KR0130041B1 - 광픽업헤드장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은, 간단한 광학계에 의해, 광디스크면으로부터의 정보판독시에, 크로스토크를 억압에서 고밀도의 판독이 가능한 광픽업헤드장치를 실현하는 것을 목적으로 한 것으로서, 그 구성에 있어서, 직선편광의 제1간섭성 광원(1A)으로부터 출사하는 광빔은 주빔으로서 대물렌즈(5A)를 개재해서 광디스크(6A)의 면위에 집광된다. 제 2간섭성 광원(1B)으로부터 출사되는 광빔은 주빔의 편광면과 수직인 편광면을 가진 직선편광빔이며, 마찬가지로 광디스크(6A)의 면위에 주빔과 중심이 일치하는 쌍봉형상의 빔으로서 집광된다. 주빔 및 부빔은 광디스크의 정보기록면위를 중첩된 상태로 주사된 후, 귀환광로에서, 편광성홀로그램소자(7A)를 통과함으로써 주빔과 부빔으로 분리된다. 분리된 주빔 및 부빔은 집적화광검출기(8)에서 개별적으로 검출된다. 도시하지 않은 판독신호연산수단은, 집적화광검출기(8)로부터의 출력신호에 의해 크로스토크가 억압된 정보판독신호를 연산하는 것을 특징으로 한 것이다.

Description

광픽업헤드장치
제1도는 본 발명의 제1실시예에 의한 광핍업헤드장치의 개략적인 구성도.
제2도는 상기 제1실시예에 의한 광픽업헤드장치에 사용되는 집적화광검출기의 평면도.
제3도는 상기 제1실시예에 의한 광픽업헤드장치에 사용되는 편광성홀로그램의 사시도.
제4도는 상기 제1실시예에 의한 광픽업헤드장치에 사용되는 편광성홀로그램소자에 형성되는 패턴을 표시하며, 제4a도는 평면도, 제4b도의 선(b-b)을 따라서 취한 단면도.
제5도는 상기 제1실시예에 의한 광픽업헤드장치에 사용되는 위상판의 위상영역을 설명하는 개략도.
제6도는 상기 제1실시에에 의한 광픽업헤드장치에 사용되는 위상판의 단면구조 및 파워스펙트럼의 윤곽을 표시하는 도면.
제7도는 상기 제1실시예에 의한 광픽업헤드장치에 사용되는 판독신호연산장치의 개략적인 구성도.
제8도는 상기 제1실시예에 의한 광픽업헤드장치를 홈이 형성된 랜드그루브형(land groove type)의 광디스크에 적용할 때 사용되는 광학계를 설명하는 도면.
제9도는 상기 제1실시예에 의한 광픽업헤드장치에 제1변형예에 사용되는 집적화광검출기의 평면도.
제10도는 피트열만으로 구성되는 평면형 광디스크의 정보패턴을 표시한 도면.
제11a도는 상기 제1실시예에 의한 광픽업헤드장치의 제2변형예에 사용되는 위상판의 위상영역을 설명하는 개략도.
제11b도는 이 위상판을 사용하는 경우 파워스펙트럼면에 대해서 얻은 집광빔의 개략분포를 표시한 도면.
12a도는 상기 제1실시예에 의한 광픽업헤드장치의 제3변형예에 사용되는 위상판의 위상영역을 설명하는 개략도.
제12b도는 이 위상판을 사용하는 경우 파워스펙트럼면에 대해서 얻은 집광빔의 개략분포를 표시한 도면.
제13a도 내지 13d도는 상기 제1실시예에 의한 광픽업헤드장치의 다른 변형예에 각각 사용되는 위상판의 위상영역을 설명하는 개략도.
제14도는 본 발명의 제2실시예에 의한 광픽업헤드장치의 개략구성도.
제15도는 본 발명의 제2실시예에 의한 광픽업헤드장치에 사용되는 편광성위상판의 위상영역을 설명하는 개략도.
제16도는 본 발명의 제2실시예에 의한 광픽업헤드장치에 사용되는 편광성홀로그램소자의 구성을 표시한 개략적인 사시도.
제17도는 상기 제2실시예에 의해 광픽업헤드장치에 의해서 형성되는 주빔 및 부빔이 광디스크면위에 중첩해서 이 광디스크면위를 주사하는 방법을 설명하는 개략도.
제18도는 상기 제2실시예에 의한 광픽업헤드장치에 사용되는 위상판의 단면구조 및 파워스펙트럼의 윤곽을 표시한 도면.
제19a도 내지 제19d도는 상기 제1, 제2실시예에 의한 광픽업헤드장치에 사용되는 편광성홀로그램소자의 제작공정을 설명하는 단면도.
제20도는 상기 제1, 제2실시예에 의한 광픽업헤드장치에 사용되는 편광성홀로그램소자의 위상보상홈의 깊이와, 회절효율 및 투과율과의 관계를 표시한 도면.
제21도는 종래의 광픽업헤드장치의 문제점을 설명하기 위한 집광빔의 개략 분포도.
제22도는 종래의 광픽업헤드장치의 개략적인 구성도.
제23도는 종래의 광픽업헤드장치를 홈이 형성된 랜드그루브형의 광디스크에 적용할 때 얻은 집광빔의 분포를 설명한 도면.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1A : 제1간섭성 광원 1B : 제2간섭성 광원
1C : 간섭성 광원 2A : 제1콜리메이트렌즈
2B : 제2콜리메이트렌즈 2C : 제3콜리메이트렌즈
2D : 콜리메이트렌즈 3 : 편광빔스프리터
4A : 밤스프리터 4B : 빔스프리터
5A, 5B : 대물렌즈 6A, 6B : 광디스크
7A, 7B : 편광성홀로그램소자 8 : 집적화광검출기
8a, 8b, 8c, 8d, 8e, 8f, 9g, 8h, 8i : 광검출기
8aa : 제1광검출기 8ab : 제2광검출기
9A, 9B, 9C, 9D, 9E, 9F, 9G : 위상판
10 : 편광성위상판 26A : 제1증폭회로
26B : 제2증폭회로 27 : 차동연산회로
본 발명은, 집광빔을 주사해서 고밀도의 정보판독을 행하는 광픽업헤드장치에 관한 것으로서, 특히 광디스크용의 광픽업헤드장치에 관한 것이다.
상기의 광픽업헤드장치에 있어서는, 집광빔의 1/2폭 ε은 기본적으로 정보판독성능을 제한한다. 여기서, ε는 광원의 파장 λ와 집광용의 대물렌즈의 개구수 NA에 의해서 부여된다.
즉,
ε=α×(λ/NA)………………………………………………………………①
단, α는 대물렌즈의 개구형상 및 개구면에 있어서의 빔의 복수진폭분포에 의해서 결정되는 정수이다.
광디스크의 정보기록면은, 일반적으로 제21도에 도시한 바와 같이 피트형상으로 형상된 이산적인 패턴(50a), (50b), (50c),…에 의해서 구성되어 있다.
판독빔(50A)의 빈사이즈는 ①식에 의해 결정된다. 따라서, ε가 트랙피치 Pt에 비해서 충분히 작지 않는 경우에는, 판독빔(50A)은 인접하는 트랙의 신호도 판독출력된다. 이와 같은 크로스토크에 의해서 정확하고 또한 안정적인 신호의 판독출력을 할 수 없게 된다고 하는 문제가 있다.
이와 같은 크로스토크를 억제하기 위하여, 일본국 특개소 57-58248호 공보에 개시된 바와 같이 고밀도정보를 판독할 수 있는 광픽업헤드장치가 제안되고 있다. 이 광픽업헤드장치는, 제21도에 표시한 바와 같이, 판독용빔으로서, 중심에 위치하는 제1광빔(50A)과 이 제1광빔(50A)의 양쪽에 각각 위치하는 제2, 제3광빔(50B), (50C)으로 이루어진 3개의 광빔을 판독용광빔으로서 사용한다. 제2, 제3광빔(50B), (50C)은 제1광빔(50A)으로부터 트랙의 직각방향으로 트랙피치 Pt만큼 떨어져 있다.
상기의 광픽업헤드장치는 제22도에 표시한 바와 같은 구성을 가진다. 즉, 광원으로서는, 제1반도체레이저(51), 제2반도체레이저(52) 및 제3반도체레이저(53)가 사용되고 있다. 제1반도체레이저(51)로부터 출사된 광빔은 제1빔스프리터(54), 콜리메이트렌즈(55) 및 제2빔스프리터(56)를 통과한 후, 대물렌즈(57)에 의해 집광되어 광디스크(58)의 정보기록면에 이른다. 제2반도체레이저(52)로부터 출사된 빔 및 제3반도체레이저(53)로부터 출사된 빔은, 각각 제3빔스프리터(59), 제1빔스프리터(54), 콜리메이트렌즈(55) 및 제2빔스프리터(56)를 통과한 후, 대물렌즈(57)에 의해 집광되어 광디스크(58)의 정보기록면에 이른다. 제1, 제2, 제3반도체레이저(51), (52), (53)로부터 출사된 3개의 광빔은 소정의 위치관계를 가지고 광디스크(58)의 정보기록면에 결상된다. 각 광빔의 반사광은 각각 다시 제1 내지 제3반도체레이저(51), (52), (53)쪽으로 되돌아 가서, 반도체레이저(51), (52), (53)의 자체결합효과(self-coupling effect)에 의해서 신호로서 기능하는 빔의 양이 판독출력된다.
