JPWO2017217496A1 - レーザ加工用ガラス - Google Patents

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Abstract

本発明は、レーザ照射によるクラックの発生を抑制し、円形の貫通孔を形成することのできる、微アルカリ又は無アルカリのレーザ加工用ガラスを提供する。本発明は、ガラスの組成が、モル%で表示して、45.0%≦SiO2≦70.0%、2.0%≦B2O3≦20.0%、3.0%≦Al2O3≦20.0%、及び0%≦ZnO≦9.0%、を含み、さらに、(I)0.1%≦CuO≦2.0%、及び0%≦TiO2≦15.0%、又は(II)0.1%≦TiO2<5.0%、及び0%≦CuO<0.1%、を含み、(II)の場合、さらに着色成分の金属酸化物を含み、かつ0≦Li2O+Na2O+K2O<2.0%であり、ガラスのいずれか一方の主面に微粒子含有層を有し、前記微粒子の平均粒子径が10nm以上1.0μm未満である、レーザ加工用ガラスに関する。

Description

本発明は、レーザ加工用ガラスに関する。
MEMSや電子デバイスに用いられる微小素子として微細な貫通孔を多数配列した素材が使用されている。この素材には、温度変化による膨張収縮が小さく破損の発生しにくいシリコンウェハが一般的に用いられている(CTE=33×10−7/℃程度)。また熱膨張係数(CTE)が小さいため、温度変化による特性の変動も小さい等の特徴もある。一方でシリコンウェハの母材であるシリコン単結晶の製造は非常に高コストであり、従ってシリコンウェハも非常に高価である。さらに、実用化されているシリコンウェハへの孔開け加工方法であるアブレーションを利用したレーザ加工では、1つの孔に複数のパルスを照射する必要があり、高速加工が難しく、タクトタイムが長くなるために加工コストも高額になる。
一方、紫外線レーザパルスの照射とウェットエッチングを組み合わせて、理論上は毎秒1000個以上の高速な孔開け加工を可能にする技術(特許文献1)が知られている。本加工方法によれば、535nm以下の波長のパルスレーザを、所定のレンズで集光してから、孔を形成したい基板状のガラスに照射して、変質部を形成する。さらに形成された変質部の部分は、他の部分よりエッチング速度が大きくなることを利用して、変質部の形成されたガラスをフッ酸溶液に浸し、変質部の部分に貫通孔又は有底孔を形成させるものである。
この方法は、さまざまなガラスに適用できるが、無アルカリ(アルカリ濃度が1wt%以下の低アルカリ濃度ガラスを含む)に適用する際には、レーザ光が入射する側のガラス表面に変質部を形成しにくいという経験上の問題がある。これは、レーザ光が入射する表面でクラックが発生しやすいためであるが、クラックの発生原因は以下のように推定している。
レーザ光の照射により、レーザ光を照射した部分では光が吸収され、その結果光が照射された部分の温度が上昇し、照射部の周辺の温度上昇していないガラスとの間に大きな温度差が発生する。この温度差が、ガラスに局所的に非常に大きな温度勾配を与え、それによって強い力(熱応力)が発生し、その力がガラスの破壊閾値を超えるとクラックが発生する。
ガラスが破壊されるかどうかは、発生した応力と、その周辺の媒質(レーザ照射の場合は、レーザ照射して高温になった部分周辺のガラス)が、その応力を受けたときに破壊されるかどうかという力のバランスによって決まる。同じ応力が発生したとき、ガラス内部では、周囲のガラスが均等にその応力を受け止めてクラックが発生しない場合でも、ガラス表面の近傍(直下)に応力が発生した場合は、その応力発生部の基板表面側のガラス媒質が薄いため、応力に耐え切れずに割れる。あるいは、ガラス内部、表面いずれにもクラックが発生する場合でも、ガラス表面近傍の方が、クラックが大きくなる場合がある。
また、クラックは、キズや異物等、そのきっかけとなるものがあると、計算値よりも数ケタ低い応力でも発生することが周知である。ガラス表面の方がガラス内部に比べて、そのようなクラック発生の起点となるものが多いため、それによってガラス表面の方がガラス内部に比べてクラックが発生しやすくなっている可能性もある。
特開2008−156200号公報
本発明は、レーザ照射によるクラックの発生を抑制し、円形の貫通孔を形成することのできる、微アルカリ又は無アルカリのレーザ加工用ガラスを提供することを目的とする。
本発明者らは、上記課題を解決するために鋭意研究を重ねた結果、アルカリ元素を実質的に含まないあるいは微小量含む板状ガラスのいずれか一方の主面に微粒子含有層を有し、前記微粒子の平均粒子径が10nm以上1.0μm未満であることによって、上記課題を解決できることを見い出し、この知見に基づいてさらに研究を進め、本発明を完成するに至った。
本発明は、ガラスの組成が、モル%で表示して、
45.0%≦SiO≦70.0%、
2.0%≦B≦20.0%、
3.0%≦Al≦20.0%、及び
0%≦ZnO≦9.0%、を含み、
さらに、
(I)0.1%≦CuO≦2.0%、及び0%≦TiO≦15.0%、又は
(II)0.1%≦TiO<5.0%、及び0%≦CuO<0.1%、を含み、
(II)の場合、さらに着色成分の金属酸化物を含み、かつ
0≦LiO+NaO+KO<2.0%
であり、
ガラスのいずれか一方の主面に微粒子含有層を有し、
前記微粒子の平均粒子径が10nm以上1.0μm未満である、レーザ加工用ガラスを提供する。
本発明では、従来、レーザ加工又はレーザ加工とエッチングとの併用による微細構造の形成が難しいとされた微アルカリガラス又は無アルカリガラスに対して、レーザ光が入射すべき一方の主面(以下、A面又は第1主面という。)上に、Mie散乱を生じさせる大きさを有する微粒子を分散させるものである。その作用により、本発明では、レーザ照射の際のエネルギーを分散させることができ、レーザ光入射面(A面)側近傍に生じる傾向があったクラックの発生を劇的に低減できるとともに、主変質部及び拡散状の側変質部をガラス内部に生じさせ、後工程のエッチングにより開口面に真円に近い開口形状を有する一様な貫通孔を、板状のガラスに形成することができる。
また、本発明のレーザ加工ガラスを用いてレーザ加工する場合、照射するレーザの焦点位置が、対象とするガラスの面に対して、ガラスの厚さ程度のトレランスを有する。これにより照射するレーザの焦点位置をガラスの主面に対して厳密に調整する必要がなくなり、生産技術や管理に係る負担を著しく低減することが可能となり、工業的に有利である。さらに、照射するレーザの焦点位置の許容量が大きいことから、当該許容量程度の反りや凹凸を有する板状のガラスに対しても加工することを可能とし、反りが殆どゼロに近い超高品位のガラスを用意する必要がなくなり、原材料購入や前工程における生産技術や管理上の負担をも著しく低減することも可能であり、工業的に有利である。また、ガラス上に分散される微粒子のバインダとして、シリカを主成分とする物質を用いることで、フッ化水素酸を主なエッチャントとする変質部形成後のエッチングにより、当該バインダを同時に除去することができ、工程上の負担を大きくすることもなく、工業的に有利である。
さらに、本発明に用いるレーザはNd:YVOレーザの高調波を発生するものでナノ秒レーザを用いることができるため、一般的に高価なフェムト秒レーザを用いる必要がなく、工業的に有利である。さらに、本発明のガラスは、穿孔等の加工に及ばなくても、必要とされる透過率特性等の光学特性を満たす場合には無アルカリガラス基板としてディスプレイやタッチパネル等の表示装置用部品としても好適である。
実施例1の微粒子含有層の表面の原子間力顕微鏡による像である。 実施例1のガラスにおける、レーザ照射後の変質部の断面写真及び上面視写真である。 実施例1のレーザ加工ガラスを用いて作製した、孔付きガラスをCNC画像測定システムで観察した像である。 比較例1の孔付きガラスをCNC画像測定システムで観察した像である。
本発明のレーザ加工用ガラスは、ガラスの組成が、モル%で表示して、
45.0%≦SiO≦70.0%、
2.0%≦B≦20.0%、
3.0%≦Al≦20.0%、及び
0%≦ZnO≦9.0%、を含み、
さらに、
(I)0.1%≦CuO≦2.0%、及び0%≦TiO≦15.0%、又は
(II)0.1%≦TiO<5.0%、及び0%≦CuO<0.1%、を含み、
(II)の場合、さらに着色成分の金属酸化物を含み、かつ
0≦LiO+NaO+KO<2.0%
であり、
ガラスのいずれか一方の主面に微粒子含有層を有し、
前記微粒子の平均粒子径が10nm以上1.0μm未満であることを特徴とする。
本発明のレーザ加工用ガラスは、ガラスの少なくとも1つの主面に微粒子含有層(コーティング層)を有する。このようにして、ガラス表面に分散した微粒子を配置し、その上からレーザを照射して、レーザ加工を行う。微粒子にレーザ光が照射されたとき、微粒子を中心にMie散乱が生じる。微粒子の大きさはMie散乱に適当であることが好ましい。Mie散乱は前方散乱が強く表れるため、照射されたレーザのエネルギーを、後方散乱や側方散乱に起因する大きな損失なく、ガラス内部に伝達することが可能と考えられる。
微粒子含有層における微粒子の平均粒子径は、Mie散乱に適した粒子の径である点から、通常10nm以上1.0μm未満であり、Mie散乱により適当であり、より高い応力の分散効果と、変質部の形成をより容易にすることができる点から、25nm以上500nm以下が好ましい。微粒子の平均粒子径が10nm未満である場合、レーリー散乱が支配的になり、後方散乱の成分も大きくなりレーザのエネルギーの損失が大きくなるおそれがある。一方、微粒子の平均粒子径が1.0μm以上である場合、光が反射、屈折されることにより、レーザのエネルギーの損失が大きくなるおそれがある。
微粒子の平均粒子径(D50)は、動的光散乱法により求めることができる。動的光散乱法の測定装置としては、例えば、濃厚系粒径アナライザ(型番:FPAR−1000:大塚電子株式会社製)が挙げられる。
微粒子含有層の厚さは、特に限定されないが、例えば、10nm以上10μm以下が好ましく、20nm以上5.0μm以下がより好ましく、50nm以上2.0μm以下がさらに好ましい。
微粒子の材料は、特に限定されず、無機化合物又は有機化合物のいずれであってもよい。無機化合物としては、特に限定されないが、例えば、SiO、TiO、ZrO、CeO、Nb、Ta、Al、及びMgF等の無機化合物が挙げられる。有機化合物としては、特に限定されないが、例えば、ポリスチレン、PMMA(ポリメタクリル酸メチル)等が挙げられる。
微粒子の形状は、特に限定されないが、例えば、球状のものが好ましく、真球からずれた回転楕円体、角のある多面体のものでもよい。また、微粒子の内部まで単一な組成となっていてもよいし、コア−シェル構造のように複合化された微粒子でもよい。さらに、微粒子の内部に空洞を有する微粒子(いわゆる中空微粒子)でもよい。
従来の一般的なガラスでは、レーザ光を入射させたとき、入射部分の中央部分に高温となる領域ができる。この加熱された領域と非加熱領域の温度差がある一定の閾値を超えることにより、クラックが発生すると考えられる。これに対して、本発明は、ガラス表面にある微粒子含有層の影響により、同じレーザ光を入射させても、発生する温度分布が従来の一般的なガラスとは異なる。すなわち、塗布した微粒子(塗布液がコロイドの場合、コロイド粒子)の直下に光強度が強い領域ができ、この部分に高温部が形成されるが、その大きさは、塗布した微粒子と同程度の大きさとなる。これを従来の一般的なガラスと比較すると、従来の一般的なガラスにおける高温部がある程度の大きさ(径)を持つのに対し、本発明の場合、非常に小さい径の高温部が分散して形成されることになる。これには二つの効果があると推察される。一つは、発生する高温部の大きさが、本発明のガラスと従来のガラスで大きく異なっていることに起因する応力の分散効果であり、もう一つは、表面の変質部の形成を容易にする効果である。
