KR100232505B1 - 다결정형 규소 채널을 갖는 전계효과소자 - Google Patents

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아치 케이. 말론
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Abstract

본 발명에서는 CMOS SRAM 셀은 데이터 저장 노드인 공통 노드와 전원사이에 다결정형 규소 신호선을 갖는다. 이러한 다결정형 규소 신호선안에 전계효과소자가 조립된다. 전계효과소자의 채널은 얇은 게이트 유전체에 의하여 기판내 활성부위로부터 분리되며, 기판내의 활성 영역은 전계효과소자에 대한 제어 게이트로서 작용한다. 본 발명의 전계효과소자는 CMOS SRAM 셀에 사용되기 위한 다결정형 규소 P-채널 트랜지스터를 제공하는데 사용될 수 있다.

Description

다결정형 규소 채널을 갖는 전계효과소자
제1도 내지 제4도는 본 발명에 따른 다결정형 규소 전계효과소자의 제조를 도시한 도면.
제5도는 본 발명에 따른 다결정형 규소 전계효과소자를 사용한 CMOS SRAM 셀의 레이아웃(layout)을 보여주는 평면도.
제6도는 제5도의 SRAM 셀에 관한 개략도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : P-형 기판 12,14 : 전계 산화물 영역
16,18 : 활성 영역 20 : 다결정형 규소 신호선
22 : 게이트 산화물층 24 : 측벽 스페이서
26 : 약하게 도핑된 드레인 영역 28 : 얇은 산화물층
30 : 공유접촉 영역 32 : 도핑되지 않은 다결정형 규소층
34 : N+주입 영역 36,38 : P+주입 영역
40 : P-N 계면 42 : N 채널영역
44 : 두꺼운 산화물층 46 : 신호선
48 : 워드선 50,52 : 접촉영역
60,62 : N-채널 트랜지스터 64,66 : P-채널 트랜지스터
68,70 : N-채널 트랜지스터 72,74 : N-채널 트랜지스터
76,78 : 다이오드 80,82 : 공통 노드
본 발명은 일반적으로 집적회로 소자에 관한 것이며, 보다 구체적으로 다결정형 규소 채널을 갖는 전계효과소자에 관한 것이다.
전자산업 분야에서 CMOS 스태틱 랜덤 액세스 메모리("SRAM")는 속도 및 낮은 전력, 그리고 리프레쉬(refresh)가 불필요하다는 특성을 고루 갖고 있는 까닭에 점점 더 많이 사용되고 있다. CMOS SRAM 셀은 교차접속된 래치 주위에 조립되고, 표준 SRAM의 경우 대개 두 개의 제어 게이트에 의하여 액세스된다. 2-포트(port) 메모리 소사용 셀에 액세스하기 위해서는 네 개의 제어 게이트가 사용된다.
기본적인 SRAM 셀은 2개씩의 N-채널 및 P-채널 트랜지스터를 갖는 교차접속 CMOS 인버터를 사용하여 형성될 수 있다. 물리적인 레이아웃 공간을 보존하기 위하여 P-채널 트랜지스터는 종종 저항성 부하로 대체된다. 통산, 부하에는 다결정형 규소 저항기와 2개의 백-투-백(back-to-back) 다결정형 규소 다이오드가 포함된다. 다결정형 규소 다이오드의 예가, 본 발명에 참조로 병합되고 “반도체 회로 제조방법”이라는 발명의 명칭으로 출원중인 미합중국 특허 출원 제298,530호(1989.1.18일자 출원)에 기재되어 있다. 어떤 유형의 저항성 부하라도, 셀에 의한 전력소모를 감소시키기 위해 매우 높은 저항을 갖도록 형성된다.
SRAM 셀을 위한 부하로서 P-채널 트랜지스터를 사용하면 더욱 우수한 전기적 특성을 갖는 셀이 만들어진다. 그러한 셀은 저항성 부하를 사용한 셀보다 훨씬 더 빠른데, 그 이유는 P-채널 트랜지스터가 고저항 소자보다 더 높은 구동전류를 제공할 수 있기 때문이다. 또한 P-채널 트랜지스터를 사용하면 알파입자 충격 및 소음에 의해 야기된 것과 같은 소프트 에러(soft error)에 대하여 더 큰 면역성이 제공된다. P-채널 트랜지스터가 들어있는 SRAM 셀의 주된 단점은 각 셀에 대한 레이아웃 면적이 저항성 부하를 사용한 셀에 비하여 상당히 크다는 것이다. 이는 소자의 밀도를 감소시키고 칩의 가격을 상승시킨다.
