JPWO2021111609A5 - 測定制御装置、測定システム、測定制御方法及び測定制御プログラム - Google Patents

Claims (10)

1. ３次元光センサから取得された点群データの異常箇所を検知する検知手段と、
   前記検知された異常箇所に応じて前記３次元光センサの向きを制御する制御手段と、
   前記制御された向きで前記３次元光センサが測定した点群データに基づいて、前記異常箇所の異常要因を判断する判断手段と、
   を備える、測定制御装置。
2. 前記判断手段は、前記異常箇所に応じて前記３次元光センサの向きが変更された状態で、前記変更後の異常箇所に対応する方向を測定した点群データに基づいて、前記異常要因を判断する、
   請求項１に記載の測定制御装置。
3. 前記判断手段は、前記変更後の異常箇所に対応する方向を測定した点群データにおいて異常がある場合、前記３次元光センサ側に異常があると判断し、前記変更後の異常箇所に対応する方向を測定した点群データにおいて異常がない場合、前記３次元光センサが測定する測定対象側に異常があると判断する、
   請求項２に記載の測定制御装置。
4. 前記判断手段は、前記異常箇所に応じて前記３次元光センサの向きが変更された状態で、前記変更前の異常箇所に対応する方向を測定した点群データに基づいて、前記異常要因を判断する、
   請求項１に記載の測定制御装置。
5. 前記判断手段は、前記変更前の異常箇所に対応する方向を測定した点群データにおいて異常がある場合、前記３次元光センサが測定する測定対象側に異常があると判断し、前記変更前の異常箇所に対応する方向を測定した点群データにおいて異常がない場合、前記３次元光センサ側に異常があると判断する、
   請求項４に記載の測定制御装置。
6. 前記検知手段は、前記３次元光センサにより複数回測定して取得された複数の点群データに基づいて、前記異常箇所を検知する、
   請求項１乃至５のいずれか一項に記載の測定制御装置。
7. 前記検知手段は、正常時に測定された点群データと前記取得された点群データとの比較結果に基づいて、前記異常箇所を検知する、
   請求項１乃至６のいずれか一項に記載の測定制御装置。
8. ３次元光センサと測定制御装置とを備え、
   前記測定制御装置は、
   前記３次元光センサから取得された点群データの異常箇所を検知する検知手段と、
   前記検知された異常箇所に応じて前記３次元光センサの向きを制御する制御手段と、
   前記制御された向きで前記３次元光センサが測定した点群データに基づいて、前記異常箇所の異常要因を判断する判断手段と、
   を備える、測定システム。
9. ３次元光センサから取得された点群データの異常箇所を検知し、
   前記検知された異常箇所に応じて前記３次元光センサの向きを制御し、
   前記制御された向きで前記３次元光センサが測定した点群データに基づいて、前記異常箇所の異常要因を判断する、
   測定制御方法。
10. ３次元光センサから取得された点群データの異常箇所を検知し、
    前記検知された異常箇所に応じて前記３次元光センサの向きを制御し、
    前記制御された向きで前記３次元光センサが測定した点群データに基づいて、前記異常箇所の異常要因を判断する、
    処理をコンピュータに実行させるための測定制御プログラム。