JP5471241B2

JP5471241B2 - 光信号品質モニタ装置

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Publication number: JP5471241B2
Application number: JP2009222609A
Authority: JP
Inventors: 昌俊賀川
Original assignee: Oki Electric Industry Co Ltd
Current assignee: Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date: 2009-09-28
Filing date: 2009-09-28
Publication date: 2014-04-16
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Description

本発明は光信号品質モニタ装置に関し、例えば、光伝送システムにおいて光信号の波長分散や信号対雑音比（以下、光ＳＮＲと略する）をモニタする場合に適用し得るものである。

伝送されてきた信号の品質や劣化の要因を推定するために、波形をモニタする必要がある。光信号の波形は、サンプリングオシロスコープなどの手段を用いてモニタすることができるが、一般にサンプリングオシロスコープは複雑で高価な装置である。

このような問題点に対応するため、非特許文献１では、信号のビットレートに相当する周波数成分を検出し、その強度の増減から信号の劣化の程度を検出する。また、特許文献１では、直接検出できない周波数を検出するために、例えば１／４の周波数にオフセット周波数を加えた正弦波でモニタする光信号を変調し、出力されるビート信号の強度で検出する方式が提案されている。

特開２００９−２１９４３号公報

Ｚ．Ｐａｎｅｔａｌ．，"ＣｈｒｏｍａｔｉｃｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎｍｏｎｉｔｏｒｉｎｇａｎｄａｕｔｏｍａｔｅｄｃｏｍｐｅｎｓａｔｉｏｎｆｏｒＮＲＺａｎｄＲＺｄａｔａｕｓｉｎｇｃｌｏｃｋｒｅｇｅｎｅｒａｔｉｏｎｆａｄｉｎｇｗｉｔｈｏｕｔａｄｄｉｎｇｓｉｇｎａｌｉｎｇ"，ＯｐｔｉｃａｌＦｉｂｅｒＣｏｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎＣｏｎｆｅｒｅｎｃｅａｎｄＥｘｈｉｂｉｔ（ＯＦＣ２００１），ＷＨ５，Ｍａｒ．２００１

非特許文献１に記載の従来技術では、伝送路の波長分散を測定することを主眼においているが、信号劣化は分散だけで生じるのではなく、光ＳＮＲの劣化も考慮に入れる必要があり、この点でモニタ装置としては不十分である。

特許文献１に記載の従来技術によると、信号の周波数成分は光ＳＮＲの劣化で減少するため、周波数成分の強度検出だけだと、実際に伝送されてきた信号が、どのような原因から劣化しているかを判別することができない。また、特許文献１では、ＲＺ（Ｒｅｔｕｒｎ−ｔｏ−Ｚｅｒｏ）信号の信号劣化のみ記述してある。これに反して、ＮＲＺ（Ｎｏｎ−ｒｅｔｕｒｎ−ｔｏ−Ｚｅｒｏ）信号は、図９に示すように、分散が大きくなっても、変調信号レベルに比べて、ビットレート周波数成分（ここでは１０ＧＨｚ）の線スペクトルが十分な強度ではなく、ＮＲＺ信号に対して、特許文献１に記載の従来技術を適用しようとしても、ビート信号を取り出すことができない。なお、図９（ａ）、（ｂ）、（ｃ）はそれぞれ、分散が３２０ｐｓ／ｎｍ時の時間波形、変調されることなく光電変換（Ｏ／Ｅ変換）された後の信号スペクトル、１０．２５ＧＨｚで変調された光信号の光電変換後の信号スペクトルを表している（ここでの変調は、後述する図５の変調器２０１又は２０３による変調に対応する）。

そのため、複数の品質項目を同時に検出できる、ＮＲＺの光信号に対しても適用可能な光信号品質モニタ装置が望まれている。

かかる課題を解決するため、本発明の光信号品質モニタ装置は、（１）２値で強度変調されたモニタ対象の光信号を３以上に分岐する分岐手段と、（２）いずれかの分岐光信号から平均強度を検出する平均強度検出手段と、（３）いずれかの分岐光信号から、ビットレートに相当する周波数の信号強度を検出する第１の信号強度検出手段と、いずれかの分岐光信号と、それを所定の遅延時間だけ遅延させた光信号とを干渉させた後、その干渉信号におけるビットレートに相当する周波数の信号強度を検出する、遅延時間が異なる１以上の第２の信号強度検出手段との中の２以上の信号強度検出手段と、（４）検出された平均強度を基準とした、検出された各信号強度の相対的強度を得た後、モニタ対象の光信号の、波長分散及び光ＳＮＲ、若しくは、波長分散及び光ＳＮＲの変化の傾向を定める特性決定手段とを備えることを特徴とする。