P-채널 부하의 장점과 저항성 부하셀의 셀 레이아웃 면적 요건을 결합시킨 SRAM 셀이 요망된다. 더 나아가, 저항성 부하에 비하여 증가된 전류구동을 제공하고 높은 OFF 저항을 제공하는, SRAM 셀과 함께 사용되기 적합한 전계효과소자 부하가 요망된다.
따라서, 본 발명의 한 목적은 P-채널 트랜지스터를 사용하는 CMOS SRAM 셀을 위한 부하를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 저항성 부하셀과 동일한 칩 면적내에서 제조될 수 있는 부하소자를 제공하는 것이다.
본 발명의 또다른 목적은 다결정형 규소 신호선내에 도전성 채널을 갖는 전계효과소자를 제공하는 것이다.
본 발명의 또다른 목적은 CMOS SRAM 셀 부하로서 사용되기에 적합한 전계효과소자를 제공하는 것이다.
그러므로, 본 발명에 따르면, CMOS SRAM 셀은 데이터 저장 노드인 공통 노드와 전원사이에 다결정형 규소 신호선을 갖는다. 전계효과소자는 이러한 다결정형 규소 신호선안에 제조된다. 전계효과소자의 채널은 얇은 게이트 유전체에 의해서 기판내의 활성 영역과 분리되며, 기판내의 활성 영역은 전계효과소자에 대한 제어게이트로서 작용한다. 그러한 소자는 CMOS SRAM 셀에 사용되기 위한 다결정형 규소 P-채널 트랜지스터를 제공하기 위해 사용될 수 있다.
본 발명의 신규한 성질이라 믿어지는 특색들이 청구범위에 기재되어 있으나, 본 발명 그 자체 및 바람직한 사용형태, 그리고 그밖의 목적과 장점들은 첨부도면을 참고로하여 하기의 예시적 실시형태를 통하여 잘 알 수 있다.
이하에 기재된 공정단계 및 구조들은 집적회로 제조를 위한 완전한 공정흐름을 구성하지 않는다. 본 발명은 당분야에서 현재 사용되고 있는 집적회로 조립기술과 연관하여 실시할 수 있으며, 본 발명의 이해를 돕기 위해 통상 실시되는 공정단계를 포함시킬 뿐이다. 제조시 집적회로 부분들의 횡단면을 나타내는 도면들은 일정 비율로 도시된 것이 아니고, 본 발명의 중요한 특징들을 예시하기 위해 도시된 것이다.
제1도를 살펴보면, P-형 기판(10)에서 조립되고 있는 CMOS SRAM 셀 일부의 횡단면이 나와있다. 필드산화물 영역(12, 14)은 소자의 활성 영역들을 분리한다. 활성 영역(16)은 필드산화물 영역들(12, 14)은 소자의 활성 영역들을 분리한다. 활성 영역(16)은 필드산화물 영역들(12, 14) 사이에 위치하며 두 전계효과 트랜지스터(도시안됨)를 위한 공통 소스/드레인 영역을 형성한다.
활성 영역(18)은 두 부분으로 분리된 것으로 도시되어 있으나, 실제로는 제5도와 관련해서 볼 수 있는 바와 같이 하나의 단일 활성 영역이다. 다결정형 규소 게이트선(20)이 당분야에 공지된 바와 같이 얇은 게이트 산화물층(22)위에 형성된다. 당분야에 공지된 바와 같은 이방성 엣칭을 이용하여 측벽 스페이서(24)를 형함으로써, 약하게 도핑된 드레인(lightly doped drain : "LDD") 영역(26)이 형성되도록 한다.
