JP2005140736A - 光線路試験システム - Google Patents

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Abstract

【課題】 ユーザ側から既設のフィルタを取り外すことなく光線路の光試験を行うことができ、ユーザ宅近くでの高分解な測定を可能とする。
【解決手段】 通信設備ビル１側に配置された光伝送装置２とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバ４に試験光を入出力する光カプラモジュール１２と、光ファイバ４を測定対象とする通信設備ビル１側に配置された光試験装置５と、ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器１４と、ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断するターミネーションフィルタ１３aと、光伝送装置２の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する所内フィルタ１１aとを有している。
【選択図】 図１

Description

本発明は、光通信設備の信頼性を向上させ、保守・運用を効率化する光通信設備の光線路試験システムに関する。
従来の光線路試験監視システムとして、図７に示すものがある（特許文献１参照）。図７において、１は電気通信設備を設置する通信設備ビル、２は通信設備ビル１に設置された光伝送装置、３は光伝送装置２に対向してユーザ側に設置された光信号を送受信する光伝送装置である。
光伝送装置２と光伝送装置３とは光ファイバ４により接続されている。６は設備情報を管理する設備管理センタであり、設備管理センタ６には、光線路設備のデータベース７、光試験装置５を遠隔で操作する操作端末８が設置されている。
設備管理センタ６内の操作端末８は、通信設備ビル７内の光試験装置５と通信網９を介して接続されている。
通信設備ビル１には、光伝送装置の他に、光試験装置５と、光カプラモジュール１２とが設置されている。
光試験装置５は、心線選択装置１６と、光測定器・試験架選択装置（ＦＴＥＳ）１７と、光測定器１８と、試験制御装置１９とを有している。
試験制御装置１９は操作端末８からの試験指示を受け取り、また試験結果を設備センタに送信する機能を有している。光測定器１８は光パルス試験器（ＯＴＤＲ）、損失試験光源、心線対照光源、パワーメータの機能を有し、心線選択装置１６は試験を実施する光ファイバ心線を選択する機能を有している。
また、光測定器・試験架選択装置（ＦＴＥＳ）１７は光測定器１８と心線選択装置１６を選択する機能を有し、光カプラモジュール１２は光ファイバ４に試験光を合分波し、試験光を遮断する機能を有する。光カプラ１０は試験光と通信光を合分波して光ファイバ４に結合させる機能を有している。
１１は通信光を透過し、試験光を遮断する所内フィルタ、１３は光伝送装置３の直前に設置され、通信光を透過し試験光を遮断するとともに、開放端でのフレネル反射よりも大きな試験光の反射を発生させるターミネーションフィルタである。
光カプラモジュール１２におけるＡポートは通信設備ビル側光伝送装置２に接続されている。また、光カプラモジュール１２におけるＢポートは光ファイバ４側に接続する通信光用のポートであり、Ｃポートは光ファイバ４およびユーザ側光伝送装置３側を、Ｄは通信設備ビル側光伝送装置２側を試験するための測定装置が接続される試験光用ポートである。
図７に示した光線路監視試験システムを用いた障害の検知は次のように行う。
まず、設備管理センタ６にある操作端末８からデータベース７に基づいて試験命令を光試験装置５に出す。この命令にしたがって、光試験装置５の試験制御装置１９は、光測定器１８をＦＴＥＳ１７で選択し、光カプラの試験光入出力ポートを収容している心線選択装置１６は、指定された光ファイバが接続された光カプラモジュール１２の試験光入力ポートを選択する。
光測定器１８からの試験光が、光通信サービスに影響を与えないように、試験光のみを遮断する所内フィルタ１１とターミネーションフィルタ１３が、光伝送装置２と光伝送装置３の前にそれぞれ設置されている。これにより、光試験装置５から指定された光ファイバのインサービス試験が可能となる。
また、通信設備ビル側光伝送装置２あるいはユーザ側光伝送装置３の故障と、光線路区間(光ファイバ４)での故障とを切り分けるため、ターミネーションフィルタ１３は、開放端でのフレネル反射よりも試験光を大きく反射させるように設計されている。一般的に光ファイバの開放端(光ファイバの破断点)のフレネル反射は約−１５ｄＢであるため、ターミネーションフィルタの反射をそれ以上に設定することで、光ファイバ端の反射がターミネーションフィルタの反射より小さい場合、光ファイバ４の区間で障害が発生していることがわかる。
特開平２−１６３２号公報
近年、光ネットワークの普及に伴いユーザ宅やビル内の光配線においては、各種接続点の間隔が短くなり、そのような接続点間隔が短い線路における障害の検知には高分解な測定が必要である。
しかし、通信設備ビル側から光試験を行うためには、ダイナミックレンジの大きいＯＴＤＲが必要となり高価となる。
また、光ネットワークの構成は、通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置が１対１で接続されているシングルスター型(ＳＳ型)と、光線路上にスプリッタを配置することで線路を分岐し、通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置が１対ｎで接続されているパッシブダブルスター型(ＰＤＳ型)がある。
このようなＰＤＳ型の線路で光試験を行う場合、通信設備ビル側の測定器に戻ってきた光がどの線路からの戻り光なのか見分けることができない。
