KR0134757B1

KR0134757B1 - 화상 처리 장치 및 화상 처리 방법

Info

Publication number: KR0134757B1
Application number: KR1019930021989A
Authority: KR
Inventors: 시노브 아리모또; 가쯔이찌 시미즈; 유따가 고미야; 가즈오 요시나가; 도시오 하야시; 다께히꼬 나까이; 쯔또므 우따가와; 데쯔야 나가세; 노브아쯔 사사누마
Original assignee: 미따라이 하지메; 캐논 가부시끼가이샤
Priority date: 1992-10-23
Filing date: 1993-10-22
Publication date: 1998-04-22
Also published as: US5631723A; EP0594445A1; US5481334A; EP0594445B1; DE69326210D1; CA2108823C; CA2108823A1

Abstract

본 발명은 확실히 복사해서는 안되는 특정 원고를 판별하는 것을 목적으로 하고, 적외 영역의 반사광에 의해 형성되는 패턴을 검출하고, 상기 검출 수단에서 검출된 패턴에 의해 상기 원고가 특정 원고인 것을 판정함으로써 복사해서는 안되는 특정 원고를 판별하여 복사 동작을 제어하는 복사 장치를 제공한다.

Description

화상 처리 장치 및 화상 처리 방법

제1a도 및 제1b도는 본 발명의 제1 실시예에 따른 신호 처리부의 구성도.

제2도는 제1 실시예에 따라 사용된 칼라 복사 장치의 구성도.

제3도는 제1 실시예에 따른 복사 금지 원고의 검출 동작을 도시한 도면.

제4도는 제1 실시예에 따른 복사 금지 원고의 식별 마크의 검출 상태를 도시한 도면.

제5도는 제1 내지 제3 실시예에 따른 화상 제어 신호의 타이밍도.

제6a도 및 제6b도는 제1 실시예에 따른 색 검출 회로(흑색)의 구성도.

제7도는 제1 실시예에 따른 형광 신호의 노이즈 제거 블럭도.

제8a도 및 제8a도는 제1 실시예에 따른 형광 마크의 위치를 검출하는 블럭도.

제9도는 제1 실시예에 따른 형광 마크를 기억하는 메모리에 대한 어드레스 생성부를 도시한 도면.

제10도는 제1실시예에 따른 CPU의 제어 플로우차트.

제11도는 제1실시예에 따른 CPU의 패턴 매칭의 동작 플로우차트.

제12도는 제1실시예에 따른 형광 마크의 축소된 동작도.

제13a도 내지 제13c도는 제1실시예에 따른 형광 마크의 패턴 매칭의 개략도.

제14도는 제1실시예에 따른 카운트 회로의 구성도.

제15도는 본 실시예에 따른 원고 조명 램프의 분광 특성도.

제16a도 및 제16b도는 제1실시예에 따른 CCD 센서의 구성도.

제17도는 본 실시예에 따른 적외 판독 센서용의 필터 특성도.

제18도는 본 실시예에 따른 CCD 광전 변환의 개략도.

제19도는 본 실시예에 따른 CCD 필터를 제외한 분광 감도 특성도.

제20도는 본 실시예에 따른 가시 라인 센서의 분광 감도 특성도.

제21도는 본 실시예에 따른 가시 라인 센서의 분광 감도 특성도.

제22도는 제2실시예에 따른 칼라 복사 장치의 구성도.

제23도는 제2실시예에 따른 적외 CCD 센서의 구성도.

제24도는 제2실시예에 따른 가시 CCD 센서의 구성도.

제25도는 제2실시예에 따른 신호 처리부의 구성도.

제26a도 및 제26b도는 제2실시예에 따른 신호 처리부의 구성도.

제27도는 제3실시예에 따른 신호 처리부의 구성도.

제28a도 및 제28b도는 제3실시예에 따른 신호 처리부의 구성도.

제29도는 본 실시예에 따른 아날로그 신호 처리 회로를 도시한 도면.

제30a도 및 제30b도는 본 실시예에 따른 조광, 회로 이득의 제어 플로우차트.

제31도는 본 실시예에 따른 원고 조명 램프의 광량 제어 블록도.

제32도는 제1실시예에 따른 인식 마크의 광 흡수 특성도.

제33도는 제2실시예에 따른 인식 마크의 광 흡수 특성도.

제34도는 제2실시예에 따른 3라인 적외 CCD의 분광 감도 특성도.

제35도는 제3실시예에 따른 인식 마크의 광 흡수 특성도.

제36도는 본 실시예에 이용된, 준 백색판의 특성도.

제37a도 및 제37b도는 라인 센서의 다른 구성예를 도시한 도면.

제38도는 신호 분리 회로의 블록도.

제39도는 제1실시예에 따른 색 검출 회로(녹색)의 구성도.

제40a도 및 제40b도는 제2실시예에 따른 실제의 복사 금지 원고의 적외 흡수 파장만을 이용해서 방해행위를 방지하는 경우의 구성도.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명

201 : 이미지 스캐너부 202 : 프린터부

203 : 플래튼 204 : 원고

205 : 할로겐 램프 206, 207, 214 : 미러

209 : 렌즈 210 : CCD

211 : 신호 처리부 212 : 레이저 드라이버

217 : 감광 드럼 218 : 회전 현상기

223 : 전사 드럼 251, 253 : 캐리어

403, 404, 405 : 로그 변환기 406 : 마스킹 및 UCR 회로

408, 617 : 레지스터 409, 426 : 블록 처리 회로

410 : 적외 인식 마크 위치 검지 회로

417 : CPU 412, 418 : RAM

419 : 메인 스캔 어드레스 420 : 서브 스캔 어드레스

421, 412 : 색 검출 회로 413 : OR 게이트,

424 : 인버터 425 : OR 게이트

426, 417 : 적외 차단 필터 427 : 카운트 회로

430 : 클럭 발생 회로 441, 415, 416 : 셀렉터

741 : 가산기 742 : 디지털 비교기

4001 : 아날로그 신호 처리 회로 4002 : 세이딩 보정부

4003 : 라인 메모리 4006 : 계수 메모리

4007 : 승산기 4009 : 2값화 회로

4101 : 샘플 홀드부 4102 : 클램프 회로

4103 : 가변 증폭기 4104 : 전압 제어 회로

4105 : A/D 변환기 4301 : 할로겐 광량 제어부

5102 : 준 백색판.

본 발명은 특정 원고를 판별하는 기능을 갖는 화상 처리 장치 및 화상 처리 방법에 관한 것이다.

종래에, 특정 원고의 인식에 관련해서 여러 가지의 방식이 고안되어 왔다. 또, 원고의 그림이 선화로 형성되어 있는 것과 이 화상 원고의 색을 인식하는 방식도 제안되어 왔다.

또, 지정 원고에 적외 흡수 잉크를 부착하여 적외 광을 조사하고, 이 흡수를 검출하는 것으로 특정 원고를 판별하는 것도 있다.

그런데, 이것을 예를 들면 복사기에 응용한 경우, 복사기 원고대의 임의의 위치와 임의의 각도에 있는 특정 원고를 검출하는 일이 곤란하고, 결과적으로 복사를 방지하는 일이 곤란하다는 문제가 있다.

또, 원고의 선화 정보와 색을 검출하여도, 일반 원고 중에 특정 원고와 동등한 특성을 나타내는 원고는 전혀 없다고는 할 수 없고, 일반 원고를 복사 금지 원고로서 잘못 판정할 가능성이 있다.

또, 원고의 적외 흡수를 검지하여, 이 결과에 따라 화상 처리를 행하는 경우, 일반 원고상에도 적외 흡수를 행하는 물질(예를 들면, 녹색 잉크)가 존재하기 때문에, 특정 원고의 판정을 행할 목적으로 부착된 것인지 일반 원고에 가끔 적외 흡수 물질이 부착된 것인지를 판정할 수 없어서 잘못 판정할 가능성이 있었다.

본 발명은 상기 문제를 고려해서 특정 원고를 판별할 때, 효율이 양호한 판별 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.

본 발명은 특정 원고의 판정을 위하여 적외 영역의 반사광에 의해 검출할 때의 방해를 저지하는 것을 목적으로 한다.

또, 본 발명은 판별에서의 장치 구성의 합리화를 목적으로 한다. 또, 본 발명은 복수 파장의 가시 이외의 정보를 검출하고 특정 원고를 판별하는 화상 처리 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.

또, 본 발명은 원고의 가시 이외의 정보에 기초하여 특정 원고의 판별 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.

또, 복사해서는 안되는 특정 원고를 확실히 판별하기 위한 화상 처리부를 갖는 화상 처리 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 양호한 실시예에서는 적외 영역의 반사광에 의해 형성되는 패턴을 검출하는 검출 수단, 및 사기 검출 수단에서 검출된 패턴에 의해 원고가 특정 원고인 것을 판정하고, 가시성분 데이터의 출력을 제어하는 제어 수단에 의해 구성된 화상 처리 장치가 개시되어 있다.

확실하게 복사될 수 없는 특정 원고의 판별하기 위한 화상 처리부를 갖는 화상 처리 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.

본 발명의 다른 목적 및 형태는 이하의 발명의 상세한 설명의 기재로 명백해진다.

이하, 본 발명을 첨부 도면들을 참조하여 상세히 설명하겠다.

[제1실시예]

이하, 양호한 실시예에 기초하여 본 발명을 설명하고자 한다.

이하의 실시예에서는 본 발명의 적용예로서 복사 장치가 도시되어 있는데, 이것에 한정되지 않고, 예를 들면 컴퓨터에 접속된 이미지 스캐너 등의 다른 여러 가지 장치에 적응할 수 있음은 물론이다.

제2도에서 본 발명의 제1실시예의 장치의 외관도를 도시하고 있다.

제2도에서의 참조 번호(201)은 이미지 스캐너부로, 원고를 판독하여, 디지털 신호 처리를 행하는 부분이다. 또, 참조 번호(202)는 프린터부로, 이미지 스캐너부(201)에서 판독된 원고 화상에 대응한 화상을 용지에 전색(full color)로 프린트 출력하는 부분이다.

