JP2005140736A - 光線路試験システム - Google Patents

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Abstract

【課題】 ユーザ側から既設のフィルタを取り外すことなく光線路の光試験を行うことができ、ユーザ宅近くでの高分解な測定を可能とする。
【解決手段】 通信設備ビル1側に配置された光伝送装置2とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバ4に試験光を入出力する光カプラモジュール12と、光ファイバ4を測定対象とする通信設備ビル1側に配置された光試験装置5と、ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器14と、ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断するターミネーションフィルタ13aと、光伝送装置2の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する所内フィルタ11aとを有している。
【選択図】 図1

Description

本発明は、光通信設備の信頼性を向上させ、保守・運用を効率化する光通信設備の光線路試験システムに関する。
従来の光線路試験監視システムとして、図7に示すものがある(特許文献1参照)。図7において、1は電気通信設備を設置する通信設備ビル、2は通信設備ビル1に設置された光伝送装置、3は光伝送装置2に対向してユーザ側に設置された光信号を送受信する光伝送装置である。
光伝送装置2と光伝送装置3とは光ファイバ4により接続されている。6は設備情報を管理する設備管理センタであり、設備管理センタ6には、光線路設備のデータベース7、光試験装置5を遠隔で操作する操作端末8が設置されている。
設備管理センタ6内の操作端末8は、通信設備ビル7内の光試験装置5と通信網9を介して接続されている。
通信設備ビル1には、光伝送装置の他に、光試験装置5と、光カプラモジュール12とが設置されている。
光試験装置5は、心線選択装置16と、光測定器・試験架選択装置(FTES)17と、光測定器18と、試験制御装置19とを有している。
試験制御装置19は操作端末8からの試験指示を受け取り、また試験結果を設備センタに送信する機能を有している。光測定器18は光パルス試験器(OTDR)、損失試験光源、心線対照光源、パワーメータの機能を有し、心線選択装置16は試験を実施する光ファイバ心線を選択する機能を有している。
また、光測定器・試験架選択装置(FTES)17は光測定器18と心線選択装置16を選択する機能を有し、光カプラモジュール12は光ファイバ4に試験光を合分波し、試験光を遮断する機能を有する。光カプラ10は試験光と通信光を合分波して光ファイバ4に結合させる機能を有している。
11は通信光を透過し、試験光を遮断する所内フィルタ、13は光伝送装置3の直前に設置され、通信光を透過し試験光を遮断するとともに、開放端でのフレネル反射よりも大きな試験光の反射を発生させるターミネーションフィルタである。
光カプラモジュール12におけるAポートは通信設備ビル側光伝送装置2に接続されている。また、光カプラモジュール12におけるBポートは光ファイバ4側に接続する通信光用のポートであり、Cポートは光ファイバ4およびユーザ側光伝送装置3側を、Dは通信設備ビル側光伝送装置2側を試験するための測定装置が接続される試験光用ポートである。
図7に示した光線路監視試験システムを用いた障害の検知は次のように行う。
まず、設備管理センタ6にある操作端末8からデータベース7に基づいて試験命令を光試験装置5に出す。この命令にしたがって、光試験装置5の試験制御装置19は、光測定器18をFTES17で選択し、光カプラの試験光入出力ポートを収容している心線選択装置16は、指定された光ファイバが接続された光カプラモジュール12の試験光入力ポートを選択する。
光測定器18からの試験光が、光通信サービスに影響を与えないように、試験光のみを遮断する所内フィルタ11とターミネーションフィルタ13が、光伝送装置2と光伝送装置3の前にそれぞれ設置されている。これにより、光試験装置5から指定された光ファイバのインサービス試験が可能となる。
また、通信設備ビル側光伝送装置2あるいはユーザ側光伝送装置3の故障と、光線路区間(光ファイバ4)での故障とを切り分けるため、ターミネーションフィルタ13は、開放端でのフレネル反射よりも試験光を大きく反射させるように設計されている。一般的に光ファイバの開放端(光ファイバの破断点)のフレネル反射は約−15dBであるため、ターミネーションフィルタの反射をそれ以上に設定することで、光ファイバ端の反射がターミネーションフィルタの反射より小さい場合、光ファイバ4の区間で障害が発生していることがわかる。
特開平2−1632号公報
近年、光ネットワークの普及に伴いユーザ宅やビル内の光配線においては、各種接続点の間隔が短くなり、そのような接続点間隔が短い線路における障害の検知には高分解な測定が必要である。
しかし、通信設備ビル側から光試験を行うためには、ダイナミックレンジの大きいOTDRが必要となり高価となる。
また、光ネットワークの構成は、通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置が1対1で接続されているシングルスター型(SS型)と、光線路上にスプリッタを配置することで線路を分岐し、通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置が1対nで接続されているパッシブダブルスター型(PDS型)がある。
このようなPDS型の線路で光試験を行う場合、通信設備ビル側の測定器に戻ってきた光がどの線路からの戻り光なのか見分けることができない。