変質部の形成は所定の光パワーが入射した際に起き、その際に同時に発生する熱応力によりクラックが発生するが、同じ温度差がついている場合でも、発生する力はその高温部の面積により異なる。これは以下で説明される。
温度差により発生する応力は、主として媒質が高温になることで膨張することで発生する。固体中で一部が温度上昇する際に発生する応力(σ)は、歪み(δ)及びヤング率(E)を用いてσ=δ×Eで表される。
本来自由に膨張する場合の歪みは、熱膨張係数(η)と温度差ΔTから、δ=η・ΔTで求められる。ガラス内部のように周囲を固体で取り囲まれている場合は、本来なら膨張して広がろうとしている媒質が周囲からの力で抑え込まれていることになるため、本来なら自由に膨張する際の歪を発生させるために必要な力と等しい圧力が周囲から加えられて膨張できない状態となっていると考えられる。上記の式の中で、ヤング率(E)と熱膨張係数(η)は物質定数であり、ΔTは、レーザ照射条件(つまりガラスに吸収されるエネルギーと媒質の比熱)で決まるものであるため、材料やレーザ照射条件が決まれば、応力は一義的に計算できる。
応力は単位面積に加わる圧力であるため、応力が同じでも断面積が異なれば、所定の歪を発生させるための力は異なる。レーザ照射したときの高温部と低温部の温度差により発生する応力は、温度差が等しければ同じになるが、高温部にかかる力は、本発明の方が、高温部の表面積が小さい分小さくなる。これにより、クラックが発生する場合に、従来の一般的なガラスのように大きな領域から発生するクラックよりも、小さな領域から発生する本発明のクラックのほうが短くなる。
すなわち同程度の応力が発生して、それによりクラックが発生する場合であっても、微小領域から発生するクラックの方が短く、また、複数のクラックが異なる方向に入ることで、クラックの異方性も低減される。その結果、このガラスをエッチングして、孔を形成した際の、レーザ光入射面の孔の開口形状が真円に近づく。
従来のガラスをレーザ加工した際に孔の開口形状が真円でない理由としては、レーザを照射したときにガラス板の表面にクラックが異方的に生じ、そのクラックに沿ってエッチングによるガラスの除去が行われるため、孔形状が略円形状にならないと考えられる。
もう一つの効果として、ガラス表面近傍の変質部の形成を容易にする効果がある。
微粒子に光が入射された際に、微粒子の周辺の光電場強度は、Mie散乱に基づく分布を持つ(そのような粒子径を有する微粒子を選択する)。微粒子の大きさが、入射する光の波長の数倍以下になると、その微粒子の周りの電場を、通常のレンズ等の界面で起きる屈折や透過による計算に基づいてではなく、電磁波解析による計算に基づいて求めることになる。その場合、微粒子の大きさにより光の散乱分布は異なるが、通常、微粒子前方(光の進行方向を前方向とするため、微粒子を中心としてレーザの入射側とは反対側)の近傍(微粒子の一部分を含んでいてもよい、微粒子の周辺)に強いピークを持つ。これは、微粒子がない場合に比べて、局所的に電場強度の強い領域ができることを意味する。その大きさは、微粒子径より小さい。したがって、微粒子が存在する領域に、あるエネルギー密度を持つ光を入射させると、微粒子前方の近傍若しくは微粒子と、ガラスとの界面近傍に、周囲のエネルギー密度よりも大きなエネルギー密度を持ち、かつその大きさが非常に小さい領域ができることになる。レーザ光によりガラス内に変質部を形成する際には、閾値と呼ばれる所定のエネルギー密度を超える必要があるが、本発明の方法によれば、入射するレーザ光のエネルギー密度よりも高いエネルギー密度を持ち、かつ、そのエネルギー密度を有する微小面積を持つ領域が多数できるため、微粒子が無い場合に比べて、比較的容易に閾値以上のエネルギー密度を得ることができると考えられる。
以上の2つの効果、すなわち、レーザ光を照射したときにガラス内部に発生する力を小さい多数の領域に分散させることで大きなクラックの発生を抑える効果、及び非常に小さい領域に高エネルギー密度となる部分を形成し、そこを起点として変質部を形成することで、ガラス表面への変質部形成を容易にする効果、によって、本発明のガラスを使用すると、レーザ光による変質部を形成する際に、ガラス表面に発生するクラックを抑え、かつ低エネルギーで変質部を形成できるようになる。
微粒子含有層を形成する対象の無アルカリガラス又は微アルカリガラスは、レーザ照射によりレーザ変質部が容易に形成できる点から、モル%で表示して、
45.0%≦SiO≦70.0%、
2.0%≦B≦20.0%、
3.0%≦Al≦20.0%、及び
0%≦ZnO≦9.0%、を含み、
さらに、
(I)0.1%≦CuO≦2.0%、及び0%≦TiO≦15.0%、又は
(II)0.1%≦TiO<5.0%、及び0%≦CuO<0.1%、を含み、
(II)の場合、さらに着色成分の金属酸化物を含み、かつ
0≦LiO+NaO+KO<2.0%
である。本明細書において、前記(I)のガラスをガラス(I)と称し、前記(II)のガラスをガラス(II)と称する。また、特に記載した場合を除いて、本明細書の記載は、いずれの態様のガラスにも該当するものである。
本発明のレーザ加工用ガラスの50〜350℃の平均熱膨張係数(本明細書において、単に「熱膨張係数」という)は、70×10−7/℃以下であることが好ましく、60×10−7/℃以下であることがより好ましく、50×10−7/℃以下であることがさらに好ましく、45×10−7/℃以下が特に好ましい。また、熱膨張係数の下限は特に限定されないが、例えば、10×10−7/℃以上であってもよく、20×10−7/℃以上であってもよい。熱膨張係数は以下のように測定する。まず、直径5mm、高さ18mmの円柱形状のガラス試料を作製する。これを25℃からガラス試料の降伏点まで加温し、各温度におけるガラス試料の伸びを測定することにより、熱膨張係数を算出する。50〜350℃の範囲の熱膨張係数の平均値を計算し、平均熱膨張係数を得ることができる。実際の熱膨張係数の測定はNETZSCH社の熱機械分析装置TMA4000SAを用い、5℃/分の昇温速度条件で測定した。
厚さ0.4〜0.7mmの場合、本発明のレーザ加工用ガラスは、透明性が必要なアプリケーションでは、可視域(波長450〜700nm)の透過率が80%以上であることが好ましく、85%以上であることがより好ましく、90%以上であることがさらに好ましく、95%以上であることが特に好ましい。
あるアプリケーションでは、ガラスの反りが問題となる場合がある。これは、レーザを照射して変質部を形成する場合にも、変質部の品質に(すなわち孔の品質に)影響するので問題となる場合がある。ガラスに反りがあると、レーザの焦点位置に対して、ガラスのレーザの光軸方向の位置がガラス板内でばらつくことになり、一様な品質の孔形成を阻害する原因となり得るからである。従って、反りは、できるだけ小さい方がよいが、変質部形成時のレーザ加工におけるトレランスの点では、従前の穿孔加工に関する技術では、所定のレーザの光学系において100μm以下であり、50μm以下が好ましく、さらに30μm以下が好ましいと考えられていたところ、微粒子含有層を形成した板状ガラスに対しては、反りの許容範囲を大幅に拡大することができるため、1mm以下又は500μm以下とすることができる。前記したガラスの反りは、φ8インチの板状ガラスを一方の主面を下にして水平な平坦な盤上に設置し、盤面からガラスのエッジとの高さの最大値を計測する。さらに板状ガラスのもう一方の主面を下にして同様のことを行って高さの最大値を計測し、いずれか大きい値を採用する。
また、電子あるいは光学基板用途に使用される板状ガラスの場合、その電気特性あるいは光学特性について高い性能を発揮させるという観点から、泡や異物等はガラス内部に存在しない、又は性能に影響しない程度に微小もしくは微量であることが好ましい。
本発明のレーザ加工用ガラスの吸収係数αは、レーザによる変質部形成を容易に行うために、1〜50/cmが好ましく、3〜40/cmがより好ましいが、厚さの全幅方向で、変質部を形成するために必要な吸収係数に調整してもよい。吸収係数αが50/cmを超えると吸収が強すぎてガラスの表側で大部分のエネルギーが吸収され、エネルギーが裏側の近傍まで届かず、貫通する変質部を形成できない。吸収が弱すぎるとガラスを素通りしてエネルギーが吸収されず、変質部を形成できない。
吸収係数αは、厚さt(cm)の板状ガラスの透過率及び反射率を測定することによって算出できる。厚さt(cm)の板状ガラスについて、所定の波長(波長535nm以下)における透過率T(%)と入射角12°における反射率R(%)とを分光光度計(例えば、日本分光株式会社製 紫外可視近赤外分光光度計V−670)を用いて測定する。得られた測定値から以下の式を用いて吸収係数αを算出する。
α=(1/t)*ln{(100−R)/T}
本発明のレーザ加工用ガラスに含まれ得る各成分について、以下に説明する。なお、本明細書において、数値範囲(各成分の含有量、各成分から算出される値及び各物性等)の上限値及び下限値は適宜組み合わせ可能である。
(1)SiO
SiOは、ガラスの主たるネットワークを構成する網目形成酸化物である。SiOを含めることによって、化学的耐久性向上に寄与するとともに、温度と粘度との関係を調整でき、また、失透温度を調整できる。SiOの含有量が多すぎると実用的な1700℃未満の温度で溶融することが難しくなり、SiOの含有量が少なすぎると失透の発生する液相温度が低下する。本発明のガラスにおいて、SiOの含有量は、45.0モル%以上であり、50.0モル%以上が好ましく、52.0モル%以上がより好ましく、55.0モル%以上がさらに好ましい。また、SiOの含有量は、70.0モル%以下であり、68.0モル%以下が好ましく、65.0モル%以下がより好ましく、63.0モル%以下がさらに好ましい。
(2)B
は、SiOと同じく、ガラスの主たるネットワークを構成する網目形成酸化物である。Bを含めることによって、ガラスの液相温度を低下させて、実用的な溶融温度に調整できる。SiO含有量の比較的多い無アルカリあるいは微アルカリガラスにおいては、Bの含有量が少なすぎる場合には実用的な1700℃未満の温度で溶融することが難しくなる。Bの含有量が多すぎる場合にも高温の溶融において揮発量が増大し、組成比の安定的な維持が難しくなる。Bの含有量としては、2.0〜20.0モル%である。さらに6.0モル%未満の場合には、粘性が大きくなりガラスの溶解の難易度が上がり、18.0モル%を超える場合には歪点が小さくなることから、Bの含有量は、6.0モル%以上が好ましく、6.5モル%以上がより好ましく、7.0モル%以上がさらに好ましい。Bの含有量は、18.0モル%以下が好ましく、17.0モル%以下がより好ましく、16.5モル%以下がさらに好ましい。
(3)SiO+B
