JPWO2020079870A1 - 付加製造装置および付加製造方法 - Google Patents

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Abstract

付加製造装置は、付加対象面(22)の加工領域(26)に対して造形材料を供給する材料供給部と、造形材料を溶融させるレーザビーム(24)を加工領域(26)へ照射する照射部と、材料供給部と照射部とを制御し、レーザビーム(24)の照射により造形材料が溶融して形成される玉状のビードを用いて造形物の少なくとも一部を造形するための制御を担う制御装置と、を備える。付加製造装置は、造形物の形状精度の向上が可能である。

Description

本発明は、ワイヤ式の付加製造加工を行う付加製造装置および付加製造方法に関する。
従来、三次元の立体物を造形する技術として、付加製造(Additive Manufacturing:AM)と呼ばれる技術を用いた付加製造装置が知られている。特許文献1には、ワイヤを繰り返し溶滴状に溶融して加工物の上に堆積させることによって所望の形状の造形物を作る付加製造システムが開示されている。特許文献1に記載された付加製造システムでは、溶着材料ワイヤに電流を供給することにより溶着材料ワイヤの先端に溶融滴が形成される。そして、加工物の表面上に形成される溶融池の中に溶融滴が堆積されることで造形物が形成される。
特開2016−179501号公報
しかしながら、上記特許文献1に記載された付加製造システムでは、ワイヤに供給する電流を制御することによって、ワイヤの溶融と、ワイヤからの溶滴の切り離しとが行われる。この場合、ワイヤと加工物との間にアーク放電が発生すると、加工物が破壊される可能性がある。このため、特許文献1に記載された付加製造システムでは、ワイヤと加工物との間にアーク放電が発生しないようにワイヤに供給する電流を制御する必要があり、溶融時間が長くなる。そして、溶融時間が長くなると溶滴が大きくなり、造形物の形状精度が低下してしまう、という問題があった。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、造形物の形状精度の向上が可能な付加製造装置を得ることを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかる付加製造装置は、被加工物の付加対象面に造形物を造形する付加製造装置である。付加製造装置は、付加対象面の加工領域に対して造形材料を供給する材料供給部と、造形材料を溶融させるレーザビームを加工領域へ照射する照射部と、材料供給部と照射部とを制御し、レーザビームの照射により造形材料が溶融して形成される玉状のビードを用いて造形物の少なくとも一部を造形するための制御を担う制御装置と、を備える。
本発明にかかる付加製造装置は、造形物の形状精度の向上が可能である、という効果を奏する。
本発明の実施の形態1にかかる付加製造装置を示す図 本発明の実施の形態1における加工領域を説明する模式図 本発明の実施の形態1にかかる制御装置のハードウェア構成を示すブロック図 本発明の実施の形態1にかかる付加製造装置の動作を説明するフローチャート 図1に示す付加製造装置の加工領域を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置の加工領域へ吐出されたワイヤの先端が付加対象面に接触した状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置の加工領域へレーザビームが照射された状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置の加工領域へのワイヤの供給が開始された状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置の加工領域からワイヤが引き抜かれる状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置の加工領域へのレーザビームの照射が停止された状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置の加工ヘッドが次の加工領域に移動する状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置による造形物の造形方法を説明する模式断面図 図1に示す付加製造装置による玉ビードの形成順序を説明する模式図 本発明の実施の形態2における付加製造装置の動作を説明するフローチャート 図1に示す付加製造装置の加工ヘッドが第2の位置に移動したときのレーザビームの中心軸の位置を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置においてワイヤの先端がレーザビームの中心軸と交わる位置までワイヤが吐出された状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置のワイヤの先端を付加対象面に接触させた状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置の加工ヘッドが次の加工領域に移動する状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置による4層目の玉ビード層を形成する状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置の実施の形態3における動作を説明するフローチャート 図1に示す付加製造装置の加工ヘッドが第1の位置に移動したときのレーザビームの中心軸の位置を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置においてワイヤが待機位置まで吐出された状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置において加工領域へレーザビームの照射を開始した状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置の加工領域へのワイヤの供給が開始された状態を示す模式断面図 本発明の実施の形態3におけるワイヤの先端位置の算出方法を説明するための模式図 本発明の実施の形態3におけるワイヤの先端位置の算出方法を説明するための条件を示した図 図1に示す付加製造装置の実施の形態4における動作を説明するフローチャート 図1に示す付加製造装置のワイヤが上方に移動する状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置の加工領域からワイヤが引き抜かれる状態を示す模式断面図 本発明の実施の形態5における加工ヘッドの移動方向とワイヤの供給方向との関係との一例を示す図 図1に示す付加製造装置の実施の形態6における動作を説明するフローチャート 図1に示す付加製造装置の加工ヘッドが第1の位置に移動したときのレーザビームの中心軸の位置を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置において加工領域へ吐出されたワイヤの先端が付加対象面に接触した状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置の加工領域へのワイヤの供給が開始された状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置において加工領域へレーザビームの照射を開始した状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置において溶融ワイヤが付加対象面に溶着した状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置の実施の形態6における他の動作を説明するフローチャート 図1に示す付加製造装置の加工ヘッドが第1の位置に移動したときのレーザビームの中心軸の位置を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置においてワイヤの先端が付加対象面に接触しない位置までワイヤが吐出された状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置の加工領域へのワイヤの供給が開始された状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置において加工領域へレーザビームの照射を開始した状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置において溶融ワイヤが付加対象面に溶着した状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置に計測システムが設けられた状態を示す図 図1に示す付加製造装置の実施の形態7における動作を説明するフローチャート 図1に示す付加製造装置の加工ヘッドが第1の位置に移動したときのレーザビームの中心軸の位置を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置においてワイヤの先端が加工領域に接触しない位置までワイヤが吐出された状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置において加工領域へレーザビームの照射を開始した状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置の加工領域へのワイヤの供給が開始された状態を示す模式断面図 図1に示す付加製造装置での付加加工においてワイヤの供給速度が過剰である場合のワイヤの供給状態の画像を示す図 図1に示す付加製造装置での付加加工においてワイヤの供給速度が正常である場合のワイヤの供給状態の画像を示す図
以下に、本発明の実施の形態にかかる付加製造装置および付加製造方法を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。
実施の形態1.
図1は、本発明の実施の形態1にかかる付加製造装置100を示す図である。図2は、本発明の実施の形態1における加工領域26を説明する模式図である。付加製造装置100は、ビームの照射によって溶融させた材料を被加工物の付加対象面へ付加する付加加工により、3次元の造形物を製造する。本実施の形態1において、ビームはレーザビーム24であって、材料はワイヤ状の造形材料であり金属材料のワイヤ5であるものとする。なお、ワイヤ状の造形材料は、金属以外の材料であってもよい。
付加製造装置100は、ベース材17にビードを堆積させることによって、金属材料による堆積物18をベース材17の表面に形成する。ビードは、溶融したワイヤ5が凝固することによって形成される物体であり堆積物18である。本実施の形態1において、ビードとして、玉状のビードを形成する。以下では、玉状のビードを玉ビードと称する。すなわち、玉ビードは、ワイヤ5が溶融凝固した玉状の金属である。ベース材17は、ステージ15に載置される。被加工物とは、ベース材17もしくは堆積物18を指すものとする。造形物とは、加工プログラムにしたがった材料の付加を終えた後の堆積物18を指すものとする。図1に示すベース材17は板材である。ベース材17は、板材以外のものであっても良い。
付加製造装置100は、ビームノズル11とワイヤノズル12とガスノズル13とを有する加工ヘッド10を備える。ビームノズル11は、材料を溶融させる熱源であるレーザビーム24を、被加工物へ向けて出射する。ワイヤノズル12は、被加工物におけるレーザビーム24の照射位置へ向けてワイヤ5を進行させる。
ガスノズル13は、堆積物18の酸化抑制および玉ビードの冷却のためのシールドガスを被加工物へ向けて噴出する。本実施の形態1において、シールドガスは不活性ガス25であるものとする。ビームノズル11とワイヤノズル12とガスノズル13とは、加工ヘッド10に固定されることにより、互いの位置関係が一意に定められている。すなわち、加工ヘッド10により、ビームノズル11とガスノズル13とワイヤノズル12との相対位置関係が固定されている。
レーザ発振器2は、レーザビーム24を発振する。ビーム源であるレーザ発振器2からのレーザビーム24は、光伝送路であるファイバーケーブル3を通って加工ヘッド10へ伝搬する。レーザ発振器2とファイバーケーブル3と加工ヘッド10とにより、ワイヤ5を溶融させるレーザビーム24を被加工物へ照射する照射部が構成される。ビームノズル11から被加工物へ照射されるレーザビーム24と、ワイヤ5の中心軸CWとは、非同軸とされてもよく、同軸とされてもよい。ドーナツ状に成形されたドーナツビームをレーザビーム24に使用することにより、または複数本に分岐されたレーザビームをレーザビーム24に使用することにより、ビームノズル11から被加工物へ照射されるレーザビーム24と、ワイヤ5の中心軸CWとを同軸上に配置することが可能である。なお、本実施の形態1では、ビームノズル11から被加工物へ照射されるレーザビーム24と、ワイヤ5の中心軸CWとが非同軸である場合について説明する。ガス供給装置7は、配管8を通じてガスノズル13へガスを供給する。ガス供給装置7と配管8とガスノズル13とにより、加工領域26へ不活性ガス25を噴出するガス供給部が構成される。
ワイヤ5が巻き付けられているワイヤスプール6は、材料の供給源である。サーボモータである回転モータ4の駆動に伴ってワイヤスプール6が回転することによって、ワイヤ5はワイヤスプール6から繰り出される。ワイヤスプール6から繰り出されたワイヤ5は、ワイヤノズル12を通されて、レーザビーム24の照射位置へ供給される。また、ワイヤ5をワイヤスプール6から繰り出す場合と逆方向に回転モータ4を逆回転させることにより、レーザビーム24の照射位置へ供給されたワイヤ5をレーザビーム24の照射位置から引き抜くことができる。この場合、ワイヤスプール6から繰り出されているワイヤ5におけるワイヤスプール6側の一部がワイヤスプール6に巻き取られる。回転モータ4とワイヤスプール6とワイヤノズル12とにより、ワイヤ供給部19が構成される。
なお、ワイヤノズル12には、ワイヤスプール6からワイヤ5を引き出すための動作機構が設けられても良い。付加製造装置100は、ワイヤスプール6の回転モータ4とワイヤノズル12の動作機構との少なくとも一方が設けられることによって、レーザビーム24の照射位置へワイヤ5を供給可能とする。図1では、ワイヤノズル12の動作機構の図示を省略している。
