JP2017053793A - 計測装置、および物品の製造方法 - Google Patents
計測装置、および物品の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017053793A JP2017053793A JP2015179364A JP2015179364A JP2017053793A JP 2017053793 A JP2017053793 A JP 2017053793A JP 2015179364 A JP2015179364 A JP 2015179364A JP 2015179364 A JP2015179364 A JP 2015179364A JP 2017053793 A JP2017053793 A JP 2017053793A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- control unit
- unit
- unmeasured
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
【課題】未計測領域の計測に有利な計測装置を提供する。
【解決手段】第1光軸をもって物体に光を投影し、該光を投影された物体Wを、第2光軸をもって撮像する計測部を有し、該計測部の出力に基づいて物体を計測する計測装置であって、計測部を制御する制御部110を有し、制御部110は、計測部の出力に基づいて物体Wの未計測領域を推定し、推定により得られた未計測領域に基づいて、該未計測領域を計測部が計測する計測条件を設定する。
【選択図】図1
【解決手段】第1光軸をもって物体に光を投影し、該光を投影された物体Wを、第2光軸をもって撮像する計測部を有し、該計測部の出力に基づいて物体を計測する計測装置であって、計測部を制御する制御部110を有し、制御部110は、計測部の出力に基づいて物体Wの未計測領域を推定し、推定により得られた未計測領域に基づいて、該未計測領域を計測部が計測する計測条件を設定する。
【選択図】図1
Description
本発明は、計測装置、および物品の製造方法に関する。
物体の3次元形状を計測する計測装置として、投影装置と撮像装置とを含むものが知られている。この計測装置では、投影装置により光が照射された物体を撮像装置により撮像し、当該撮像により得られた画像データに基づいて3次元形状を得る。しかしながら、物体の形状や、投影装置の光軸の角度、撮像装置の光軸の角度などの要因により、得られる3次元形状に未計測領域部分(欠損部分)が生じうる。
そのような未計測部分への対処を目的として、撮像装置(受光系)を別途用意して未計測領域を計測する計測装置(特許文献1)や、物体を回転させて再計測する計測装置(特許文献2)がある。
上記特許文献の発明は、いずれも、未計測領域が生じる特定の要因に対処したものに過ぎず、それ以外の要因への対処は困難となりうる。
本発明は、例えば、未計測領域の計測に有利な計測装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明は、第1光軸をもって物体に光を投影し、該光を投影された物体を、第2光軸をもって撮像する計測部を有し、該計測部の出力に基づいて物体を計測する計測装置であって、計測部を制御する制御部を有し、制御部は、計測部の出力に基づいて物体の未計測領域を推定し、推定により得られた未計測領域に基づいて、該未計測領域を計測部が計測する計測条件を設定する、ことを特徴とする。
本発明によれば、例えば、未計測領域の計測に有利な計測装置を提供することができる。
以下、本発明を実施するための形態について図面などを参照して説明する。
(第1実施形態)
図1は、本実施形態に係る計測装置の構成を示す概略図である。本実施形態に係る計測装置は、部品、または部品を製造するための金型などを対象物(被計測物)とし、この対象物の形状や位置を非接触で計測(3次元計測)する産業装置である。図1は、本実施形態に係る計測装置100の構成を示す概略図である。なお、以下の各図において、対象物(物体)Wが載置された状態での平面内に互いに直交するX軸およびY軸を取り、このXY平面に直交する方向(本実施形態では鉛直方向)にZ軸を取っている。また、以下、計測装置100は、一例として、計測子である非接触式プローブ101を物体Wに対して移動させながら3次元計測するものとする。なお、この移動は、連続動作に限らず、計測時に一旦停止するもの(間欠動作)としてもよい。また、非接触式プローブ101を固定して物体Wを移動しながら計測してもよいし、両方を相対的に移動しながら計測してもよい。