本発明の光信号品質モニタ装置によれば、波長分散及び光ＳＮＲ、若しくは、波長分散及び光ＳＮＲの変化の傾向等、複数の品質項目を同時に検出することができる。本発明の光信号品質モニタ装置は、ＮＲＺの光信号をモニタ対象とする場合に有効である。

第１の実施形態の光信号品質モニタ装置の構成を示すブロック図である。第１の実施形態における演算回路が得た演算値と波長分散との関係を示すグラフである。第１の実施形態における第１系統のフォトダイオードから出力された電気信号の時間波形及びスペクトルを、複数の波長分散について示す特性図である。第１の実施形態における第２系統のフォトダイオードから出力された電気信号の時間波形及びスペクトルを、複数の波長分散について示す特性図である。第２の実施形態の光信号品質モニタ装置の構成を示すブロック図である。第２の実施形態における演算回路が得た演算値と波長分散との関係を示すグラフである。第２の実施形態における第１系統のフォトダイオードから出力された電気信号の時間波形及びスペクトルを、複数の波長分散について示す特性図である。第２の実施形態における第２系統のフォトダイオードから出力された電気信号の時間波形及びスペクトルを、複数の波長分散について示す特性図である。従来技術の課題を説明する特性図である。

（Ａ）第１の実施形態
以下、本発明による光信号品質モニタ装置の第１の実施形態を、図面を参照しながら詳述する。

（Ａ−１）第１の実施形態の構成
図１は、第１の実施形態の光信号品質モニタ装置の構成を示すブロック図である。なお、図１では、第１の実施形態の光信号品質モニタ装置へ光信号が入力されるまでの経路も示している。

図１において、第１の実施形態の光信号品質モニタ装置１０１は、光バンドパスフィルタ（ＯＢＰＦ）１０３、光分岐回路１０４、第１のフォトダイオード（ＰＤ）１０６、第１のバンドパスフィルタ（ＢＰＦ）１０７、第１の増幅器（Ａｍｐ．）１０８、第１のＲＦ強度検出器（ＲＦＤｅｔｅｃｔｏｒ）１０９、１／２ビット遅延干渉計（１／２ｂｉｔ−ｄｅｌａｙｅｄＩＦＭ）１１０、第２のフォトダイオード１１１、第２のバンドパスフィルタ１１２、第２の増幅器１１３、第２のＲＦ強度検出器１１４、第３のフォトダイオード１１５、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）１１６、強度検出器１１７及び演算回路１１８を有する。各構成要素の機能については、動作の項の説明で明らかにする。

（Ａ−２）第１の実施形態の動作
次に、第１の実施形態の光信号品質モニタ装置１０１の動作を説明する。以下では、モニタ対象の光信号が、１０Ｇｂｉｔ／ｓのＮＲＺの光信号であるとして説明する。

送信器（Ｔｘ）１００より出力された１０Ｇｂｉｔ／ｓの光信号は、光信号品質モニタ装置１０１外部の光分岐回路１０２で一部分岐され、第１の実施形態の光信号品質モニタ装置１０１に入力される。

光信号品質モニタ装置１０１に入力された光信号は、光バンドパスフィルタ１０３を介して光ＳＮＲの推定に必要な帯域だけに絞られた後（帯域制限された後）、当該装置内の光分岐回路１０４において３分岐される。

装置内光分岐回路１０４によって分岐された第１系統の光信号は、第１のフォトダイオード１０６によって光電変換される。変換後の電気信号は第１のバンドパスフィルタ１０７に入力され、第１のバンドパスフィルタ１０７において、１０ＧＨｚの成分（信号の基本周波数成分（ビットレート周波数成分））が抽出される。抽出信号は、第１のＲＦ強度検出器１０９の検出能力に合わせて第１の増幅器１０８によって増幅された後、第１のＲＦ強度検出器１０９においてその強度が検出される。このようにして得られた強度“ａ１”が演算回路１１８に入力される。