ヘッド駆動装置14は、X軸方向、Y軸方向およびZ軸方向の各方向へ加工ヘッド10を移動させる。X軸、Y軸およびZ軸は、互いに垂直な3軸である。X軸およびY軸は、水平方向に平行な軸である。Z軸方向は、鉛直方向である。ヘッド駆動装置14は、X軸方向への加工ヘッド10の移動のための動作機構を構成するサーボモータと、Y軸方向の加工ヘッド10の移動のための動作機構を構成するサーボモータと、Z軸方向への加工ヘッド10の移動のための動作機構を構成するサーボモータとを有する。ヘッド駆動装置14は、3軸のそれぞれの方向の並進運動を可能とする動作機構である。図1では、各サーボモータの図示を省略している。付加製造装置100は、ヘッド駆動装置14により加工ヘッド10を移動させることで、被加工物におけるレーザビーム24の照射位置を移動させることができる。付加製造装置100は、ステージ15を移動させることによって、被加工物におけるレーザビーム24の照射位置を移動させてもよい。
図1に示す加工ヘッド10では、ビームノズル11からZ軸方向へレーザビーム24を進行させる。ワイヤノズル12は、XY面内においてビームノズル11とは離れた位置に設けられており、Z軸に対して斜めの方向へワイヤ5を進行させる。なお、ワイヤノズル12は、加工ヘッド10における固定方向を変更して、Z軸に対して平行な方向へワイヤ5を進行させてもよい。ワイヤノズル12は、ワイヤ5が所望の位置に供給されるようにワイヤ5の進行を制限するために用いられる。
図1に示す加工ヘッド10において、ガスノズル13は、XY面内においてビームノズル11の外周側にビームノズル11と同軸に設けられており、ビームノズル11から出射されるレーザビーム24の中心軸に沿うようにガスを噴出する。すなわち、ビームノズル11とガスノズル13とは、互いに同軸上に配置されている。なお、ガスノズル13は、Z軸に対して斜めの方向へガスを噴出してもよい。すなわち、ガスノズル13は、ビームノズル11から出射されるレーザビーム24の中心軸に対して斜めの方向へガスを噴出してもよい。
回転機構16は、第1軸を中心とするステージ15の回転と、第1軸に垂直な第2軸を中心とするステージ15の回転とを可能とする動作機構である。図1に示す回転機構16において、第1軸はX軸に平行な軸であって、第2軸はY軸に平行な軸である。回転機構16は、第1軸を中心にステージ15を回転させるための動作機構を構成するサーボモータと、第2軸を中心にステージ15を回転させるための動作機構を構成するサーボモータとを有する。回転機構16は、2軸のそれぞれを中心とする回転運動を可能とする動作機構である。図1では、各サーボモータの図示を省略している。付加製造装置100は、回転機構16によりステージ15を回転させることで、被加工物の姿勢または位置を変更することができる。すなわち、付加製造装置100は、ステージ15を回転させることで、被加工物におけるレーザビーム24の照射位置を移動させることができる。回転機構16を用いることで、テーパ形状を有する複雑な形状も造形することができる。
制御装置1は、加工プログラムに従って付加製造装置100を制御する。制御装置1は、供給部と照射部とガス供給部とを制御し、ワイヤ5が溶融して形成される複数の玉ビード32により造形物101を造形するための制御を担う。制御装置1には、たとえば数値制御装置が用いられる。制御装置1は、ヘッド駆動装置14へ移動指令を出力することによって、ヘッド駆動装置14の駆動を制御して、加工ヘッド10を移動させる。制御装置1は、ビーム出力の条件に応じた指令をレーザ発振器2へ出力することによって、レーザ発振器2によるレーザ発振を制御する。
制御装置1は、材料の供給量の条件に応じた指令を回転モータ4へ出力することによって、回転モータ4の駆動を制御する。制御装置1は、回転モータ4の駆動を制御することによって、ワイヤスプール6から照射位置へ向かうワイヤ5の速度を調整する。以下の説明にて、かかる速度を、供給速度と称することがある。供給速度は、時間当たりの材料の供給量を表す。
制御装置1は、ガスの供給量の条件に応じた指令をガス供給装置7へ出力することによって、ガス供給装置7からガスノズル13への不活性ガス25の供給量を制御する。制御装置1は、回転機構16へ回転指令を出力することによって、回転機構16の駆動を制御する。すなわち、制御装置1は、各種指令を出力することによって、付加製造装置100の全体を制御する。
造形物101は、ビームノズル11より照射されるレーザビーム24を用いて加工領域26に溶融ワイヤ21を堆積することで形成される。加工領域26は、図2に示すように、ワイヤ5が供給され、ワイヤ5にレーザビーム24が照射される。また、加工領域26では、ベース材17の表面または堆積物18の表面からなる付加対象面22が溶融して溶融池23が形成される。そして、加工領域26では、ワイヤ5が溶けて生成される溶融ワイヤ21が、溶融池23に溶着される。付加対象面22は、溶融ワイヤ21が溶着して堆積物18が形成される付加加工の加工対象面である。加工領域26は、付加対象面22において付加加工が行われる加工対象となる領域である。
ヘッド駆動装置14と回転機構16とを連動させて加工ヘッド10とステージ15とを動かすことで、加工領域26の位置を変化させることができ、所望の形状の造形物101を得ることができる。
ここで、制御装置1のハードウェア構成について説明する。図1に示す制御装置1は、本実施の形態1の付加製造装置100の制御を実行するためのプログラムである制御プログラムがハードウェアで実行されることによって実現される。
図3は、本発明の実施の形態1にかかる制御装置1のハードウェア構成を示すブロック図である。制御装置1は、各種処理を実行するCPU(Central Processing Unit)41と、データ格納領域を含むRAM(Random Access Memory)42と、不揮発性メモリであるROM(Read Only Memory)43と、外部記憶装置44と、制御装置1への情報の入力および制御装置1からの情報の出力のための入出力インタフェース45とを有する。図3に示す各部は、バス46を介して相互に接続されている。
CPU41は、ROM43および外部記憶装置44に記憶されているプログラムを実行する。制御装置1による、付加製造装置100の全体の制御は、CPU41を使用して実現される。
外部記憶装置44は、HDD(Hard Disk Drive)あるいはSSD(Solid State Drive)である。外部記憶装置44は、制御プログラムと各種データとを記憶する。ROM43には、制御装置1であるコンピュータまたはコントローラの基本となる制御のためのプログラムであるBIOS(Basic Input/Output System)あるいはUEFI(Unified Extensible Firmware Interface)といったブートローダであって、ハードウェアを制御するソフトウェアまたはプログラムが記憶されている。なお、制御プログラムは、ROM43に記憶されても良い。
ROM43および外部記憶装置44に記憶されているプログラムは、RAM42にロードされる。CPU41は、RAM42に制御プログラムを展開して各種処理を実行する。入出力インタフェース45は、制御装置1の外部の装置との接続インタフェースである。入出力インタフェース45には、加工プログラムが入力される。また、入出力インタフェース45は、各種指令を出力する。制御装置1は、キーボードおよびポインティングデバイスといった入力デバイス、およびディスプレイといった出力デバイスを有しても良い。
制御プログラムは、コンピュータによる読み取りが可能とされた記憶媒体に記憶されたものであっても良い。制御装置1は、記憶媒体に記憶された制御プログラムを外部記憶装置44へ格納しても良い。記憶媒体は、フレキシブルディスクである可搬型記憶媒体、あるいは半導体メモリであるフラッシュメモリであっても良い。制御プログラムは、他のコンピュータあるいはサーバ装置から通信ネットワークを介して、制御装置1となるコンピュータあるいはコントローラへインストールされても良い。
制御装置1の機能は、付加製造装置100の制御のための専用のハードウェアである処理回路によって実現されても良い。処理回路は、単一回路、複合回路、プログラム化されたプロセッサ、並列プログラム化したプロセッサ、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)、FPGA(Field-Programmable Gate Array)、又はこれらの組み合わせである。制御装置1の機能は、一部を専用のハードウェアで実現し、他の一部をソフトウェアまたはファームウェアで実現するようにしても良い。
次に、図4から図11を参照して、本実施の形態1にかかる付加製造装置100の動作について説明する。図4は、本発明の実施の形態1にかかる付加製造装置100の動作を説明するフローチャートである。図5は、図1に示す付加製造装置100の加工領域26を示す模式断面図である。図6は、図1に示す付加製造装置100の加工領域26へ吐出されたワイヤ5の先端が付加対象面22に接触した状態を示す模式断面図である。図7は、図1に示す付加製造装置100の加工領域26へレーザビーム24が照射された状態を示す模式断面図である。図8は、図1に示す付加製造装置100の加工領域26へのワイヤ5の供給が開始された状態を示す模式断面図である。図9は、図1に示す付加製造装置100の加工領域26からワイヤ5が引き抜かれる状態を示す模式断面図である。図10は、図1に示す付加製造装置100の加工領域26へのレーザビーム24の照射が停止された状態を示す模式断面図である。図11は、図1に示す付加製造装置100の加工ヘッド10が次の加工領域26に移動する状態を示す模式断面図である。図5から図11では、付加対象面22における加工領域26の周辺の状態を示している。なお、図7から図10においては、不活性ガス25の記載を省略している。
まず、ステップS10において、加工ヘッド10が、ベース材17の付加対象面22における加工領域26の上方の予め定められた第1の位置に移動して、停止する。ここでの付加対象面22は、ベース材17において玉ビード32が堆積される面であり、ステージ15に載置されたベース材17の上面である。加工ヘッド10は、図5に示すように、ビームノズル11から出射されるレーザビーム24の中心軸CLが、付加対象面22における加工領域26の中央位置とされる第1の位置に移動する。
次に、ステップS20において、ワイヤノズル12が、図6に示すように付加対象面22における加工領域26へ向けて加工領域26の上方から斜めにワイヤ5を吐出して、ワイヤ5の先端を付加対象面22に接触させる。すなわち、本実施の形態1においては、レーザビーム24を付加対象面22における加工領域26に照射する前に、ワイヤ5の先端が付加対象面22に接触した状態とされる。ワイヤ5を吐出するとは、付加対象面22の加工領域26におけるレーザビーム24の照射位置へ向けてワイヤノズル12からワイヤ5を進行させて供給することである。
このとき、ワイヤノズル12から吐出されて付加対象面22に接触したワイヤ5の中心軸CWと、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとが、付加対象面22の表面で交わっている、もしくは、ワイヤ5の中心軸CWは、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLからワイヤノズル12側のレーザビーム24のビーム半径内で、付加対象面22の表面で交わっていることが好ましい。これにより、付加対象面22において、ワイヤ5の中心軸CWと加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとの交点を中心として玉ビード32を形成することができる。
次に、ステップS30において、図7に示すようにレーザビーム24が付加対象面22における加工領域26へ向けて照射され、付加対象面22における加工領域26に配置されたワイヤ5に照射される。また、レーザビーム24の照射に合わせて、ガスノズル13から加工領域26への不活性ガス25の噴出が開始される。この場合、レーザビーム24を付加対象面22に照射する前に、予め定められた一定時間にわたってガスノズル13から不活性ガス25を噴出させることが好ましい。これにより、ガスノズル13内に残存していた酸素などの活性ガスをガスノズル13内から除去することができる。
次に、ステップS40において、図8に示すように、ワイヤノズル12が加工領域26へのワイヤ5の供給を開始する。すなわち、ワイヤノズル12が、付加対象面22へ向けてワイヤ5をさらに吐出する。これにより、予め加工領域26に配置されていたワイヤ5とレーザビーム24の照射開始後に加工領域26へ供給されたワイヤ5とが溶融した溶融ワイヤ21が、付加対象面22に溶着する。これにより、付加対象面22の加工領域26に、堆積物18である玉ビード32が形成される。以降、予め決められた供給時間の間、加工領域26へのワイヤ5の供給が継続される。
ワイヤ5の供給速度は、回転モータ4の回転速度で調整することができる。ワイヤ5の供給速度は、レーザビーム24の出力によって制限がある。すなわち、加工領域26への溶融ワイヤ21の適正な溶着を実現するためのワイヤ5の供給速度とレーザビーム24の出力とには相関がある。レーザビーム24の出力を上昇させることにより、玉ビード32の造形速度を高めることができる。
レーザビーム24の出力に対してワイヤ5の供給速度が速すぎる場合は、ワイヤ5が溶けずに残る。レーザビーム24の出力に対してワイヤ5の供給速度が遅い場合には、ワイヤ5が過剰に加熱されることにより、溶融ワイヤ21が液滴状にワイヤ5から落下し、所望の形状に溶着されない。
また、玉ビード32の大きさは、ワイヤ5の供給時間およびレーザビーム24の照射時間を変更することにより調整することができる。ワイヤ5の供給時間およびレーザビーム24の照射時間を長くすることにより、直径の大きな玉ビード32を形成することが可能である。一方、ワイヤ5の供給時間およびレーザビーム24の照射時間を短くすることにより、直径の小さな玉ビード32を形成することが可能である。
次に、ステップS50において、図9に示すように、ワイヤ5が加工領域26から引き抜かれる。