図1は、本実施形態に係る計測装置の構成を示す概略図である。本実施形態に係る計測装置は、部品、または部品を製造するための金型などを対象物(被計測物)とし、この対象物の形状や位置を非接触で計測(3次元計測)する産業装置である。図1は、本実施形態に係る計測装置100の構成を示す概略図である。なお、以下の各図において、対象物(物体)Wが載置された状態での平面内に互いに直交するX軸およびY軸を取り、このXY平面に直交する方向(本実施形態では鉛直方向)にZ軸を取っている。また、以下、計測装置100は、一例として、計測子である非接触式プローブ101を物体Wに対して移動させながら3次元計測するものとする。なお、この移動は、連続動作に限らず、計測時に一旦停止するもの(間欠動作)としてもよい。また、非接触式プローブ101を固定して物体Wを移動しながら計測してもよいし、両方を相対的に移動しながら計測してもよい。
計測装置100は、上述のように非接触式プローブ(プローブ)101を備える。ここで、プローブ101は、第1光軸をもって物体Wに光を投影し、当該光を投影された物体Wを、第2光軸をもって撮像する計測部としうる。さらに、計測装置100は、Zスピンドル102と、Xビーム103と、Zバランサーブラケット104と、Yコラム105と、サポーター106と、モータ107と、計測用テーブル108と、設置台109と、制御部110とを備える。Zスピンドル102は、プローブ101を保持し、計測用テーブル108上に載置された物体Wに対して、プローブ101をZ軸方向に移動可能とする。Xビーム103は、Zバランサーブラケット104を介してZスピンドル102を支持し、Zスピンドル102をX軸方向に移動可能する。Zバランサーブラケット104は、Zスピンドル102の自重補償を行う。Yコラム105は、Xビーム103を支持し、Zスピンドル102をY軸方向に移動可能する。
サポーター106は、Yコラム105を支持する。モータ107は、Yコラム105を移動させるための駆動部であり、例えばリニアモーターである。なお、不図示であるが、Zスピンドル102およびXビーム103も同様の駆動部により移動される。このように、Zスピンドル102、Xビーム103、およびYコラム105は、それぞれプローブ101を移動(走査)させるための駆動機構を構成している。
計測用テーブル108は、上記のとおり物体Wを保持するものであり、設置台109上に支持されている。制御部110は、計測部(非接触式プローブ101、Zスピンドル102、Xビーム103、およびYコラム105の各動作)を制御する。なお、制御部110の詳細については後述する。
なお、上記説明した計測装置100の構成は、一例であり、以下のような変形も可能である。物体Wは、計測用テーブル108上に直接載置されるものに限られず、例えば、保持用の雇い(治具や工具)、または物体Wの位置、回転角および姿勢のうちの少なくとも一つを変更可能とするテーブル上に載置される構成としてもよい。また、計測装置100は、物体Wに対して、Zスピンドル102、Xビーム103、およびYコラム105が移動する構成に限らない。すなわち、計測装置100は、計測用テーブル108に駆動機構を設けることで、プローブ101に対して計測用テーブル108が移動する構成としてもよい。
図2は、プローブ101の構成を示す概略図である。この図2に例示するプローブ101は、光(レーザー光)を投受光することで計測を行う非接触式のプローブであり、計測原理として光切断方式(スリット光を投影する三角測量方式)を利用するものとする。なお、計測装置100に採用し得るプローブ101は、光切断方式を利用するものに限らず、焦点法、光波干渉法またはTime of Flight法などを利用するものでもよい。プローブ101は、半導体レーザ光源201およびシリンドリカルレンズ202を含む投光ユニット(投光部)と、第1撮像レンズ203、第2撮像レンズ204およびイメージセンサー(光検出器)205を含む撮像ユニット(撮像部)とを備えうる。イメージセンサー205は、物体Wからの反射光を受光する。ここで、イメージセンサー205の受光面、物体Wの物体面、および第1撮像レンズ203と第2撮像レンズ204とで構成される結像レンズの主平面は、シャインプルーフ光学系の条件を満足する(同一直線上で交わる)ことが望ましい。
投光ユニットは、半導体レーザ光源201から射出した光をシリンドリカルレンズ202に通過させることにより、スリット光(ライン光)を物体Wに投影する。半導体レーザ光源201が射出するレーザ光の強度は、外部からの指令に基づいて調整が可能である。撮像ユニットは、投光ユニットが投光する角度とは異なる角度から、物体Wに投影されたライン光をイメージセンサー205上に結像して撮像する。
