KR0180764B1 - 가변저항 검사회로 - Google Patents

Abstract

본 발명은 가변저항의 선형특성 및 접점상태을 검사하는 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 가변저항을 가변하면서 가변되는 전압을 측정 비교함으로써 가변저항의 선형특성과 접점의 상태를 검사할 수 있는 가변저항검사회로에 관한것이다. 이 가변저항검사회로는, 가변되는 저항값을 전압값으로 변환시켜 출력하는 저항/전압변환부와, 상기 저항/전압변환부의 출력을 디지탈 신호로 출력하는 아날로그/디지탈 변환부와, 상기 아날로그/디지탈 변환부의 출력을 입력하여 가변저항의 특성값을 검출하는 특성값검출부와, 상기 특성값검출부의 출력을 사용자가 설정한 기준신호와 비교하는 비교부로 구성한 것을 특징으로 한다.

Description

가변저항검사회로

제1도는 본 발명에 따른 가변저항검사회로의 블럭도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

10 : 아날로그/디지탈 변환기 20 : 래치회로

30 : 클럭발생기 40 : 감산기

50 : 딥 스위치 60 : 비교기

본 발명은 가변저항의 선형특성 및 접점상태를 검사하는 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 가변저항들 가변하면서 가변되는 전압을 측정·비교함으로써 가변저항의 선행특성과 접점의 상태를 검사할 수 있는 가변저항검사회로에 관한 것이다.

일반적으로 저항에는 규정된 일정한 저항값을 나타내는 고정저항과, 기계적인 방법으로 저항값을 바꿀 수 있는 가변저항이 있다.

상기 가변저항은 보통 3개의 단자를 지니고 있으며. 그 중에서 3개는 저항소자의 양 종단에 접속하고, 남은 3번째 단자에 기계적인 동작을 가하여 상기 가변저항의 저항값을 가변시키게 되는 것이다.

한편, 상기 가변저항의 변화되는 저항값 특성곡선은 선형특성을 갖고 있기 때문에, 상기 가변저항의 3번째 단자의 접점상태가 블량한 경우, 상기 3번째 단자에 가해지는 기계적인 동작에 의한 상기 가변저항의 가변되는 저항값은 불규칙하게 된다.

따라서 본 발명의 목적은 가변범위에 따라 선형성이 불규칙하거나 또는 가변되는 접점이 불량한 가변저항을 검사할 수 있는 가변저항검사회로를 제공함에 있다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은 가변되는 저항값을 전압값으로 변환시켜 출력하는 저항/전압변환수단과; 상기 저항/전압변환수단의 출력을 디지탈 신호로 출력하는 아날로그/디지탈 변환수단과; 상기 아날로그/디지탈 변환수단의 출력을 입력하여 가변저항의 특성값을 검출하는 특성값검출수단과; 상기 특성값검출수단의 출력을 사용자가 설정한 기준신호와 비교하는 비교수단으로 구성한 것을 특징으로 한다.

이하 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 따른 가변저항검사회로를 상세히 설명한다.

제1도에 도시된 블럭도를 참조하여 본 발명의 구성을 설명하면, 검사 하기 위한 가변저항(도시하지 않음)의 양단을 단자(A)와 단자(C)에 연결하고, 상기 가변저항의 중간단자를 단자(B)에 연결한다. 상기 단자(A)는 상기 가변저항(도시하지 않음)으로 전원 개폐를 제어하는 스위치(S1)을 통하여 공급전원(Vcc)와 연결되며, 상기 공급전원(Vcc)은 아날로그/디지탈 변환기(10)의 전원입력단자(Vcc)에 인가된다.

상기 단자(A)는 상기 아날로그/디지탈 변환기(10)의 기준전위단자(Vref)에 접속하고, 상기 단자(C)는 기저전위(GND)에 접속하며, 상기 단자(B)는 아날로그/디지탈 변환기(10)의 입력단자(IN)에 접속한다. 상기 아날로그/디지탈 변환기(10)는 상기 가변저항으로 전원 공급시 상기 단자(B)에 걸리는 전압을 입력하고, 디지탈 신호로 변환시켜서 출력단자(OUT)로 출력한다.

상기 아날로그/디지탈 변환기(1O)의 출력단자(OUT)는 지연회로인 래치회로(20)의 입력단자(IN)에 접속하는 한편, 감산기(40)의 제 1 입력단자(A)에 접속한다. 따라서 상기 감산기(40)는 제 1 입력단자(A)로 현재(N)의 전압값을 입력하고, 제 2 입력단자(B)로 상기 래치회로(20)에서 1클럭 지연된 전압값(N-1)을 입력한다.

그리고 상기 래치회로(20)의 제 2 입력단자논 클럭발생기(30)의 출력단자와 접속하여, 상기 클럭발생기(30)에서 출력되는 클럭신호에 동기되어 동작한다.

상기 감산기(40)는 입력된 두 신호를 감산시켜서 출력단자(/A-B/)로 출력하고, 상기 감산기(40)의 출력단자는 비교기(60)의 제 1 입력단자(A)에 접속한다.