装置内光分岐回路１０４によって分岐された第２系統の光信号は、１／２ビット遅延干渉計１１０に入力される。１／２ビット遅延干渉計１１０では、入力されたＮＲＺ変調されている光信号と、入力された光信号を約１／２ビットに相当する期間だけ遅延させた光信号との干渉信号が得られる。

この第１の実施形態では、１／２ビット遅延干渉計１１０における、干渉に供する２つの光信号の搬送波に相当する波長での位相差が０の場合の干渉信号（Ｃｏｎｓｔｒｕｃｔｉｖｅ）の出力ポートと、干渉に供する２つの光信号の搬送波に相当する波長での位相差がπの場合の干渉信号（Ｄｅｓｔｒｕｃｔｉｖｅ）の出力ポートとのうち、前者の出力ポートからの干渉信号を利用する。

１／２遅延干渉計１１０から出力された光信号は、第２のフォトダイオード１１１によって光電変換される。変換後の電気信号は第２のバンドパスフィルタ１１２に入力され、第２のバンドパスフィルタ１１２において、１０ＧＨｚの成分が抽出される。抽出信号は、第２のＲＦ強度検出器１１４の検出能力に合わせて第２の増幅器１１３によって増幅された後、第２のＲＦ強度検出器１１４においてその強度が検出される。このようにして得られた強度“ｂ１”が演算回路１１８に入力される。

装置内光分岐回路１０４によって分岐された第３系統の光信号は、第３のフォトダイオード１１５によって光電変換される。変換後の電気信号は、ローパスフィルタ１１６を通して高域が除去されることで平滑化（平均）された後、強度検出器１１７において強度（平均パワー）が検出される。このようにして得られた平均強度“ｃ１”が演算回路１１８に入力される。

演算回路１１８では、まず、入力された３種類の強度ａ１〜ｃ１から“ａ１／ｃ１”、“ｂ１／ｃ１”が演算された後、得られた演算値“ａ１／ｃ１”、“ｂ１／ｃ１”に基づいて、波長分散の値及び光ＳＮＲが決定される。若しくは、得られた演算値“ａ１／ｃ１”、“ｂ１／ｃ１”に基づいて、波長分散や及び光ＳＮＲの変化傾向が決定される。

図３は、第１系統の第１のフォトダイオード１０６によって光電変換された後の電気信号の時間波形及びスペクトルを、光電変換前の光信号の波長分散が０ｐｓ／ｎｍ、３２０ｐｓ／ｎｍ、６４０ｐｓ／ｎｍについて示している。この図３から、波長分散量が多くなるにつれ、１０ＧＨｚの強度が大きくなることが分かる。これは、波長分散量が多くなるにつれ、演算値ａ１／ｃ１が増大することに相当する。図４は、第２系統の第２のフォトダイオード１１１によって光電変換された後の電気信号の時間波形及びスペクトルを、光電変換前の光信号の波長分散が０ｐｓ／ｎｍ、３２０ｐｓ／ｎｍ、６４０ｐｓ／ｎｍについて示している。第２系統では、分散量が多くなるにつれ、１０ＧＨｚの強度は減少する。これは、波長分散量が多くなるにつれ、演算値ｂ１／ｃ１が減少することに相当する。図２は、波長分散に対する、演算値ａ１／ｃ１、ｂ１／ｃ１の変化を示したグラフである。

一方、光信号の光ＳＮＲが減少した場合は、入力された光信号中の信号成分が減少するため、演算値ａ１／ｃ１、ｂ１／ｃ１は、光信号中の信号成分が減少前の状態の演算値ａ１／ｃ１、ｂ１／ｃ１よりも小さくなる。

演算回路１１８には、光ＳＮＲが取り得る値の範囲を複数に分けた小範囲毎に、予め求められた図２に示すグラフ内容を記述したデータが記憶されており、演算回路１１８は、演算で求めた演算値ａ１／ｃ１、ｂ１／ｃ１の対をキーとして、記憶データを探索することにより、光ＳＮＲと波長分散とを決定する。