제1도의 횡단면도에서는 다결정형 규소선(20)이 전계효과소자의 게이트로서 작용하는 것처럼 보이나 실제로 이것은 다음에 기재되는 공유 접촉 영역(shared contact region)의 위치가 될 것이다. 다결정형 규소선(20) 영역내의 불순물 도핑 프로필은 실제 트랜지스터에 대한 것과 동일하지만, 이는 단지 당분야에서 공지된 제조공정일 뿐이다. 활성 영역들(18)은 제1도에 나와있는 횡단면도의 평면 이외의 곳에서 연결되며, 이하에서 더 자세히 기술되는 바와 같이 다결정형 규소선(20)과 하부의 활성 영역(18) 사이에 직접적 전기 접촉이 이루어질 것이다.
이 시점에서 CMOS SRAM에 대한 표준 제조기술이 사용된다. 이제 본 발명에 따른 다결정형 규소 전계효과소자를 제조하기 위하여 표준 공정 흐름의 변형법을 이용할 것이다. 얇은 산화물층(28)을, 바람직하게는 플라즈마 인핸스드 화학기상증착(PECVD)을 사용하여 소자 표면위에 증착시킨다. 이로써, 400℃ 내지 700℃의 비교적 낮은 온도하에서 우수한 품질의 산화물층(28)이 형성되게 된다. 층(28)을 바람직하게는 약 500[Å]의 두께로 증착시킨 후, 소자를 바람직하게는 850℃이상의 온도로 가열함으로써 수행되는 고밀도화 단계로 처리한다. 이러한 고밀도화 단계는 산화물층(28)의 품질을 향상시키는 외에도, 바람직하게는 소자의 활성 부위내에 있는 N+및 P+주입물(implant)을 어닐링 및 활성화시키기 위해 사용된다. 산화물층(28)은 전계효과소자를 위한 유전체로서 사용될 것이므로, 산화물층(28)의 품질은 중요한 것이다.
제2도를 살펴보면, 마스크 및 엣칭 단계를 이용하여 공유 접촉 영역(30)을 산화물층(28)에 형성시킨 후 도핑되지 않은 다결정형 규소층(32)을 약 2000[Å]의 깊이로 증착시킨다. 이후, 마스크를 사용하여 공유 접촉 영역의 경계를 정하고 N+주입을 하여 영역(34)을 형성한다. 다결정형 규소층(32) 내의 이러한 N+영역은 활성 영역(18) 및 다결정형 규소 신호선(20)과의 우수한 전기적 접촉을 이룬다. N+주입 영역은 실제 공유 접촉 영역(30)보다 더 크며, 바람직하게는 필드 산화물 영역(12)의 중간에까지 뻗어있다.
제3도에서는 P+주입 마스크를 만든 후 P+주입 단계에 의해 영역(36,38)을 형성한다. 영역(38)은 다결정형 규소 트랜지스터의 소스/드레인 영역 및 Vcc 상호연결선을 형성한다.
P+영역(36)은 다결정형 규소 트랜지스터의 다른 소스/드레인 영역을 형성하며, 또한 N+영역(34)과의 계면(40)에서 다이오드를 형성하기도 한다. 바람직하게는, 광마스크의 레이아웃에 의해, 주입된 N+및 P+영역(34,36)이 약간 중첩되어, 결과적인 계면(40)에서 다이오드가 형성되도록 한다.
이후 블랭킷(blanket) N-주입에 의해 N-채널 영역(42)을 소자 표면위에 형성한다. 이러한 주입은 마스크 처리를 할 필요가 없는데, 그 이유는 그의 도핑 레벨이 N+및 P+영역(34,38,40)에 비해 비교적 낮기 때문이다. 영역(42)은, P+영역(36,38)이 소스 및 드레인인 다결정형 규소 P-채널 트랜지스터의 전도성 채널을 형성한다.
모든 주입들을 제2다결정형 규소층(32)안에 있도록 한 후, 마스킹 및 엣칭 단계를 수행하여 다결정형 규소 트랜지스터, 공유 접촉 영역 및 Vcc 상호연결선의 경계를 정한다. 다결정형 규소층이 소자의 하부를 보호하는데 사용될 수 있도록, 층의 패턴화 이전에 모든 주입물들을 제2다결정형 규소층안에 두는 것이 바람직하다. N+, P+및 N-주입 순서는 중요치 않다. 위에서는 이러한 주입을 N+, P+, N-의 순서가 되도록 기재하였으나, 이들은 N-, N+, P+의 순서 또는 그밖에 원하는 다른 순서로도 쉽게 만들 수 있다. 전술한 바와 같이 N+주입용 마스크를 사용할 필요는 없다.
