JPS5892970A - 電子機器の検査システム - Google Patents
電子機器の検査システムInfo
- Publication number
- JPS5892970A JPS5892970A JP56193386A JP19338681A JPS5892970A JP S5892970 A JPS5892970 A JP S5892970A JP 56193386 A JP56193386 A JP 56193386A JP 19338681 A JP19338681 A JP 19338681A JP S5892970 A JPS5892970 A JP S5892970A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- check
- state
- microcomputer
- sequence control
- display
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、マイクロコンピュータを搭載した電子機器に
おける電子回路の検査システムに関するものである。
おける電子回路の検査システムに関するものである。
最近、マイクロコンピュータにより制御される電子回路
を備えた電子機器が非常に普及してきており、これらマ
イクロコンピュータを搭載した電子機器では、表示管の
駆動、キー人、力、出力制御等、すべての機能がマイク
ロコンピュータによって制御されている。そこで、これ
らの電子機器が生産工程やサービス面において、電子回
路が正常な機能を持って動作しているかどうかを確認し
、さらに故障している場合には、故障モードを適格に把
握しなければならないが、その労力と時間は多大なもの
となっている。
を備えた電子機器が非常に普及してきており、これらマ
イクロコンピュータを搭載した電子機器では、表示管の
駆動、キー人、力、出力制御等、すべての機能がマイク
ロコンピュータによって制御されている。そこで、これ
らの電子機器が生産工程やサービス面において、電子回
路が正常な機能を持って動作しているかどうかを確認し
、さらに故障している場合には、故障モードを適格に把
握しなければならないが、その労力と時間は多大なもの
となっている。
電子機器の生産工程における不良分析を行なうと、次の
様な項目の不良が一般的に多い。
様な項目の不良が一般的に多い。
１、半田タッチ。
２、プリント基板のパターン切れ。
８、部品不良による動作不良。
４１．静電気等によ４ＬＳｉ周辺蔀分の部品（トランジ
スタ等）の不良。
スタ等）の不良。
従って、上記のような項目の不良を適格にしかも短時間
に把握できる様な検査方法により検査を行なわねばなら
ない。
に把握できる様な検査方法により検査を行なわねばなら
ない。
現在、製造メーカ等で行なっている検査方法には主とし
て次の二つがある。
て次の二つがある。
（１）チェックプログラムによる検査
これは、マイクロコンピュータに内蔵されたプ輸グラム
に基いて新たに電子機器の機能確認用プログラム（チェ
ックプログラム）を作り、そのチェックプログラムを検
査担当者が覚え、それに基づいてキー人力し、正常に動
作するかどうかを確認する検査方法である。
に基いて新たに電子機器の機能確認用プログラム（チェ
ックプログラム）を作り、そのチェックプログラムを検
査担当者が覚え、それに基づいてキー人力し、正常に動
作するかどうかを確認する検査方法である。
しかし、このチェックプログラムによる検査方法には次
の様な欠点がある。
の様な欠点がある。
ａ、電子機器のすべての機能を確認できるチェックプロ
グラムを作らなければならないのでプログラムが長くな
る。
グラムを作らなければならないのでプログラムが長くな
る。
ｂ、検査担当者がチェックプログラムを覚えなければな
らない。
らない。
Ｃ６電子機器のすべての機能を確認しようとするため、
キーを入力する回数が非常に多くなるため検査に要する
時間が長くかかる。
キーを入力する回数が非常に多くなるため検査に要する
時間が長くかかる。
（２） マイクロコンピュータによる自己診断システ
ム これは、マイクロコンピュータの入力ポートと出力ポー
トが閉ループとなる電子機器のシステムにおいて、検査
時に出力ポートから特定信号−を出力し、入力ポートで
その信号を受け、マイクロコンピュータ自身でその入力
信号が正常であるかどう））を確認することにより、電
子機器の機能を検査する方法である。
ム これは、マイクロコンピュータの入力ポートと出力ポー
トが閉ループとなる電子機器のシステムにおいて、検査
時に出力ポートから特定信号−を出力し、入力ポートで
その信号を受け、マイクロコンピュータ自身でその入力
信号が正常であるかどう））を確認することにより、電
