JPWO2018117149A1 - 光検波装置、光特性解析装置、光検波方法 - Google Patents
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Abstract
可変波長光の波長変化に伴う特性を測定することを目的とする。第1局部発振光源100aは、第1局部発振光2000を出力する。第2局部発振光源100bは、第2局部発振光2010を出力する。入力部200は、波長可変レーザ光源50から、処理対象光1000を入力する。検波部300は、第1局部発振光2000と第2局部発振光2010とにより、処理対象光1000を検波し、第1検波信号3000aと第2検波信号3000bとを生成する。解析部400は、第1検波信号3000aと第2検波信号3000bとを解析する。
Description
本開示は、光特性解析技術に関し、特に可変波長光の特性を解析するための光検波装置、光特性解析装置、光特性解析方法に関する。
デジタルコヒーレント光通信技術は、コヒーレント光検波技術とデジタル信号処理技術とを組み合わせることにより、様々な多値光変調信号を高感度で復調するとともに、位相雑音や偏波変動などの伝送歪を高速に補償するものである。すなわちこの技術では、受信側に設置した局部発振光源と信号光との干渉により信号光の検波が行われ、複素電界振幅の復調により復調信号が生成される(コヒーレント光検波)。この復調信号は、アナログデータからデジタルデータに変換され、信号内の位相雑音や偏波変動が、デジタル信号処理によって除去される(例えば、特許文献1参照)。
波長可変レーザは、発振波長が変更可能なレーザである。通常の固定波長レーザと違い、波長ごとに異なる光送信器を用意する必要がないため、波長可変レーザは、光通信システムの様々な分野への応用が期待されている。波長可変レーザを実システムに応用するためには、波長変化に伴うレーザ光の特性を正確に知ることが必要となる。しかしながら、現在のところ、波長可変レーザ光の特性を広い波長範囲にわたり正確に測定できる技術はない。一方、光通信の分野では、前述のデジタルコヒーレント光通信技術のように、受信信号を正確に検波する技術が知られている。しかしながら、このような技術を、レーザ光特性の測定に対して直接応用した例はない。
本開示はこうした状況に鑑みてなされており、その目的とするところは、可変波長光の波長変化に伴う諸特性を、精度よく測定する技術を提供することにある。
上記課題を解決するために、本開示のある態様の光検波装置は、第1の波長を有する第1の局部発振光を第1の局部発振光源から入力するとともに、第1の波長とは異なった第2の波長を有する第2の局部発振光を第2の局部発振光源から入力する第1入力部と、第1の波長から第2の波長に変化する処理対象光を入力する第2入力部と、前記第1入力部において入力した第1の局部発振光と第2の局部発振光とによって、前記第2入力部において入力した処理対象光を検波することにより、検波信号を生成する検波部と、前記検波部において生成した検波信号を出力する出力部と、を備える。
本開示の別の態様は、光特性解析装置である。この装置は、第1の波長を有する第1の局部発振光と、第1の波長とは異なった第2の波長を有する第2の局部発振光とによって、第1の波長から第2の波長に変化する処理対象光を検波して生成した検波信号を入力する入力部と、前記入力部において入力した検波信号を解析する解析部と、を備える。
本開示のさらに別の態様は、光検波方法である。この方法は、第1の波長を有する第1の局部発振光を第1の局部発振光源から入力するとともに、第1の波長とは異なった第2の波長を有する第2の局部発振光を第2の局部発振光源から入力するステップと、第1の波長から第2の波長に変化する処理対象光を入力するステップと、第1の局部発振光と第2の局部発振光とによって、入力した処理対象光を検波することにより、検波信号を生成するステップと、を備える。
なお、以上の構成要素の任意の組合せ、本開示の表現を方法、装置、システム、記録媒体、コンピュータプログラムなどの間で変換したものもまた、本開示の態様として有効である。
本開示によれば、可変波長光の波長変化に伴う諸特性を、精度よく測定することができる。
本実施例を具体的に説明する前に、基礎となった知見を説明する。
従来の波長可変レーザの波長変化速度測定は、波長情報を強度情報に変換することにより実現される。この種の波長可変レーザ用波長変化速度測定装置は、例えば可変光フィルタと、光検出部と、解析部とを備える。
従来の波長可変レーザの波長変化速度測定は、波長情報を強度情報に変換することにより実現される。この種の波長可変レーザ用波長変化速度測定装置は、例えば可変光フィルタと、光検出部と、解析部とを備える。
可変光フィルタは、光の透過率が波長によって異なり、透過波長域を調整可能な光フィルタである。可変光フィルタは、測定対象であるレーザ光を入力し、透過光を光検出部に出力する。光検出部は、可変光フィルタから入力した透過光の強度を検出し、これを電気信号に変換して解析部に送信する。解析部は、光検出部から受信した電気信号を、可変光フィルタの透過率特性に基づいて解析し、波長変化速度を導出する。