제1 내지 제3광빔(50A), (50B), (50C)의 인접트랙에의 크로스토크량을 K로 하면, 제1 내지 제3광빔(50A), (50B), (50C)으로부터 얻게 되는 신호광량 SA, SB, SC는 다음과 같이 된다.
즉,
SA=KS-1+S0+KS+1………………………………………………②
SB=KS-2+S-1+KS0………………………………………………③
SC=KS0+S-1+KS+2………………………………………………④
여기서, S-2, S-1, S0, S+1, S+2는 각 트랙 -2, -1, 0, +1, +2의 중심부에 빔을 입사했을 때 얻게 되는 신호광량을 표시한다. 제2인접트랙으로부터의 신호광의 양은 작기 때문에, 무시하고 있다.
상기 ②, ③, ④ 식으로부터 크로스토크를 억제하는 연산처리방식으로는, 이하의 관계식을 얻게된다.
단일 광빔에 의해 신호광의 양을 판독하는 경우의 크로스토크량은 2K의 레벨에 도달한다. 그러나, ⑤식과 같이 연산처리하면 크로스토크량은 2K2/(1-2K2)까지, 즉 대략 2K2의 레벨까지 감소될 수 있다. 따라서, 기록한 피트의 트랙피츠 Pt를 좁게 할 수가 있다.
상기한 바와 같이, 트랙피치 Pt의 정도까지 서로 접근한 제1 내지 제3광빔(50A), (50B), (50C)을 광디스크(58)의 정보기록면에 정확히 집광하기 위해서는, 3개의 독립된 제1 내지 제3반도체레이저(51), (52), (53)로부터의 광빔을 각각 고정밀도로 조정해서 1개의 광속으로 통합할 필요가 있다. 한편, 서로 부분적으로 중첩된 상태에서 광디스크(58)로부터 반사해서 돌아오는 광빔을 개별적으로 독립된 광검출기로 유도할 수 없다. 따라서, 제1 내지 제3반도체레이저(51), (52), (53)의 차체결합효과에 이해서 신호를 판독출력한다.
이 때문에, 신호광의 양을 판독할때에 제1 내지 제3반도체레이저(51), (52), (53)에서 발생되는 복귀광에 의한 잡음의 영향을 피하는 일이 곤란하므로, 안정된 S/N비가 높은 신호를 얻지 못하였다.
그래서, R. Katayama et al. Multi-Beam Optical Disk Drive for High Data Transfor Rate Systems, Proc. Int. Symp. on Optical Memory, 1991, pp. 268-272에 개시된 바와 같이, 독립된 광검출기를 사용해서 인접트랙위의 정보판독을 행할 수 있는 방법이 제안되어 있다. 즉, 제23도에 표시한 바와 같이, 주빔(60)과 부빔(60A), (60B)과의 사이에 각각 충분한 크기의 트랙방향의 거리 I을 설정하고, 주빔(60) 및 부빔(60A), (60B)을 광전변환하여 얻은 출력신호는, 적응형 디지틀필터(adaptive digitol filter)를 사용해서 연산을 행하고, 이에 의해 인접하는 트랙으로부터의 재생신호 및 기록선밀도방향의 부호간 간섭을 억압한다. 또한, 제23도에 있어서, (61)은 지연회로, (62)는 연산회로, (63)은 판독신호출력이다.
그러나, 상기한 방법에서는, 수 10㎛이상 떨어진 주빔(60) 및 부빔(60A), (60B)이 광디스크의 내주쪽과 외주쪽의 양쪽에서 정확한 거리 I를 유지하면서 트랙위를 주사하도록, 주빔(60) 및 부빔(60A), (60B)의 스포트위치를 조정하여야 한다.
이것은 복잡한 광학계 및 제어기구를 필요로 하므로, 광픽업헤드장치의 소형화 및 안정화의 면에서 문제가 있다. 또, 주빔(60)과 부빔(60A), (60B)과이 사이의 시간 지연을 보상하는 타이밍제어나 기타의 복잡한 신호처리도 필요하다.
본 발명의 목적은, 간단한 광학계에 의해, 인접하는 트랙간의 크로스토크 및 기록선밀도방향의 크로스토크 즉, 보호간의 간섭을 억압할 수 있는 광픽업헤드장치를 제공하는데 있다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 제1측면에 따른 광픽업헤드장치는, 각각의 평광면이 서로 직교하는 주빔과 부빔을 사용한다. 예를 들면, 한쪽의 광빔은 통상의 에어리패턴(Airy pattern)형상으로 집광된 스포트현상으로 형성되는 반면에, 다른족의 광빔은 광축에 대해서 대칭인 쌍봉의 빔으로 형성된다. 한쪽의 빔과 따른쪽의 빔은, 광디스크의 피트면위에 중첩해서 집광되고, 광디스크의 피트면으로부터 반사된 집광빔은, 주빔의 편광면과 부빔의 편광면이 서로 직교하는 것을 이용해서, 주빔과 부빔으로 분리된다. 이와 같이 분리된 주빔과 부빔은 광검출기에 의해 개별적으로 검출된다.
구체적으로는, 상기 제1측면에 따른 광픽업헤드장치는, 주빔이 되는 간섭성 광을 방출하는 제1간섭성 광원과; 이 제1간섭성 광원으로부터 방출된 간섭성 광의 편광면과 직교하는 편광면을 가진 간섭성 광을 방출하는 제2간섭성 광원과; 이 제2간섭성 광원으로부터 방출된 간섭성 광이 입사되고, 간섭성 광의 광축에 대해 수직인 평면위에서 부빔의 중심의 적어도 양쪽에 피크치를 가진 광감도분포를 나타내는 부빔을 출사하는 위상판과; 상기 제1간섭성 광원으로부터 방출된 상기 주빔과 상기 위상판으로부터 출사된 부빔을 중첩하고, 중첩된 빔을 광디스크의 정보기록면에 집광하는 집광수단과; 상기 광디스크의 정보기록면으로부터 반사된 집광빔이 입사되고, 이 집광빔을 주빔과 부빔으로 분리해서 출사하는 편광분리수단과; 이 편광분리수단으로부터 출사된 주빔과 부빔의 광강도를 개별적으로 검출해서 출력하는 광검출수단과; 크로스토크가 억압된 정보판독신호를 광검출수단으로부터의 출력신호에 의거해서 연산하는 판독신호연산수단을 구비한 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제2측면에 따른 광픽업헤드장치는, 상기의 같은 제1, 제2간섭성 광원을 간단히 얻기 위하여, 본 발명의 제1측면에 따른 광픽업헤드장치에 있어서, 상기 제1, 제2간섭성 광원은, 제1, 제2간섭성 광원으로부터 각각 방출된 간섭성 광의 편광면이 서로 직교하도록 배치된 1쌍의 직선편광레이저인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제3측면에 따른 광픽업헤드장치는, 상기와 같은 편광분리수단을 간단하고 또한 확실하게 얻기 위하여, 본 발명의 제1측면 또는 제2측면에 따른 광픽업헤드장치에 있어서, 상기 편광분리수단은 굴절율이 1축이방성인 기판과 이 기판위에 형성된 편광성홀로그램을 가진 편광성홀로그램소자인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제4측면에 따른 광픽업헤드장치는, 크로스토크의 억압효과를 한층 더 향상시키기 위하여, 본 발명의 제1측면, 제2측면 또는 제3측면에 따른 광픽업헤드장치에 있어서, 상기 광검출수단은, 주빔의 광강도를 검출하는 주빔검출기와 부빔의 광강도를 검출하는 부빔광검출기로 이루어지고; 이 부빔검출기는 상기 광디스크의 트랙접선방향과 평행한 방향으로 분할된 2개의 광검출기로 이루어지고; 광픽업헤드장치는, 상기 2개의 광검출기로부터 얻은 차동출력신호를 트래킹오차신호로서 출력하는 오차신호출력수단을 부가하여 구비한 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제5측면에 따른 광픽업헤드장치는, 단일의 간섭성 광원으로부터 방출된 광빔을 두 개의 빔으로 분리한다. 예를 들면, 통상의 에어리패턴형상으로 집광된 스포트형상의 주빔과 광축에 대해서 대칭인 쌍봉형상의 부빔으로 분리하고, 이들 두 빔은 서로 직각인 위상면을 가진다. 이들 빔은 광디스크의 피트면위에 중첩해서 집광되고, 광디스크의 피트면으로부터 반사된 집광빔은, 주빔의 편광면과 부빔의 편광면이 서로 직교하는 것을 이용해서, 분리한다. 이와 같이 분리된 주빔과 부빔은 광검출기에 의해 별도로 검출한다.