そこで、通信設備ビル側の光試験装置だけで全てを監視するのではなく、状況に応じてユーザ側から光試験を行う方法があるが、ユーザ側にはすでにターミネーションフィルタが設置されており、試験光が遮断されてしまうため、光ファイバケーブルのフィルタが収容されている箇所を切り落として、光コードの融着接続をしてから光試験を行っており、作業が煩雑になる問題点がある。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、ユーザ側から既設のフィルタを取り外すことなく光線路の光試験を行うことができ、ユーザ宅近くでの高分解な測定が可能となる光線路試験システムを提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、請求項1に記載の発明は、通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第1の試験光遮断フィルタと、前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第2の試験光遮断フィルタとを有する光線路試験監視システムであって、
通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλであり、そのスペクトル線幅は±△λであり、
前記第2の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ
λ>λ1+△λ
であることを特徴とする。
また、請求項2に記載の発明は、通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第1の試験光遮断フィルタと、前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第2の試験光遮断フィルタとを有する光線路試験監視システムであって、
通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλであり、そのスペクトル線幅は±△λであり、
前記第2の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ
λ1−△λ1<λ<λ1−△λ
であることを特徴とする。
また、請求項3に記載の発明は、通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第1の試験光遮断フィルタと、前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第2の試験光遮断フィルタとを有する光線路試験監視システムであって、
前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλであり、そのスペクトル線幅は±△λであり、
前記第2の試験光遮断フィルタは、通信光として用いられる最も短い波長の中心波長をλとすると、λ1−△λ1以上の波長を有する光および、λ以下の波長を有する光を遮断する特性を有し、
前記可搬型光測定器における試験波長の中心波長λ
λ<λ
であることを特徴とする。
また、請求項4に記載の発明は、光線路上に配置されたスプリッタを介して通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置とが1対nに接続されてなる光ネットワークにおける光線路を構成する光ファイバケーブルの光ファイバの試験を行う光線路試験システムであって、通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第1の試験光遮断フィルタと、前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第2の試験光遮断フィルタとを有し、
前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλであり、そのスペクトル線幅は±△λであり、
前記第2の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ
λ>λ1+△λ
であることを特徴とする。
また、請求項5に記載の発明は、光線路上に配置されたスプリッタを介して通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置とが1対nに接続されてなる光ネットワークにおける光線路を構成する光ファイバケーブルの光ファイバの試験を行う光線路試験システムであって、通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第1の試験光遮断フィルタと、前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第2の試験光遮断フィルタとを有し、
前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλであり、そのスペクトル線幅は±△λであり、
前記第2の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ
λ1−△λ1<λ<λ1−△λ
であることを特徴とする。
また、請求項6に記載の発明は、光線路上に配置されたスプリッタを介して通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置とが1対nに接続されてなる光ネットワークにおける光線路を構成する光ファイバケーブルの光ファイバの試験を行う光線路試験システムであって、通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第1の試験光遮断フィルタと、前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第2の試験光遮断フィルタとを有し、
前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλであり、そのスペクトル線幅は±△λであり、
前記第2の試験光遮断フィルタは、通信光として用いられる最も短い波長の中心波長をλとすると、λ1−△λ1以上の波長を有する光および、λ以下の波長を有する光を遮断する特性を有し、