これらの網目形成成分の和(SiO+B)については、80.0モル%を超えるとガラスの溶融が著しく困難となるため、これらの網目形成成分の和は80.0モル%以下が好ましく、78.0モル%以下がより好ましく、76.0モル%以下がさらに好ましく、74.0モル%以下が特に好ましい。これらの網目形成成分の和は55.0モル%以上が好ましく、58.0モル%以上がより好ましく、59.0モル%以上がさらに好ましく、62.0モル%以上が特に好ましい。
(4)Al
Alは、いわゆる中間酸化物であり、上述の網目形成成分SiOとBと修飾酸化物である後述のアルカリ土類金属酸化物の含有量とのバランスに応じて、前者あるいは後者の酸化物として機能し得る。一方で、Alは4配位をとって、ガラスを安定化し、ホウケイ酸ガラスの分相を防止し、化学的耐久性を増大させる成分である。SiO含有量の比較的多い無アルカリあるいは微アルカリガラスにおいては、Alの含有量が少なすぎる場合には実用的な1700℃未満の温度で溶融することが難しくなる。Alの含有量が多すぎる場合にも、ガラスの溶融温度は上昇し、また安定的にガラスを形成することが困難になる。Alの含有量としては3.0〜20.0モル%である。さらに6.0モル%未満では歪点が低くなる虞があり、18.0モル%を超える場合には表面が白濁しやすくなることから、6.0モル%以上が好ましく、6.5モル%以上がより好ましく、7.0モル%以上がさらに好ましく、7.5モル%以上が特に好ましい。また、Alの含有量としては、18.0モル%以下が好ましく、17.5モル%以下がより好ましく、16.0モル%以下がさらに好ましく、13.5モル%以下が特に好ましい。
(5)TiO
TiOは、いわゆる中間酸化物であり、一般的に溶融温度、失透性調整に使用される。レーザアブレーションによるガラスの加工方法においても、TiOを被加工ガラスに含有させることにより、レーザによる加工閾値を低下させることができることが知られている(特許第4495675号)。特許第4495675号では、レーザ加工において割れることなく比較的容易に加工できるガラス組成において、網目修飾酸化物(アルカリ金属酸化物、アルカリ土類金属酸化物、遷移金属酸化物等)によって構成される、例えばNa−O結合等の弱い結合はレーザ加工性に寄与せず、当該レーザ加工性は、Na−O等の網目修飾酸化物による弱い結合を除く網目形成酸化物と中間酸化物による結合強度で特徴づけられるとされている。この場合、照射したレーザのエネルギーによって結合を完全に切断するのに十分な量の中間酸化物がガラスの組成に導入されていると解される。Kuan−Han Sunによる単結合強度によるガラス形成能の分類(J.Amer.Ceram.Soc.vol.30,Issue9,Sep 1947,pp277−281)によると、TiOは中間的な結合強度を持つ中間酸化物に属する。レーザ照射とエッチングとを併用する孔付きガラスの製造方法においては、CuOを含む等の特定の組成を有する無アルカリガラスもしくは微アルカリガラスにTiOを含ませることにより、比較的弱いレーザ等のエネルギー照射によっても変質部を形成することが可能となり、さらにその変質部は後工程のエッチングにより容易に除去され得るという作用をもたらす。要するにTiOは、ガラスのレーザ加工性を調整できる作用を期待できる。
また、TiOをガラスに適量含有させることにより、同時に含まれるCe、Fe等の着色成分の着色の効果に影響を与えることもよく知られている。これはすなわち、所定のレーザの波長領域の吸収係数αを調整できる働きも備えているといえる。従って、本発明においては、レーザ照射及びエッチングの併用する製造方法のエッチング工程によって孔が形成される変質部の形成を容易にすることを目的として、ガラスが適切な吸収係数αを有するように、TiOを含有させてもよい。一方で、TiOの含有量が多すぎると耐薬品性、特に耐フッ酸性が過度に増大し、レーザ照射後のエッチング工程において、孔が適切に形成されない等の不具合を生じる場合がある。そのため、ガラス(I)は、実質的にTiOを含有しないものであってもよい。また、過度なTiOの含有により着色濃度が大きくなり、ディスプレイ用途のガラスの成型には適さなくなる場合もある。ガラス(I)においては、TiOの含有量は0〜15.0モル%であり、レーザ照射によって得られる孔内壁面の平滑性に優れる点から、0〜10.0モル%が好ましく、1.0〜10.0モル%がより好ましく、1.0〜9.0モル%がさらに好ましく、1.0〜5.0モル%が特に好ましい。ガラス(II)においては、後述する、Ce,Fe等の金属の酸化物から選択される着色成分とTiOとの併用を前提として、実用的にはTiOの含有量は0.1モル%以上5.0モル%未満であり、レーザ照射によって得られる孔内壁面の平滑性に優れる点から、0.2〜4.0モル%が好ましく、0.5〜3.5モル%がより好ましく、1.0〜3.5モル%がさらに好ましく、1.5〜3.4モル%が特に好ましい。後述する着色成分とTiOとを組み合わせた場合に、さらにTiOの含有量が多すぎると、吸収係数が増大し、ガラスの表面近傍でレーザのエネルギーを吸収されるため、ガラスの厚さ方向に長い変質部ができにくくなり、結果的に貫通孔又はそれに類する深い孔を形成することができない。
ガラス(I)が、TiOを含有する(TiOの含有量が0モル%を除く)場合、TiOの含有量(モル%)をCuOの含有量(モル%)で除した値(「TiO/CuO」)は、他の成分との組み合わせにもよるが、レーザ照射によって得られる孔内壁面の平滑性に優れる点から、1.0以上であることが好ましく、1.5以上がより好ましく、2.0以上がさらに好ましい。また、TiO/CuOは、20.0以下が好ましく、15.0以下がより好ましく、12.0以下がさらに好ましい。
(6)ZnO
ZnOは、溶融温度、失透性調整に使用される。ZnOは、組成によっては、中間酸化物並の単結合強度を持つ場合のある成分である。ZnOの含有量が多すぎるとガラスが失透し易くなる。そのため、本発明のガラスは、実質的にZnOを含有しないもの(ZnOの含有量が0.1モル%未満、好ましくは0.05モル%未満、より好ましくは0.01モル%以下であることを意味する)であってもよい。このような特徴から鑑みて、本発明のガラスにおいては、ZnOの含有量は0〜9.0モル%である。ガラス(I)においては、ZnOの含有量は、0〜9.0モル%が好ましく、1.0〜9.0モル%がより好ましく、1.0〜7.0モル%がさらに好ましい。ガラス(II)においては、後述する、Ce,Fe等の金属の酸化物から選択される着色成分とTiOとの併用を前提として、ZnOの含有量は1.0〜8.0モル%が好ましく、1.5〜5.0モル%がより好ましく、1.5〜3.5モル%がさらに好ましい。
(7)MgO
MgOはアルカリ土類金属酸化物の中でも、熱膨張係数の増大を抑制しつつ、かつ歪点を過大には低下させないという特徴を有し、溶解性も向上させるため含有させてもよい。但し、MgOの含有量が多すぎるとガラスが分相したり、失透性、耐酸性が劣化し好ましくない。本発明のガラスにおいて、MgOの含有量は15.0モル%以下が好ましく、12.0モル%以下がより好ましく、10.0モル%以下がさらに好ましく、8.5モル%以下が特に好ましい。また、MgOの含有量は2.0モル%以上が好ましく、2.5モル%以上がより好ましく、3.0モル%以上がさらに好ましく、3.5モル%以上が特に好ましい。
(8)CaO
CaOは、MgOと同様に、熱膨張係数の増大を抑制しつつ、かつ歪点を過大には低下させないという特徴を有し、溶解性も向上させるため含有させてもよい。但し、CaOの含有量が多すぎると失透性の劣化や熱膨張係数の増大、耐酸性の低下を招くため好ましくない。本発明のガラスにおいて、CaOの含有量は15.0モル%以下が好ましく、12.0モル%以下がより好ましく、10.0モル%以下がさらに好ましく、6.5モル%以下が特に好ましい。また、CaOの含有量は1.0モル%以上が好ましく、2.0モル%以上がより好ましく、3.0モル%以上がさらに好ましく、3.5モル%以上が特に好ましい。
(9)SrO
SrOはMgO及びCaOと同様に、熱膨張係数の増大を抑制しつつ、かつ歪点を過大には低下させないという特徴を有し、溶解性も向上させるため、失透性と耐酸性の改善のためには含有させてもよい。但し、SrOを多く含有しすぎると失透性の劣化や熱膨張係数の増大、耐酸性や耐久性の低下を招くため好ましくない。本発明のガラスにおいて、SrOの含有量は15.0モル%以下が好ましく、10.0モル%以下がより好ましく、6.5モル%以下がさらに好ましく、6.0モル%以下が特に好ましい。また、SrOの含有量は1.0モル%以上が好ましく、1.5モル%以上がより好ましく、2.0モル%以上がさらに好ましく、2.5モル%以上が特に好ましい。
(10)BaO
BaOはエッチング性を調整し、またガラスの分相及び失透性の向上、ならびに化学的耐久性の向上に効果があるため適量含有してもよい。本発明のガラスにおいて、BaOの含有量は15.0モル%以下が好ましく、12.0モル%以下がより好ましく、10.0モル%以下がさらに好ましく、6.0モル%以下が特に好ましい。また、BaOの含有量は1.0モル%以上が好ましく、2.0モル%以上がより好ましく、3.0モル%以上がさらに好ましく、3.5モル%以上が特に好ましい。但し、他のアルカリ土類金属酸化物との兼ね合いで、実質的に含有しなくてもよい。BaOを「実質的に含有しない」とは、ガラスにおけるBaOの含有量が、0.1モル%未満、好ましくは0.05モル%未満、より好ましくは0.01モル%以下であることを意味する。
(11)MgO+CaO+SrO+BaO
アルカリ土類金属酸化物(MgO、CaO、SrO、及びBaO)は、上述のような作用を備えており、総じて熱膨張係数の増大を抑制しつつ、ガラスの溶融温度を調整する成分である。粘性、溶融温度、失透性の調整に使用される。但し、アルカリ土類金属酸化物の含有量が多すぎると、ガラスが失透しやすくなったりするため、本発明のガラスにおいて、これらアルカリ土類金属酸化物の含有量の総和(以下、「ΣRO」ともいう)は、25.0モル%以下が好ましく、23.0モル%以下がより好ましく、20.0モル%以下がさらに好ましく、18.0モル%以下が特に好ましい。ΣROは、6.0モル%以上が好ましく、8.0モル%以上がより好ましく、10.0モル%以上がさらに好ましく、10.5モル%以上が特に好ましい。
(12)LiO、NaO、K
アルカリ金属酸化物(LiO、NaO、及びKO)は、ガラスの特性を大きく変化させることの可能な成分である。ガラスの溶解性が著しく向上するため含有しても差し支えないが、特に熱膨張係数の増大に対する影響は大きいため、用途に応じて調整する必要がある。特に電子工学分野で使用されるガラスにおいては、後工程の熱処理中に近接の半導体に拡散したり、電気絶縁性を著しく低下させ、誘電率(ε)あるいは誘電正接(tanδ)を増大させ、高周波特性を劣化させる虞がある。もしガラス中にこれらのアルカリ金属酸化物を含む場合は、ガラスの成型後に他の誘電体物質によってガラス表面をコーティングすることにより、アルカリ成分の少なくとも表面への拡散等を防止できるため、上記の問題点を解消することができる。コーティングの方法は、SiO等の誘電体をスパッタリング、蒸着等の物理的方法あるいはゾルゲル法による液相からの成膜方法等、周知の技術により効果を得られる。一方、本発明のガラスにおいては、アルカリ金属酸化物を含まない無アルカリ(LiO+NaO+KO=0モル%)ガラスであってもよく、若干のアルカリ成分を許容する微アルカリガラスであってもよい。微アルカリガラスに含まれるアルカリ金属酸化物の含有量は2.0モル%未満であることが好ましく、1.0モル%未満であってもよく、0.5モル%未満であってもよく、0.1モル%未満であることがより好ましく、0.05モル%未満であることがさらに好ましく、0.01モル%未満であることが特に好ましい。また、微アルカリガラスに含まれるアルカリ金属酸化物の含有量は、0.0001モル%以上であってもよく、0.0005モル%以上であってもよく、0.001モル%以上であってもよい。
