JPWO2019039584A1 - 光発生装置並びにそれを用いた炭素同位体分析装置及び炭素同位体分析方法 - Google Patents

光発生装置並びにそれを用いた炭素同位体分析装置及び炭素同位体分析方法 Download PDF

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Abstract

炭素同位体から二酸化炭素同位体を含むガスを生成する燃焼部、二酸化炭素同位体精製部を備える二酸化炭素同位体生成装置40と;1対のミラーを有する光共振器12a、12b、光共振器12a、12bからの透過光の強度を検出する光検出器15を備える分光装置10と;1つの光源23、光源23からの第1光を伝送する第1光ファイバー21、第1光ファイバー21から分岐し下流側で合流する第1光よりも長波長の第2光を発生させる第2光ファイバー22、第1光ファイバー21上の第1増幅器25、第1増幅器25とは帯域が異なる第2光ファイバー22上の第2増幅器26、非線形光学結晶24を備える、光発生装置20Aと;を備える、炭素同位体分析装置1Aが提供される。

Description

本発明は、線幅が狭く高強度の光を発生する光発生装置並びにそれを用いた炭素同位体分析装置及び炭素同位体分析方法に関する。より詳しくは、放射性炭素同位体14C等の測定に有用な線幅が狭く高強度の光を発生する光発生装置並びにそれを用いた放射性炭素同位体分析装置及び放射性炭素同位体分析方法に関する。
炭素同位体は、従来より炭素循環に基づく環境動態評価や年代測定による歴史学の実証研究など、文理に渡る広範な応用展開がなされている。炭素同位体は、地域・環境によりわずかに異なるものの、安定同位体元素である12Cと13Cはそれぞれ98.89%と1.11%、放射性同位体14Cは1×10−10%天然に存在している。同位体は重量の相違があるだけで、化学的には同じ挙動を示すため、存在比の低い同位体の濃度を人工的な操作により高くし、精度よく測定を行うことで様々な反応過程の観測が可能となる。
特に、臨床の分野においては医薬品体内動態評価を行うために、標識化合物として、例えば放射性炭素同位体14Cを生体に投与し分析することは極めて有用であり、例えばPhase I、Phase IIaにおいて実際に分析されている。ヒトにおいて薬理作用を発現すると推定される投与量(薬効発現量)を超えない用量(以下「マイクロドーズ」ともいう)の標識化合物として、極微量の放射性炭素同位体14C(以下、単に「14C」ともいう)を人体に投与し、分析することは、体内動態の問題に起因する医薬品の薬効・毒性についての知見が得られるため、創薬プロセスにおける開発リードタイムを大幅に短縮するものとして期待されている。
従来より提案されている14C分析法としては、液体シンシチレーションカウンティング法(liquid Scintillation Counting、以下「LSC」ともいう)と、加速器質量分析法(Accelerator Mass Spectrometry、以下「AMS」ともいう)とが挙げられる。
LSCは、テーブルトップサイズの比較的小型な装置であるため簡便かつ迅速な分析が可能であるが、14Cの検出限界濃度が10dpm/mLと高いため臨床試験での使用に耐えうるものではなかった。一方、AMSは14Cの検出限界濃度が0.001dpm/mLと低く、LSCの14Cの検出限界濃度の1000倍以上低いため臨床試験での使用に耐えうるが、装置が大きくしかも高額であるためその利用が制限されていた。例えば日本国内にはAMSは十数台しか設置されていないことより、試料分析の順番待の時間を考慮すると、1サンプルの分析に1週間程度の時間を要していた。そのため、簡易、かつ迅速な14Cの分析法の開発が望まれていた。
上述の課題を解決する手段としていくつかの技術が提案されている(例えば、非特許文献1、特許文献1参照。)。
例えば非特許文献1では、I. Galliらにより、キャビティーリングダウン分光法(Cavity Ring-Down Spectroscopy、以下「CRDS」ともいう)による天然同位体存在比レベルの14C分析の実証がなされ、その可能性が注目された。
しかしながら、CRDSによる14C分析が実証されたものの、利用された4.5μm帯レーザー光発生装置は極めて複雑な構造であった。そのため、より簡易で使い勝手のよい14Cの分析装置及び分析方法が求められていた。
特許第3390755号公報 特許第6004412号公報
「I.Galli et al.,Phy. Rev. Lett.2011, 107, 270802」
上述の課題を解決すべく検討した結果、本発明者等らにより、光源として光コムを用いた、簡易で使い勝手のよい炭素同位体分析装置及び分析方法が提案された(特許文献2参照)。ところが、炭素同位体分析装置及び分析方法において、光源の高出力化(光強度の増加)により、より分析精度を高めるというさらなる課題が生じた。
以上より、本発明は、簡易で使い易く14C分析可能な、線幅が狭く高出力の光を発生する光発生装置並びにそれを用いた炭素同位体分析装置及び分析方法を提供することを課題とする。
また当業者の一部からは、光コムではなく量子カスケードレーザー(QCL)等の汎用の光源を用いた炭素同位体分析装置及び分析方法の要望もあった。しかしながら、QCLには発振波長の揺らぎがあることより、14C等の正確な分析を行なうことが困難であった。そのため、光コム以外のQCL等の汎用の光源を用いる、信頼性が高く使い勝手も良い14Cも分析可能な炭素同位体分析装置及び分析方法も求められていた。
以上より、本発明はQCLを主光源として用いる、信頼性が高く使い勝手も良い14Cも分析可能な、光発生装置並びにそれを用いた炭素同位体分析装置及び分析方法を提供することも課題とする。
さらに、光共振器と光路上の光学部品との表面間で反射が起こり、寄生エタロン効果が生じることにより、ベースラインに大きなノイズが生じるという問題もあった。
以上より、寄生エタロンによるベースラインのノイズを減少することも課題とする。
本発明は以下の内容に関する。
〈1〉炭素同位体から二酸化炭素同位体を含むガスを生成する燃焼部、二酸化炭素同位体精製部を備える二酸化炭素同位体生成装置と;1対のミラーを有する光共振器、光共振器からの透過光の強度を検出する光検出器を備える分光装置と;1つの光源、光源からの第1光を伝送する第1光ファイバー、第1光ファイバーの分岐点から分岐し第1光ファイバーの下流側の合流点で合流し第1光よりも長波長の第2光を発生させる第2光ファイバー、第1光ファイバーの分岐点と合流点の間に配置された第1増幅器、第2光ファイバーの分岐点と合流点の間に配置され第1増幅器とは帯域が異なる第2増幅器、周波数が異なる複数の光を通過させることで周波数の差から二酸化炭素同位体の吸収波長の光として波長4.5μm〜4.8μm帯の中赤外域光周波数の光コムを発生させる非線形光学結晶を備える光発生装置と;を備える、炭素同位体分析装置。
〈2〉光発生装置は、光源が1.55μmの超短パルスレーザー光源であり、第1増幅器がEr添加型光ファイバー増幅器であり、第2増幅器がTm添加型光ファイバー増幅器である、〈1〉に記載の炭素同位体分析装置。
〈3〉第1光ファイバーは、第1増幅器と合流点の間に第3増幅器と、第3増幅器と合流点の間に第1波長シフトファイバーと、をさらに備え、第2光ファイバーは、分岐点と第2増幅器の間に第2波長シフトファイバーをさらに備える、〈2〉に記載の炭素同位体分析装置。
〈4〉第1光ファイバーは、第1増幅器と合流点の間に第3増幅器をさらに備え、第2光ファイバーは、分岐点と第2増幅器の間に第2波長シフトファイバーと、第2増幅器と合流点の間に第3波長シフトファイバーとをさらに備える、〈2〉に記載の炭素同位体分析装置。
〈5〉第1光ファイバーは、第1増幅器と合流点の間に第3増幅器をさらに備え、第2光ファイバーは、分岐点と第2増幅器の間に第2波長シフトファイバーをさらに備える、〈2〉に記載の炭素同位体分析装置。
〈6〉光発生装置は、第1光ファイバーから1.3μm〜1.7μm帯の光を照射し、第2光ファイバーから1.8μm〜2.4μm帯の光を照射するものである、〈1〉〜〈5〉のいずれかに記載の炭素同位体分析装置。
〈7〉第2波長シフトファイバーからは1.8μm〜2.0μm帯の光が出射され、第3波長シフトファイバーからは2.3μm〜2.4μm帯の光が出射される、〈4〉に記載の炭素同位体分析装置。
〈8〉第1波長シフトファイバーは、分散シフトファイバー(DSF)である、〈3〉に記載の炭素同位体分析装置。
〈9〉第2波長シフトファイバーは、細径コアファイバー(Small core fiber)であり、第3波長シフトファイバーは、高非線形分散シフトファイバー(HN-DSF)である、〈4〉に記載の炭素同位体分析装置。
〈10〉非線形光学結晶の光の流れ方向の距離は、11mmよりも長尺である、〈1〉〜〈9〉のいずれかに記載の炭素同位体分析装置。
〈11〉光発生装置は、光源からの光を複数のスペクトル成分に分ける波長フィルタ、複数のスペクトル成分のそれぞれの時間差を調整し非線形結晶に集光させる分光手段を備えるディレイラインをさらに備える、〈1〉〜〈10〉のいずれかに記載の炭素同位体分析装置。
〈12〉非線形光学結晶は、PPMgSLT結晶もしくはPPLN結晶、またはGaSe結晶である、〈1〉〜〈11〉のいずれかに記載の炭素同位体分析装置。
〈13〉分光装置は、光共振器を冷却する冷却装置をさらに備える、〈1〉〜〈12〉のいずれかに記載の炭素同位体分析装置。
〈14〉分光装置は、光共振器を収容する真空装置をさらに備える、〈1〉〜〈13〉のいずれかに記載の炭素同位体分析装置。
〈15〉炭素同位体から二酸化炭素同位体を生成する工程と;二酸化炭素同位体を1対のミラーを有する光共振器内に充填する工程と;1つの光源から周波数が異なる複数の光を発生させ、得られた複数の光の強度を、帯域が異なる増幅器を用いてそれぞれ増幅する工程と;複数の光を非線形光学結晶に通過させることにより周波数の差から二酸化炭素同位体の吸収波長を有する照射光として、波長4.5μm〜4.8μm帯の中赤外域光周波数の光コムを発生させる工程と;二酸化炭素同位体に照射光を照射し共振させた際に得られる透過光の強度を測定する工程と;透過光の強度から炭素同位体濃度を計算する工程と、を有する炭素同位体分析方法。
〈16〉増幅された光のうち、短波長側の光が1.3μm〜1.7μm帯の光であり、長波長側の光が1.8μm〜2.4μm帯の光である、〈15〉に記載の炭素同位体分析方法。
〈17〉照射光を放射性二酸化炭素同位体14COに照射する、〈15〉または〈16〉に記載の炭素同位体分析方法。
〈18〉1つの光源と;光源からの光を伝送する第1光ファイバーと;第1光ファイバーの分岐点から分岐し第1光ファイバーの下流側の合流点で合流する第1光ファイバーよりも長波長の光を伝送する第2光ファイバーと;第1光ファイバーの分岐点から合流点の間に配置された第1増幅器と;第2光ファイバーの分岐点から合流点の間に配置され、第1増幅器とは帯域が異なる第2増幅器と;周波数が異なる複数の光を通過させることで周波数の差から二酸化炭素同位体の吸収波長の光として、波長4.5μm〜4.8μm帯の中赤外域光周波数の光コムを発生させる非線形光学結晶と、を備える光発生装置。
〈19〉光発生装置は、光源が1.55μmの超短パルスレーザー光源であり、第1増幅器がEr添加型光ファイバー増幅器であり、第2増幅器がTm添加型光ファイバー増幅器である、〈18〉に記載の炭素同位体分析装置。
〈20〉光発生装置は、第1光ファイバーから1.3μm〜1.7μm帯の光を照射し、第2光ファイバーから1.8μm〜2.4μm帯の光を照射するものである、〈18〉または〈19〉に記載の炭素同位体分析装置。
〈21〉いずれかの前記増幅器の後段に第2の波長シフトファイバーが含まれる、波長4.5〜4.8μm帯の中赤外域光周波数コムを発生する超短パルスレーザー光源としての、〈18〉から〈20〉のいずれかに記載の光発生装置。

〈22〉炭素同位体から二酸化炭素同位体を含むガスを生成する燃焼部、二酸化炭素同位体精製部を備える二酸化炭素同位体生成装置と;1対のミラーを有する光共振器、光共振器からの透過光の強度を検出する光検出器を備える分光装置と、光発生装置と;を備える炭素同位体分析装置であって、
光発生装置は、主光源、主光源からの光を伝送する光ファイバーを有する光発生装置本体と;1つの光の波長領域が4500nm〜4800nmである線幅の狭い光の束からなる光コムを発生させる光コム源、光コム源からの光を伝送するビート信号測定用光ファイバー、主光源からの光を伝送する光ファイバー上に配置された分岐手段、分岐手段を介して主光源からの光の一部をビート信号測定用光ファイバーに分岐させる光ファイバー、主光源からの光と光コム源からの光の周波数差により生じるビート信号を測定する光検出器を備えるビート信号測定機と;を備える、炭素同位体分析装置。