前記可搬型光測定器における試験波長の中心波長λ
λ<λ
であることを特徴とする。
以上説明したように、本発明によれば、ユーザ側から既設のフィルタを取り外すことなく光試験を行うことができ、ユーザ宅近くでの高分解な測定が可能となる光線路試験システムを実現することができる。
また、本発明によれば、上記効果に加えPDS型のネットワーク構成においてスプリッタ下部の光試験が行える光線路試験システム実現することができる。
以下、本発明の実施形態を、図面を参照して詳細に説明する。
本発明の第1実施形態に係る光線路試験監視システムの構成を図1に示す。
本発明の第1実施形態に係る光線路試験監視システムは、通信設備ビル1側に配置された光伝送装置2とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバ4に試験光を入出力する光カプラモジュール12と、光ファイバ4を測定対象とする通信設備ビル1側に配置された光試験装置5と、ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器14と、ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断するターミネーションフィルタ13aと、光伝送装置2の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する所内フィルタ11aとを有している。
本発明の第1実施形態に係る光線路試験監視システムが、図7に示した従来システムと構成上、異なるのは、ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器14を光ファイバ4のユーザ側光伝送装置が接続されていた端部に接続し、かつ通信設備ビル1側に配置された光伝送装置2、ユーザ側光伝送装置の直前に配設された所内フィルタ11、ターミネーションフィルタ13の代わりに光学特性の異なる所内フィルタ11a、ターミネーションフィルタ14aをそれぞれ、設けるとともに、試験光の波長を適切に選択するようにした点である。
試験光の波長と上記フィルタの光学特性について具体的には、通信設備ビル側光試験装置5より光ファイバ4に入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、ターミネーションフィルタ13aは、λ1±△λの遮断帯域を有し、可搬型光測定器14の試験波長の中心波長はλであり、そのスペクトル線幅は±△λであり、所内フィルタ11aはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、可搬型光測定器14の試験波長の中心波長λはλ>λ1+△λであることを特徴としている。
なお、図1において、図7に示した従来システムと同一符号の構成要素に関してはその説明を省略する。
図1において、ターミネーションフィルタ13aは本発明の第1の試験光遮断フィルタに相当し、所内フィルタ11aは本発明の第2の試験光遮断フィルタに相当する。
まず、図2に示すように、通信設備ビル側光測定器18の試験波長λ1±△λ1においてλ1=1.65μm、△λ1=0.005μm、光ファイバ4のユーザ側端部に光伝送装置と置き換えられた可搬型光測定器14の直前に配置されたターミネーションフィルタ13aの遮断波長λ1±△λがλ1=1.65μm、△λ=0.01μmである時、光カプラモジュール12に含まれる所内フィルタ11aはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであるので、λ1=1.65μm、△λ1=0.005μmとなり、遮断波長帯域は1.645μm以上である。
以上をふまえると、可搬型光測定器14の試験波長の中心波長λがλ>λ1+△λであるので、λ1=1.65μm、△λ=0.01μm、となりλ>1.66μmとなる。
上記のようにして決定された可搬型光測定器14の試験波長は、所内フィルタ11aで遮断することができ、なおかつターミネーションフィルタ13aを透過する。
上述した可搬型光測定器14を用いてユーザ側から光試験を行う場合、可搬型光測定器14はユーザ側光伝送装置3とコネクタの差し替えによって置き換えられ、可搬型光測定器14から光ファイバ4に入射された中心波長がλである試験光は、ターミネーションフィルタ13aを透過し線路を進んでいく。所内フィルタ11aでは、上記試験波長λ2は遮断されるため、通信設備ビル1側に配置された光伝送装置2に影響を与えない。
つまり、上記構成からなる本発明の第1実施形態に係る光線路試験システムにより、試験光の波長を適切に選択することでユーザ側からの高分解かつ簡便な光試験が可能となり、接続点の多いユーザ側の光線路における正確かつ迅速な障害の検知が可能となる。
本発明の第2実施形態に係る光線路試験システムについて説明する。本発明の第2実施形態に係る光線路試験システムは、図1に示した第1実施形態に係る光線路試験監視システムと構成上、異なるのは、可搬型光測定器14の試験波長の中心波長λの適用可能範囲であり、その他の構成は同一であるので、重複する説明は省略する。
本発明の第2実施形態に係る光線路試験システムは、通信設備ビル1側に配置された光試験装置5より光ファイバ4に入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、ターミネーションフィルタ13aは、λ1±△λの遮断帯域を有し、可搬型光測定器14の試験波長の中心波長はλであり、そのスペクトル線幅は±△λであり、所内フィルタ11aはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、可搬型光測定器14の試験波長の中心波長λがλ1−△λ1<λ<λ1−△λであることを特徴としている。