(13)CuO
CuOはガラス(I)における必須の成分であり、CuOを含有させることにより、ガラスに着色が生じ、所定レーザの波長における吸収係数αを適切な範囲にすることで、照射レーザのエネルギーを適切に吸収させることができ、孔形成の基礎となる変質部を容易に形成させることができる。
ガラス(I)におけるCuOの含有量は、上記した吸収係数αの数値範囲に収まるように、2.0モル%以下が好ましく、1.9モル%以下がより好ましく、1.8モル%以下がさらに好ましく、1.6モル%以下が特に好ましい。またCuOの含有量は、0.1モル%以上が好ましく、0.15モル%以上がより好ましく、0.18モル%以上がさらに好ましく、0.2モル%以上が特に好ましい。
ガラス(I)において、Alの含有量(モル%)をCuOの含有量(モル%)で除した値(「Al/CuO」)は、他の成分との組み合わせにもよるが、レーザ照射によって得られる孔内壁面の平滑性に優れる点から、4.0以上であることが好ましく、5.0以上がより好ましく、6.0以上がさらに好ましく、6.5以上が特に好ましい。また、Al/CuOは、120.0以下が好ましく、80.0以下がより好ましく、60.0以下がさらに好ましく、56.0以下が特に好ましい。
(14)着色成分
本発明において「着色成分」とは、ガラスに含有させた場合に着色の効果が大きい金属酸化物を意味するものである。具体的にはFe、Ce、Bi、W、Mo、Co、Mn、Cr、及びVからなる群から選ばれる少なくとも1種の金属の酸化物である。これらは、1種単独で使用してもよく、複数(2種以上)の種類を併用してもよい。着色成分は、紫外線レーザ光のエネルギーをガラスの変質部形成に寄与させるため、直接的にあるいは間接的に、レーザ光のエネルギーを吸収させる働きをもたらすものと考えられる。
(14−1)CeO
ガラス(II)において、CeOを着色成分として含有させてもよい。特にTiOと併用することで、変質部の形成がより容易にかつ、品質のばらつきを少なく変質部を形成させることができる。しかしながら、ガラス(II)がFeを含有する場合、実質的にCeOを含有しないもの(CeO含有量が、0.04モル%以下、好ましくは0.01モル%以下、より好ましくは0.005モル%以下であることを意味する)であってもよい。また、CeOを過剰に添加すると、ガラスの着色をより増大させることにつながり、深い変質部が形成されにくくなる。ガラス(II)において、CeOの含有量は0〜3.0モル%であり、0.05〜2.5モル%が好ましく、0.1〜2.0モル%がより好ましく、0.2〜0.9モル%がさらに好ましい。またCeOは清澄剤としても有効であるため必要に応じてその量を調節できる。
ガラス(II)が、CeOを含有する(CeOの含有量が0.04モル%以下を除く)場合、TiOの含有量(モル%)をCeOの含有量(モル%)で除した値(「TiO/CeO」)は、他の成分との組み合わせにもよるが、レーザ照射によって得られる孔内壁面の平滑性に優れる点から、1.0以上であることが好ましく、1.5以上がより好ましく、2.0以上がさらに好ましい。また、TiO/CeOは、120以下が好ましく、50.0以下がより好ましく、35.0以下がさらに好ましく、15.0以下がよりさらに好ましく、12.0以下が特に好ましい。
(14−2)Fe
Feもガラス(II)における着色成分として有効であり、含有させてもよい。特にTiOとFeとを併用すること、又はTiOとCeOとFeとを併用することにより、変質部の形成が容易になる。一方で、ガラス(II)がCeOを含有する場合、実質的にFeを含有しないもの(Fe含有量が、0.007モル%以下、好ましくは0.005モル%以下、より好ましくは0.001モル%以下であることを意味する)であってもよい。Feの適切な含有量は0〜1.0モル%であり、0.008〜0.7モル%が好ましく、0.01〜0.4モル%がより好ましく、0.02〜0.3モル%がさらに好ましい。
ガラス(II)が、Feを含有する(Feの含有量が0.007モル%以下を除く)場合、TiOの含有量(モル%)をFeの含有量(モル%)で除した値(「TiO/Fe」)は、他の成分との組み合わせにもよるが、レーザ照射によって得られる孔内壁面の平滑性に優れる点から、1.0以上であることが好ましく、1.5以上がより好ましく、2.0以上がさらに好ましい。また、TiO/Feは、700以下が好ましく、500以下がより好ましく、200以下がさらに好ましく、160以下が特に好ましい。
(14−3)Bi、W、Mo、Co、Mn、Cr、V等の酸化物
Bi、W、Mo、Co、Mn、Cr、V等の酸化物は上述のように、着色成分として有効であり、ガラスの吸収係数αが1〜50/cmであり、3〜40/cmの範囲になるように添加することがより好ましい。
(15)その他の中間酸化物
Al、TiO、及びZnO以外の中間酸化物(以下、その他の中間酸化物)としては、Bi、W、Mo、V、Ga、Se、Zr、Nb、Sb、Te、Ta、Cd、Tl、Pb等の金属の酸化物が知られており、Cd、Tl、及びPbはその毒性あるいは環境負荷への影響から極力含まないほうが望ましいものの、これらを適当量ガラスに含有させることで、ネットワークの構成の一部となり、特定の波長のレーザ照射により変質部を形成することが可能であり、後工程のエッチングにより容易に除去され得ると示唆される。前記その他の中間酸化物は、1又は複数(2種以上)の種類を含有させてもよいが、Bi、W、Mo、V等の酸化物は先述のように着色剤として作用する場合もあり、製造されるガラスの吸収係数が求められる範囲にあるように、その含有量を決定する必要がある。なお、本明細書において、前記その他の中間酸化物が着色成分と重複する場合、着色成分を意味するものとする。
(15−1)ZrO
ZrOは、TiOと同じく中間酸化物になり得、ネットワークの一部を構成する任意の成分として本発明に係るガラスに含有させることができる。また、高温における粘性を上げずに歪点を低下させたり、耐候性を向上させる効果も期待できるが、含有量を増やすことにより耐失透性が低下するため、ZrOの含有量は7.0モル%以下が好ましく、5.0モル%以下がより好ましく、3.0モル%以下がさらに好ましい。ZrOの含有量は、0.1モル%以上が好ましく、0.5モル%以上がより好ましく、1.0モル%以上がさらに好ましい。
(15−2)Ta
Taも同様に中間酸化物として働く任意の成分として本発明に係るガラスに含有させることができ、化学的耐久性を高める効果もある。しかしながら、比重が大きくなるため、Taの含有量は7.0モル%以下が好ましく、5.0モル%以下がより好ましく、3.0モル%以下がさらに好ましい。Taの含有量は、0.1モル%以上が好ましく、0.5モル%以上がより好ましく、1.0モル%以上がさらに好ましい。
(15−3)Nb
Nbも同様に中間酸化物としてはたらく任意の成分として本発明に係るガラスに含有させることができる。しかしながら、Nbは希土類酸化物であるため、添加量を増やすと原料コストが高騰するとともに耐失透性が低下しやすくなったり、比重が大きくなるため、Nbの含有量は7.0モル%以下が好ましく、5.0モル%以下がより好ましく、3.0モル%以下がさらに好ましい。Nbの含有量は、0.1モル%以上が好ましく、0.5モル%以上がより好ましく、1.0モル%以上がさらに好ましい。
(16)屈折率調整成分
屈折率の調整のために例えば、Laの酸化物、Biの酸化物を屈折率調整成分として適当量ガラスに含有させてもよい。Laの酸化物としては、例えば、Laが挙げられる。Biの酸化物としては、例えば、先述の中間酸化物でもあるBiが挙げられる。これらは1種単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。Laは、ガラスの屈折率を高める効果がある任意成分として本発明に係るガラスに含有させることができる。一方、Laは希土類酸化物であるため、添加量を増やすと原料コストが高騰するとともに耐失透性が低下するため、Laの含有量は7.0モル%以下が好ましく、5.0モル%以下がより好ましく、3.0モル%以下がさらに好ましい。また、Laの含有量は0.1モル%以上が好ましく、0.5モル%以上がより好ましく、1.0モル%以上がさらに好ましい。Biは、ガラスの屈折率を高める効果がある任意の成分として本発明に係るガラスに含有させることができる。Biの含有量は7.0モル%以下が好ましく、5.0モル%以下がより好ましく、3.0モル%以下がさらに好ましい。また、Biの含有量は0.1モル%以上が好ましく、0.5モル%以上がより好ましく、1.0モル%以上がさらに好ましい。
(17)その他の成分
ガラスの製造方法として、フロート法、ロールアウト法、フュージョン法、スロットダウン法、キャスティング法、プレス法等の方法を用いることができ、中でも基板両主面の高度な品位を得ることができることから、電子技術分野に用いられる基板用ガラスを製造するためにはフュージョン法が好適である。フュージョン法等でガラスを溶融及び成型する場合は、清澄剤を添加してもよい。
(17−1)清澄剤
清澄剤としては、特に限定されないが、As、Sb、Sn、Ce等の酸化物;Ba、Ca等の硫化物;Na、K等の塩化物;F、F、Cl、Cl、SO等が挙げられる。本発明のガラスは、As、Sb、Sn、Ce等の酸化物、Ba、Ca等の硫化物、Na、K等の塩化物、F、F、Cl、Cl、及びSOからなる群から選ばれる少なくとも1種の清澄剤を0〜3.0モル%含むことができる(0モル%を除いていてもよい)。また、Feも清澄剤として機能し得るが、本明細書においては、Feは着色成分を意味するものとする。
(17−2)ガラス製造設備からの不純物
ガラスを製造する際に、ガラス製造設備からの不純物が混入する場合がある。本発明のガラスは、本発明の効果が得られる限り特に限定されず、このような不純物を含むガラスも包含する。ガラス製造設備から生じる不純物としては、Zr、Pt、Rh、Os等の白金族元素(いずれもガラス製造設備(溶融、成形工程等)の耐火材若しくは電極の主要素材、ZrはZrOとして耐火材の主要素材として使用される場合がある)等が挙げられる。これに起因して本発明のガラスは、ZrO及びPt、Rh、Os等の白金族元素からなる群から選ばれる少なくとも1種を若干量(例えば、3.0モル%以下)含んでいてもよい。先述のようにZrOは中間酸化物としてガラスに含ませることができるが、ZrOを積極的にガラスに含ませない場合であっても、上記のようにガラス製造設備からの不純物として、若干量のZr成分がガラスに含まれていてもよい。
(17−3)水分
また、成型されたガラスはある程度の水分を含む場合もある。水分量を規定する指標としてはβ−OH値がある。β−OH値は、厚さt’(mm)のガラス基板の参照波数3846cm−1における透過率T(%)と、水酸基吸収波数3600cm−1付近における最小透過率T(%)をFT−IR法によって測定することにより、式(1/t’)×log(T/T)によって算出する。β−OH値は0.01〜0.5/mm程度であってもよく、この値を小さくすると歪点を高めることに寄与するが、逆に小さすぎると溶解性が低下しやすくなる。