このような決定方法に代えて、演算回路１１８が次のような決定方法を適用するものであっても良い。演算回路１１８は、所定周期で演算値ａ１／ｃ１、ｂ１／ｃ１を得、得られた演算値ａ１／ｃ１、ｂ１／ｃ１の対が前回に得られた演算値ａ１／ｃ１、ｂ１／ｃ１の対からどのような傾向にあるかにより、波長分散若しくは光ＳＮＲの変化の傾向を決定するものであっても良い。例えば、演算値ａ１／ｃ１、ｂ１／ｃ１が共に減少していれば光ＳＮＲが劣化したと捉え、演算値ａ１／ｃ１、ｂ１／ｃ１が共に増大していれば光ＳＮＲが良好になったと捉える。また例えば、演算値ａ１／ｃ１が増大し演算値ｂ１／ｃ１が減少していれば波長分散が大きくなったと捉え、演算値ａ１／ｃ１が減少し演算値ｂ１／ｃ１が増大していれば波長分散が小さくなったと捉える。演算値ａ１／ｃ１及びｂ１／ｃ１が前回のものと同程度であれば、波長分散及び光ＳＮＲがほとんど変化していないと捉える。

（Ａ−３）第１の実施形態の効果
以上のように、第１の実施形態によれば、ＮＲＺの光信号に対して、波長分散及び光ＳＮＲを同時に評価することができる。

（Ｂ）第２の実施形態
次に、本発明による光信号品質モニタ装置の第２の実施形態を、図面を参照しながら詳述する。

（Ｂ−１）第２の実施形態の構成
図５は、第２の実施形態の光信号品質モニタ装置の構成を示すブロック図であり、第１の実施形態に係る図１との同一、対応構成には同一符号を付して示している。

図５において、第２の実施形態の光信号品質モニタ装置１０１は、光バンドパスフィルタ１０３、光分岐回路１０４、１ビット遅延干渉計（１ｂｉｔ−ｄｅｌａｙｅｄＩＦＭ）２００、第１の変調器（Ｍｏｄ．）２０１、第１の変調器ドライバ２０２、第１のフォトダイオード１０６、第１のバンドパスフィルタ１０７、第１の増幅器１０８、第１のＲＦ強度検出器１０９、１／２ビット遅延干渉計１１０、第２の変調器２０３、第２の変調器ドライバ２０４、第２のフォトダイオード１１１、第２のバンドパスフィルタ１１２、第２の増幅器１１３、第２のＲＦ強度検出器１１４、第３のフォトダイオード１１５、ローパスフィルタ１１６、強度検出器１１７、演算回路１１８及び発振器２０５を有する。

光バンドパスフィルタ１０３、光分岐回路１０４、第３のフォトダイオード１１５、ローパスフィルタ１１６及び強度検出器１１７は、第１の実施形態のものと同様なものである。

第１のフォトダイオード１０６、第１のバンドパスフィルタ１０７、第１の増幅器１０８、第１のＲＦ強度検出器１０９、第２のフォトダイオード１１１、第２のバンドパスフィルタ１１２、第２の増幅器１１３及び第２のＲＦ強度検出器１１４は、機能的には、第１の実施形態と同様なものであるが、取り扱う周波数帯域が第１の実施形態とは異なっている。

演算回路１１８も、機能的には、第１の実施形態と同様なものであるが、予め用意されて記憶しているデータが第１の実施形態とは異なっている。

第２の実施形態で新たに設けられた１ビット遅延干渉計２００、第１の変調器２０１、第１の変調器ドライバ２０２、第２の変調器２０３、第２の変調器ドライバ２０４及び発振器２０５の機能については、動作の項の説明で明らかにする。

（Ｂ−２）第２の実施形態の動作
次に、第２の実施形態の光信号品質モニタ装置１０１の動作を説明する。以下では、モニタ対象の光信号が、１０Ｇｂｉｔ／ｓのＮＲＺの光信号であるとして説明する。図５に記載の「ｆ」は、１０Ｇｂｉｔ／ｓに対応する１０ＧＨｚを表している。