子機器の機能を検査する方法である。
しかし、このシステムを採用できるのは、大きなシステ
ムを有するもので、電子レンジ等の小さいシステムでは
入力ポートと出力ポートを閉ループにすることは不可能
であるから、マイクロコンピュータによる自己診断シス
テムは適していない。
ムを有するもので、電子レンジ等の小さいシステムでは
入力ポートと出力ポートを閉ループにすることは不可能
であるから、マイクロコンピュータによる自己診断シス
テムは適していない。
本発明は、上述の点に鑑みてなされたものズあり、電子
レンジ等のような小さい比較的に簡単な制御システムに
おいて、そのシステムに使用されているマイクロコンピ
ュータの機能を利用して電子回路の機能を確認しようと
するものである。
レンジ等のような小さい比較的に簡単な制御システムに
おいて、そのシステムに使用されているマイクロコンピ
ュータの機能を利用して電子回路の機能を確認しようと
するものである。
すなわち、電子レンジ等に使用されているアイクロコン
ピュータニ通常のシーケンスコントロールプログラムに
加えて生産工程やサービスにおける故障モードを適格に
一握できる故障判断プロゲラ・を后アさせた検査システ
・−を提供するものである。
ピュータニ通常のシーケンスコントロールプログラムに
加えて生産工程やサービスにおける故障モードを適格に
一握できる故障判断プロゲラ・を后アさせた検査システ
・−を提供するものである。
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は、本発明による検査システムの概要を示すフロ
ーチャートであシ、通常のシーケンスコントロールプロ
グラムに加えて検査システムのだめのプログラムをも考
慮したものであって電子レンジにおける検査システムの
一例を示している。
ーチャートであシ、通常のシーケンスコントロールプロ
グラムに加えて検査システムのだめのプログラムをも考
慮したものであって電子レンジにおける検査システムの
一例を示している。
図において、ＩＱ、Ｉｌ’はマイクロコンピュータ（図
示せず）に設けられる入力ポートであり、これらの入力
ポートの組合せにより状態：０である通常のシークンス
コントロールｌ、状態：１であるマイクロ波調理システ
ムチェックＡ、状態：２であるオープン加熱調理システ
ムチェックＢ、状態二３であるセンサー調理システムチ
ェックＣの４通りの状態に分けることができ、８種類の
システムチ・工・ツクを行なうことができる。２は上記
シーケンスコントロール１及び３種類のシステムチェッ
クＡ、Ｂ、Ｃにおける表示処理部であって、電子レンジ
の場合は、中心部にコロンを設けた４桁の表示装置を使
用する。８は加熱時間や加熱温度等を設定する通常の数
値キーによるキー処理部である。
示せず）に設けられる入力ポートであり、これらの入力
ポートの組合せにより状態：０である通常のシークンス
コントロールｌ、状態：１であるマイクロ波調理システ
ムチェックＡ、状態：２であるオープン加熱調理システ
ムチェックＢ、状態二３であるセンサー調理システムチ
ェックＣの４通りの状態に分けることができ、８種類の
システムチ・工・ツクを行なうことができる。２は上記
シーケンスコントロール１及び３種類のシステムチェッ
クＡ、Ｂ、Ｃにおける表示処理部であって、電子レンジ
の場合は、中心部にコロンを設けた４桁の表示装置を使
用する。８は加熱時間や加熱温度等を設定する通常の数
値キーによるキー処理部である。
次に上記フローチャートによる検査システムにおけるマ
イクロ波調理システムチェックの操作例について第２図
の説明図を参照して説明する。
イクロ波調理システムチェックの操作例について第２図
の説明図を参照して説明する。
まず、電子レンジのマイクロコンピュータ等を実装して
いる基板上（図示せず）において、Ｉｏ−〇、ｌ１＝１
となるように入力ポートを設定して機能切替用入力ポー
トをセットしておく。この場合は、第１図に示したフロ
ーチャートから明らかなように＜Ｉｏ＝ｏ＞、ＹＥＳ、
（１１＝０）、Ｎｏ となって状態＝１に設定され、
マイクロ波調理システムチェックＡを行なうことになる
。
いる基板上（図示せず）において、Ｉｏ−〇、ｌ１＝１
となるように入力ポートを設定して機能切替用入力ポー
トをセットしておく。この場合は、第１図に示したフロ
ーチャートから明らかなように＜Ｉｏ＝ｏ＞、ＹＥＳ、
（１１＝０）、Ｎｏ となって状態＝１に設定され、
マイクロ波調理システムチェックＡを行なうことになる
。
ここで、マイクロ波調理システムチェックＡとは、マグ
ネトロンの発振動作を制御するリレーＡと、ターンテー
ブル、プロアファンモータ及び加熱室の照明用のランプ
をそれぞれ制御するリレーＢとの動作、並びに加熱時間