次に、ステップS60において、図10に示すように、レーザ発振器2を停止させて加工領域26へのレーザビーム24の照射を停止する。ここで、ガスノズル13は、被加工物へ向けての不活性ガス25の噴出を止めずに継続する。すなわち、レーザ発振器2の停止後、ガスノズル13は、予め定められた継続時間にわたって加工領域26への向けての不活性ガス25の噴出を継続する。
継続時間は、レーザ発振器2の停止後に、加工領域26に溶着された玉ビード32の温度が予め定められた温度まで低下するまでガスノズル13から被加工物へ向けて不活性ガス25の噴出を継続する時間である。継続時間は、ワイヤ5の材質および玉ビード32の大きさ等の諸条件に基づいて決定されて、予め制御装置1に記憶されている。そして、レーザ発振器2の停止後、予め定められた継続時間が経過すると、ガスノズル13から加工領域26への不活性ガス25の噴出が停止され、1つの玉ビード32の形成が完了する。
そして、ステップS70において、図11に示すように、加工ヘッド10が、ベース材17の付加対象面22における次の玉ビード32を形成する位置に向かって移動する。図11における矢印51は、加工ヘッド10の移動方向を示している。
図12は、図1に示す付加製造装置100による造形物101の造形方法を説明する模式断面図である。上述した工程を繰り返すことで、付加対象面22上に造形物101を構成する玉ビード32の層である1層目の玉ビード層27aを形成することができる。そして、図12に示すように、1層目の玉ビード層27a上で上述した工程を繰り返すことで、2層目の玉ビード層27b、3層目の玉ビード層27c、・・・と複数の玉ビード層を順次積層することにより、所望の形状の造形物101を形成することができる。2層目以降の玉ビードを形成する付加加工においては、既に形成された玉ビード層の上面が付加対象面22となる。
上述したように、本実施の形態1にかかる付加製造装置100は、ワイヤ5を溶融させる熱源としてレーザビーム24を用いるため、ワイヤ5の溶融および溶融ワイヤ21のワイヤ5からの切り離しに要する熱源投入時間を短くすることができる。これにより、付加製造装置100は、形成された玉ビード32の大きさを小さくすることができるため、造形物101の形状精度を向上させることができる。熱源投入時間は、ワイヤ5にレーザビーム24を照射する時間である。
また、本実施の形態1にかかる付加製造装置100は、レーザビーム24がワイヤ5に照射される前にワイヤ5の先端を付加対象面22に接触させておくため、溶融ワイヤ21の付加対象面22面への溶着が安定して行われ、溶融ワイヤ21の付加対象面22への未溶着を防ぐことができる。
レーザビーム24の照射開始直後においては、ワイヤ5の先端部の下側の付加対象面22の領域にはレーザビーム24が照射されない。このため、ワイヤ5の先端部の下側に位置する付加対象面22の温度は、ワイヤ5の先端部が溶融した溶融ワイヤ21においてレーザビーム24が照射される溶融ワイヤ21の上部部分よりも低くなる。また、ワイヤ5の先端部が溶融した溶融ワイヤ21の上部部分は、ワイヤ5の先端部が溶融した溶融ワイヤ21の下部部分よりも相対的に温度が高くなる。
このため、レーザビーム24がワイヤ5に照射される前にワイヤ5が付加対象面22に接触していない場合は、ワイヤ5へのレーザビーム24の照射開始直後に、溶融ワイヤ21の下部部分が、ワイヤ5の溶融していない部分から離れずに、相対的に温度の高い溶融ワイヤ21の上部部分に引き寄せられる駈け上がり現象が生じる。このような駈け上がり現象が生じる場合には、溶融ワイヤ21の付加対象面22への未溶着が起こり易くなる。これは、溶融ワイヤ21の上部部分の濡れ性が向上することによる。
また、ワイヤ5の溶融していない部分から離れずに温度の高い上部部分に引き寄せられた溶融ワイヤ21は、最終的にワイヤ5の溶融していない部分から離れて付加対象面22に滴下する。しかしながら、この場合は、所望の位置に玉ビード32が形成されない可能性があり、造形物101の形状精度の悪化につながる。
付加製造装置100では、レーザビーム24がワイヤ5に照射される前にワイヤ5の先端を付加対象面22に接触させておくため、上述したようなワイヤ5へのレーザビーム24の照射開始直後における駈け上がり現象の発生を防止して溶融ワイヤ21の付加対象面22への未溶着を防止することができる。これにより、付加製造装置100は、ワイヤ5を確実に付加対象面22に溶着させることができ、形状精度の高い造形物101を製造することができる。なお、上記においては、ビームノズル11から被加工物へ照射されるレーザビーム24とワイヤ5の中心軸CWとが非同軸とされる場合について説明した。すなわち、上記においては、付加対象面22における加工領域26へ向けて加工領域26の上方から斜めにワイヤ5が吐出される場合について説明した。ビームノズル11から被加工物へ照射されるレーザビーム24とワイヤ5の中心軸CWとが同軸とされる場合においても、レーザビーム24がワイヤ5に照射される前にワイヤ5の先端を付加対象面22に接触させておくことにより、上記と同様の効果が得られる。
玉ビード32の堆積を繰り返して造形物101を形成する場合は、溶融ワイヤ21の溶着の動作が玉ビード32の数だけ発生することになる。このため、付加対象面22への未溶着の防止は、造形物101の形状精度の向上における効果が大きい。
なお、上述したステップS20において、ワイヤノズル12から吐出されて付加対象面22に接触したワイヤ5の中心軸CWと、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとが、付加対象面22の表面で交わっていない場合でも、レーザビーム24がワイヤ5に照射されていれば、ワイヤ5は溶融して付加対象面22におけるレーザビーム24が照射されている領域に拡がって溶着する。
ただし、付加対象面22の表面において、付加対象面22に接触したワイヤ5の中心軸CWの位置が、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLの位置からワイヤノズル12に近づく側にずれている場合には、ワイヤ5が溶融しにくくなる。付加対象面22の表面において、付加対象面22に接触したワイヤ5の中心軸CWの位置が、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLの位置からワイヤノズル12から離れる側にずれている場合には、ワイヤ5が過剰に溶融し易くなる。
また、付加製造装置100では、付加対象面22へのワイヤ5の溶着を行っている間は、加工ヘッド10の位置を固定して移動させない。すなわち、ワイヤ5の供給位置を固定した状態で加工領域26へワイヤ5を供給しながら予め定められた照射時間にわたってレーザビーム24を加工領域26へ照射した後に、レーザビーム24の照射およびワイヤ5の供給が停止される。これにより、複数の玉ビード32を形成する際にも、付加対象面22において複数の玉ビード32を形成する経路に依らず一定の形状で玉ビード32を形成することができ、造形物101の形状精度の向上につながる。
また、付加製造装置100では、レーザ発振器2の停止後、加工ヘッド10が直ぐに次の加工領域26に向かって移動せずに、予め定められた継続時間にわたって加工領域26へ向けての不活性ガス25の噴出を継続する。すなわち、付加製造装置100では、レーザビーム24を加工領域26へ照射している間にわたって加工領域26へ不活性ガス25を噴出させるとともに、レーザ発振器2の停止後も、継続時間の間は、付加対象面22に溶着した堆積物18である玉ビード32に対する不活性ガス25の噴出を継続する。これにより玉ビード32の酸化の抑制および冷却を行うことができる。
また、付加製造装置100では、玉ビード32を堆積して造形物101を形成するため、造形物101を構成する複数の玉ビード32の層を堆積する際の、玉ビード層の1層ごとの加工経路の自由度が向上する。すなわち、付加製造装置100は、1層の玉ビード層の中で、玉ビード32の形成位置を自由に分割して形成できる。
図13は、図1に示す付加製造装置100による玉ビード32の形成順序を説明する模式図である。例えば、図13に示すように、付加対象面22上に、隣り合う玉ビード32同士の間に隙間を空けながら複数の玉ビード32を形成し、その後、隙間を埋めるように玉ビード32を形成することができる。すなわち、制御装置1は、隣り合う玉ビード同士の間に隙間を空けて複数の第1の玉ビードを形成した後、隙間または第1の玉ビードに隣り合う領域に第2の玉ビードを形成させる制御を行う。
図13に示すように、1層目の玉ビード層27aは、玉ビード321、玉ビード322、玉ビード323および玉ビード324が、互いに隙間を設けた状態でこの順で形成される。その後、各玉ビード32の隙間を埋めるように、玉ビード325、玉ビード326および玉ビード327が、付加対象面22にこの順で形成されることで形成される。
そして、2層目の玉ビード層27bは、玉ビード328、玉ビード329、玉ビード3210、玉ビード3211、玉ビード3212、玉ビード3213、玉ビード3214および玉ビード3215が、この順で1層目の玉ビード層27a上に形成されることで形成される。
この場合は、1層目の玉ビード層27aにおいて隙間を空けて形成された玉ビード321、玉ビード322、玉ビード323および玉ビード324には、接触する玉ビード32が存在しない。すなわち、次の玉ビード32が、直前に形成された玉ビード32とから離間した位置に形成される。このため、隙間を空けて形成された各玉ビード32は、隣り合う玉ビード32の表面張力の影響を受けずに、設計どおりの所望の大きさに形成される。
このため、玉ビード321、玉ビード322、玉ビード323および玉ビード324は、隣り合う玉ビード32に接触して形成された場合よりも表面積が大きくなり、形成直後に隣り合う玉ビード32と直接熱的につながることが防止され、各玉ビード32の熱を分散させることができる。すなわち、1層目の玉ビード層27aの形成時において、熱の投入される箇所を分散することができる。これにより、各玉ビード32は、隣り合う玉ビード32に接触して形成された場合よりも温度低下が速くなる。
また、1層目の玉ビード層27aにおいて隙間を埋めて形成される玉ビード325、玉ビード326および玉ビード327は、先に隙間を空けて形成された各玉ビード32よりも温度が高いため、先に形成された玉ビード32の表面張力の影響が抑制される。先に隙間を空けて形成された各玉ビード32は、隙間を埋める玉ビード32が形成される頃には温度が低下して温度差が無くなる。この結果、隙間を埋める玉ビード32が隣り合う玉ビード32のうちどちらかの玉ビード32に引っ張られることが無くなる。これにより、隙間を埋めて形成される各玉ビード32は、隣り合う玉ビード32の形状に沿って、隙間を埋めた玉ビード32自体の表面張力により形状が整えられて形成される。すなわち、隙間に形成される玉ビード32は、隣り合う玉ビード32に沿うように形成されるため形状制御性が向上し、形状精度の向上につながる。
また、1層目の玉ビード層27aにおいて隙間を埋めて形成される各玉ビード32は、形成時において1層目の玉ビード層27aで接触する玉ビード32が存在しない。すなわち、1層目の玉ビード層27aにおいて隙間を埋めて形成される各玉ビード32は、次に形成される玉ビード32が、直前に形成された玉ビード32とから離間した位置に形成される。同様に、2層目の玉ビード層27bにおいて隙間を埋めて形成される各玉ビード32は、形成時において2層目の玉ビード層27bで接触する玉ビード32が存在しない。すなわち、2層目の玉ビード層27bにおいて隙間を埋めて形成される各玉ビード32は、次に形成される玉ビード32が、直前に形成された玉ビード32とから離間した位置に形成される。このため、隙間を空けて形成された各玉ビード32は、隣り合う玉ビード32の表面張力の影響を受けずに、設計どおりの所望の大きさに形成される。
また、図13に示すように、2層目の玉ビード層27bの形成において、端部に位置する玉ビード3214および玉ビード3215は、最後に形成される。玉ビード3214は、玉ビード3211に接触した状態で形成される。玉ビード3215は、玉ビード3210に接触した状態で形成される。
この場合、玉ビード3214は、玉ビード3211の表面張力に引き寄せられることで、形状のだれ、すなわち玉ビード3214の形状が設計どおりの形状とならないことが防止される。すなわち、玉ビード3214は、玉ビード3211の表面張力を利用して形状が整えられる。これにより、2層目の玉ビード層27bの端部の形状がだれてしまうことが防止される。
同様に、玉ビード3215は、玉ビード3210の表面張力に引き寄せられることで、形状のだれ、すなわち玉ビード3215の形状が設計どおりの形状とならないことが防止される。すなわち、玉ビード3215は、玉ビード3210の表面張力を利用して形状が整えられる。これにより、2層目の玉ビード層27bの端部の形状がだれてしまうことが防止される。
そして、3層目以降の玉ビード層の形成においても、玉ビード層における端部に対応する玉ビード32を最後に形成することにより、上記と同様の効果が得られる。これにより、造形物101の側面の形状および上部の端部の形状がだれてしまうことが防止される。
また、付加製造装置100では、レーザ発振器2の停止後、玉ビード32の温度が予め定められた温度まで低下するまで加工領域26への不活性ガス25の噴出を継続する。これにより、玉ビード32および造形物101全体の酸化を防ぐことができる。また、玉ビード32の層と層との間の酸化を防止しながら3次元の造形物101を形成することができ、造形物101の機械特性を向上させることができる。
なお、付加製造装置100では、線状に連続した線ビードを複数形成して造形物101を形成することも可能である。ただし、この場合には、ガスノズル13が移動しながら1本の線ビードが形成されるため、線ビードの高温部の温度が低下する前に線ビードの高温部が不活性ガス25の噴射領域から外れる。ビードの高温部は、酸化反応が起こりやすいため線ビードおよび造形物全体が酸化しやすくなる。
また、付加製造装置100では、玉ビード32の形成後を含め、加工ヘッド10を移動させている最中は不活性ガス25の噴射を停止してもよい。すなわち、不活性ガス25の噴出は、上述した継続時間の経過後に、次にレーザビーム24が照射されるまで停止されもよい。これにより、不活性ガス25の消費量を削減することができる。
以上、説明したように、本実施の形態1にかかる付加製造装置100は、造形物の形状精度の向上が可能である、という効果を奏する。
実施の形態2.