ガラス(I)の好適な実施態様(I−1)として、例えば、ガラス組成が、
モル%で表示して、
45.0%≦SiO≦68.0%、
2.0%≦B≦20.0%、
3.0%≦Al≦20.0%、及び
0.1%≦CuO≦2.0%、を含み、
TiOとZnOとを実質的に含まず、かつ
58.0%≦SiO+B≦80.0%、
8.0%≦MgO+CaO+SrO+BaO≦20.0%、
0≦Li2O+Na2O+K2O<2.0%、
6.0≦Al/CuO≦60.0
であるアルミノボロシリケートガラスが挙げられる。
ガラス(I)の他の好適な実施態様(I−2)として、例えば、ガラス組成が、
モル%で表示して、
50.0%≦SiO≦68.0%、
6.0%≦B≦18.0%、
7.0%≦Al≦18.0%、
0.1%≦CuO≦1.8%、及び
1.0%≦TiO≦10.0%を含み、
ZnOを実質的に含まず、かつ
58.0%≦SiO+B≦80.0%、
8.0%≦MgO+CaO+SrO+BaO≦20.0%、
0≦Li2O+Na2O+K2O<2.0%、
6.0≦Al/CuO≦60.0、
0≦TiO/CuO≦20.0
であるアルミノボロシリケートガラスが挙げられる。
本発明の他の好適な実施態様(I−3)として、例えば、ガラス組成が、
モル%で表示して、
50.0%≦SiO≦68.0%、
6.0%≦B≦18.0%、
7.0%≦Al≦18.0%、
0.1%≦CuO≦1.8%、及び
1.0%≦ZnO≦9.0%を含み、
TiOを実質的に含まず、かつ
58.0%≦SiO+B≦80.0%、
8.0%≦MgO+CaO+SrO+BaO≦20.0%、
0≦Li2O+Na2O+K2O<2.0%、
6.0≦Al/CuO≦60.0
であるアルミノボロシリケートガラスが挙げられる。
前記実施態様(I−1)は、さらに、ガラスの組成が、モル%で表示して、
2.0%≦MgO≦10.0%、
1.0%≦CaO≦10.0%、
1.0%≦SrO≦10.0%、及び
0%≦BaO≦6.0%を含むアルミノボロシリケートガラス(I−4)であってもよい。同様に、前記実施態様(I−2)及び(I−3)は、MgO、CaO、SrO及びBaOのそれぞれの配合量が(I−4)と同一であるアルミノボロシリケートガラス(I−5)及び(I−6)であってもよい。
前記実施態様(I−1)は、さらに、ガラスの組成が、モル%で表示して、
3.0%≦MgO≦8.5%、
2.0%≦CaO≦6.5%、
2.0%≦SrO≦6.5%、及び
0%≦BaO≦6.0%を含むアルミノボロシリケートガラス(I−7)であってもよい。同様に、前記実施態様(I−2)及び(I−3)は、MgO、CaO、SrO及びBaOのそれぞれの配合量が(I−7)と同一であるアルミノボロシリケートガラス(I−8)及び(I−9)であってもよい。
ガラス(II)の好適な実施態様(II−1)として、例えば、着色成分の金属酸化物を含み、ガラス組成が、モル%で表示して、
45.0%≦SiO≦66.0%、
7.0%≦B≦17.0%、
7.0%≦Al≦13.0%、
0.1%≦TiO≦4.0%、
0%≦CuO<0.1%、及び
0%≦ZnO≦9.0%を含み、かつ
58.0%≦SiO+B≦76.0%、
6.0%≦MgO+CaO+SrO+BaO≦25.0%、
0≦LiO+NaO+KO<2.0%であり、
さらに着色成分の金属酸化物が、モル%で表示して、
(III)0.01%≦Fe≦0.4%、
(IV)0.1%≦CeO≦2.0%、又は
(V)0.01%≦Fe≦0.4%かつ0.1%≦CeO≦2.0%であるアルミノボロシリケートガラスが挙げられる。
ガラス(II)の他の好適な実施態様(II−2)として、例えば、着色成分の金属酸化物を含み、ガラス組成が、モル%で表示して、
45.0%≦SiO≦66.0%、
7.0%≦B≦17.0%、
7.0%≦Al≦13.0%、
0.1%≦TiO≦4.0%、
0%≦CuO<0.1%、及び
1.0%≦ZnO≦8.0%を含み、かつ
58.0%≦SiO+B≦76.0%、
6.0%≦MgO+CaO+SrO+BaO≦25.0%、
0≦LiO+NaO+KO<2.0%であり、
さらに着色成分の金属酸化物が、モル%で表示して、
(III)0.01%≦Fe≦0.4%、
(IV)0.1%≦CeO≦2.0%、又は
(V)0.01%≦Fe≦0.4%かつ0.1%≦CeO≦2.0%であるアルミノボロシリケートガラスが挙げられる。
前記実施態様(II−1)は、さらに、ガラスの組成が、モル%で表示して、
2.0%≦MgO≦10.0%、
1.0%≦CaO≦10.0%、
1.0%≦SrO≦10.0%、及び
0%≦BaO≦6.0%を含むアルミノボロシリケートガラス(II−3)であってもよい。同様に、前記実施態様(II−2)は、MgO、CaO、SrO及びBaOのそれぞれの配合量が(II−3)と同一であるアルミノボロシリケートガラス(II−4)であってもよい。
また、前記実施態様(II−1)は、さらに、ガラスの組成が、モル%で表示して、
3.0%≦MgO≦10.0%、
2.0%≦CaO≦10.0%、
2.0%≦SrO≦10.0%、及び
0%≦BaO≦6.0%を含むアルミノボロシリケートガラス(II−5)であってもよい。同様に、前記実施態様(II−2)は、MgO、CaO、SrO及びBaOのそれぞれの配合量が(II−5)と同一であるアルミノボロシリケートガラス(II−6)であってもよい。
上記したいずれの実施態様においても、上述の説明に基づいて、各成分の量を適宜変更でき、任意の成分について、追加、削除等の変更をすることができる。また、上記したいずれの実施態様においても、各ガラスの組成と各特性(熱膨張係数、吸収係数α等)の値を適宜変更して組み合わせることもできる。例えば、実施態様(I−1)〜(I−9)及び(II−1)〜(II−6)のガラスにおいて、熱膨張係数が60×10−7/℃以下であってもよい。また、実施態様(I−1)〜(I−9)及び(II−1)〜(II−6)のガラスにおいて、吸収係数αが2〜40/cmであってもよい。
レーザ照射により変質部を形成する前のレーザ加工用ガラスは、例えば、ガラスを溶融及び成型して得た上記無アルカリ又は微アルカリガラスのいずれか一方の主面(第1主面)に微粒子含有層を形成することにより製造することができる。
[ガラス溶融及び成型]
ガラスの溶融、成型方法は、特に限定されず、公知の方法を用いることができる。例えば、約300gのガラスが得られるように、所定分量のガラス原料粉末を調合し、白金ルツボを用いて通常の溶融急冷法で、ある程度の体積をもつガラスブロックを作製する。途中、ガラスの均一性の向上あるいは清澄を目的に撹拌してもよい。
溶融温度及び時間については、各ガラスの溶融特性に適するように設定できる。溶融温度は、例えば、800〜1800℃程度であってもよく、1000〜1700℃程度であってもよい。溶融時間は、例えば、0.1〜24時間程度であってもよい。ガラス内部の残留応力を緩和するため、所定の温度範囲(例えば、400〜600℃程度)を数時間かけて通過させたあと、室温まで自然放冷するのが好ましい。
このように成型することによって、厚さ0.1〜1.5mm程度の薄板状のレーザ加工用ガラスを得ることができる。
[微粒子含有層]
微粒子含有層の形成方法としては、例えば、微粒子(コロイド粒子)を分散媒(例えばバインダ)に分散させたコロイド(例えば、コロイド溶液)をガラスのいずれか一方の主面に塗布し、硬化させる方法等が挙げられる。微粒子含有層は、ガラス板の両面に形成されていてもよい。微粒子含有層がガラス板のA面にのみ形成されている場合、光学系の条件(NAと基板位置)によっては、A面とは反対側のガラス板の面(以下、B面という。)で反射した光がガラス内部に集光して変質部を形成してしまうことがあり得るが、微粒子含有層がガラス板のB面にも形成されている場合、散乱あるいは低屈折率膜の効果で反射率が下がり、このような事態を防ぐことができる。
バインダは、例えば、紫外線硬化樹脂、熱硬化樹脂等の有機材料であってもよく、ゾルゲル法により作製されたSiO、TiO等を主成分とする無機材料であってもよい。本発明の効果を得るためには、微粒子周辺の光(電磁波)の伝搬状態が重要であると考えられる。これには微粒子の形状とバインダとの屈折率差が影響し、例えば、微粒子とバインダの屈折率が等しく、かつ微粒子がバインダに完全に覆われている場合、光(電磁波)は、微粒子とバインダの境界の影響を受けず、あたかも均質な媒体中を伝搬するのと同じように伝搬する。このとき、期待される電場集中効果が得られず、したがって、本発明の効果は得られない。そのため、バインダの屈折率は、微粒子の屈折率とは異なるほうがよい。ただし、微粒子含有層の表面にコロイドの形状を反映した凹凸ができる場合は、微粒子表面と空気の界面により電磁波が散乱されて本発明の効果が得られることから、バインダの屈折率は、微粒子の屈折率とほとんど同一であってもよい。バインダの使用量は、微粒子含有層の体積比で、微粒子と同量(膜固形分の50%)以下が好ましい。
塗布の方法は、特に限定されず、スピンコート、ディップコート、インクジェット、フローコート、ロールコート等の方法を用いることができる。例えば、前記無機材料を用いて、微粒子含有層を形成することができる。
微粒子を有するコロイドをガラスのいずれか一方の主面に塗布した後、それを硬化させる方法としては、例えば、紫外線等のエネルギー照射硬化、熱硬化等が挙げられ、バインダを単に乾燥させる等様々な方法であってもよい。
このような微粒子含有層に適用しうる材料としてこれらに限られないが、微粒子又はそのコロイド形態として、スルーリア(登録商標)シリーズ、スフェリカ(登録商標)スラリーシリーズ(以上日揮触媒化成製)、スノーテックス(登録商標)ST−OYL、スノーテックス(登録商標)ST−OL(以上日産化学工業製)等が挙げられる。バインダとしては、テトラエトキシシラン(TEOS)、メチルトリエトキシシラン(MTES)等のSiアルコキシドをはじめとした金属アルコキシドを原料としてゾルゲル反応によって得られるSi等の金属酸化物を主成分としたゾルゲル系バインダというもの;エポキシ樹脂、アクリル樹脂、ポリアセタール樹脂、ポリオレフィン樹脂、PET樹脂等の有機系のバインダを広く選択できる。さらに、微粒子とバインダとをあらかじめ適切に混合させた商品も上市されており、例えば、ELCOM(登録商標) Pシリーズ(日揮触媒化成製;中空シリカ微粒子とゾルゲル系バインダとの混合物)をはじめとして、それらを使用の態様に合わせて適切に改変したものが使用可能である。
上記のようにして得られたレーザ加工用ガラスを用いて、孔付きガラスを製造することができる。具体的には、上記のようにして得られたレーザ加工用ガラスに、レーザパルスをレンズで集光して照射して、照射部に変質部を形成する工程〔i〕と、エッチング液を用いて、少なくとも前記変質部をエッチングすることにより、前記レーザ加工用ガラスに孔を形成する工程〔ii〕とを有する製造方法によって孔付きガラスを製造することができる。
[変質部の形成]
工程〔i〕において、上述したいずれかの本発明のレーザ加工用ガラスに、レーザパルスをレンズで集光して照射して、照射部に変質部を形成する。