이미지 스캐너부(201)에 있어서, 참조 번호(200)은 경면의 두꺼운 판으로, 원고대 글라스[이하, 플래튼(platen)](203)상의 원고(204)는 할로겐 램프(205)의 광으로 조사된다. 참조 번호(227)은 반사경으로 할로겐 램프(205)의 광을 원고에 대해 유효하게 조사하기 위한 것이다. 원고로부터의 반사광은 미러(206 및 207)에 인가되어 렌즈(209)에 의해 후술한 4라인 CCD센서(이하, CCD)(210)상에 상을 맺고, 각각의 라인센서는 가시 광에 기초하여 전색 정보 적색(R), 녹색(G), 청색(B) 성분과, 가시 이외의 파장 영역의 광에 기초하여 적외 정보(IR) 성분을 발생하여 신호 처리부(211)에 전송한다. 또, 참조 번호(205 및 206)은 속도(V)이고, 참조 번호(207)은 1/2B로 라인 센서의 전기적 스캔 방향(이하, 메인 스캔 방향)에 대해 수직 방향(이하, 서브 스캔 방향)으로 기계적으로 동작해서, 원고 전면을 스캔한다.

참조 번호(5102)는, 준 백색판으로, 센서(210-1 내지 210-4)의 각각 IR, R, G 및 B용 라인 센서의 판독데이타로부터 라인 센서의 개체치로 생성된 출력 특성의 오차를 보정하기 위한 보정 데이터를 발생한다. 이 표준 백색판은 제36도에 도시한 바와 같이 가시 광으로부터 적외선에 대해서는 대부분 균일한 반사 특성을 나타내고, 가시에서는 백색을 갖고 있다[곡선(20701)의 특성]. 이 표준 백색판을 이용해서 센서(210-1)의 IR 센서의 적외 광에 대한 출력 데이터의 보정과 센서(210-2 내지 210-4)의 가시 센서의 출력 데이터의 보정에 이용한다.

신호 처리부(211)에서는 센서(210-1 내지 210-4)에 의해 판독된 신호를 전기적으로 처리하고, 자홍색(M), 청록색(C), 노란색(Y) 및 흑색(BK)의 각 성분으로 분해하여, 프린터부(202)에 전송한다. 또, 이미지 스캐너부(201)에 있어서의 일회의 원고 주사(스캔)에 관하여, M, C, Y 및 BK중, 하나의 성분이 프린터(202)에 전송되어, 합계 4회의 원고 스캔에 의해 일회의 프린트가 완성된다.

이미지 스캐너부(201)에 의해 전송되는 M, C, Y 및 BK의 면 순서의 화상 신호는 레이저 드라이버(212)에 전송된다. 레이저 드라이버(212)는 각 색의 화상 신호에 대응하여, 반도체 레이저(213)을 변조 구동한다. 레이저 광은 다각형 미러(214), F-θ 렌즈(215), 미러(216)을 통해 감광 드럼(217)상에 스캔한다.

참조 번호(218)은 회전 현상기로, 자홍색 현상기(219), 청록색 현상기(220), 노란색 현상기(211) 및 흑색 현상기(222)로 구성되고, 4개의 현상기가 교대로 감광 드럼에 접속되며, 감광 드럼(217)상에 형성된 M, C, Y 및 BK의 정전 잠상(潛像)을 대응하는 토너로 현상한다.

참조 번호(223)은 전사 드럼으로, 용지 카세트(224 또는 225)에서 금지된 용지를 이 전사 드럼(223)에 감아, 감광 드럼(217)상에 현상된 토너 상을 용지에 전사한다.

이와 같이 해서, M, C, Y 및 BK의 4색이 차례로 전사된 후에, 용지는 정착 유니트(226)을 통과해서 배출한다.

할로겐 램프(205)는 가시 정보 판독과 적외 광 정보 판독을 위하여 공통적으로 이용되어 상기 2종류의 정보 판독에 필요한 조명 파장 성분을 함께 갖는다. 반사경(227)도 상기 2종류의 정보 판독에 공통적으로 설치되고, 이와 같은 조명계를 공유함으로써, 가시 및 적외의 정보 판독을 위한 상이한 파장 성분의 조사 광을 동시에 원고에 대해 유효하게 조사한다.

제16a도에는 본 실시예에 이용된 CCD(210)의 구성이 도시되어 있다. 여기에서, 참조 번호(210-1)은 가시 이외의 파장 특성을 갖는 적외 광(IR)을 판독하기 위한 수광 소자열(CCD 라인 센서)이다. 이 4개의 상이한 광학 특성을 갖는 수광 소자열은 IR, R, G 및 B의 각 센서가 원고의 동일 라인을 판독하기 위해 서로 평행하게 배치되도록 동일한 실리콘 칩 상에 모노릭식으로 구성되어 있다.

이와 같은 구성의 CCD 라인 센서를 이용함으로서 가시 광의 판독과 적외 광의 판독에 대하여, 렌즈 등의 광학계를 공유한다. 따라서, 광학 조정 등의 정확도를 상승 향상할 수 있게 되고, 또 그 조정도 용이하게 된다. 또, 모노릭식 구성으로 함으로써, 각 센서의 위치 방향 조정도 불필요하고 장치의 규모도 소형화되고, 제조성도 향상된다.

제16b도에는 수광 소자의 확대도가 도시되어 있다. 각 센서는 메인 스캔 방향으로 한 화소에 대하여 10㎛의 길이를 갖는다. 각 센서는 A3 원고의 세로 방향(297㎜)를 400dpi의 해상도로 판독할 수 있도록 메인스캔 방향으로 5000화소이다.

또, R, G 및 B의 각 센서의 라인 사이의 거리가 80㎛이므로, 400dpi의 서브 스캔해상도에 대해 각 8라인씩 간격이 벌어져 있다. IR 센서(210-1)과 R 센서(210-2)의 라인 간격은 다른 라인 간격의 2배인 160㎛(16라인)으로 되어 있다.

각 라인 센서는 IR, R, G 및 B의 소정의 분광 특성을 얻기 이하여 센서 표면에 광학적인 필터가 형성되어 있다.

제20도 및 제21도를 이용하여 CCD(210)의 R, G 및 B의 라인 센서의 분광 특성을 설명하고자 한다.

제20도는 종래부터 이용되고 있는 R, G 및 B의 필터의 특성에 관한 것이다. 이 도면에서 알 수 있는 바와 같이, 종래의 R, G 및 B의 필터는 700㎜ 이상의 적외 광에 대한 감도를 갖고 있다. 종래에는 렌즈(209)에 제21도의 적외 차단 필터가 설치되어 있다.

본 실시예에서는 렌즈(209)를 통과하는 광의 적외 성분을 210-1의 IR 센서로 판독하기 때문에, 렌즈(209)에는 적외 차단 필터를 갖지 않는다. 이 적외 광의 영향을 배제하기 위하여, R, G 및 B의 각 센서에 부착되는 필터는 제20도의 각 색의 특성에 제21도의 적외 차단 특성을 추가한 것을 이용한다.

제17도에는 210-1의 IR 센서에 설치되어 있는 가시 차단 필터의 특성을 도시하고 있다. 이 필터는 적외광 성분을 판독하는 IR 센서에 입사하는 가시 광 성분을 제거하는 것이다.

제18도에는 CCD 광 다이오드의 구조를 도시하고 있다. npn 구조이고, 상부의 np 접합이 역 바이어스 되어 광 다이오드를 구성한다. p층의 상부에서 발생한 캐리어(251)은 상부의 np 접합부에서 흡수되어 신호로서 출력된다.

적외 광과 같은 파장이 긴 광은 p층의 심부에서 캐리어(252)를 발생하거나, 서브 스트레이트의 n층에서 캐리어(253)을 방생해 버린다. 이 심부 발생된 캐리어는 도면에서 도시된 바와 같이 pn 접합부에서 흡수되어 신호로서 판독되지 않는다.

제19도의 실시예의 특성(261)은 일반적인 가시용 CCD의 분광 특성을 도시하고 있다. 550㎚를 피크로 800㎚의 적외 광에서는 20% 정도의 감도 저하를 발생한다. 이 261의 특성을 도시하는 R, G 및 B의 각 센서의 p층의 두께는 약 1000㎚이다.

본 실시예에서는 IR 판독용의 센서(210-1)의 CCD는 적외 광에 감도를 유지하기 위하여 p층의 두께를 동일 실리콘 칩 상의 다른 CCD보다 두껍게 구성한다. IR 센서의 p층의 두께는 700㎚로부터 800㎚인 파장의 적외 광에 대하여 감도가 최고로 되도록 약 1500㎚의 두께로 한다.

본 실시에에서의 제17도 특성의 필터를 부착하지 않는 경우의 IR 센서의 분광 특성을 제19도의 262에 도시하고 있다.

참조 번호(210-1 내지 210-4)의 IR, R, G 및 B의 각 센서는 서브 스캔 방향으로 10㎛의 개구를 갖는다.

이하, 본 실시예에 있어서는 본사해서는 안되는 복사 금지 원고의 한 예로서 제4도와 같이 원고상의 소정의 장소에 적외선에 대한 흡수 특성을 갖는 잉크로 적색 마크와 동일한 마크가 인쇄되어 있는 원고를 가정한다. 그리고, 원고대 상에 있는 원고로부터 판독한 적외 신호에서 상기의 마크를 검출한 경우, 통상의 화상형성 동작을 저지한다. 저지 방법으로는 후술하는 바와 같이 화상 데이터를 변화시키거나, 장치 장체의 전원을 OFF하는 등 여러 가지 방법이 고안된다.

또, 복사 금지 원고는 그 크기나 마크가 상기 제4도와 동일한 것으로 한정되는 것은 아니다.

제32도에 본 실시예에서 대상으로 한 복사 금지 원고 내에 포함된 복사 금지 원고 인식 마크(이하, 인식마크)의 흡수 분광 특성을 표시한다.

본 실시예에서의 인식 마크는, 예를 들면 미쓰이 도아쯔 염료 주식회사제 SIR-128 등의 색소를 결합제에 혼합한 것을 대상으로 하고 있다. 이 색소는 가시광에 대하여 거의 투명한 특성을 나타내기 때문에, 복사 금지 원고 중의 인식 마크의 존재를 일반 사용자에게 의식시키지 않고, 적의 정보를 검출할 수 있다.

제15도에 본 실시예에서 이용된 원고 조명용의 할로겐 램프의 분광 특성을 도시한다.

원고로부터 반사 광은 미러(206 및 207)을 통해 렌즈(209)에 의해 CCD(210)의 각 센서상의 전색 정보적색(R), 녹색(G) 및 청색(B) 성분과 적외 정보(IR) 성분 판독용의 각 라인 센서에 상을 맺는다.