제4도를 살펴보면, 일단 제2다결정형 규소층을 패턴화하고 나서는 두꺼운 산화물층(44)을 칩의 표면위에 형성시킨다. 바람직하게는 산화물층(44)이, 도핑되지 않은 증착 산화물층으로부터 약 2000[Å]의 깊이로, 그리고 PSG 또는 BPSG 층으로부터 약 6000[Å]의 깊이로 형성된다. 이후 금속 증착에 앞서 그의 윤곽을 매끄럽게 해주기 위해 절연층(44)을 리플로우(reflow) 처리할 수 있다. 절연층(44)의 형성이 완료된 후, 금속층을 패턴화한 모양으로 증착시켜서 신호선(46)을 형성시킨다. 소자에 대한 가공처리 단계의 나머지는 통상적인 것이다.
제5도는 부하소자로 사용되기 위해 위에서 설계한 바와 같이 제조된 P-채널 다결정형 규소 트랜지스터를 사용하는 CMOS SRAM 셀을 위한 바람직한 레이아웃을 보여준다. 그같은 SRAM 셀 레이아웃에 관한 세부 설명은 전술했던 바와 같이 본 발명에 참조로 병합된 동시출원중인 관련 미국특허출원에 기재되어 있다. 제1레벨의 다결정형 규소선(20) 이외에도 워드선(48)을 제1레벨의 다결정형 규소층으로부터 형성시킨다. 위에 놓은 절연층(44)을 통해 접촉 영역(50)을 개방하여서 여러 금속 데이터 신호선과 접촉되도록 한다. 금속 소자 접지선은 접촉 영역(52)을 통해 SRAM 셀과 접촉된다.
제5도에 나와있는 셀 레이아웃은 8-T, 이중-포트 SRAM 셀이다. 각각의 다결정형 규소선(48)은 두 개의 N-채널 트랜지스터에 대한 게이트를 형성한다. 각각의 신호선(20)은 단일 N-채널 트랜지스터에 대한 게이트를 형성하며, 활성영역(16)은 영역(42)에서 채널을 갖는 두 개의 P-채널 다결정형 규소 소자에 대한 게이트로 작용한다. P-채널 소자는 공유 접촉점(30)과 Vcc 신호선(38) 사이에서 부하 소자로 사용된다.
제5도의 셀 레이아웃에 상응되는 개략도가 제6도에 나와있다. N-채널 트랜지스터(60,62)는 다결정형 규소 P-채널 트랜지스터(64,66)와 접속하여 셀의 교차접속 래치를 형성한다. N-채널 트랜지스터(68 및 70)는 각기 참 및 상보 데이터 기록선[(DW) 및 (DWB)]에 연결된다. N-채널 트랜지스터(72 및 74)는 각기 참 및 상보 데이터 기록 신호선[(DR) 및 (DRB)]에 연결된다.
다이오드(76 및 78)는 P-N 계면(40)에 의해 형성되는 것들이며, 각기 공통 노드(80 및 82)에 연결된다. 공통 노드(80 및 82)는 제1도 내지 제4도에 나와있는 활성 영역(16)에 상응되는 것이며 P-채널 트랜지스터(66,64)에 대한 게이트 영역으로 작용한다.
트랜지스터(68,70)는 워드 기록 신호선(WW)에 의해 게이트 신호가 제공되며 판독 트랜지스터(72,74)는 워드 판독 신호선(WR)에 의해 제어된다. 선(WW 및 WR)은 제5도에 나와있는 다결정형 워드선(48)에 상응된다. 선(DW, DR, DWB, DRB) 및 접지 연결부는 제5도의 접촉 영역(50 및 52)에 접촉되도록 하는 금속 신호선이다. 제6도에 나와있는 8-T SRAM셀의 동작은 통상적인 것이며, 당업자들이라면 쉽게 알 수 있다.
전술할 기술이 여러 가지 다른 상황에서 사용될 수 있다는 것을 당업자라면 잘 알 수 있을 것이다. 예컨대 다결정형 규소 P-채널 부하를 전술한 이중 포트 8-T 셀뿐만 아니라 단일 포트 6-T 셀에 사용할 수도 있다. 또한 제5도에 도시된 것 이외의 셀 레이아웃도 사용할 수 있으며 어떤 레이아웃은 다이오드(76,78)의 형성을 바람직하지 못하게 또는 불필요하게 만들 수도 있다.