工程〔i〕では、1度のパルス照射で変質部を形成することが可能である。すなわち、工程〔i〕では、照射位置が重ならないようにレーザパルスを照射することによって、変質部を形成できる。但し、照射パルスが重なるようにレーザパルスを照射してもよい。
工程〔i〕では、通常、ガラスの内部にフォーカスされるようにレンズでレーザパルスを集光する。例えば、板状ガラスに貫通孔を形成する場合には、通常、板状ガラスの厚さ方向の中央付近にフォーカスされるようにレーザパルスを集光する。なお、ガラスの上面側(レーザパルスの入射側)のみを加工する場合には、通常、ガラスの上面側にフォーカスされるようにレーザパルスを集光する。逆に、ガラスの下面側(レーザパルスの入射側とは反対側)のみを加工する場合には、通常、ガラスの下面側にフォーカスされるようにレーザパルスを集光する。但し、ガラス変質部が形成できる限り、レーザパルスがガラスの外部にフォーカスされてもよい。例えば、板状ガラスの上面あるいは下面から所定の距離(例えば1.0mm)だけガラスから離れた位置にレーザパルスがフォーカスされてもよい。換言すれば、ガラスに変質部が形成できる限り、レーザパルスは、ガラスの上面から手前方向(レーザパルスの進行方向とは逆の方向)に1.0mm以内にある位置(ガラスの上面含む)、又はガラスの下面から後方(ガラスを透過したレーザパルスが進行する方向)に1.0mm以内にある位置(ガラスの下面位置を含む)又は内部にフォーカスされてもよい。
レーザパルスのパルス幅は、1〜200ns(ナノ秒)が好ましく、1〜100nsがより好ましく、5〜50nsがさらに好ましい。また、パルス幅が200nsより大きくなると、レーザパルスの尖頭値が低下してしまい、加工がうまくできない場合がある。5〜100μJ/パルスのエネルギーからなるレーザ光を上記レーザ加工用ガラスに照射する。レーザパルスのエネルギーを増加させることによって、それに比例するように変質部の長さを長くすることが可能である。レーザパルスのビーム品質M値は、例えば2以下であってもよい。M値が2以下であるレーザパルスを用いることによって、微小な細孔あるいは微小な溝の形成が容易になる。
本発明の製造方法では、レーザパルスが、Nd:YAGレーザの高調波、Nd:YVOレーザの高調波、又はNd:YLFレーザの高調波であってもよい。高調波は、例えば、第2高調波、第3高調波又は第4高調波である。これらレーザの第2高調波の波長は、532nm〜535nm近傍である。第3高調波の波長は、355nm〜357nm近傍である。第4高調波の波長は、266nm〜268nmの近傍である。これらのレーザを用いることによって、ガラスを安価に加工できる。
レーザ加工に用いる装置としては、例えば、コヒレント社製の高繰返し固体パルスUVレーザ:AVIA355−4500が挙げられる。当該装置では、第3高調波Nd:YVOレーザであり、繰返し周波数が25kHzの時に6W程度の最大のレーザパワーが得られる。第3高調波の波長は350nm〜360nmである。
レーザパルスの波長は、535nm以下が好ましく、例えば、350nm〜360nmの範囲であってもよい。一方、レーザパルスの波長が535nmよりも大きくなると、照射スポットが大きくなり、微小孔の作製が困難になる上、熱の影響で照射スポットの周囲が割れやすくなる。
典型的な光学系として、発振されたレーザを、ビームエキスパンダで2〜4倍に広げ(この時点でφ7.0〜14.0mm)、可変のアイリスでレーザの中心部分を切り取った後にガルバノミラーで光軸を調整し、100mm程度のfθレンズで焦点位置を調整しつつガラスに集光する。
レンズの焦点距離L(mm)は、例えば50〜500mmの範囲にあり、100〜200mmの範囲から選択してもよい。
また、レーザパルスのビーム径D(mm)は、例えば1〜40mmの範囲にあり、3〜20mmの範囲から選択してもよい。ここで、ビーム径Dは、レンズに入射する際のレーザパルスのビーム径であり、ビームの中心の強度に対して強度が[1/e]倍となる範囲の直径を意味する。
本発明では、焦点距離Lをビーム径Dで除した値、すなわち[L/D]の値が、7以上であり、7以上100以下が好ましく、10以上65以下であってもよい。この値は、ガラスに照射されるレーザの集光性に関係する値であり、この値が小さいほど、レーザが局所的に集光され、均一で長い変質部の作製が困難になることを示す。この値が7未満であると、ビームウェスト近傍でレーザパワーが強くなりすぎてしまい、ガラス内部でクラックが発生しやすくなるという問題が生じる。
アイリスの大きさを変えてレーザ径を変化させて開口数(NA)を0.006〜0.075まで変動させてもよい。NAが大きくなりすぎると、レーザのエネルギーが焦点付近のみに集中し、ガラスの厚さ方向にわたって効果的に変質部が形成されない。
NAの小さいパルスレーザを照射することにより、一度のパルス照射によって、厚さ方向に比較的長い変質部が形成されるため、タクトタイムの向上に効果がある。
繰返し周波数は10〜300kHzとして、サンプルにレーザを照射するのが好ましい。より好ましい繰り返し周波数は10〜100kHzである。また焦点位置をガラスの厚さ方向で変えることで、ガラスに形成される変質部の位置(上面側又は下面側)を最適に調整できる。
さらに制御PCからのコントロールにより、レーザ出力、ガルバノミラーの動作等を制御することができ、CADソフト等で作成した2次元描画データに基づいて、レーザを所定の速度でガラス基板上に照射することができる。
レーザが照射された部分には、ガラスの他の部分とは異なる、変質部が形成される。この変質部は、光学顕微鏡等により容易に見分けることが可能である。変質部は板状ガラスの上面近傍から下面近傍に達する。「主変質部」が板状ガラスのA面(微粒子含有層が形成された側の面であってレーザ光が入射する面)からB面(A面とは異なるもう一方の面)に形成されるのと同時に、ガラスA面上に分散された微粒子によるMie散乱によって生じた拡散状の「側変質部」が、ガラスA面近傍であってガラス内部に形成される。
これらの変質部は、レーザ照射により光化学的な反応が生じ、E’センタもしくは非架橋酸素等の欠陥が生じた部位あるいは、レーザ照射による急加熱もしくは急冷却によって生じた、高温度域における疎なガラス構造を保持した部位であると考えられる。この変質部は、ガラスの他の部分よりも所定のエッチング液に対して、エッチングのスピードが速いために、エッチング液に浸すことによって微小な孔あるいは溝を形成することができる。
フェムト秒レーザ装置(これは一般的に高価でもある)を用いた従来の加工方法では、照射パルスが重なるようにレーザを深さ方向(ガラス基板の厚さ方向)にスキャンしながら変質部を形成していたが、少なくとも一方の主面上に微粒子含有層が形成された板状ガラスへのレーザ照射とウェットエッチングを併用する孔開け技術(孔付きガラスの製造方法)においては、一度のレーザパルスの照射でガラスの厚さ方向に形成される変質部と拡散状の側変質部を形成することができる。
工程〔i〕において選択される条件としては、例えば、ガラスの吸収係数αが1〜50/cmであり、レーザパルス幅が1〜100nsであり、レーザパルスのエネルギーが5〜100μJ/パルスであり、波長が350nm〜360nmであり、レーザパルスのビーム径Dが3〜20mmであり、かつレンズの焦点距離Lが100〜200mmである組み合わせが挙げられる。
工程〔ii〕を行う前に、必要に応じて、変質部の直径のばらつきを減らすために、ガラス板を研磨してもよい。研磨量としては最表面のクラックを除去する程度でよく、研磨の深さは、板状ガラスの主面から1〜20μmの深さが好ましい。さらに微粒子含有層にSiOを主成分とするバインダを用いた場合、後工程のフッ酸を主成分としたエッチング液によるエッチング工程でバインダが除去される。レーザが入射する領域においては、ガラス内部に形成された変質部の径(拡散状の側変質部も含むので主及び側変質部を含む束径)より微粒子含有層の部分が除去される領域のほうが大きいので、そのままエッチングするとA面の開口部近傍が若干コーン状となる。従って工程〔ii〕のエッチングを行う前に板状ガラスの主面、特にA面を研磨することによってこのような現象の発生を低減することが可能となる。
工程〔i〕で形成される変質部の大きさは、レンズに入射する際のレーザのビーム径D、レンズの焦点距離L、ガラスの吸収係数α、レーザパルスのパワー等によって変化する。得られる変質部は、例えば、直径が1〜30μm程度であり、3〜30μm程度であってもよい。また、変質部の深さは、上記のレーザ照射条件、ガラスの吸収係数α、ガラスの板厚によっても異なるが、例えば、50〜500μm程度であってもよい。
[エッチング]
工程〔ii〕では、エッチング液を用いて、少なくとも前記変質部をエッチングすることにより、前記レーザ加工用ガラスに孔を形成する。
工程〔ii〕におけるエッチング液は、前記レーザ加工用ガラスに対するエッチングレートよりも前記変質部に対するエッチングレートが大きいものが好ましい。エッチング液としては、例えば、フッ酸(フッ化水素(HF)の水溶液)を用いてもよい。また、硫酸(HSO)もしくはその水溶液、硝酸(HNO)もしくはその水溶液、又は塩酸(塩化水素(HCl)の水溶液)を用いてもよい。これらは1種単独で用いてもよく、2種以上の酸の混合物を用いてもよい。フッ酸を用いた場合、変質部のエッチングが進みやすく、短時間に孔を形成できる。硫酸を用いた場合、変質部以外のガラスがエッチングされにくく、テーパ角の小さいストレートな孔を作製できる。
エッチング工程において、片側のみからのエッチングを可能にするために、ガラス板の上面側又は下面側に表面保護皮膜剤を塗布して保護してもよい。このような表面保護皮膜剤として、市販品を使用でき、例えば、シリテクト−II(Trylaner International社製)等が挙げられる。
エッチング時間あるいはエッチング液の温度は、変質部の形状あるいは目的とする加工形状に応じて選択される。なお、エッチング時のエッチング液の温度を高くすることによって、エッチング速度を高めることができる。また、エッチング条件によって、孔の直径を制御することが可能である。
エッチング時間は板厚にもよるため、特に限定されないが、30〜180分程度が好ましい。エッチング液の温度は、エッチングレートの調整のために変更することが可能であり、5℃〜45℃程度が好ましく、15〜40℃程度がより好ましい。
45℃以上の温度でも加工は可能であるが、エッチング液の揮発が早いため実用的ではない。5℃以下の温度でも加工は可能であるが、エッチングレートが極端に遅くなる温度の場合は実用的ではない。
また必要に応じてエッチング液に超音波を印加しながら、エッチングを行ってもよい。エッチングレートを大きくすることができるとともに、液の撹拌効果も期待できる。例えば、エッチング液がフッ化水素酸と、硝酸、塩酸及び硫酸からなる群から選ばれる1種以上の無機酸と、界面活性剤とを含み、前記エッチング液において、フッ化水素酸濃度0.05wt%〜8.0wt%、無機酸濃度2.0wt%〜16.0wt%、界面活性剤の含有量が5ppm〜1000ppmとして、ガラスに超音波を照射してエッチングする方法が挙げられる。このようなウェットエッチングを行うことにより、上記変質部を除去し貫通孔又は有底孔を形成する。前記界面活性剤としては、特に限定されず、両性界面活性剤、陽イオン界面活性剤、陰イオン界面活性剤、非イオン性界面活性剤等が挙げられる。界面活性剤は、1種単独で使用してもよく、2種以上を併用してもよい。