そこで、通信設備ビル側の光試験装置だけで全てを監視するのではなく、状況に応じてユーザ側から光試験を行う方法があるが、ユーザ側にはすでにターミネーションフィルタが設置されており、試験光が遮断されてしまうため、光ファイバケーブルのフィルタが収容されている箇所を切り落として、光コードの融着接続をしてから光試験を行っており、作業が煩雑になる問題点がある。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、ユーザ側から既設のフィルタを取り外すことなく光線路の光試験を行うことができ、ユーザ宅近くでの高分解な測定が可能となる光線路試験システムを提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、請求項１に記載の発明は、通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第１の試験光遮断フィルタと、前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第２の試験光遮断フィルタとを有する光線路試験監視システムであって、
通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第１の試験光遮断フィルタは、λ1±△λｕの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ２であり、そのスペクトル線幅は±△λ２であり、
前記第２の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ２は
λ２＞λ1＋△λｕ
であることを特徴とする。
また、請求項２に記載の発明は、通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第１の試験光遮断フィルタと、前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第２の試験光遮断フィルタとを有する光線路試験監視システムであって、
通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第１の試験光遮断フィルタは、λ1±△λｕの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ２であり、そのスペクトル線幅は±△λ２であり、
前記第２の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ２が
λ1−△λ1＜λ２＜λ1−△λｕ
であることを特徴とする。
また、請求項３に記載の発明は、通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第１の試験光遮断フィルタと、前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第２の試験光遮断フィルタとを有する光線路試験監視システムであって、
前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第１の試験光遮断フィルタは、λ1±△λｕの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ２であり、そのスペクトル線幅は±△λ２であり、
前記第２の試験光遮断フィルタは、通信光として用いられる最も短い波長の中心波長をλ３とすると、λ1−△λ1以上の波長を有する光および、λ３以下の波長を有する光を遮断する特性を有し、
前記可搬型光測定器における試験波長の中心波長λ２は
λ２＜λ３
であることを特徴とする。
また、請求項４に記載の発明は、光線路上に配置されたスプリッタを介して通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置とが1対ｎに接続されてなる光ネットワークにおける光線路を構成する光ファイバケーブルの光ファイバの試験を行う光線路試験システムであって、通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第１の試験光遮断フィルタと、前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第２の試験光遮断フィルタとを有し、
前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第１の試験光遮断フィルタは、λ1±△λｕの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ２であり、そのスペクトル線幅は±△λ２であり、
前記第２の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ２は
λ２＞λ1＋△λｕ
であることを特徴とする。
また、請求項５に記載の発明は、光線路上に配置されたスプリッタを介して通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置とが1対ｎに接続されてなる光ネットワークにおける光線路を構成する光ファイバケーブルの光ファイバの試験を行う光線路試験システムであって、通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第１の試験光遮断フィルタと、前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第２の試験光遮断フィルタとを有し、
前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第１の試験光遮断フィルタは、λ1±△λｕの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ２であり、そのスペクトル線幅は±△λ２であり、
前記第２の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ２が
λ1−△λ1＜λ２＜λ1−△λｕ
であることを特徴とする。
また、請求項６に記載の発明は、光線路上に配置されたスプリッタを介して通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置とが1対ｎに接続されてなる光ネットワークにおける光線路を構成する光ファイバケーブルの光ファイバの試験を行う光線路試験システムであって、通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第１の試験光遮断フィルタと、前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第２の試験光遮断フィルタとを有し、