信号処理部206は、A/D変換機能を有し、イメージセンサー205により光電変換して得られたアナログ光強度データ(アナログ信号)をデジタル光強度データ(デジタル信号)に変換する。また、信号処理部206は、光強度計測レンジにおける光強度データの範囲を判定する機能も有している。例えば、当該判定は、光強度を基準値と比較して行いうる。信号処理部206は、ピーク検出を介して、物体Wの形状に応じて生じるラインの歪量を得る。光切断方式は、ラインの歪量に基づいて三角測量の原理により物体Wまでの距離情報を得る。なお、三角測量は、光切断方式によるものには限定されず、ポイント光投影方式によるものや、二次元パターン投影方式(パターン投影法)によるものでもよい。
図3は、制御部110の構成を示すブロック図である。制御部110は、主制御部300と、各ユニットを制御対象とする各制御部301ないし304と、記憶部(メモリ)305と、生成部306とを含む。主制御部300は、物体Wを計測するために生成部306で生成された計測プロファイル(計測条件または計測経路)に基づいて、各制御部301ないし304を制御する。計測プロファイルは、メモリ305に記憶されている。
生成部306は、プローブ101で物体Wの形状を計測するためにプローブ101を走査する経路(計測経路)、つまりXビーム103、Yコラム105およびZスピンドル102の駆動プロファイルを生成する。この計測経路は、操作者(ユーザ)に指示された領域に基づいて生成されうる。また、計測経路は、物体Wの事前情報が無い場合でも、プローブ101やZスピンドル102が物体Wに衝突しないようにするための事前情報に基づいて生成されうる。
主制御部300は、計測プロファイルに基づいて、各制御部301ないし304を介して各ユニットを制御する。Xビーム用制御部301は、Xビーム103用のモータドライバに駆動信号を送信し、不図示のモータを駆動させることにより、Xビーム103に係る動作を制御する。また、Xビーム用制御部301は、Xビーム103に係る現在位置を計測させるトリガーを不図示の位置センサーに送信し、この位置センサーから位置データを取得する。
Yコラム用制御部302は、Yコラム105用のモータドライバに駆動信号を送信し、モータ107を駆動させることにより、Yコラム105の動作を制御する。また、Yコラム用制御部302は、Yコラム105の現在位置を計測させるトリガーを不図示の位置センサーに送信し、この位置センサーから位置データを取得する。さらに、Zスピンドル用制御部303は、Zスピンドル102用のモータドライバに駆動信号を送信し、モータを駆動させることにより、Zスピンドル102の動作を制御する。また、Zスピンドル用制御部303は、Zスピンドル102の現在位置を計測させるトリガーを不図示の位置センサーに送信し、この位置センサーから位置データを取得する。なお、上記各位置センサーとしては、例えばエンコーダを採用可能である。主制御部300は、各制御部301〜303を介して、プローブ101の位置データを得る。
プローブ用制御部304は、トリガーをイメージセンサー205に送信し、信号処理部206を介して、デジタル光強度データを取得する。光強度が計測範囲外の場合、光強度が計測範囲の上限値より大きいことを示すデータ、または光強度が計測範囲の下限値より小さいことを示すデータを、光強度データとして取得する。また、プローブ用制御部304は、プローブ101に含まれる半導体レーザ光源201の光量調整やON/OFF制御なども行う。
デジタル光強度データのピーク位置検出により、三角測量の原理から、計測対象物までの距離のデータを得ることができる。Xビーム位置、Yコラム位置、Zスピンドル位置の組合せごとに、計測対象物上の計測点の3次元位置データを得られる。得られた物体Wの3次元位置データの集合を計測データ(点群データ)と呼ぶことにする。
計測結果として、上記の点群データと、光強度データとのセットが得られる。計測条件は、投光部による投光角度(第1光軸の角度)および投影される光の量(投光量)、撮像部による撮像角度(第2光軸の角度)、計測部と物体との間の距離、撮像部における感度(光検出器205の感度)のうちの少なくとも一つに関するものとしうる。計測条件は、主制御部300により計測プロファイルとして設定される。計測条件は、メモリ305に保存される。計測結果は、計測条件とともに、メモリ305に記憶される。計測条件は、前記第1光軸の角度、前記第2光軸の角度、前記計測部と前記物体との間の距離、前記光の量、および前記撮像の感度のうちの少なくとも一つに関する