필요에 따라서는 게이트 산화물층(28)을 증착하는 대신 성장시킬 수 있지만, 이와같은 비교적 높은 온도 단계가 어떤 공정 흐름에서는 바람직하지 못할 수도 있다. 또한 SRAM 셀 이외의 회로 디자인이 N-채널 다결정형 규소 트랜지스터의 사용을 가능케 할 수도 있으며, 단순히 P 채널 및 N+소스/드레인 영역을 형성시킴으로써 전술한 기술을 사용하여 이들을 제조할 수 있다.
전술한 CMOS SRAM셀은 선행기술의 셀에 비하여 몇가지 중요한 장점을 갖고 있다. 높은 값의 다결정형 규소 저항기와 백-투-백 다이오드 부하 소자는 그를 통한 전류 흐름을 대략 몇 피코앰프 정도로 제한하여 소자의 전반적인 속도를 제한하였었다. 다결정형 규소 P-채널소자를 사용하면 수백 나노앰프의 부하가 SRAM 셀의 개폐를 구동하도록 할 수 있다. 다결정형 규소 트랜지스터의 품질은 단결정형 규소 기판에 형성된 것들에 비하여 높지 않지만, SRAM 셀 내에서의 그의 성능은 이전의 고저항 부하 소자의 경우보다 상당히 우수하다.
P-채널 소자는 전원을 끌 때 높은 저항을 제공하고 전원을 켤때엔 비교적 낮은 저항을 제공하여 낮은 임피던스 경로를 전원에 제공하기 때문에 SRAM 셀은 알파입자 충격과 같은 소프트 에러 및 소음에 대하여 보다 더 안정하다. 이 셀은 높은 개폐 전류로 인해 더 빠르며, 낮은 전압으로도 잘 작동된다.
제5도와 관련하여 기재된 특정 레이아웃은, 비교적 길고 좁은 P-채널 소자를 형성시킨다는 장점을 갖는다. 이로 말미암아, 전술한 이유로 인해 요망되는 높은 OFF 저항이 제공되는 동시에, 저항성 부하 소자에 비해 상당히 낮은 ON 저항이 제공된다.
본 발명을 바람직한 실시형태와 연관하여 기술하였으나, 본 발명의 범주내에서 형태 및 세부사항에 관한 여러 가지 변화를 가할 수 있다는 것을 당업자라면 잘 알 수 있을 것이다.

Claims (6)

  1. 집적회로용 전계효과소자에 있어서, 제1도전형을 갖는 기판내의 제1활성영역, 상기 제1활성영역위의 제1게이트 유전체층; 상기 제1게이트 유전체층위에 형성되고, 상기 전계효과소자의 채널을 형성하도록 패터닝되는 다결정형 규소층; 상기 제1활성영역의 반대측에 형성되고 상기 다결정형 규소층내에서 제2도전형을 갖는 소스/드레인 영역으로, 상기 제1도전형을 갖는 채널은 상기 제1활성영역위로 상기 소스/드레인 영역사이에 형성되고, 상기 제1활성영역은 상기 전계효과소자에 대한 제어 게이트로서 기능하는 소스/드레인 영역; 상기 제2활성영역과 접촉하는 상기 다결정형 규소층내에 상기 제1도전형의 영역으로, 측방향 접합이 상기 다결정형 규소층내에 상기 제1도전형 영역과 상기 소스/드레인 영역중 하나 사이에 형성되고, 상기 측방향 접합은 다이오드를 형성하는 제1도전형 영역; 상기 다결정형 규소층으로부터 분리된 부가 도전층(additional conductive layer)내에 형성된 절연게이트를 가지며, 상기 제2활성영역의 일부에 제2게이트 유전체층을 통해 용량적으로 접속되는 부가 트랜지스터(additional transistors); 및, 상기 제1 및 제2활성영역사이의 분리영역으로, 상기 제1게이트 유전체층 및 상기 제2게이트 유전체층의 두께보다 더 큰 두께를 갖는 분리영역; 을 포함하는 전계효과소자.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1도전형은 N형이고, 제2도전형은 P형인 전계효과소자.