〈23〉主光源、主光源からの光を伝送する光ファイバーを有する光発生装置本体と;1つの光の波長領域が4500nm〜4800nmである線幅の狭い光の束からなる光コムを発生させる光コム源、光コム源からの光を伝送するビート信号測定用光ファイバー、主光源からの光を伝送する光ファイバー上に配置された分岐手段、分岐手段を介して主光源からの光の一部をビート信号測定用光ファイバーに分岐させる光ファイバー、主光源からの光と光コム源からの光の周波数差により生じるビート信号を測定する光検出器を備えるビート信号測定機と;を備える光発生装置。
〈24〉1つの光の周波数領域が線幅の狭い光の束からなる光コムを発生させる工程と;周波数に対する強度の光スペクトル図の被検対象物の吸収波長領域の中心に光コムのうちの1つの光のスペクトルを表示する工程と;光コムからの光をビート信号測定用光ファイバーに伝送する工程と、
光源からの光を光共振器中の被検対象物に照射し光吸収量を測定する工程と;光源からの光の一部をビート信号測定用光ファイバーに分岐させ、光源からの光と光コム源からの光の周波数差によりビート信号を生じさせる工程と;光吸収量と共にビート信号より得られる被検対象物に照射された光の波長を記録し、それらの記録に基づいて被検対象物の正確な光吸収量を測定する工程と、を備える炭素同位体分析方法。
〈25〉1対のミラーを有する光共振器と、光共振器からの透過光の強度を検出する光検出器と、光共振器の表面と光路上の光学部品の表面の間の相対的距離を変化させる、寄生エタロン効果による干渉を除去する干渉除去手段と、を備える分光装置。
〈26〉分光装置は、光共振器と光発生装置の間および光共振器と光検出器の間の少なくともいずれか一方の光軸上に、干渉除去手段を備える、〈25〉に記載の分光装置。
〈27〉分光装置は、光共振器を収容する真空装置と;干渉除去手段として、真空装置と光発生装置の間および真空装置と光検出器の間の少なくともいずれか一方の光軸上に揺動可能な透過窓と;を備える、〈26〉に記載の分光装置。
〈28〉分光装置は、干渉除去手段として、光共振器を冷却する冷却装置をさらに備える、〈25〉から〈27〉のいずれかに記載の分光装置。
〈29〉炭素同位体から二酸化炭素同位体を含むガスを生成する燃焼部、二酸化炭素同位体精製部を備える二酸化炭素同位体生成装置と、〈25〉から〈28〉のいずれかに記載の分光装置と、光発生装置と、を備える炭素同位体分析装置。
〈30〉光共振器と光発生装置の間および光共振器と光検出器の間の少なくともいずれか一方の光軸上に透過窓を配置し、透過窓を揺動させる工程をさらに有する、〈15〉から〈17〉のいずれかに記載の炭素同位体分析方法。
〈31〉光共振器を―10〜−40℃に冷却した後、1〜5度の範囲で光共振器の温度を変化させる工程をさらに有する、〈15〉から〈17〉のいずれかに記載の炭素同位体分析方法。
本発明によれば、線幅が狭く高出力の光を発生する光発生装置並びにそれを用いた簡易で使い易く14C分析可能な炭素同位体分析装置及び分析方法が提供される。
また本発明によれば、光コムとQCLとを光源として用いる、信頼性が高く使い勝手も良い14Cも分析可能な、光発生装置並びにそれを用いた炭素同位体分析装置及び分析方法が提供される。
さらに、寄生エタロンによるベースラインのノイズが減少する。
図1は炭素同位体分析装置の第1の実施態様の概念図である。 図2は14COと競合ガスの4.5μm帯吸収スペクトルを示す図である。 図3A、図3Bはレーザー光を用いた高速走査型のキャビティーリングダウン吸収分光法の原理を示す図である。 図4はCRDSにおける13CO14COの吸収量Δβの温度依存性を示す図である。 図5は光共振器の変形例の概念図である。 図6は炭素同位体分析装置の第2の実施態様の概念図である。 図7は、分析試料の吸収波長と吸収強度の関係を示す図である。 図8は1本の光ファイバーを用いた中赤外コム生成の原理を示す図である。 図9はEr添加ファイバ−レーザーべースの中赤外(MIR)コム生成系1を示す図である。 図10A、図10Bは、短波長側のスペクトル図である。 図11A、図11Bは、長波長側のスペクトル図である。 図12は、長波長側のスペクトル図である。 図13は、生成した中赤外コムの光スペクトル図である。 図14はEr添加ファイバ−レーザーべースの中赤外(MIR)コム生成系2を示す図である。 図15は炭素同位体分析装置の第3の実施態様の概念図である。 図16は、従来の差周波混合法により生成された中赤外コムの光スペクトル図である。 図17A、図17B、図17Cは、炭素同位体分析方法の第2の態様の概要図である。 図18A、18Bは、それぞれ寄生エタロン効果による干渉の除去方法におけるプレートモジュレーションの影響を示す図である。図18Aはプレートモジュレーションなし(従来例)、図18Bはプレートモジュレーションあり(実施例)を示す図である。 図19A、19Bは、それぞれ寄生エタロン効果による干渉の除去方法における温度制御の影響を示す図である。図19Aは温度制御なし(従来例)、図19Bは温度制御あり(実施例)を示す図である。 図20は、寄生エタロン効果による干渉の除去機能を備える分光装置の概念図である。
以下に、実施形態を挙げて本発明の説明を行うが、本発明は以下の実施形態に限定されるものではない。図中同一の機能又は類似の機能を有するものについては、同一又は類似の符号を付して説明を省略する。但し、図面は模式的なものである。したがって、具体的な寸法等は以下の説明を照らし合わせて判断されるべきものである。また、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることは勿論である。
[炭素同位体分析装置の第1の態様]
図1は、炭素同位体分析装置の概念図である。炭素同位体分析装置1は、二酸化炭素同位体生成装置40と、光発生装置20と、分光装置10と、さらに演算装置30とを備える。
二酸化炭素同位体生成装置40は、炭素同位体から二酸化炭素同位体を含むガスを生成する燃焼部と、二酸化炭素同位体精製部とを備える。
分光装置10は、1対のミラーを有する光共振器と、前記光共振器からの透過光の強度を検出する光検出器とを備える。
光発生装置20は、1つの光源と、光源からの光を伝送する第1光ファイバーと、第1光ファイバーの分岐点から分岐し前記第1光ファイバーの下流側の合流点で合流する第1光ファイバーよりも長波長の光を伝送する第2光ファイバーと、第1光ファイバーの分岐点から合流点の間に配置された第1増幅器と、第2光ファイバーの分岐点から合流点の間に配置され、第1増幅器とは帯域が異なる第2増幅器と、周波数が異なる複数の光を通過させることで周波数の差から前記二酸化炭素同位体の吸収波長の光を発生させる非線形光学結晶と、を備える。
ここでは、分析対象として、炭素同位体である放射性同位体14Cを例にあげて説明する。なお、放射性同位体14Cから生成される二酸化炭素同位体14COの吸収波長を有する光は4.5μm帯の光である。詳細は後述するが、測定対象物質の吸収線、光発生装置、及び光共振器モードの複合による選択性により、高感度化を実現することが可能となる。
本明細書において「炭素同位体」とは、特に断りのない限り安定炭素同位体12C、13C、及び放射性炭素同位体14Cを意味する。また、単に元素記号「C」と表示される場合、天然存在比での炭素同位体混合物を意味する。
酸素の安定同位体は16O、17O及び18Oが存在するが、元素記号「O」と表示される場合、天然存在比での酸素同位体混合物を意味する。
「二酸化炭素同位体」とは、特に断りのない限り12CO13CO及び14COを意味する。また、単に「CO」と表示される場合、天然存在比の炭素及び酸素同位体により構成される二酸化炭素分子を意味する。
本明細書において「生体試料」とは、血液、血漿、血清、尿、糞便、胆汁、唾液、その他の体液や分泌液、呼気ガス、口腔ガス、皮膚ガス、その他の生体ガス、さらには、肺、心臓、肝臓、腎臓、脳、皮膚などの各種臓器及びこれらの破砕物など、生体から採取し得るあらゆる試料を意味する。さらに当該生体試料の由来は、動物、植物、微生物を含むあらゆる生物が挙げられ、好ましくは哺乳動物、より好ましくはヒトの由来である。哺乳動物としては、ヒト、サル、マウス、ラット、モルモット、ウサギ、ヒツジ、ヤギ、ウマ、ウシ、ブタ、イヌ、ネコなどが挙げられるが、これらに限定されない。
〈二酸化炭素同位体生成装置〉
二酸化炭素同位体生成装置40は、炭素同位体を二酸化炭素同位体に変換可能であれば特に制限されることなく種々の装置を用いることができる。二酸化炭素同位体生成装置40としては、試料を酸化させ、試料中に含まれる炭素を二酸化炭素にする機能を有していることが好ましい。
例えば全有機炭素(total organic carbon 以下「TOC」という)発生装置、ガスクロマトグラフィー用の試料ガス発生装置、燃焼イオンクロマトグラフィー用の試料ガス発生装置、元素分析装置(Elemental Analyzer:EA)等の二酸化炭素生成装置(G)41を用いることができる。
図2に、273K、CO分圧20%、CO分圧1.0×10−4%、NO分圧3.0×10−8%の条件下における14COと競合ガス13CO,CO,及びNOの4.5μm帯吸収スペクトルを示す。
前処理後の生体試料を燃焼させることにより、二酸化炭素同位体14CO(以下、「14CO」ともいう)を含むガスを生成できる。しかし、14COの発生と共に、CO、NOといった夾雑ガスも発生する。これらCO、NOは、図2に示すように、それぞれ4.5μm帯の吸収スペクトルを有するので、14COが有する4.5μm帯の吸収スペクトルと競合する。そのため、分析感度を向上させるために、CO、NOを除去することが好ましい。
CO、NOの除去方法としては、以下のように14COを捕集・分離する方法が挙げられる。また、酸化触媒や白金触媒により、CO、NOを除去・低減する方法、及び前記捕集・分離方法との併用が挙げられる。
(i)加熱脱着カラムによる14COの捕集・分離
二酸化炭素同位体生成装置は、燃焼部と、二酸化炭素同位体精製部と、を備えることが好ましい。燃焼部は、燃焼管と、燃焼管を加熱可能とする加熱部と、を備えることが好ましい。燃焼管は、試料を内部に収容可能に耐熱性ガラス(石英ガラス等)で構成され、燃焼管の一部に試料導入口が形成されていることが好ましい。燃焼管は試料導入口の他に、キャリアガスを燃焼管に導入可能にキャリアガス導入口を形成してもよい。なお、燃焼管の一部に試料導入口等を設ける態様の他にも、燃焼管の一端に燃焼管とは別部材で試料導入部を形成し、試料導入部に試料導入口やキャリアガス導入口を形成する構成としてもよい。
加熱部としては、燃焼管を内部に配置可能とし燃焼管を加熱可能とする、管状電気炉といった電気炉が挙げられる。管状電気炉の例としては、ARF−30M(アサヒ理化製作所)が挙げられる。
また、燃焼管は、キャリアガス流路の下流側に、少なくとも一種類の触媒を充填させた酸化部及び/又は還元部を具備することが好ましい。酸化部及び/又は還元部は、燃焼管の一端に設けてもよいし、別部材として設けてもよい。酸化部に充填する触媒として、酸化銅、銀・酸化コバルト混合物が例示できる。酸化部において、試料の燃焼により発生したH、COをHO、COに酸化することが期待できる。還元部に充填する触媒として、還元銅、白金触媒が例示できる。還元部において、NOを含む窒素酸化物(NO)をNに還元することが期待できる。
二酸化炭素同位体精製部としては、生体試料の燃焼により生じたガス中の14COを、ガスクロマトグラフィ(GC)で用いられるような、加熱脱着カラム(CO捕集カラム)を用いることができる。これにより14COを検出する段階でCO、NOの影響を軽減あるいは除去できる。またGCカラムに14COを含むCOガスが一時捕集されることで、14COの濃縮が見込まれるので、14COの分圧の向上が期待できる。
(ii)14CO吸着剤による14COのトラップ、再放出による14COの分離
二酸化炭素同位体生成装置40bは、燃焼部と、二酸化炭素同位体精製部と、を備えることが好ましい。燃焼部は、上述と同様に構成することができる。
二酸化炭素同位体精製部としては、14CO吸着剤、例えばソーダ石灰や水酸化カルシウム等を用いることができる。これにより、14COを炭酸塩の形で単離することで夾雑ガスの問題を解消できる。炭酸塩として14COを保持するので、サンプルを一時保存することも可能である。なお、再放出にはリン酸を用いることができる。
(i),(ii)のいずれか、あるいは両構成を備えることで、夾雑ガスを除去できる。
(iii)14COの濃縮(分離)
