JPWO2021019018A5 - - Google Patents
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Claims (14)
- エンドエフェクタ(11)と、
矯正リング(12)と、
吸盤(13)と、を備え、
前記吸盤(13)は、前記矯正リング(12)内に配置され、
前記吸盤(13)の第1部分は真空供給部に接続可能であり、前記吸盤(13)の第2部分は、前記真空供給部によって提供される減圧により、基板に取り付け可能であり、
前記吸盤(13)は、常圧状態で、矯正リング(12)から突出し、
前記吸盤(13)は、減圧状態で、前記矯正リング(12)と同じ高さに存在し、前記基板は、前記矯正リング(12)が前記基板に接触するように、前記吸盤(13)により保持され、
前記矯正リング(12)は、前記エンドエフェクタ(11)から取り外し可能に取り付けられ、前記吸盤(13)もまた、前記エンドエフェクタ(11)から取り外し可能に取り付けられる、
ウェハ用の基板処理装置(10)。 - 前記矯正リング(12)は、前記吸盤(13)を囲み、前記吸盤(13)の半径方向の変形を制限する、
請求項1に記載のウェハ用の基板処理装置(10)。 - 前記吸盤(13)は、減圧状態で、地面に対して、実質的に水平位置または垂直位置において、前記基板を保持する、
請求項1または2に記載のウェハ用の基板処理装置(10)。 - 前記矯正リング(12)は、前記基板に接触し、
前記基板が非平面となる場合、非平面の前記基板を、少なくとも部分的に矯正する、
請求項1から3のいずれか一項に記載のウェハ用の基板処理装置(10)。 - 前記吸盤(13)は、常圧状態で、前記矯正リング(12)から距離d突出し、
前記基板のサイズsに対する距離dの比は、30:1から800:1までの範囲である、
請求項1から4のいずれか一項に記載のウェハ用の基板処理装置(10)。 - 前記矯正リング(12)の外周は、前記吸盤(13)の外周より大きい、
請求項1から5のいずれか一項に記載のウェハ用の基板処理装置(10)。 - 前記吸盤(13)の基板接触面(14)は、常圧状態で、前記矯正リング(12)から突出する、
請求項1から6のいずれか一項に記載のウェハ用の基板処理装置(10)。 - 前記矯正リング(12)は、前記吸盤(13)のカップ材料より、剛性が高い材料で形成される、
請求項1から7のいずれか一項に記載のウェハ用の基板処理装置(10)。 - 複数の吸盤(13)、好ましくは3つの吸盤(13)をさらに備える、
請求項1から8のいずれか一項に記載のウェハ用の基板処理装置(10)。 - 複数の矯正リング(12)、好ましくは3つの矯正リング(12)をさらに備え、
該矯正リング(12)は、前記吸盤(13)のそれぞれを取り囲む、
請求項9に記載のウェハ用の基板処理装置(10)。 - 請求項1から10のいずれか一項に記載のウェハ用の基板処理装置(10)と、
前記基板処理装置(10)の吸盤(13)の第1部分と接続される前記真空供給部と、
を備える、ウェハ用の基板処理システム。 - 基板処理装置(10)の矯正リング(12)を交換するための少なくとも1つの交換用矯正リングをさらに備える、
請求項11に記載のウェハ用の基板処理システム。 - 矯正リング(12)内に配置された吸盤(13)を準備するステップと、
前記吸盤(13)の第2部分と基板との間の接触を提供するステップと、
前記基板が前記吸盤(13)により保持されるように、真空供給部によって、減圧状態を提供するステップと、を含み、
前記矯正リング(12)は、エンドエフェクタ(11)から取り外し可能に取り付けられており、
前記吸盤(13)の第1部分は、真空供給部に接続されており、前記吸盤(13)は、常圧状態で、前記矯正リング(12)から突出しており、
前記吸盤(13)は、減圧状態で、前記矯正リング(12)と同じ高さに存在し、前記矯正リング(12)は、前記基板に接触し、
前記吸盤(13)もまた、前記エンドエフェクタ(11)から取り外し可能に取り付けられる、
基板処理方法。 - 前記矯正リング(12)は、
前記基板に接触し、前記基板が非平面となる場合、減圧状態で、非平面の前記基板を、少なくとも部分的に矯正する、
請求項13に記載の基板処理方法。
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