JPWO2019163093A1 - 多方路監視装置 - Google Patents
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Abstract
Description
実施の形態1.
図1はこの発明の実施の形態1に係る多方路監視装置1の構成例を示す図である。
多方路監視装置1は、測定対象である複数の伝送路2を監視する。なお、伝送路2は光ファイバであり、図1では3本の伝送路2(伝送路2−1〜2−3)が測定対象である場合を示している。また以下では、多方路WDMシステムがROADM(Reconfigurable Optical Add/Drop Multiplexer)システムであり、多方路監視装置1がROADMシステムを構成するROADM装置3毎に1台ずつ設けられ、多方路監視装置1がROADM装置3に接続された複数の伝送路2を監視する場合を示す。なお符号21はコネクタを示している。
この多方路監視装置1は、図1に示すように、光源11、光スプリッタ12、複数の可変光減衰器(VOA:Variable Optical Attenuator)13、複数の光カプラ14、受光素子15、パワー調整部16及びデータ処理部17を備えている。なお、VOA13及び光カプラ14は、多方路監視装置1が測定対象とする伝送路2毎に設けられている。また、多方路監視装置1には、OpS(Operating System)4が接続されている。OpS4は例えば多方路監視装置1に対して遠隔配置されている。
光スプリッタ12は、1つの第1ポート及び複数の第2ポートを有し、第1ポートが光源11に接続され、各第2ポートが各VOA13にそれぞれ接続されている。図1では光スプリッタ12が3つの第2ポートを有する場合を示している。この光スプリッタ12は、光源11から第1ポートに入力されたパルス光を分岐して各第2ポートからそれぞれ出力する。また、光スプリッタ12は、各VOA13から各第2ポートに入力された後方散乱光を合成して第1ポートから出力する。なお、光スプリッタ12の第1ポートから出力された後方散乱光は、光カプラ18を経由して受光素子15に入力される。
多方路監視装置1の動作例では、図6に示すように、まず、第1設定部171は、パワー調整部16に各VOA13での減衰量を全て最小値に設定させる(ステップST601)。パワー調整部16は、第1設定部171による指示に従い、各VOA13での減衰量を全て最小値に設定する。
次いで、第1設定部171は、光源11によりパルス光を出力させる(ステップST602)。光源11は、第1設定部171による指示に従い、パルス光を出力する。
そして、伝送路2の一端に入力されたパルス光は、当該伝送路2を進行しながら後方に後方散乱光を発生させる。この後方散乱光は、伝送路2の一端に戻り、光カプラ14及びVOA13を経由して光スプリッタ12に入力される。そして、各伝送路2から戻ってきた後方散乱光は、光スプリッタ12により合成され、光カプラ18を経由して受光素子15に入力される。そして、受光素子15は、この後方散乱光を受光し、当該後方散乱光をその受光強度に応じた電気信号に変換する。この受光素子15により得られた電気信号は、アンプ部19を経由してデータ処理部17に入力される。
なお、光カプラ14の一方の第1ポートからも後方散乱光は出力される。そのため、多方路監視装置1は、この第1ポートに、必要に応じて後方散乱光を除去するための光フィルタが設置されてもよい。
次いで、検出部173は、伝送路長データに基づいて、n番目の伝送路2が当該反射点までの距離よりも長いかを判定する(ステップST605)。
次いで、第2設定部174は、光源11によりパルス光を出力させる(ステップST607)。光源11は、第2設定部174による指示に従い、パルス光を出力する。その後の光スプリッタ12から受光素子15までの光の流れは、ステップST602以降の光スプリッタ12から受光素子15までの光の流れと同様である。なおここでは、n番目のVOA13での減衰量のみ最大値であるため、n番目のVOA13に入力されるパルス光のみ減衰される。
伝送路2が反射点までの距離よりも短い場合、その伝送路2に反射点が存在することはない。よって、多方路監視装置1は、各伝送路2の長さを事前に把握している場合には、図5に示すように、パワー調整部16が減衰量の切替え対象とするVOA13を絞り込むことができる。図3,5の例では、1番目の伝送路2−1の長さL1は反射点までの距離L2よりも短いため、第2設定部174は、1番目のVOA13−1を上記切替え対象から除外する。その結果、多方路監視装置1は、異常の疑いのある伝送路2を特定するまでに要する時間を短縮できる。