両性界面活性剤としては、2−アルキル−N−カルボキシメチル−N−ヒドロキシエチルイミダゾリニウムベタイン、ヤシ油脂肪酸アミドプロピルベタイン、ヤシ油アルキルアミノプロピオン酸ナトリウム、ラウリルアミノジプロピオン酸ナトリウム等が挙げられる。陽イオン界面活性剤としては、第4級アンモニウム塩(例えば、ラウリルトリメチルアンモニウムクロライド)、高級アミンハロゲン酸塩(例えば、硬牛脂アミン)、ハロゲン化アルキルピリジニウム系(例えば、塩化ドデシルピリジニウム)等が挙げられる。陰イオン界面活性剤としては、アルキル硫酸エステル塩、アルキルアリールスルホン酸塩、アルキルエーテル硫酸エステル塩、α−オレフィンスルホン酸塩、アルキルスルホン酸塩、アルキルベンゼンスルホン酸塩、アルキルナフタレンスルホン酸塩、タウリン系界面活性剤、ザルコシネート系界面活性剤、イセチオネート系界面活性剤、N−アシル酸性アミノ酸系界面活性剤、モノアルキルリン酸エステル塩、高級脂肪酸塩及びアシル化ポリペプチド等が挙げられる。非イオン性界面活性剤としては、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレン誘導体、モノグリセリン脂肪酸エステル、ポリグリセリン脂肪酸エステル、ショ糖脂肪酸エステル等が挙げられる。
変質部が板状ガラスのA面側(レーザ光の入射側)にのみ露出するように形成された場合、エッチングによって、ガラスのA面側のみに孔を形成できる。逆に、変質部がガラス板のB面側(レーザ光の入射側とは反対側)にのみ露出するように形成された場合、エッチングによって、ガラスの下面側のみに孔を形成できる。また、変質部がガラス板の上面側及び下面側に露出するように形成された場合には、エッチングを行うことによって、貫通孔を形成できる。なお、ガラス板のA面側又はB面側にエッチングを防止するための膜を形成し、一方のみからエッチングが起こるようにしてもよい。また、ガラス板の表面に露出しない変質部を形成し、次に、変質部が露出するようにガラス板を研磨してからエッチングを行ってもよい。変質部の形成条件及びエッチング条件を変化させることによって、円柱状の貫通孔、鼓形(砂時計形)の貫通孔、円錐台状の貫通孔、円錐状の孔、円錐台状の孔、円柱状の孔といった様々な形状の孔を形成することが可能である。
また、複数の孔を、それらが連続するように形成することによって、溝を形成することも可能である。この場合、線状に並ぶように複数のレーザパルスを照射することによって、線状に配置された複数の変質部を形成する。その後、変質部をエッチングすることによって溝を形成する。複数のレーザパルスの照射位置は重なっていなくてもよく、エッチングによって形成された孔が、隣接する孔同士を結合すればよい。
ガラス表面の微粒子含有層は、エッチングして孔を形成する際に、エッチャントによって同時に除去される。ただし、微粒子が大きいときは、その凹凸がガラス表面に転写されて、微粒子と同程度の高さを持つ凹凸がガラス表面に形成される場合がある。
特に微粒子のサイズが大きいとき、その凹凸による光散乱が大きくなり、透明性が必要なアプリケーションでは問題となる可能性がある。一方、適度な凹凸が形成される場合は、ガラス表面に、防眩あるいは減反射機能が付与される場合があるため、そのような機能が必要な場合は、メリットとなる場合がある。また、ガラスインターポーザとしてこの孔が形成されたガラスを使用する場合は、ガラス表面に金属の配線や有機薄膜を形成されるが、その際にガラス表面に凹凸があった方が、アンカーリング効果により、膜の付着力が改善する可能性がある。
バインダとして有機物を使用した場合、レーザ光が照射された部分は、レーザ光の照射時に微粒子含有層が除去されるが、これが孔形成に対して望ましい効果を有する場合がある。すなわち、変質部を形成するためにレーザ光を集光させて照射するが、レーザ光が照射された部分の有機物はレーザ光の照射の際に、蒸発除去(アブレーションにより除去)されるが、レーザ光が照射されなかった部分は、微粒子含有層が除去されない。この状態でエッチングを行うと、微粒子含有層が残った部分は(有機成分が溶けないため)エッチングレートが遅く、微粒子含有層がない孔の入り口部分は早くエッチングされることになる。すなわち、本来エッチングしなくてもよい領域を本発明の微粒子含有層により保護することで、非エッチング部分の平坦性を向上させたり、孔径の制御性を向上させたり、エッチングされるガラスの量を少なくしてエッチャントの消耗を抑えたりすることができる。
本発明は、本発明の効果を奏する限り、本発明の技術的範囲内において、上記の構成を種々組み合わせた態様を含む。
次に、実施例を挙げて本発明をさらに具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例により何ら限定されるものではなく、多くの変形が本発明の技術的思想内で当分野において通常の知識を有する者により可能である。
[実施例1]
[ガラス溶融及び成型]
約300gのガラスが下記の組成で得られるように、所定分量のガラス原料粉末を調合し、白金ルツボを用いて通常の溶融急冷法で、ある程度の体積をもつガラスブロックを作製した。途中、ガラスの均一性の向上あるいは清澄を目的に撹拌した。
SiO:56.88%、B:7.5%、Al:11.0%、TiO:3.0%、NaO:0%、LiO:0%、KO:0%、CuO:0%、ZnO:3.0%、MgO:7.8%、CaO:5.4%、SrO:5.4%、Fe:0.02%(単位はモル%)
溶融温度及び溶融時間は、各ガラスの溶融特性に適するように設定できる。実施例1の場合は約1600℃で6時間溶融し、カーボン板の上に流し出して成形した。ガラス内部の残留応力を緩和するために、徐冷点付近の温度範囲である550℃〜700℃を約4時間かけて通過させたあと、室温まで自然放冷した。
このように成型したガラスブロックから、厚さ470μmになるように研磨した板状のガラスを得た。変質部を形成するために照射するレーザの波長355nmにおける吸収係数は4.4/cmであった。
[微粒子含有層の形成]
上記板状ガラスに塗布するものとして中空状シリカ微粒子を含んだ塗布液を用いた。具体的には日揮触媒化成製ELCOM(登録商標) P−5を改変した塗布液であり、中空状シリカ微粒子(平均粒子径:70nm)を、主成分をSiOとするゾルゲル系バインダに分散させたものであり、固形分比率3%、比重0.8の物性値を持つものである。
上記板状ガラスを、ミカサ製スピンコータ(型番:MS−B200)にセットし、前記塗布液を適当量滴下したのち、回転数3000rpmで25秒間回転させて、コーティングを行い、その後、回転数500rpmで120秒間回転させることで予備乾燥させてから、ガラスを150℃で10分の熱処理を行うことで、厚さ250nm程度の微粒子含有層をガラスの一方の主面に形成した。
この微粒子含有層は、中空シリカ微粒子が数層積み重なった構造となっている。その表面を原子間力顕微鏡(商品名:Nano−I(登録商標)、Pacific Technology社製)で撮影した像を図1に示す。熱処理により溶媒が蒸発し、微粒子含有層は、微粒子が積み重なった構造となっており、図1は、その最表面の凹凸を測定したものである。図1Aは、微粒子含有層をななめ上方からみた図である。図1Bは、微粒子含有層を上方から見た断面図である。
実施例1では、膜厚を250nm(微粒子にして、平均して2〜3層)としたが、これよりも層数が多い場合でも本発明の効果が得られる。また、照射するレーザのビーム径は、数μm〜30μm程度であるため、微粒子の大きさを考慮すると、ビームが照射される部分には、最大で何百万個の微粒子が入ることから、ビーム内のすべての範囲を微粒子が埋め尽くしている必要はなく、例えば、数個あるいは数十個以上の微粒子がビームの照射領域に存在しないとしても、周囲のビーム照射領域に存在する多くの微粒子が本発明の効果を発現するため、微粒子が部分的に存在しない場合でも、平均膜厚が70nm(微粒子にして、1層以上)あれば本発明の効果が得られる。
このようにして、表面に微粒子含有層を形成した板状ガラスにレーザ光を照射すると、微粒子により光が散乱され、微粒子の前方(すなわち、ガラス表面と微粒子との近接若しくは接触部分又はガラス内部)に、光エネルギーの密度が非常に高い領域が形成される。この光エネルギーが高い部分に起因して変質部が形成されると考えられる。
[変質部の形成]
レーザによる変質部の形成は、コヒレント社製の高繰返し固体パルスUVレーザ:AVIA355−4500を用いた。第3高調波Nd:YVOレーザであり、繰返し周波数が25kHzの時に6W程度の最大のレーザパワーが得られる。第3高調波の主波長は355nmである。
レーザ装置より出射されたレーザパルス(パルス幅9ns、パワー1.2W、ビーム径3.5mm)を、ガルバノミラーで光軸を調整し、焦点距離100mmのfθレンズでガラス板の内部に入射させた。このときの開口角(NA)は、0.012である。
レーザのビーム径は、光路中にビームエキスパンダを挿入したり、アイリスによってビームの一部を遮蔽したりすることで、適宜変更することができ、例えば、アイリスの大きさを変えることでビーム径を変化させてNAを0.006〜0.075まで変動させることができる。表面に微粒子含有層を形成した前記ガラスを、当該微粒子含有層が形成された面をレーザが入射する面(A面)として、fθレンズの焦点付近にセットし、レーザ光を照射した。変質部の形成具合は、板状ガラス(の主面)とレーザの焦点位置とのレーザの軸方向(Z方向)の位置関係により変化する。そのため、前記ガラスを自動ステージ上にセットし、レーザの焦点位置をZ方向で変えて照射を行った。孔を形成しようと企図する主面上の位置に、1つ孔に対して1パルスだけ照射して変質部を形成した。さらに、レーザ光をスキャンする際には、照射パルスが重ならないように、レーザ光を、400mm/秒の速度でスキャンした。
図2に、レーザ照射後の変質部の断面写真(図2A及びその部分拡大図である図2B)及び上面視写真(図2C;レーザの入射面(A面)側からガラス表面を撮影したもの)を示す。断面写真は、ガラスの側面を研磨し、光学顕微鏡により観察、撮影したものである。図2Aから、主変質部1が確認された。また、図2Bから拡散状の側変質部2が確認された。さらに、図2Cの上面視写真は、光学顕微鏡により、レーザの入射面(A面であり微粒子含有層を備える主面)側からガラスを観察したものであり、下の写真にいくにつれて、ガラスの厚さ方向に顕微鏡の焦点位置を変えて、ガラスの厚さ(深さ)方向の変化を観察したものであり、変質部がガラスの厚さ方向にわたって形成されていることが確認できる。
なお、レーザ光を照射するときの板状ガラスの位置は、微粒子含有層が形成されていない主面をレーザ焦点位置から300μmレーザ側に近づけた位置としたが、他のZ方向の位置(板状ガラスの主面に対するレーザの焦点位置のレーザの軸方向(Z方向)の位置)に板状ガラスをセットしても同様な変質部が観察できる。ガラス表面近傍には、細い拡散状の側変質部が複数形成されており、かつ、クラックが形成されていない(図2B)。最表面には、微細なくぼみが形成されているが(図2C)、これは、レーザ照射時にガラス表面の一部が蒸散したものであり、クラックではない。
[エッチング]
ポリエチレン製の1L容器をエッチング槽として、次の成分を、純水を溶媒として下記表1に記載される割合で配合してエッチング液を作製した。
・フッ化水素酸 46% 森田化学工業