図4は、本実施形態における計測動作(処理)の流れを例示するフローチャートである。ステップS101では、主制御部300は、メモリ305に記憶された計測条件に基づいて各ユニットを制御して物体Wの形状を得る。主制御部300は、点群データと光強度とを含む計測結果(の情報)をメモリ305に記憶させる。計測結果の情報は、計測条件に対応付けられて記憶される。ステップS102では、主制御部300は、メモリ305から計測結果を読み出す。
ステップS103では、主制御部300は、対象物の表面形状を得られない部分(欠損部)の有無を判断する。ステップS103の詳細は後述する。欠損部が無いと判断されれば(YES)、計測は終了となる。欠損部が有ると判断されれば(NO)、次のステップS104に進む。ステップS104では、主制御部300は、欠損部の発生要因(未計測領域を未計測とする要因)を特定する。特定方法については後述する。
ステップS105では、主制御部300は、ステップS104で特定された要因に基づいて、次の計測条件を設定する。ステップS106では、制御部300は、次の計測条件に基づいて次の計測を実施するかを判断する。次の計測を実施する場合(YES)、ステップS101からのステップを繰り返す。次の計測を実施しない場合(NO)、計測は終了となる。このステップS106は、無限ループの回避及び計測時間の制限のために設けられており、実施するか否かの基準は、計測回数であってもよいし、経過時間であってもよい。また、被計測部分に対する欠損部の比率であってもよい。
図5は、図4のステップS103の詳細を示すフローチャートである。ステップS401では、主制御部300は、点群データを構成する各点の間の距離を得る(算出する)。ステップS402では、主制御部300は、ステップS401で得られた距離が所定の閾値以下となる点を特定する。ステップS403では、主制御部300は、ステップS402で特定した点を接続した線図を生成する。ステップS404では、主制御部300は、ステップS403で生成された線図から、空白領域の有無を判断する。空白領域ありと判断された場合(YES)、その空白領域を欠損部とする(ステップS405)。空白領域なしと判断された場合(NO)、欠損部なしとする(ステップS406)。
図6および図7により、欠損部の有無の判断について説明する。図6は、物体Wの表面の位置座標を表わす計測点(点群データ)を示したものである。物体Wの表面は、平坦面(水平部)601と、傾斜面(傾斜部)603ないし606からなる。黒いドットは、計測点602を示す。傾斜面603は、ステップS103での判断の結果、計測点がない部分(欠損部)とされる。計測点の図示は、一部省略している。
図7は、図6の対象物を上から(Z軸方向から)見た図である。図6の平坦面601に相当するのは、平坦面701である。線分704は、隣接する複数の計測点702間の距離が、いずれも所定の閾値以下であることを示す。これに対して、一点鎖線705で結ばれた複数の計測点702のそれぞれは、隣接する任意の計測点との間の距離が閾値以下となるのではない(閾値より大きい)計測点を示す。よって、一点鎖線705は、欠損部703の外縁を表わしているといえる。このようにして、主制御部300(制御部)は、欠損部703(未計測領域)を推定する。すなわち、隣接する任意の計測点との間の距離が閾値以下となるのではない計測点で囲まれた領域として未計測領域を推定する。
図8は、図4のステップS104の詳細を示すフローチャートである。ステップS201では、主制御部300は、欠損部703の外縁上にある計測点702の座標データから評価面データ(未計測領域の推定データ)を生成する。ステップS202では、主制御部300は、評価面データと欠損部の周囲の計測点における計測情報と(すなわち計測部の出力)に基づき、欠損部の発生要因(未計測領域を未計測とする要因)の特定を行う。
当該評価面(未計測領域)は、平面の領域として、数学的に容易に得る(推定する)ことができる。評価面は、上記外縁上にある任意の3点(3つ)以上の計測点の座標に基づいて生成(推定)されうる。4点(4つ)以上の計測点の座標を用いる場合、最小二乗法などを利用して生成(推定)されうる。欠損部を複数の領域に分割して、該複数の領域それぞれに関して評価面データを生成してもよい。図9は、図6に示した欠損部603を含む領域に、評価面データに係る評価面1001を重ねた状態を示す図である。図10は、図7に示した欠損部703を含む領域に評価面1001を重ねた状態を示す図である。評価面1001は、欠損部の発生要因を特定するために用いられる。