まず、図3に示すように、通信設備ビル1側の光測定器18の試験波長λ1±△λ1においてλ1=1.65μm、△λ1=0.005μm、ユーザ側可搬型光測定器14の直前に配置されたターミネーションフィルタ13aの遮断波長λ1±△λがλ1=1.65μm、△λ=0.01μmである時、光カプラモジュール12に含まれる所内フィルタ11aはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであるので、λ1=1.65μm、△λ1=0.005μmとなり、所内フィルタ11aの遮断波長帯域は1.645μm以上である。
ここで、遮断波長帯域1.645μm以上とは、光カプラモジュール12に含まれる所内フィルタ11aにおける遮断量が40dBとなる波長帯を想定している。しかし、所内フィルタ11aに要求される試験光による通信サービスヘの影響をなくすための必要遮断量を、ターミネーションフィルタ13aと同程度の25dBと定義しなおせば、光カプラモジュール12に含まれる所内フィルタ11aの遮断帯域を大きくすることができる。したがって、図3より光カプラモジュール12に合まれる所内フィルタ11aが25dB以上の遮断特性を有する波長帯域は1.625μm以上となる。
以上をふまえると、可搬型光測定器14の試験波長の中心波長λは、1.625μm<λ<λ1−△λであるので、1.625μm<λ<1.64μmとなる。
つまり上記構成からなる第2実施形態に係る光線路試験システムにより、試験光の波長を本実施形態のように選択することでも、ユーザ側からの高分解かつ簡便な光試験が可能となり、接続点の多いユーザ側の光線路における正確かつ迅速な障害の検知が可能となる。
次に、本発明の第3実施形態に係る光線路試験システムの構成を図4に示す。図4に示す光線路試験システムにおいて、第1実施形態、第2実施形態に係る光線路試験システムと構成上、異なるのは、光カプラモジュール12に含まれる所内フィルタ11bの光学特性、可搬型光測定器14の試験波長の中心波長λ2の適用可能範囲であり、他の構成は同一であるので重複する説明は省略する。
本発明の第3実施形態に係る光線路試験システムは、通信設備ビル1側に配置された光試験装置5より光ファイバ4に入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、ターミネーションフィルタ13aは、λ1±△λの遮断帯域を有し、可搬型光測定器14の試験波長の中心波長はλであり、そのスペクトル線幅は±△λであり、所内フィルタ11bは、通信光として用いられる最も短い波長の中心波長をλとすると、λ1−△λ1以上の波長を有する光および、λ以下の波長を有する光を遮断する特性を有し、可搬型光測定器14における試験波長の中心波長λはλ<λであることを特徴としている。
まず、通信光として用いられる最も短い波長の中心波長をλとすると、λ=1.26μmとなる。所内フィルタ11bは、λ1−△λ1以上の波長を有する光および、λ以下の波長を有する光を遮断するので、λ1=1.65μm、△λ1=0.005μm、λ=1.26μmとすると、所内フィルタ11bは1.645μm以上の波長を有する光および、1.26μm以下の波長を有する光を遮断する。
また、図5に示すように可搬型光測定器14の試験波長の中心波長λはλ<λであるので、λ<1.26μmとなる。
つまり上記構成からなる第3実施形態に係る光線路試験システムにより、試験光の波長を通信光よりも短波長側に選択することでも、ユーザ側からの高分解かつ簡便な光試験が可能となり、接続点の多いユーザ側の光線路における正確かつ迅速な障害の検知が可能となる。
本発明の第4実施形態に係る光線路試験監視システムの構成を図6に示す。同図に示すように、本発明の第4実施形態に係る光線路試験監視システムは、光線路上に配置された1対nスプリッタ15を介して通信設備ビル側光伝送装置2とユーザ側光伝送装置3とが1対nに接続されてなるPDS型の光ネットワークにおける光線路を構成する光ファイバケーブルの光ファイバ4の試験を行う光線路試験システムである。
通信設備ビル側光伝送装置2と一台のユーザ側光伝送装置3との関係においては、第1〜3実施形態に係る光線路試験監視システムと基本的構成は同様であるので、重複する説明は省略する。
通信設備ビル1側に配置された光測定器18の試験波長、ユーザ側光伝送装置3と置き換えられた可搬型光測定器14の試験波長は第1実施形態、第2実施形態と同様である。
まず、通信設備ビル1から1対nスプリッタ15までの光線路における光試験は光試験装置5が行う。通信設備ビル1側に配置された光測定器18から射出された試験光は1対nスプリッタ15まで進み、その後n本に分岐し光線路を進んでいくが、可搬型光測定器14および各ユーザ側光伝送装置3の直前に配置されたターミネーションフィルタ13aにて遮断され、それに伴う戻り光も光カプラモジュール12のAポート側に配置された所内フィルタ11aによって遮断されるため、通信サービスに影響を与えることとなく光試験を行うことができる。
ただし、1対nスプリッタ15以降の光線路に関しては光測定器で観察された事象がどの線路で生じているのか定かではないため、光測定器18による光試験は通信設備ビル1から1対nスプリック15までの区間のみに適用される。
一方、1対nスプリッタ15から各ユーザ宅までの光試験は可搬型光測定器14にて行う。図7に示すように、監視対象となる線路が接続されているユーザ側光伝送装置3をコネクタの差し替えにより、可搬型光測定器14に置き換える。
可搬型光測定器14から射出された試験光はターミネーションフィルタ13aを透過し、1対nスプリッタ15を通り、通信設備ビルの方向へ進むが、光カプラモジュール12のAポート側に配置された所内フィルタ11aにて遮断されるため通信設備ビル側光伝送装置2には影響を与えない。
1対nスプリッタ15と所内フィルタ11a間にて生じた試験光の戻り光は、1対nスプリッタ15以下のn本の線路に分岐され、各ユーザ側の光伝送装置3方向に進むが、そのパワーは小さく他のユーザの通信サービスに影響を与えることはない。
また、上記所内フィルタ11aを第3実施形態に係る光線路試験監視システムの所内フィルタ11bに置き換え、可搬型光測定器14の試験波長を第3実施形態と同様にしても、上記と同等の効果が得られる。
