KR100274636B1 - 모니터 테스트 지그 - Google Patents
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Abstract
모니터에 장착되는 메인 보드와 비데오 보드 및 음극선관 보드를 포함하는 각종 보드를 조립한 상태에서 클램핑하여 테스트를 위한 전기적인 결선을 완료하고 간단한 스위치의 조작으로 테스트를 수행하는 모니터 테스트 지그에 관한 것으로써, 전면에 조작 패널을 갖는 케이스, 상기 케이스 내부에서 상하 업/다운 가능하도록 지지되고 상면이 상기 케이스 상면으로 드러나는 테스트 플레이트, 상기 테스트 플레이트의 업/다운을 조절하는 구동 수단 및 상기 구동수단의 업/다운에 연동되어 상기 테스트 플레이트 상면에 테스트를 위한 보드를 고정하는 클램핑 수단을 구비하여 이루어진다.
따라서, 반조립한 상태에서 테스트 지그를 이용하여 종합적인 테스트가 이루어지기 때문에 조립 과정에서 발생될 불량의 발생이 방지되며, 복수 개의 보드에 대한 평가가 짧은 시간에 이루어질 수 있고, 접지 불량으로 인한 불량이 방지된다.
Description
본 발명은 모니터 테스트 지그에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 모니터에 장착되는 메인 보드와 비데오 보드 및 음극선관 보드를 포함하는 각종 보드를 조립한 상태에서 클램핑하여 테스트를 위한 전기적인 결선을 완료하고 간단한 스위치의 조작으로 테스트를 수행하는 모니터 테스트 지그에 관한 것이다.
가정용 또는 사무용으로 많이 보급되어 이용되는 컴퓨터는 본체와 모니터 및 키보드가 기본적인 사양으로 조립되며, 이 중 모니터는 전기적인 동작을 위한 메인 보드와 비데오 보드 및 음극선관 보드와 같은 다양한 보드가 장착되어서 디스플레이를 위한 구동과 컴퓨터 본체와의 인터페이스와 같은 미리 설정된 기능을 수행하도록 구성된다.
보통 조립 공장에서 모니터가 조립되어 출하되는 과정에서 제품의 상태를 점검하기 위하여 전술한 보드들은 검사를 거치며, 각 개별 보드들은 해당 모듈별로 특정화된 방법에 의하여 개별적으로 검사되어 동작특성에 대한 평가가 이루어지고, 개별적인 보드별 검사가 이루어진 후 보드가 조립된다.
그러므로, 메인 보드와 비데오 보드 및 음극선관 보드와 같은 개별적인 점검은 개별적인 세팅시간과 검사시간이 요구되어 전체적으로 상당한 검사시간이 소요되며, 전술한 검사과정은 수작업으로 대개 이루어지기 때문에 접지가 정확히 이루어지지 않아서 각종 보드에 실장된 반도체칩이 종종 손상되는 경우가 발생되었다. 따라서, 보드 자체의 불량이 유발되는 경우가 많았다.
한편, 개별적인 보드에 대한 검사 결과가 양호한 것으로 판정된 경우에도 각종 보드들이 조립되는 과정에서 배선의 실수나 와이어 불량이 발생될 수 있으며, 이러한 불량은 검사가 종료된 후 발생되는 것이기 때문에 모니터의 동작 불능 또는 제품의 신뢰성을 치명적으로 저하시키는 요인으로 작용된다.
따라서, 본 발명의 목적은 상기의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 지그를 제작하여 모니터에 장착되는 각종 보드들을 반 조립한 상태에서 개별 보드들의 특성 평가와 배선상의 결합을 종합적으로 점거함에 있다.
본 발명의 다른 목적은 점검을 수행할 때 각 보드에 대한 접지를 형성하여 각 보드에 실장된 반도체 칩을 보호하기 위한 모니터 테스트 지그를 제공함에 있다.
도 1은 본 발명에 따른 모니터 테스트 지그의 바람직한 실시예를 나타내는 사시도이다.
도 2는 실시예의 개략적인 평면도이다.
도 3은 클램프를 나타내는 확대 사시도이다.
도 4는 케이스 내부의 플레이트가 다운된 상태의 측면도이다.