구체적으로는, 본 발명의 제5측면에 따른 광픽업헤드장치는, 간섭성 광을 방출하는 간섭성 광원과; 이 간섭성 광원으로부터 방출된 간섭성 광이 입사되고, 주빔 및 이 주빔의 편광면과 직교하는 편광면을 가지고 또한 상기 주빔의 중심의 적어도 양쪽에 피크치를 가진 광강도분표를 나타내는 부빔을 출사하는 편광성위상판과; 이 편광성위상판으로부터 출사된 주빔과 부빔을 중첩하고, 중첩된 빔을 광디스크의 정보기록면에 집광하는 집광수단과; 상기 광디스크의 정보기록면으로부터 반사된 집광빔이 입사되고, 이 집광빔을 주빔과 부빔으로 분리해서 출사하는 광검출수단과; 이 편광분리수단으로부터 출사된 주빔과 부빔의 광강도를 개별적으로 검출해서 출력하는 광검출수단과; 크로스토크가 억압된 정보판독신호를 광검출기로부터의 출력신호에 의거하여 연산하는 판독신호연산수단을 구비한 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제6측면에 따른 광픽업헤드장치는, 상기와 같은 편광성위상판을 구체화하는 것으로서, 본 발명 제5측면에 따른 광픽업헤드장치에 있어서, 상기 편광성위상판은, 상기 간섭성 광원으로부터 방출된 간섭성광을 한쪽 방향의 편광면을 가진 광성분과 이 한쪽 방향과 직교하는 다른쪽 방향의 편광면을 가진 광성분으로 분리하고; 상기 편광성위상판은, 상기 한쪽 방향의 편광면을 가진 광성분을 주빔으로서 출사하고; 상기 편광성위상판은, 다른쪽 방향의 편광면을 가진 광성분에 상대적 위상차를 부여하지 않는 제1영역과 다른쪽 방향의 편광면을 가진 광성분에 π의 상대적 위상차를 부여하는 제2영역을 가지고; 상기 편광성위상판은 제1, 제2영역을 통과하는 광성분을 상기 부빔으로서 출사하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제7측면에 따른 광픽업헤드장치는, 광디스크의 트랙간의 크로스토크뿐만 아니라, 기록선밀도방향의 크로스토크도 억압하여, 트랙간 간선 및 부호간 간섭을 모두 억압한 신호판독을 가능하게 하기 위하여, 본 발명의 제6측면에 따른 광픽업헤드장치에 있어서, 상기 제1, 제2영역의 각각은, 상기 제1영역을 분할하여 형성된 두 개의 영역과 제2영역을 분할하여 형성된 두 개의 영역이 상기 편광성위상판의 중심부위에 교호로 배치되도록, 두 개의 영역으로 분할되는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제8측면에 따른 광픽업헤드장치는, 본 발명의 제5측면에 따른 편광성위상판을 간단하고 또한 확실하게 얻기 위하여, 본 발명의 제5측면에 따른 광픽업헤드장치에 있어서, 상기 편광성위상판은, 상기 간섭성 광원으로부터 방출된 간섭성 광중에서 한쪽 방향의 편광면을 가진 광성분이 상대적 위상차를 이 광성분에 부여하는 일없이 출사하고; 상기 편광성위상판은 상기 간섭성 광원으로부터 방출된 간섭성 광중에서 상기 한쪽 방향과 직교하는 다른쪽 방향의 편광면을 가진 광성분에 π/2의 상대적 위상차를 부여하는 제1영역과, 상기 간섭성 광원으로부터 방출된 간섭성 광중에서 상기 다른쪽 방향의 편광면을 가진 광성분에 π의 상대적 위상차를 부여하는 제2영역을 구비하고; 상기 편광성위상판은, 상기 제1, 제2의 영역을 통과하는 광성분을 부빔으로서 출사하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제9측면에 따른 광픽업헤드장치는, 본 발명의 제7측면에 따른 광픽업헤드장치와 마찬가지로, 광디스크의 트랙간의 크로스토크뿐만 아니라, 기록선밀도방향의 크로스토크도 억압하여, 트랙간 간섭과 부호가 간섭이 모두 억압된 신호판독을 가능하게 하기 위하여, 본 발명의 제5측면에 따른 광픽업헤드장치에 있어서, 상기 편광성위상판은, 상기 간섭성 광원으로부터 방출된 간섭성 광중에서 한쪽 방향의 편광면을 가진 광성분이 상대적 위상차를 이 광성분에 부여하는 일없이 상기 주빔으로서 출사하고; 상기 편광성위상판은, 상기 간섭성 광원으로부터 방출된 간섭성 광중에서, 상기 한쪽 방향과 직교하는 다른쪽 방향의 편광면을 가진 광성분에 영의 위상차를 부여해서 출사하는 제1영역, 상기 간섭성 광원으로부터 방출된 간섭성 광중에서 상기 다른쪽 방향의 편광면을 가진 광성분에 π/2의 사대적 위상차를 부여하는 제2영역 및 상기 간섭성 광원으로부터 방출된 간섭성 광중에서 상기 다른쪽 방향의 편광면을 가진 광성분에 π의 상대적 위상차를 부여하는 제3영역이 서로 평행한 영역경계선에 의해 형성된 한쌍의 위상판으로 구성되고; 이 한쌍의 위상판은 각각의 영역경계선이 서로 직교하도록 배치되어 있는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제10측면에 따른 광픽업헤드장치는, 본 발명의 제5측면에 따른 편광분리수단을 간단하고 또한 확실하게 얻기 위하여, 본 발명의 제5측면 내지 제9측면중 어느 한 측면에 따른 광픽업헤드장치에 있어서, 상기 편광분리수단은, 굴절율이 1축이방성인 기판과 이 기판위에 형성된 편광성홀로그램으로 이루어진 편광성홀로그램소자인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제11측면에 따른 광픽업헤드장치는, 트래킹오차신호검출 및 크로스토크억압의 효과를 한층 더 향상시키기 위해, 본 발명의 제5측면 내지 제10측면중 어느 한 측면에 따른 광픽업헤드장치에 있어서, 상기 광검출수단은 주빔의 광강도를 검출하는 주빔검출기와 부빔의 광강도를 검출하는 부빔검출기로 이루어지고; 이 부빔검출기는 상기 광디스크의 트랙방향으로 분할된 2개의 광검출기로 이루어지고; 상기 광픽업헤드장치는, 상기 2개의 광검출기로부터의 얻은 차동출력신호를 트래킹오차신호로서 출력하는 오차신호출력수을 부가하여 구비한 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제1측면에 따른 구성에 의해, 주빔은 통상의 에어리디스크형상패턴의 윤곽을 형성하나, 주빔의 편광면과 직교하는 편광면을 가지는 부빔은 집광면에서 주빔의 1/2폭보다 약간 큰 1/2폭을 가진 윤곽을 가진다. 따라서, 부빔은 광디스크의 정보기록면에 대해서 인접하는 트랙위의 정보를 보다 많이 포함한 빔으로서 반사된다.
광디스크의 정보기록면으로부터 반사된 집광빔은 편광분리수단에 의해서 주빔과 부빔으로 분리된 후, 광검출수단에 의해서 주빔의 광강도와 부빔의 광강도가 개별적으로 검출된다.
본 발명의 제2측면에 따른 구성에 의해, 편광면이 서로 직교하는 직선편광의 간섭성 광원을 간단하고 또한 확실하게 얻을 수 있다.
본 발명의 제3측면에 따른 구성에 의해, 석파인쇄기술에 의해 형성되는 편광성홀로그램을 사용해서 본 발명의 제1측면에 따른 위상판을 간단하고 또한 확실하게 얻을 수 있다.
본 발명의 제4측면에 따른 구성에 의해, 부빔의 광강도를 검출하는 부빔검출기를, 광디스크의 트랙접선방향과 평행한 방향으로 분할된 2개의 광검출기로부터 구성하므로, 트래킹오차신호검출 및 정밀도가 한층 더 높은 크로스토크억압을 행할 수 있다.
본 발명의 제5측면에 따른 구성에 의해, 단일한 간섭성 광원으로부터 방출한 광빔의 편광성위상판을 통과하면, 주빔과, 이 주빔의 편광면과 직교하는 편광면을 가지고 또한 상기 주빔의 중심의 적어도 양쪽의 피크치를 가진 광강도분포를 나타내는 부빔이 출사되므로, 단일의 간섭성 광원에 의해서 편광면이 서로 직교하는 1쌍의 간섭성 광을 얻을 수 있다.
본 발명의 제6측면에 따른 구성에 의해, 주빔은 광디스크의 정보기록면에서 회절한계의 1/2폭을 가진 빔이 되어, 부빔은 편광성위상판을 통과함으로써 개구면 1/2의 영역에서 π의 상대적 위상차가 부여되고, 광디스크의 정보기록면에서 회절한계의 대략 2배의 1/2폭을 가진 쌍봉형상의 빔이 된다. 이 경우, 주빔 및 부빔이 각 빔중심이 일치된 상태에서 집광되어 광디스크의 정보기록면의 소정트랙위를 주사할 때, 부빔에 의해서 얻는 판독신호에서의 크로스토크는, 주빔에 의해서 얻는 판독신호에서의 크로스토크비보다 상당히 크게 되므로, 주빔에 포함되는 크로스토크량에 동등한 크로스토크량을 함유한 수준까지 부빔을 감쇄시키거나 또는 회로처리에 의해서 등가의 연산을 실시함으로써 크로스토크가 업압된 고밀도 정보판독을 행하는 것이 가능해진다.
본 발명의 제7측면에 따른 구성에 의해, 주빔과, 이 주빔의 중심양쪽에 피크치를 가진 쌍봉형상의 광강도분포를 가진 빔이 서로 직교함으로서 형성되는 4개의 봉우리형상의 광강도분포를 가진 부빔을 단일의 간섭성 광원으로부터 얻을 수 있으므로, 광디스크의 트랙간의 크로스토크뿐만 아니라, 기록선밀도방향의 크로스토크도 억압하여, 트랙간 간섭 및 부호간 간섭이 모두 억압된 신호 판독이 가능해진다.