生体試料の燃焼により発生した14COは配管内で拡散する。そのため、14COを吸着剤に吸着させ濃縮することにより、検出感度(強度)を向上させてもよい。かかる濃縮によりCO、NOから14COの分離も期待できる。
〈分光装置〉
図1に示すように、分光装置10は、光共振器11と、光共振器11からの透過光の強度を検出する光検出器15とを備える。光共振器(Optical resonator or Optical cavity)11は、分析対象の二酸化炭素同位体が封入される筒状の本体と、本体の内部の長手方向の一端と他端に凹面が向かい合うように配置された高反射率の1対のミラー12a、12bと、本体内部の他端に配置されたミラー12a、12b間隔を調整するピエゾ素子13と、分析対象ガスが充填されるセル16と、を備える。なお、ここでは図示を省略しているが、本体の側部に二酸化炭素同位体を注入するためのガス注入口や、本体内の気圧を調整する気圧調整口を設けておくことが好ましい。なお、1対のミラー12a、12bの反射率は、99%以上が好ましく、99.99%以上がより好ましい。
光共振器内部11にレーザー光を入射し閉じ込めると、レーザー光はミラーの反射率に対応した強度の光を出力しながら、数千回〜一万回というオーダーで多重反射を繰り返す。そのため実効的な光路が数10kmにも及ぶため、光共振器内部に封入された分析対象のガスが極微量であっても大きな吸収量を得ることができる。
図3A、図3Bはレーザー光を用いた高速走査型のキャビティーリングダウン吸収分光法(Cavity Ring-Down Spectroscopy 以下「CRDS」ともいう)の原理を示す図である。
図3Aに示すように、ミラー間隔が共鳴条件を満たしているときは、高強度の信号が光共振器から透過される。一方、ピエゾ素子13を作動させてミラー間隔を変更し、非共鳴条件とすると、光の干渉効果により信号を検出することができなくなる。つまり、光共振器長を共鳴から非共鳴条件へとすばやく変化させることで、図3Aに示すような指数関数的な減衰信号[リングダウン信号(Ringdown signal)]を観測することができる。リングダウン信号を観測する別の方法として、入力レーザー光を光学スイッチ26(図6)にて素早く遮断する方法が例示できる。
光共振器の内部に吸収物質が充填されていない場合、透過してくる時間依存のリングダウン信号は図3Bの点線で示すような曲線となる。一方、光共振器内に吸光物質が充填されている場合、図3Bの実線で示すように、レーザー光が光共振器内で往復するごとに吸収されるため、光の減衰時間が短くなる。この光の減衰時間は、光共振器内の吸光物質濃度及び入射レーザー光の波長に依存しているため、Beer-Lambertの法則iiを適用することで吸収物質の絶対濃度を算出することができる。また光共振器内の吸収物質濃度と比例関係にある減衰率(リングダウンレート)の変化量を測定することにより、光共振器内の吸収物質濃度を測定することができる。
図3Aでは図示を省略したが、光共振器の外部の照射光の入口および出口の少なくともいずれか一方の光軸上に、透過窓(またはプレート、ウィンドウ)をさらに設けてもよい。また光共振器のシステム全体の温度を制御する構成としてもよい。このような構成にすることで、後述するように、光共振器と光路上の光学部品との表面間の距離を強制的に変化させることにより、ベースラインのドリフトを解決することができるからである。
光共振器から漏れ出た透過光を光検出器により検知し、演算装置を用いて14CO濃度を算出した後、14CO濃度から14C濃度を算出することができる。
光共振器11のミラー12a、12b間隔、ミラー12a、12bの曲率半径、本体の長手方向長さや幅等は、分析対象である二酸化炭素同位体が持つ吸収波長により変化させることが好ましい。想定される共振器長は1mm〜10mが挙げられる。
二酸化炭素同位体14COの場合、共振器長が長いことは光路長を確保するのに有効であるが、共振器長が長くなるとガスセルの体積が増え、必要な試料量が増えるため、共振器長は10cm〜60cmの間が好ましい。またミラー12a、12bの曲率半径は、共振器長と同じか、長くすることが好ましい。
なおミラー間隔は、ピエゾ素子13を駆動することにより、一例として数マイクロメートルから数十マイクロメートルのオーダーで調整することが可能である。最適な共鳴条件を作り出すために、ピエゾ素子13による微調整を行うこともできる。
なお、1対のミラー12a、12bとしては、1対の凹面鏡を図示して説明してきたが、十分な光路が得られるのであれば、その他にも凹面鏡と平面鏡の組み合わせや、平面鏡同士の組み合わせであっても構わない。
ミラー12a、12bを構成する材料としては、サファイアガラス、CaF、ZnSeを用いることができる。
分析対象ガスを充填するセル16は、容積がより小さいことが好ましい。少ない分析試料であっても効果的に光の共振効果を得ることができるからである。セル16の容量は、8mL〜1000mLが例示できる。セル容量は、例えば測定に供することができる14C源の量に応じて適宜好ましい容量を選択でき、尿のように大量に入手できる14C源では80mL〜120mLのセルが好適であり、血液や涙液のように入手量が限られる14C源では8mL〜12mLのセルが好適である。
光共振器の安定性条件の評価
CRDSにおける14CO吸収量と検出限界を評価するため、分光データに基づく計算を行った。12CO13COなどに関する分光データは大気吸収線データベース(HITRAN)を利用し、14COに関しては文献値(「S. Dobos et al., Z. Naturforsch, 44a, 633-639 (1989)」)を使用した。
ここで、14COの吸収によるリングダウンレート(指数関数的減衰の割合)の変化量Δβ(=β−β0、β:試料有りの減衰率、β0:試料なしの減衰率)は、14COの光吸収断面積σ14、分子数密度N、光速cにより以下のように表せる。
Δβ=σ14(λ,T,P)N(T,P,X14)c
(式中、σ14、Nは、レーザー光波長λ、温度T、圧力P、X14=14C/TotalC比の関数である。)
図4は、計算で求められた13CO14COの吸収によるΔβの温度依存性を示す図である。図4より、14C/TotalCが10−10、10−11、10−12では、室温300Kでの13COによる吸収が14COの吸収量を超えるか同程度となるため、冷却を行う必要があることが分かった。
一方、光共振器由来のノイズ成分であるリングダウンレートのばらつきΔβ0〜10−1が実現できれば、14C/TotalC比〜10−11の測定を実現できることが分かる。これにより、分析時の温度として摂氏−40度程度の冷却が必要であることが明らかとなった。
例えば、定量下限として14C/TotalCを10−11とすると、COガスの濃縮によるCOガス分圧の上昇(例えば20%)と、前記温度条件とが必要であることが示唆される。
なお、冷却装置や冷却温度について、後述の炭素同位体分析装置の第2の態様の欄においてより詳細に述べる。
光共振器11について説明したが、光共振器の具体的態様の概念図(一部切欠図)を図5示す。図5に示すように、光共振器51は、真空装置としての円筒状の断熱用チャンバー58と、断熱用チャンバー58内に配置された測定用ガスセル56と、測定用ガスセル56の両端に配置された1対の高反射率ミラー52と、測定用ガスセル56の一端に配置されたミラー駆動機構55と、測定用ガスセル56の他端に配置されたリングピエゾアクチュエーター53と、測定用ガスセル56を冷却するペルチェ素子59と、循環冷却器(図示せず)に接続された冷却パイプ54aを有する水冷ヒートシンク54と、を備える。
〈光発生装置〉
光発生装置20としては、二酸化炭素同位体の吸収波長を有する光を発生できる装置であれば特に制限されることなく種々の装置を用いることができる。ここでは、放射性二酸化炭素同位体14COの吸収波長である4.5μm帯の光を簡易に発生させ、しかも装置サイズがコンパクトな光発生装置を例に挙げて説明する。
光源23としては、超短パルス波発生装置を用いることが好ましい。光源23として超短パルス波発生装置を用いた場合、パルスあたりの光子密度が高いため、非線形光学効果が容易に起こり、放射性二酸化炭素同位体14COの吸収波長である4.5μm帯の光を簡易に発生できる。また、各波長の波長幅が均等な櫛状の光の束(光周波数コム、以下「光コム」ともいう。)が得られるため、発振波長の変動が無視できるほど小さくできるからである。なお、光源として連続発振発生装置を用いた場合には、発振波長の変動があるため、光コムなどにより発振波長の変動を測定する必要がある。
光源23としては、例えばモード同期により短パルスを出力する固体レーザー,半導体レーザー,ファイバーレーザーを用いることができる。なかでもファイバーレーザーを用いることが好ましい。ファイバーレーザーは、コンパクトで対環境安定性にも優れた,実用的な光源であるからである。
ファイバーレーザーとしては、エルビウム(Er)系(1.55μm帯)またはイッテルビウム(Yb)系(1.04μm帯)のファイバーレーザーを用いることができる。経済的な観点からは汎用されているEr系ファイバーレーザーを用いることが好ましく、光強度を高める観点からはYb系ファイバーレーザーを用いることが好ましい。
複数の光ファイバー21、22としては、光源からの光を伝送する第1光ファイバー21と、第1光ファイバー21から分岐し第1光ファイバー21の下流側で合流する波長変換用の第2光ファイバー22と、を用いることができる。第1光ファイバー21としては、光源から光共振器までつながっているものを用いることができる。また、それぞれの光ファイバーには、それぞれの経路上に複数の光学的部品や複数種類の光ファイバーを配置することができる。
第1光ファイバー21としては、生成した高強度な超短パルス光の特性を劣化させずに伝送できる光ファイバーを用いることが好ましい。具体的には、分散補償ファイバー(DCF)、ダブルクラッドファイバーなどを含むことができる。材料は、溶融石英でできたファイバーを用いることが好ましい。
第2光ファイバー22としては、効率良く所望の長波長側に超短パルス光を生成し、生成した高強度な超短パルス光の特性を劣化させずに伝送できる光ファイバーを使用することが好ましい。具体的には、偏波保持ファイバーや単一モードファイバー、フォトニック結晶ファイバー、フォトニックバンドギャップファイバーなどを含むことができる。波長のシフト量に合わせて、数mから数百mまでの長さの光ファイバーを使用することが好ましい。材料は、溶融石英でできたファイバーを用いることが好ましい。
光発生装置は、例えば図6に示すような、光源23からの光を複数のスペクトル成分に分ける波長フィルタと、複数のスペクトル成分のそれぞれの時間差を調整し、非線形結晶24に集光させる分光手段と、を備えるディレイライン28をさらに備えることが好ましい。
増幅器としては、例えば、第1光ファイバー21の経路上に配置される第1増幅器21としてEr添加型光ファイバー増幅器、第2光ファイバー22の経路上に配置される第2増幅器26としてTm添加型光ファイバー増幅器を用いることが好ましい。
第1光ファイバー21は、第3増幅器をさらに備えることが好ましく、第1増幅器21と合流点の間に第3増幅器を備えることがより好ましい。得られる光の強度が向上するからである。第3増幅器としては、Er添加型光ファイバー増幅器を用いることが好ましい。
第1光ファイバー21は、波長シフトファイバーをさらに備えることが好ましく、第1増幅器と合流点の間に波長シフトファイバーを備えることがより好ましい。得られる光の強度が向上するからである。
非線形光学結晶24としては、入射される光と出射される光に応じて適宜選択されるが、本実施例の場合は、それぞれの入射光から4.5μm帯前後の波長の光を発生するという観点から、例えばPPMgSLT(periodically poled MgO-dopedStoichiometric Lithium Tantalate(LiTaO))結晶もしくはPPLN(periodically poled Lithium Niobate)結晶、またはGaSe(Gallium selenide)結晶を用いることができる。また、1つのファイバーレーザー光源を用いているため、後述の通り、差周波混合において、光周波数の揺らぎをキャンセルすることができるからである。
非線形光学結晶24としては、照射方向(長手方向)長さが11mmよりも長尺のものが好ましく、32mm〜44mmがより好ましい。高出力の光コムが得られるからである。