本実施の形態2では、図1に示した付加製造装置100による他の付加加工の形態について説明する。以下、図14から図18を参照して、本実施の形態2における付加製造装置100の動作について説明する。図14は、本発明の実施の形態2における付加製造装置100の動作を説明するフローチャートである。図15は、図1に示す付加製造装置100の加工ヘッド10が第2の位置に移動したときのレーザビーム24の中心軸CLの位置を示す模式断面図である。図16は、図1に示す付加製造装置100においてワイヤ5の先端がレーザビーム24の中心軸CLと交わる位置までワイヤ5が吐出された状態を示す模式断面図である。図17は、図1に示す付加製造装置100のワイヤ5の先端を付加対象面22に接触させた状態を示す模式断面図である。図18は、図1に示す付加製造装置100の加工ヘッド10が次の加工領域26に移動する状態を示す模式断面図である。図15から図18では、付加対象面22における加工領域26の周辺の状態を示している。
まず、ステップS110において、加工ヘッド10が、ベース材17の付加対象面22における加工領域26の上方の予め定められた第2の位置に移動して、停止する。加工ヘッド10は、図15に示すように、ビームノズル11から出射されるレーザビーム24の中心軸CLが付加対象面22における加工領域26の中央位置とされる第2の位置に移動する。
また、本実施の形態2では、加工ヘッド10は、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとワイヤ5とが交わる位置までワイヤ5が吐出されても、ワイヤ5の先端が付加対象面22に接触しない高さ位置に配置される。すなわち、ワイヤノズル12が、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとワイヤ5とが交わる位置までワイヤ5が吐出されても、ワイヤ5の先端が付加対象面22に接触しない高さ位置に配置される。したがって、第2の位置は、上述した第1の位置よりも高い位置である。
すなわち、ステップS110においては、加工ヘッド10は、実施の形態1のステップS10において加工ヘッド10が配置される高さ位置よりも上方の位置に配置される。そして、ビームノズル11とワイヤノズル12とガスノズル13とは加工ヘッド10に固定されているため、ステップS110においては、ビームノズル11およびガスノズル13も、実施の形態1のステップS10の場合よりも上方の位置に配置される。
次に、ステップS120において、ワイヤノズル12が、図16に示すように、ワイヤ5の先端がレーザビーム24の中心軸CLと交わる位置まで、加工領域26へ向けてワイヤ5を吐出する。
次に、ステップS130において、図17に示すように、加工ヘッド10を付加対象面22に向けて下方に移動させて、ワイヤ5の先端を付加対象面22に接触させる。
次に、実施の形態1と同様にして、図7から図10に示すように上述したステップS30からステップS60が行われる。
そして、レーザ発振器2の停止後、予め定められた継続時間が経過すると、ステップS140において、図18に示すように、加工ヘッド10が、ベース材17の付加対象面22における次の玉ビード32の形成位置に向かって移動する。ここで、加工ヘッド10は、付加対象面22における次の玉ビード32の形成位置の上方に移動する際に、図18における矢印52に示すように上方向に移動した後に、図18における矢印53に示すように付加対象面22と平行な方向に移動する。なお、加工ヘッド10は、付加対象面22における次の玉ビード32の形成位置の上方に移動する際に、斜め上方向のみに移動してもよい。
上述した本実施の形態2における付加加工は、付加製造装置100による造形物101の形成において2層目以降の玉ビード層を形成する場合において有効である。図19は、図1に示す付加製造装置100による4層目の玉ビード層を形成する状態を示す模式断面図である。ここでは、図19に示すように、付加対象面22が3層目の玉ビード層27cである場合について説明する。図19において、図19における右側から左下方向に向かって、すなわちレーザビーム24の外周側から、ワイヤ5が吐出される。複数の玉ビード32の層を堆積する場合、ワイヤ5の先端が送り出される高さまで、玉ビード32が既に形成されている場合が生じ得る。そして、実高さHaと設計高さHdとの差は、1層の玉ビード32における層の実高さと設計高さの差が蓄積することでより大きくなる。
たとえば3層目の玉ビード層27cにおける実高さHaが、想定している3層目の玉ビード層27cにおける設計高さHdよりも高くなる場合がある。すなわち、ワイヤ5の先端が送り出される高さまで玉ビード32が既に形成されている場合が生じ得る。実高さHaと設計高さHdとの差は、1層の玉ビード32の層の実高さと設計高さの差が蓄積することでより大きくなる。
この場合には、図19に示すようにワイヤノズル12から吐出されたワイヤ5の先端が、加工領域26の玉ビード32における頂点よりも付加対象面22に平行な方向にずれた位置の玉ビード32の上面に衝突する。そして、ワイヤ5の先端が、付加対象面22に接触したワイヤ5の中心軸CWと、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとが、付加対象面22の表面、すなわち加工領域26の玉ビード32の表面で交わらなくなる。すなわち、形成された玉ビード32の実高さと、玉ビード32の設計高さとの差が蓄積することで、ワイヤ5の先端が加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLまで到達できない状況が発生する。
このような状態が発生すると、玉ビード32の形成箇所がレーザビーム24の中心軸CLからずれる状態が発生し、または玉ビード32の形成ができなくなってしまう。このような状況は、2層目以降の玉ビード32の層において生じ得る。このような状況で新たに形成される玉ビード32は、本来の形成位置である、レーザビーム24の中心軸CLを中心とした円形領域からずれた位置に形成される。
本実施の形態2にかかる付加加工では、ワイヤ5を吐出する前に、ワイヤ5がレーザビーム24の中心軸CLと交わる位置まで吐出されてもワイヤ5の先端が付加対象面22に接触しない高さ位置に、ワイヤノズル12が配置される。そして、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとワイヤ5の先端とが交わる位置まで加工領域26へ向けて吐出されたワイヤ5を、付加対象面22に向けて下方に移動することで、ワイヤ5の先端を付加対象面22に接触させる。これにより、本実施の形態2では、上記のようにワイヤ5の先端が加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLまで到達できない状況を回避することができ、確実に本来の玉ビード32の形成位置に玉ビード32を形成することができる。
したがって、本実施の形態2にかかる付加加工では、複数の玉ビード層を形成する際に、玉ビード32の実高さと設計高さとの差が蓄積した場合に発生する不具合を防止する効果が得られる。
実施の形態3.
本実施の形態3では、図1に示した付加製造装置100による他の付加加工の形態について説明する。本実施の形態3における付加加工は、上述した実施の形態1における付加加工に対して、レーザビーム24がワイヤ5に照射される前に吐出されるワイヤ5の先端の位置が異なる。
実施の形態1において説明したように、レーザビーム24がワイヤ5に照射される前にワイヤ5が付加対象面22に接触していない場合は、ワイヤ5へのレーザビーム24の照射開始直後に、溶融ワイヤ21の下部部分が溶融ワイヤ21の上部部分に引き寄せられる駈け上がり現象が生じて、溶融ワイヤ21の付加対象面22への未溶着が起こり易くなる。
そこで、本実施の形態3では、実施の形態1とは異なる方法で駈け上がり現象を防止する付加加工について説明する。以下、図20から図24を参照して、本実施の形態3における付加製造装置100の動作について説明する。図20は、図1に示す付加製造装置100の実施の形態3における動作を説明するフローチャートである。図21は、図1に示す付加製造装置100の加工ヘッド10が第1の位置に移動したときのレーザビーム24の中心軸CLの位置を示す模式断面図である。図22は、図1に示す付加製造装置100においてワイヤ5が待機位置まで吐出された状態を示す模式断面図である。図23は、図1に示す付加製造装置100において加工領域26へレーザビーム24の照射を開始した状態を示す模式断面図である。図24は、図1に示す付加製造装置100の加工領域26へのワイヤ5の供給が開始された状態を示す模式断面図である。図21から図24では、付加対象面22における加工領域26の周辺の状態を示している。
まず、図21に示すように、上述したステップS10が行われる。
次に、ステップS310においてワイヤノズル12が、図22に示すように加工領域26へ向けてワイヤ5を吐出する。ここで、ワイヤ5は、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとワイヤ5の先端との間の距離Lが、付加対象面22の面内方向における、D4σと呼ばれる二次モーメント幅で定義したときのビーム半径で定義したときのビーム半径ω程度の寸法である、レーザビーム24の半径の0.5倍以上、2.3倍以下の範囲の位置まで吐出される。D4σと呼ばれる二次モーメント幅で定義したときのビーム半径は、ビームの強度分布の標準偏差σの2倍である。距離Lがレーザビーム24の半径の0.5倍以上、2.3倍以下の範囲である位置は、レーザビーム24の外周側からレーザビーム24の中心軸CLに向けてレーザビーム24中にワイヤ5が供給された場合に、ワイヤ5の融点を超えるエネルギーがワイヤ5に供給されない待機位置である。すなわち、ワイヤ5の先端は、実施の形態1の場合とは異なり、レーザビーム24を付加対象面22における加工領域26に照射する前に、ワイヤ5の先端が付加対象面22に接触した状態とはされない。
次に、ステップS320において、レーザビーム24が、図23に示すように加工領域26へ向けて照射される。また、レーザビーム24の照射に合わせて、ガスノズル13から加工領域26への不活性ガス25の噴出が開始される。
次に、ステップS330において、図24に示すように、加工領域26へのワイヤ5の供給を開始する。すなわち、ワイヤノズル12が、付加対象面22へ向けてワイヤ5をさらに吐出する。これにより、レーザビーム24の中にワイヤ5が送り込まれてワイヤ5が溶融する。そして、溶融ワイヤ21が、付加対象面22に溶着し、付加対象面22の加工領域26に、堆積物18である玉ビード32が形成される。
以降は、図9から図11に示すように、実施の形態1と同様にして、上述したステップS50からステップS70が行われる。
2層目の玉ビード層の形成処理においては、既に形成された玉ビード32の層の上面が付加対象面22となる。
なお、上記の実施の形態3における付加加工に対して、上述した実施の形態2の制御方法を適用してもよい。
上述したように、本実施の形態3の付加加工では、レーザビーム24を付加対象面22における加工領域26に照射する前に、ワイヤ5の先端が、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとワイヤ5の先端との間の距離Lが、D4σと呼ばれる二次モーメント幅で定義したときのビーム半径で定義したときのビーム半径ω程度の寸法である、レーザビーム24の半径の0.5倍以上、2.3倍以下の範囲の位置まで吐出される。そして、ワイヤ5の先端の位置を、レーザビーム24の0.5倍以上、2.3倍以下の範囲の位置に配置した状態でレーザビーム24が加工領域26へ向けて照射された後にレーザビーム24の中にワイヤ5が供給される。
上述した本実施の形態3の付加加工が行われる場合、ワイヤ5の供給が開始される前にワイヤ5がレーザビーム24により融点以上に熱せられることを防ぐことができ、溶融ワイヤ21の駈け上がり現象を防止できる。そして、レーザビーム24の中にワイヤ5が供給されてワイヤ5が溶融する前に、ベース材17の表面からなる付加対象面22の温度が上昇し、付加対象面22が溶けて溶融池23が形成される。その後、レーザビーム24の中にワイヤ5が供給され、レーザビーム24の中のワイヤ5が溶融する。
溶融ワイヤ21は、温度の高い方に引き寄せられるため、ワイヤノズル12側の未溶融状態のワイヤ5ではなく温度が上昇している溶融池23の方に引き寄せられる。これにより、本実施の形態3の付加加工では、溶融ワイヤ21の駈け上がり現象が生じることが無く、溶融ワイヤ21が付加対象面22に溶着し易くなり、ワイヤ5を確実に付加対象面22に溶着させることができる。
上記のように溶融ワイヤ21の下部部分が溶融ワイヤ21の上部部分に引き寄せられる駈け上がり現象、および溶融ワイヤ21がワイヤノズル12側の未溶融状態のワイヤ5側に引き寄せられる駈け上がり現象が発生した場合は、付加対象面22に溶融ワイヤ21を溶着させるためには、溶融ワイヤ21を確実に付加対象面22に押し付ける時間を確保するために、ワイヤ5の供給時間を長めに設定する必要がある。
一方、本実施の形態3における付加加工では、上述した駈け上がり現象を無くした状態でワイヤ5をレーザビーム24の中に供給できるため、ワイヤ5の供給時間を長めに設定する必要がなく、ワイヤ5の供給時間を短くすることができる。ワイヤ5の供給時間が短くなることにより、実施の形態1、2の場合に比べて、ワイヤ5の溶融時間が短くなり、溶融ワイヤ21の量を少なくすることができ、小さい玉ビード32を作ることができる。
したがって、本実施の形態3における付加加工では、ワイヤ5の供給が開始される前にワイヤ5がレーザビーム24により融点以上に加熱されることを防ぎ、且つ先に溶融池23を形成することにより、溶融ワイヤ21の駈け上がり現象の発生を防止する。これにより、ワイヤ5の溶融開始時に溶融ワイヤ21を付加対象面22に押し付けるための時間を短くすることができ、ワイヤ5の供給時間を短くすることができる。これにより、玉ビード32の形成において供給されるワイヤ5の量が少なくなるため、小さい玉ビード32を作ることができ、造形物101の造形精度の向上が可能となる。