前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
前記第１の試験光遮断フィルタは、λ1±△λｕの遮断帯域を有し、
前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ２であり、そのスペクトル線幅は±△λ２であり、
前記第２の試験光遮断フィルタは、通信光として用いられる最も短い波長の中心波長をλ３とすると、λ1−△λ1以上の波長を有する光および、λ３以下の波長を有する光を遮断する特性を有し、
前記可搬型光測定器における試験波長の中心波長λ２は
λ２＜λ３
であることを特徴とする。
以上説明したように、本発明によれば、ユーザ側から既設のフィルタを取り外すことなく光試験を行うことができ、ユーザ宅近くでの高分解な測定が可能となる光線路試験システムを実現することができる。
また、本発明によれば、上記効果に加えＰＤＳ型のネットワーク構成においてスプリッタ下部の光試験が行える光線路試験システム実現することができる。
以下、本発明の実施形態を、図面を参照して詳細に説明する。
本発明の第１実施形態に係る光線路試験監視システムの構成を図１に示す。
本発明の第１実施形態に係る光線路試験監視システムは、通信設備ビル１側に配置された光伝送装置２とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバ４に試験光を入出力する光カプラモジュール１２と、光ファイバ４を測定対象とする通信設備ビル１側に配置された光試験装置５と、ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器１４と、ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断するターミネーションフィルタ１３aと、光伝送装置２の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する所内フィルタ１１aとを有している。
本発明の第1実施形態に係る光線路試験監視システムが、図７に示した従来システムと構成上、異なるのは、ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器１４を光ファイバ４のユーザ側光伝送装置が接続されていた端部に接続し、かつ通信設備ビル１側に配置された光伝送装置２、ユーザ側光伝送装置の直前に配設された所内フィルタ１１、ターミネーションフィルタ１３の代わりに光学特性の異なる所内フィルタ１１ａ、ターミネーションフィルタ１４ａをそれぞれ、設けるとともに、試験光の波長を適切に選択するようにした点である。
試験光の波長と上記フィルタの光学特性について具体的には、通信設備ビル側光試験装置５より光ファイバ４に入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、ターミネーションフィルタ１３ａは、λ1±△λｕの遮断帯域を有し、可搬型光測定器１４の試験波長の中心波長はλ２であり、そのスペクトル線幅は±△λ２であり、所内フィルタ１１ａはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、可搬型光測定器１４の試験波長の中心波長λ２はλ２＞λ1＋△λｕであることを特徴としている。
なお、図１において、図７に示した従来システムと同一符号の構成要素に関してはその説明を省略する。
図１において、ターミネーションフィルタ１３aは本発明の第１の試験光遮断フィルタに相当し、所内フィルタ１１aは本発明の第２の試験光遮断フィルタに相当する。
まず、図２に示すように、通信設備ビル側光測定器１８の試験波長λ1±△λ1においてλ1＝1.65μｍ、△λ1＝0.005μｍ、光ファイバ４のユーザ側端部に光伝送装置と置き換えられた可搬型光測定器１４の直前に配置されたターミネーションフィルタ１３ａの遮断波長λ1±△λｕがλ1＝1.65μｍ、△λｕ＝0.01μｍである時、光カプラモジュール１２に含まれる所内フィルタ１１ａはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであるので、λ1＝1.65μｍ、△λ1＝0.005μｍとなり、遮断波長帯域は1.645μｍ以上である。
以上をふまえると、可搬型光測定器１４の試験波長の中心波長λ２がλ２＞λ1＋△λｕであるので、λ1＝1.65μｍ、△λｕ＝0.01μｍ、となりλ２＞1.66μｍとなる。
上記のようにして決定された可搬型光測定器１４の試験波長は、所内フィルタ１１ａで遮断することができ、なおかつターミネーションフィルタ１３ａを透過する。
上述した可搬型光測定器１４を用いてユーザ側から光試験を行う場合、可搬型光測定器１４はユーザ側光伝送装置３とコネクタの差し替えによって置き換えられ、可搬型光測定器１４から光ファイバ４に入射された中心波長がλ２である試験光は、ターミネーションフィルタ１３ａを透過し線路を進んでいく。所内フィルタ１１ａでは、上記試験波長λ２は遮断されるため、通信設備ビル１側に配置された光伝送装置２に影響を与えない。
つまり、上記構成からなる本発明の第１実施形態に係る光線路試験システムにより、試験光の波長を適切に選択することでユーザ側からの高分解かつ簡便な光試験が可能となり、接続点の多いユーザ側の光線路における正確かつ迅速な障害の検知が可能となる。
本発明の第２実施形態に係る光線路試験システムについて説明する。本発明の第２実施形態に係る光線路試験システムは、図１に示した第１実施形態に係る光線路試験監視システムと構成上、異なるのは、可搬型光測定器１４の試験波長の中心波長λ２の適用可能範囲であり、その他の構成は同一であるので、重複する説明は省略する。