差周波混合(Difference Frequency Generation 以下「DFG」ともいう)によれば、第1、第2光ファイバー21,22が伝送する波長(周波数)が異なる複数の光を非線形光学結晶に通過させることで、この周波数の差から、差周波数に対応した光を得ることができる。つまり、本実施例の場合、1つの光源23から、波長がλ、λである2つの光を発生させ、2つの光を非線形光学結晶に通過させることにより、周波数の差から二酸化炭素同位体の吸収波長の光を発生させることができる。非線形光学結晶を用いるDFGの変換効率は、元となる複数の波長(λ、λ、…λ)の光源の光子密度に依存する。そのため1つのパルスレーザー光源からDFGにより差周波の光を発生することができる。
このようにして得られる4.5μm帯の光は1パルスが規則的な周波数間隔fの複数の周波数の光(モード)からなる光コム(周波数f=fceo+N・f、N:モード数)である。光コムを用いてCRDSを行うためには、分析対象の吸収帯の光を分析対象の含まれる光共振器に導入する必要がある。なお、生成される光コムは、差周波混合のプロセスにおいてfceoがキャンセルされfceoが0になる。
非特許文献1のI. Galliらに考案された炭素同位体分析装置の場合、波長の異なる2種類のレーザー装置(Nd:YAG laserとexternal-cavity diode laser (ECDL))を用意して、レーザー光の周波数の差から二酸化炭素同位体の吸収波長を有する照射光を発生させていた。両者は連続発振レーザーであり、かつ、ECDLの強度が低いため、十分な強度のDFGを得るために、DFGで使用する非線形光学結晶を光共振器内に設置し、そこに両者の光を入れ、光子密度を高める必要があった。また、ECDLの強度を高めるために、Ti:Sapphire結晶を別のNd:YAGレーザーの2倍波にて励起し、ECDL光を増幅する必要もあった。これらを行う共振器の制御が必要になるなど、装置が大がかりで、操作が複雑になっていた。一方、本発明の実施形態に係る光発生装置は、1つのファイバーレーザー光源と、数mの光ファイバーと、非線形光学結晶とで構成されているため、コンパクトで搬送しやすく、しかも操作が簡単である。また1つの光源から複数の光を発生させているため、それぞれの光の揺らぎ幅及び揺らぎのタイミングが同一となる。そのため、制御装置を用いることなく、差周波混合を行うことで簡易に光周波数の揺らぎをキャンセルすることができる。
第1光ファイバーと第2光ファイバーの合流点から光共振器の間の光路について、空気中にレーザー光を伝送させる態様や、必要に応じてレンズによるレーザー光の集光及び/または拡大をする光学系を含む光伝送装置を構築してもよい。
本分析では、14Cの分析で使用する波長領域をカバーする範囲で光コムが得られていればよいため、本発明者等は、光コム光源の発振スペクトルをより狭くしたほうが、より高出力の光が得られることに着目した。発振スペクトルが狭い場合には、帯域が異なる増幅器による増幅や、長尺の非線形光学結晶を用いることができる。そこで、本発明者らは検討の結果、差周波混合法を用いた光コムの発生において、(イ)1つの光源から周波数が異なる複数の光を発生させ、(ロ)得られた複数の光の強度を帯域が異なる増幅器を用いてそれぞれ増幅し、(ハ)複数の光を従来の非線形光学結晶よりも長尺の非線形光学結晶に通過させることにより周波数の差から二酸化炭素同位体の吸収波長を有する高出力の照射光を発生させることを着想した。本発明は上記知見により基づいて完成したものである。なお、従来の差周波混合法において、帯域が異なる複数の増幅器を用いて光の強度を増幅することや、長尺の結晶を用いて高出力の照射光が得られる旨の報告はなかった。
光吸収物質の光吸収は、吸収線強度が大きく、かつ、照射光の光強度も高い場合は、その光吸収に対応した下準位が著しく減少し、実効的な光吸収量が飽和したようになる(これを飽和吸収と呼ぶ)。SCAR理論(Saturated Absorption CRDS)によれば、光共振器内の14CO等の試料に吸収線強度が大きな4.5μm帯の光を照射すると、得られる減衰信号(リングダウン信号)の初期は光共振器内に蓄積されている光強度が高いため飽和効果が大きく見られ、その後、減衰が進むにつれて光共振器内に蓄積されている光強度が徐々に低くなるため飽和効果が小さくなる。このため、このような飽和効果が見られる減衰信号は、単純な指数関数減衰ではなくなる。この理論に基づけば、SCARで得られた減衰信号のフィッティングにより、試料による減衰率とバックグラウンドの減衰率を独立に評価できるため、寄生エタロン効果などのバックグラウンドの減衰率の変動に影響されることなく試料による減衰率を求めることができ、かつ、夾雑ガスと比較して14COの飽和効果が大きいため、14COによる光吸収をより選択的に測定できる。したがって、より光強度の高い照射光を用いるほうが、分析の感度が向上することが期待されている。本発明の光発生装置は、光強度が高い照射光を発生させることができるので、炭素同位体分析に用いた場合、分析感度が向上することが期待される。
〈演算装置〉
演算装置30としては、上述の減衰時間やリングダウンレートから光共振器内の吸収物質濃度を測定し、吸収物質濃度から炭素同位体濃度を測定できるものであれば特に制限されることなく種々の装置を用いることができる。
演算制御部31としては、CPU等の通常のコンピュータシステムで用いられる演算手段等で構成すればよい。入力装置32としては、例えばキーボード、マウス等のポインティングデバイスが挙げられる。表示装置33としては、例えば液晶ディスプレイ、モニタ等の画像表示装置等が挙げられる。出力装置34としては、例えばプリンタ等が挙げられる。記憶装置35としてはROM、RAM、磁気ディスクなどの記憶装置が使用可能である。
本発明以前の放射性炭素同位体測定の代表例であるAMSにおける前処理法を挙げ、本発明において二酸化炭素同位体生成装置40に、図2で示される原理を用いた場合の前処理法を例として比較する。
AMSにおける前処理法は、測定試料の洗浄や希釈をなどの調整、前処理後の生体試料を二酸化炭素化する工程、還元工程、プレス工程からなる。100検体を測定する場合、AMSでは人員2名を要し、日数は最低6〜7日である。また、測定費用は400万円である。(1検体当たり4万円、加速器分析センターの資料を参考)。
一方、本願のCRDSを用いた前処理法は、生体試料から生体由来炭素を除去する工程、前処理後の生体試料を二酸化炭素化する工程、精製(濃縮,夾雑ガス除去)工程、除湿冷却工程からなる。100検体を測定する場合、生体試料を二酸化炭素化する工程以降は自動化できるため、人員1名で1〜2日での処理が可能である。なお測定費用は100万円以下を想定している。(1検体数百〜数千を設定)
なお、AMSを用いた装置はテニスコートの半面程度の設置面積の特別な建屋が必要になるが、CRDSを用いた装置は、デスクトップサイズまで設置面積を縮小化でき、また配置自由度を高めることができる。
本発明以前の放射性炭素同位体測定の代表例であるLSC及びAMSにおける前処理法を挙げ、本発明において二酸化炭素同位体生成装置40に、図2で示される原理を用いた場合の前処理法を例として比較する。
LSCで生体試料を測定する場合の前処理工程について、生体試料の種類により処理時間に差はあるものの、数分から約28時間を要する。尿と血液の前処理法の例を挙げる。
尿をLSC測定に供する場合、尿試料を必要に応じて蒸留水で希釈すればよい。当該前処理に要する時間は、数分である。
LSCは,試料から発する放射線とシンチレーターにより発する蛍光を検出し,放射線量を計測するが血液をLSC測定に供する場合、血液由来の色素が蛍光の検出を妨害し,正しく測定できない場合がある。このような場合,血液試料に組織溶解剤Soluene−350(PerkinElmer社)などを添加し、数時間40℃から60℃に加温し、さらに30%過酸化水素を添加して血液色素を脱色させる必要がある場合がある。当該前処理に要する時間は、約4〜24時間である。また別の前処理方法としては、血液試料を乾燥させたのち、試料中の炭素を二酸化炭素に燃焼酸化させ、生成した二酸化炭素をアミンなどでトラップする方法が挙げられる。
当該前処理に要する時間は、約4〜24時間である。
AMSで生体試料を測定する場合の前処理工程は、第1の工程〜第5の工程からなる。以下に各工程の概略を記載する。なお、生体試料の例としては、血液、血漿、尿、糞、胆汁などが挙げられる。
第1の工程は、測定に供する生体試料を、必要に応じて希釈溶媒で希釈し、分取する工程である。希釈溶媒として、超純水またはブランク試料等が好適に用いられる。
第2の工程は、上記分取した試料を酸化させ、試料中に含まれる炭素を二酸化炭素にする工程である。
第3の工程は、水や窒素などから二酸化炭素を単離・精製する工程である。精製後の二酸化炭素について、炭素量を定量する。
第4の工程は、精製された二酸化炭素を還元反応によりグラファイトにする工程である。還元反応の例として、還元剤である鉄粉末と水素ガスを混合し電気炉で加熱しグラファイトを作製する方法が挙げられる。
第5の工程は、調製したグラファイトをプレスする工程である。
上記前処理工程に要する時間は約6日間である。
LSCの前処理にかかる時間が数分〜約28時間、AMSの前処理にかかる時間が約6日間であるのに対して、本実施形態における二酸化炭素を生成する工程にかかる時間は、数分〜約28時間である。前処理例として希釈、抽出、濃縮などが挙げられる。原理的に、測定に供する試料に含まれる炭素が完全燃焼して二酸化炭素に変換されればよく、本実施形態によれば前処理時間を検体あたり数分〜約1.5時間程度まで短縮できる。例えば血液試料をLSCで測定する場合に必要な組織溶解工程や脱色工程が、CRDSで測定する場合には不要となる。そのため前処理工程にかかる時間は、1検体あたり数分〜約1.5時間である。
以上、第1の態様に係る炭素同位体分析装置について説明してきたが、炭素同位体分析装置は、上述の実施形態に限定されることなく、種々の変更を加えることができる。以下に炭素同位体分析装置の別の態様について、第1の態様からの変更点を中心に説明する。
[炭素同位体分析装置の第2の態様]
〈冷却、除湿装置〉
図6は、炭素同位体分析装置の第2の態様の概念図である。図6に示すように、分光装置1aは、光共振器11を冷却するペルチェ素子19と、光共振器11を収納する真空装置18と、をさらに備えてもよい。14COの光吸収は温度依存性を有するため、ペルチェ素子19により光共振器11内の設定温度を低くすることで、14COの吸収線と13CO12COの吸収線との区別が容易になり14COの吸収強度が強くなるからである。また光共振器11を真空装置18内に配置して、光共振器11が外気に晒されることを防止して外部温度の影響を軽減することで、分析精度が向上するからである。
光共振器11を冷却する冷却装置としては、ペルチェ素子19の他にも、例えば、液体窒素槽、ドライアイス槽などを用いることができる。分光装置10を小型化できる観点からはペルチェ素子19を用いることが好ましく、装置の製造コストを下げる観点からは液体窒素水槽もしくはドライアイス槽を用いることが好ましい。
真空装置18としては、光共振器11を収納でき、また光発生装置20からの照射光を光共振器11内に照射でき、透過光を光検出器に透過できるものであれば、特に制限なく様々な真空装置を用いることができる。
除湿装置を設けてもよい。その際、ペルチェ素子等の冷却手段により除湿してもよいが、フッ素系イオン交換樹脂膜といった水蒸気除去用高分子膜を使用した膜分離法によって除湿してもよい
上述の炭素同位体分析装置1をマイクロドーズに用いる場合、放射性炭素同位体14Cに対する検出感度は「0.1dpm/ml」程度が想定される。この検出感度「0.1dpm/ml」を達成するためには、光源として「狭帯域レーザー」を用いるだけでは不十分であり、光源の波長(周波数)の安定性が求められる。即ち、吸収線の波長からずれないこと、線幅が狭いことが要件となる。この点、炭素同位体分析装置1では、「光周波数コム光」を用いた安定な光源をCRDSに用いることでこの課題を解決できる。炭素同位体分析装置1によれば、低濃度の放射性炭素同位体を含む検体に対しても測定が可能であるという有利な作用効果が奏される。
なお、先行文献(廣本 和郎等、「キャビティーリングダウン分光に基づく14C連続モニタリングの設計検討」、日本原子力学会春の年会予稿集、2010年3月19日、P432)には、原子力発電関連の使用済み燃料の濃度モニタリングに関連して、CRDSにより二酸化炭素中の14C濃度を測定する旨が開示されている。しかし、先行文献に記載された、高速フーリエ変換(FFT)を用いた信号処理方法は、データ処理が早くなるものの、ベースラインのゆらぎが大きくなるため、検出感度「0.1dpm/ml」を達成することは困難である。