実施の形態1に係る多方路監視装置1では、光スプリッタ12及び複数のVOA13を有することで、1台で複数の伝送路2を同時に監視可能となる。その結果、複数の伝送路2に対するOTDR測定に要する時間の短縮及び装置のコスト低減が可能となる。
また、多方路監視装置1は、まず、各VOA13での減衰量を全て最小値として、各伝送路2に対するOTDR測定を一括で実施し、各伝送路2全体で反射点の有無を検出する。そして、多方路監視装置1は、反射点を検出した場合には、各VOA13での減衰量を順に最大値に切替え、1つの伝送路2を除く各伝送路2に対するOTDR測定を一括で実施し、反射点の存在する伝送路2を特定する。これにより、反射点と同一の位置に複数の不連続点が存在する場合にも、多方路監視装置1は反射点が存在する伝送路2を特定できる。
図7に、上記切替え対象とするVOA13の絞り込みを行わない場合(破線)と絞り込みを行った場合(実線)とでの特定時間の違いを、測定対象である伝送路2の数毎に示している。図7では、光源11の発光時間を1分とし、測定対象である伝送路2のうちの半数が反射点までの距離よりも短い場合を示している。この図7に示すように、多方路監視装置1は、測定対象である伝送路2の数が増加するにつれて、上記切替え対象とするVOA13の絞り込みによる特定時間の短縮効果が大きくなることがわかる。
実施の形態1では、光源11が出力するパルス光の波長については言及していない。それに対し、例えば図8に示すように、光源11が出力するパルス光801の波長を、測定対象である伝送路2で伝送される主信号であるWDM光802の波長帯とは異なる波長としてもよい。
なお、実施の形態2に係る多方路監視装置1の構成例及び動作例は、実施の形態1に係る多方路監視装置1の構成例及び動作例と同様であり、その説明を省略する。
データ処理部17における第1設定部171、判定部172、検出部173、第2設定部174及び特定部175の各機能は、処理回路51により実現される。処理回路51は、図9Aに示すように、専用のハードウェアであってもよいし、図9Bに示すように、メモリ53に格納されるプログラムを実行するCPU(Central Processing Unit、中央処理装置、処理装置、演算装置、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、プロセッサ、又はDSP(Digital Signal Processor)ともいう)52であってもよい。
Claims (4)
- パルス光を出力する光源と、
前記光源により出力されたパルス光を分岐して複数のポートからそれぞれ出力する光スプリッタと、
前記光スプリッタのポートにそれぞれ接続され、当該光スプリッタから入力されたパルス光を減衰して出力する複数の可変光減衰器と、
一端側のポートが前記可変光減衰器の出力にそれぞれ接続され、他端側のポートが測定対象である複数の伝送路の一端にそれぞれ接続された複数の光カプラと、
前記伝送路の一端からの後方散乱光を受光する受光素子と、
前記可変光減衰器を個別に制御するパワー調整部と、
前記受光素子による受光結果から、前記伝送路の異常検出を行うデータ処理部と
を備えた多方路監視装置。 - 前記データ処理部は、
前記パワー調整部に前記可変光減衰器での減衰量を全て最小値に設定させ、前記光源によりパルス光を出力させる第1設定部と、
前記第1設定部による処理後、前記受光素子による受光結果から後方散乱光の強度の時間変化を示す第1波形データを生成し、当該第1波形データから反射点の有無を判定する判定部と、
前記判定部により反射点が有ると判定された場合に、前記パワー調整部に前記可変光減衰器での減衰量を順に最大値に切替えさせ、当該パワー調整部による減衰量の切替え毎に前記光源にパルス光を出力させる第2設定部と、
前記第2設定部による処理後、前記受光素子による受光結果から後方散乱光の強度の時間変化を示す第2波形データを生成し、当該第2波形データと前記第1波形データとを比較することで、前記伝送路のうちの異常の疑いのある伝送路を特定する特定部とを有する
ことを特徴とする請求項1記載の多方路監視装置。 - 前記データ処理部は、
前記判定部により反射点が有ると判定された場合に、前記伝送路のうち、当該反射点までの距離よりも短い伝送路を検出する検出部を有し、
前記第2設定部は、前記可変光減衰器のうち、前記検出部により検出された伝送路に対応する可変光減衰器については、前記パワー調整部による減衰量の切替え対象から除外する
ことを特徴とする請求項2記載の多方路監視装置。 - 前記光源により出力されるパルス光は、前記伝送路で伝送される波長多重光の波長帯以外の波長である
ことを特徴とする請求項1記載の多方路監視装置。
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