本発明の第２実施形態に係る光線路試験システムは、通信設備ビル１側に配置された光試験装置５より光ファイバ４に入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、ターミネーションフィルタ１３ａは、λ1±△λｕの遮断帯域を有し、可搬型光測定器１４の試験波長の中心波長はλ２であり、そのスペクトル線幅は±△λ２であり、所内フィルタ１１ａはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、可搬型光測定器１４の試験波長の中心波長λ２がλ1−△λ1＜λ２＜λ1−△λｕであることを特徴としている。
まず、図３に示すように、通信設備ビル１側の光測定器１８の試験波長λ1±△λ1においてλ1＝1.65μｍ、△λ1＝0.005μｍ、ユーザ側可搬型光測定器１４の直前に配置されたターミネーションフィルタ１３ａの遮断波長λ1±△λｕがλ1＝1.65μｍ、△λｕ＝0.01μｍである時、光カプラモジュール１２に含まれる所内フィルタ１１ａはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであるので、λ1＝1.65μｍ、△λ1＝0.005μｍとなり、所内フィルタ１１ａの遮断波長帯域は1.645μｍ以上である。
ここで、遮断波長帯域1.645μｍ以上とは、光カプラモジュール１２に含まれる所内フィルタ１１ａにおける遮断量が４０ｄＢとなる波長帯を想定している。しかし、所内フィルタ１１ａに要求される試験光による通信サービスヘの影響をなくすための必要遮断量を、ターミネーションフィルタ１３ａと同程度の２５ｄＢと定義しなおせば、光カプラモジュール１２に含まれる所内フィルタ１１ａの遮断帯域を大きくすることができる。したがって、図３より光カプラモジュール１２に合まれる所内フィルタ１１ａが25ｄＢ以上の遮断特性を有する波長帯域は1.625μｍ以上となる。
以上をふまえると、可搬型光測定器１４の試験波長の中心波長λ２は、1.625μｍ＜λ２＜λ1−△λｕであるので、1.625μｍ＜λ２＜1.64μｍとなる。
つまり上記構成からなる第２実施形態に係る光線路試験システムにより、試験光の波長を本実施形態のように選択することでも、ユーザ側からの高分解かつ簡便な光試験が可能となり、接続点の多いユーザ側の光線路における正確かつ迅速な障害の検知が可能となる。
次に、本発明の第３実施形態に係る光線路試験システムの構成を図４に示す。図４に示す光線路試験システムにおいて、第１実施形態、第２実施形態に係る光線路試験システムと構成上、異なるのは、光カプラモジュール１２に含まれる所内フィルタ１１ｂの光学特性、可搬型光測定器１４の試験波長の中心波長λ２の適用可能範囲であり、他の構成は同一であるので重複する説明は省略する。
本発明の第３実施形態に係る光線路試験システムは、通信設備ビル１側に配置された光試験装置５より光ファイバ４に入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、ターミネーションフィルタ１３ａは、λ1±△λｕの遮断帯域を有し、可搬型光測定器１４の試験波長の中心波長はλ２であり、そのスペクトル線幅は±△λ２であり、所内フィルタ１１ｂは、通信光として用いられる最も短い波長の中心波長をλ３とすると、λ1−△λ1以上の波長を有する光および、λ３以下の波長を有する光を遮断する特性を有し、可搬型光測定器１４における試験波長の中心波長λ２はλ２＜λ３であることを特徴としている。
まず、通信光として用いられる最も短い波長の中心波長をλ３とすると、λ３＝1.26μｍとなる。所内フィルタ１１ｂは、λ1−△λ1以上の波長を有する光および、λ３以下の波長を有する光を遮断するので、λ1＝1.65μｍ、△λ1＝0.005μｍ、λ３＝1.26μｍとすると、所内フィルタ１１ｂは1.645μｍ以上の波長を有する光および、1.26μｍ以下の波長を有する光を遮断する。
また、図５に示すように可搬型光測定器１４の試験波長の中心波長λ２はλ２＜λ３であるので、λ２＜1.26μｍとなる。
つまり上記構成からなる第３実施形態に係る光線路試験システムにより、試験光の波長を通信光よりも短波長側に選択することでも、ユーザ側からの高分解かつ簡便な光試験が可能となり、接続点の多いユーザ側の光線路における正確かつ迅速な障害の検知が可能となる。
本発明の第４実施形態に係る光線路試験監視システムの構成を図６に示す。同図に示すように、本発明の第４実施形態に係る光線路試験監視システムは、光線路上に配置された１対ｎスプリッタ１５を介して通信設備ビル側光伝送装置２とユーザ側光伝送装置３とが1対ｎに接続されてなるＰＤＳ型の光ネットワークにおける光線路を構成する光ファイバケーブルの光ファイバ４の試験を行う光線路試験システムである。
通信設備ビル側光伝送装置２と一台のユーザ側光伝送装置３との関係においては、第１〜３実施形態に係る光線路試験監視システムと基本的構成は同様であるので、重複する説明は省略する。
通信設備ビル１側に配置された光測定器１８の試験波長、ユーザ側光伝送装置３と置き換えられた可搬型光測定器１４の試験波長は第１実施形態、第２実施形態と同様である。
まず、通信設備ビル１から１対ｎスプリッタ１５までの光線路における光試験は光試験装置５が行う。通信設備ビル１側に配置された光測定器１８から射出された試験光は１対ｎスプリッタ１５まで進み、その後ｎ本に分岐し光線路を進んでいくが、可搬型光測定器１４および各ユーザ側光伝送装置３の直前に配置されたターミネーションフィルタ１３ａにて遮断され、それに伴う戻り光も光カプラモジュール１２のＡポート側に配置された所内フィルタ１１ａによって遮断されるため、通信サービスに影響を与えることとなく光試験を行うことができる。
ただし、１対ｎスプリッタ１５以降の光線路に関しては光測定器で観察された事象がどの線路で生じているのか定かではないため、光測定器１８による光試験は通信設備ビル１から１対ｎスプリック１５までの区間のみに適用される。
一方、１対ｎスプリッタ１５から各ユーザ宅までの光試験は可搬型光測定器１４にて行う。図７に示すように、監視対象となる線路が接続されているユーザ側光伝送装置３をコネクタの差し替えにより、可搬型光測定器１４に置き換える。