送信器（Ｔｘ）１００より出力された１０Ｇｂｉｔ／ｓの光信号は、光信号品質モニタ装置１０１外部の光分岐回路１０２で一部分岐され、第２の実施形態の光信号品質モニタ装置１０１に入力され、光バンドパスフィルタ１０３を介して光ＳＮＲの推定に必要な帯域だけに絞られた後、当該装置内の光分岐回路１０４において３分岐される。

装置内光分岐回路１０４によって分岐された第１系統の光信号は、１ビット遅延干渉計２００に入力される。１ビット遅延干渉計２００では、入力されたＮＲＺ変調されている光信号と、入力された光信号を約１ビットに相当する期間だけ遅延させた光信号との干渉信号が得られる。第２の実施形態では、１ビット遅延干渉計２００のＤｅｓｔｒｕｃｔｉｖｅ出力ポートからの出力信号を利用する。１ビット遅延干渉計２００から出力された光信号は、第１の変調器２０１で変調され、１ＧＨｚのビート信号が出力される。この変調は、発振器２０５から出力された２．５（＝ｆ／４）ＧＨｚから２５０（＝Δｆ）ＭＨｚのオフセットを持たせた正弦波状の信号を、第１の変調器ドライバ２０２で適正な振幅に増幅された後、第１の変調器２０１に印加することで行われる。第１の変調器２０１及び第２の変調器２０３としては、例えば、ＥＡＭ変調器を適用することができる（すなわち、第１の変調器２０１及び第２の変調器２０３によるダウンコンバート方法として特許文献１に記載の方法を適用できる）。第１の変調器２０１から出力された光信号（１ＧＨｚのビート信号は、第１のフォトダイオード１０６によって光電変換され、変換後の電気信号は第１のバンドパスフィルタ１０７に入力され、第１のバンドパスフィルタ１０７において、１ＧＨｚの成分（１ＧＨｚのビート信号成分）が抽出される。抽出信号は、第１のＲＦ強度検出器１０９の検出能力に合わせて第１の増幅器１０８によって増幅された後、第１のＲＦ強度検出器１０９においてその強度が検出される。このようにして得られた強度“ａ２”が演算回路１１８に入力される。

装置内光分岐回路１０４によって分岐された第２系統の光信号は、１／２ビット遅延干渉計１１０に入力され、入力された光信号と、入力された光信号を約１／２ビットに相当する期間だけ遅延させた光信号との干渉信号が得られる。第２の実施形態では、１／２ビット遅延干渉計１１０のＤｅｓｔｒｕｃｔｉｖｅ出力ポートからの出力信号を利用する。１／２ビット遅延干渉計１１０から出力された光信号は、第２の変調器２０３で、第１の変調器２０１と同様な方法により変調され、１ＧＨｚのビート信号が出力される。第２の変調器２０３から出力された光信号（１ＧＨｚのビート信号）は、第２のフォトダイオード１１１によって光電変換され、変換後の電気信号は第２のバンドパスフィルタ１１２に入力され、第２のバンドパスフィルタ１１２において、１ＧＨｚの成分（１ＧＨｚのビート信号成分）が抽出される。抽出信号は、第２のＲＦ強度検出器１１４の検出能力に合わせて第２の増幅器１１３によって増幅された後、第２のＲＦ強度検出器１１４においてその強度が検出される。このようにして得られた強度“ｂ２”が演算回路１１８に入力される。

装置内光分岐回路１０４によって分岐された第３系統の光信号は、第１の実施形態と同様に処理される。すなわち、まず、第３のフォトダイオード１１５によって光電変換される。変換後の電気信号は、ローパスフィルタ１１６を通して高域が除去されることで平滑化（平均）された後、強度検出器１１７において強度（平均パワー）が検出される。このようにして得られた平均強度“ｃ２＝ｃ１”が演算回路１１８に入力される。

演算回路１１８では、まず、入力された３種類の強度ａ２〜ｃ２から“ａ２／ｃ２”、“ｂ２／ｃ２”が演算された後、得られた演算値“ａ２／ｃ２”、“ｂ２／ｃ２”に基づいて、波長分散の値及び光ＳＮＲが決定される。若しくは、得られた演算値“ａ２／ｃ２”、“ｂ２／ｃ２”に基づいて、波長分散や及び光ＳＮＲの変化傾向が決定される。