この装置で、波長がλ1からλ2へ変化する光の波長変化速度を測定するときの手順を説明する。測定に先立ち、可変光フィルタの透過光強度が、波長λ2のとき最大となり、波長λ1のとき最大強度のα%になるよう、透過波長域を調整しておく。測定対象である波長変化光を入力した可変光フィルタは、透過率特性に従って強度が時間的に変化する透過光を出力する。解析部は、測定対象光により生成された信号強度を、時間的に観測する。解析部は、信号強度が、最大強度のα%から最大強度になるまでに要した時間Tに基づいて、1/Tを波長変化速度として算出する。ただし、波長変化速度は、波長変化に要した時間の逆数として定義する。
この波長変化速度測定法には、いくつかの限界がある。1つは、測定可能な波長範囲と分解能に関するものである。この波長変化速度測定は、光フィルタによる波長情報の強度情報への変換に基づく。この場合、測定可能な波長変化範囲は、光フィルタの透過波長帯域幅が広いほど広く取れるが、最終的には光フィルタの物理的性能の限界を超えることはできない。逆に、測定波長変化範囲に比べて、光フィルタの透過波長帯域幅が広すぎると、測定範囲における強度変化が小さくなり、分解能、すなわち正確さが低下する。2つ目は、測定できる光特性の種類に関するものである。すなわちこの測定法によれば、波長変化速度や、波長変化に伴う強度安定性を測定することはできるが、位相や偏波の安定性を測定することはできない。3つ目は、波長変化に伴う過渡応答特性に関するものである。この測定法によれば、着目する波長変化の最初と最後について、波長変化速度や強度等を得ることはできるが、波長変化途中の遷移段階におけるこれらの特性を得ることはできない。
(実施例1)
本開示の実施例1は、波長の変化する光に関し、波長変化の前後のタイミングで、その特性を測定する光特性解析システムである。
図1に、実施例1に係る光特性解析システム10の構成を示す。光特性解析システム10は、局部発振光源100と総称される第1局部発振光源100a、第2局部発振光源100b、入力部200、検波部300、解析部400を含む。解析部400は、2chアナログ―デジタル変換器410aとデジタル信号処理部420を含む。
本開示の実施例1は、波長の変化する光に関し、波長変化の前後のタイミングで、その特性を測定する光特性解析システムである。
図1に、実施例1に係る光特性解析システム10の構成を示す。光特性解析システム10は、局部発振光源100と総称される第1局部発振光源100a、第2局部発振光源100b、入力部200、検波部300、解析部400を含む。解析部400は、2chアナログ―デジタル変換器410aとデジタル信号処理部420を含む。
入力部200は、処理対象光1000を出力する波長可変レーザ光源50に接続される。処理対象光1000は、光特性解析システム10において特性を解析されるべき光であり、波長がλ1からλ2に変化する。例えば、λ1<λ2である。入力部200は、処理対象光1000を入力する。
第1局部発振光源100aは、第1局部発振光2000を出力する。第1局部発振光2000の波長はλ1である。第2局部発振光源100bは、第2局部発振光2010を出力する。第2局部発振光2010の波長はλ2である。検波部300は、第1局部発振光源100aと第2局部発振光源100bとに接続されており、第1局部発振光2000と第2局部発振光2010とを入力する。
入力部200は、入力した処理対象光1000を検波部300に出力する。検波部300は、処理対象光1000を、第1局部発振光2000と第2局部発振光2010とによって検波し、検波信号3000と総称される第1検波信号3000a、第2検波信号3000bを生成する。ここで、第1検波信号3000aは同相成分に相当し、第2検波信号3000bは直交成分に相当する。検波部300は、生成した検波信号3000を解析部400に出力する。
図2に、図1の光特性解析システム10における検波部300の例を示す。検波部300は、90°ハイブリッド合波部500、光検出部600と総称される第1光検出部600a、第2光検出部600bを含む。
90°ハイブリッド合波部500は、分配部5000と総称される第1分配部5000a、第2分配部5000b、合波部5010と総称される第1合波部5010a、第2合波部5010b、90°位相シフト部5020を含む。
第1分配部5000aは、第1局部発振光源100aと第2局部発振光源100bとに接続されており、第1局部発振光源100aから第1局部発振光2000を入力し、第2局部発振光源100bから第2局部発振光2010を入力する。第1分配部5000aは、第1局部発振光2000と第2局部発振光2010とを、第2合波部5010bと90°位相シフト部5020とに出力する。第2分配部5000bは、入力部200に接続されており、入力部200から処理対象光1000を入力する。第2分配部5000bは、処理対象光1000を、第1合波部5010aと第2合波部5010bとに出力する。90°位相シフト部5020は、第1分配部5000aに接続されており、第1局部発振光2000と第2局部発振光2010とを入力し、入力した光の位相を90°シフトする。90°位相シフト部5020の構成には公知の技術が使用されればよいので、ここでは説明を省略する。90°位相シフト部5020は、位相をシフトした光を出力する。第1合波部5010aは、第2分配部5000bと90°位相シフト部5020とに接続されており、処理対象光1000と、第1局部発振光2000および第2局部発振光2010の位相をシフトした光とを入力し、これらを合波する。第1合波部5010aは、合波した光を第2光検出部600bに出力する。第2合波部5010bは、第1分配部5000aと第2分配部5000bとに接続されており、第1局部発振光2000と第2局部発振光2010と、処理対象光1000とを入力し、これらを合波する。第2合波部5010bは、合波した光を第1光検出部600aに出力する。