본 발명의 제8측면에 따른 구성에 의해, 제1영역을 통과하는 부빔의 광성분을 기준으로해서, 제2, 제3영역을 통과하는 광성분은 π/2 및 π의 상대적 위상차를 각각 부여한 부빔으로서 출사되므로, 제6측면에 따른 구성과 대략 등가의 쌍봉형상의 집광빔을 얻을 수 있다.
본 발명의 제9측면에 따른 구성에 의해, 이 주빔과 중심의 양쪽에 피크치를 가진 쌍봉형상의 광강도분포를 나타내는 빔이 서로 직교함으로써 형성되는 4개의 봉우리형상의 광강도분포를 나타내는 부빔을 단일의 간섭성 광원으로부터 얻을 수 있으므로, 광디스크의 트랙간의 크로스토크뿐만 아니라, 기록선밀도방향의 크로스토크도 억압하여, 트랙간 간섭 및 부호간 간섭이 모두 억압된 신호판독이 가능해진다.
본 발명의 제10측면에 따른 구성에 의해, 석판인쇄기술에 의해 형성되는 편광성홀로그램을 사용하여 제5측면에 따른 위상판을 간이하고 또한 학실하게 얻을 수 있다.
본 발명의 제11측면에 따른 구성에 의해, 부빔의 광강도를 검출하는 부빔검출기를, 광디스크의 트랙접선방향과 평행한 방향으로 분할된 2개의 광검출기로부터 구성하므로, 트래킹오차신호검출 및 정밀도가 한층 높은 크로스토크억압을 행할 수 있다.
이하, 본 발명의 실시예를 도면에 의거해서 설명한다.
제1도는 본 발명의 제1실시예에 의한 광픽업헤드장치의 개략구성을 표시하고 있다.
동 도면에 표시한 바와 같이, 반도체레이저로 이루어진 직선편광의 제1간섭성 광원(1A)으로부터 출사된 광빔은, 제1콜리메이트렌즈(2A), 편광빔스프리터(3) 및 빔스프리터(4A)를 통과한 후, 집광용의 대물렌즈(5A)에 의해서 집광되어 광디스크(6)의 피트면(광정보기록면)에 결상된다. 광디스크(6)의 피트면에 결상한 후, 반사된 광빔은, 귀환광로에서, 대물렌즈(5A), 빔스프리터(4A), 편광성홀로그램소자(7A)를 통과한 후, 제2콜리메이트렌즈(2B)에 의해 집광되어 9개의 광검출기로 이루어진 집적화광검출(8)에 이른다. 또한, 제1도에서 (5a)는 대물렌즈(5A)를 구동하는 작동기이다.
집적화광검출기(8)에 도달한 광빔은, 포커성 및 트래킹오차신호를 검출하기 위한 스포트사이즈디텍션(SSD)법(spot size detection method) 및 푸시플법(push-pull method)을 실현하는 서보신호검출용 홀로그램소자(일본국 특개소 50-78341호, 동 62-251025호, 동 62-251026호 및 USP 4,929,823을 참조)의 작용에 의해, 집적화광검출기(8)의 광축에 위치하는 광검출기(8a) 이외의 8개의 광검출기(8b), (8c), (8d), (8e), (8f), (8g), (8h), (8i)(제2도에 상세한 것을 표시함)위에 각각 집광해서 검출된다.
제3도는 편광성홀로그램소자(7A)의 상세한 것을 표시하고 있다. 이 편광성홀로그램소자(7A)는 니오브산리튬(LiNbO3)의 결정으로 이루어지고 단일축이고 이방성인 굴절율을 가진 기판(7a)에서 상기 결정의 Li를 H에 의해 치환하는 프로톤교환(proton exchange)을 이용하여 처리된 굴절율 이방성홀로그램소자이다. 제3도에 표시한 바와 같이, X축으로 절단한 기판(7a)위에 석판인쇄기술을 사용해서 격자형상패턴의 프로톤교환영역(7b)을 형성하면, 편광성홀로그램소자(7A)는, Y방향의 편광면을 가진 편광성분(정상광이라 칭함)에 대해서는 (0,π)형의 위상격자가 되고, Z방향의 편광면을 가진 편광성분(이상광이라 칭함)에 대해서는 균일한 투명체 기판이 된다. 제1도에서 제1간섭성 광원(1A)으로부터의 광빔은, 상기한 상시광(제1도에 있어서 ◎로 표시)에 상당하며, 편광성홀로그램소자(7A)에 의해서 회절된다. 제4도(a), (b)는 편광성홀로그램소자(7A)에 형성되는 패턴의 예를 표시하고 있다. 제4도(a)는, 니오브산리튬으로 이루어진 기판(7a)위에 형성된 프로톤교환영역(7b) 및 프로톤비교환영역(7c)에 의해서 구성되는 포커싱오차신호용 축외의 프레넬존 플레이트(off-axis Fresnel Zone-Plate)의 격자패턴 및 트래킹오차신호검출용 격자패턴(7d), (7e)(마찬가지로 프로톤교환영역과 프로톤비교환영역이 교호로 반복되는 영역)의 배치를 개념적으로 표시하며, 제4(b)는 제4(a)의 선(a-b)을 따른 단면구조를 개략적으로 표시하고 있다. 정상광에 대해서는 최대효율로 회절시키고 또한 이상광을 회절시키지 않는 조건은, 프로톤교환영역의 두께 d3및 위상보상홈(후술)의 깊이 d가,
을 만족시킴으로써 실현된다. 여기서, λ는 입사광의 파장이고, △no을 정상광에 대한 프로톤교환에 의한 굴절율의 감소분이고, △ne는 이상과에 대한 프로톤교환에 의한 굴절율의 증가분이다.
상기의 표 1은 니오브산리튬의 기판(7a)의 굴절율 및 프로톤교환에 의한 굴절율변화의 데이터에를 표시하고 있다.
제1도에 표시한 바와 같이, 반도체레이저로 이루어진 제2간섭성 광원(1B)으로부터 출사된 직사편광의 광빔은, 제3콜리메이트렌즈(2C), 제6도에 상세하게 표시한 (0,π)의 2위상영역을 가진 위상판(9), 평광빔스프리터(3) 및 빔스프리터(4A)를 통과한 후, 대물렌즈(5A)에 의해 집광되어 광디스크(6)의 피트면에 결상한다. 광디스크(6)의 비트면에 결상한 후 반사된 광은, 귀환광로에서, 대물렌즈(5A), 빔스프리터(4A),편광성홀로그램소자(7A)를 통과한 후, 제2콜리메이트렌즈(2B)에 의해서 집광되어 집적화광검출기(8)에 이른다.
제2간섭성 광원(1B)으로부터 출사되는 광빔의 편광면은, 제1간섭성 광원(1A)으로부터 출사되는 광빔의 편광면과 서로 직교하고 있다. 즉, 편광성홀로그램소자(7)의 기판(7a)의 결정축에 대해서, 제1간섭성 광원(1A)으로부터의 광빔을 정상광이라고 하면, 제2간섭성 광원(1B)으로부터의 광빔은 이상광이다.
제6도는, 위상판(9A)의 파워스펙트럼의 윤곽을 설명하는 개략도이다. 굴절율 n의 투명기판(예를 들면 석영유리인 경우, n은 대략 1.41임)에 단차 d을 형성하고, (1-n)×d=λ/2의 식이 확립되는 것으로 가정한다. 여기서, 간단하게 하기 위해 1차원의 모델에 의해 표시하면, 개구폭(2a)의 위상판(7)을 파장 λ의 평행광에 의해 조명했을 때의 대물렌즈(5A)의 초점면에 얻게되는 복소진폭분포 μ(ζ)는,
의 식으로 나타낸다. 상기 식에서, sincx=(sinx)/X이며, f는 대물렌즈(5A)의 초점거리이다. 다음에, 파워스펙트럼은,
로부터 구할 수 있다.
동 도면에 있어서, 2점쇄선(21)은 ⑩식의 sinc[(2π/λf)×(a/x)×ζ]를 하고 있고, 파선(22)은 ⑩식의 sinc[(2π/λf)×(a/λ)×ζ]를 참조용으로 표시하고 있고, 미세한 실선(23)은 sinc[(2π/λf)×(a/λ)×ζ]와 sinc[(2π/λf)×(a/λ)×ζ]의 곱의 향을 표시하며, 굵은 실선(24)은 ⑪의 I(ζ)를 표시하고 있다. 1점 쇄선(25)은 위상판 돌일의 개구폭(2a)에 의해 결정되는 회절한계의 집광빔의 윤곽을 비교용으로 표시하고 있다(피크치는 임의 척도이다).
동 도면에서 명백한 바와 같이, 위상판(7)을 통과해서 집광된 쌍봉형상빔(24)의 1/2폭은, 회절한계의 집광빔(25)의 1/2폭에 비해서 2배정도 확대되어 있고, 쌍봉형상빔(24)은, 집광빔(25)을 주빔으로서 정보판독에 사용한 경우에 발생되는 크로스토크를 억압할 수 있는 부빔으로서 효과적인 것을 용이하게 이해할 수 있다.
위상판(9)의 배치방향으로서는 다음과 같이 하는 것이 바람직하다, 즉, 위상판(9)의 위상경계선(9a)이 광디스크(6A)의 판도검에서 트랙의 접속방향과 평행하도록 하면, 부빔인 쌍봉형상빔(24)은, 주빔인 집광빔(25)이 주사하는 트랙에 인접하는 트랙위를, 쌍봉형상빔(24)의 피크가 주빔인 집광빔(25)의 윤곽의 베이스 부분과 맞포개지는 위치관계를 가지면서 주사함으로서, 트랙간의 크로스토크를 억제하는데 적당한 배치가 있다.