なお、上述した駈け上がり現象が生じるためにワイヤ5の供給時間を長めに設定する場合でも、駈け上がり現象が生じないと仮定した場合に比べて、ワイヤ5の供給時間の余分に要する時間は、0.2秒程度となる。したがって、玉ビード32の形成において溶融ワイヤ21の供給量が大幅に増加するわけではなく、造形精度の観点では精度の良い造形物101を得ることは可能であるが、本実施の形態3における付加加工を行うことにより、より造形精度の高い造形物101の製造が可能となる。
ここで、上述した加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとワイヤ5の先端との間の距離Lの範囲について説明する。距離Lの範囲は、以下の条件に基づいて決定されている。
まず、以下の条件を前提条件とする。
・レーザビーム24の照射時間を0.3秒以下にして玉ビード32による造形を実施する。
・ワイヤ5が付加対象面22に到達する前に、付加対象面22を溶かして溶融池23を形成する。
・ワイヤ5の材質:SUS304、ワイヤ5のワイヤ径(mm):1.2mm、レーザビーム24の出力(W):800W、レーザビーム24のビーム径C(mm):2.0mmである場合に、ワイヤ5のワイヤ径(mm):1.2mmよりも大きな溶融池23を形成するために必要な時間は約0.1secとする。
次に、ワイヤ5の先端位置の算出方法について図25および図26を参照して説明する。図25は、本発明の実施の形態3におけるワイヤ5の先端位置の算出方法を説明するための模式図である。図26は、本発明の実施の形態3におけるワイヤ5の先端位置の算出方法を説明するための条件を示した図である。
前記の前提条件において、ワイヤ5のワイヤ供給角度F:45度、ワイヤ5のワイヤ供給速度A(mm/min):737mm/min=ワイヤ供給速度B(mm/sec):737mm/60min=12.3mm/secとする。
レーザビーム24の照射方向に見た、ビーム半径に対する、レーザビーム24の中心軸CLからワイヤ5の先端までの距離の比率であるワイヤ位置比率Dを0.85とする。したがって、レーザビーム24の中心軸CLからワイヤ5の先端までの距離であるワイヤ先端距離Eを、レーザビーム24の照射方向に見て、レーザビーム24の中心軸CLからレーザビーム24のビーム半径の0.85倍の距離=2.0mm/2×0.85=0.85mmとして、ワイヤ5の先端位置をレーザビーム24の中心軸CLからビーム半径方向に0.85mmだけ手前の位置とする。
ワイヤ5の供給角度であるワイヤ供給角度Fは、レーザビーム24の照射方向に見て、レーザビーム24の中心軸CLの方向と、ワイヤノズル12から吐出されるワイヤ5の中心軸CWの方向とがなす角度とする。手前の位置は、レーザビーム24の照射方向に垂直な方向に見て、レーザビーム24に対するワイヤノズル12側の位置である。この場合、ワイヤ5の先端位置からレーザビーム24の中心軸CLまでワイヤ5を供給するワイヤ供給距離Gは、E×1/cos(F)=1.2mmとなる。そして、ワイヤ5の先端がワイヤの先端位置からレーザビーム24の中心軸CLまで到達するまでに要する到達時間Hは0.1secとなる。
レーザビーム24の照射時間を0.3sec以下にして玉ビード32による造形を実施する場合、ワイヤ5の投入時間として0.1secを確保すると、ワイヤ5の先端の位置は、ワイヤ位置比率Dが0.85倍の位置まで0.2secかけて到達する距離まで離すことができる。上記条件で計算すると、ワイヤ5の先端の位置は、ビーム半径の1.7倍の距離だけ手前の位置となる。したがって、上記条件においては、ワイヤ5の先端の位置は、距離Lがビーム半径の0.85倍以上、1.7倍以下である範囲の位置となる。
一方、ワイヤ供給角度が変化すると距離Lも変わる。ワイヤ供給角度を20度以上、70度以下の範囲とすると、ワイヤ5の先端の位置は、距離Lがビーム半径の0.5倍以上、2.3倍以下である範囲の位置となる。
なお、上記においては、レーザビーム24とワイヤ5の中心軸CWとが非同軸である場合について説明したが、レーザビーム24とワイヤ5の中心軸CWとが同軸である場合においても上述した効果を得ることができる。レーザビーム24とワイヤ5の中心軸CWとが同軸である場合には、付加対象面22とワイヤ5の先端との間の距離がレーザビーム24の半径の0.5倍以上、2.3倍以下の範囲である待機位置までワイヤ5を供給させた後に、レーザビーム24を加工領域26へ照射させ、さらにワイヤ5を加工領域26へ供給させる制御が行われる。これにより、レーザビーム24とワイヤ5の中心軸CWとが同軸である場合においても上述した効果を得ることができる。また、レーザビーム24とワイヤ5の中心軸CWとが同軸である場合には、付加対象面22とワイヤ5の先端との間の距離がレーザビーム24の半径の0.6倍以上、1.2倍以下の範囲である待機位置までワイヤ5を供給させた後に、レーザビーム24を加工領域26へ照射させ、さらにワイヤ5を加工領域26へ供給させる制御が行われることがより好ましい。
また、本実施の形態3における付加加工では、溶融ワイヤ21を付加対象面22に接触させるための動作および溶融ワイヤ21を付加対象面22に押し付けるための動作が行われない。上述したように、複数の玉ビード層を形成するにつれて玉ビード32の実高さと玉ビード32の設計高さとの差が蓄積することで、ワイヤ5の先端が送り出される高さまで玉ビード32が既に形成されている場合が生じ得る。
このような状態においても、玉ビード32を確実に形成するためには、ワイヤ5の先端位置と、ワイヤ5と付加対象面22との間の高さ方向の間隔を厳密に管理することが好ましい。高さ方向は、Z軸方向である。
高さ方向における、ワイヤ5と付加対象面22との間の間隔を厳密に管理することで、ワイヤ5の先端が、付加対象面22となる玉ビード32の上面におけるレーザビーム24の中心軸CLの位置まで到達できない状況を回避することができる。これにより、新たな玉ビード32の形成位置がレーザビーム24の中心軸CLの位置からずれることを防ぐことができ、または玉ビード32の造形ができなくなることを防ぐことができる。
たとえば、2層目以上の玉ビード層が付加対象面22である場合に、制御装置1は、ステップS310とステップS330との間において、付加対象面22の高さとワイヤ5の先端位置の高さとをセンサまたは画像処理技術を用いて検出する。そして、制御装置1は、検出結果に基づいて、ステップS330において付加対象面22に向けてワイヤ5の供給を行った場合にワイヤ5の先端が付加対象面22となる玉ビード32の上面におけるレーザビーム24の中心軸CLの位置まで到達可能であるか否かを判定する。
制御装置1は、ワイヤ5の先端が付加対象面22となる玉ビード32の上面におけるレーザビーム24の中心軸CLの位置まで到達できないと判定した場合には、加工ヘッド10の高さ位置を上げた後にステップS330を実施するように制御する。すなわち、制御装置1は、ステップS310において待機位置に配置されたワイヤ5を、ステップS330において付加対象面22に向けてワイヤ5の供給を行った場合にワイヤ5の先端が付加対象面22となる玉ビード32の上面におけるレーザビーム24の中心軸CLの位置まで到達できる高さ位置まで上方に移動させた後にステップS330を実施するように制御する。これにより、ワイヤ5の先端を、常に付加対象面22となる玉ビード32の上面におけるレーザビーム24の中心軸CLの位置まで到達させることができるため、造形物101の形状精度の向上が可能となる。
このようにワイヤ5の先端位置と、ワイヤ5と付加対象面22との間の高さ方向の間隔とに基づいたワイヤ5の高さの制御は、上述した実施の形態1の付加加工においても有効である。
上述したように、本実施の形態3の付加加工では、溶融ワイヤ21の駈け上がり現象が生じることが無く、溶融ワイヤ21が付加対象面22に溶着し易くなり、ワイヤ5を確実に付加対象面22に溶着させることができる、という効果が得られる。
実施の形態4.
本実施の形態4では、図1に示した付加製造装置100による他の付加加工の実施の形態について説明する。本実施の形態4における付加加工は、上述した実施の形態1における付加加工に対して、加工領域26からのワイヤ5の引き抜き方法が異なる。以下、図27から図29を参照して、本実施の形態3における付加製造装置100の動作について説明する。図27は、図1に示す付加製造装置100の実施の形態4における動作を説明するフローチャートである。図28は、図1に示す付加製造装置100のワイヤ5が上方に移動する状態を示す模式断面図である。図29は、図1に示す付加製造装置100の加工領域26からワイヤ5が引き抜かれる状態を示す模式断面図である。
まず、図5から図8に示すように、実施の形態1と同様にして、上述したステップS10からステップS40が行われる。
次に、ワイヤ5が、2段階の動作により加工領域26から引き抜かれる。まず、ステップS410において、1段階目の動作が行われる。1段階目の動作では、図28に示すように加工ヘッド10が、予め定められた距離だけZ軸方向において移動して、ワイヤノズル12が上方に移動する。これにより、加工領域26に供給されるワイヤ5が上方に移動し、溶融ワイヤ21が生成される位置が上方に移動する。このとき、ワイヤ5が溶融ワイヤ21から離れない範囲で、ワイヤ5を上方に移動させる。ワイヤ5の供給は、ワイヤ5を上方に移動している間も継続される。予め定められた距離は、たとえば3mm以下の距離とされる。
次に、ステップS420において、2段階目の動作が行われる。2段階目の動作では、図29に示すように、ワイヤ5が加工領域26から引き抜かれる。
以降は、図10および図11に示すように、実施の形態1と同様にして、上述したステップS60およびステップS70が行われる。
なお、上記の実施の形態4における付加加工に対して、上述した実施の形態2における制御方法または実施の形態3における制御方法を適用してもよい。
上記のように、本実施の形態4にかかる付加加工では、ワイヤ5は、付加対象面22に溶着されている溶融ワイヤ21の塊からワイヤ5が抜けない範囲でワイヤ5を上方に移動させた後に、ワイヤ5の供給方向と反対の方向に引き抜かれる。このように2段階の動作により付加対象面22に溶着されている溶融ワイヤ21からワイヤ5が引き抜かれることにより、付加対象面22に溶着されている溶融ワイヤ21の塊に対して新たに供給される溶融ワイヤ21の供給位置を上方に移動させることができ、玉ビード32の高さを高くすることが可能である。玉ビード32の高さを高くすることで、ワイヤ5の供給時間を長めの時間とした場合でも、直径の小さい玉ビード32を形成することが可能となり、幅の狭い造形物101を形成することができる。
また、ワイヤ5は、レーザビーム24の中に入って直ぐには溶融せず、レーザビーム24の中心軸CLに近づくにしたがって温度が融点に達して溶融する。このため、直径の大きい玉ビード32を形成するためにワイヤ5の供給時間をたとえば1秒以上の長めの時間に設定する場合には、付加対象面22に溶着されている溶融ワイヤ21の塊の中において未溶融状態にあるワイヤ5の長さが長くなる。溶融ワイヤ21の塊の中において未溶融状態にあるワイヤ5の長さが長い場合、ワイヤ5を溶融ワイヤ21の塊から引き抜く際に、溶融ワイヤ21の塊の表面部分が、未溶融状態にあるワイヤ5に引っ張られることで玉ビード32の形状が崩れることがある。
一方、上記のように2段階の動作によりワイヤ5が引き抜かれることにより、未溶融状態にあるワイヤ5の先端部分が溶融ワイヤ21の塊の上方に移動するため、溶融ワイヤ21の塊の中から引き抜かれる未溶融状態にあるワイヤ5の長さを短くすることができ、玉ビード32の形状が崩れることを防止することができる。これにより、玉ビード32の形状の繰り返し安定性が向上し、造形物101の形状精度を向上させることができる。
実施の形態5.
付加製造装置100では、ワイヤ5は、レーザビーム24の中心軸CLと非同軸の状態で供給される。付加対象面22に先に形成された玉ビード32をワイヤ5が乗り越える位置関係で、加工ヘッド10の移動方向とワイヤ5の供給方向とが設定されている場合、玉ビード32の高さおよびワイヤ5の先端高さによっては、加工ヘッド10が移動する際にワイヤ5の先端が玉ビード32に衝突する場合が発生する。ワイヤ5の先端が玉ビード32に衝突した場合は、ワイヤ5が曲げられ、ワイヤ5の先端と付加対象面22との間に設計外の隙間が発生してしまい、ワイヤ5の溶着が想定どおりに行われない加工不具合が発生する。
制御装置1により、加工ヘッド10が移動する際に、加工ヘッド10の移動方向とワイヤ5の供給方向とが、付加対象面22に形成済みの玉ビード32を乗り越えながらワイヤ5が供給されることがない方向に制御されることにより、上述した加工不具合を防止できる。また、付加対象面22に形成済みの玉ビード32を乗り越えながらワイヤ5が供給されることがない方向は、付加対象面22の面内において、付加対象面22に形成済みの玉ビード32と、加工領域26に供給されるワイヤ5とが重ならない方向である。すなわち、ワイヤノズル12の移動方向とワイヤ5の供給方向とが、付加対象面22の面内において、付加対象面22に形成済みの玉ビード32と、加工領域26に供給されるワイヤ5とが重ならない方向に制御されることにより、上述した加工不具合を防止できる。
図30は、本発明の実施の形態5における加工ヘッド10の移動方向54とワイヤ5の供給方向55との関係との一例を示す図である。たとえば図30に示すように、加工ヘッド10の移動方向54とワイヤ5の供給方向55との、付加対象面22の面内方向における成分を反対方向とすることにより、上述した加工不具合を防止できる。
加工ヘッド10を移動させずに、回転機構16を用いて被加工物を回転させて加工領域26の位置を移動させる場合には、被加工物の回転方向とワイヤ5の供給方向とが、付加対象面22の面内において、付加対象面22に形成済みの玉ビード32と、加工領域26に供給されるワイヤ5とが重ならない方向に制御されることにより、上述した加工不具合を防止できる。なお、上述した制御は、回転機構16を用いて被加工物を第2軸を中心に回転させることで付加対象面22の面内において円形の付加加工を行う場合に適用可能である。また、上述した制御は、加工ヘッド10を移動させて材料供給部と前記照射部とを付加対象面22の面内方向において円形に移動させることで付加対象面22の面内において円形の付加加工を行う場合にも適用可能である。
実施の形態6.