第1光検出部600aは、第2合波部5010bに接続されており、第2合波部5010bにおいて合波した光を入力する。第1光検出部600aは、入力した光の強度に応じた大きさの光電流を生成し、これに比例した大きさの第1検波信号3000aを生成する。第2光検出部600bは、第1合波部5010aに接続されており、第1合波部5010aにおいて合波した光を入力する。第2光検出部600bは、入力した光の強度に応じた大きさの光電流を生成し、これに比例した大きさの第2検波信号3000bを生成する。
前述のように、90°位相シフト部5020が出力した第1局部発振光2000および第2局部発振光2010には、第1分配部5000aが出力した第1局部発振光2000および第2局部発振光2010に対して90°の位相差が与えられている。従って、第1分配部5000aが出力した第1局部発振光2000および第2局部発振光2010の位相を基準として、第1検波信号3000aは、処理対象光1000に含まれる同相成分(I成分)のみを含み、第2検波信号3000bは、処理対象光1000に含まれる直交位相成分(Q成分)のみを含む。第1検波信号3000a、第2検波信号3000bをそれぞれII、IQと表すと、検波信号の複素電界振幅Eは、以下のように表すことができる。
E=II+jIQ・・・(1)
ただし、本開示では、jは虚数単位を表すものとする。
E=II+jIQ・・・(1)
ただし、本開示では、jは虚数単位を表すものとする。
このような処理によって、処理対象光1000の波長がλ1のとき、第1局部発振光2000との干渉が発生するため、検波信号3000の強度は極大となる。処理対象光1000の波長がλ1から外れ、かつ波長がλ2になるまでは、第1局部発振光2000、第2局部発振光2010のいずれとも干渉が発生しないため、検波信号3000の強度は微弱となる。処理対象光1000の波長がλ2になると、第2局部発振光2010との干渉が発生するため、検波信号3000の強度は再び極大となる。
図1に戻る。解析部400の2chアナログ―デジタル変換器410aは、アナログ信号である2つの第1検波信号3000a、第2検波信号3000bを、それぞれ、デジタル信号4000と総称される第1デジタル信号4000a、第2デジタル信号4000bに変換する。2chアナログ―デジタル変換器410aは、デジタル信号4000を、デジタル信号処理部420に送信する。デジタル信号処理部420は、第1デジタル信号4000a、第2デジタル信号4000bの雑音や歪を除去した上で、これらの信号を処理し、その特性を解析する。
以下では、デジタル信号処理部420における処理を具体的に説明する。デジタル信号処理部420において解析される特性の一例は、(I)強度、(II)波長変化速度、(III)位相である。前述の通り、検波信号3000の強度は、処理対象光1000の波長がλ1とλ2のときに極大となる。これに応じて、デジタル信号4000の強度も、
処理対象光1000の波長がλ1とλ2のときに極大となる。
処理対象光1000の波長がλ1とλ2のときに極大となる。
(I)強度
デジタル信号処理部420は、順次入力されるデジタル信号4000の強度Iを次のように計算する。
I=|E|2
デジタル信号処理部420は、時間の経過とともに変化する高度Iから2つの極大値を検出する。先に検出した極大値が、処理対象光1000の波長がλ1である場合の強度Iであり、後に検出した極大値が、処理対象光1000の波長がλ2である場合の強度Iである。これにより、処理対象光1000の波長がλ1のときとλ2のときの強度を比較して、処理対象光1000の波長変化に伴う強度安定性を求めることができる。
デジタル信号処理部420は、順次入力されるデジタル信号4000の強度Iを次のように計算する。
I=|E|2
デジタル信号処理部420は、時間の経過とともに変化する高度Iから2つの極大値を検出する。先に検出した極大値が、処理対象光1000の波長がλ1である場合の強度Iであり、後に検出した極大値が、処理対象光1000の波長がλ2である場合の強度Iである。これにより、処理対象光1000の波長がλ1のときとλ2のときの強度を比較して、処理対象光1000の波長変化に伴う強度安定性を求めることができる。
(II)波長変化速度
デジタル信号処理部420は、デジタル信号4000の強度の2つの極大値を検出したタイミングの時間差Δtを求める。1/Δtを計算することにより、処理対象光1000の波長変化速度を求めることができる。
デジタル信号処理部420は、デジタル信号4000の強度の2つの極大値を検出したタイミングの時間差Δtを求める。1/Δtを計算することにより、処理対象光1000の波長変化速度を求めることができる。
(III)位相
デジタル信号処理部420は、デジタル信号4000の強度の2つの極大値を検出したタイミングにおけるデジタル信号4000の位相φを求める。ここで位相φは、式(1)のEを用いて、
φ=arg(E)
により導出される。ただし、本開示では、arg()は偏角を表すものとする。これにより、処理対象光1000の波長がλ1のときとλ2のときの位相を比較して、処理対象光1000の波長変化に伴う位相安定性を求めることができる。
デジタル信号処理部420は、デジタル信号4000の強度の2つの極大値を検出したタイミングにおけるデジタル信号4000の位相φを求める。ここで位相φは、式(1)のEを用いて、