도 5는 케이스 내부의 플레이트가 업된 상태의 측면도이다.
이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 모니터 테스트 지그는 전면에 조작 패널을 갖는 케이스, 상기 케이스 내부에서 상하 업/다운 가능하도록 지지되고 상면이 상기 케이스 상면으로 드러나서 소정 보드가 실리는 테스트 플레이트, 상기 테스트 플레이트의 업/다운을 조절하는 구동 수단 및 상기 구동수단의 업/다운에 연동되어 상기 테스트 플레이트 상면의 테스트를 위한 소정 보드를 고정하는 클램핑 수단을 구비하여 이루어진다.
그리고, 상기 구동 수단은 회전식 레버 및 상기 회전식 레버의 회전 상태에 연동되어 회전되는 이절 링크 구조를 가지며 소정 절곡 부분이 상기 테스트 플레이트의 하면을 지지하여 회전에 연동되어 상기 테스트 플레이트를 업/다운 시키는 회전 수단을 구비함이 바람직하다.
또한, 상기 클램핑 수단은 상기 테스트 플레이트에 일체로 결합되며 소정 방향으로 기울어진 두 개의 관통구가 연통된 형상의 관통구를 갖는 상하이동피스 및 장공이 형성되어 상하이동피스가 소정 폭 여유를 가지고 삽입되며, 상기 장공의 횡으로 핀이 구성되어서 상기 관통구에 삽입되어서 상기 상하이동피스의 상하 동작에 연동되어 전진 또는 후진하는 슬라이더와 상기 슬라이더의 전진 또는 후진을 가으드하는 고정부를 구비하는 클램프를 구비함이 바람직하다.
그리고, 상기 클램핑 수단은 소정 접지 루프와 연결되고, 클램핑시 상기 보드의 접지 패턴과 접촉됨이 바람직하다.
이하, 첨부 도면에 의거하여 상기한 본 발명의 특징들, 그리고 장점들을 상세히 설명하기로 한다.
본 발명에 따른 실시예는 반조립된 상태 즉 모니터의 케이스에 실장되기 전 보드들간 세팅된 상태에서 보드들의 특성 또는 결성 상태 등을 점검하기 위한 테스트 지그를 구성한 것이다.
도 1을 참조하면, 실시예는 케이스(10)의 상면에 장방형의 소정 영역으로 테스트 플레이트(12)가 구성되며, 테스트 플레이트(12)에는 비데오 보드(도시되지 않음)와 음극선관 보드(도시되지 않음)가 반 조립된 메인 보드(도시되지 않음)가 놓여서 테스트가 수행된다.
케이스(10)의 경사진 전면에는 각종 스위치(11a, 11b)가 설치되며, 케이스(10)의 테스트 플레이트(12)가 구성된 사변부의 인접하여 메인 보드의 측면을 지지하는 지지용 핀(13)들이 설치되고, 테스트 플레이트(12)의 장변 중간에 서로 마주보도록 클램프(14)가 설치된다.
그리고, 케이스(10)의 상면 일측에 편향 요크에 연결을 위한 고압봉(16)이 설치되며, 케이스(10)의 일측면에 클램프(14)와 테스트 플레이트(12)의 구동을 위한 회전식 레버(18)가 설치된다.
실시예는 회전식 레버(18)가 화살표(18a)와 같이 상하로 회전되는 상태에 따라서 클램프(14)의 클램핑 상태는 화살표(14a)와 같이 이동되며 테스트 플레이트(12)는 업/다운되도록 구성된다.
실시예의 평면도는 도 2와 같으며, 실시예에서 클램프(14)는 회전식 레버(18)의 동작에 연동되어 전진 또는 후진 동작되며, 전진시 테스트 플레이트(12)가 업되고, 후진시 테스트 플레이트(12)는 다운된다.
테스트 플레이트(12)에 놓이는 메인 보드는 업되는 테스트 플레이트(12)와 전진되는 클램프(14)의 사이에 클램핑된다. 이때 메인 보드의 접지 패턴(20)은 클램프(14)에 접속되며, 이에 따라서 메인 보드의 접지 패턴(20)은 클램프(14)와 지지용 핀(13)들 간에 걸쳐서 형성되는 접지 루프(22)와 연결된다. 접지 루프(22)는 와이어(도시되지 않음)를 이용하여 케이스(10) 내부에 형성됨이 바람직하다.