상술한 바와 같이, R, G 및 B의 라인 센서(210-2 내지 210-4)에는 상기 700㎚의 반사광을 충분히 감쇄시키는 제21도의 특성을 포함시켜 갖는 R, G 및 B의 필터가 부착되어 있기 때문에, 적외 광의 영향이 없는 전색 판독이 불가능하다.

또, IR 센서(210-1)에는 제17도와 같이 750㎚로부터 850㎚의 광만을 통과시키는 필터가 설치되어 있기 때문에, 이 IR 센서로 제32도의 특성의 인식 마크를 판독하도록 되어 있다. 인식 마크를 판독한 경우, IR 센서로부터의 판독 출력 레벨은 낮아지고, 인식 마크 이외를 판독한 경우는 IR 센서의 출력 레벨은 높아진다. 이러한 IR, R, G 및 B의 각 센서의 분광 특성에 의해 원고 판독, 화상 기록시와 동시에 적외 광의 추출이 가능해서, 프리스캔 등의 인식 마크를 검출하기 위한 것만의 여분의 원고 스캔 동작이 불필요하게 된다.

이상과 같은 구성에 의해, 원고의 통상 칼라 영역과 인식 마크의 적외 영역을 양호하게 분리하고 있다.

제1a도 및 제1b도는 이미지 스캐너부(201)에서의 화상 신호의 흐름을 도시한 블록도이다. CCD(210)에서 출력된 화상 신호는 아날로그 신호 처리부(4001)에 입력되어, 아날로그 신호 처리 회로(4001) 내에서 8비트의 디지털 화상 신호로 변환된 후에, 세이딩 보정부(4002)에 입력된다. 참조 번호(4008)은 디코더로, 메인스캔 카운터(419)로부터의 메인 스캔 어드레스를 디코드해서, 시프트 펄스나 리셋트 펄스 등의 라인 단위의 CCD 구동 신호를 생성한다.

제29도는 아날로그 신호 처리 회로(4001)의 불럭도이다. 여기에서는, R, G 및 B의 처리 회로가 전부 동일하기 때문에, 한 색분의 회로를 도시한다. CCD(210)으로부터 출력된 화상 신호는 샘플 홀드부(S/H부)(4101)에서 아날로그 신호의 파형을 안정시키기 위하여 샘플 홀드된다. CPU(417)은 전압 제어 회로(4104)를 통해 화상 신호가 A/D 변화기(4105)의 동적 범위를 완전히 활용할 수 있도록 가변 증폭기(4103) 및 클램프 회로(4102)를 제어한다. A/D 변환기(4105)는 디지털 화상 신호를 8비트의 디지털 화상 신호로 변환한다.

8비트의 디지털 화상 신호는 세이딩 보정부(4002)에 있어서, 공지된 세이딩 보정 수단에 의한 세이딩 보정이 행해진다.

IR 센서(210-1)로부터의 판독 신호에 대해서는, CPU는 표준 백색판(5102)로부터의 한 라인분의 판독적외 신호를 라인 메모리(4003)에 축적하고, 이 라인 메모리에 기록된 각 화소의 판독 데이터를 255레벨로 하기 위하여 승산 계수를 화소마다 구하고, 이것을 한 라인분의 계수 메모리(4006)에 축적한다. 그리고, 실제의 원고 판독시에 IR 센서(210-1)의 라인 판독에 의해 각 화소의 출력에 동기하여 이 화소에 대응하는 승산 계수를 계수 메모리로부터 판독해서, 승산기(4007)에서 센서(210-1)로부터의 각 화소 신호에 승산함으로써 적외 광에 대하여 세이딩 보정을 행한다.

R, G 및 B 신호에 대한 세이딩 보정도 IR 신호의 경우와 동일하게, 표준 백색판(5102)로부터의 하나의 라인 분의 판독 신호를 라인 메모리에 기록하고, 이 값을 255로 하기 위한 승산 계수를 계수 메모리에 축적하고, 승산기에 의해 계수 메모리로부터의 화소마다의 승산 계수와 판독 신호가 승산된다.

제16b도에 도시한 바와 같이, CCD(210)의 수광부(210-1 내지 210-4)는 소정의 거리를 두고 배치되어 있기 때문에, 라인 지연 회로(401, 402, 4005)에 있어서, 서브 스캔 방향의 공간적 변이를 보정한다. 구체적으로는 B신호에 대하여 서브 스캔 방향으로 선행 원고 정보를 판독하는 IR, R 및 G의 각 신호를 서브 스캔방향으로 지연시켜 B신호에 포함시킨다. 참조 번호(403 내지 405)는 로그 변환기로, 룩업 테이블 ROM에 의해 구성되어 R, G 및 B의 휘도 신호가 C, M 및 Y의 농도 신호로 변환된다. 참조 번호(406)은 공지된 마스킹 및 UCR 회로로, 상세한 설명은 생략하지만, 입력된 3색 신호에 의해 출력을 위한 Y, M, C 및 BK의 신호가 각 판독 동작시에 차례로 소정의 비트 길이, 예를 들면 8비트로 출력된다.

제31도는 할로겐 램프(205)의 광량 제어부의 틀럭도로, 참조 번호(4301)은 할로겐 램프의 광량 제어부이다.

다음에, 제30a도 및 제30b도의 플로우차트를 이용하여 할로겐 램프(205)의 광량 조정 방법 및 가변 증폭기(4103), 클램프 회로(4102)의 제어 방법을 설명한다.

아날로그 신호 처리부(4001)에서는 A/D 변화기(4105)의 동적 범위 전체를 활용할 수 있도록, R, G 및 B신호의 경우는 표준 백색판(5102)를 판독할 때의 화상 데이터에 기초하여, 가변 증폭기(4103)의 증폭율을 조정하여, CCD(210)에 광이 도달하지 않는 상태에서의 화상 데이터에 기초하여, 클램프 회로(4102)의 제어전압을 전압 제어 회로(4104)로 조정한다. IR 신호의 경우는 표준 백색판(5102)로부터의 적외 광 정보를 판독할 때의 화상 데이터에 기초하여 R, G 및 B의 경우와 같은 조정을 행한다.

도시되지 않은 조작부에서 조정 모드를 개시시키면, 반사 미러(206)을 표준 백색판(5102)의 아래로 이동시켜 가변 증폭기(4103)에 할로겐 램프용의 규정의 이득을 설정한다(스텝 1). CCD(210)에 광이 도달하지 않은 사태에서의 화상 데이터를 라인 메모리(세이딩 RAM)(4003)에 기입하고, 기입된 화상 데이터를 CPU(417)로 연산하여, 1라인 분의 화상 데이터의 평균치가 08H에 가장 근사하도록 전압 제어 회로(4103)을 제어하고, 클램프 회로(4102)의 기준 전압을 조정하여(스텝 2 및 스텝 3), 조정 후의 제어치를 CPU(417)에 부속하는 RAM(418)에 기억시킨다(스텝 4).

다음에, 할로겐 램프(205)를 점등하여, 표준 백색판(5102)를 판독할 때의 화상 데이터를 라인 메모리(4003)에 기입하고, G 신호의 피크치가 D0H∼F0H 사이의 값으로 되도록, 광량 제어부(4301)을 CPU(417)에 의해 제어하며(스텝 5 및 스텝 6, 할로겐 램프 조정), 조정 후의 제어치를 CPU(417)에 부속하는 RAM(418)에 기억시킨다(스텝 7). 다음에, 할로겐램프(205)를 스텝 5 및 스텝 6에 의해 조정한 광량으로 점등시켜 표준 백색판(5102)를 판독할 때의 화상 데이터를 R, G 및 B의 각 색에 대응한 라인 메모리(4003)에 기입하여 화상의 피크치가 R, G 및 B 각 색마다 E0H∼F8H 사이의 값이 되도록 전압 제어 회로(4104)를 제어하고 가변 증폭기(4103)의 증폭율을 R, G 및 B 각 색마다 조정하여(스텝 8 및 스텝 9), 할로겐 램프(205)사용시의 이득 데이터(이하, H 이득 데이터)로서 CPU(417)에 부속하는 RAM(418)에 기억시킨다(스텝 10).

다음에, IR 센서로부터의 판독 신호를 처리하는 아날로그 신호 처리부의 클램프 회로, 가변 증폭기의 조정 동작과 제어치의 기억 동작을 설명한다. 표준 백색판을 판독하기 위하여, 할로겐 램프(205)를 소등하고, 반사 미러(206)을 표준 백색판(5102)의 아래로 이동시킨다(스텝 11). CCD(210)에 광이 접촉하지 않는 상태에서의 화상 데이터를 IR 신호용의 라인 메모리에 기입하고, 기입된 화상 데이터를 CPU(417)에 의해 연산하여, 1라인 분의 화상 데이터의 평균치가 08H에 가장 근사하도록 IR용의 전압 제어 회로(4103)을 제어하고, 클램프 회로(4102)의 기준 전압을 조정하여(스텝 12 및 스텝 13), 조정 후의 제어치를 CPU(417)에 부속하는 RAM(481)에 기억시킨다(스텝 14).

다음에, 할로겐 램프(205)를 스텝 5 및 스텝 6에 의해 조정한 광량으로 점등시키고 표준 백색판(5102)를 판독할 때의 적외 화상 데이터를 IR용의 라인 메모리에 기입하고, IR 신호의 화상 데이터의 한 라인 중의 피크치가 E0H∼F8H 사이의 값이 되도록, IR 신호용의 전압 제어 회로(4104)를 제어하고, 가변 증폭기(4103)의 증폭율을 R, G 및 B 각 색마다 조정하여(스텝 15 및 스텝 16), IR 신호용의 이득 데이터로서 CPU(417)에 부속하는 RAM(418)에 기억시키고 할로겐 램프를 소등시킨다(스텝 17).

이상의 조정 모드로 구해진 제어 데이터는 전원 투입시에 각 제어부에 설정된다.

이하에서 통상 복사 동작과 이것에 부속하는 인식 마크 판정 동작을 설명한다.

조작자가 플래튼(203)에 원고를 설치하여 도면에 도시되지 않은 조작부에 의해 복사 동작을 개시시키면, CPU(417)은 도면에 도시하지 않은 모터를 제어하여 반사 미러(206)을 표준 백색판(51020의 아래로 이동시킨다.

다음에, 할로겐 램프(5101)을 점등하여 표준 백색판(5102)를 조사하고 세이딩 보정부(4002)에 있어서, R, G 및 B 신호용의 세이딩 보정을 행한다.

