JP4209309B2 - 光線路試験システム - Google Patents
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Description
光伝送装置2と光伝送装置3とは光ファイバ4により接続されている。6は設備情報を管理する設備管理センタであり、設備管理センタ6には、光線路設備のデータベース7、光試験装置5を遠隔で操作する操作端末8が設置されている。
通信設備ビル1には、光伝送装置の他に、光試験装置5と、光カプラモジュール12とが設置されている。
光試験装置5は、心線選択装置16と、光測定器・試験架選択装置(FTES)17と、光測定器18と、試験制御装置19とを有している。
また、光測定器・試験架選択装置(FTES)17は光測定器18と心線選択装置16を選択する機能を有し、光カプラモジュール12は光ファイバ4に試験光を合分波し、試験光を遮断する機能を有する。光カプラ10は試験光と通信光を合分波して光ファイバ4に結合させる機能を有している。
まず、設備管理センタ6にある操作端末8からデータベース7に基づいて試験命令を光試験装置5に出す。この命令にしたがって、光試験装置5の試験制御装置19は、光測定器18をFTES17で選択し、光カプラの試験光入出力ポートを収容している心線選択装置16は、指定された光ファイバが接続された光カプラモジュール12の試験光入力ポートを選択する。
しかし、通信設備ビル側から光試験を行うためには、ダイナミックレンジの大きいOTDRが必要となり高価となる。
また、光ネットワークの構成は、通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置が1対1で接続されているシングルスター型(SS型)と、光線路上にスプリッタを配置することで線路を分岐し、通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置が1対nで接続されているパッシブダブルスター型(PDS型)がある。
そこで、通信設備ビル側の光試験装置だけで全てを監視するのではなく、状況に応じてユーザ側から光試験を行う方法があるが、ユーザ側にはすでにターミネーションフィルタが設置されており、試験光が遮断されてしまうため、光ファイバケーブルのフィルタが収容されている箇所を切り落として、光コードの融着接続をしてから光試験を行っており、作業が煩雑になる問題点がある。
通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λuの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ2であり、そのスペクトル線幅は±△λ2であり、
前記第2の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ2は
λ2>λ1+△λu
であることを特徴とする。
通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λuの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ2であり、そのスペクトル線幅は±△λ2であり、
前記第2の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ2が
λ1−△λ1<λ2<λ1−△λu
であることを特徴とする。
前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第1の試験光遮断フィルタと、前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第2の試験光遮断フィルタとを有する光線路試験監視システムであって、
前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λuの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ2であり、そのスペクトル線幅は±△λ2であり、
前記第2の試験光遮断フィルタは、通信光として用いられる最も短い波長の中心波長をλ3とすると、λ1−△λ1以上の波長を有する光および、λ3以下の波長を有する光を遮断する特性を有し、
前記可搬型光測定器における試験波長の中心波長λ2は
λ2<λ3
であることを特徴とする。
前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第1の試験光遮断フィルタと、前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第2の試験光遮断フィルタとを有し、
前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λuの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ2であり、そのスペクトル線幅は±△λ2であり、
前記第2の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ2は
λ2>λ1+△λu
であることを特徴とする。
前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第1の試験光遮断フィルタと、前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第2の試験光遮断フィルタとを有し、
前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λuの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ2であり、そのスペクトル線幅は±△λ2であり、
前記第2の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ2が
λ1−△λ1<λ2<λ1−△λu
であることを特徴とする。
前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λuの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ2であり、そのスペクトル線幅は±△λ2であり、
前記第2の試験光遮断フィルタは、通信光として用いられる最も短い波長の中心波長をλ3とすると、λ1−△λ1以上の波長を有する光および、λ3以下の波長を有する光を遮断する特性を有し、
前記可搬型光測定器における試験波長の中心波長λ2は
λ2<λ3
であることを特徴とする。
また、本発明によれば、上記効果に加えPDS型のネットワーク構成においてスプリッタ下部の光試験が行える光線路試験システム実現することができる。
本発明の第1実施形態に係る光線路試験監視システムの構成を図1に示す。
本発明の第1実施形態に係る光線路試験監視システムは、通信設備ビル1側に配置された光伝送装置2とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバ4に試験光を入出力する光カプラモジュール12と、光ファイバ4を測定対象とする通信設備ビル1側に配置された光試験装置5と、ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器14と、ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断するターミネーションフィルタ13aと、光伝送装置2の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する所内フィルタ11aとを有している。
図1において、ターミネーションフィルタ13aは本発明の第1の試験光遮断フィルタに相当し、所内フィルタ11aは本発明の第2の試験光遮断フィルタに相当する。
上記のようにして決定された可搬型光測定器14の試験波長は、所内フィルタ11aで遮断することができ、なおかつターミネーションフィルタ13aを透過する。
つまり上記構成からなる第2実施形態に係る光線路試験システムにより、試験光の波長を本実施形態のように選択することでも、ユーザ側からの高分解かつ簡便な光試験が可能となり、接続点の多いユーザ側の光線路における正確かつ迅速な障害の検知が可能となる。
また、図5に示すように可搬型光測定器14の試験波長の中心波長λ2はλ2<λ3であるので、λ2<1.26μmとなる。
通信設備ビル1側に配置された光測定器18の試験波長、ユーザ側光伝送装置3と置き換えられた可搬型光測定器14の試験波長は第1実施形態、第2実施形態と同様である。
可搬型光測定器14から射出された試験光はターミネーションフィルタ13aを透過し、1対nスプリッタ15を通り、通信設備ビルの方向へ進むが、光カプラモジュール12のAポート側に配置された所内フィルタ11aにて遮断されるため通信設備ビル側光伝送装置2には影響を与えない。
また、上記所内フィルタ11aを第3実施形態に係る光線路試験監視システムの所内フィルタ11bに置き換え、可搬型光測定器14の試験波長を第3実施形態と同様にしても、上記と同等の効果が得られる。