클램프(14)는 도 3과 같이 케이스(10)에 고정되는 두 개의 고정부(30)가 평행하게 양측으로 분리되어 구성되고, 고정부(30)들의 사이에 전후 방향으로 슬라이딩되는 슬라이더(32)가 구성되며, 고정부(30)와 슬라이더(32)는 전후 방향 소정 거리 슬라이딩 가능한 측면 결합 구조를 갖는다.
슬라이더(32)의 중앙에는 전후진 방향에 평행한 장공(34)이 형성되며, 장공(34)의 사이에는 상하이동피스(36)가 삽입된다. 상하이동피스(36)는 장공(34)의 깅리보다 좁으며, 그에 따라 형성된 공간이 후술될 슬라이더(32)의 이동공간이 된다.
상하이동피스(36)에는 원형의 관통구가 연통된 형상의 관통구(38)가 형성된다. 관통구(38)는 중간 부분이 오목한 형상을 가지며, 관통구(38)는 하부가 테스트 플레이트(12) 방향에 근접되도록 경사져있다.
슬라이더(32)의 장공(34)에는 핀(40)이 구성되고, 핀(40)은 상하이동피스(36)의 관통구(38)를 관통하여 상하이동을 가이드하도록 구성된다.
즉, 상하이동피스(36)가 상부로 이동되면, 관통구(38)에 지지되는 핀(40)에 힘이 가해져서 슬라이더(32)는 전진한다. 이와 반대로 상하이동피스(36)가 하부로 이동되면, 관통구(38)에 지지되는 핀(40)에 힘이 가해져서 슬라이더(32)는 후진한다.
케이스(10) 내부의 구성은 도 4와 같으며, 상하이동피스(36)는 테스트 플레이트(12)에 일체로 구성되고, 테스트 플레이트(12)의 네 모서리 하부에는 지지다리(42)가 각각 구성되며, 지지다리(42)는 케이스의 저면(44)에 구성되는 지지부재(46)들에 상하 유격 가능하도록 지지된다.
그리고, 테스트 플레이트(12)의 하부에는 서로 이격된 지지부재(50a, 50b)에 이절 결합된 로드(48)가 소정 각 회전 가능하게 구성되며, 지지부재(50a)에 결합된 지지바(51a)는 회전식 레버(18)에 연결되며, 회전식 레버(18)의 회전 방향과 동일하게 회전된다. 그리고, 지지부재(50b)의 지지바(51b)와 로드(48)의 결합으로 절곡된 부분은 그에 연동되어 회전된다. 지지부재(50a)의 절곡 부분과 회전식 레버(18)의 회전축에서 소정거리 벗어난 위치가 연결되며, 지지바(51a)와 로드(48)가 연결된 부분에는 롤러(53)가 구성되어서 테스트 플레이트(12)의 지지를 원활히 한다.
따라서, 회전식 레버(18)가 기울어지면 도 4와 같이 로드(48)가 다운되어 그에 의하여 지지되는 테스트 플레이트(12)도 다운된 상태이며, 회전식 레버(18)가 상부로 젖혀지면 도 5와 같이 로드(48)가 업되며, 그에 연동되어 테스트 플레이트(12)도 업된다.
즉, 회전식 레버(18)의 회전 상태에 따라서 로드(48)가 업/다운되며, 그에 따라서 전술한 상하이동피스(36)가 업/다운된다.
따라서, 본 발명에 따른 실시예에 의하면, 비데오 보드와 음극선관 보드 및 메인 보드가 반조립되어 결선된 상태에서 테스트 플레이트(12) 상에 메인 보드가 놓이면, 작업자는 회전식 레버(18)를 젖혀서 메인 보드를 클램프(14)로 고정한다.
메인 보드는 전술한 바와 같이 테스트 플레이트(12)가 상부로 업되면서 클램프(14)의 슬라이더(32)가 전진됨으로써 그 사이에 고정된다.