다음에, CPU는 할로겐 램프(5101)을 점등하여 표준 백색판(5102)를 조사하고 세이딩 보정부(4002)에 있어서, 적외 광을 이용한 IR 신호용의 세이딩 보정을 행한다.

다음에, 프린터부에서의 M, C, Y 및 BK의 4색의 화상 기록 동작과 아울러 원고의 판독 동작 4회를 행하는 화상 기록을 행함과 동시에, 함께, 인식 마크의 검지를 행하고 이 검지 결과에 대응하여 기록 동작의 제어를 행한다.

본 실시예에 있어서는, 상기와 같이 합계 4회의 판독 동작(스캔)에 있어서 복사를 행하여 구분하지만, 각 스캔시에 있어서의 이미지 스캐너(201) 및 프린터(202)의 동작을 제3도에 도시한다.

즉, 복사 금지 원고의 위조를 방지하는 경우, 제1회 스캔시에 있어서는, 이미지 스캐너에서는 모드 1의 상태에서 인식 마크의 대략적인 위치를 검출하고, 프린터부에서는 자홍색을 출력한다.

제2회 스캔시에 있어서는, 이미지 스캐너는 모드 2의 상태로 제1회 스캔에서 검출된 인식 마크의 위치에서 인식 마크를 추출해서 메모리에 저장하고, 소정의 복사 금지 마크인지의 여부를 판정한다. 프린터부에서는 청록색을 출력한다.

제3회 및 제4회 스캔시에 있어서는, 이미지 스캐너는 모드 3의 상태로 제2회 스캔시에 위조가 행해지려고 했다고 판정된 경우, 위조 방지의 구체적 처리를 행한다.

또, 제1회 스캔으로부터 제4회 스캔까지 항상 적외 인식 마크의 검출 동작에 대한 악의의 조작자의 방해 행위를 검출하고, 검출한 시점에서 즉시 위조 방지 처리한다.

제5도는 본 실시예의 이미지 스캐너부에 있어서의 각부의 동작 타이밍도로 각 CLOCK, HSYNC, VSYNC 및 VE는 제1a도의 클럭 발생 회로(430)에서 발생해서 회로마다 소정의 신호가 출력된다.

VSYNC 신호는 서브 스캔 방향의 화상 유효 구간 신호로, 1 구간에서 화상 판독(스캔)을 행하는 (C), (M), (Y) 및 (BK)의 출력 신호를 차례로 형성한다. VE는 메인 스캔 방향의 화상 구간 신호로, 1구간에서 메인 스캔 개시 위치의 타이밍을 결정한다. CLK 신호는 화소 동기 신호로, 0→1의 상승 타이밍에서 화상 데이터를 전송한다. CLK 8은 8호소 간격의 타이밍 신호로, 0→1의 상승 타이밍에서 후술하는 8×8블럭 처리된 신호의 타이밍을 결정한다.

[이미지 스캐너부]

제1a도 및 제1b도에 이미지 스캐너부(201)의 내부 블록의 적외 인식 마크 검출이나 프린터 기록 화상을 생성하는 부분을 이하에서 설명하고자 한다. 참조 번호(403, 404 및 405)는 로그(log) 변환기로, 룩업 테이블 ROM으로 구성되어 각각 R, G 및 B의 휘도 신호를 C, M 및 Y의 농도 신호로 변환한다. 참조 번호(406)은 공지된 마스킹 및 UCR 회로로, 상세한 설명은 생략하나, 입력된 3원색 신호에 따른 출력을 위한 Y, M, C 및 BK의 신호가 각 판독 동작시마다 차례로 소정의 비트 길이, 예를 들면 8비트로 출력된다. 참조 번호(407)은 OR 게이트 회로로, 레지스터(408)에 보존되어 있는 값과 논리 OR이 결정된다. 레지스터(408)에는 통상 OOH가 기입되어 있고, 참조 번호(406)의 출력이 그대로 프린터부로 출력되나, 위조 방지 처리시에는 CPU(417)이 데이터 버스를 통해 레지스터(408)에 FFH를 설정해 둠으로써 토너로 도포된 이미지를 출력할 수 있다.

참조 번호(417)은 CPU로 각 모드에 있어서 장치를 제어한다. 참조 번호(4009)은 2값화 회로로, 적외 신호를 적당한 슬라이스 레벨로 2값화한다. 2값화 회로의 출력에서 0은 적외 광이 원고에 흡수된 부분에서 적외 인식 마크를 구성하는 적외 인식 정보의 존재를 나타내내고 출력 1은 적외 광이 원고에서 반사된 부분에서 적외 인식 정보가 존재하지 않는 것을 화소마다 출력한다. 이 신호는 참조 번호(428)의 인버터를 통과함으로써 IRI 신호로 되고, 1에서 적외 인식 정보가 존재하고 있는 것을 나타내고, 0에서 적외 인식 정보가 존재하지 않는 것을 나타낸다.

블록 처리 회로(409)에서는 8×8 블록 처리를 행하고, IRI 신호를 8×8의 블록별로 처리한다.

참조 번호(412)는 판독 및 기입가능한 RAM으로, 셀렉터(411)에서 그 데이터가 교체되고, 셀렉터(413)에서 어드레스가 교체한다.

한편, 참조 번호(419)는 메인 스캔 카운터로, HSYNC 신호에 의해 리셋트되고, CLK신호의 타이밍에서 카운트업 되어 13비트의 메인 스캔 어드레스(이하, X어드레스) X12∼Xø을 발생시킨다.

참조 번호(420)은 서브 스캔 어드레스 카운터로, VSYNC 신호의 0 구간에서 리셋트되고 HSYNC 신호의 타이밍되서 카운트 업되어 14비트의 서브 스캔 어드레스(Y 어드레스)(Y13-Yø)을 발생시킨다.

CPU(417)은 각 모드에 따라 셀렉터(411, 413, 415 및 416), 어드레스 디코더(414)를 제어하고, RAM(412)에 대해 데이터를 판독 및 기입한다. 또, 본 실시예에서는 셀렉터(411)의 A 및 셀렉터(415 및 416)의 A는 이용하지 않는다. 참조 번호(418)은 CPU(417)에 부가된 RAM/ROM이다. 참조 번호(410)은 적외 인식 마크의 위치를 검지하는 적외 인식 마크 검지 회로이다.

참조 번호(421 및 422)는 색 검출 회로로, 참조 번호(421)은 제6A도 및 제6B도와 같이, 참조 번호(422)는 제39도와 같이 각각 구성되어 있다. 제6B도에서는 참조 번호(620)에서 R, G 및 B신호의 최대값(V)를 검출하여, 참조 번호(621 내지 623)의 연산기(V)에 대한 R, G 및 B의 비율을 구해서 255에서 정규화한 R′, G′ 및 B′ 신호를 출력한다. 이들 신호는 판독 화소의 색을 나타낸다. 이들 신호를 비교기(607 내지 611)에서 CPU의 설정치와 비교해서 이 출력을 게이트(613)에서 AND 처리함으로써, 판독 화소가 소정의 색인 것을 검출한다.

또, 판독 화소의 밝기를 나타내는 V 신호도 비교기(616 및 617)에서 CPU의 설정치와 비교해서 이 출력을 게이트(618)에서 AND 처리함으로써, 판독 화소의 밝기가 소정의 범위에 있는 것을 검출한다. 또, 게이트(619)에서 상기 2개의 신호를 AND 처리함으로써 판독 신호의 색과 밝기가 소정 범위에 있는 것을 검출한다.

본 실시예에서는 참조 번호(421)의 색 검출 회로에서는 후술하는 카본 블랙에 대응한 흑색을 검출한다. 흑색은 채도가 낮기 때문에 R′, G′ 및 B′의 각 신호는 어느 정도 255에 근사한 값으로 된다. 또, 밝기(V)는 0에 가까운 값으로 된다. 이와 같은 이유로 인해, 참조 번호(421)의 색 검출 회로의 윈도우 비교기에의 CPU의 상수 설정은 참조 번호(601, 603 및 605)의 각 레지스터에 255를 설정하고, 참조 번호(602, 604 및 606)의 각 레지스터에는 230을 설정하며, R′, G′ 및 B′의 각 신호값이 모두 230에서 255 범위에 있는 것을 검출한다.

또, 레지스터(614)에는 64를, 레지스터(617)에는 0을 설정하고 원고 농도가 어느 정도 진한 것을 검출한다.

본 실시예에서는, 참조 번호(422)의 색 검출 회로에서는 후술하는 인쇄용 녹색 잉크[예를 들면, PANTONEr의 GREEN(잉크)]에 대응한 녹색을 검출한다. 제39도의 녹색(G)의 신호는 255에 근사한 값으로 되고, R 및 B는 비교적 작은 값으로 되기 때문에, 본 발명에서는 127 이하인 것을 판정 조건으로 한다. 따라서, 참조 번호(422)의 색 검출 회로의 윈도우 비교기에의 CPU의 상수 설정은 참조 번호(3601 및 3605)의 각 레지스터에 127을 설정하고, 참조 번호(3603)에는 255를 설정한다. 또, 참조 번호(3602 및 3606)의 각 레지스터에는 0을 설정하고, 참조 번호(3604)에는 200을 설정한다. R′ 및 B′의 신호값이 모두 0에서 127의 범위에 있는 것을 검출하고, G′가 200에서 255인 것을 검출함으로써 입력 화소가 녹색인 것을 검출한다. 또, 제6A도 및 제6B도와 동일 번호의 장치는 동일 동작을 하므로 설명을 생략한다.

블록 처리 회로(426)에서는 참조 번호(409)와 마찬가지로 8×8블럭 처리하고, AND 게이트(425)의 출력을 8×8블럭마다 처리한다.

참조 번호(427)은 8×8블럭의 처리 결과의 블록 수를 계수하는 카운터이다.

제7도는 제1a도 및 제1b도의 블록 처리 회로(409 및 426)의 내부를 상세히 도시한 것이다.

참조 번호(701 내지 708)은 8개의 직렬로 배치된 D플립플롭(이하, DFF)으로, 입력 신호를 화소 클럭(CLK) 신호로 차례로 지연시키는 것으로, VE=0, 즉 비화상 구간에서 0으로 클리어 된다.

참조 번호(738)은 4비트의 업 다운 카운터이고, 참조 번호(737)은 EX-OR 게이트이며, 참조 번호(740)은 AND 게이트로 동작은 다음 표에 기초한다.