図7(Applied Physics Vol.24, pp.381-386, 1981より引用)は、分析試料1216131813161416の吸収波長と吸収強度の関係を示す。図7に示すように、それぞれの炭素同位体を含む二酸化炭素は、固有の吸収線を有している。実際の吸収では、各吸収線は試料の圧力や温度に起因する拡がりによって有限の幅を持つ。このため、試料の圧力は大気圧以下、温度は273K(0℃)以下にすることが好ましい。
以上、14COの吸収強度は温度依存性があるため、光共振器11内の設定温度を、できるだけ低く設定することが好ましい。具体的な光共振器11内の設定温度は273K(0℃)以下が好ましい。下限値は特に制限はないが、冷却効果と経済的観点から、173K〜253K(−100℃〜−20℃)、特に233K(−40℃)程度に冷却することが好ましい。
分光装置は、振動吸収手段をさらに備えてもよい。分光装置の外部からの振動によりミラー間隔がずれることを防止して、測定精度を上げることができるからである。振動吸収手段としては、例えば衝撃吸収剤(高分子ゲル)や免震装置を用いることができる。免震装置としては外部振動の逆位相の振動を分光装置に与えることができる装置を用いることができる。
〈ディレイライン〉
図6に示すように、第1光ファイバー21上にディレイライン28(光路差調整器)を設けてもよい。第1光ファイバー21上で発生した光の波長の微調整が容易になり、光発生装置のメンテナンスが用意になるからである。
図8は1本の光ファイバを用いた中赤外コム生成の原理を示す図である。図6、図8を参照しつつ、ディレイライン28について説明する。図6の炭素同位体分析装置1は、光源23と非線形光学結晶24の間に、複数の波長フィルタからなるディレイライン28を備える。第1光ファイバー21により、光源23からの光が伝送され、スペクトルが拡げられる(スペクトルの伸張)。そして、スペクトル成分が時間的にずれている場合、図6に示されるように、ディレイライン28(光路差調整器)により、スペクトル成分が分けられ、時間差の調整が行われる。そして、非線形結晶25に集光させることで中赤外コムを生成することができる。
なお、分光手段としてディレイラインを挙げたが、それに限定されることなく、分散媒体を用いてもよい。
<光遮断装置>
上述の実施形態においては、リングダウン信号の取得手段として、分光装置10内においてピエゾ素子13によるミラー間隔の調整を用いたが、リングダウン信号を得るために、光発生装置20内において光共振器11への光を遮断する光遮断装置を設けて光共振器に照射される照射光のオンオフ制御を行う構成としてもよい。光遮断装置としては、二酸化炭素同位体の吸収波長の光をすばやく遮断できる装置であれば特に制限されることなく種々の装置を用いることができ、図6に示すような光学スイッチ29を例示できる。なお、光共振器内の光の減衰時間よりも十分にすばやく光を遮断する必要がある。
[実施例1]
図9はEr添加ファイバ−レーザーべースの中赤外(MIR)コム生成系1を示す図である。図6の20Bに対応する装置を組み立てて実験を行った。光源として、980nmLDを励起レーザとして用いた単層カーボンナノチューブ(SWNT)フィルムを用いた、出射光の波長が1.55μmで、繰り返し周波数160MHzの高繰り返し超短パルスファイバーレーザーを用いた。この光源からの出射光を種光として入力し、Er添加ファイバー増幅器(EDFA)で増幅し、偏光ビームスプリッタ(PBS)により二つに分離した。
一方の短波長側経路(第1光ファイバー)では、分散補償ファイバー(DCF)、EDFA、そしてEr:Yb添加ダブルクラッドファイバーを用いた増幅器(DCF−Er−amp)によって、チャープパルス増幅を行った。そして、図10A,図10Bに示すような、平均出力2W、パルス幅2ps、中心波長1555nmの超短パルスを生成した。
なお、図示したディレイラインにより、波長の微修正をかけることも可能であるが、本実験では特に波長の微修正は行なわなかった。
他方の長波長側経路(第2光ファイバー)では、大口径フォトニッククリスタルファイバー(LMA−PCF)を用いて増幅したパルス光の分散を補償して、高強度な超短パルス光を生成した後、細径コア偏波保持ファイバー(Smallcore PMF)により図11Aに示すように約1.85μmまで波長シフトを行い、その光をTm添加ファイバー増幅器(TDFA)により図11Bに示すように増幅した。そして高非線形偏波保持分散シフトファイバー(PM−HN−DSF)でさらに波長変換(伸張)を行った。そして、図12に示すような、平均出力300mW、波長帯域1700〜2400nm(1.7〜2.4μm)に渡って広がるスーパコンティニューム(SC)光を生成した。なお、本実施例では2.3〜2.4um帯の成分が用いられている。
最後に二つの経路の出力を、長手方向の長さが40mmの非線形光学結晶(株式会社オキサイド製PPMgSLT(Non-linear Coefficient (deff) > 7.5pm/V、Typical PMT 44+/- 5 degree C、AR Coat S1&S2 R<0.5% @ 1064/532nm、Crystal Size (T x W) 1mm x 2mm、Crystal Length (L) 40mm))のS1面に垂直に入射することにより差周波混合を行った。その結果、図13に示されるような波長4400〜4800nm(4.5μm)帯の中赤外域光周波数コムがS2面から出射されるように生成された。
図16に示す、従来の方法で作成された中赤外コムの光スペクトル図に比べて、半値幅が狭く高強度であることが示された。また、TDFAの後段に高非線形偏波保持分散シフトファイバーを加えることによって、目的とする波長の光の選択性を向上させるとともに、所望の光を効率的に高強度で得られる。
本実施例1では、波長4800nmにピークを持つ中赤外域光周波数コムが生成されたが、長波長側経路および/または短波長側の光のスペクトル特性を調整することで波長4500nmにピークを持つ中赤外域光周波数コムを生成することができる。
また、図9の短波長側経路のEr:Yb添加ダブルクラッドファイバーとディレイラインの間に、分散シフトファイバー(DSF)とSPFを更に設け(1.35μm帯の成分が用いられる)、長波長側経路のPM−HN−DSFを取り除き、図14に示すようなEr添加ファイバ−レーザーべースの中赤外(MIR)コム生成系2を形成することで、波長4500nm帯の中赤外域光周波数コムを生成することもできる。この構成により、EDFAの後段にシフトファイバーを加えることによって、目的とする波長の光の選択性を向上させるとともに、所望の光を効率的に高強度で得られる。このように、所望の4.5μmの波長帯の光を得るために好ましい非線形結晶を用いるために、入射光の波長を予め制御することが好ましい。
[炭素同位体分析装置の第3の態様]
〈光コム以外の光源を主光源として備える光発生装置〉
従来、量子カスケードレーザー(QCL)には、発振波長の揺らぎがあり、また14C、13Cの吸収波長が隣接するため、14Cの分析に用いられるような炭素同位体分析装置の光源として用いることは困難であると考えられていた。そのため、本発明者等は1つの光源から光コムを発生する光コム光源を独自に開発することにより、コンパクトで使い勝手がよい、炭素同位体分析装置を完成した(特許文献2参照)。
そして、本発明者等は炭素同位体分析装置の更なる分析精度の向上を図るため、上述の通り、線幅が狭く高出力(高強度)の光を発生する光発生装置を完成した。本発明者等は光発生装置のさらなる用途を検討した結果、上述の光発生装置から発生する線幅の狭い光を周波数リファレンスとして用いるビート信号測定装置により、QCLから発する光の発振波長の揺らぎを補正することを着想した。この着想に基づいて研究を進めた結果、光コム以外の光源を主光源とする、コンパクトで使い勝手がよく、信頼性が高い光発生装置及びそれを用いた炭素同位体分析装置を完成した。
図15は第3の態様に係る炭素同位体分析装置1Cの概要を示す図である。炭素同位体分析装置1Cは、図1の光発生装置20Aを図15の光発生装置50に置き換えたものであり、二酸化炭素同位体生成装置40と、光発生装置50と、分光装置10と、さらに演算装置30とを備える。
光発生装置50は、主光源51、主光源51からの光を伝送する光ファイバー54を備える光発生装置本体50Aと;
1つの光の周波数領域が4500nm〜4800nmである線幅の狭い光の束からなる光コムを発生させる光コム源52と、光コム源52からの光を伝送するビート信号測定用光ファイバー56と、光ファイバー54、56上に配置された分岐手段58、59と、分岐手段58,59を介して主光源51からの光の一部をビート信号測定用光ファイバー56に分岐させる光ファイバー55と、主光源51からの光と光コム源52からの光の周波数差により生じるビート信号を測定する光検出器53と、を備えるビート信号測定機50Bと;を備える。
光発生装置50を備える炭素同位体分析装置1Cは、主光源が光コムに制限されず、QCLのような汎用の光源を用いることができるので、炭素同位体分析装置1Cの設計やメンテナンスの自由度が高くなる。
[炭素同位体分析装置の第4の態様]
〈寄生エタロン効果による干渉の除去機能を備える分光装置〉
従来の炭素同位体分析方法においては、光共振器と光路上の光学部品との表面間で反射が起こり、図18Aに示すように、寄生エタロン効果が生じることにより、ベースラインに大きなノイズが生じていた。このノイズを減少させるべく検討した結果、本発明者らは、光共振器と光路上の光学部品との表面間の距離を強制的に変化させることにより、図18Bに示すように、ベースラインのドリフトを解決できることを知見した。そして、更なる検討を加えた結果、新たな分光装置及びそれを備える炭素同位体分析装置を完成するに至った。
図20は分光装置10Dの概念図を示す。図20に示すように、分光装置10Dは、1対のミラーを有する光共振器11と、光共振器11を収納する真空装置と18、光共振器11からの透過光の強度を検出する光検出器15と、寄生エタロン効果による干渉を除去する透過窓61,63と、を備える。透過窓61,63は、光共振器11と光発生装置20(L)の間および光共振器11と光検出器の間のそれぞれの光軸上に配置され、駆動手段65(M)を作動させることにより、光共振器11の表面と光路上の光学部品の表面の間の相対的な距離(位置)が変化する。具体的には、図20に示すように、透過窓61,63(CaF、厚み1〜10mm、透過率90%以上)を、光共振器11を収める真空装置18の入口窓と出口窓の両方の光路上に光軸に対してブリュースター角となるように設置し;駆動手段Mを作動させて1〜100Hz、好ましくは35Hzで、0.05〜5度、好ましくは1度の幅でCaF製透過窓を光軸上で揺動させることにより;寄生エタロンによるベースラインのノイズを減少させることができる。
なお、透過窓は中赤外光を透過するものであれば特に制限されることはなく、上述のCaFの他に、サファイアガラスやZnSeから製造されたものを用いてもよい。また透過窓61,63は、同一の素材及びサイズである必要はなく、例えば透過窓61の素材をCaF(1/2インチ程度)とし、透過窓63の素材をSi(1インチ程度)としてもよい。また図20の分光装置は、光共振器11の両側の光軸上に干渉除去手段として透過窓61,63を配置したがこれに制限されることはなく、干渉除去手段は、光共振器と光発生装置の間および光共振器と光検出器の間のいずれか一方の光軸上に配置されてもよいが、両光軸上に配置されることが好ましい。
図20の分光装置は、干渉除去手段として揺動可能な透過窓を用いたが、寄生エタロン効果による干渉を除去できるのであれば、これらに限定されることはない。図20の分光装置の他にも、図6に示すような、真空装置内に、光共振器と、冷却装置(ペルチェ装置)とを備える分光装置10Bを用いて、光共振器の温度を0.1〜20度、好ましくは1〜5度の範囲で温度変化させることにより、寄生エタロンによるベースラインのノイズを減少させることができる。冷却装置としては、上述の炭素同位体分析装置の第2の態様において説明したような、例えば、ペルチェ素子、液体窒素槽、ドライアイス槽などを用いることができる。14COの吸収線と13CO12COの吸収線の区別ができ、かつ、寄生エタロンによるベースラインのノイズが減少するのであれば、真空装置内に配置した少なくとも1つの冷却装置により光共振器の温度制御を行なうことができる。なお、分光装置は、干渉除去手段として、透過窓と冷却装置を併せ持つ構成としてもよいが、装置を簡略化する観点からは何れか一方を有することが好ましい。
図19A、図19Bは、それぞれ寄生エタロン効果による干渉の除去方法における温度制御の影響を示す図である。図19A(従来例)は、共振器の温度を特に変化させることなく行なった場合の実験結果を示す。図19B(実施例)は、共振器の温度を5度の範囲で温度を変化させながら測定した結果を示す。