つまり上記構成からなる第4実施形態に係る光線路試験システムによれば、PDS型のネットワーク構成において、他のユーザの通信サービスに影響を与えることなく、従来の方式では困難であった光線路におけるスプリッタ下部の光試験が可能となる。
本発明の第1実施形態に係る光線路試験システムの構成を示すブロック図。 本発明の第1実施形態に係る光線路試験システムの可搬型光測定器で用いる試験波長の適用範囲を示す図。 本発明の第2実施形態に係る光線路試験システムの可搬型光測定器で用いる試験波長の適用範囲を示す図。 本発明の第3実施形態に係る光線路試験システムの構成を示すブロック図。 本発明の第3実施形態に係る光線路試験システムの可搬型光測定器で用いる試験波長の適用範囲を示す図。 本発明の第4実施形態に係る光線路試験システムの構成を示すブロック図。 従来の光線路試験監視システムの構成を示すブロック図。
符号の説明
1…通信設備ビル
2、3…光伝送装置
4…光ファイバ
5…光試験装置
6…設備管理センタ
7…データベース
8…操作端末
9…通信網
10…光カプラ
11、11a…所内フィルタ
12…光カプラモジュール
13、13a…ターミネーションフィルタ
14…可搬型光測定器
15…1対nスプリッタ
16…心線選択装置
17…FTES
18…光測定器
19…試験制御装置

Claims (6)

  1. 通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、
    前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
    前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、
    前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第1の試験光遮断フィルタと、
    前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第2の試験光遮断フィルタと、
    を有する光線路試験監視システムであって、
    通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
    前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λの遮断帯域を有し、
    前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλであり、そのスペクトル線幅は±△λであり、
    前記第2の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
    前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ
    λ>λ1+△λ
    であることを特徴とする光線路試験システム。
  2. 通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、
    前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
    前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、
    前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第1の試験光遮断フィルタと、
    前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第2の試験光遮断フィルタと、
    を有する光線路試験監視システムであって、
    通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
    前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λの遮断帯域を有し、
    前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλであり、そのスペクトル線幅は±△λであり、
    前記第2の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
    前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ
    λ1−△λ1<λ<λ1−△λ
    であることを特徴とする光線路試験システム。
  3. 通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、
    前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
    前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、
    前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第1の試験光遮断フィルタと、
    前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第2の試験光遮断フィルタと、
    を有する光線路試験監視システムであって、
    前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
    前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λの遮断帯域を有し、
    前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλであり、そのスペクトル線幅は±△λであり、
    前記第2の試験光遮断フィルタは、通信光として用いられる最も短い波長の中心波長をλとすると、λ1−△λ1以上の波長を有する光および、λ以下の波長を有する光を遮断する特性を有し、