φ=arg(E)
により導出される。ただし、本開示では、arg()は偏角を表すものとする。これにより、処理対象光1000の波長がλ1のときとλ2のときの位相を比較して、処理対象光1000の波長変化に伴う位相安定性を求めることができる。
実施例1に係る光特性解析システムは、このシステム単体で、波長変化前後における光の諸特性、特に、強度、波長変化速度、位相を測定することができる。
(実施例2)
本開示の実施例2は、4種類の検波信号を生成することにより、処理対象光の特性を測定する光特性解析システムである。
図3に、実施例2に係る光特性解析システム10の構成を示す。この光特性解析システム10では、検波部300が、第3検波信号3000c、第4検波信号3000d、第5検波信号3000e、第6検波信号3000fを生成する。ここで、第3検波信号3000cはX偏波同相成分に相当し、第4検波信号3000dはX偏波直交成分に相当し、第5検波信号3000eはY偏波同相成分に相当し、第6検波信号3000fはY偏波直交成分に相当する。解析部400は、4chアナログ―デジタル変換器410bとデジタル信号処理部420を含む。ここでは、実施例1との差異を中心に説明する。
本開示の実施例2は、4種類の検波信号を生成することにより、処理対象光の特性を測定する光特性解析システムである。
図3に、実施例2に係る光特性解析システム10の構成を示す。この光特性解析システム10では、検波部300が、第3検波信号3000c、第4検波信号3000d、第5検波信号3000e、第6検波信号3000fを生成する。ここで、第3検波信号3000cはX偏波同相成分に相当し、第4検波信号3000dはX偏波直交成分に相当し、第5検波信号3000eはY偏波同相成分に相当し、第6検波信号3000fはY偏波直交成分に相当する。解析部400は、4chアナログ―デジタル変換器410bとデジタル信号処理部420を含む。ここでは、実施例1との差異を中心に説明する。
図4に、図3の光特性解析システム10における検波部300の例を示す。検波部300は、偏波分離部700と総称される第1偏波分離部700a、第2偏波分離部700b、第1偏波検波部310a、第2偏波検波部310bを含む。
第1偏波分離部700aは、第1局部発振光源100aと第2局部発振光源100bとに接続されており、第1局部発振光源100aから第1局部発振光2000を入力し、第2局部発振光源100bから第2局部発振光2010を入力する。第1偏波分離部700aは、第1局部発振光2000を、X偏波第1局部発振光2000aと
Y偏波第1局部発振光2000bとに分波するとともに、第2局部発振光2010を、X偏波第2局部発振光2010aとY偏波第2局部発振光2010bとに分波する。第1偏波分離部700aは、X偏波第1局部発振光2000aとX偏波第2局部発振光2010aとを、第1偏波検波部310aに入力するとともに、Y偏波第1局部発振光2000bとY偏波第2局部発振光2010bとを、第2偏波検波部310bに入力する。X偏波第1局部発振光2000aとX偏波第2局部発振光2010aは、同じX方向に直線偏光している。Y偏波第1局部発振光2000bとY偏波第2局部発振光2010bは同じY方向に直線偏光している。X偏波方向とY偏波方向とは、互いに直交している。
Y偏波第1局部発振光2000bとに分波するとともに、第2局部発振光2010を、X偏波第2局部発振光2010aとY偏波第2局部発振光2010bとに分波する。第1偏波分離部700aは、X偏波第1局部発振光2000aとX偏波第2局部発振光2010aとを、第1偏波検波部310aに入力するとともに、Y偏波第1局部発振光2000bとY偏波第2局部発振光2010bとを、第2偏波検波部310bに入力する。X偏波第1局部発振光2000aとX偏波第2局部発振光2010aは、同じX方向に直線偏光している。Y偏波第1局部発振光2000bとY偏波第2局部発振光2010bは同じY方向に直線偏光している。X偏波方向とY偏波方向とは、互いに直交している。
第2偏波分離部700bは、入力部200に接続されており、入力部200から処理対象光1000を入力する。第2偏波分離部700bは、処理対象光1000を、X偏波処理対象光1000aとY偏波処理対象光1000bとに分波する。第2偏波分離部700bは、X偏波処理対象光1000aを、第1偏波検波部310aに入力するとともに、Y偏波処理対象光1000bを、第2偏波検波部310bに入力する。X偏波処理対象光1000aは、X方向に直線偏光しており、Y偏波処理対象光1000bは、
Y方向に直線偏光している。
Y方向に直線偏光している。
第1偏波検波部310a、第2偏波検波部310bの構成は、図2の検波部300と同じである。第1偏波検波部310aは、X偏波第1局部発振光2000aとX偏波第2局部発振光2010aとにより、X偏波処理対象光1000aを検波し、第3検波信号3000c、第4検波信号3000dを生成する。第2偏波検波部310bは、Y偏波第1局部発振光2000bとY偏波第2局部発振光2010bとにより、Y偏波処理対象光1000bを検波し、第5検波信号3000e、第6検波信号3000fを生成する。