図19Aに示すように、温度の制御範囲が小さい場合、寄生エタロンによるベースラインのノイズ幅が大きかった。一方、図19Bに示すように、共振器の温度を5度の範囲で制御することで、大幅にベースラインのノイズが改善されることが分かった。共振器の温度制御で温度のばらつきがある場合は特に透過窓の温度制御手段を設けることなく、そのばらつきによってベースライン補正がなされることが分かった。
本発明によれば上述の新たな分光装置を備える炭素同位体分析装置が提供される。即ち、本発明によれば、図1、図6、図15に示されるような炭素同位体分析装置において、上述の新しい分光装置を用いた炭素同位体分析装置が提供される。係る炭素同位体分析装置によれば、寄生エタロンによるベースラインのノイズを減少することが可能となる。
[炭素同位体分析方法の第1の態様]
分析対象として放射性同位体14Cを例にあげて説明する。
(生体試料の前処理)
(イ)まず図1に示すような炭素同位体分析装置1を用意する。また放射性同位体14C源として、14Cを含む生体試料、例えば、血液、血漿、尿、糞、胆汁などを用意する。
(ロ)生体試料の前処理として除タンパクを行うことにより、生体由来炭素源を除去する。生体試料の前処理は、広義には、生体由来の炭素源除去工程と、夾雑ガス除去(分離)工程とが含まれるが、ここでは、生体由来の炭素源除去工程を中心に説明する。
マイクロドーズ試験では極微量の14C標識化合物が含まれる生体試料(例えば、血液、血漿、尿、糞、胆汁など)について分析が行われる。そのため、分析効率を上げるためには、生体試料の前処理を行うことが好ましい。CRDS装置の特性上、生体試料中14Cと全炭素との比(14C/TotalC)が測定の検出感度を決定する要素の一つであるため、生体試料中から生体由来の炭素源を除去することが好ましい。
除タンパクの方法としては、酸や有機溶媒によりタンパク質の不溶化させる除タンパク法、分子サイズの違いを利用する限外濾過または透析による除タンパク法、固相抽出による除タンパク法等が例示できる。後述するように、14C標識化合物の抽出が行えることや、有機溶媒自身の除去が容易であることから、有機溶媒による除タンパク法が好ましい。
有機溶媒を用いた除タンパク法の場合、まず生体試料に有機溶媒を添加し、タンパク質を不溶化する。このとき、タンパク質に吸着している14C標識化合物が、有機溶媒含有溶液へ抽出される。14C標識化合物の回収率を高めるために、前記有機溶媒含有溶液を別の容器に採取後、残差にさらに有機溶媒を添加し、抽出する操作を行ってもよい。前記抽出操作は複数回繰り返してもよい。なお、生体試料が糞である場合、肺など臓器である場合等、有機溶媒と均一に混合しにくい形態の場合には、該生体試料をホモジネートする等、生体試料と有機溶媒とが均一に混合されるための処理をすることが好ましい。また必要に応じて、不溶化したタンパク質を、遠心操作、フィルターによるろ過等により除去してもよい。
その後、有機溶媒を蒸発させることにより14C標識化合物を含む抽出物を乾固させ、有機溶媒由来の炭素源を取り除く。前記有機溶媒は、メタノール(MeOH)、エタノール(EtOH)、またはアセトニトリル(ACN)が好ましく、アセトニトリルがさらに好ましい。
(ハ)前処理後の生体試料を加熱・燃焼させて、放射性同位体14C源から二酸化炭素同位体14COを含むガスを生成する。そして、得られたガスからNO、COを除去する。具体的には、図2,図3の装置を用いて14COを分離することが好ましい。
(ニ)得られた14COから水分を取り除いておくことが好ましい。例えば二酸化炭素同位体生成装置40内にて、14COを炭酸カルシウム等の乾燥剤上を通過させたり、14COを冷却して水分を結露させることにより水分を除去することが好ましい。14COに含まれる水分に起因する光共振器11の着氷・着霜によるミラー反射率低下が検出感度を低下させるため、水分を除去しておくことで分析精度が上がるからである。なお、分光工程を考慮すると、分光装置10へ14COを導入する前に、14COを冷却しておくことが好ましい。室温の14COを導入すると、共振器の温度が大きく変化し、分析精度が低下するためである。
(ホ)14COを、図1に示すような1対のミラー12a、12bを有する光共振器11内に充填する。そして14COを273K(0℃)以下に冷却することが好ましい。照射光の吸収強度が高まるからである。また光共振器11を真空雰囲気に保つことが好ましい。外部温度の影響を軽減させることで、測定精度が高まるからである。
(ヘ)光源23から得られた第1光を第1光ファイバー21に伝送する。また第1光ファイバー21から分岐し第1光ファイバー21の下流側の合流点で合流する第2光ファイバー22に第1光を伝送させて、第2光ファイバー22により第1光よりも長波長の第2光を発生させる。得られた第1光と第2光の強度を、帯域が異なる増幅器21,26を用いてそれぞれ増幅する。そして、短波長側の第1光ファイバー21から1.3μm〜1.7μm帯の光を発生させ、長波長側の第2光ファイバー22から1.8μm〜2.4μm帯の光を発生させる。次に第2光を第1光ファイバー21の下流側で合流させ、第1光と第2光を非線形光学結晶24に通過させ、周波数の差から二酸化炭素同位体14COの吸収波長の4.5μm帯の光として、波長4.5μm〜4.8μm帯の中赤外域光周波数の光コムを照射光として発生させる。その際、非線形光学結晶24として長手方向の長さが11mmよりも長尺の長軸結晶を用いることにより強度の高い光を生成することができる。
(ト)二酸化炭素同位体14COに照射光を照射し共振させる。その際、測定精度を上げるためには、光共振器11の外部からの振動を吸収し、ミラー12a、12b間隔にずれが生じないようにすることが好ましい。また照射光が空気に触れないように、第1光ファイバー21の下流側の他端をミラー12aに当接させながら照射することが好ましい。そして光共振器11からの透過光の強度を測定する。図5に示すように透過光を分光し、分光されたそれぞれの透過光について強度を測定してもよい。
(チ)透過光の強度から炭素同位体14C濃度を計算する。
以上、第1の態様に係る炭素同位体分析方法について説明してきたが、炭素同位体分析方法は、上述の実施形態に限定されることなく、種々の変更を加えることができる。以下に炭素同位体分析方法の別の態様について、第1の態様からの変更点を中心に説明する。
[炭素同位体分析方法の第2の態様]
炭素同位体分析方法の第2の態様は、上述の(へ)工程を、以下の工程に置き換えたものである。
(イ)炭素同位体分析方法は、1つの光の周波数領域が4500nm〜4800nmである線幅の狭い光の束からなる光コムを発生させる。
(ロ)次に、図17Aに示すように、周波数に対する強度の光スペクトル図の被検対象物の吸収波長領域の中心に光コムのうちの1つの光のスペクトルを表示する。
(ハ)光コムからの光をビート信号測定用光ファイバーに伝送する。
(ニ)光源からの光を被検対象物に照射し光共振器(CRDS)により光吸収量を測定する。
(ホ)光源からの光の一部をビート信号測定用光ファイバーに分岐させ、光源からの光と光コム源からの光の周波数差によりビート信号を生じさせる。その際、図17Bの矢印で示すように(1)、(2)…と、広範囲の周波数をスキャンしながらビート信号を発生させてもよい。また図17Cに示すように所望の周波数領域でビート信号を発生させてもよい。
(ヘ)(ニ)工程で得られた光吸収量と共に(ホ)工程で得られたビート信号より得られる被検対象物に照射された光の波長を記録する。それらの記録に基づいて、被検対象物の正確な光吸収量を測定する。
なお、本発明では、あえて光コムによるフェーズロックを行わないものの、簡便な測定系で正確な測定が実現できる。
[炭素同位体分析方法の第3の態様]
〈寄生エタロン効果による干渉の除去方法〉
炭素同位体分析方法の第1、第2の態様において、さらに、寄生エタロン効果による干渉の除去工程を加えた炭素同位体分析方法の第3の態様が提供される。
具体的には、図20に示すような分光装置10Dを備える、炭素同位体分析装置を用意する。そして、光共振器11と光発生装置20の間および光共振器11と光検出器の間のそれぞれの光軸上に配置された透過窓61,63が光軸に対してブリュースター角となるように調整する。駆動手段Mを作動させて1〜100Hz、好ましくは35Hzで、0.05〜5度、好ましくは1度の幅でCaF製透過窓を光軸上で揺動させる。以上により、図18Bに示されるように、寄生エタロンによるベースラインのノイズを減少させることができる。
その他にも、図6に示すような、真空装置内に冷却装置(ペルチェ装置)を備える炭素同位体分析装置を用意し、光共振器の温度を0.1〜20度、好ましくは1〜5度の範囲で温度変化させることによっても、寄生エタロンによるベースラインのノイズを減少させることができる。この場合、14COの吸収線と13CO12COの吸収線の区別と、寄生エタロンによるベースラインのノイズの減少と、を両立できるように温度制御することが好ましい。光共振器を―10〜−40℃に冷却した上で1〜5度の範囲で温度変化させることが好ましく、光共振器を―20〜−40℃に冷却した上で0.5〜1の範囲で温度変化させることがより好ましい。
(その他の実施形態)
上記のように、本発明は実施形態によって記載したが、この開示の一部をなす論述及び図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例及び運用技術が明らかとなろう。
実施形態に係る炭素同位体分析装置においては、分析対象である炭素同位体として放射性同位体14Cを中心に説明した。放射性同位体14Cの他にも、安定同位体元素である12C、13Cを分析することができる。その場合の照射光としては、例えば12C及び13C 分析を12CO及び13COの吸収線分析として行う場合は、2μm帯や1.6μm帯の光を用いることが好ましい。
12CO、及び13COの吸収線分析を行う場合、ミラー間隔は10〜60cm、ミラーの曲率半径はミラー間隔と同じかそれ以上、とすることが好ましい。
なお、12C、13C、14Cはそれぞれ化学的には同じ挙動を示すが、安定同位体元素12C、13Cよりも放射性同位体14Cの天然存在比が低いことから、放射性同位体14Cはその濃度を人工的な操作により高くし、精度よく測定を行うことで様々な反応過程の観測が可能となる。
実施形態に係る炭素同位体分析装置は、第1光ファイバーから分岐し分岐点より下流側で第1光ファイバーに合流する非線形ファイバーで構成された第3の光ファイバーをさらに備えてもよい。第1〜第3の光ファイバーを組み合わせることで2種以上の様々な周波数の光を発生することが可能になるからである。
その他にも、例えば、実施形態において説明した構成を一部に含む医療診断装置、環境測定装置も同様に製造することができる。また実施形態において説明した光発生装置を測定装置として用いることができる。
光周波数コムは、レーザースペクトルの縦モードが非常に高い精度で等周波数間隔に並んだ光源であり、精密分光や高精度距離計測の分野において高機能な新しい光源として期待されている。また、物質の吸収スペクトルが中赤外域に多く存在するため、中赤外域の光周波数コム光源の開発は重要である。上述の光発生装置は種々の用途で活用可能である。
このように、本発明はここでは記載していない様々な実施の形態等を含むことは勿論である。したがって、本発明の技術的範囲は上記の説明から妥当な特許請求の範囲に係る発明特定事項によってのみ定められるものである。
1 炭素同位体分析装置
10 分光装置
11 光共振器
12 ミラー
13 ピエゾ素子
14 回折格子
15 光検出器
16 セル
18 真空装置
19 ペルチェ素子
20A、20B 光発生装置
21 第1光ファイバー
22 第2光ファイバー
23 光源
24 非線形光学結晶
25 第一増幅器
26 第二増幅器
28 ディレイライン
29 光学スイッチ
30 演算装置
40 二酸化炭素同位体生成装置
50 光発生装置
50A 光発生装置本体
51 主光源
54 光ファイバー
58 分岐手段
50B ビート信号測定機
52 光コム源
53 光検出器
55、56 光ファイバー
59 分岐手段

Claims (21)

  1. 炭素同位体から二酸化炭素同位体を含むガスを生成する燃焼部、二酸化炭素同位体精製部を備える二酸化炭素同位体生成装置と、
    1対のミラーを有する光共振器、前記光共振器からの透過光の強度を検出する光検出器を備える分光装置と、