可搬型光測定器１４から射出された試験光はターミネーションフィルタ１３ａを透過し、１対ｎスプリッタ１５を通り、通信設備ビルの方向へ進むが、光カプラモジュール１２のＡポート側に配置された所内フィルタ１１ａにて遮断されるため通信設備ビル側光伝送装置２には影響を与えない。
１対ｎスプリッタ１５と所内フィルタ１１ａ間にて生じた試験光の戻り光は、１対ｎスプリッタ１５以下のｎ本の線路に分岐され、各ユーザ側の光伝送装置３方向に進むが、そのパワーは小さく他のユーザの通信サービスに影響を与えることはない。
また、上記所内フィルタ１１ａを第３実施形態に係る光線路試験監視システムの所内フィルタ１１ｂに置き換え、可搬型光測定器１４の試験波長を第３実施形態と同様にしても、上記と同等の効果が得られる。
つまり上記構成からなる第４実施形態に係る光線路試験システムによれば、ＰＤＳ型のネットワーク構成において、他のユーザの通信サービスに影響を与えることなく、従来の方式では困難であった光線路におけるスプリッタ下部の光試験が可能となる。
本発明の第１実施形態に係る光線路試験システムの構成を示すブロック図。 本発明の第１実施形態に係る光線路試験システムの可搬型光測定器で用いる試験波長の適用範囲を示す図。 本発明の第２実施形態に係る光線路試験システムの可搬型光測定器で用いる試験波長の適用範囲を示す図。 本発明の第３実施形態に係る光線路試験システムの構成を示すブロック図。 本発明の第３実施形態に係る光線路試験システムの可搬型光測定器で用いる試験波長の適用範囲を示す図。 本発明の第４実施形態に係る光線路試験システムの構成を示すブロック図。 従来の光線路試験監視システムの構成を示すブロック図。
符号の説明
１…通信設備ビル
２、３…光伝送装置
４…光ファイバ
５…光試験装置
６…設備管理センタ
７…データベース
８…操作端末
９…通信網
１０…光カプラ
１１、１１ａ…所内フィルタ
１２…光カプラモジュール
１３、１３ａ…ターミネーションフィルタ
１４…可搬型光測定器
１５…１対ｎスプリッタ
１６…心線選択装置
１７…ＦＴＥＳ
１８…光測定器
１９…試験制御装置

Claims (6)

  1. 通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、
    前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
    前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、
    前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第１の試験光遮断フィルタと、
    前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第２の試験光遮断フィルタと、
    を有する光線路試験監視システムであって、
    通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
    前記第１の試験光遮断フィルタは、λ1±△λｕの遮断帯域を有し、
    前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ２であり、そのスペクトル線幅は±△λ２であり、
    前記第２の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
    前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ２は
    λ２＞λ1＋△λｕ
    であることを特徴とする光線路試験システム。
  2. 通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、
    前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
    前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、
    前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第１の試験光遮断フィルタと、
    前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第２の試験光遮断フィルタと、
    を有する光線路試験監視システムであって、
    通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
    前記第１の試験光遮断フィルタは、λ1±△λｕの遮断帯域を有し、
    前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ２であり、そのスペクトル線幅は±△λ２であり、
    前記第２の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
    前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ２が
    λ1−△λ1＜λ２＜λ1−△λｕ
    であることを特徴とする光線路試験システム。
  3. 通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、
    前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
    前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、
    前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第１の試験光遮断フィルタと、
    前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第２の試験光遮断フィルタと、
    を有する光線路試験監視システムであって、
    前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
    前記第１の試験光遮断フィルタは、λ1±△λｕの遮断帯域を有し、