・硝酸1.38 60% 関東化学
・高性能非イオン性界面活性剤NCW−1001(ポリオキシアルキレンアルキルエーテル30%水溶液) 和光純薬工業
Figure 2017217496
超音波槽に所定の水位まで水を入れ、そこにエッチング液の入ったエッチング槽を設置し、エッチング液の温度を25℃に調整した。上記ガラスをポリ塩化ビニルで作製したガラス立に立ててエッチング槽に入れ、40kHz、0.26W/cmの超音波を照射した。超音波照射によってエッチング液の温度が上昇するため、超音波槽の水の一部を入れ替えて25℃±2℃を保った。途中で試料を引き上げ、基板厚さの変化からエッチングレートを求め、エッチング終了時の基板厚さが400μmになるようにエッチング時間を決めて実施した。試料を引き上げ、純水で十分にすすぎ、熱風で乾燥させた。
このエッチング処理により、板状ガラスの表面に形成されていた微粒子含有層は溶解し、孔を形成している途中で完全に除去される。
形成された貫通孔を図3に示す。ガラスをガラスカッタで切断して、断面を#1000、#4000の研磨シートで順に磨いた。このときエッチングされた変質部が断面に露出してしまうと、本来の輪郭を観察できないため、研磨量を調節して露出しないようにした。画像測定器として、CNC画像測定システム NEXIV VMR−6555(型番、株式会社ニコン製、倍率8、視野0.58×0.44(単位mm))を使用し、該測定器によって、試料を断面方向(厚さ方向)から観察し、エッチング後の孔部に焦点を合わせた。
図3において、図中A面は、板状ガラスの主面のうち、レーザ光が最初にガラスに入射する面であり、微粒子を含む微粒子含有層が形成された側の面である。図中B面はA面とは反対側の面である。
また、図3において、図中の中段は、ガラス端面(側面)から孔の断面を観察した断面図である。写真の孔は、左から右に向かってレーザ照射する際の焦点位置を変化させており、隣接する孔毎に焦点位置を25μmずつ変化させている(左から右に向かって、板状ガラスをレーザ側に近づけている。)。従って、左端と右端とではガラスの主面に対するレーザの焦点位置が約400μmの差がある。図3の※印がレーザの焦点位置がガラスのB面上にあるときで仮の基準位置である。この結果から、レーザ入射面の孔形状が円形に近く、かつクラック発生のない良好な孔が形成されていることが確認された。
また、照射するレーザの焦点位置の変動幅が最大1mmに及んでも、同じように高品位の貫通孔を形成することができることが示唆された。これは本発明に係るレーザ加工用ガラスを用いた穿孔方法は製造上ロバスト性を確保でき、さらに反り等の湾曲した板状ガラスに対しても対応できることを示している。
[実施例2]
テトラエトキシシラン(TEOS)を1.3g、シリカ中実微粒子(一次粒子径(平均粒子径)50〜80nm)のスノーテックス(登録商標)ST−OYL(商品名、日産化学工業社製)を3.75g、エタノールを2.91g及び触媒としてギ酸(0.3%溶液)を1.14g混合し、透明になるまで撹拌して加水分解反応を進めた。その後、40℃で60分間反応を進めたのち、エタノールにより3倍に希釈して塗布液を得た。塗布液を該塗布液に変更して、板状ガラスの一方の主面に厚さ125nmの微粒子含有層を形成した以外は、実施例1と同様にして、孔付きガラスを製造した。実施例1と同様に、レーザ入射面の孔形状が円形に近く、かつクラック発生のない良好な孔が形成されていることが確認された。
[実施例3]
テトラエトキシシラン(TEOS)を1.3g、シリカ中実微粒子(一次粒子径(平均粒子径)120nm)のスフェリカ(登録商標)スラリーSS120J(商品名、日揮触媒化成製)を2.5g、エタノールを2.91g及び触媒としてギ酸(0.3%溶液)を1.14g混合し、透明になるまで撹拌して加水分解反応を進めた。その後、40℃で60分間反応を進めたのち、エタノールにより4倍に希釈して塗布液を得た。塗布液を該塗布液に変更して、板状ガラスの一方の主面に厚さ100nmの微粒子含有層を形成した以外は、実施例1と同様にして、孔付きガラスを製造した。実施例1と同様に、レーザ入射面の孔形状が円形に近く、かつクラック発生のない良好な孔が形成されていることが確認された。
[実施例4]
照射するレーザのNAを0.024に変更した以外は、実施例1と同様にして、孔付きガラスを製造した。実施例1と同様に、レーザ入射面の孔形状が円形に近く、かつクラック発生のない良好な孔が形成されていることが確認された。
[実施例5]
ガラスの組成が、単位をモル%として、SiO:57.775%、B:13.5%、Al:11.0%、TiO:3.0%、NaO:0%、LiO:0%、KO:0%、CuO:0%、ZnO:3.0%、MgO:4.9%、CaO:3.4%、SrO:3.4%、Fe:0.02%;であり、吸収係数=5.0/cmであるものにガラスを変更した以外は、実施例1と同様にして、孔付きガラスを製造した。実施例1と同様に、レーザ入射面の孔形状が円形に近く、かつクラック発生のない良好な孔が形成されていることが確認された。
[実施例6]
ガラスの組成が、単位をモル%として、SiO:65.48%、B:7.44%、Al:10.91%、TiO:0%、NaO:0%、LiO:0%、KO:0%、ZnO:0%、MgO:6.45%、CaO:4.46%、SrO:4.46%、CuO:0.80%;であり、吸収係数=11.2/cmであるものにガラスを変更した以外は、実施例1と同様にして、孔付きガラスを製造した。実施例1と同様に、レーザ入射面の孔形状が円形に近く、かつクラック発生のない良好な孔が形成されていることが確認された。
[比較例1]
微粒子含有層をガラス主面上に形成させない以外は実施例1と同一の条件で、穿孔加工した。得られたガラスをCNC画像測定システムによって観察した結果を図4に示す。
このレーザ条件では、焦点位置を変化させても、入射面近傍に変質部が形成されない。これは、このレーザ条件では、入射面に変質部を形成できるだけの光エネルギー密度となっていないためである。図4の※印がレーザの焦点位置がガラスのB面上にあるときで仮の基準位置である。また、図4に示されるように、開口面(特にB面)における、開口形状は、ほとんどが楕円になり、図3に示される実施例1のような真円に近い開口形状は得られなかった。
実施例1では、比較例1で入射面近傍に変質部が形成できない条件であっても、良好な変質部が形成でき、その結果、エッチングによって良好な孔が形成できている。
本発明のレーザ加工ガラスを用いることによって、レーザ光入射面側近傍に生じる傾向があったクラックの発生を劇的に低減できるとともに、主変質部及び拡散状の側変質部をガラス内部に生じさせた後のエッチングにより、開口面に真円に近い開口形状を有する一様な貫通孔を、板状のガラスに形成することができる。
また、本発明のレーザ加工ガラスを用いてレーザ加工する場合、照射するレーザの焦点位置が、対象とするガラスの面に対して、ガラスの厚さ程度のトレランスを有する。これにより照射するレーザの焦点位置をガラスの主面に対して厳密に調整する必要がなくなり、生産技術や管理に係る負担を著しく低減することが可能となり、工業的に有利である。さらに、照射するレーザの焦点位置の許容量が大きいことから、当該許容量程度の反りや凹凸を有する板状のガラスに対しても加工することを可能とし、反りが殆どゼロに近い超高品位のガラスを用意する必要がなくなり、原材料購入や前工程における生産技術や管理上の負担をも著しく低減することも可能であり、工業的に有利である。また、ガラス上に分散される微粒子のバインダとして、シリカを主成分とする物質を用いることで、フッ化水素酸を主なエッチャントとする変質部形成後のエッチングにより、当該バインダを同時に除去することができ、工程上の負担を大きくすることもなく、工業的に有利である。
1 主変質部
2 拡散状の側変質部

Claims (13)

  1. ガラスの組成が、モル%で表示して、
    45.0%≦SiO≦70.0%、
    2.0%≦B≦20.0%、
    3.0%≦Al≦20.0%、及び
    0%≦ZnO≦9.0%、を含み、
    (I)0.1%≦CuO≦2.0%、及び0%≦TiO≦15.0%、又は
    (II)0.1%≦TiO<5.0%、及び0%≦CuO<0.1%、を含み、
    (II)の場合、さらに着色成分の金属酸化物を含み、かつ
    0≦LiO+NaO+KO<2.0%
    であり、
    ガラスのいずれか一方の主面に微粒子含有層を有し、
    前記微粒子の平均粒子径が10nm以上1.0μm未満である、レーザ加工用ガラス。
  2. 前記微粒子の平均粒子径が、25nm以上500nm以下である、請求項1に記載のレーザ加工用ガラス。
  3. 前記微粒子含有層の厚さが、10nm以上10μm以下である、請求項1又は2に記載のレーザ加工用ガラス。
  4. 前記微粒子が、無機化合物を含む、請求項1〜3のいずれか1項に記載のレーザ加工用ガラス。
  5. 前記無機化合物が、SiO、TiO、ZrO、CeO、Nb、Ta、Al、及びMgFからなる群から選ばれる1種以上の化合物である、請求項4に記載のレーザ加工用ガラス。
  6. 前記微粒子含有層が、SiOを主成分とするバインダを含む、請求項1〜5のいずれか1項に記載のレーザ加工用ガラス。
  7. ガラスの組成が、モル%で表示して
    6.0%≦MgO+CaO+SrO+BaO≦25.0%である、
    請求項1〜6のいずれか1項に記載のレーザ加工用ガラス。
  8. ガラスの組成が、モル%で表示して、
    0≦LiO+NaO+KO<0.5%
    である、請求項1〜7のいずれか1項に記載のレーザ加工用ガラス。
  9. ガラスの組成が、モル%で表示して、
    (I)0.1%≦CuO≦2.0%、及び0%≦TiO≦15.0%、を含み、
    さらに、着色成分の金属酸化物を含む、請求項1〜8のいずれか1項に記載のレーザ加工用ガラス。
  10. 前記着色成分の金属酸化物が、Fe、Ce、Bi、W、Mo、Co、Mn、Cr、及びVからなる群から選ばれる少なくとも1種の金属の酸化物を含む、請求項1〜9のいずれか1項に記載のレーザ加工用ガラス。
  11. ガラスの組成が、モル%で表示して、
    (II)0.1%≦TiO<5.0%、及び0%≦CuO<0.1%を、含み、
    着色成分の金属酸化物を含み、さらに
    前記着色成分の金属酸化物の組成が、
    (III)0.01%≦Fe≦0.4%、
    (IV)0.1%≦CeO≦2.0%、又は
    (V)0.01%≦Fe≦0.4%及び0.1%≦CeO≦2.0%、を含み、かつ、
    10.0%≦MgO+CaO+SrO+BaO≦25.0%である、請求項1〜8、10のいずれか1項に記載のレーザ加工用ガラス。
  12. TiOの含有量が、モル%で表示して、
    1.0%≦TiO<3.5%
    である、請求項11に記載のレーザ加工用ガラス。
  13. 請求項1〜12のいずれか1項に記載のレーザ加工用ガラスに、レーザパルスをレンズで集光して照射して、照射部に変質部を形成する工程〔i〕と、
    エッチング液を用いて、少なくとも前記変質部をエッチングすることにより、前記レーザ加工用ガラスに孔を形成する工程〔ii〕とを有することを特徴とする孔付きガラスの製造方法。
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