    1つの光源、前記光源からの第1光を伝送する第1光ファイバー、前記第1光ファイバーの分岐点から分岐し前記第1光ファイバーの下流側の合流点で合流し前記第1光よりも長波長の第2光を発生させる第2光ファイバー、前記第1光ファイバーの前記分岐点と前記合流点の間に配置された第1増幅器、前記第2光ファイバーの前記分岐点と前記合流点の間に配置され前記第1増幅器とは帯域が異なる第2増幅器、周波数が異なる複数の光を通過させることで周波数の差から前記二酸化炭素同位体の吸収波長の光として波長4.5μm〜4.8μm帯の中赤外域光周波数の光コムを発生させる非線形光学結晶を備える光発生装置と、
    を備える、炭素同位体分析装置。
  2. 前記光発生装置は、前記光源が1.55μmの超短パルスレーザー光源であり、前記第1増幅器がEr添加型光ファイバー増幅器であり、前記第2増幅器がTm添加型光ファイバー増幅器である、請求項1に記載の炭素同位体分析装置。
  3. 前記第1光ファイバーは、前記第1増幅器と前記合流点の間に第3増幅器と、前記第3増幅器と前記合流点の間に第1波長シフトファイバーと、をさらに備え、
    前記第2光ファイバーは、前記分岐点と前記第2増幅器の間に第2波長シフトファイバーをさらに備える、請求項2に記載の炭素同位体分析装置。
  4. 前記第1光ファイバーは、前記第1増幅器と前記合流点の間に第3増幅器をさらに備え、
    前記第2光ファイバーは、前記分岐点と前記第2増幅器の間に第2波長シフトファイバーと、前記第2増幅器と前記合流点の間に第3波長シフトファイバーとをさらに備える、請求項2に記載の炭素同位体分析装置。
  5. 前記第1光ファイバーは、前記第1増幅器と前記合流点の間に第3増幅器をさらに備え、
    前記第2光ファイバーは、前記分岐点と前記第2増幅器の間に第2波長シフトファイバーをさらに備える、請求項2に記載の炭素同位体分析装置。
  6. 前記光発生装置は、前記第1光ファイバーから1.3μm〜1.7μm帯の光を照射し、前記第2光ファイバーから1.8μm〜2.4μm帯の光を照射するものである、請求項1〜5のいずれか1項に記載の炭素同位体分析装置。
  7. 前記第2波長シフトファイバーからは1.8μm〜2.0μm帯の光が出射され、
    前記第3波長シフトファイバーからは2.3μm〜2.4μm帯の光が出射される、請求項4に記載の炭素同位体分析装置。
  8. 前記第1波長シフトファイバーは、分散シフトファイバー(DSF)である、請求項3に記載の炭素同位体分析装置。
  9. 前記第2波長シフトファイバーは、細径コアファイバー(Small core fiber)であり、
    前記第3波長シフトファイバーは、高非線形分散シフトファイバー(HN-DSF)である、請求項4に記載の炭素同位体分析装置。
  10. 前記非線形光学結晶の光の流れ方向の距離は、11mmよりも長尺である、請求項1〜9のいずれか1項に記載の炭素同位体分析装置。
  11. 前記光発生装置は、前記光源からの光を複数のスペクトル成分に分ける波長フィルタ、前記複数のスペクトル成分のそれぞれの時間差を調整し前記非線形結晶に集光させる分光手段を備えるディレイラインをさらに備える、請求項1〜10のいずれか1項に記載の炭素同位体分析装置。
  12. 前記非線形光学結晶は、PPMgSLT結晶もしくはPPLN結晶、またはGaSe結晶である、請求項1〜11のいずれか1項に記載の炭素同位体分析装置。
  13. 前記分光装置は、前記光共振器を冷却する冷却装置をさらに備える、請求項1〜12のいずれか1項に記載の炭素同位体分析装置。
  14. 前記分光装置は、前記光共振器を収容する真空装置をさらに備える、請求項1〜13のいずれか1項に記載の炭素同位体分析装置。
  15. 炭素同位体から二酸化炭素同位体を生成する工程と、
    前記二酸化炭素同位体を1対のミラーを有する光共振器内に充填する工程と、
    1つの光源から周波数が異なる複数の光を発生させ、得られた複数の光の強度を、帯域が異なる増幅器を用いてそれぞれ増幅する工程と、
    前記複数の光を非線形光学結晶に通過させることにより周波数の差から前記二酸化炭素同位体の吸収波長を有する照射光として、波長4.5μm〜4.8μm帯の中赤外域光周波数の光コムを発生させる工程と、
    前記二酸化炭素同位体に前記照射光を照射し共振させた際に得られる透過光の強度を測定する工程と、
    前記透過光の強度から炭素同位体濃度を計算する工程と、を有する炭素同位体分析方法。
  16. 前記増幅された光のうち、短波長側の光が1.3μm〜1.7μm帯の光であり、長波長側の光が1.8μm〜2.4μm帯の光である、請求項15に記載の炭素同位体分析方法。
  17. 前記照射光を放射性二酸化炭素同位体14COに照射する、請求項15または請求項16に記載の炭素同位体分析方法。
  18. 1つの光源と、
    前記光源からの光を伝送する第1光ファイバーと、
    前記第1光ファイバーの分岐点から分岐し前記第1光ファイバーの下流側の合流点で合流する前記第1光ファイバーよりも長波長の光を伝送する第2光ファイバーと、
    前記第1光ファイバーの前記分岐点から前記合流点の間に配置された第1増幅器と、
    前記第2光ファイバーの前記分岐点から前記合流点の間に配置され、前記第1増幅器とは帯域が異なる第2増幅器と、
    周波数が異なる複数の光を通過させることで周波数の差から前記二酸化炭素同位体の吸収波長の光として、波長4.5μm〜4.8μm帯の中赤外域光周波数の光コムを発生させる非線形光学結晶と、を備える光発生装置。
  19. 前記光発生装置は、前記光源が1.55μmの超短パルスレーザー光源であり、前記第1増幅器がEr添加型光ファイバー増幅器であり、前記第2増幅器がTm添加型光ファイバー増幅器である、請求項18に記載の炭素同位体分析装置。
  20. 前記光発生装置は、前記第1光ファイバーから1.3μm〜1.7μm帯の光を照射し、前記第2光ファイバーから1.8μm〜2.4μm帯の光を照射するものである、請求項18または19に記載の炭素同位体分析装置。
  21. いずれかの前記増幅器の後段に第2の波長シフトファイバーが含まれる、波長4.5〜4.8μm帯の中赤外域光周波数コムを発生する超短パルスレーザー光源としての、請求項18〜20のいずれか1項に記載の光発生装置。
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2019142944A1 (ja) * 2018-01-22 2021-02-25 積水メディカル株式会社 炭素同位体分析装置及び炭素同位体分析方法
US20200194959A1 (en) * 2018-12-18 2020-06-18 Toptica Photonics Ag Generation of Ultrashort Laser Pulses at Wavelengths
US11302590B2 (en) * 2019-02-15 2022-04-12 Kla Corporation Delivery of light into a vacuum chamber using an optical fiber
WO2020247711A1 (en) * 2019-06-07 2020-12-10 Massachusetts Institute Of Technology Microscale photoacoustic spectroscopy, imaging, and microscopy
US11656268B2 (en) * 2019-12-31 2023-05-23 Gm Cruise Holdings Llc Apparatus and method for testing coupled AC circuit
JP7406766B2 (ja) 2020-03-26 2023-12-28 国立研究開発法人産業技術総合研究所 ガス分析装置
US20230341261A1 (en) * 2020-09-09 2023-10-26 Konica Minolta, Inc. Photometric device
CN112858217B (zh) * 2021-03-12 2022-07-15 中国科学技术大学 一种双波长法定量检测碳14同位素的装置及光谱仪

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015122475A1 (ja) * 2014-02-12 2015-08-20 積水メディカル株式会社 炭素同位体分析装置および炭素同位体分析方法
US20170187161A1 (en) * 2014-09-22 2017-06-29 Imra America, Inc. Low carrier phase noise fiber oscillators

Family Cites Families (50)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS604412B2 (ja) 1971-12-24 1985-02-04 日産自動車株式会社 機関吸入空気重量測定装置
US5012052A (en) * 1988-03-22 1991-04-30 Indiana University Foundation Isotope-ratio-monitoring gas chromatography-mass spectrometry apparatus and method
US5286468A (en) * 1991-02-21 1994-02-15 Ontario Hydro Producing carbon-14 isotope from spent resin waste
US5394236A (en) * 1992-02-03 1995-02-28 Rutgers, The State University Methods and apparatus for isotopic analysis
US5818580A (en) * 1996-03-12 1998-10-06 Rutgers, The State University Simultaneous multisample analysis and apparatus therefor
JP3274605B2 (ja) * 1996-05-01 2002-04-15 日本無線株式会社 炭素同位体分析装置
US5783741A (en) * 1997-01-31 1998-07-21 Atlantic Richfield Company Capillary furnace for improved peak resolution in gas isotope chromatography
JPH1187828A (ja) * 1997-09-10 1999-03-30 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 繰り返し周波数の安定化された光パルス源
JP3390755B2 (ja) 1998-09-29 2003-03-31 科学技術振興事業団 波長可変短パルス光発生装置及び方法
US6258082B1 (en) * 1999-05-03 2001-07-10 J. T. Lin Refractive surgery and presbyopia correction using infrared and ultraviolet lasers
US6486474B1 (en) * 1999-08-13 2002-11-26 Regents Of The University Of Minnesota Infrared spectrometer for the measurement of isotopic ratios
US6800855B1 (en) * 1999-12-27 2004-10-05 Nippon Sanso Corporation Spectroscopic method for analyzing isotopes by using a semiconductor laser
US7368710B2 (en) * 2000-02-09 2008-05-06 Xceleron Limited Sample preparation method
PT1320743E (pt) * 2000-09-25 2010-07-26 Otsuka Pharma Co Ltd MéTODO DE ANáLISE DA RESPIRAÆO HUMANA ATRAVéS DE UM NALISADOR DE GáS ISOTËPICO
JP2002286638A (ja) * 2001-03-26 2002-10-03 Shimadzu Corp 同位体ガス測定装置
JP3741006B2 (ja) * 2001-08-08 2006-02-01 株式会社日立製作所 荷電粒子測定装置およびその測定方法