第3検波信号3000cは、処理対象光1000のX偏波に含まれる同相成分のみを含み、第4検波信号3000dは、処理対象光1000のX偏波に含まれる直交成分のみを含む。第5検波信号3000eは、処理対象光1000のY偏波に含まれる同相成分のみを含み、第6検波信号3000fは、処理対象光1000のY偏波に含まれる直交成分のみを含む。第3検波信号3000c、第4検波信号3000d、第5検波信号3000e、第6検波信号3000fをそれぞれIIX、IQX、IIY、IQYと表すと、検波信号の、X偏波の複素電界振幅EX、Y偏波の複素電界振幅EYは、それぞれ以下のように表すことができる。
EX=IIX+jIQX・・・(2)
EY=IIY+jIQY・・・(3)
EX=IIX+jIQX・・・(2)
EY=IIY+jIQY・・・(3)
図3に戻る。解析部400の4chアナログ―デジタル変換器410bは、アナログ信号である4つの第3検波信号3000c、第4検波信号3000d、第5検波信号3000e、第6検波信号3000fを、それぞれ、デジタル信号4000と総称される第3デジタル信号4000c、第4デジタル信号4000d、第5デジタル信号4000e、第6デジタル信号4000fに変換し、これらをデジタル信号処理部420に送信する。デジタル信号処理部420は、第3デジタル信号4000c、第4デジタル信号4000d、第5デジタル信号4000e、第6デジタル信号4000fの雑音や歪を除去した上で、これらの信号を処理し、その特性を解析する。
デジタル信号処理部420における処理を具体的に説明する。デジタル信号処理部420において解析される特性の一例は、(I)強度、(II)波長変化速度、(III)位相、(IV)偏波である。
(I)強度、(II)波長変化速度、(III)位相は、実施例1と同様の処理により導出される。ただし、強度Iは、式(2)のEXと式(3)のEYを用いて、
I=|EX|2+|EY|2
により導出される。
また、偏波Xの位相φXと偏波Yの位相φYは、式(2)のEXと式(3)のEYを用いて、
φX=arg(EX)
φY=arg(EY)
により導出される。
I=|EX|2+|EY|2
により導出される。
また、偏波Xの位相φXと偏波Yの位相φYは、式(2)のEXと式(3)のEYを用いて、
φX=arg(EX)
φY=arg(EY)
により導出される。
(IV)偏波。
デジタル信号処理部420は、デジタル信号4000の強度の2つの極大値を検出したタイミングにおける第1ストークスパラメータS0、第2ストークスパラメータS1、第3ストークスパラメータS2、第4ストークスパラメータS3の組を求める。ただし
S0、S1、S2、S3は、それぞれ、式(2)のEXと式(3)のEYを用いて、
S0=|EX|2+|EY|2
S1=|EX|2―|EY|2
S2=2Re(EXEY *)
S3=2Im(EXEY *)
により導出される。ただし、本開示では、*は複素共役、Re()は実数部分、Im()は虚数部分を表すものとする。これにより、処理対象光1000の波長がλ1のときとλ2のときの偏波を比較して、処理対象光1000の波長変化に伴う偏波安定性を求めることができる。
デジタル信号処理部420は、デジタル信号4000の強度の2つの極大値を検出したタイミングにおける第1ストークスパラメータS0、第2ストークスパラメータS1、第3ストークスパラメータS2、第4ストークスパラメータS3の組を求める。ただし
S0、S1、S2、S3は、それぞれ、式(2)のEXと式(3)のEYを用いて、
S0=|EX|2+|EY|2
S1=|EX|2―|EY|2
S2=2Re(EXEY *)
S3=2Im(EXEY *)
により導出される。ただし、本開示では、*は複素共役、Re()は実数部分、Im()は虚数部分を表すものとする。これにより、処理対象光1000の波長がλ1のときとλ2のときの偏波を比較して、処理対象光1000の波長変化に伴う偏波安定性を求めることができる。
実施例2に係る光特性解析システムは、このシステム単体で、波長変化前後における光の諸特性、特に強度、波長変化速度、位相、偏波を測定することができる。
(実施例3)
本開示の実施例3は、実施例1のような処理対象光の波長変化前後における特性に加えて、波長変化途中の遷移段階における特性も測定する光特性解析システムである。
図5に、本実施例に係る光特性解析システム10の構成を示す。光特性解析システム10は、第1局部発振光源100a、第2局部発振光源100bに加えて、第3局部発振光源100cを含む。第3局部発振光源100cは第3局部発振光2020を出力する。第3局部発振光2020の波長はλ3である。λ3の値は、λ1とλとの間にある。例えば、λ1<λ3<λ2である。光特性解析システム10は、第1局部発振光2000、第2局部発振光2010、第3局部発振光2020によって、処理対象光1000を検波することにより、処理対象光1000の特性を解析する。
本開示の実施例3は、実施例1のような処理対象光の波長変化前後における特性に加えて、波長変化途中の遷移段階における特性も測定する光特性解析システムである。
図5に、本実施例に係る光特性解析システム10の構成を示す。光特性解析システム10は、第1局部発振光源100a、第2局部発振光源100bに加えて、第3局部発振光源100cを含む。第3局部発振光源100cは第3局部発振光2020を出力する。第3局部発振光2020の波長はλ3である。λ3の値は、λ1とλとの間にある。例えば、λ1<λ3<λ2である。光特性解析システム10は、第1局部発振光2000、第2局部発振光2010、第3局部発振光2020によって、処理対象光1000を検波することにより、処理対象光1000の特性を解析する。