図9、図11(A)および(B)を参照して、欠損部の発生要因(未計測領域を未計測とする要因)の特定方法について説明する。図11(A)は、主制御部300が行う欠損部の発生要因を特定する方法を説明するフローチャートである。図11(B)は、欠損部の発生要因の種類を示している。ステップS301は、発生要因が図11(B)のJ1であるか、すなわち、評価面1001に対するスリット光の入射角度が許容範囲外かを判断する。評価面1001の面の傾きに基づいて、評価面1001(欠損部)に対するスリット光の入射角度を求めることができる。入射角度が許容範囲外(YES)の場合、ステップS302へ進む。ステップS302では、主制御部300は、欠損部の発生要因をスリット光の入射角度が許容範囲外であることと特定する。この判定により、この処理フローは終了する。入射角度が許容範囲内(NO)の場合、ステップS303に進む。
ステップS303では、発生要因が図11(B)のJ2であるか、すなわち、評価面1001(欠損部)がヘッド101の測距範囲外にあるかを判断する。評価面1001が測距範囲外(YES)の場合、ステップS304に進む。ステップS304では、主制御部300は、欠損部の発生要因をヘッド101の測距範囲外に評価面があることと特定する。この特定により、この処理フローは終了する。評価面1001が測距範囲内(NO)の場合、ステップS305に進む。
ステップS305では、発生要因が図11(B)のJ3であるか、すなわち、欠損部の光強度が計測レンジの上限より大きいかを判断する。ここで、当該上限は、信号処理部206を介してプローブ用制御部304に入力されている。光強度が計測レンジの上限より大きい場合(YES)、ステップS306に進む。ステップS306では、制御部300は、欠損部の発生要因を光強度が計測レンジの上限より大きいことと特定する。この特定により、この処理フローは終了する。光強度が計測レンジの上限より大きくない場合(NO)、ステップS307に進む。
ステップS307では、発生要因が図11(B)のJ4であるか、すなわち、欠損部の光強度が計測レンジの下限より小さいかを判断する。光強度が計測レンジの下限より小さい場合(YES)、ステップS308に進む。ステップS308では、制御部300は、欠損部の発生要因を光強度が計測レンジの下限より小さいことと特定する。この特定により、この処理フローは終了する。光強度が計測レンジの下限より小さくない場合(NO)、ステップS309に進む。ステップS309では、制御部300は、欠損部の発生要因を不明(以上の要因以外)とする。以上により、この処理フローは終了する。
図11(A)の処理フローが終了すると、制御部300は、図4のステップS105の計測条件の設定を行う。当該計測条件は、図11(A)で特定した要因に基づいて設定される。特定された要因が入射角度であれば、評価面1001に対して有効な入射角度でスリット光が入射するような計測条件を設定する。特定された要因が測距範囲であれば、生成部306により、欠損部が測距範囲に入るような計測経路を生成する。特定された要因が光強度の大きさであれば、主制御部300は、プローブ用制御部304を介して、半導体レーザ光源201の発光量を下げる。または、イメージセンサー205の不図示の増幅器の増倍率を下げるか、または、光信号を電気信号に変換する率を下げるかする。特定された要因が光強度の小ささであれば、主制御部300は、プローブ用制御部304を介して、光源の発光量を上げる。または、イメージセンサー205の不図示の増幅器の増倍率を上げるか、または、光信号を電気信号に変換する率を上げるかする。
また、要因が不明(以上のもの以外)であれば、複数の計測条件の組合せを変化させたり、装置のユーザに計測条件を選択または設定させたりしうる。
本実施形態は、形状結果に基づいて、欠損部(欠損部分または欠損領域)を特定し、特定した欠損部の発生要因を特定し、当該要因に基づいて計測条件を変更または設定して再計測を行う。もって、欠損部(未計測部分または未計測領域)の計測に有利な計測装置を提供することができる。
(物品製造方法に係る実施形態)
以上に説明した実施形態に係る計測(検査)装置は、物品製造方法に使用しうる。当該物品製造方法は、当該計測(検査)装置を用いて物体の計測(検査)を行う工程と、当該工程で計測(検査)を行われた物体を処理する工程と、を含みうる。当該処理は、例えば、加工、切断、搬送、組立(組付)、検査、および選別のうちの少なくともいずれか一つを含みうる。本実施形態の物品製造方法は、従来の方法に比べて、物品の性能・品質・生産性・生産コストのうちの少なくとも1つにおいて有利である。
以上に説明した実施形態に係る計測(検査)装置は、物品製造方法に使用しうる。当該物品製造方法は、当該計測(検査)装置を用いて物体の計測(検査)を行う工程と、当該工程で計測(検査)を行われた物体を処理する工程と、を含みうる。当該処理は、例えば、加工、切断、搬送、組立(組付)、検査、および選別のうちの少なくともいずれか一つを含みうる。本実施形態の物品製造方法は、従来の方法に比べて、物品の性能・品質・生産性・生産コストのうちの少なくとも1つにおいて有利である。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は、これらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形および変更が可能である。