本実施の形態6では、図1に示した付加製造装置100による他の付加加工の形態について説明する。本実施の形態6における付加加工は、上述した実施の形態における付加加工に対して、レーザビーム24がワイヤ5に照射される前にワイヤ5の供給動作が開始されることが異なる。
レーザビーム24がワイヤ5に照射される前にワイヤ5の供給動作が開始されることによって、レーザビーム24の照射が開始された時点においては、すでにワイヤ5の供給動作が開始されているため、溶融ワイヤ21の付加対象面22への溶着がスムーズに行われる。これにより、溶融ワイヤ21の付加対象面22への溶着が安定して行われ、溶融ワイヤ21の付加対象面22への未溶着を防ぐことができる。
以下、図31から図36を参照して、本実施の形態6における付加製造装置100による付加加工について説明する。図31は、図1に示す付加製造装置100の実施の形態6における動作を説明するフローチャートである。図32は、図1に示す付加製造装置100の加工ヘッド10が第1の位置に移動したときのレーザビーム24の中心軸CLの位置を示す模式断面図である。図33は、図1に示す付加製造装置100において加工領域26へ吐出されたワイヤ5の先端が付加対象面22に接触した状態を示す模式断面図である。図34は、図1に示す付加製造装置100の加工領域26へのワイヤ5の供給が開始された状態を示す模式断面図である。図35は、図1に示す付加製造装置100において加工領域26へレーザビーム24の照射を開始した状態を示す模式断面図である。図36は、図1に示す付加製造装置100において溶融ワイヤ21が付加対象面22に溶着した状態を示す模式断面図である。図32から図36では、付加対象面22における加工領域26の周辺の状態を示している。
まず、図32に示すように、上述したステップS10が行われる。
次に、図33に示すように、上述したステップS20が行われる。すなわち、ワイヤノズル12が、図33に示すように付加対象面22における加工領域26へ向けて加工領域26の上方から斜めにワイヤ5を吐出して、ワイヤ5の先端を付加対象面22に接触させる。すなわち、レーザビーム24を付加対象面22における加工領域26に照射する前に、ワイヤ5の先端が付加対象面22に接触した状態とされる。
このとき、ワイヤノズル12から吐出されて付加対象面22に接触したワイヤ5の中心軸CWと、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとが、付加対象面22の表面で交わっている、もしくは、ワイヤ5の中心軸CWは、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLからワイヤノズル12側のレーザビーム24のビーム半径内で、付加対象面22の表面で交わっていることが好ましい。これにより、付加対象面22において、ワイヤ5の中心軸CWと加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとの交点を中心として玉ビード32を形成することができる。
次に、ステップS510において、図34に示すように、ワイヤノズル12が加工領域26へのワイヤ5の供給を開始する。すなわち、ワイヤノズル12が、付加対象面22へ向けてワイヤ5をさらに吐出する。以降、予め決められた供給時間の間、加工領域26へのワイヤ5の供給が継続される。
次に、ステップS520において、図35に示すようにレーザビーム24が付加対象面22における加工領域26へ向けて照射され、付加対象面22における加工領域26に配置されたワイヤ5に照射される。また、レーザビーム24の照射に合わせて、ガスノズル13から加工領域26への不活性ガス25の噴出が開始される。これにより、予め加工領域26に配置されていたワイヤ5とレーザビーム24の照射開始後に加工領域26へ供給された金属ワイヤとが溶融した溶融ワイヤ21が、図36に示すように付加対象面22に溶着する。これにより、付加対象面22の加工領域26に、堆積物18である玉ビード32が形成される。
この場合、レーザビーム24を付加対象面22に照射する前に、予め定められた一定時間にわたってガスノズル13から不活性ガス25を噴出させることが好ましい。これにより、ガスノズル13内に残存していた酸素などの活性ガスをガスノズル13内から除去することができる。
以降は、図9から図11に示すように、実施の形態1と同様にして、上述したステップS50からステップS70が行われる。
なお、上述した付加加工に対して、上述した実施の形態2におけるステップS110からステップS130の制御方法を適用してもよい。
上記のようにレーザビーム24がワイヤ5に照射される前にワイヤ5の供給動作が開始されることによって、レーザビーム24の照射が開始された時点においては、すでにワイヤ5の供給動作が開始されているため、溶融ワイヤ21の付加対象面22への溶着がスムーズに行われる。
また、上記のように、レーザビーム24を付加対象面22における加工領域26に照射する前にワイヤ5の先端が付加対象面22に接触した状態とされ、ワイヤ5の供給動作が開始された後にレーザビーム24がワイヤ5に照射されることによって、所望の玉ビード32を形成する際のレーザ照射時間を、玉ビード32を形成するために必要な最小限のレーザ照射時間の極限まで短くすることができる。これにより、形成された玉ビード32の大きさを小さくすることができ、直径の小さな玉ビード32を形成することが可能であるため、造形物101の形状精度を向上させることができる。
つぎに、図37から図42を参照して、本実施の形態6における付加製造装置100による他の付加加工について説明する。図37は、図1に示す付加製造装置100の実施の形態6における他の動作を説明するフローチャートである。図38は、図1に示す付加製造装置100の加工ヘッド10が第1の位置に移動したときのレーザビーム24の中心軸CLの位置を示す模式断面図である。図39は、図1に示す付加製造装置100においてワイヤ5の先端が付加対象面22に接触しない位置までワイヤ5が吐出された状態を示す模式断面図である。図40は、図1に示す付加製造装置100の加工領域26へのワイヤ5の供給が開始された状態を示す模式断面図である。図41は、図1に示す付加製造装置100において加工領域26へレーザビーム24の照射を開始した状態を示す模式断面図である。図42は、図1に示す付加製造装置100において溶融ワイヤ21が付加対象面22に溶着した状態を示す模式断面図である。図38から図42では、付加対象面22における加工領域26の周辺の状態を示している。
まず、図38に示すように、上述したステップS10が行われる。
次に、ステップS610においてワイヤノズル12が、図39に示すように加工領域26へ向けてワイヤ5を吐出する。ここで、ワイヤ5は、ワイヤ5の先端が加工領域26に接触しない位置まで、すなわちワイヤ5の先端が付加対象面22に接触しない位置まで吐出される。たとえば、ワイヤ5は、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLのワイヤノズル12側において、加工領域26に照射されるレーザビーム24の半径の位置まで吐出される。すなわち、ワイヤ5は、ワイヤノズル12側のレーザビーム24の外周上の位置まで吐出される。
なお、ワイヤ5の先端は、ワイヤ5の供給が開始される前に、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLのワイヤノズル12側において、加工領域26に照射されるレーザビーム24の半径外であってワイヤ5の先端が付加対象面22に接触しない位置まで吐出されてもよい。また、ワイヤ5の先端は、ワイヤ5の供給が開始される前に、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLのワイヤノズル12側において、加工領域26に照射されるレーザビーム24の半径内であってワイヤ5の先端が付加対象面22に接触しない位置まで吐出されてもよい。
このとき、ワイヤノズル12から吐出されて付加対象面22に接触しないワイヤ5の中心軸CWと、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとが、付加対象面22の表面で交わっている、もしくは、ワイヤ5の中心軸CWは、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLからワイヤノズル12側のレーザビーム24のビーム半径内で、付加対象面22の表面で交わっていることが好ましい。これにより、付加対象面22において、ワイヤ5の中心軸CWと加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとの交点を中心として玉ビード32を形成することができる。
玉ビード32の形状精度を向上させるためには、ワイヤ5と加工領域26との間の距離L1は、後述するようにワイヤ5の供給が開始された後にワイヤ5の供給速度が予め定められた規定値に達するまでの時間においてワイヤ5が供給される距離以上となっていることが好ましい。ワイヤ5の供給速度が規定値に到達するまでには、発明者の実験結果により、0.2秒から0.5秒程度の時間が必要であることがわかっている。このため、たとえばワイヤ5の供給速度の規定値が737mm/minである場合には、ワイヤ5は、距離L1が16μm以上40μm以下の範囲の距離、または40μmよりも長い距離だけ、加工領域26から離して配置されていることが好ましい。
したがって、ワイヤ5は、後述するようにワイヤ5の供給が開始されてからワイヤ5が加工領域26に到達するまでに0.2秒以上必要な距離だけ離れた位置に配置されていることが好ましい。ワイヤ5の供給が開始されてからワイヤ5が加工領域26に到達するまでに0.2秒以上必要な距離だけ離れた位置にワイヤ5が配置され、レーザビーム24がワイヤ5に照射される前にワイヤ5の供給動作が開始されることによって、ワイヤ5へのレーザビーム24の照射の開始時にはワイヤ5の供給速度が規定値に到達しているようにすることができる。
次に、ステップS620において、図40に示すように、ワイヤノズル12が加工領域26へのワイヤ5の供給を開始する。すなわち、ワイヤノズル12が、加工領域26へ向けてワイヤ5をさらに吐出する。以降、予め決められた供給時間の間、加工領域26へのワイヤ5の供給が継続される。
次に、ステップS630において、図41に示すようにレーザビーム24が付加対象面22における加工領域26へ向けて照射され、付加対象面22における加工領域26に配置されたワイヤ5に照射される。また、レーザビーム24の照射に合わせて、ガスノズル13から加工領域26への不活性ガス25の噴出が開始される。これにより、予め加工領域26に配置されていたワイヤ5とレーザビーム24の照射開始後に加工領域26へ供給された金属ワイヤとが溶融した溶融ワイヤ21が、図42に示すように加工領域26に溶着する。これにより、付加対象面22の加工領域26に、堆積物18である玉ビード32が形成される。
この場合、レーザビーム24を加工領域26に照射する前に、予め定められた一定時間にわたってガスノズル13から不活性ガス25を噴出させることが好ましい。これにより、ガスノズル13内に残存していた酸素などの活性ガスをガスノズル13内から除去することができる。
玉ビード32の形状精度を向上させるためには、ワイヤ5が加工領域26に到達すると同時にレーザビーム24がワイヤ5に照射されることが好ましい。ただし、造形物101の造形が進むと加工領域26は想定している高さからずれてくる可能性があり、距離L1を設定値どおりに常に保つことが困難なことが想定される。
そこで、玉ビード32の形成前に加工領域26の高さを測定し、距離L1が設定値となるようにステップS610におけるワイヤ5の吐出位置を制御する。または、ステップS610において、加工ヘッド10の上部に取り付けられたセンサまたは計測システム61を用いてワイヤ5の先端の位置を観測し、距離L1が設定値となるようにワイヤ5の先端の吐出位置を制御する。
図43は、図1に示す付加製造装置100に計測システム61が設けられた状態を示す図である。計測システム61には、カメラなどの撮像装置および画像処理装置を用いることができる。これにより、距離L1を設定値どおりに保つことができ、ワイヤ5が加工領域26に到達すると同時にレーザビーム24をワイヤ5に照射することができ、玉ビード32の形状精度を向上させることができる。
ワイヤ5の位置を加工ヘッド10の上部に取り付けられたカメラで観測する場合は、ワイヤ5が加工領域26に到達する瞬間をカメラで撮像した画像で認識することで、ワイヤ5が加工領域26に到達すると同時にレーザビーム24を照射することが可能である。すなわち、すなわち、制御装置1は、レーザビーム24を加工領域26へ照射させるタイミングを、計測システム61でのワイヤ5の先端の位置の観測結果に基づいて制御する。
以降は、図9から図11に示すように、実施の形態1と同様にして、上述したステップS50からステップS70が行われる。
なお、上述した付加加工に対して、上述した実施の形態2におけるステップS110からステップS130の制御方法を適用してもよい。
上述した本実施の形態6における付加製造装置100による他の付加加工では、制御装置1は、ワイヤ5をワイヤ5の先端が付加対象面22の加工領域26に接触しない非接触位置まで吐出させ、さらにワイヤ5を加工領域26に供給させた後に、レーザビーム24を加工領域26へ照射させる制御を行う。そして、非接触位置は、非接触位置からワイヤ5の加工領域26への供給が開始された後にワイヤ5の先端が加工領域26に到達するまでに0.2秒以上必要な距離だけ離れた位置とされる。
上記のようにレーザビーム24がワイヤ5に照射される前にワイヤ5の供給動作が開始されることによって、ワイヤ5が加工領域26に到達すると同時にレーザビーム24をワイヤ5に照射することができる。そして、レーザビーム24の照射が開始された時点においては、すでにワイヤ5の供給動作が開始されているため、溶融ワイヤ21の加工領域26への溶着がスムーズに行われる。
また、レーザビーム24がワイヤ5に照射される前にワイヤ5の供給動作が開始されることによって、ワイヤ5が加工領域26に到達すると同時にレーザビーム24をワイヤ5に照射することができる。これにより、所望の玉ビード32を形成する際のレーザ照射時間を、玉ビード32を形成するために必要な最小限のレーザ照射時間の極限まで短くすることができる。これにより、形成された玉ビード32の大きさを小さくすることができ、直径の小さな玉ビード32を形成することが可能であるため、造形物101の形状精度を向上させることができる。
また、レーザビーム24がワイヤ5に照射される前にワイヤ5の供給動作が開始されることによって、ワイヤ5の供給速度に、予め定められた規定値どおりの値を用いることができるため、造形物101の形状精度を向上させることができる。
また、ステップS610において、計測システム61によってワイヤ5の先端の位置を観測し、距離L1が設定値となるようにワイヤ5の先端の吐出位置を制御することによって、距離L1を設定値どおりに保つことができる。このため、ワイヤ5が加工領域26に到達すると同時にレーザビーム24をワイヤ5に照射することができ、所望の玉ビード32を形成する際のレーザ照射時間を、玉ビード32を形成するために必要な最小限のレーザ照射時間の極限まで短くすることができる。これにより、形成された玉ビード32の大きさを小さくすることができ、直径の小さな玉ビード32を形成することが可能であるため、造形物101の形状精度を向上させることができる。
上述したように、本実施の形態6の付加加工では、溶融ワイヤ21の加工領域26への溶着がスムーズに行われるため、溶融ワイヤ21の付加対象面22への溶着が安定して行われ、溶融ワイヤ21の付加対象面22への未溶着を防ぐことができる、という効果が得られる。
実施の形態7.