検波部300の処理によって、処理対象光1000の波長がλ1のとき、第1局部発振光2000との干渉が発生するため、検波信号3000の強度は極大となる。処理対象光1000の波長がλ1から外れ、かつ波長がλ3になるまでは、第1局部発振光2000、第2局部発振光2010、第3局部発振光2020のいずれとも干渉が発生しないため、検波信号3000の強度は微弱となる。処理対象光1000の波長がλ3なると、第3局部発振光2020との干渉が発生するため、検波信号3000の強度は2回目の極大値を取る。処理対象光1000の波長がλ3から外れ、かつ波長がλ2になるまでは、第1局部発振光2000、第2局部発振光2010、第3局部発振光2020のいずれとも干渉が発生しないため、検波信号3000の強度は微弱となる。処理対象光1000の波長がλ2なると、第2局部発振光2010との干渉が発生するため、検波信号3000の強度は3回目の極大値を取る。
検波信号3000に応じて、デジタル信号4000の強度も、処理対象光1000の波長がλ1とλ2とλ3のときに極大となる。デジタル信号処理部420は、順次入力されるデジタル信号4000の強度を計算し、強度の3つの極大値を検出する。デジタル信号処理部420は、実施例1と同じ処理を実行することにより、処理対象光の波長変化の前後のタイミングに加えて、変化途中の遷移段階のタイミングでも、以下の特性を測定する。
(I)強度
デジタル信号処理部420は、順次入力されるデジタル信号4000の強度を計算し、強度の3つの極大値を検出する。これにより、遷移段階も含めて、処理対象光1000の波長変化に伴う強度安定性を求めることができる。
(II)波長変化速度
デジタル信号処理部420は、デジタル信号4000の強度の3つの極大値を検出したタイミングの時間差を求める。この時間差の逆数を計算することにより、波長変化の遷移段階も含めて、処理対象光1000の波長変化速度を求めることができる。
(III)位相
デジタル信号処理部420は、デジタル信号4000の強度の3つの極大値を検出したタイミングにおけるデジタル信号4000の位相φを求める。この3つの位相を比較して、遷移段階も含めて、処理対象光1000の波長変化に伴う位相安定性を求めることができる。
(I)強度
デジタル信号処理部420は、順次入力されるデジタル信号4000の強度を計算し、強度の3つの極大値を検出する。これにより、遷移段階も含めて、処理対象光1000の波長変化に伴う強度安定性を求めることができる。
(II)波長変化速度
デジタル信号処理部420は、デジタル信号4000の強度の3つの極大値を検出したタイミングの時間差を求める。この時間差の逆数を計算することにより、波長変化の遷移段階も含めて、処理対象光1000の波長変化速度を求めることができる。
(III)位相
デジタル信号処理部420は、デジタル信号4000の強度の3つの極大値を検出したタイミングにおけるデジタル信号4000の位相φを求める。この3つの位相を比較して、遷移段階も含めて、処理対象光1000の波長変化に伴う位相安定性を求めることができる。
(実施例4)
本開示の実施例4は、図3の光特性解析システムと、図5の光特性解析システムとを組み合わせた光特性解析システムである。すなわち、この場合、光特性解析システム10は、図3の光特性解析システムの第1局部発振光源100a、第2局部発振光源100bに加えて、第3局部発振光2020を出力する第3局部発振光源100cを含む。それ以外の構成は、図3のものと同じである。
本開示の実施例4は、図3の光特性解析システムと、図5の光特性解析システムとを組み合わせた光特性解析システムである。すなわち、この場合、光特性解析システム10は、図3の光特性解析システムの第1局部発振光源100a、第2局部発振光源100bに加えて、第3局部発振光2020を出力する第3局部発振光源100cを含む。それ以外の構成は、図3のものと同じである。
実施例4の光特性解析システムのデジタル信号処理部420は、図5のデジタル信号処理部420が実行する処理に加えて、デジタル信号4000の強度の3つの極大値を検出したタイミングにおける第1ストークスパラメータS0、第2ストークスパラメータS1、第3ストークスパラメータS2、第4ストークスパラメータS3の組を求める。
この3つのストークスパラメータの組を比較して、波長変化の遷移段階も含めて、処理対象光1000の波長変化に伴う偏波安定性を求めることができる。
この3つのストークスパラメータの組を比較して、波長変化の遷移段階も含めて、処理対象光1000の波長変化に伴う偏波安定性を求めることができる。
実施例4に係る光特性解析システムは、このシステム単体で、波長変化前後に加えて、波長変化途中の遷移段階のタイミングも含めて、光の諸特性、特に強度、波長変化速度、位相、偏波を測定することができる。
(実施例5)
本開示の実施例5は、実施例1に係る光特性解析システムから検波部300を切り出して構成した、光検波装置である。図1に示された他の構成は光検波装置の外部に備えられればよい。
本開示の実施例5は、実施例1に係る光特性解析システムから検波部300を切り出して構成した、光検波装置である。図1に示された他の構成は光検波装置の外部に備えられればよい。
実施例5に係る光検波装置は、既存の波長可変レーザ光源や解析装置と組み合わせることにより、処理対象光の光特性解析システムを構成することができる。すなわち、この光検波装置は、光特性解析ステムのキーデバイスとして高い汎用性を有する。
(実施例6)