W 対象物
101 プローブ
110 制御部
300 主制御部
305 メモリ(記憶部)
306 生成部
101 プローブ
110 制御部
300 主制御部
305 メモリ(記憶部)
306 生成部
Claims (8)
- 第1光軸をもって物体に光を投影し、該光を投影された前記物体を、第2光軸をもって撮像する計測部を有し、該計測部の出力に基づいて前記物体を計測する計測装置であって、
前記計測部を制御する制御部を有し、
前記制御部は、前記計測部の出力に基づいて前記物体の未計測領域を推定し、前記推定により得られた前記未計測領域に基づいて、該未計測領域を前記計測部が計測する計測条件を設定する、
ことを特徴とする計測装置。 - 前記制御部は、隣接する任意の計測点であって、互いの距離が閾値より大きい計測点により囲まれた領域を前記未計測領域として推定することを特徴とする請求項1に記載の計測装置。
- 前記制御部は、前記未計測領域を平面の領域として推定することを特徴とする請求項2に記載の計測装置。
- 前記制御部は、3つ以上の前記計測点に基づいて前記未計測領域を推定することを特徴とする請求項3に記載の計測装置。
- 前記制御部は、前記計測部の出力に基づいて、前記未計測領域を未計測とする要因を特定することを特徴とする請求項1ないし請求項4のうちいずれか1項に記載の計測装置。
- 前記制御部は、前記要因に基づいて前記計測条件を設定することを特徴とする請求項5に記載の計測装置。
- 前記計測条件は、前記第1光軸の角度、前記第2光軸の角度、前記計測部と前記物体との間の距離、前記光の量、および前記撮像の感度のうちの少なくとも一つに関することを特徴とする請求項1ないし請求項6のうちいずれか1項に記載の計測装置。
- 請求項1ないし請求項7のうちいずれか1項に記載の計測装置を用いて物体の計測を行う工程と、
前記工程で前記計測を行われた前記物体の処理を行う工程と、
を含むことを特徴とする物品製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015179364A JP2017053793A (ja) | 2015-09-11 | 2015-09-11 | 計測装置、および物品の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015179364A JP2017053793A (ja) | 2015-09-11 | 2015-09-11 | 計測装置、および物品の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017053793A true JP2017053793A (ja) | 2017-03-16 |
Family
ID=58317852
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015179364A Pending JP2017053793A (ja) | 2015-09-11 | 2015-09-11 | 計測装置、および物品の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2017053793A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019230320A1 (ja) * | 2018-05-29 | 2019-12-05 | オムロン株式会社 | 視覚センサシステム、制御方法およびプログラム |
JP2019219277A (ja) * | 2018-06-20 | 2019-12-26 | オムロン株式会社 | 計測システムおよび計測方法 |
JPWO2021111609A1 (ja) * | 2019-12-06 | 2021-06-10 |
-
2015
- 2015-09-11 JP JP2015179364A patent/JP2017053793A/ja active Pending
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019230320A1 (ja) * | 2018-05-29 | 2019-12-05 | オムロン株式会社 | 視覚センサシステム、制御方法およびプログラム |