本実施の形態7では、図1に示した付加製造装置100による他の付加加工の形態について説明する。本実施の形態7における付加加工は、上述した実施の形態1における付加加工に対して、ワイヤ5の供給速度を上げることが異なる。
以下、図44から図48を参照して、本実施の形態7における付加製造装置100による付加加工について説明する。図44は、図1に示す付加製造装置100の実施の形態7における動作を説明するフローチャートである。図45は、図1に示す付加製造装置100の加工ヘッド10が第1の位置に移動したときのレーザビーム24の中心軸CLの位置を示す模式断面図である。図46は、図1に示す付加製造装置100においてワイヤ5の先端が加工領域26に接触しない位置までワイヤ5が吐出された状態を示す模式断面図である。図47は、図1に示す付加製造装置100において加工領域26へレーザビーム24の照射を開始した状態を示す模式断面図である。図48は、図1に示す付加製造装置100の加工領域26へのワイヤ5の供給が開始された状態を示す模式断面図である。図45から図48では、付加対象面22における加工領域26の周辺の状態を示している。
まず、図45に示すように、上述したステップS10が行われる。
次に、ステップS710においてワイヤノズル12が、図46に示すように加工領域26へ向けてワイヤ5を吐出する。ここで、ワイヤ5は、ワイヤ5の先端が加工領域26に接触しない位置まで、すなわちワイヤ5の先端が付加対象面22に接触しない位置まで吐出される。たとえば、ワイヤ5は、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLのワイヤノズル12側において、加工領域26に照射されるレーザビーム24の半径の位置まで吐出される。すなわち、ワイヤ5は、ワイヤノズル12側のレーザビーム24の外周上の位置まで吐出される。
なお、ワイヤ5の先端は、ワイヤ5の供給が開始される前に、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLのワイヤノズル12側において、加工領域26に照射されるレーザビーム24の半径外であってワイヤ5の先端が付加対象面22に接触しない位置まで吐出されてもよい。また、ワイヤ5の先端は、ワイヤ5の供給が開始される前に、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLのワイヤノズル12側において、加工領域26に照射されるレーザビーム24の半径内であってワイヤ5の先端が付加対象面22に接触しない位置まで吐出されてもよい。
このとき、ワイヤノズル12から吐出されて付加対象面22に接触しないワイヤ5の中心軸CWと、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとが、付加対象面22の表面で交わっている、もしくは、ワイヤ5の中心軸CWは、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLからワイヤノズル12側のレーザビーム24のビーム半径内で、付加対象面22の表面で交わっていることが好ましい。これにより、付加対象面22において、ワイヤ5の中心軸CWと加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとの交点を中心として玉ビード32を形成することができる。
次に、ステップS720において、レーザビーム24が、図47に示すように加工領域26へ向けて照射される。また、レーザビーム24の照射に合わせて、ガスノズル13から加工領域26への不活性ガス25の噴出が開始される。
次に、ステップS730において、図48に示すように、加工領域26へのワイヤ5の供給を開始する。すなわち、ワイヤノズル12が、加工領域26へ向けてワイヤ5をさらに吐出する。これにより、レーザビーム24の中にワイヤ5が送り込まれてワイヤ5が溶融する。そして、溶融ワイヤ21が、付加対象面22に溶着し、付加対象面22の加工領域26に、堆積物18である玉ビード32が形成される。
本実施の形態7では、ステップS710においてワイヤ5が加工領域26に接触していない。このため、本実施の形態7では、ワイヤ5を加工領域26に接触させた状態からワイヤ5の供給を開始する場合と比較して、ワイヤ5の供給を開始してからワイヤ5の先端が加工領域26に到達するまでの間に、余分にレーザビーム24からの入熱を得る。これにより、本実施の形態7における付加加工では、ワイヤ5を加工領域26に接触させた状態からワイヤ5の供給を開始する場合と比較して、ワイヤ5の供給速度を上げることができる。すなわち、本実施の形態7における付加加工では、上述した実施の形態1の場合のようにワイヤ5を加工領域26に接触させた状態からワイヤ5の供給を開始する場合と比較して、速いワイヤ5の供給速度でワイヤ5を供給する。
これにより、本実施の形態7における付加加工では、溶融ワイヤ21の駆け上がり現象を抑制するとともに、玉ビード32の造形速度を高めることができる。実施の形態7における付加加工でのワイヤ5の供給速度とは、ワイヤ5の供給を開始してからワイヤ5の供給を停止するまでの間のワイヤ供給速度、もしくは回転モータ4の回転速度の最高速度のことを指す。
図49は、図1に示す付加製造装置100での付加加工においてワイヤ5の供給速度が過剰である場合のワイヤ5の供給状態の画像を示す図である。図50は、図1に示す付加製造装置100での付加加工においてワイヤ5の供給速度が正常である場合のワイヤ5の供給状態の画像を示す図である。ワイヤ5を加工領域26に接触させた状態で、本実施の形態7における付加加工でのワイヤ供給速度を用いてワイヤ5の供給動作を実施すると、ワイヤ5の供給速度が過剰となり、レーザビーム24の照射方向に見た場合に、図49に示すように、ワイヤ5の供給中の中心軸の位置が、ワイヤ5の供給開始時の中心軸の位置から乖離する現象が発生する。
ここで、本実施の形態7における付加加工は、玉ビード32の形状精度を向上させて造形物101の形状精度の向上を図ることを目的に実施されるものであるので、ワイヤ5の供給中の中心軸の位置の、ワイヤ5の供給開始時の中心軸の位置からの乖離量が、ワイヤ5の直径の1/10を超えた場合に、ワイヤ5の供給速度が過剰と判断する。ワイヤ5の供給速度が過剰である場合には、ワイヤ5が加工領域26から逸れるおそれがある。
一方、本実施の形態7における付加加工では、図50に示すように、ワイヤ5の供給中の中心軸の位置が、ワイヤ5の供給開始時の中心軸の位置と同じ位置となる。すなわち、ワイヤ5の供給中の中心軸の位置が、ワイヤ5の供給開始時の中心軸の位置から乖離する現象は発生しない。
したがって、本実施の形態7における付加加工では、ワイヤ5を加工領域26に接触させた状態からワイヤ5の供給動作を開始すると、ワイヤ5の供給中の中心軸の位置が、ワイヤ5の供給開始時の中心軸の位置から逸れる速度で、ワイヤ5を供給する。より詳細には、本実施の形態7における付加加工では、ワイヤ5を加工領域26に接触させた状態からワイヤ5の供給動作を開始すると、ワイヤ5の供給中の中心軸の位置の、ワイヤ5の供給開始時の中心軸の位置からの乖離量が、ワイヤ5の直径の1/10を超える速度で、ワイヤ5を供給する。これにより、本実施の形態7における付加加工では、溶融ワイヤ21の駆け上がり現象を抑制するとともに、玉ビード32の造形速度を高めて造形物101の造形速度を高めることができる。
以降は、図9から図11に示すように、実施の形態1と同様にして、上述したステップS50からステップS70が行われる。
なお、上述した付加加工に対して、上述した実施の形態2におけるステップS110からステップS130の制御方法を適用してもよい。
上述したように、本実施の形態7の付加加工では、溶融ワイヤ21の駈け上がり現象が生じることが無く、玉ビード32の造形速度が速くなり、造形物101の造形速度が速くなる、という効果が得られる。
以上の実施の形態に示した構成は、本発明の内容の一例を示すものであり、実施の形態同士の技術を組み合わせることも可能であるし、別の公知の技術と組み合わせることも可能であるし、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、構成の一部を省略、変更することも可能である。
1 制御装置、2 レーザ発振器、3 ファイバーケーブル、4 回転モータ、5 ワイヤ、6 ワイヤスプール、7 ガス供給装置、8 配管、10 加工ヘッド、11 ビームノズル、12 ワイヤノズル、13 ガスノズル、14 ヘッド駆動装置、15 ステージ、16 回転機構、17 ベース材、18 堆積物、19 ワイヤ供給部、21 溶融ワイヤ、22 付加対象面、23 溶融池、24 レーザビーム、25 不活性ガス、26 加工領域、27a 1層目の玉ビード層、27b 2層目の玉ビード層、27c 3層目の玉ビード層、32 玉ビード、41 CPU、42 RAM、43 ROM、44 外部記憶装置、45 入出力インタフェース、46 バス、51,52,53 矢印、54 移動方向、55 供給方向、61 計測システム、100 付加製造装置、101 造形物、321,322,323,324,325,326,327,328,329,3210,3211,3212,3213,3214,3215 玉ビード、A,B ワイヤ供給速度、C ビーム径、CL,CW 中心軸、D ワイヤ位置比率、E ワイヤ先端距離、F ワイヤ供給角度、G ワイヤ供給距離、H 到達時間、L 距離。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかる付加製造装置は、被加工物の付加対象面に造形物を造形する付加製造装置である。付加製造装置は、付加対象面の加工領域に対して造形材料を供給する材料供給部と、造形材料を溶融させるレーザビームを加工領域へ照射する照射部と、材料供給部と照射部とを制御し、加工領域に造形材料を供給しながらレーザビームを加工領域へ照射させて、レーザビームの照射により造形材料が溶融して形成される玉状のビードを用いて造形物の少なくとも一部を造形するための制御を担う制御装置と、を備える。
このとき、ワイヤノズル12から吐出されて付加対象面22に接触したワイヤ5の中心軸CWと、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとが、付加対象面22の表面で交わっている、もしくは、ワイヤ5の中心軸CWは、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLからワイヤノズル12側のレーザビーム24のビーム半径内で、付加対象面22の表面交わっていることが好ましい。これにより、付加対象面22において、ワイヤ5の中心軸CWと加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとの交点を中心として玉ビード32を形成することができる。
この場合は、1層目の玉ビード層27aにおいて隙間を空けて形成された玉ビード321、玉ビード322、玉ビード323および玉ビード324には、接触する玉ビード32が存在しない。すなわち、次の玉ビード32が、直前に形成された玉ビード32から離間した位置に形成される。このため、隙間を空けて形成された各玉ビード32は、隣り合う玉ビード32の表面張力の影響を受けずに、設計どおりの所望の大きさに形成される。
この場合には、図19に示すようにワイヤノズル12から吐出されたワイヤ5の先端が、加工領域26の玉ビード32における頂点よりも付加対象面22に平行な方向にずれた位置の玉ビード32の上面に衝突する。そして、付加対象面22に接触したワイヤ5の中心軸CWと、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとが、付加対象面22の表面、すなわち加工領域26の玉ビード32の表面で交わらなくなる。すなわち、形成された玉ビード32の実高さと、玉ビード32の設計高さとの差が蓄積することで、ワイヤ5の先端が加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLまで到達できない状況が発生する。
実施の形態4.