    前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ２であり、そのスペクトル線幅は±△λ２であり、
    前記第２の試験光遮断フィルタは、通信光として用いられる最も短い波長の中心波長をλ３とすると、λ1−△λ1以上の波長を有する光および、λ３以下の波長を有する光を遮断する特性を有し、
    前記可搬型光測定器における試験波長の中心波長λ２は
    λ２＜λ３
    であることを特徴とする光線路試験システム。
  4. 光線路上に配置されたスプリッタを介して通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置とが1対ｎに接続されてなる光ネットワークにおける光線路を構成する光ファイバケーブルの光ファイバの試験を行う光線路試験システムであって、
    通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、
    前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
    前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、
    前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第１の試験光遮断フィルタと、
    前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第２の試験光遮断フィルタとを有し、
    前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
    前記第１の試験光遮断フィルタは、λ1±△λｕの遮断帯域を有し、
    前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ２であり、そのスペクトル線幅は±△λ２であり、
    前記第２の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
    前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ２は
    λ２＞λ1＋△λｕ
    であることを特徴とする光線路試験システム。
  5. 光線路上に配置されたスプリッタを介して通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置とが1対ｎに接続されてなる光ネットワークにおける光線路を構成する光ファイバケーブルの光ファイバの試験を行う光線路試験システムであって、
    通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、
    前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
    前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、
    前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第１の試験光遮断フィルタと、
    前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第２の試験光遮断フィルタとを有し、
    前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
    前記第１の試験光遮断フィルタは、λ1±△λｕの遮断帯域を有し、
    前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ２であり、そのスペクトル線幅は±△λ２であり、
    前記第２の試験光遮断フィルタはλ1−△λ1以上の波長を有する光を遮断するフィルタであり、
    前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長λ２が
    λ1−△λ1＜λ２＜λ1−△λｕ
    であることを特徴とする光線路試験システム。
  6. 光線路上に配置されたスプリッタを介して通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置とが1対ｎに接続されてなる光ネットワークにおける光線路を構成する光ファイバケーブルの光ファイバの試験を行う光線路試験システムであって、
    通信設備ビル側光伝送装置とユーザ側光伝送装置を接続する光ファイバケーブルの光ファイバに試験光を入出力する光カプラモジュールと、
    前記光ファイバを測定対象とする通信設備ビル側光試験装置と、
    前記ユーザ側光伝送装置と置き換え可能な可搬型光測定器と、
    前記ユーザ側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第１の試験光遮断フィルタと、
    前記通信設備ビル側光伝送装置の直前に配設され通信光を透過し、試験光を遮断する第２の試験光遮断フィルタとを有し、
    前記通信設備ビル側光試験装置より前記光ファイバに入射される試験波長の中心波長はλ1であり、そのスペクトル線幅は±△λ1であり、
    前記第１の試験光遮断フィルタは、λ1±△λｕの遮断帯域を有し、
    前記可搬型光測定器の試験波長の中心波長はλ２であり、そのスペクトル線幅は±△λ２であり、
    前記第２の試験光遮断フィルタは、通信光として用いられる最も短い波長の中心波長をλ３とすると、λ1−△λ1以上の波長を有する光および、λ３以下の波長を有する光を遮断する特性を有し、
    前記可搬型光測定器における試験波長の中心波長λ２は
    λ２＜λ３
    であることを特徴とする光線路試験システム。

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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