상기 비교기(60)의 제 2 입력단자(B)는 딥스위치(50)를 통해서 검사하는 가변저항의 특성에 따라 사용자가 설정한 기준신호를 입력하고, 상기 비교기(60)는 상기 두 입력신호를 비교하여 가변저항의 상태를 논리신호로 출력할 수 있도록 구성하고 있다.

이와 같은 구성에 의하여 본 발명에 의한 가변저항검사회로는 가변저항의 불량여부를 검사할 수 있는데, 이하 그 작용 및 효과를 설명한다.

먼저 검사하기 위한 가변저항(도시하지 않음)의 양단을 단자(A)와 단자(C)에 연결하고, 상기 가변저항의 중간단자를 단자(B)에 연결시킨다. 그리고 스위치(S1)를 온(ON) 동작 시키면, 상기 가변저항에 전압이 공급되고, 상기 단자(B)에 걸리는 전압이 아날로그/디지탈 변환기(10)로 입력된다.

상기 스위치(S1)는 가변저항이 단독으로 검사가 이루어질 때는 동작되어 전원을 공급하고, 상기 가변저항이 특정회로 내부에서 사용 중일 때에는 상기 스위치(51)의 동작이 없어도 상기 가변저항으로 전원이 공급되는 상태이므로, 상기스위치(S1)의 동작을 제한시키고 검사가 이루어진다.

이와 같은 상태에서 상기 가변저항의 저항값을 가변시키면, 단자(B)에 걸리는 전압값이 가변되고, 이 전압값은 상기 아날로그/디지탈 변환기(10)로 입력되어 디지탈 값으로 변환되어서 출력된다.

상기 변환된 디지탈 출력은 래치회로(20) 및 감산기(40)의 제 1 입력단자(A)로 입력되는데, 상기 래치회로(20)는 클럭발생기(30)의 클럭에 동기하여 입력되는 신호를 1클럭 지연시켜서 출력한다.

그리고 감산기(40)는 현재 측정된 가변저항의 전압값(N)과 상기 래치회로(20)의 출력인 1클럭 지연된 가변저항의 전압값(N-1)을 입력하고, 상기 현재의 값(N)에서 1클럭 이전의 값(N-1)을 감산하여 출력한다.

이때 가변저항의 동작상태가 정상 상태일 경우, 상기 가변저항의 저항값이 가변함에 따라 변화되는 전압값은 선형특성을 지니게 되고, 상기 클럭발생기(30)의 클럭 속도가 상기 가변되는 저항값에 비해 충분히 빠른 속도로 이루어지므로, 현재의 값(N)과 1클럭 이전의 값(N-1) 사이에는 거의 변화가 발생하지 않는다.

그러나 상기 가변저항의 접점상태가 불량할 경우 또는 상기 가변저항이 내부적으로 파손되어 통상 지니게 되는 선형특성을 구비하지 못할 때, 상기 감산기(40)의 출력신호는 큰 차를 발생시키게 되는 것이다.

따라서 감산기(40)에서 감산이 이루어져서 출력되는 차신호는 비교기(60)의 제 1 입력단자로 입력되고, 검사되고 있는 임의의 가변저항의 선형특성에 따라 사용자가 설정한 기준신호가 딥 스위치(50)를 통해서 비교기(60)의 제 2 입력단자로 입력된다. 상기 딥스위치(50)로 통해 입력되는 기준신호는 검사되는 가변저항의 특성 또는 용도에 따라서 사용자가 임의의 입력한다.

이와 같은 과정에 의하여 상기 비교기(60)는 입력되는 두 신호를 비교하고, 상기 감산기(40)의 출력신호가 기준신호와 같거나 클 때 상기 검사되는 가변저항이 불량으로 판단한다.

이상 상술한 바와 같이 본 발명에 의한 가변저항검사회로에 의하여 가변저항을 회로에 사용하기 전에 불량 저항을 판별할 수가 있고, 또한 가변저항을 회로에 사용 중에도 발생할 수 있는 가변저항의 불량여부를 쉽게 판단 가능한 잇점이 있다.

Claims (3)

1. 가변저항과 상기 가변저항의 가변되는 저항값을 전압값으로 변환시켜 출력하는 저항/전압변환수단과; 상기 저항/전압변환수단의 출력을 디지탈신호로 변환하는 아날로그/디지탈변환수단과; 상기 아날로그/디지탈변환수단의 출력을 지연시키는 지연수단과; 상기 아날로그/디지탈변환수단의 출력과 상기 지연수단의 출력을 감산시키는 감산기와; 상기 감산기의 출력을 설정한 기준신호와 비교하는 비교수단을 포함하여 구성되는 가변저항검사회로.
2. 제1항에 있어서, 상기 지연수단으로 클럭신호를 공급하는 클럭신호발생기를 더 포함하여 구성되는 가변저항검사회로.
3. 제2항에 있어서, 상기 지연수단은, 래치회로를 이용하는 것을 특징으로 하는 가변저항검사회로.