、加熱温度９時刻等を表示する表示部及び表示回路ある
いはこれらを入力するキー入力回路の動作をチェックす
るものである。
ネトロンの発振動作を制御するリレーＡと、ターンテー
ブル、プロアファンモータ及び加熱室の照明用のランプ
をそれぞれ制御するリレーＢとの動作、並びに加熱時間
、加熱温度９時刻等を表示する表示部及び表示回路ある
いはこれらを入力するキー入力回路の動作をチェックす
るものである。
さて、上記機能切替用入力ポートをＩＱ＝０゜１１ ＝
１とセットした後、電子レンジの電源をＯＮすると、表
示処理部２の表示には、４桁の口字型の８とコロンが表
示されて、リレーＡ、ＢはともにＯＮになっており、こ
の状態で、表示部及び表示回路並びにリレーＡ、Ｂは正
常に動作しているものと判断するのである。これは、Ｉ
Ｑ＝０．ｌ１＝１において、電源をＯＮしたときに表示
部に４桁の口字型８が表示され、リレーＡ、ＢがＯＮす
るようにプログラムされているプログラムが実行するた
めである。従って、電子レンジの検査を行なっている人
は、上記口字型の８がすべて４桁とも正常に点灯してい
るか、また、リレーＡ、Ｂが共にＯＮしたかどうかを確
認するだけでよい。
１とセットした後、電子レンジの電源をＯＮすると、表
示処理部２の表示には、４桁の口字型の８とコロンが表
示されて、リレーＡ、ＢはともにＯＮになっており、こ
の状態で、表示部及び表示回路並びにリレーＡ、Ｂは正
常に動作しているものと判断するのである。これは、Ｉ
Ｑ＝０．ｌ１＝１において、電源をＯＮしたときに表示
部に４桁の口字型８が表示され、リレーＡ、ＢがＯＮす
るようにプログラムされているプログラムが実行するた
めである。従って、電子レンジの検査を行なっている人
は、上記口字型の８がすべて４桁とも正常に点灯してい
るか、また、リレーＡ、Ｂが共にＯＮしたかどうかを確
認するだけでよい。
次に、キー処理部３において、例えば、〔キーＡ〕を入
力すると、表示部には、下側のコロン１個と、下１桁の
口字型表示が０（零）を示し、リレーＡのみＯＦＦとな
っている。これは、下°１桁の表示が正常に０（零）を
示すかどうか、また、マグネトロンへの通電をＯＮ 、
ＯＦＦするリレーＡがＯＦＦするかどうかを検査してい
る。従って、上記〔キーＡ〕を押圧したときに、上述し
た表示並びに動作をすれば、正常に作動していると判断
することができる。そして、上記電源ＯＮ及び〔キーＡ
〕の操作によって、リレーＡ、Ｂの動作確認は終了し、
引き続いて実行される検査工程では、リレーＡはＯＦＦ
、 ＩＪレーＢはＯＮの状態を続ける。次に、〔キー
Ｂ：ｌ操作すると、表示部の下１桁には１、下２桁には
０が表示され、また〔キーＣ〕を操作すると、下１桁に
は２．乍２桁には１．下３桁には０が表示される。この
ようにして順次表示部の各桁の数値を表示させることに
より、すべてのセグメントについて動作を確認すること
ができるので、表示回路並びにキー入力回路をチェック
を行なうことができる。
力すると、表示部には、下側のコロン１個と、下１桁の
口字型表示が０（零）を示し、リレーＡのみＯＦＦとな
っている。これは、下°１桁の表示が正常に０（零）を
示すかどうか、また、マグネトロンへの通電をＯＮ 、
ＯＦＦするリレーＡがＯＦＦするかどうかを検査してい
る。従って、上記〔キーＡ〕を押圧したときに、上述し
た表示並びに動作をすれば、正常に作動していると判断
することができる。そして、上記電源ＯＮ及び〔キーＡ
〕の操作によって、リレーＡ、Ｂの動作確認は終了し、
引き続いて実行される検査工程では、リレーＡはＯＦＦ
、 ＩＪレーＢはＯＮの状態を続ける。次に、〔キー
Ｂ：ｌ操作すると、表示部の下１桁には１、下２桁には
０が表示され、また〔キーＣ〕を操作すると、下１桁に
は２．乍２桁には１．下３桁には０が表示される。この
ようにして順次表示部の各桁の数値を表示させることに
より、すべてのセグメントについて動作を確認すること
ができるので、表示回路並びにキー入力回路をチェック
を行なうことができる。
次に、＜ｔｏ ＝０）、Ｎｏ 、（１１＝０＞、ＹＥＳ
として機能切替用入力ポートをセットすると、状態
＝２となり、オープン加熱−１′理システムチー・りＢ
を□ 実行することができる。また、〈Ｉｏ＝０・）、Ｎｇ。
として機能切替用入力ポートをセットすると、状態
＝２となり、オープン加熱−１′理システムチー・りＢ
を□ 実行することができる。また、〈Ｉｏ＝０・）、Ｎｇ。
（１１＝０）、Ｎｏとセットすると、状態＝３となり、
センサー調理システムチェックＣを実行するととができ
る。上記、システムチェックＢあるいはＣを実行するに
は、例えば、ある特定のキーを入力したときに表示部の
口字型の表示がｄ−ｔＦ等となるようにプログラムして