JP2019207140A (ja) * | 2018-05-29 | 2019-12-05 | オムロン株式会社 | 視覚センサシステム、制御方法およびプログラム |
CN111971523A (zh) * | 2018-05-29 | 2020-11-20 | 欧姆龙株式会社 | 视觉传感器系统、控制方法及程序 |
JP7052564B2 (ja) | 2018-05-29 | 2022-04-12 | オムロン株式会社 | 視覚センサシステム、制御方法およびプログラム |
CN111971523B (zh) * | 2018-05-29 | 2022-06-10 | 欧姆龙株式会社 | 视觉传感器系统、控制方法及存储介质 |
US11745352B2 (en) | 2018-05-29 | 2023-09-05 | Omron Corporation | Vision sensor system, control method, and non-transitory computer readable storage medium |
JP2019219277A (ja) * | 2018-06-20 | 2019-12-26 | オムロン株式会社 | 計測システムおよび計測方法 |
JP7115057B2 (ja) | 2018-06-20 | 2022-08-09 | オムロン株式会社 | 計測システムおよび計測方法 |
JPWO2021111609A1 (ja) * | 2019-12-06 | 2021-06-10 | ||
WO2021111609A1 (ja) * | 2019-12-06 | 2021-06-10 | 日本電気株式会社 | 測定制御装置、測定システム、測定制御方法及び非一時的なコンピュータ可読媒体 |
JP7272462B2 (ja) | 2019-12-06 | 2023-05-12 | 日本電気株式会社 | 測定制御装置、測定システム、測定制御方法及び測定制御プログラム |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3678915B2 (ja) | 非接触三次元測定装置 | |
WO2012057283A1 (ja) | 形状測定装置、形状測定方法、構造物の製造方法およびプログラム | |
JPH0599617A (ja) | 光学走査ヘツドによつて縁部及び孔を検出する方法及び装置 | |
US6927863B2 (en) | Apparatus for measuring a measurement object | |
CN109477714B (zh) | 非接触式测头和操作方法 | |
JP2003117778A (ja) | 工作機械の精度測定装置 | |
JPH06147863A (ja) | 曲げ加工機における曲げ角度検出装置 | |
JP2017053793A (ja) | 計測装置、および物品の製造方法 | |
JP6480979B2 (ja) | 計測装置 | |
JP3678916B2 (ja) | 非接触三次元測定方法 | |
US20040227918A1 (en) | Exposure apparatus, reticle shape measurement apparatus and method | |
JP6500560B2 (ja) | 光学式センサーの校正方法、及び三次元座標測定機 | |
JPH11351840A (ja) | 非接触三次元測定方法 | |
JP6702343B2 (ja) | 形状測定装置、構造物製造システム、及び形状測定方法 | |
JP2014174047A (ja) | 計測装置、計測方法、および物品の製造方法 | |
JP6457574B2 (ja) | 計測装置 | |
JP2016024067A (ja) | 計測方法および計測装置 | |
JP2011027440A (ja) | 形状測定方法及び形状測定装置 | |
JP6252178B2 (ja) | 形状測定装置、姿勢制御装置、構造物製造システム、及び、形状測定方法 | |
JP6287153B2 (ja) | センサユニット、形状測定装置、及び構造物製造システム | |
TWI511821B (zh) | Laser processing machine | |
KR101833055B1 (ko) | 3차원 측정 장치 | |
JP2016095243A (ja) | 計測装置、計測方法、および物品の製造方法 | |
KR20210104893A (ko) | 마스크 자세 모니터링 방법, 장치 및 마스크 입도 검측 설비 | |
JP4340138B2 (ja) | 非接触式3次元形状測定装置 |