2、3…光伝送装置
4…光ファイバ
5…光試験装置
6…設備管理センタ
7…データベース
8…操作端末
9…通信網
10…光カプラ
11、11a…所内フィルタ
12…光カプラモジュール
13、13a…ターミネーションフィルタ
14…可搬型光測定器
15…1対nスプリッタ
16…心線選択装置
17…FTES
18…光測定器
19…試験制御装置
Claims (6)
- 通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、
前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、
前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第1の試験光遮断フィルタと、
前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第2の試験光遮断フィルタと、
を有する光線路試験監視システムであって、
通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λuの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ2であり、そのスペクトル線幅は±△λ2であり、
前記第2の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ2は
λ2>λ1+△λu
であることを特徴とする光線路試験システム。 - 通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、
前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、
前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第1の試験光遮断フィルタと、
前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第2の試験光遮断フィルタと、
を有する光線路試験監視システムであって、
通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λuの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ2であり、そのスペクトル線幅は±△λ2であり、
前記第2の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ2が
λ1−△λ1<λ2<λ1−△λu
であることを特徴とする光線路試験システム。 - 通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、
前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、
前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第1の試験光遮断フィルタと、
前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第2の試験光遮断フィルタと、
を有する光線路試験監視システムであって、
前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λuの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ2であり、そのスペクトル線幅は±△λ2であり、
前記第2の試験光遮断フィルタは、通信光として用いられる最も短い波長の中心波長をλ3とすると、λ1−△λ1以上の波長を有する光および、λ3以下の波長を有する光を遮断する特性を有し、
前記可搬型光測定器における試験波長の中心波長λ2は
λ2<λ3
であることを特徴とする光線路試験システム。 - 光線路上に配置されたスプリッタを介して通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置とが1対nに接続されてなる光ネットワークにおける光線路を構成する光ファイバケーブルの光ファイバの試験を行う光線路試験システムであって、
通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、
前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、
前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第1の試験光遮断フィルタと、
前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第2の試験光遮断フィルタとを有し、
前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λuの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ2であり、そのスペクトル線幅は±△λ2であり、
前記第2の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ2は
λ2>λ1+△λu
であることを特徴とする光線路試験システム。 - 光線路上に配置されたスプリッタを介して通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置とが1対nに接続されてなる光ネットワークにおける光線路を構成する光ファイバケーブルの光ファイバの試験を行う光線路試験システムであって、
通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、
前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、
前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第1の試験光遮断フィルタと、
前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第2の試験光遮断フィルタとを有し、
前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λuの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ2であり、そのスペクトル線幅は±△λ2であり、
前記第2の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ2が
λ1−△λ1<λ2<λ1−△λu
であることを特徴とする光線路試験システム。 - 光線路上に配置されたスプリッタを介して通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置とが1対nに接続されてなる光ネットワークにおける光線路を構成する光ファイバケーブルの光ファイバの試験を行う光線路試験システムであって、
通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、
前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、
前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第1の試験光遮断フィルタと、
前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第2の試験光遮断フィルタとを有し、
前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λuの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ2であり、そのスペクトル線幅は±△λ2であり、
前記第2の試験光遮断フィルタは、通信光として用いられる最も短い波長の中心波長をλ3とすると、λ1−△λ1以上の波長を有する光および、λ3以下の波長を有する光を遮断する特性を有し、
前記可搬型光測定器における試験波長の中心波長λ2は
λ2<λ3
であることを特徴とする光線路試験システム。
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JP2003379832A JP4209309B2 (ja) | 2003-11-10 | 2003-11-10 | 光線路試験システム |
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2003
- 2003-11-10 JP JP2003379832A patent/JP4209309B2/ja not_active Expired - Lifetime
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