불량이면 해당키가 불량임을 단계(S140)에서 디스플레이하고 정상이면 단계(S150)에서 키보드 불량 검사가 종료됨을 디스플레이한다.

본 발명의 금전 등록기의 키보드 불량 검사 방법은 전술한 실시예에 국한 되지 않고 본 발명의 기술 사상이 허용하는 범위 내에서 다양하게 변형하여 실시할 수가 있다.

본 실시예에서는 64개의 키를 가질 수 있는 키보드를 예로 들었지만 더 많은 수의 키를 가지는 키보드 상에서도 동일한 방법의 사용이 가능하다. 또한 단선/합선 검사와 접점 상태 검사를 따로 분리하여 실시하기 위하여 키보드 상에 검사키를 두 개 정의하여 사용하는 것도 가능하다.

이상에서 설명한 바와 같은 본 발명의 금전 등록기의 키보드 불량 검사 방법에 따르면 종래에 일일이 손으로 키를 입력할 때 생길 수 있는 실수를 줄일 수 있고 생산 공정에서의 검사 시간을 단축 할 수 있는 효과가 있다. 나아가, 불량 발생시 불량 내용을 표시해 줌으로서 신속하고 용이하게 수리를 가능하게 하여 전체적인 생산성을 향상시키는 효과가 있다.

Claims (3)

1. 매트릭스 구조로 된 금전 등록기의 키보드에서 상기 키 매트릭스의 가로선과 세로선에 놓여진 각각 하나씩의 키들의 스캔 코드 값을 금전 등록기의 메모리 상에 미리 저장시켜 놓는 단계; 키보드 불량 검사를 할 때 상기 키들을 개별적으로 입력받는 단계; 상기 단계에서 소정 키를 입력받을 때 상기 메모리 상에 저장되어 있는 상기 스캔 코드 값 중의 해당 키 값이 스캔되지 않을 때 단선이라고 판단하는 단계; 상기 입력 단계에서 입력된 소정 키의 스캔 코드 값이 상기 메모리 상에 저장되어 있던 소정 키의 스캔 코드 값과 일치하지 않을 때 합선이라고 판단하는 단계; 상기 키보드 상의 모든 키를 누른 뒤 각각의 키의 접점 상태를 검사하는 단계; 및 상기 단선, 합선과 접점 상태 검사 단계에서 에러가 발생했을 때 에러 메시지를 디스플레이하는 단계로 이루어진 금전 등록기의 키보드 불량 검사 방법.
2. 제1항에 있어서, 상기 키 매트릭스의 가로 선과 세로 선에 놓여진 각각 하나씩의 키들의 스캔 코드 값을 저장하는 대신 가로 선과 세로 선이 만나는 대각선 방향의 키들의 스캔 코드 값을 저장함으로 저장할 키의 수를 줄이는 것을 특징으로 하는 금전 등록기의 키보드 불량 검사 방법.
3. 제1항에 있어서, 상기 키의 접점 상태를 검사하는 단계는 상기 키보드 상의 모든 키를 지그를 이용하여 한꺼번에 누른 뒤에 검사하는 것을 특징으로 하는 금전 등록기의 키보드 불량 검사 방법.

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