또, 위상판(9)의 위상경계선(9a)을 광디스크(6A)의 판독점에서 트랙의 접선방향과 직교하는 방향으로 향하게한 경우에는, 기록선밀도방향에 있어서의 부호간 간섭을 억압하는데 적합하다. 이 경우에는, 주빔과 부빔은 시간적인 지연이 발생되는 일없이 동시에 검출되므로 제7도에 표시한 간단한 연산처리에 의해서 크로스토크억압의 목적을 달성가능하게 된다.
제7도에 있어서, (26A)는 제1의 증폭회로이고, (26B)는 제2의 증폭회로이고, (27)은 차동연산회로이다. 부빔을 수광한 집적화광검출기(8)의 광검출기((8a)의 출력S0는 제2의 증폭회로(26B)에 입력되고, 주빔을 수광한 집적화광검출기(80)의 광검출기(8b), (8c), (8d), (8e), (8f), (8g), (8h)의 출력신호의 총합 S4는 제1증폭회로(26A)에 입력된다. 제1 및 제2증폭회로(26A), (26B)의 증폭율 G1, G2는, 차동연산회로(27)로부터의 출력 S5에 크로스토크성분이 가장 작아지도록 설정하면 되고, 예를 들면, 주빔을 수광한 광검출기(8b), (8c), (8d), (8e), (8f), (8g), (8h)의 출력신호의 총합 S4에 있어서의 크로스토크성분과, 부빔을 수광한 광검출기(8a)의 출력 S0에 있어서의 상기 출력신호의 총합 S4에 포함하는 크로스토크성분과 동일한 신호성분과의 비가 0.1 : 1.0이면, 제1증폭회로(26A)의 증폭율 G1과, 제2증폭회로(26B)의 증폭율 G2과의 비를 1 : 0.1로 하면 된다.
여기서는, 간단한 차동연산회로(27)에 의해서 크로스토크를 억압하는 방법에 대해서 설명하였으나, 복수의 지연회로 및 메모리회로를 설치해서 다단의 신호처리를 행함으로써, 크로스토크성분은 한층 더 억압될 수 있고 또한 파형이 균일하게 될 수 있다. 종래부터 널리 사용되고 있는 트랜스버설필터(상기한 R. Katayama씨등의 문헌참조)를 본 발명에 적용할 수 있음은 물론이다.
또, 본 제1실시예에 있어서는, 제8도에 표시한 고밀도기록이 용이하게 홈이 형성된 랜드그루브형의 광디스크를 사용하고 있어, 설계의 예로서 랜드(그루브)의 피치가 통상의 디스크에 의해 사용되는 1.6㎛로 설정된 기판을 사용하는 경우, 트래킹오차신호는 푸시플방식에 의해 충분히 검출가능하다. 또한, 제8도에 있어서, (30)은 주빔(32)의 빔스포트이고, (31A), (31B)는 편광분리된 부빔(33)의 빔스포트이다.
제9도는, 상기 제1실시예의 제1변형예로서, 집적화광검출기(8)의 광검출기(8a)(제2도를 참조)를 Y방향(판독점에서의 트랙접선방향과 평행인 방향)으로 2분할해서 이루어진 제1광검출기(8aa) 및 제2광검출기(8ab)에 의해서 구성되는 예를 표시하고 있다. 이와 같이하면, 제1 및 제2광검출기(8aa), (8ab)로부터의 출력신호 Saa, Sab를 각각 연산처리해서, 더욱 정밀도 높은 크로스토크억압의 효과를 올리는 것이 가능해진다. 즉, 제23도에 의거하여 설명한 적응형 디지틀필터와 마찬가지의 연산도 가능하다.
또, 후술하는 제11도에 표시한 4봉형상빔을 사용할때에는 4분할의 광검출기를 사용해서, 마찬가지로 고정밀도의 정보판독을 실행가능하게 된다. 이 경우에는, 제23도에 표시한 구성과 다르고, 3빔간의 시간지연의 보상은 불필요하다. 또, 상기 2분할 또는 4분할의 광검출기로부터의 차동출력을 사용해서, 부빔으로부터의 트래킹오차신호를 얻는 것도 가능하다. 이와 같이 하면, 주빔에 의한 포커싱오차의 영향을 받는 일없이, 트래킹오차신호를 얻게되어, 안정된 트래킹서보가 가능해진다. 트래킹오차신호의 안정검출은 트랙간 거리가 더욱 좁아지는데 따라 곤란해지나, 본 제1실시예에 있어서는, 쌍봉형상 또는 4봉형상의 빔패턴의 특징을 이용하여 부빔에 의한 트래킹제어를 행한다. 따라서, 좁게 트랙화된 광디스크의 안정된 판독이 가능해진다.
제10도는, 랜드그루브형이 아닌 피트열만으로 구성되는 광디스크(6)의 정보패턴의 예를 표시한다. 동 도면에 표시한 바와 같이, 트랙피치 P와 비트의 폭 W가 대략 (1/4)×p인 광디스크(6)에 대해서는, 제9도에 표시한 2분할된제1 및 제2광검출기(8aa), (8ab)로부터 출력되는 신호성분의 차이를 취하면, 3빔법으로서 알려진 트래킹오차신호의 검출을 부빔으로부터 안정적으로 얻을 수 있다.
그런데, 주빔에 대해서 편광면이 직교하는 부빔은, 광디스크(6)의 피트면위에서 중심이 항상 일치한 안정된 상태에서 주사된다. 부빔은, 귀한광로에서 편광성홀로그램소자(7A)에 입사할때에는 회절되지 않고, 제9도에 표시한 바와 같이 편광분리된 부빔(33)으로서 투과된 후, 집적화광검출기(8)의 광검출기(3a)(제2도를 참조)에 집광되어 검출된다.
따라서, 제2도에 표시한 집적화광검출기(8)의 8개의 단자 8b~Si로부터의 출력합계로부터 단자 Sa의 출력을 감산처리함으로써 크로스토크의 억압을 실현할 수 있다. 제6도에 있어서는, 빔파워의 피크치를 주빔대 부빔의 비를 4 : 1정도로 해서 도시하였으나, 제8도와 같이 배트랙밀도의 광디스크의 판독에 있어서는 10 : 1정도이면 된다.
또한, 전기회로위의 증폭·감쇄를 이용함으로써 최적의 크로스토크의 억압 조건에 의거하여 계를 설계할 수 있음은 물론이다. 제1간섭성 광원(1A)과 제2간섭성 광원(1B)과의 출력비를 조정해서 마찬가지의 효과를 얻을 수도 있다.
제11도(a)는 본 발명의 제1실시예의 제2변형예에 의한 위상판(9B)을 개략적으로 표시하고 있으며, 이 위상판(9B)은 4분할된 위상영역(9b), (9b), (9c), (9c)을 가지고 있다. 또, 제11도(b)는, 이 제2변형예에 의한 위상판(9B)을 사용하는 경우 파우스펙트럼면에서얻은 집광빔의 개략분포를 표시하고 있다. 이와 같은 위상판(9B)을 사용함으로써 4개의 봉을 가진 집광빔을 얻게되고, 주빔의 광디스크(6)의 피트면을 주사할 때 흔들리는 트랙간의 간섭 및 부호간의 간섭의 양크로스토크 성분을 병렬로 동시에 상쇄할 수가 있다.
제12도(a)는, 본 발명의 제1실시예의 제3변형예에 의한 위상판(9C)을 개략적으로 표기하고 있으며, 이 위상판(9C)은 3분할된 위상영역(9d), (9e), (9d)를 가지고 있다. 또, 제12(b)는, 이 제3변형예에 의한 위상판(9C)을사용하는 경우 직사각형 개구(2a)를 가진 대물렌즈계의 초점면에 빔윤곽(28)(ζ≥0)을 표시하고 있다.
제13도(a)~(d)는, 본 발명의 제1실시예의 다른 변형예에 의한 위상판(9D), (9E), (9F), (9G)를 개략적으로 표시하고 있고, 분할영역수가 2, 3, 4로 증가함에 따라서, 부빔의 피크위치는 광축으로부터 떨어진다.
또한, 상기 제1실시예 및 각각의 변형예에 있어서는, 위상판은 직사각형의 단면을 가지지만, 사인과 또는 삼각파형상의 단면을 가지는 위상판을 사용하여도 된다. 또한 진폭분포를 가진 위상판 또는 회절형소자를 사용해도 된다.
제14도는, 본 발명의 제2실시예에 의한 광픽업헤드장치의 개략구성을 표시하고 있다. 이 제2실시예는, 제1실시예에 있어서의 광학계를 한층 더 단순화해서 부품점수를 감소시킨 것이다.
제14도에 표시한 바와 같이, 반도체레이저로 이루어진 간섭성 광원(1C)으로부터 출사된 광빔은, 굴절율 1축이방성의 기판위에 형성된 기껏해야 수분할정도의 위상영역을 가진 편광성위상판(10)(제15도에 상세한 것을 표시), 콜리메이트렌즈(2D) 및 비임스프리터(4B)를 통과한 후, 대물랜즈(5B)에 의해서 광디스크(6B)의 피트면위에 집광된다. 또한, 제14도에 있어서, (5b)는 대물렌즈(5B)를 구동하는 작동기이다.