    前記可搬型光測定器における試験波長の中心波長λ
    λ<λ
    であることを特徴とする光線路試験システム。
  4. 光線路上に配置されたスプリッタを介して通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置とが1対nに接続されてなる光ネットワークにおける光線路を構成する光ファイバケーブルの光ファイバの試験を行う光線路試験システムであって、
    通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、
    前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
    前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、
    前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第1の試験光遮断フィルタと、
    前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第2の試験光遮断フィルタとを有し、
    前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
    前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λの遮断帯域を有し、
    前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλであり、そのスペクトル線幅は±△λであり、
    前記第2の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
    前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ
    λ>λ1+△λ
    であることを特徴とする光線路試験システム。
  5. 光線路上に配置されたスプリッタを介して通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置とが1対nに接続されてなる光ネットワークにおける光線路を構成する光ファイバケーブルの光ファイバの試験を行う光線路試験システムであって、
    通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、
    前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
    前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、
    前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第1の試験光遮断フィルタと、
    前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第2の試験光遮断フィルタとを有し、
    前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
    前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λの遮断帯域を有し、
    前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλであり、そのスペクトル線幅は±△λであり、
    前記第2の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
    前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ
    λ1−△λ1<λ<λ1−△λ
    であることを特徴とする光線路試験システム。
  6. 光線路上に配置されたスプリッタを介して通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置とが1対nに接続されてなる光ネットワークにおける光線路を構成する光ファイバケーブルの光ファイバの試験を行う光線路試験システムであって、
    通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、
    前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
    前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、
    前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第1の試験光遮断フィルタと、
    前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第2の試験光遮断フィルタとを有し、
    前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
    前記第1の試験光遮断フィルタは、λ1±△λの遮断帯域を有し、
    前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλであり、そのスペクトル線幅は±△λであり、
    前記第2の試験光遮断フィルタは、通信光として用いられる最も短い波長の中心波長をλとすると、λ1−△λ1以上の波長を有する光および、λ以下の波長を有する光を遮断する特性を有し、
    前記可搬型光測定器における試験波長の中心波長λ
    λ<λ
    であることを特徴とする光線路試験システム。

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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