おけば、検査者がこれらの表示を確認することにより、
オープン加熱調理システムチェックＢやセンサー調理シ
ステムチェックＣを容易に行なうことができる。
センサー調理システムチェックＣを実行するととができ
る。上記、システムチェックＢあるいはＣを実行するに
は、例えば、ある特定のキーを入力したときに表示部の
口字型の表示がｄ−ｔＦ等となるようにプログラムして
おけば、検査者がこれらの表示を確認することにより、
オープン加熱調理システムチェックＢやセンサー調理シ
ステムチェックＣを容易に行なうことができる。
このようにすべてのキーの入力チェックを行なうため、
キーの不良及びキー入力回路の不良、さらにはプリント
基板のパターン切れ、半田不良を発見することができる
。また、キー入力回路のパターンやＬＳＩのキー入力端
子は隣接していることが多く、半田タッチが発生し易い
が、マイクロコンピュータのプログラム設計時にキーの
多重押しを禁示しておけば、ＬＳＩのキー入力端子に半
田タッチ等があった場合、キー人力ができないので半田
タッチをすぐに発見することができる。そして、表示部
のセグメントの一部を消灯した後点灯させることにより
、表示部の不良を発見できる。
キーの不良及びキー入力回路の不良、さらにはプリント
基板のパターン切れ、半田不良を発見することができる
。また、キー入力回路のパターンやＬＳＩのキー入力端
子は隣接していることが多く、半田タッチが発生し易い
が、マイクロコンピュータのプログラム設計時にキーの
多重押しを禁示しておけば、ＬＳＩのキー入力端子に半
田タッチ等があった場合、キー人力ができないので半田
タッチをすぐに発見することができる。そして、表示部
のセグメントの一部を消灯した後点灯させることにより
、表示部の不良を発見できる。
すなわち、消灯すべき箇所のセグメントが点灯していた
場合、表示部またはＬＳＩ不良、あるいは表示回路部の
半田タッチが考えられる。逆に点灯すべき箇所が消灯し
ていた場合には、部品不良、パターン切れ、半田不良等
が故障の原因と考えられる。
場合、表示部またはＬＳＩ不良、あるいは表示回路部の
半田タッチが考えられる。逆に点灯すべき箇所が消灯し
ていた場合には、部品不良、パターン切れ、半田不良等
が故障の原因と考えられる。
尚、上述した説明では、電子レンジの検査システムを例
に挙′げたが、一般にマイクロコンピュータを備えたそ
の他の電子機器、特に比較的制御機能が簡単な機器で、
しかも生産台数の多い場合に採用して効果が得られるこ
とは言うまでもない。
に挙′げたが、一般にマイクロコンピュータを備えたそ
の他の電子機器、特に比較的制御機能が簡単な機器で、
しかも生産台数の多い場合に採用して効果が得られるこ
とは言うまでもない。
以上に説明したように、本発明は、電子機器に使用され
ているマイクロコンピュータに、シーケンスコントロー
ルプログラムに加えて、故障判断プログラムをストアさ
せることにより生産工程及びサービスにおける種々の検
査を実行し、故障モードを判断することができる検査シ
ステムであるから、チェックプログラムを設計する必要
がなく、すべてのキーを−通りの順序で入力することに
よりチェックすることができるので検査に必要な時間も
短縮できる。そして、電子機器の種類が増え、機能が複
雑になっても、電子機器の全種類において表示される内
容の順序を統一しておけば、検査者が一度チェック方法
を覚えれば、機種数や機能が増加しても容易に実行する
ことかできる。さらには、シーケンスコントロールプロ
グラムにより実行される本来の機能と本発明による回路
検査システムとの切替え端子を回路検査機能側にセット
して電源投入した後、即回路検査機能をチェックするこ
とができるので待ち時間を全く必要としない等、優れた
効果を奏するものである。
ているマイクロコンピュータに、シーケンスコントロー
ルプログラムに加えて、故障判断プログラムをストアさ
せることにより生産工程及びサービスにおける種々の検
査を実行し、故障モードを判断することができる検査シ
ステムであるから、チェックプログラムを設計する必要
がなく、すべてのキーを−通りの順序で入力することに
よりチェックすることができるので検査に必要な時間も
短縮できる。そして、電子機器の種類が増え、機能が複
雑になっても、電子機器の全種類において表示される内
容の順序を統一しておけば、検査者が一度チェック方法
を覚えれば、機種数や機能が増加しても容易に実行する
ことかできる。さらには、シーケンスコントロールプロ
グラムにより実行される本来の機能と本発明による回路
検査システムとの切替え端子を回路検査機能側にセット
して電源投入した後、即回路検査機能をチェックするこ
とができるので待ち時間を全く必要としない等、優れた
効果を奏するものである。