간섭성 광원(IC)으로부터 출사된 광빔의 편광성분은 귀환광로에서 통과하는 편광분리를 위한 편광성홀로그램소자(7B)(제16도에 상세히 표시)의 기판에 대한 정상광(◎표로 표시) 및 이상광(넓은 폭의 화살표로 표시)이 소정의 파워빔에 으해 포함되도록 설정되어 있어, 간섭성 광원(IC)으로부터 출사된 광빔은 편광성위상판(10)에 의해 편광면이 분리된 2개의 파면(波面) W1, W2가 생성된다.
그런데, 정상광성분에 대해서는 편광성위상판(10)이 단지 균일투과의 평판으로서 작용하도록, 예를 들면 LiNbO3의 Z축 방향으로 위상경계를 형성하고 있다(제15도를 참조).
이하, 편광성위상판(10)에 의해서 변위를 받지 않고 균일하게 투과하는 파면 W1을 가진 성분을 주빔으로 칭하며, 편광면이 파면 W1과 직교하는 파면 W2을 가진 성분을 부빔으로 칭한다. 제17도에 표시한 바와 같이, 진행방향의 주빔은 회절한계의 빔윤곽(34)을디스크(6B)의 피트면에 형성하는 반면에, 진행방향의 부빔은 주빔의 빔윤곽(34)과 중심이 일치된 쌍봉형상의 빔윤곽(35A), (35B)을 형성한다. 또한, 제17도에 있어서, (36)은 주빔의 빔스포티이고, (37A), (37B)는 부빔의 빔스포트이다. 제17도에 있어서는, 주빔의 피크치와 부빔의 피크치와의 비가 10 : 1정도인 것으로 해서 도시하였으나, 주빔 및 부빔에 의한 판독신호의 차동연산에 의해 크로스토크가 극소로 되도록, 주빔 및 부빔의 강도비를 조정하거나 또는 광검출기의 출력단 이후의 전기회로에 의한 연산처리의 과정에서 최적화를 도모하는 것이 바람직하다.
제18도는, 제2실시예에서 사용한 편광성위상판(10)의 개략 단면구조와 파워스펙트럼분포를 설명하고 있다. 동 도면에 있어서, 프로톤교환영역(10a), (10c)은, 이상광에 대해서 π/2, π의 위상변이를 부여하는 한편, 정상광에 대해서는 (10a)의 영역을 기준으로해서 상대적인 위상차를 발생시키지 않도록 구성되어 있다. 제2도에 의거해서 설명한 내용과 마찬가지로 1차원모델로서 이상광에 대한 편광성위상판(10)의 효과를 해석하면, 이하와 같은 쌍봉형상의 빔윤곽을 얻게되는 것을 알 수 있다. 먼저 푸우리에 스펙트럼은,
로 된다. 따라서 파워스펙트럼은,
로 된다.
제18도에 있어서, 쌍봉형상의 빔윤곽(35B)은 ⑬식과 대응하는 파워스펙트럼이며, 1점 쇄선의 윤곽(38)은 ⑬식의 sinc2((2π/λf)×(a/3)×ζ)의 항을 표시하고, 1점 쇄선의 윤곽(39)는 ⑬식의 [3+4cos((2π/λf)×(2/3)×a×ζ-π/2)+2cos((2π/λf)×(4/3)×a×ζ-π)]의 항을 표시하고, 파선의 윤곽(40)은 ⑬식의 4cos2((2π/λf)×(2/3)×a×ζ-π/2)의 항을 표시하고, 점선의 윤곽(41)은 ⑬식의 2cos((2π/λf)×(4/3)×a×ζ-π)]로 표시하고 있다.
이와 같이 개구면을 기껏해야 수개 분할한 위상영역을 형성함으로써, 편광성위상판(10)의 파워스펙트럼은 동일 개구를 가진 균일파면의 회절한계 빔윤곽보다도 1/2폭(큰쪽의 1/2폭)이 크고, 축위의 강도분포는 반대로 거의 영에 가까운 빔을 형성할 수 있다.
또한, 본 발명의 상기 각 실시예에 한정되는 것은 아니고, 이상 표시한 수단을 조합하거나, 혹은 또다른 위상판을 구성하므로써, 크로스토크의 억압에 적당한 부빔을 생성할 수 있는 것으로서, 예를 들면, 제5도 혹은 제11도의 구성은 편광성위상판에도 응용가능하다.
또, 통상의 광학계에서는 원형개구가 사용되므로, Sinc함수는 Bessel함수로 치환되어야 하나, 크로스토크의 억압효과는 마찬가지로 바뀌지 않으므로 거듭해서 설명은 필요하지 않을 것이다.
상기 제2실시예의 구성에 있어서는, 설명을 간단히 위해, 간섭성 광원(IC)으로부터 사출되는 광빔의 강도분포는 광축에 대해서 회전대칭의 윤곽(예를 들면 가우스분포)을 상정해서 설명하였다. 그러나, 실제로는, 반도체레이저의 경우, 활성층의 구조등에 의해 타원형상의 광빔이 사출되므로, 반도체레이저를 광축의 둘레에 회전조정하면, 광디스크면위의 짐광스포트(주빔이면 타원형상)도 회전하게 되어 불편하다. 따라서, 제14도에 있어서, 빔정형광학계(beam shaping optical system)를 간섭성 광원(Ic)과 빔스프리터(4B)와의 사이에 삽입해서 빔윤곽의 비대칭성을 보정하는 것이 요망된다.
또한, 다른 방법으로서는, 간섭성 관원(Ic)을 회전하는 대신 편광성위상판(10)에 형성되는 위상경계를 X축에 대해서 소정의 각도만큼 미리 회전시킨 위치에 형성해두면 간섭성 광원(Ic) 또는 편광성위상판(10)의 회전축의 미세조정만으로 목적을 달성할 수 있으므로 상기한 문제는 발생하지 않는다.
또, 제2실시예의 다른 변형예로서, 원편광레이저를 사용하거나, 또는 직선편광레이저의 레이저광 진행방향 전방에 2분의 1파장판을 설치함으로써, 간섭성 광원(Ic)으로부터 출사되는 광빔의 정형의 필요성을 제거 가능하다.
다음에, 굴절율 1축이방성 기판위에 편광분리소자를 제작하는 방법에 대해서 설명한다.
동일 종류의 편광성홀로그램소자에 대해서는, 예를 들면 USP 5,062,098등에 응용예가 개시되어 있고, 또한 다른 기판재료 예를 들면 액정디바이스가 가진 편광이방성도 이용가능하다.
그러나, 상기 제2실시예에 의한 편광성홀로그램소자를 제작하는데 사용한 방법은, 이하에 설명하는 바와 같이 제작정밀도 및 코스트의 관점에서 한층 더 양호하다. 즉, LN을 프로톤교환한 소자는 표 1에 표시한 바와 같이 프로톤교환한 영역에서 이상광의 큰 굴절율변화(△ne)가 발생되므로, 이상광에 대해서 회절효과가 큰 위상형 회절격자로서 작용한다. 그러나, 프로톤교환한 영역은 정상광에 대해서도 약간의 굴절율차(△no)가 발생한다. 이와 같이 LN을 프로톤교환한 회절격자는 이상광의 굴절율과 정상광의 굴절율의 변화가 동시에 발생하므로, 상기의 편광분리기능을 완전하게는 실현할 수 없고, 위상보상을 부가할 필요가 있다. 종래의 방법(A. Ohba et al., Jap. J. appl, Phys., 28(1989) 359)에서는 프로톤교환영역에 유전체막을 형성해서 정상광의 위상차를 보상하고 있었다. 이 때문에 제작에 유전체의 퇴적과 패턴화의 공정을 요하는 외에, 위치맞춤정밀도의 문제도 남아 있었다.
이미, 제3도에 표시한 바와 같이, 본 발명의 실시예에 의한 편광분리소자는 LN기판(X판)의 표면에 프로톤교환영역(7b)을 격자형상으로 형성하여 편광이방성의 회절격자를 형성하고 있으나, 위상보상의 방법으로서 종래와는 반대로 프로톤교환영역(7b)만을 에칭(이후, 이것을 위상보상홈이라 칭함)하여, 이 프로톤교환영역(7b)을 통과하는 이상광에 대해서 프로톤교환영역(7c)과의 위상차를 상쇄하고 있다. 즉, 위상보상홈은 굴절율 1(=공기의 굴절율)이며 기판에 비해서 작아진다(정상광 : 1-no, 이상광 1-ne).
따라서 이상광의 프로톤교환에 의한 증가분(△ne)을 상쇄하고, 위상차를 없게할 때에는, 정상광에 대해서는 프로톤교환에 의한 굴절율감소분(△no)에 위상보상홈에 의한 감소분이 부가되어 위상차는 반대로 증대한다. 정상광을 최대효율에 의해 회절하고, 이상광을 회절하지 않는 조건은, 상기한 ⑦, ⑧식에 의해 부여된다.
제19도는 편광성홀로그램소자(9B)의 제작공정도이다.
먼저, 제19도(a)에 표시한 바와 같이, 두께 500㎛의 LiNbO3으로 이루어진 LN기판(X판)(40)의 표면에 스퍼터법에 의해 Ta막(41)을 230Å의 막두께로 형성한다.