US7101340B1 (en) * 2002-04-12 2006-09-05 Braun Charles L Spectroscopic breath profile analysis device and uses thereof for facilitating diagnosis of medical conditions
GB2389903B (en) * 2002-04-16 2006-06-07 Univ Bern Process and apparatus for providing a gaseous substance for the analysis of chemical elements or compounds
JP4099192B2 (ja) * 2003-08-01 2008-06-11 日本電信電話株式会社 レーザ光源
GB0323805D0 (en) * 2003-10-10 2003-11-12 Univ Southampton Synthesis of germanium sulphide and related compounds
JP4435782B2 (ja) * 2003-10-31 2010-03-24 大塚製薬株式会社 同位体ガス分析におけるガス注入量決定方法並びに同位体ガス分析測定方法及び装置
US8571075B2 (en) * 2010-11-29 2013-10-29 Imra America, Inc. Frequency comb source with large comb spacing
US8018981B2 (en) * 2006-04-12 2011-09-13 Li-Cor, Inc. Multi-pass optical cell with actuator for actuating a reflective surface
US7616305B2 (en) * 2006-11-30 2009-11-10 Rutgers, The State University Analytical methods and apparatus
EP2092304A4 (en) * 2006-12-18 2013-04-17 Picomole Instr Inc APPARATUS AND METHOD FOR QUICK AND ACCURATE QUANTIFICATION OF COMPLEX, UNKNOWN MIXTURE
WO2009032205A2 (en) * 2007-09-05 2009-03-12 Ge Analytical Instruments, Inc. Carbon measurement in aqueous samples using oxidation at elevated temperatures and pressures
WO2012087405A2 (en) * 2010-10-05 2012-06-28 The Regents Of The University Of California Isotopic chemical analysis using optical molecular spectra from laser ablation
GB0821188D0 (en) * 2008-11-19 2008-12-24 Isis Innovation Measurment of gas concentrations in breath
WO2010088657A2 (en) * 2009-02-02 2010-08-05 Planetary Emissions Management System of systems for monitoring greenhouse gas fluxes
DE102009007142A1 (de) * 2009-02-02 2010-08-05 Draka Industrial Cable Gmbh Faseroptische Messvorrichtung
DE102009045458B3 (de) * 2009-08-28 2011-06-22 Freie Universität Berlin, 14195 Verfahren zur Bestimmung des 14C-Gehaltes eines Gasgemisches und hierfür geeignete Anordnung
DE102009055320B4 (de) * 2009-12-24 2011-09-01 Humedics Gmbh Messvorrichtung und Verfahren zur Untersuchung eines Probegases mittels Infrarot-Absorptionsspektroskopie
WO2011142849A2 (en) * 2010-01-21 2011-11-17 Rudolph Wolfgang G Gas filled hollow fiber laser
US8327686B2 (en) * 2010-03-02 2012-12-11 Li-Cor, Inc. Method and apparatus for the photo-acoustic identification and quantification of analyte species in a gaseous or liquid medium
JP2012026949A (ja) * 2010-07-27 2012-02-09 Shimadzu Corp ガス濃度測定装置
US9651488B2 (en) * 2010-10-14 2017-05-16 Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh High-accuracy mid-IR laser-based gas sensor
EP2715317A4 (en) * 2011-05-26 2014-08-06 Southwest Sciences Inc NON-THERMOSENSIBLE LASER MEASUREMENT OF THE ISOTOPIC RATIO OF CARBON DIOXIDE
KR101329082B1 (ko) * 2011-11-25 2013-11-14 한국원자력연구원 광섬유 레이저를 이용한 탄소 및 산소 동위원소 분리 방법 및 장치
WO2013078215A1 (en) * 2011-11-25 2013-05-30 Imra America Inc. A compact coherent high brightness light source for the mid-ir and far-ir
US8642982B2 (en) * 2012-03-16 2014-02-04 The United States of America, as represented by the Secretary of Commerce, NIST Fast switching arbitrary frequency light source for broadband spectroscopic applications
EP2831120A4 (en) * 2012-03-29 2015-08-26 Calera Corp METHOD AND SYSTEMS FOR USING CARBIDKALK
WO2014062392A1 (en) * 2012-10-19 2014-04-24 Avisa Pharma Inc. Methods for detecting bacterial infections
US9322775B2 (en) * 2012-12-28 2016-04-26 CNR—Consiglio Nazionale Delle Ricerche Frequency comb spectroscopy apparatus and method of frequency comb spectroscopy
DE112014001410T5 (de) * 2013-03-15 2015-11-26 Imra America, Inc. Spurengasdetektionssystem
ITPD20130095A1 (it) * 2013-04-15 2014-10-16 Cnr Consiglio Naz Delle Ric Erche Apparato per la misura di concentrazione di gas in tracce mediante la spettroscopia scar
JP6204255B2 (ja) * 2014-04-08 2017-09-27 日本電信電話株式会社 波長変換素子および光周波数コム発生装置
US10302809B2 (en) * 2014-05-23 2019-05-28 Halliburton Energy Services, Inc. Band-limited integrated computational elements based on hollow-core fiber
CA2886213A1 (en) * 2014-09-07 2015-05-27 Unisearch Associates Inc. Gas cell assembly and applications in absorption spectroscopy
CA2904850C (en) * 2014-09-22 2021-04-20 Ngp Inc. Analytes monitoring by differential swept wavelength absorption spectroscopy methods
EP3267180A4 (en) * 2015-03-04 2019-02-27 National University Corporation Nagoya University DEVICE FOR CARBON ISOTOPE ANALYSIS AND METHOD FOR CARBON ISOTOPE ANALYSIS

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015122475A1 (ja) * 2014-02-12 2015-08-20 積水メディカル株式会社 炭素同位体分析装置および炭素同位体分析方法
US20170187161A1 (en) * 2014-09-22 2017-06-29 Imra America, Inc. Low carrier phase noise fiber oscillators

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
CHURIN D , ET AL.: "Efficient Frequency Comb Generation in the 9-μm Region Using Compact Fiber Sources", IEEE PHOTONICS TECHNOLOGY LETTERS, vol. 26, no. 22, JPN6018044850, 22 August 2014 (2014-08-22), pages 2271 - 2274, XP011562732, ISSN: 0004939032, DOI: 10.1109/LPT.2014.2350472 *
CRUZ F C , ET AL.: "Mid-infrared optical frequency combs based on difference frequency generation for molecular spectros", OPTICS EXPRESS, vol. 23, no. 20, JPN6018044854, 2 October 2015 (2015-10-02), pages 26814 - 26824, XP055579130, ISSN: 0004939034, DOI: 10.1364/OE.23.026814 *
LEE K F , ET AL.: "Midinfrared frequency comb by difference frequency of erbium and thulium fiber lasers in orientation", OPTICS EXPRESS, vol. 25, no. 15, JPN6018044852, 12 July 2017 (2017-07-12), pages 17411 - 17416, XP055579128, ISSN: 0004939033, DOI: 10.1364/OE.25.017411 *

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