図７は、第２の実施形態における第１系統の第１のフォトダイオード１０６によって光電変換された後の電気信号の時間波形及びスペクトルを、光電変換前の光信号の波長分散が０ｐｓ／ｎｍ、３２０ｐｓ／ｎｍ、６４０ｐｓ／ｎｍについて示している。この図７から、波長分散量が多くなるにつれ、１ＧＨｚの強度が大きくなることが分かる。これは、波長分散量が多くなるにつれ、演算値ａ２／ｃ２が増大することに相当する。図８は、第２の実施形態における第２系統の第２のフォトダイオード１１１によって光電変換された後の電気信号の時間波形及びスペクトルを、光電変換前の光信号の波長分散が０ｐｓ／ｎｍ、３２０ｐｓ／ｎｍ、６４０ｐｓ／ｎｍについて示している。第２系統では、分散量が多くなるにつれ、１ＧＨｚの強度は減少する。これは、波長分散量が多くなるにつれ、演算値ｂ２／ｃ２が減少することに相当する。図６は、波長分散に対する、演算値ａ２／ｃ２、ｂ２／ｃ２の変化を示したグラフである。

一方、光信号の光ＳＮＲが減少した場合は、入力された光信号中の信号成分が減少するため、演算値ａ２／ｃ２、ｂ２／ｃ２は、光信号中の信号成分が減少前の状態の演算値ａ２／ｃ２、ｂ２／ｃ２よりも小さくなる。

演算回路１１８には、光ＳＮＲが取り得る値の範囲を複数に分けた小範囲毎に、予め求められた図６に示すグラフ内容を記述したデータが記憶されており、演算回路１１８は、演算で求めた演算値ａ２／ｃ２、ｂ２／ｃ２の対をキーとして、記憶データを探索することにより、光ＳＮＲと波長分散とを決定する。

このような決定方法に代えて、演算回路１１８が次のような決定方法を適用するものであっても良い。演算回路１１８は、所定周期で演算値ａ２／ｃ２、ｂ２／ｃ２を得、得られた演算値ａ２／ｃ２、ｂ２／ｃ２の対が前回に得られた演算値ａ２／ｃ２、ｂ２／ｃ２の対からどのような傾向にあるかにより、波長分散若しくは光ＳＮＲの変化の傾向を決定するものであっても良い。

（Ｂ）第２の実施形態の効果
以上のように、第２の実施形態によれば、ＮＲＺの光信号に対して、波長分散及び光ＳＮＲを同時に評価することができる。

上述の第１の実施形態では、光電変換からその後の強度検出までの処理に、ビットレート周波数までの帯域を処理帯域とする部品が必要となる。この第２の実施形態では、変調器プリスケーラを用いて比較的低周波の信号強度に変換しているので、光電変換からその後の強度検出までの処理に、第１の実施形態より処理帯域が低域の部品を適用することができ、当該装置を簡易、安価に構成することができる。上述した従来技術と比較しても、このような効果を挙げることができる。

第１系統に１ビット遅延干渉計２００を設けることなく、変調器プリスケーラを適用しても、１０ＧＨｚ線スペクトル強度が信号の強度レベルより低いため（図３の波長分散が０ｐｓ／ｎｍのスペクトル参照）、低周波に変換された信号を得ることができない。そのため、第１系統に１ビット遅延干渉計２００を設け、低帯域部品を適用可能としている。

（Ｃ）他の実施形態
第１及び第２の実施形態では、１０Ｇｂｉｔ／ｓの光信号を処理する場合を示したが、他のビットレートに対しても本発明を適用することができる。また、第２の実施形態では、２５０ＭＨｚのオフセット周波数（Δｆ）を適用する場合を示したが、他のオフセット周波数を適用するようにしても良い。

第１の実施形態では、各系統の出力値ａ１〜ｃ１から求める、品質モニタに用いる演算値がａ１／ｃ１、ｂ１／ｃ１であるものを示したが、他の演算値を品質モニタに用いる演算値とするようにしても良い。例えば、ａ１^２／ｃ１、ｂ１^２／ｃ１を適用するようにしても良く、また、ａ１−ｃ１、ｂ１−ｃ１を適用するようにしても良く、さらには、（ａ１−ｃ１）／ｃ１、（ｂ１−ｃ１）／ｃ１を適用するようにしても良い。第２の実施形態についても同様である。