이와 같이 메인 보드가 고정되면 메인 보드의 접지 패턴(20)이 클램프(14)와 접속되고, 클램프(14)는 지지용 핀(13)들을 경유하여 형성되는 접지 루프(22)와 전기적으로 연결되고, 메인 보드는 반 조립된 다른 보드들의 접지라인과 결선되어 있으므로 결국 반조립된 각 보드들은 접지 루프(22)와 연결된 접지 경로를 갖게 된다.
따라서, 반조립된 상태의 각종 보드들의 특성 테스트와 결선상태 점검을 수행하기 위하여 스위치(11a, 11B)들이 조작되면 정해진 특성 검사가 수행되고, 이때 접지 경로가 확보됨에 따라서 테스트 중에 반도체칩이 접지 불량으로 손상되는 것이 방지된다.
그리고, 본 발명에 따른 실시예는 전술한 바와 같이 반조립된 상태의 각종 보드들의 종합적인 테스트가 이루어지기 때문에 조립 과정의 결선 불량 등이 테스트하는 과정에서 불량으로 판별된다.
따라서, 모니터를 조립한 완제품과 동일한 상태에서 테스트가 이루어지기 때문에 조립 과정에서 발생되는 불량 등으로 인한 모니터 불량이 발생되지 않는다. 그리고, 개별적인 테스트가 불필요하기 때문에 짧은 시간에 복수 개의 보드들에 대한 테스트가 이루어진다.
이상에서 상세히 설명한 바와 같이, 본 발명은 바람직한 실시예에 대해 상세히 기술되었지만, 본 발명이 속하는 기술 분야에 있어서 통상의 지식을 가진 사람이라면, 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 본 발명을 여러 가지로 변형 또는 변경하여 실시할 수 있음을 알 수 있을 것이다.
따라서, 본 발명에 의하면 반조립한 상태에서 테스트 지그를 이용하여 종합적인 테스트가 이루어지기 때문에 조립 과정에서 발생될 불량의 발생이 방지되며, 복수 개의 보드에 대한 평가가 짧은 시간에 이루어질 수 있다.
그리고, 테스트하는 과정에 접지는 클램프를 이용하여 이루어지므로 접지 불량으로 인한 불량이 방지된다.
Claims (4)
- 전면에 조작 패널을 갖는 케이스;상기 케이스 내부에서 상하 업/다운 가능하도록 지지되고 상면이 상기 케이스 상면으로 드러나서 소정 보드가 실리는 테스트 플레이트;상기 테스트 플레이트의 업/다운을 조절하는 구동 수단 및상기 구동수단의 업/다운에 연동되어 상기 테스트 플레이트 상면의 테스트를 위한 상기 보드를 고정하는 클램핑 수단을 구비함을 특징으로 하는 모니터 테스트 지그.
- 제 1 항에 있어서, 상기 구동 수단은,회전식 레버 및상기 회전식 레버의 회전 상태에 연동되어 회전되는 이절 링크 구조를 가지며 소정 절곡 부분이 상기 테스트 플레이트의 하면을 지지하여 회전에 연동되어 상기 테스트 플레이트를 업/다운 시키는 회전 수단을 구비함을 특징으로 하는 모니터 테스트 지그.
- 제 1 항에 있어서, 상기 클램핑 수단은,상기 테스트 플레이트에 일체로 결합되며 소정 방향으로 기울어진 두 개의 관통구가 연통된 형상의 관통구를 갖는 상하이동피스 및장공이 형성되어 상하이동피스가 소정 폭 여유를 가지고 삽입되며, 상기 장공의 횡으로 핀이 구성되어서 상기 관통구에 삽입되어서 상기 상하이동피스의 상하 동작에 연동되어 전진 또는 후진하는 슬라이더와 상기 슬라이더의 전진 또는 후진을 가으드하는 고정부를 구비하는 클램프를 구비함을 특징으로 하는 모니터 테스트 지그.
- 제 1 항에 있어서,상기 클램핑 수단은 소정 접지 루프와 연결되고, 클램핑 때 상기 보드의 접지 패턴과 연결됨을 특징으로 하는 모니터 테스트 지그.
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