즉, 카운터(738)의 출력은 VSYNC 또는 VE가 0의 구간에서 0으로 클리어 되어, Xt=Xt-8인 때에는 보유되고, X1=1, 또는 Xt-8=0인 때에는 카운트 업되며, Xt=0, Xt-8=1인 때에는 카운트 다운된다. 이러한 카운터 출력은 8클럭 주기의 CLK 8에서 래치(739)로 래치함으로써 CLK 8의 주기에 입력된 8개의 입력 데이터(Xt)의 총합(=1의 수)를 출력한다. 또, 이 출력은 1라인 단위의 FIFO 메모리(721 내지 727)에 의해 8라인분의 데이터가 동시에 가산기(741)로 입력되고, 그 총합이 출력된다. 결과로서, 8×8 윈도우 중의 1인 수의 총합(SUM)이 0 내지 64로 출력된다.

참조 번호(742)는 디지털 비교기로, 가산기(741)의 출력(SUM)과 CPU(417)에 의해 예정된 비교치(TW)를 비교하고, 이 결과가 0 또는 1로 출력된다.

여기에서, 적당한 수를 미리 TW에 설정해 둠으로써 8×8블럭 단위에서의 노이즈를 제거할 수 있다.

제8a도 및 제8b도는 적외 인식 마크 위치 검지 회로(410)을 설명하는 도면이다. 참조 번호(827)은 라인간 걸러내기 회로로, VE 신호가 8라인에 1라인 출력된다. 이 1/8로 걸러진 VE 8 신호에서 각 FIFO 메모리의 기입 제어를 행하기 위해 각 FIFO 메모리의 내용은 8라인마다 갱신된다. 또, 각 F/F는 CLK 8에서 동작하기 때문에 본 회로의 동작은 8화소/8라인 단위로 행해진다.

참조 번호(828 내지 830)은 3개의 FOFO로 각각 1라인 지연해서 4라인이 동시에 처리된다. 참조 번호(831 및 841)은 4라인분의 출력에 대해 각각에 3개의 직렬로 배치된 DFF로, 모든 DFF는 CLK 8에 의해 구동된다. OR 게이트(857)에 의해 4×4의 영역에서 하나라도 1(적외 인식 마크가 있다)이 있는 경우에 4×4의 영역(원고상에서는 2㎜×2㎜)는 모두 1로 한다. 따라서, 마크의 간격 부분을 모두 적외 인식 마크 부분으로서 매립함으로써 변이 등에 의한 적외 성분의 누락을 보정한다.

참조 번호(842 내지 844)는 3개의 FIFO로 각각 1라인 지연하고, 4라인이 동시에 처리된다. 참조 번호(845 내지 856)은 4라인분의 출력에 대해 각각에 3개의 직렬로 배치된 DFF이고, 모든 DFF는 CLK 8에 의해 구동된다. AND 게이트(858)에 의해 4×4의 영역이 모두 1(적외 인식 마크가 있다)을 출력한다. 따라서, 마크의 틈새 부분을 매립할 때에 마크의 외측도 적외 인식 마크 부분으로서 팽창된 만큼 본래 크기로 복원한다.

참조 번호(819 내지 821)은 18개의 FIFO로, 각각 1라인 지연해서 19라인이 동시에 처리된다.

참조 번호(801 내지 816)은 19라인분의 출력에 대해 각각에 10개가 직렬로 배치된 DFF로 참조 번호(817 및 818)은 DFF(812)의 후단에 다시 9개가 직렬로 배치된 DFF이며, 모든 DFF는 CLK8에 의해 구동된다. AND 게이트(823, 824 및 825)를 거쳐 DFF(804, 808, …, 812 및 816)(종 19개의 블록) 및 DFF(809, 810, 811, 812, 817 및 818)(횡 19개의 블록)의 출력이 모두 1일 때에 1이 출력된다. 1블럭은 8화소'8라인으로, 이것은 원고상에서는 약 0.5㎜ 각에 상당한다. 즉, 적외 인식 마크가 종횡 각각 9.5㎜ 연속한 경우에, 이때의 마크의 거의 중심 위치에 따른 원고상의 위치를 메인 스캔 카운터, 서브 스캔 카운터에서 출력되는 X 어드레스, Y 어드레스의 데이터를 이용해서 위치 데이터로서 래치(826)에 래치해서 CPU로 전송한다. 이 9.5㎜의 크기는 복사 금지 원고 중의 마크의 크기보다 약간 작게 설정함으로써, 노이즈 성분의 영향을 배제하면서 마크의 위치를 확실하게 검출한다.

제9도는 어드레스 디코더(414)의 블록도이다.

참조 번호(901, 902 및 909)는 CPU의 데이터 버스에 직결된 레지스터로, CPU에 의해 앞서 검출된 위치데이타의 값을 메인 스캔 방향으로는 13비트, 서브 스캔 방향으로는 14비트로 하였다.

참조 번호(914 및 915)는 감산기로, 입력(A 및 B)에 대한 A-B의 어드레스 데이터는 하위 9비트만이 값을 가지고, 하위 9비트에 MSB로서 부호 비트의 합계 10비트가 AND 게이트(919 및 920) 및 비교기(916 및 917)로 출력된다. 그리고, 이 부호 비트는 감산기의 결과가 음으로 된 경우에는 MSB=1로서 출력된다.

참조 번호(916 및 917)은 비교기로, 입력(A 및 B)에 대해 AB인 경우 1이 출력된다. 단, 입력(A)의 MSB가 1인 경우에는 입력(B)에도 불구하고 0이 출력된다.

참조 번호(918, 918 및 920)은 각각 AND 게이트로 결과로서, 레지스터(909)에 BXY로 되는 값이 기입되어 있을 때,

RX1X 어드레스RX1+BXY

또,

RX1X 어드레스RX1+BXY…다.

이 성립하는 한,

Xou=X 어드레스-RX1

You=Y 어드레스-RY1

Enab=1

이 출력된다. 즉, 메인 스캔, 서브 스캔에 대한 RX1, RY1을 선두 어드레스로서 종방향, 횡방향 BXY의 크기 영역이 어드레싱 된다.

[적외 인식 마크의 검출 동작에 대한 방해 행위의 검출]

본 출원인은 별도로 원고로부터의 가시 이외의 광(자외광 또는 적외광)을 검출함으로써 특정 원고인지의 여부를 판별하는 방식을 제안하고 있다.

이와 같은 검출 방식에서는 원고로부터의 반사광의 레벨을 검출하므로, 예를 들면 자외 차단 필터나 적외차단 필터 등의 필터 수단을 원고와 플래트 글래스 사이에 삽입시키면, 검출해야 할 정보가 검출되지 않는다는 결점이 있었다.

본 실시예에서는 마크에 적외 광을 흡수하는 특성의 잉크를 이용해서 적외광이 검출되지 않는 경우에 인식 마크가 존재할 가능성이 있는 것으로 한다. 적외 인식 마크의 검출 동작을 방해하는 행위로서, 원고와 원고 글래스 사이에 적외 차단 필터를 삽입해서 복사하는 행위가 있다. 이 경우, 조명에서 원고로의 적외 광도 원고에서 IR 센서로의 반사광도 적외 성분이 차단되어 버려서 IR 센서로 광 정보가 입력되지 않으므로, 원고 전면에 적외 인식 정보가 존재하게 되고, IRI 신호가 원고 전면에서 검출된다. 이 결과로서, 상기 인식 마크의 검출 동작이 정상적으로 작용하지 않는다.

그래서, 본 실시예에서는 적외 인식 정보(IRI)가 원고에서 다수 검출된 경우에, 적외 인식 마크의 검출 동작에 대한 방해 행위가 있다고 판별한다.

통상의 종이나 인쇄 잉크는 적외광을 반사하므로, IRI 신호는 검출되지 않으나, 원고 정보가 예를 들면 카본 블랙인 경우는 카본 블랙이 적외광도 흡수하므로 IRI 신호가 다수 출력된다. 마찬가지로 인쇄에 이용되는 상기 녹색 잉크도 적외광을 흡수하므로, IRI 신호가 다수 검출된다.

본 실시예에서는 이와 같이 통상의 원고에 포함하는 적외 인식 정보와 유사한 특성을 나타내는 잉크를 R, G 및 B의 가시 정보로 판별하고, 이들의 화소는 방해 행위의 검출에는 이용하지 않도록 한다.

상기 색 검출 회로(421)에서 원고 정보가 카본 블랙일 가능성이 있는지 색과 밝기로 화소별로 검출한다. 색 검출 회로(422)에서 녹색 잉크일 가능성이 있는지를 화소별로 검출한다. 이들의 검출 결과는 OR 게이트(423)에서 논리합을 취해서 합성되고, 인버터(424)와 AND 게이트(425)에서 IRI 신호를 강제적으로 0으로 하고, 이 화소에 대해서는 참조 번호(426 및 427)에서의 적외 차단 필터 등의 방해 행위의 검출 동작에는 사용되지 않도록 한다.

AND 게이트(425)로부터의 신호는 참조 번호(426)의 블록 처리부에서 노이즈 성분을 제거한다. 여기서는 제7도의 TW값을 63으로 해서 8×8 블록 내의 모든 화소로부터 IRI 신호가 검출된 경우만 1을 출력한다.

이 결과는 카운트 회로(427)에서 원고 전면에 걸쳐 계수된다.

제14도에 카운트 회로(427)의 구성을 도시한다. 대표적인 복사 금지 원고로서 지폐가 있는데, 일반적인 지폐의 크기는 80㎜×160㎜로, 이것은 8×8블럭에서 약 160×320=51,200블럭에 상당한다. 본 실시예에서는 지폐의 약1/2(25,600블럭)이 적외 차단 필터로 덮힌 경우에 인식 마크 검출 동작에 대한 방해 행위가 있었다고 판정한다. 이러한 이유로 인해, 카운터(1501)은 15비트 카운터로 최대 32,767까지 계수한다. AND 게이트(1502)는 8×8블럭 처리부(426)으로부터의 IRB 신호를 서브 스캔의 구간 신호(VSYNC)와 8라인마다의 라인 구간 신호(VE 8)로 게이트 된다. 카운터(1501)에는 8화소 단위의 클럭(CLK 8)이 입력되고, 게이트(1502)의 출력에서 카운터(1501)의 카운트 동작을 엔에이블 제어하므로, 카운터는 8×8블럭 단위에서의 IRB 신호를 계수한다. CPU는 원고의 판독 스캔에 앞서 래치(1504)를 통해 카운터(1501)을 클리어 함과 동시에 플립플롭(1503)을 설정해 둔다. 카운터가 계수 동작에 의해 카운트 최대값(32,767)에 도달한 경우에는 플립플롭(1503)이 리셋트되고, 이후의 카운터의 계수 동작이 게이트(1502)에 의해 금지되며, 카운터(1501)은 최대 출력(32,767)을 보유한다. CPU는 적절한 시기에 버퍼(1505)를 통해 카운터(1501)의 값을 읽을 수 있다.