本実施の形態4では、図1に示した付加製造装置100による他の付加加工の実施の形態について説明する。本実施の形態4における付加加工は、上述した実施の形態1における付加加工に対して、加工領域26からのワイヤ5の引き抜き方法が異なる。以下、図27から図29を参照して、本実施の形態における付加製造装置100の動作について説明する。図27は、図1に示す付加製造装置100の実施の形態4における動作を説明するフローチャートである。図28は、図1に示す付加製造装置100のワイヤ5が上方に移動する状態を示す模式断面図である。図29は、図1に示す付加製造装置100の加工領域26からワイヤ5が引き抜かれる状態を示す模式断面図である。
このとき、ワイヤノズル12から吐出されて付加対象面22に接触したワイヤ5の中心軸CWと、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとが、付加対象面22の表面で交わっている、もしくは、ワイヤ5の中心軸CWは、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLからワイヤノズル12側のレーザビーム24のビーム半径内で、付加対象面22の表面交わっていることが好ましい。これにより、付加対象面22において、ワイヤ5の中心軸CWと加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとの交点を中心として玉ビード32を形成することができる。
このとき、ワイヤノズル12から吐出されて付加対象面22に接触しないワイヤ5の中心軸CWと、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとが、付加対象面22の表面で交わっている、もしくは、ワイヤ5の中心軸CWは、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLからワイヤノズル12側のレーザビーム24のビーム半径内で、付加対象面22の表面交わっていることが好ましい。これにより、付加対象面22において、ワイヤ5の中心軸CWと加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとの交点を中心として玉ビード32を形成することができる。
このとき、ワイヤノズル12から吐出されて付加対象面22に接触しないワイヤ5の中心軸CWと、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとが、付加対象面22の表面で交わっている、もしくは、ワイヤ5の中心軸CWは、加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLからワイヤノズル12側のレーザビーム24のビーム半径内で、付加対象面22の表面交わっていることが好ましい。これにより、付加対象面22において、ワイヤ5の中心軸CWと加工領域26に照射されるレーザビーム24の中心軸CLとの交点を中心として玉ビード32を形成することができる。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかる付加製造装置は、被加工物の付加対象面に造形物を造形する付加製造装置である。付加製造装置は、付加対象面の加工領域に対して造形材料を供給する材料供給部と、造形材料を溶融させるレーザビームを加工領域へ照射する照射部と、材料供給部と照射部とを制御し、加工領域に造形材料を供給しながらレーザビームを加工領域へ照射させて、レーザビームの照射により造形材料が溶融して形成される玉状のビードを用いて造形物の少なくとも一部を造形するための制御を担う制御装置と、を備える。造形材料はワイヤ状である。制御装置は、ワイヤ状の造形材料の先端を加工領域に接触させた後にレーザビームを加工領域へ照射させる制御を行う
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかる付加製造装置は、被加工物の付加対象面に造形物を造形する付加製造装置である。付加製造装置は、付加対象面の加工領域に対して造形材料を供給する材料供給部と、造形材料を溶融させるレーザビームを加工領域へ照射する照射部と、材料供給部と照射部とを制御し、加工領域に造形材料を供給しながらレーザビームを加工領域へ照射させて、レーザビームの照射により造形材料が溶融して形成される玉状のビードを用いて造形物の少なくとも一部を造形するための制御を担う制御装置と、を備える。造形材料はワイヤ状である。材料供給部は、加工領域の面内方向に垂直な方向に対して斜め方向にワイヤ状の造形材料を進行させて、加工領域に対してワイヤ状の造形材料を供給する。照射部は、加工領域の面内方向に垂直な方向にレーザビームを進行させて、加工領域へレーザビームを照射する。制御装置は、ワイヤ状の造形材料の先端を加工領域に接触させた後にレーザビームを加工領域へ照射させる制御を行う。

Claims (25)

  1. 被加工物の付加対象面に造形物を造形する付加製造装置であって、
    前記付加対象面の加工領域に対して造形材料を供給する材料供給部と、
    前記造形材料を溶融させるレーザビームを前記加工領域へ照射する照射部と、
    前記材料供給部と前記照射部とを制御し、前記レーザビームの照射により前記造形材料が溶融して形成される玉状のビードを用いて前記造形物の少なくとも一部を造形するための制御を担う制御装置と、
    を備えることを特徴とする付加製造装置。
  2. 前記造形材料はワイヤ状であり、
    前記制御装置は、前記ワイヤ状の造形材料の先端を前記加工領域に接触させた後に前記レーザビームを前記加工領域へ照射させる制御を行うこと、
    を特徴とする請求項1に記載の付加製造装置。
  3. 前記制御装置は、前記ワイヤ状の造形材料が前記レーザビームの中心軸と交わる位置まで供給された場合に前記ワイヤ状の造形材料の先端が前記加工領域に接触しない高さ位置に前記ワイヤ状の造形材料を供給させた後に、または前記ワイヤ状の造形材料の中心軸が前記加工領域に接触する位置まで前記ワイヤ状の造形材料が供給された場合に前記ワイヤ状の造形材料の先端が前記加工領域に接触しない高さ位置に前記ワイヤ状の造形材料を供給させた後に、前記ワイヤ状の造形材料を前記加工領域へ向けて移動させて前記ワイヤ状の造形材料の先端を前記加工領域に接触させる制御を行うこと、
    を特徴とする請求項2に記載の付加製造装置。
  4. 前記造形材料はワイヤ状であり、
    前記制御装置は、前記レーザビームと前記ワイヤ状の造形材料の中心軸とが非同軸である場合には前記付加対象面の面内方向における前記レーザビームの中心軸と前記ワイヤ状の造形材料の先端との間の距離が前記レーザビームの半径の0.5倍以上、2.3倍以下の範囲である待機位置まで前記ワイヤ状の造形材料を供給させた後に、前記レーザビームと前記ワイヤ状の造形材料の中心軸とが同軸である場合には前記付加対象面と前記ワイヤ状の造形材料の先端との間の距離が前記レーザビームの半径の0.5倍以上、2.3倍以下の範囲である待機位置まで前記ワイヤ状の造形材料を供給させた後に、前記レーザビームを前記加工領域へ照射させ、さらに前記ワイヤ状の造形材料を前記加工領域へ供給させる制御を行うこと、
    を特徴とする請求項1に記載の付加製造装置。
  5. 前記付加対象面が、前記造形物を構成する2層目以上の玉状のビードの層である場合に、
    前記制御装置は、前記レーザビームを照射する前に、前記付加対象面の高さと前記待機位置まで供給された前記ワイヤ状の造形材料の先端位置の高さとに基づいて、前記ワイヤ状の造形材料の先端が前記加工領域へ照射される前記レーザビームの中心軸の位置まで到達できる高さ位置まで上方に移動させた後に、さらに前記ワイヤ状の造形材料を前記加工領域へ供給させること、
    を特徴とする請求項4に記載の付加製造装置。
  6. 前記制御装置は、前記ワイヤ状の造形材料の供給位置を固定した状態で前記加工領域へ前記ワイヤ状の造形材料を供給しながら予め定められた照射時間にわたって前記レーザビームを前記加工領域へ照射させた後に、前記ワイヤ状の造形材料の供給および前記レーザビームの照射を停止させる制御を行うこと、
    を特徴とする請求項2から5のいずれか1つに記載の付加製造装置。
  7. 前記制御装置は、前記ワイヤ状の造形材料の供給を停止した後に、前記ワイヤ状の造形材料の供給方向と反対の方向に前記ワイヤ状の造形材料を引き抜き、前記レーザビームの照射を停止させる制御を行うこと、
    を特徴とする請求項2から5のいずれか1つに記載の付加製造装置。
  8. 前記制御装置により制御されて前記加工領域へ不活性ガスを噴出するガス供給部を備え、
    前記制御装置は、前記レーザビームを前記加工領域へ照射している間および前記レーザビームの照射の停止後の予め定められた継続時間にわたって前記加工領域への前記不活性ガスを噴出させる制御を行うこと、
    を特徴とする請求項6または7に記載の付加製造装置。
  9. 前記制御装置は、前記継続時間の経過後に、次に前記レーザビームが照射されるまで前記不活性ガスの噴出を停止させる制御を行うこと、
    を特徴とする請求項8に記載の付加製造装置。
  10. 前記制御装置は、前記加工領域に溶着されている前記ワイヤ状の造形材料が溶融した溶融ワイヤから前記ワイヤ状の造形材料が抜けない範囲で前記ワイヤ状の造形材料を上方に移動させること、
    を特徴とする請求項2から9のいずれか1つに記載の付加製造装置。
  11. 前記制御装置は、前記ワイヤ状の造形材料を上方に移動させた後に、前記ワイヤ状の造形材料の供給方向と反対の方向に前記ワイヤ状の造形材料を引き抜く制御を行うこと、
    を特徴とする請求項10に記載の付加製造装置。
  12. 前記制御装置は、前記付加対象面の面内において、前記付加対象面に形成済みの前記玉状のビードと、前記加工領域に供給される前記ワイヤ状の造形材料とが重ならない方向に、前記材料供給部の移動方向と前記ワイヤ状の造形材料の供給方向とを制御すること、
    を特徴とする請求項2から11のいずれか1つに記載の付加製造装置。
  13. 前記被加工物を回転可能な回転機構または前記材料供給部と前記照射部とを前記付加対象面の面内方向において円形に移動させる移動機構を備え、
    前記制御装置は、前記付加対象面の面内において、前記付加対象面に形成済みの前記玉状のビードと、前記加工領域に供給される前記ワイヤ状の造形材料とが重ならない方向に、前記ワイヤ状の造形材料の供給方向と前記被加工物の回転方向とを制御すること、
    を特徴とする請求項2から12のいずれか1つに記載の付加製造装置。
  14. 前記制御装置は、隣り合う前記玉状のビード同士の間に隙間を空けて複数の第1の玉状のビードを形成した後、前記隙間または前記第1の玉状のビードに隣り合う領域に第2の玉状のビードを形成させる制御を行うこと、
    を特徴とする請求項1から13のいずれか1つに記載の付加製造装置。
  15. 前記制御装置は、複数の前記玉状のビードからなる前記玉状のビードの層の端部に対応する前記玉状のビードを、前記玉状のビードの層を構成する複数の前記玉状のビードのうち最後に形成させる制御を行うこと、
    を特徴とする請求項1から14のいずれか1つに記載の付加製造装置。
  16. 前記造形材料はワイヤ状であり、
    前記制御装置は、前記ワイヤ状の造形材料の前記加工領域への供給を開始させた後に、前記レーザビームを前記加工領域へ照射させる制御を行うこと、
    を特徴とする請求項1に記載の付加製造装置。
  17. 前記制御装置は、前記ワイヤ状の造形材料を前記ワイヤ状の造形材料の先端が前記加工領域に接触しない非接触位置まで吐出させ、さらに前記ワイヤ状の造形材料の前記加工領域への供給を開始させた後に、前記レーザビームを前記加工領域へ照射させる制御を行うこと、
    を特徴とする請求項16に記載の付加製造装置。
  18. 前記非接触位置は、前記非接触位置から前記ワイヤ状の造形材料の前記加工領域への供給が開始されてから前記ワイヤ状の造形材料の先端が前記加工領域に到達するまでに0.2秒以上必要な距離だけ離れた位置であること、
    を特徴とする請求項17に記載の付加製造装置。
  19. 前記制御装置は、前記レーザビームを前記加工領域へ照射させるタイミングを、ワイヤ状の造形材料の先端の位置の観測結果に基づいて制御すること、
    を特徴とする請求項16から18のいずれか1つに記載の付加製造装置。
  20. 前記造形材料はワイヤ状であり、
    前記制御装置は、
    前記ワイヤ状の造形材料を前記ワイヤ状の造形材料の先端が前記加工領域に接触しない位置まで吐出させ、前記レーザビームを前記加工領域へ照射させた後に、さらに前記ワイヤ状の造形材料を前記加工領域に供給させる制御を行い、
    前記レーザビームを前記加工領域へ照射させた後においては、前記ワイヤ状の造形材料の先端を前記加工領域に接触させた状態からさらに前記ワイヤ状の造形材料を前記加工領域に供給させた場合に前記ワイヤ状の造形材料の先端が前記加工領域から逸れる速度で、前記ワイヤ状の造形材料を前記加工領域に供給させること、
    を特徴とする請求項1に記載の付加製造装置。
  21. 被加工物の付加対象面の加工領域に対して造形材料を供給する材料供給部と、前記造形材料を溶融させるレーザビームを前記付加対象面へ照射する照射部と、を制御することにより付加加工を行う付加製造方法であって、
    前記レーザビームの照射により前記造形材料を溶融して玉状のビードを形成するステップを含むことを特徴とする付加製造方法。
  22. 前記造形材料はワイヤ状であり、
    前記造形材料の前記加工領域への供給を開始させるステップと、
    前記造形材料の前記加工領域への供給を開始させた後に、前記レーザビームを前記加工領域へ照射させるステップと、
    を含むことを特徴とする請求項21に記載の付加製造方法。
  23. 前記造形材料はワイヤ状であり、
    前記ワイヤ状の造形材料を前記ワイヤ状の造形材料の先端が前記加工領域に接触しない位置まで吐出させるステップと、
    前記レーザビームを前記加工領域へ照射させるステップと、
    前記ワイヤ状の造形材料を前記加工領域に供給させるステップと、
    を含み、
    前記ワイヤ状の造形材料を前記加工領域に供給させるステップでは、前記ワイヤ状の造形材料の先端を加工領域に接触させた状態からさらに前記ワイヤ状の造形材料を前記加工領域に供給させた場合に前記ワイヤ状の造形材料の先端が前記加工領域から逸れる速度で、前記ワイヤ状の造形材料を前記加工領域に供給させること、
    を特徴とする請求項21に記載の付加製造方法。
  24. 被加工物の付加対象面の加工領域に対してワイヤ状の造形材料を供給する材料供給部と、前記ワイヤ状の造形材料を溶融させるレーザビームを前記付加対象面へ照射する照射部と、を制御することにより付加加工を行う付加製造方法であって、
    前記ワイヤ状の造形材料の先端を前記加工領域に接触させるステップと、
    前記レーザビームを前記加工領域へ照射するステップと、
    を含むことを特徴とする付加製造方法。
  25. 被加工物の付加対象面の加工領域に対してワイヤ状の造形材料を供給する材料供給部と、前記ワイヤ状の造形材料を溶融させるレーザビームを前記付加対象面へ照射する照射部と、を制御することにより付加加工を行う付加製造方法であって、
    前記レーザビームと前記ワイヤ状の造形材料の中心軸とを非同軸とする場合には前記付加対象面の面内方向における前記レーザビームの中心軸と前記ワイヤ状の造形材料の先端との間の距離が前記レーザビームの半径の0.5倍以上、2.3倍以下の範囲である待機位置まで前記ワイヤ状の造形材料を供給し、前記レーザビームと前記ワイヤ状の造形材料の中心軸とを同軸とする場合には前記付加対象面と前記ワイヤ状の造形材料の先端との間の距離が前記レーザビームの半径の0.5倍以上、2.3倍以下の範囲である待機位置まで前記ワイヤ状の造形材料を供給するステップと、
    前記レーザビームを前記加工領域へ照射するステップと、
    前記ワイヤ状の造形材料を前記加工領域へ供給するステップと、
    を含むことを特徴とする付加製造方法。
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