다음에, 제19도(b)에 표시한 바와 같이, 석판인쇄 및 드라이에칭에 의해 Ta막(41)에 대해서 패턴화함으로써, 격자형상의 프로톤교환마스크(42)를 형성한다.
다음에, 제19도(c)에 표시한 바와 같이, 격자형상의 프로톤교환마스크(42)를 마스크로서 온도 260℃의 피롤린산(H4P207)에 의해 열처리를 행하여, 깊이 2.38㎛의 프로톤교환영역(43)을 형성한다.
다음에, 불산(HF)에 의한 에칭에 의해서, 제19도(d)에 표시한 바와 같은 위상보상홈(44)을 형성한다. 불산에칭은, 프로톤교환영역(43)에 대해서는 에칭하는 한편, LN기판(40)에 대해서는 에칭하지 않는 선택성을 가지고 있으며, 이 선택성을 이용함으로써, 위치맞춤하는 일없이 위상보상홈을 형성할 수 있다.
제20도는, 위상보상홈의 깊이(㎛)와, 회절효울(±1치의 합)(%) 및 투과율(%)과의 관계를 표시하며, 위상보상홈을 순차 에칭하면서, 회전효율 및 투과율을 측정한 결과이다. 입사파장은 780mm로서, 제20도(a)는 정상광, 제20도(b)는 이상광의 측정결과를 표시하고 있다. 위상보상홈의 깊이가 증가함에 따라, 정상광에서는 위상차가 증대하여, 회절효율 no1은 증가하며, 투과율 no0은 감소한다. 한편 이상광에서는 위상보상홈에 의해 프로톤교환영역의 굴절율증가가 상쇄되어, 회절효율 ne1이 감소되고, 투과율이 증가되고 있다. 이상광의 투과율 ne0는 에칭깊이 0.13㎛에서 최소가 된다. 이때, 소광비는 투과광(이상광)이 24dB, 회절광(정상광)이 17dB이며, 양호한 특성을 얻게 되었다.
본 발명의 제1측면에 따른 광픽업헤드장치에 의하면, 광디스크의 정보기록면은, 편광면이 서로 직교하는 주빔 및 부빔으로 이루어진 2개의 빔을 중합하여 얻은 빔으로 주사된다. 여기서, 주빔은 회전한계의 정보판독용으로 사용하고, 부빔은 주빔의 크로스토크성분보다 한층 더 많은 크로스토크성분을 포함한 보조빔으로서 사용되며, 귀환광로에서 주빔과 부빔을 분리하는 편광분리수단이 설치되어, 광검출수단에 의해 주빔 및 부빔의 광강도는 개별적으로 검출되어, 신호연산수단에 의해 크로스토크가 억압된 정보판독신호가 연산되므로 고밀도광기록매체로부터 크로스토크가 억압된 정보판독신호를 효과적으로 얻을 수 있다. 이 경우, 부빔은 위상판에 의해서, 1/2폭이 주빔보다 큰 쌍봉형상의 윤곽을 가진 빔으로서 광디스크면에 집광되므로, 단순하고 또한 안정된 광학계를 실현하고 있다.
이 때문에, 본 발명에 의하면, 종래의 3빔 방식에 비해서 디스크의 편심에 강하고, 조정이 용이해진다.
본 발명의 제2측면에 따른 광픽업헤드장치에 의하면, 편광면이 서로 직교하는 직선편광의 간섭성 광원을 간단히 얻게 되므로, 고밀도광기록매체로부터 크로스토크가 억압된 정보판독신호를 간단하고 또한 확실하게 얻을 수 있다.
본 발명의 제3측면에 따른 광픽업헤드장치에 의하면, 석판인쇄기술에 의해 형성되는 편광성홀로그램에 의해서 편광분리수단을 구성하고 있으므로, 통상의 편광분리수단인 월라스톤프리즘(Wollaston prism)등의 굴절형소자에 비해서 소형이므로, 광검출수단을 단일평면내에 집적화할 수 있고 또한 연마를 요하는 종래의 광학소자에 비해서 저렴한 비용으로 한층 더 용이하게 생산할 수 있다.
본 발명의 제4측면에 따른 광픽업헤드장치에 의하면, 부빔의 광강도를 검출하는 부빔검출기를, 광디스크의 트랙접선방향과 평행한 방향으로 분할된 2개의 광검출기로부터 구성함으로써, 크로스토크가 더욱 정밀도 높게 억압된 정보판독을 행할 수 있다.
본 발명의 제5측면에 따른 광픽업헤드장치에 의하면, 단일의 간섭성 관원으로부터 방출한 광빔의 편광성 위상판을 통과하면, 주빔과 이 주빔의 편광면과 직교하는 편광면을 가지고 또한 상기 주빔의 중심의 적어도 양쪽에 피크치를 가진 광강도분포를 나타내는 부빔이 출사되므로, 단일의 간섭성 광원에 의해서 편광면이 서로 직교하는 1쌍의 간섭성 광을 얻을 수 있다. 이 경우, 주빔 및 부빔에 의한 정보판독에 있어서는, 서로 간섭하는 일없이, 또한 양빔은 서로 맞포개진 상태에서 광디스크면을 주사하나, 귀한광로에서 편광분리되므로 효과적인 크로스토크억압의 신호처리가 가능하다.
주빔 및 부빔은, 단일의 간섭성 광원으로부터 방출된 빔이 편광성위상판을 통과하므로써 생성되는 것이므로, 주빔과 부빔과의 빔중심은 일치되고 있어, 어긋나는 일이 없다.
종래의 광픽업헤드장치에 의하면, 판독빔간의 거리가 집광빔직경에 비해서 10배이상 떨어지게 해서 빔을 검출하는 경우, 광학계 및 광학계의 조정·제어기구가 매우 복잡하게 될뿐 아니라, 광디스크자체의 회전불균일, 편심, 기타의 요인에 의거한 불안정도를 수반하였으나, 본 발명의 제5측면에 따른 광픽업헤드장치의 의하면, 단순하고 안정된 병렬동시 처리광학계를 실현할 수 있음과 동시에, 조정도 용이해진다.
본 발명의 제6측면에 따른 광픽업헤드장치에 의하면, 주빔은 광디스크의 정보기록면에서 회절한계의 소폭을 가진 빔이 되고, 부빔은 편광성위성판을 통과함으로써 개구면의 1/2영역에 π의 상대적 위상차가 부여되며, 광디스크의 정보기록면에서 회절한계의 대략 2배의 1/2폭을 가진 쌍봉형상의 빔이 된다. 이 때문에, 주빔이 그 윤곽의 베이스부분에서 픽업하는 광디스크의 피트 정보는, 부빔이 그 윤곽의 피크부분에서 픽업하는 정보에 의해 상쇄하는데 편리하다. 양 빔의 파워비를 5 : 1~10 : 1 정도로해서 편광분리된 빔을 각각 광검출수단으로부터 출력시켜, 차동검출을 함으로써 크로스토크가 안정적으로 억압된 정보판독이 가능해진다.
본 발명의 제7측면에 따른 광픽업헤드장치에 의하면, 주빔의 양쪽에 피크치를 가진 쌍봉형상의 광강도분포를 가진 빔이 서로 직교함으로써 형성되는 4개의 봉우리형상의 광강도분포를 가진 부빔을 얻을 수 있으므로, 광강도분포의 쌍봉의 직각을 광디스크의 트랙간의 크로스토크의 억압과 기록선밀도방향의 크로스토크의 억압으로 사용할 수 있으므로, 트랙간의 간섭 및 부호간의 간섭이 모두 억압된 신호판독을 얻을 수 있다.
본 발명의 제8측면에 따른 광픽업헤드장치에 의하면, 한쪽의 편광성분은 주빔으로서 출사되어, 제1, 제2 및 제3영역을 각각 통과하는 다른쪽의 편광성분은 π/2의 상대적 위상차가 부여된 부빔으로서 출사되므로, 본 발명의 제6측면에 따른 광픽업헤드장치와 마찬가지로, 크로스토크가 안정적으로 억압된 정보판독이 가능해진다. 특히, 부빔의 윤곽은, 2개의 메인로프의 바깥쪽으로 감쇄해서 확대되는 베이스부분은 거의 단조롭게 감쇄하고, 본 발명의 제6측면에 따른 위상판의 파워스펙트럼의 베이스부분의 방향전환(반경에서 1.5×(λf)/a의 근처)의 높이에 비해서 낮게 형성되어 있으며, 주빔의 바깥쪽에 인접하는 제2의 트랙으로부터의 크로스토크를 억압할 수 있는 구성으로 되어 있다.
본 발명의 제9측면에 따른 광픽업헤드장치에 의하면, 본 발명의 제8측면에 따른 효과에 부가해서, 본 발명의 제7측면에 따른 광픽업헤드장치와 주빔의 양쪽에 피크치를 가진 쌍봉형상의 광강도분포를 가진 빔이 서로 직교함으로써 형성되는 4개의 봉형상의 광강도분포를 가진 부빔을 얻을 수 있으므로, 인접하는 트랙 및 피트의 정보를 억압할 수 있고 이에 의해 트랙간 간섭 및 부호간 간섭이 억압된 신호판독을 얻을 수 있다.
본 발명의 제10측면에 따른 광픽업헤드장치에 의하면, 석판인쇄기술에 의해 형성되는 편광성홀로그램에 의해서 편광분리수단을 구성하고 있으므로, 통상의 편광분리수단인 워라스톤프리즘등의 굴절형소자에 비해서 소형이므로, 광검출수단을 단일평면에 집적화할 수 있음과 동시에, 제작과정은 연마를 요하는 종래의 광학소자에 비해서 간단하고 저코스트이다.