[처리의 흐름]

제3도에는 본 장치에 있어서의 제1회 스캔으로부터 제4회 스캔까지의 스캔과 이미지 스캐너에 있어서의 모드 1에서 모드 3까지의 3개의 모드 및 프린터부에 있어서의 출력 내용을 표시한다.

제10도에는 CPU 제어에 의한 처리 플로우차트를 도시한다. 제10도에서 참조 번호(1001)에서 제1회 스캔을 위해 모드 1을 CPU에 설정한다. 동시에 카운트 회로(427)을 클리어 한다.

이 상태에서 참조 번호(1002)에 있어서 제1회의 스캔이 개시된다. 모드 1에 있어서는 프린터에 있어서 자홍색을 출력함과 동시에, 복사 금지 원고 중의 적외 인식 마크의 대략적인 중심 위치를 검출한다.

제4도에 복사 금지 원고가 원고대에 놓인 상태를 도시했으나, 제1회 스캔, 즉 모드 1에 있어서는 사선으로 도시하는 적외 인식 마크 부분의 중앙 부분, 즉 제4도중(Xc, Yc)에 상당하는 부분에서 (Xc, Yc)에 상당하는 어드레스가 래치(826)에 래치되어 CPU로 전송된다.

CPU는 적외 인식 마크의 중심인 (Xc, Yc)의 값을 대략 알 수 있다.

제1회 스캔 동안, CPU는 카운트 회로(427)의 IRB 카운트 값을 주기적으로 읽고, 이 카운트 값이 상기와 같이 25,600블럭을 초과하면, 적외 인식 마크의 검출 동작에 대한 방해 행위가 있다고 판정해서, 즉시 레지스터(408)로 FFH를 기입하고 자홍색 잉크를 복사 용지 전면에 놓고 정상적인 화상 형성을 저해한다. 그리고 제3회 및 제4회 스캔시에도 스텝 1011의 위조 방지 동작을 행한다.

다음에, 스텝 1006에 있어서, 제2회 스캔을 위한 모드 2가 설정된다. 이때, 셀렉터(411)은 B, 셀렉터(413)은 A, (415 및 416)은 B로 설정된다. 그리고, 셀렉터(411)을 B로 설정함으로써 판독한 IR의 데이터가 화소별로 RAM에 입력된다. 또, 셀렉터(415 및 416)을 B로 설정함으로써 RAM(412)에 기입하는 인식 마크를 검출하기 위한 어드레스 데이터가 어드레스 디코더에 입력된다. 또, 셀렉터(413)을 A로 설정함으로써 인식 마크의 어드레스(Xou, You 및 Enab)가 RAM(412)로 입력되고, 그 어드레스에 따른 IR의 데이터가 차례로 기입된다.

먼저, 어드레스 디코더(414)이 있어서는 적외 인식 마크를 검출하기 위한 RAM(412)에 기입될 때, 선두 어드레스의 위치가

RX1=Xs1 및 RY1=Ys1(1화소 단위)

로 되도록 레지스터(901 및 902)에 설정된다.

여기서, 부호(Xc, Yc)는 제8a도 및 제8a도의 마크 검출 회로의 설명에서 기재한 것처럼 9.5㎜의 검출 범위에서의 마크의 중앙 위치 데이터이다. 직경 10∼20㎜인 적외 인식 마크의 범위를 충분히 커버하기 위하여 BXY에는 30㎜ 정도에 상당하는 화소 수(400dpi에서 472)가 설정된다. 또, 선두 어드레스(Xs1, Ys1)으로서는 Xc, Yc보다 각각 15㎜(400dpi에서 236화소)분만큼 원점에서의 값이 설정된다. 동시에, 카운트 회로(427)을 클리어 한다.

다음에, 스텝 1007에서 제2회 스캔이 행해지고, 제4도의 적외 인식 마크를 포함하는 점선 영역에서의 2값화된 적외 신호가 RAM(412)에 기입된다. 제2회 스캔시에도 제1회 스캔시와 동일한 적외 인식 마크의 검출 동작에 대한 방해 행위의 판정과, 그 결과에 기초한 화상 형성의 저지 동작을 행한다.

또, 스텝 1008에 있어서, 후술하는 알고리즘에 의해 적외 인식 마크인지의 여부가 검출된다. 스텝 1009에서 판정되어 만약 위조 가능성이 없는 즉 적외 인식 마크가 검출되지 않은 경우에는 스텝 1010에서 제3회 및 제4회 스캔이 행해지고, 통상의 동작으로 Y, M, C 및 BK의 4색 토너로 현상되어 스텝 1012에서 정착 출력된다. 제3회 및 제4회 스캔시에도 제1회 스캔시와 동일한 적외 인식 마크의 검출 동작에 대한 방해 행위의 판정과 그 결과에 기초해서 화상 형성의 저지 동작을 한다.

한편, 참조 번호(1009)에 있어서 위조 가능성이 있다고 판정된 경우, 즉 적외 인식 마크가 검출된 경우에는 참조 번호(1011)에서 위조 방지 조치가 취해진다. 구체적으로는 제1a도 및 제1b도의 레지스터(408)에 FFH를 설정(통상은 OOH가 설정되어 있다)함으로써 프린터부로는 FFH가 전송되어 Y 및 BK의 토너가 전면에 부착해서 복사가 불가능해진다.

[패턴 매칭]

다음에, 참조 번호(1008)의 적외 인식 마크의 패턴 매칭에 대해 상세히 설명한다.

또, 특정 원고에 적외 인식 마크를 붙일 때에는 표리의 마크가 상이한 가능성이 있기 때문에, 1종류의 복사 금지 원고를 판별하기 위해서는 패턴 매칭시에 2개의 적외 인식 마크의 패턴이 미리 등록되어 있다.

특정 원고의 특정 부분이 RAM(412)에 기입되면, 다음에 CPU(417)은 셀렉터(411)을 B→C로, 셀렉터(413)을 A→B로 전환하고, RAM(412)의 내용을 참조해서 패턴 조합 동작을 행한다. 제1도에는 패턴 조합의 프로우차트를 도시하고 있다. RAM(412)에는 특정 부분의 2값화 데이터가 격납되어 있다.

이 영역에 대해 스텝 2102 이후의 처리가 행해진다. 스텝 2102에서는 노이즈를 제거하기 위한 윈도우 처리를 행한다.

영역 1의 2값 화상이 제12도의 참조 번호(2201)이었다고 하자. 여기서, 작은 4각이 1화소를 나타내고, 공란의 화소를 백 화소, 사선부를 흑 화소로 한다. 이것을 참조 번호(2202)로 나타내는 2× 화소의 윈도우로 스캔하고, 윈도우 내의 흑 화소수를 카운트해서 카운트값이 2를 넘는 부분을 새롭게 흑 화소로 한다. 이렇게 함으로써, 처리 결과는 참조 번호(2203)에 도시하는 바와 같이 종 및 횡이 1/2로 축소되어 노이즈가 제거된 패턴이 얻어진다. 참조 번호(2202)의 위치에서의 윈도우 내의 흑 화소수는 1이므로, 백 화소로서 참조 번호(2204)의 위치로 치환된다. 다음에, 참조 번호(2203)의 패턴의 중심이 산출된다.

이것은 참조 번호(2203)의 패턴을 종 및 횡방향으로 투영함으로써 주지의 방법으로 산출할 수 있다.

다음에, 표준 패턴 매칭에 의해 유사도를 산출한다. 먼저, 스텝 2105에서 미리 사전으로서 등록되어 있는 표준 패턴을 제4도의 ROM(418)로부터 CPU 내로 독입한다. 표준 패턴이란 지금 대상으로 되어 있는 복사 금지 원고의 적외 인식 패턴(2303)이나, 스텝 2103까지 추출된 패턴은 원고(2302)가 원고대(2301)에 놓인 각도에 따라 회전하고 있을 가능성이 있고, 이것을 단일의 표준 패턴과 비교해도 만족한 결과는 얻어지지 않는다.

이러한 상태를 제13A도 내지 제13C도에 도시하고 있다. 그리고, 표준 패턴으로서는 적외 인식 패턴을 몇도 간격을 두고 회전시킨 복수의 패턴을 작성해서 미리 ROM에 기억해 주고, 이중에서 적당한 패턴을 선택하여 CPU로 독입한다. 복수의 패턴으로서는, 예를 들면 마크를 0∼360°까지 15°간격으로 회전시킨 합계 24패턴을 이용한다. 따라서, 유사도 산출에 대해서는 다양한 방법이 고려되나, 예를 들면 다음과 같은 것이 생각된다. 제13A도에 도시하는 바와 같이 상기까지 추출된 패턴을 제13A도 또는 상기 방법에 따라 15°씩 회전시킨 패턴에서 선택된 소정의 회전각(θ)의 표준 패턴을 제13B도로 하고, 각각 B(i, j), P(i, j)로 나타낸다[B(i, j), P(i, j)는 흑 화소일 때 1, 백 화소일 때, 0의 값을 취한다]. 또, 제11도의 스텝 2104에서 얻어지는 B(i, j)의 중심 좌표를(iBC, jBC), 마찬가지로 얻어지는 P(i, j)의 중심 좌표를(iPC, jPC)로 하면, 양자의 유사도(COR)은 중심에 대한 동일 위치의 데이터를 비교함으로써 구해지므로, 다음 식과 같이 된다.

☆는 P와 B의 배타적 논리합을 나타내고, 식(10은 패턴[B(j, j) 및 P(i, j)]의 중심을 정렬한 때의 해밍(Hamming) 거리를 나타내게 된다. COR이 클수록 양자의 유사도는 크다.

본 실시예에서는 유사도의 신뢰성을 향상하고, 오 인식의 발생을 극력 억제하기 위해 식(1)을 변형한 식(2)을 이용해서 유사도(COR)을 구한다.

여기서, ·은 논리곱이고,

는 P의 판정을 나타내고, P 및 B 모두 흑 화소시에는 COR을 2 가산하고, P=0, B=1일 때는 COR에서 1을 감산하는 것으로 인식 정도를 크게 향상시킬 수 있다. 이상으로 유사도(COR)이 산출되면, 스텝 2107에서 미리 구해진 쏘와 COR을 비교한다.