第１の実施形態では１／２ビット遅延干渉計を利用し、第２の実施形態では１／２ビット遅延干渉計及び１ビット遅延干渉計を利用したものを示したが、他の遅延干渉計を利用するようにしても良い。例えば、３／２ビット遅延干渉計や２ビット遅延干渉計や１／４ビット遅延干渉計を適宜利用した系統を設けるようにしても良い。

上記各実施形態では、入力された光信号を３系統に分岐し、そのうちの１系統を基準情報（ｃ１、ｃ２）を得る系統とし、他の２系統を、波長分散、光ＳＮＲを反映させた情報を得る系統としたが、波長分散、光ＳＮＲを反映させた情報を得る系統を３系統とするようにしても良い。例えば、上述した第１の実施形態での演算値ａ１を得る系統と、第２の実施形態での演算値ａ２を得る系統と、第２の実施形態での演算値ｂ２を得る系統との３系統を、波長分散、光ＳＮＲを反映させた情報を得る系統とし、ａ１／ｃ１、ａ２／ｃ２、ｂ２／ｃ２（但しｃ１＝ｃ２）の組から、波長分散、光ＳＮＲを評価するようにしても良い。

また、上記各実施形態では、演算回路１１８が演算値を得た後、波長分散や光ＳＮＲの値を決定したり、波長分散や光ＳＮＲの変化傾向を決定したりするものを示したが、演算値を次々と記憶するものであっても良い。すなわち、演算値に対する解析は、後で行うものであっても良く、若しくは、他の装置が解析を実行するものであっても良い。

１０１…光信号品質モニタ装置、１０３…光バンドパスフィルタ、１０４…光分岐回路、１０６、１１１、１１５…フォトダイオード、１０７、１１２…バンドパスフィルタ、１０８、１１３…増幅器、１０９、１１４…ＲＦ強度検出器０９、１１０…１／２ビット遅延干渉計、１１６…ローパスフィルタ、１１７…強度検出器、１１８…演算回路、２００…１ビット遅延干渉計、２０１、２０３…変調器、２０２、２０４…変調器ドライバ、２０５…発振器。

Claims

２値で強度変調されたモニタ対象の光信号を３以上に分岐する分岐手段と、
いずれかの分岐光信号から平均強度を検出する平均強度検出手段と、
いずれかの分岐光信号から、ビットレートに相当する周波数の信号強度を検出する第１の信号強度検出手段と、いずれかの分岐光信号と、それを所定の遅延時間だけ遅延させた光信号とを干渉させた後、その干渉信号におけるビットレートに相当する周波数の信号強度を検出する、遅延時間が異なる１以上の第２の信号強度検出手段との中の２以上の信号強度検出手段と、
検出された平均強度を基準とした、検出された各信号強度の相対的強度を得た後、モニタ対象の光信号の、波長分散及び光ＳＮＲ、若しくは、波長分散及び光ＳＮＲの変化の傾向を定める特性決定手段と
を備えることを特徴とした光信号品質モニタ装置。
上記第１の信号強度検出手段と上記第２の信号強度検出手段と１個ずつ備え、上記第２の信号強度検出手段の遅延時間が１／２ビット期間に選定されていることを特徴とした請求項１に記載の光信号品質モニタ装置。
上記第１の信号強度検出手段を備えずに２つの上記第２の信号強度検出手段を備え、一方の上記第２の信号強度検出手段の遅延時間が１ビット期間に選定され、他方の上記第２の信号強度検出手段の遅延時間が１／２ビット期間に選定されていることを特徴とした請求項１に記載の光信号品質モニタ装置。
上記各第２の信号強度検出手段がそれぞれ、干渉信号を、ビットレートに相当する周波数にオフセット周波数を加えた周波数の信号で変調して干渉信号より低周波の信号に変換し、この低周波信号の強度を、干渉信号におけるビットレートに相当する周波数の信号強度として検出することを特徴とした請求項３に記載の光信号品質モニタ装置。