본 발명의 제11측면에 따른 광픽업헤드장치에 의하면, 부빔의 광강도를 검출하는 부빔검출기를, 광디스크의 트랙접선방향과 평행한 방향으로 분할된 2개의 광검출기로부터 구성함으로써, 크로스토크가 더욱 정밀도 높게 억압된 정보판독을 행할 수 있다.

Claims (13)

  1. 주빔이 되는 간섭성 광을 방출하는 제1간섭성 광원과; 이 제1간섭성 광원으로부터 방출된 간섭성 광의 편광면과 직교하는 편광면을 가진 간섭성 광을 방출하는 제2간섭성 광원과; 제2간섭성 광원으로부터 방출된 간섭성 광이 입사되고, 주빔의 광축에 수직인 평면위에서 주빔의 중심의 적어도 양쪽에 피크치를 가진 광강도분포를 나타내는 부빔을 출사하는 위상판과; 상기 제1간섭성 광원으로부터 방출된 상기 주빔과 상기 위상판으로부터 출사된 부빔을 중첩하고, 중첩된 빔을 광디스크의 정보기록면에 집광하는 집광수단과; 상기 광디스크의 정보기록면으로부터 반사된 집광빔이 입사되고, 이 집광빔을 주빔과 부빔으로 분리해서 출사하는 편광분리수단과; 이 편광분리수단으로부터 출사된 주빔과 부빔의 광강도를 개별적으로 검출해서 출력하는 광검출수단과; 크로스토크가 억압된 정보판독신호를 광검출수단으로부터의 출력신호에 의거해서 연산하는 판독신호연산수단을 구비한 것을 특징으로 하는 광픽업헤드장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1, 제2간섭성 광원은, 제1, 제2간섭성 광원으로부터 각각 방출된 간섭성 광의 편광면에 서로 직교하도록 배치된 1쌍의 직선편광레이저인 것을 특징으로 하는 광픽업헤드장치.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 편광분리수단은, 굴절율이 1축이방성인 기판과, 이 기판위에 형성된 편광성홀로그램을 가진 편광성홀로그램소자인 것을 특징으로 하는 광픽업헤드장치.
  4. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 광검출수단은, 주빔의 광강도를 검출하는 주빔검출기와 부빔의 광강도를 검출하는 부빔검출기로 이루어지고; 이 부빔검출기는 상기 광디스크의 트랙접선방향과 평행한 방향으로 분할된 2개의 광검출기로 이루어지고; 광픽업헤드장치는, 상기 2개의 광검출기로부터 얻은 차동출력신호를 트래킹오차신호로서 출력하는 오차신호출력수단을 부가하여 구비한 것을 특징으로 하는 광픽업헤드장치.
  5. 간섭성 광을 방출하는 간섭성 광원과; 이 간섭성 광원으로부터 방출된 간섭성 광이 입사되고, 주빔 및 이 주빔의 편광면과 직교하는 편광면을 가지고 또한 상기 주빔의 중심의 적어도 양쪽에 피크치를 가진 광강도분포를 나타내는 부빔을 출사하는 편광성위상판과; 이 편광성위상판으로부터 출사된 주빔과 부빔을 중첩하고, 중첩된 빔을 광디스크의 정보기록면에 집광하는 집광수단과; 상기 광디스크의 정보기록면으로부터 반사된 집광빔이 입사되고, 이 집광빔을 주빔과 부빔으로 분리해서 출사하는 편광분리수단과; 이 편광분리수단으로부터 출사된 주빔과 부빔의 광강도를 개별적으로 검출해서 출력하는 광검출수단과; 크로스토크가 억압된 정보판독신호를 관검출수단으로부터의 출력신호에 의거해서 연산하는 판독신호연산수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 광픽업헤드장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 편광성위상판은, 상기 간섭성 광원으로부터 방출된 간섭성 광을 한쪽 방향의 편광면을 가진 광성분과 이 한쪽 방향과 직교하는 다른쪽 방향의 편광면을 가진 광성분으로 분리하고; 상기 편광성위성판은, 상기 한쪽 방향의 편광면을 가진 광성분을 주빔으로서 출사하고; 상기 편광성위상판은 다른쪽 방향의 편광면을 가진 광성분에 상대적 위상차를 부여하지 않는 제1영역과 다른쪽 방향의 편광면을 가진 광성분에 π의 상대적 위상차를 부여하는 제2영역을 가지고; 상기 편광성위상판은 제1, 제2영역을 통과하는 광성분을 상기 부빔으로서 출사하는 것을 특징으로 하는 광픽업헤드장치.
  7. 제6항에 있어서, 상기 제1, 제2영역의 각각은, 상기 제1영역을 분할하여 형성된 두 개의 영역과 상기 제2영역을 분할하여 형성된 두 개의 영역이 상기 편광성위상판의 중심주위에 교호로 배치되도록, 두 개의 영역으로 각각 분할되는 것을 특징으로 하는 광픽업헤드장치.
  8. 제5항에 있어서, 상기 편광성위상판은, 상기 간섭성 광원으로부터 방출된 간섭성 광중에서 한쪽 방향의 편광면을 가진 광성분이 상대적 위상차를 이 광성분에 부여하는 일없이 출사하고; 상기 편광성위상판은 상기 간섭성 광원으로부터 방출된 간섭성 광중에서 상기 한쪽의 방향과 직교하는 다른쪽 방향의 편광면을 가진 광성분에 영의 상대적 위상차를 부여하는 제1영역과, 상기 간섭성 광원으로부터 방출된 간섭성 광중에서 다른쪽 방향의 편광면을 가진 광성분에 π/2의 상대적 위상차를 부여하는 제2영역과 상기 간섭성 광원으로부터 방출된 간섭성 광중에서 상기 다른쪽 방향의 편광면을 가진 광성분에 π의 상대적 위상차를 부여하는 제3영역을 구비하고; 상기 편광성위상판은 상기 제1, 제2 및 제3영역을 통과하는 광성분을 부빔으로서 출사하는 것을 특징으로 하는 광픽업헤드장치.
  9. 제5항에 있어서, 상기 편광성위상판은, 상기 간섭성 광원으로부터 방출된 간섭성 광중에서 한쪽 방향의 편광면을 가진 광성분이 상대적 위상차를 이 광성분에 부여하는 일없이 상기 주빔으로서 출사하고; 상기 편광성위상판은, 상기 간섭성 광원으로부터 방출된 간섭성 광중에서, 상기 한쪽의 방향과 직교하는 다른쪽 방향의 편광면을 가진 광성분에 영의 상대적 위상차를 부여해서 출사하는 제1영역, 상기 간섭성 광원으로부터 방출된 간섭성 광중에서 상기 다른쪽 방향의 편광면을 가진 광성분에 π/2의 상대적 위상차를 부여하는 제2영역 및 상기 간섭성 광원으로부터 방출된 간섭성 광중에서 상기 다른쪽 방향의 편광면을 가진 광성분에 π의 상대적 위상차를 부여하는 제3영역이 서로 평행한 영역 경계선에 의해 형성된 한쌍의 위상판으로 구성하고; 이 한쌍의 위상판은 각각의 영역경계선이 서로 직교하도록 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 광픽업헤드장치.
  10. 제5항, 제6항, 제7항, 제8항 또는 제9항에 있어서, 상기 편광분리수단은, 굴절율이 1축이방성인 기판과 이 기판위에 형성된 편광성홀로그램으로 이루어진 편광성홀로그램소자인 것을 특징으로 하는 광픽업헤드장치.
  11. 제5항, 제6항, 제7항, 제8항 또는 제9항에 있어서, 상기 광검출수단은 주빔의 광강도를 검출하는 주빔검출기와 부빔의 광강도를 검출하는 부빔검출기로 이루어지고; 이 부빔검출기는 상기 광디스크의 트랙방향으로 분할된 2개의 광검출기로 이루어지고; 상기 광픽업헤드장치는, 상기 2개의 광검출기로부터 얻은 차동출력신호를 트래킹오차신호로서 출력하는 오차신호출력수단을 부가하여 구비한 것을 특징으로 하는 광픽업헤드장치.
  12. 제3항에 있어서, 상기 광검출수단은, 주빔의 광강도를 검출하는 주빔검출기의 부빔의 광강도를 검출하는 부빔검출기로 이루어지고; 이 부빔검출기는 상기 광디스크의 트랙의 접선방향과 평행한 방향으로 분할된 2개의 광검출기로 이루어지고; 광픽업헤드장치는, 상기 2개의 광검출기로부터 얻는 차동출력신호를 트래킹오차신호로서 출력하는 오차신호출력수단을 구비한 것을 특징으로 하는 광픽업헤드장치.
  13. 제10항에 있어서, 상기 광검출수단은 주빔의 광강도를 검출하는 주빔검출기와 부빔의 광강도를 검출하는 부빔검출기로 이루어지고; 이 부빔검출기는 상기 광디스크의 트랙방향으로 분할된 2개의 광검출기로 이루어지고; 상기 광픽업헤드장치는, 상기 2개의 광검출기로부터 얻는 차동출력신호를 트래킹오차신호로서 출력하는 오차신호출력수단을 부가하여 구비한 것을 특징으로 하는 광픽업헤드장치.
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