CORTh인 경우에는 적외 마크가 존재하는지의 판정을 하고, 복사 금지 원고 있음(스텝 2108)으로써 조합 동작을 종료한다.

COR쏘인 경우에는 현 처리 영역에는 적외 마크 표시는 존재하지 않는다고 판정되게 되고, 복사 금지 원고 없음(스텝 2110)으로써 조합 동작을 종료한다.

[제2실시예]

제33도에 본 실시예에서 대상으로 한 복사 금지 원고 내에 포함하는 복사 금지 원고 인식 마크(이하, 인식 마크)의 흡수 분광 특성을 도시한다.

본 실시예에서의 인식 마크는 가시광에 대해 거의 투과하는 투명 특성을 나타내므로, 복사 금지 원고 중의 인식 마크의 존재를 일반 사용자에게 의식시키지 않고 적외 정보를 검출할 수 있다.

제1실시예에서의 하나의 파장에 흡수 특성을 갖는 잉크는 일반 원고에 사용될 수 없는 것으로 한정되지 않는다. 본 실시예에서는 제33도아 같이 약 700㎚와 900㎚인 파장 영역에서 광을 흡수하고, 이 사이의 800㎚의 파장의 적외광을 반사하는 잉크로 기록된 인식 마크를 검출하는 것으로, 이 3개의 파장 영역에서의 광의 흡수 반사 특성을 검출함으로써 인식 마크의 존재를 검출한다. 따라서, 하나의 파장의 흡수 특성을 검출한 제1실시예보다도 통상 원고에 대한 오판정을 절감할 수 있게 한다.

또, 제1실시예에서 설명한 적외 인식 마크의 검출 동작에 대한 방해 행위의 검출 동작도 이 3개의 파장으로 행해진다.

제22도에 본 실시예에서의 복사기의 구성도를 도시한다. 제22도는 제2도와 거의 동일한 구성으로 CCD 판독 센서의 구성만이 변화되어 있다. 도면 중, 참조 번호(2801)은 적외 정보를 판독하는 3라인 CCD이고, 참조 번호(2802)는 가시 정보만을 판독하는 3라인 CCD이다. 그리고, 하프 미러(2803)에 의해 렌즈(209)를 통과한 광은 2개의 CCD로 입사한다.

제23도에 적외용 3라인 CCD(2801)의 구성을 도시한다. 이러한 CCD는 제16A도 및 제16B도에서 설명한 CCD와 거의 동일한 구성으로 센서 간격은 80㎛로 센서(2801-1)에서 700㎚를 중심으로 한 파장의 적외광을 판독하고, 참조 번호(2801-2)에서 800㎚를 중심으로 한 파장의 적외광을 판독하며, 참조 번호(2801-3)에서 900㎚를 중심으로 한 파장의 적외광을 판독한다.

제34도에 센서(2801-1,2801-2 및 2801-3)에 부착된 필터의 분광 특성을 도시한다.

제24도에 가시 정보 판독용의 3라인 CCD(2802)의 구성을 도시한다. 이 CCD는 제16A도 및 제16B도에서 설명한 CCD와 거의 동일한 구성으로, 센서 간격은 80㎛로 센서(2802-1)에서 R의 광 정보를 판독하고, 참조 번호(2802-2)에서 G의 광정보를 판독하며, 참조 번호(2802-3)에서 B의 광정보를 판독한다. 이들 센서의 분광 특성은 제21도의 것과 동일하고, 적외공에는 감도를 갖지 않는다.

제25도 및 제26a도 및 제26B도에 본 실시예에서의 제어 회로의 블록도를 도시한다. 도면 중 제1a도 및 제1b도와 동일한 것은 동일 번호를 붙인다. 가시용 CCD(2802)의 출력과 적외용 CCD(2801)의 출력은 제1a도 및 제1b도의 참조 번호(4001)과 동등한 구성의 아날로그 처리 회로(3101 및 3103)으로 입력된다. 여기서, 처리되는 가시광, 적외광의 각 판독 신호에 대한 제어 방법은 제1실시예에서 설명한 것과 동일하다. 아날로그 처리된 각 신호는 세이딩 보정 회로(3102 및 3104)에서 제1실시예에서의 세이딩 보정과 동일한 처리가 실행된다. CCD(2802-1 및 2802-2)에서 판독된 R과 G의 신호는 제1실시예와 마찬가지로 라인 지연회로(3105 및 3106)에서 B의 신호와 서브 스캔 방향에 위상을 맞춘다. CCD(2801-1 및 2801-2)에서 판독된 IR-700과 IR-800의 신호는 제1실시예와 마찬가지로 라인 지연 회로(3107 및 3108)에서 IR900의 신호와 서브 스캔 방향에 위상을 맞춘다.

참조 번호(3109)는 IR700, IR800 및 IR900의 각 신호에 대한 2값화 회로로 각각 8비트의 신호에 대해 127레벨에서 2값화 된다. 이 2값화 회로의 출력에서 1은 적외광을 검출한 것을 나타내고, 0은 적외광이 검출되지 않는 것을 나타낸다.

IR700 및 IR900의 2값화 신호는 각각 인버터(3110 및 3111)에서 반전되어 AND 게이트(3112)에서 IR800의 2값화 신호와 논리곱이 취해진다. 즉, AND 게이트(3112)의 출력은 제33도에 도시한 적외 인식 마크의 분광 특성의 적외 정보를 판독한 때에 1로 되고, 제1a도 및 제1b도와 IRI 신호와 동일한 의미를 가지고 불럭 처리 처리(409)로 입력된다. 이하, 이 신호를 이용한 인식 마크의 검출 동작은 제1실시예와 동일하므로 생략한다.

IR700, IR800 및 IR900의 각 2값화 신호의 반전 신호는 AND 게이트(314)에서 논리곱이 취해진다. 이 신호는 700㎚, 800㎚ 및 900㎚의 각 적외광 모두가 광 정보가 검출되지 않았다는 것을 나타내고, AND 게이트(3114)의 출력 1은 적외 차단 필터 등이 원고 아래에 노출되어 있을 가능성이 있는 것을 나타낸다. 이 신호는 제1실시예의 경우와 마찬가지로 AND 게이트(425)에서 원고의 색 정보와 논리곱이 취해져 적외 인식 마크의 검출 동작에 대한 방해 행위로서 검출된다. 또, 제4도와 같이 인버터(3113)을 생략함으로써, 실제의 복사 금지 원고의 적외 흡수 파장대만을 검출함으로써 고도의 방해 행위를 방지할 수 있다.

CPU의 실제의 복사 시퀀스 중의 제어나, 적외 인식 마크의 검출 방법 등은 제1실시예와 동일하다.

[제3실시예]

제35도에 본 실시예에서 대상으로 한 복사 금지 원고 내에 포함되는 복사 금지 원고 인식 마크(이하, 인식 마크)의 흡수 분광 특성을 도시한다.

본 실시예에서의 인식 마크의 가시광에 대해 거의 투과하는 투명 특성을 나타내므로, 복사 금지 원고 중의 인식 마크의 존재를 일반 사용자에게 의식시키지 않고 적의 정보를 검출할 수 있다.

제1실시예와 마찬가지로, 예를 들면 약 800㎚의 적외광을 흡수하는 특성을 갖는다. 본 실시예에서는 이 800㎚의 파장을 흡수하는 잉크로 기록된 인식 마크를 검출하는 것으로, 또 800㎚의 흡수대의 양측에 있는 700㎚와 900㎚의 적외광을 반사하는 특성도 검출한다. 이 3개의 파장 영역에서의 광의 흡수 반사 특성을 검출함으로써 인식 마크의 존재를 검출한다. 따라서, 하나의 파장의 흡수 특성을 검출한 제1실시예보다도 통상 원고에 대한 오 판정을 줄일 수 있게 된다.

또, 제1실시예에서 설명한 적외 인식 마크의 검출 동작에 대한 방해 행위의 검출 동작도 이 3가지 파장으로 행해진다.

본 실시예의 복사기의 구성 및 CCD의 구성은 제2실시예의 제22도, 제23도 및 제24도와 동일한 구성이다.

본 실시예에 있어서, 제어 블록을 제27도 및 제28a도 및 제28b도에 도시한다. 여기에서는 제2실시예의 제25도 및 제26a도 및 제26b도와 거의 동일한 구성이고, 적외 인식 마크의 분광 특성의 적외 정보를 검출하는 AND 게이트(3201)이 제25도 및 제26a도 및 제26b도와의 차이점이다. AND 게이트(3201)은 제34도와 같은 700㎚와 900㎚의 광 정보를 반사하고, 800㎚의 광 정보를 흡수하는 원고 정보를 판독할 때 1을 출력하고, 제1a도 및 제1b도의 IRI 신호와 동일한 의미를 가지고 블록 처리 회로(409)로 입력된다. 이하, 이 신호를 이용한 인식 마크의 검출 동작은 제1실시예와 동일하므로 생략한다. AND 게이트(3114)의 출력 1은 적외 차단 필터 등이 원고 아래에 있을 가능성이 있다는 것을 나타낸다. 이 신호는 제1실시예에의 경우와 마찬가지로 AND 게이트(425)에서 원고의 색 정보와 논리곱을 취하여서 적외 인식 마크의 검출 동작에 대한 방해 행위의 검출 처리에 이용된다.

CPU의 실제의 복사 시퀀스 중 제어나, 적외 인식 마크의 검출 방법 등은 제1실시예와 동일하다.

[그 밖의 다른 실시예]

상기 실시예에 있어서, 적외광에서의 인식 마크의 검출을 설명했으나, 이것은 적외선으로 한정되는 것이 아니고 자외선의 광 정보를 이용해도 좋다.

또, 상기 실시예에서는 가시외의 복수 파장의 광 정보를 이용해서 인식 마크를 검출하고 있으나, 이러한 검출에 이용하는 복수의 광 정보 중 적어도 하나는 가시 정보를 이용해도 좋다.

상기 실시예에서는 인식 마크로서 인영(印影)을 이용하고 있으나, 이것은 인영에 한정되는 것이 아니고, 주기성이 있는 패턴 등이라도 좋다.

상기 실시예에서는 적외광을 거의 흡수하는 것으로서 카본 블랙 녹색 잉크를 설명했으나, 이것에 한정되는 것은 아니다.

상기 실시예에서는 복사 동작과 동시에 인식 마크를 검출하고 있으나, 복사 시퀀스와 독립적으로 인식 동작해도 좋다.