  3. SRAM셀용 부하소자(load device)로서, 기판내에 형성되고 제1도전형을 갖는 제1활성영역에 대한 접촉부; 전원에 접속된 전원 신호선; 기판내의 상기 제1도전형을 갖는 제2활성영역; 및, 상기 전원 신호선에 제1단에서 접속되고, 상기 접촉부에 제2단에서 접속된 다결정형 규소 신호선으로, 상기 제2활성영역위로 지나가고 제1게이트 유전층에 의해 그로부터 분리되는 다결정형 규소 신호선; 을 포함하며, 상기 다결정형 규소 신호선은 상기 제2활성영역위로 지나가는 제1도전형의 약하게 도핑된 채널영역(lightly doped channel region)을 가지며, 어느 한단에서 제2도전형의 강하게 도핑된 소스/드레인영역(highly doped source/drain region)을 가지며, 상기 제2활성영역은 상기 다결정형 규소 신호선내의 전계효과소자에 대한 제어게이트로서 기능하며, 상기 다결정형 규소 신호선은, 상기 제1활성영역에 대한 상기 접촉부와 접촉하는 상기 다결정형 규소 신호선 내의 제1도전형 영역으로, 측벽 접합이 상기 제1도전형 영역과 상기 다결정형 규소 신호선내의 상기 접촉부와 가장 가까운 소스/드레인 영역 사이에 형성되며, 상기 측벽 다이오드를 형성하는 제1도전형 영역; 상기 전계효과소자가 부하가 되어 교차접속되고 상기 다결정형 규소 신호선으로부터 분리된 부가 도전층내에 형성된 절연게이트를 갖는 드라이버 트랜지스터로서, 각 드라이버 트랜지스터는 제2게이트 유전층을 포함하는 드라이버 트랜지스터; 및, 상기 제1 및 제2활성영역간에 형성되고 상기 제1게이트 유전체층 및 제2게이트 유전체층보다 더 두꺼운 두께를 갖는 분리영역; 을 포함하는 SRAM셀용 부하소자.
  4. 제3항에 있어서, 상기 제2도전형은 P형이고 상기 제1도전형은 N형인 부하소자.
  5. 제3항에 있어서, 상기 제2활성영역은 상기 기판내의 채널을 갖는 전계효과소자용 소스/드레인 영역인 부하소자.
  6. 집적회로로서, 제1도전형을 갖는 기판내의 제1활성영역; 상기 기판내에 형성되고 제1다결정형 규소층으로 형성된 게이트 전극과 대향하는 소스/드레인 영역을 포함하는 제2활성영역을 가지며, 상기 기판의 상기 제2활성영역내의 상기 게이트 전극하에 채널을 갖는 제1전계효과소자; 상기 제1활성영역위로 형성되는 제1게이트 유전층과 상기 게이트 전극 하부에 형성되는 제2게이트 유전층; 상기 제1게이트 유전층위로 형성되고, 제2전계효과소자의 채널을 형성하도록 패터닝된 제2다결정형 규소층; 상기 제1활성영역의 반대측상에 상기 제2다결정형 규소층내의 제2도전형을 갖는 소스/드레인 영역으로, 상기 제1도전형을 갖는 채널은 상기 제1활성영역위로 상기 소스/드레인 영역사이에 형성되고, 상기 제1활성영역은 상기 제2전계효과소자에 대한 제어게이트로서 기능하는 소스/드레인 영역; 상기 제2활성 영역과 접촉하는 상기 제2다결정형 규소층내의 제1도전형 영역으로, 측벽접합이 상기 제1도전형 영역과 상기 제2다결정형 규소층내의 상기 제1도전형 영역과 가장 가까운 소스/드레인 영역사이에 형성되며, 상기 측벽 접합은 다이오드를 형성하는 제1도전형 영역; 을 포함하는 집적회로에 있어서, 상기 제1전계효과소자의 게이트전극이 상기 제2전계효과소자의 제어게이트에 접속되어, 상기 제1 및 제2전계효과소자가 인버터를 형성하도록 접속되고, 상기 제1 및 제2활성 영역간의 분리영역을 더 포함하며, 상기 분리영역은 상기 제1게이트 유전층 및 상기 제2게이트 유전층보다 더 두꺼운 두께를 갖는 것을 특징으로 하는 집적회로.
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