第１図は、本発明による検査システムの概要を示すフロ
ーチャート、第２図は、電子レンジにおける検査システ
ムの操作例を示す説明図である。 １・・・通常のシーケンスコントロール、２・・・表示
処理部、３・・・キー処理部、Ａ・・・マイクロ波調理
システムチェック、Ｂ・・・オープン加熱調理システム
チェック、Ｃ・・・センサー調理゛レステムチェック、
ＩＱ、ＩＶ・・マイクロコンピュータの入力ポート。 代理人 弁理士 福 士 愛 彦
ーチャート、第２図は、電子レンジにおける検査システ
ムの操作例を示す説明図である。 １・・・通常のシーケンスコントロール、２・・・表示
処理部、３・・・キー処理部、Ａ・・・マイクロ波調理
システムチェック、Ｂ・・・オープン加熱調理システム
チェック、Ｃ・・・センサー調理゛レステムチェック、
ＩＱ、ＩＶ・・マイクロコンピュータの入力ポート。 代理人 弁理士 福 士 愛 彦
Claims (1)
- １、電子機器に使用されているマイクロコンピュータに
、シーケンスコントルールプログラムに加えて故障判断
プログラムをストアさせることにより、生産工程及びサ
ービスにおける種々の検査を実行し、故障モードを判断
可能ならしめたことを特徴とする電子機器の検査システ
ム０
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56193386A JPS5892970A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | 電子機器の検査システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56193386A JPS5892970A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | 電子機器の検査システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5892970A true JPS5892970A (ja) | 1983-06-02 |
Family
ID=16307063
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56193386A Pending JPS5892970A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | 電子機器の検査システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5892970A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61164554U (ja) * | 1985-03-31 | 1986-10-13 | ||
| JPS6234081A (ja) * | 1985-08-06 | 1987-02-14 | Fujitsu Ten Ltd | 電子機器の検査方法 |
| JPH01232921A (ja) * | 1988-03-15 | 1989-09-18 | Tokyo Electric Co Ltd | 電気掃除機 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5635067A (en) * | 1979-08-29 | 1981-04-07 | Fujitsu Ltd | Test system for input and output unit |
-
1981
- 1981-11-30 JP JP56193386A patent/JPS5892970A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5635067A (en) * | 1979-08-29 | 1981-04-07 | Fujitsu Ltd | Test system for input and output unit |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61164554U (ja) * | 1985-03-31 | 1986-10-13 | ||
| JPS6234081A (ja) * | 1985-08-06 | 1987-02-14 | Fujitsu Ten Ltd | 電子機器の検査方法 |
| JPH01232921A (ja) * | 1988-03-15 | 1989-09-18 | Tokyo Electric Co Ltd | 電気掃除機 |
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