本開示の実施例6は、実施例1に係る光特性解析システムから解析部400を切り出して構成した、光特性解析装置である。図1に示された他の構成は光特性解析装置の外部に備えられればよい。
本開示の実施例6は、実施例1に係る光特性解析システムから解析部400を切り出して構成した、光特性解析装置である。図1に示された他の構成は光特性解析装置の外部に備えられればよい。
実施例6に係る光特性解析装置は、コンパクトで簡易に実現できる。また解析プログラムを変更することにより、容易にカスタマイズができる。
本開示の一態様の概要は、次の通りである。本開示のある態様の光検波装置は、第1の波長を有する第1の局部発振光を第1の局部発振光源から入力するとともに、第1の波長とは異なった第2の波長を有する第2の局部発振光を第2の局部発振光源から入力する第1入力部と、第1の波長から第2の波長に変化する処理対象光を入力する第2入力部と、前記第1入力部において入力した第1の局部発振光と第2の局部発振光とによって、前記第2入力部において入力した処理対象光を検波することにより、検波信号を生成する検波部と、前記検波部において生成した検波信号を出力する出力部と、を備える。
この態様によると、既存の波長可変レーザ光源や解析装置と組み合わせることにより、処理対象光の波長変化前後における光の諸特性を、精度よく測定する光特性解析システムを構成することができる。すなわち、この光検波装置は、光特性解析システムのキーデバイスとして高い汎用性を有する。
第1入力部は、第1の波長と第2の波長の間の第3の波長を有する第3の局部発振光も入力し、検波部は、前記第1入力部において入力した第1の局部発振光と第2の局部発振光と第3の局部発振光とによって、前記第2入力部において入力した処理対象光を検波してもよい。この場合、波長変化前後に加えて、波長変化途中の遷移段階のタイミングも含めて、処理対象光の光検波を行うことができる。
本開示のある態様の光特性解析装置は、第1の波長を有する第1の局部発振光と、第1の波長とは異なった第2の波長を有する第2の局部発振光とによって、第1の波長から第2の波長に変化する処理対象光を検波して生成した検波信号を入力する入力部と、入力部において入力した検波信号を解析する解析部と、を備える。
この態様は、処理対象光から生成された検波信号を受信することにより、処理対象光の波長変化前後における光の諸特性を、精度よく測定することができる。
解析部は、時間とともに変化する検波信号の強度の2つの極大値を検出することにより、処理対象光の波長変化前後における強度を測定してもよい。この場合、処理対象光の波長変化速度を求めることができる。波長変化に伴う強度安定性を求めることができる。
解析部は、時間とともに変化する検波信号の強度の2つの極大値を検出したタイミングの時間差を求めることにより、処理対象光の波長変化速度を測定してもよい。この場合、処理対象光の波長変化速度を求めることができる。
解析部は、時間とともに変化する検波信号の強度の2つの極大値を検出したタイミングにおける検波信号の位相を求めることにより、処理対象光の波長変化前後における位相を測定してもよい。この場合、処理対象光の波長変化に伴う位相安定性を求めることができる。
解析部は、時間とともに変化する検波信号の強度の2つの極大値を検出したタイミングにおける検波信号のストークスパラメータの組を求めることにより、処理対象光の波長変化前後における偏波を測定してもよい。この場合、処理対象光の波長変化に伴う偏波安定性を求めることができる。
本開示のある態様の光検波方法は、第1の波長を有する第1の局部発振光を第1の局部発振光源から入力するとともに、第1の波長とは異なった第2の波長を有する第2の局部発振光を第2の局部発振光源から入力するステップと、第1の波長から第2の波長に変化する処理対象光を入力するステップと、第1の局部発振光と第2の局部発振光とによって、入力した処理対象光を検波することにより、検波信号を生成するステップと、を備える。
この態様によると、処理対象光の波長変化前後における光の諸特性を、精度よく測定するために用いる検波信号を生成することができる。
本開示のある態様の光特性解析システムは、第1の波長から第2の波長に変化する処理対象光を入力する入力部と、第1の波長を有する第1の局部発振光を出力する第1の局部発振光源と、第1の波長とは異なった第2の波長を有する第2の局部発振光を出力する第2の局部発振光源と、第1の波長と第2の波長の間の第3の波長を有する第3の局部発振光を出力する第3の局部発振光源と、第1の局部発振光源において出力した第1の局部発振光と第2の局部発振光源において出力した第2の局部発振光と第3の局部発振光源において出力した第3の局部発振光とによって、入力部において入力した処理対象光を検波することにより、検波信号を生成する検波部と、検波部において生成した検波信号を解析する解析部と、を備え、解析部は、時間とともに変化する検波信号の強度の3つの極大値を検出することにより、処理対象光の波長変化前後と波長変化途中の遷移段階における強度を測定し、時間とともに変化する検波信号の強度の3つの極大値を検出したタイミングの時間差を求めることにより、処理対象光の波長変化速度を測定し、時間とともに変化する検波信号の強度の3つの極大値を検出したタイミングにおける検波信号の位相を求めることにより、処理対象光の波長変化前後と波長変化途中の遷移段階における位相を測定し、時間とともに変化する検波信号の強度の3つの極大値を検出したタイミングにおける検波信号のストークスパラメータを求めることにより、処理対象光の波長変化前後と波長変化途中の遷移段階における偏波を測定する。
