JPWO2020187543A5 - - Google Patents
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Description
上記の診断方法を用いて、ダイオード相互接続（ＯＲ接続）を介して、２つのトランジスタからなるＡ／Ｄ変換器に複数の半導体スイッチを接続することができる。したがって、診断対象の半導体のＰＷＭ制御回路が位相シフトされている場合、すべての半導体はＡ／Ｄ変換器とコントローラのタイマ入力を介して監視できる。
Claims (4)
- 半導体スイッチの故障を確認する方法であって、
前記半導体スイッチ（Ｓ３）が可変デューティ・サイクルを有するＰＷＭ信号で駆動され、
（ａ）前記半導体スイッチ（Ｓ３）が１００％又は０％のデューティ・サイクルで駆動されるとき、前記半導体スイッチ（Ｓ３）を流れる電流の電流測定により前記半導体スイッチ（Ｓ３）の故障が判定され、
（ｂ）前記半導体スイッチ（Ｓ３）が０％より大きく１００％より小さいデューティ・サイクルで駆動されるとき、前記半導体スイッチ（Ｓ３）で生成された電圧パルスが評価のためにカウントされ、前記電圧パルスの評価の結果、前記電圧パルスが生成されていない場合、前記半導体スイッチ（Ｓ３）の短絡又は開回路が検出されることを特徴とする、方法。 - 前記０％より大きく１００％より小さいデューティ・サイクルが前記１００％又は０％のデューティ・サイクルに変化したとき、前記（ｂ）での前記電圧パルスの評価は中止され、前記半導体スイッチ（Ｓ３）の故障は、前記（ａ）での前記電流測定により判定される、請求項１に記載の方法。
- コンデンサ（Ｃ４）及びＡ／Ｄ変換器を備え、
前記半導体スイッチ（Ｓ３）で生成された電圧パルスは、前記コンデンサ（Ｃ４）を介して前記半導体スイッチ（Ｓ３）から分岐され、前記Ａ／Ｄ変換器に印加され、前記Ａ／Ｄ変換器は、評価のためにコントローラのカウンタ入力にデジタル信号を印加する、請求項１又は２に記載の方法を実施するためのデバイス。 - ダイオード（Ｄ１）を更に備え、
前記コンデンサ（Ｃ４）によって分岐された電圧パルスが、前記ダイオード（Ｄ１）によって、前記Ａ／Ｄ変換器に印加される正のパルスに変換される、
請求項３に記載のデバイス。
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