상기 실시예에서는 가시 정보와 적외 정보의 판독에 독립적인 센서 수단을 설치하고 있으나, 공통의 센서 수단으로서 분광 필터를 전환함으로써 가시 정보와 적외 등의 가시 이외의 정보를 공통의 센서로 검출해도 좋다. 또, 그 때에 가시 정보와 가시 이외의 정보를 겸해서 원고 판별할 때에는 한쪽 정보를 메모리에 입력하면 된다.

상기 실시예에서는 가시 정보와 적외의 가시 이외의 정보 판독에 공통의 조명을 이용하고 있으나, 파장 특성이 상이한 복수의 조명을 이용해도 좋다.

또, 제2 및 제3실시예에 있어서, 복수 파장의 적외선을 판독하기 위해 제23도에 도시하는 바와 같은 복수라인의 센서를 설치했으나, 이 복수 라인의 센서를 1라인의 센서로 구성해도 좋다. 이 센서의 구성을 제37a도 및 제37b도에 도시한다. 여기서는 제16도의 CCD와 거의 동일한 구성을 취하고, 가시 정보를 판독하는 3라인의 센서(210-2∼210-4)와 모노리식으로 적외의 3개 파장대의 적외 정보를 동시에 판독하는 센서(208-1)을 설치한다.

그리고, 제37b도에 도시하는 화소의 확대도와 같이 제34도에 도시하는 바와 같은 700㎚대와 800㎚대 및 900㎚대에서 통과 특성을 갖는 필터를 1화소마다 부착한다. 즉, 이 센서에서 판독되는 각 파장마다의 적외 신호는 가시 정보의 400dpi 판독에 대해 1/3인 133dpi 판독된다. 따라서, 본 센서에 대응하기 위해서는 제1a도 및 제1b도의 아날로그 처리 회로(4001)과 세이딩 보정 회로(4002)를 이용해서 지연 회로(401)의 출력도 및 제26b도의 판정 회로로 입력해도 좋다.

여기서, 참조 번호(20901)은 0에서 2까지 순환하는 업 카운터로, 디코더에서 이 출력에 따라 각 F/F에 대한 클럭을 발생시킨다. 카운터는 라인 동기 신호(HSYNC) 신호로 클리어 되고 CCD의 라인 판독에 동기 된다. 이 결과, 디코더(20902)의 출력은 IR 신호 라인에서 입력되는 각 적외 신호를 도면에 대응하는 각 F/F에 보유시키도록 발생된다.

본 발명의 상기 실시예에 따르면, 원고 고유의 광학 특성을 검출함으로써 원고의 광학 특성을 검출하는 특정 원고 판별 동작에 대한 방해 행위를 검출할 수 있게 되어, 지폐 등의 복사 금지 원고에 대한 복사 행위를 보다 안정하게 방지할 수 있다.

또, 특정 원고의 인식 마크의 검출을 마크를 기록하고 있는 물질의 광 흡수 특성을 이용해서 검출하므로, 예를 들면 원고와 플래튼 글라스 사이에 광학 특성을 왜곡시키는 필터를 삽입하는 인식 마크의 방해 행위에 대해서도 이 행위를 용이하게 검출하게 되는 효과가 있다. 즉, 일반적인 필터는 광을 흡수하는 특성을 가진 물질로 제조된다. 인식 마크의 검출 동작을 필터로 방해하는 경우, 인식 마크의 파장 성분을 감쇄시킬 수 밖에 없다. 본 발명과 같이 인식 마크를 형성하는 물질이 광을 흡수하는 파장으로 인식 마크를 검출함으로써 인식 마크도 방해 행위도 동일 신호로 검출할 수 있으므로, 장치를 간략화할 수 있게 된다.

또, 특정 원고의 인식 마크의 검출을 복수 파장의 가시 이외의 정보를 이용해서 검출하므로, 원고의 가시 정보에 의존하지 않는 정밀도가 좋은 인식 마크를 검출할 수 있게 된다.

이상과 같이 본 발명에 따르면, 특정 원고를 확실하게 판별할 수 있다.

또, 특정 원고 판별의 방해를 판단할 수 있어서, 특정 원고의 복제를 유효하게 방지할 수 있다.

또, 본 발명에서의 특정 원고 검출은 컴퓨터에 접속되는 스캐너에 적용해도, 스캐너에 적용하여도 또 상형성 장치에도 적용할 수 있음은 물론이다.

본 발명은 상기 실시예로 한정되지 않고, 그 취지와 범위에서 벗어나지 않고 다양하게 변형 실시 가능한 것은 물론이다. 그러므로, 첨부된 특허 청구의 범위 내에서만 제한한다.

Claims

원고에서 검출되는 적외 영역의 반사광에 따라 상기 원고에 대응하는 가시 성분 데이터의 출력을 제어하기 위한 화상 처리 장치에 있어서, 상기 적외 영역의 반사광에 기초하여 상기 원고상에 형성된 특정한 적외 정보의 존재 여부를 검출하기 위한 검출 수단, 및 상기 검출 수단에 의한 검출 결과에 따라 상기 원고가 특정 원고인 것을 판정하고, 상기 판정에 따라 가시 성분 데이터의 출력을 제어하기 위한 제어 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 처리 장치.
제1항에 있어서, 상기 특정 원고는 적외 영역의 광을 흡수하는 물질을 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 처리 장치.
제1항에 있어서, 상기 제어 수단은 상기 가시 성분 데이터의 출력을 금지하는 것을 특징으로 하는 화상 처리 장치.
제1항에 있어서, 상기 검출 수단에 의해 검출된 특정 적외 정보와 비교하여 소정의 패턴을 기억하기 위한 기억 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 처리 장치.
제4항에 있어서, 상기 소정의 패턴이 원고의 표리에 대응하는 2개 이상의 패턴을 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 처리 장치.
가시광 이외의 성분의 광을 흡수하며 화상으로부터 검출되는 가시광 및 상기 가시광 이외의 반사광 성분의 패턴을 검출하고, 상기 화상이 특정 화상인지를 판정하며, 화상 처리 제어를 제어하는 화상 처리 방법에 있어서, 소정의 레벨 미만의 레벨을 갖는 가시광을 제외한 반사광 성분을 갖는 화소를 소정의 레벨 미만의 레벨을 갖는 가시광을 제외한 반사광 성분을 갖는 화소를 검출하는 단계, 상기 검출된 화소 수에 따라 상기 화상의 특정 화상인 것을 판정하는 단계, 및 상기 판정 단계에 따라 화상 처리를 제어하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 처리 방법.
제6항에 있어서, 상기 가시의 반사광이 소정 레벨 이외의 레벨인 것을 검출하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 처리 방법.
제7항에 있어서, 상기 판정 단계는 가시광 이외의 광의 반사광 성분을 이용한 검출 결과와 가시광의 반사광 성분의 검출 결과에 기초하여 판정을 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 처리 방법.
제6항에 있어서, 상기 제어 단계는 상기 가시 성분 데이터의 출력을 금지하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 처리 방법.
제6항에 있어서, 상기 검출 단계로 검출된 패턴과 비교하여 소정의 패턴을 기억하는 기억 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 처리 방법.
복수의 파장 성분과 대상 화상에서 검출되는 적외 반사광 성분을 갖는 가시 반사광 성분에 따라 화상 처리를 제어하기 위한 화상 처리 장치에 있어서, 상기 복수 파장 성분을 갖는 상기 가시 반사광을 전체 화상에 걸쳐 복수회 검출하기 위한 제1검출 수단, 상기 제1검출 수단의 매 검출과 동시에 상기 적외 반사광을 전체 화상에 걸쳐 검출하기 위한 제2검출 수단, 상기 제1 및 제2검출 수단의 결과에 따라 상기 대상 화상이 소정의 화상인 것을 판정하기 위한 판정 수단, 및 상기 판정 수단의 판정 결과에 따라 화상 처리를 제어하기 위한 제어 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 처리 장치.
제11항에 있어서, 상기 복수의 파장 성분이란 R, G 및 B성분인 것을 특징으로 하는 화상 처리 장치.
제11항에 있어서, 상기 제1 및 제2검출 수단은 동일 기판상에 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 화상 처리 장치.
제11항에 있어서, 상기 제어 수단은 상기 가시 성분 데이터의 출력을 금지하는 것을 특징으로 하는 화상 처리 장치.
제11항에 있어서, 상기 검출 수단에서 검출된 패턴과 비교하는 소정의 패턴을 기억하는 기억 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 처리 장치.
제11항에 있어서, 상기 화상 처리란 화상을 형성하는 것을 특징으로 하는 화상 처리 장치.
가시광에 대응하는 신호가 화상으로부터 검출된 가시광 이외의 반사광에 따라 사용되는 화상 처리를 제어하기 위한 화상 처리 장치에 있어서, 상기 가시광 이외의 반사광을 검출하기 위한 복수의 검출 수단, 상기 가시광을 검출하기 위한 검출 수단, 및 소정 파장의 특성, 상기 소정 파장보다 짧은 파장의 특성, 및 상기 소정 파장보다 긴 파장의 특성을 각각 검출하는 상기 복수의 검출 수단의 검출 결과에 따라, 상기 화상이 상기 소정 파장에서 구별되는 적외 특성을 갖는 특정 화상인지를 판정하기 위한 판정 수단.
제17항에 있어서, 상기 가시 이외의 반사광이란 적외광인 것을 특징으로 하는 화상 처리 장치.
제17항에 있어서, 상기 판정 수단은 상기 복수의 파장 선분마다의 출력을 조합해서 판정하는 것을 특징으로 하는 화상 처리 장치.
제17항에 있어서, 상기 화상 처리란 화상을 형성하는 것을 특징으로 하는 화상 처리 장치.
원고에서 검출되는 적외 영역의 반사광에 따라 상기 원고의 가시 성분 데이터의 출력을 제어하기 위한 화상 처리 방법에 있어서, 상기 적외 영역의 반사광에 의해 형성된 패턴을 검출하는 단계, 및 상기 검출된 패턴에 의해 상기 원고가 특정 원고인 것을 판정하고, 가시 성분 데이터의 출력을 제어하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 처리 방법.
화상에서 검출되는 가시 이외의 반사광에 따라 화상 처리를 제어하는 화상 처리 방법에 있어서, 파장 성분에 따라 상기 가시 이외의 반사광을 검출하는 단계, 및 상기 검출 결과에 따라 상기 화상이 특정의 화상인 것을 판정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 처리 방법.