この態様によると、本システム単体で、波長変化前後に加えて、波長変化途中の遷移段階のタイミングも含めて、光の諸特性、特に強度、波長変化速度、位相、偏波を測定することができる。
以上、本発明を実施例を基に説明した。この実施例は例示であり、それらの各構成要素や各処理プロセスの組合わせに、色々な変形例が可能なこと、またそうした変形例も本発明の範囲にあることは当業者に理解されるところである。
実施例3,4において、光特性解析システム10には3つの局部発振光源100が備えられている。しかしながらこれに限らず、例えば局部発振光源100は4つ以上備えられていてもよい。本変形例によれば、遷移段階の特性をよりきめ細かく求めることができる。
300 検波部、100a 第1局部発振光源、100b 第2局部発振光源、100c 第3局部発振光源、1000 処理対象光、2000 第1局部発振光、2010 第2局部発振光、2020 第3局部発振光
本発明は、可変波長光の波長変化に伴う諸特性の測定に利用できる。
Claims (8)
- 第1の波長を有する第1の局部発振光を第1の局部発振光源から入力するとともに、
第1の波長とは異なった第2の波長を有する第2の局部発振光を第2の局部発振光源から入力する第1入力部と、
第1の波長から第2の波長に変化する処理対象光を入力する第2入力部と、
前記第1入力部において入力した第1の局部発振光と第2の局部発振光とによって、前記第2入力部において入力した処理対象光を検波することにより、検波信号を生成する検波部と、
前記検波部において生成した検波信号を出力する出力部と、を備える光検波装置。 - 前記第1入力部は、第1の波長と第2の波長の間の第3の波長を有する第3の局部発振光も入力し、
前記検波部は、前記第1入力部において入力した第1の局部発振光と第2の局部発振光と第3の局部発振光とによって、前記第2入力部において入力した処理対象光を検波する、請求項1に記載の光検波装置。 - 第1の波長を有する第1の局部発振光と、第1の波長とは異なった第2の波長を有する第2の局部発振光とによって、第1の波長から第2の波長に変化する処理対象光を検波して生成した検波信号を入力する入力部と、
前記入力部において入力した検波信号を解析する解析部と、を備える光特性解析装置。 - 前記解析部は、時間とともに変化する検波信号の強度の2つの極大値を検出することにより、処理対象光の波長変化前後における強度を測定する、請求項3に記載の光特性解析装置。
- 前記解析部は、時間とともに変化する検波信号の強度の2つの極大値を検出したタイミングの時間差を求めることにより、処理対象光の波長変化速度を測定する、請求項3に記載の光特性解析装置。
- 前記解析部は、時間とともに変化する検波信号の強度の2つの極大値を検出したタイミングにおける検波信号の位相を求めることにより、処理対象光の波長変化前後における位相を測定する、請求項3に記載の光特性解析装置。
- 前記解析部は、時間とともに変化する検波信号の強度の2つの極大値を検出したタイミングにおける検波信号のストークスパラメータの組を求めることにより、処理対象光の波長変化前後における偏波を測定する、請求項3に記載の光特性解析装置。
- 第1の波長を有する第1の局部発振光を第1の局部発振光源から入力するとともに、
第1の波長とは異なった第2の波長を有する第2の局部発振光を第2の局部発振光源から入力するステップと、
第1の波長から第2の波長に変化する処理対象光を入力するステップと、
第1の局部発振光と第2の局部発振光とによって、入力した処理対象光を検波することにより、
検波信号を生成するステップと、を備える光検波方法。
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JP4932905B2 (ja) * | 2006-05-17 | 2012-05-16 | ファイバーコム ソシエダッド リミターダ | 光学スペクトルの複素解析のための方法および装置 |
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US8471193B2 (en) * | 2009-03-05 | 2013-06-25 | Olympus Corporation | Photodetection device for detecting low temporal coherence light, photodetection method, microscope and endoscope |
WO2011126372A1 (en) * | 2010-04-09 | 2011-10-13 | Nederlandse Organisatie Voor Toegepast-Natuurwetenschappelijk Onderzoek Tno | Scanning wavelength system and method calibrating such a system |
JP2011226930A (ja) * | 2010-04-20 | 2011-11-10 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光複素振幅波形測定器とその測定方法 |
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