JPWO2020230473A5 - - Google Patents

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003253261A (ja) * 2001-12-28 2003-09-10 Sony Corp 蛍光性物質、複合材料、コート材料、塗料、インク、人工皮膚、人工皮膚の接触情報処理方法、人工発光皮膚、人工発光毛髪、発光素子、電子装置、発光システム、表示システム、フレキシブル発光材料、超音波発光性物質、交通標識、発光方法、複合材料の製造方法および発光素子の製造方法
JP5234546B2 (ja) * 2009-02-20 2013-07-10 独立行政法人産業技術総合研究所 応力発光解析装置、応力発光解析方法、応力発光解析プログラムおよび記録媒体
US9964493B2 (en) * 2013-09-10 2018-05-08 The University Of Akron Mechanoluminescence paint sensor for stress and crack visualizations
JP2015075477A (ja) * 2013-10-11 2015-04-20 独立行政法人産業技術総合研究所 応力発光評価装置並びに応力発光評価方法
JP6346036B2 (ja) * 2014-09-09 2018-06-20 株式会社日立ハイテクサイエンス 蛍光x線分析装置及びその測定位置調整方法
CN105865673B (zh) * 2016-04-09 2019-01-22 南昌航空大学 一种单光谱实现多点应力分布监测的方法
JP6786990B2 (ja) * 2016-09-20 2020-11-18 日本電産トーソク株式会社 三次元形状測定装置
CN108732179A (zh) * 2017-04-14 2018-11-02 中国科学院城市环境研究所 一套无线智能应力发光结构健康监测系统
JP2019002702A (ja) * 2017-06-12 2019-01-10 株式会社トヨタプロダクションエンジニアリング 歪み量算出装置、歪み量算出方法及び歪み量算出プログラム
JP6912790B2 (ja) * 2017-08-24 2021-08-04 ユアサシステム機器株式会社 変形試験器
JP6470864B1 (ja) * 2018-08-31 2019-02-13 株式会社トヨタプロダクションエンジニアリング 応力発光計測装置及び応力発光計測方法

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