JPWO2017212759A1 - 太陽電池、太陽電池の製造システムおよび太陽電池の製造方法 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 37
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 184
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 64
- 238000002161 passivation Methods 0.000 claims abstract description 38
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 247
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 122
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 122
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 116
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 116
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 79
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 63
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 56
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 53
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 45
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 claims description 42
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 claims description 42
- 238000010304 firing Methods 0.000 claims description 40
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 claims description 16
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 claims description 16
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 15
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 249
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 62
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 20
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 20
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 17
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 15
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 15
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 12
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 12
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 8
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 8
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 7
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 description 6
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 6
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 5
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 4
- RLOWWWKZYUNIDI-UHFFFAOYSA-N phosphinic chloride Chemical compound ClP=O RLOWWWKZYUNIDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 4
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000013007 heat curing Methods 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 238000013035 low temperature curing Methods 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- -1 silver-aluminum Chemical compound 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 2
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical class O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003929 acidic solution Substances 0.000 description 1
- 239000002318 adhesion promoter Substances 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 239000012670 alkaline solution Substances 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 1
- 229910001385 heavy metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 238000005488 sandblasting Methods 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004506 ultrasonic cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
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- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/06—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
- H01L31/068—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PN homojunction type, e.g. bulk silicon PN homojunction solar cells or thin film polycrystalline silicon PN homojunction solar cells
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- H01B1/00—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
- H01B1/02—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors mainly consisting of metals or alloys
- H01B1/023—Alloys based on aluminium
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- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B1/00—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
- H01B1/14—Conductive material dispersed in non-conductive inorganic material
- H01B1/16—Conductive material dispersed in non-conductive inorganic material the conductive material comprising metals or alloys
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- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B1/00—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
- H01B1/20—Conductive material dispersed in non-conductive organic material
- H01B1/22—Conductive material dispersed in non-conductive organic material the conductive material comprising metals or alloys
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- H01L31/0216—Coatings
- H01L31/02161—Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
- H01L31/02167—Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
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Abstract
Description
まず、一般的なPR構造型太陽電池セルの製造工程を、PR構造型太陽電池セルの模式断面図である図1を例に説明する。先ず、半導体基板101を用意する。この半導体基板101には、単結晶または多結晶シリコンなどが用いられる。半導体基板101の導電型は、p型、n型のいずれでもよいが、ボロンなどのp型の半導体不純物を含み、比抵抗は0.1〜4.0Ω・cmのp型シリコン基板が用いられることが多い。以下、p型シリコン基板を用いた太陽電池セル製造方法を例にとって説明する。半導体基板101の大きさは、100〜150mm角、厚みは0.05〜0.30mmの板状のものが好適に用いられる。
図2は、本発明に係る太陽電池を適用したPR構造型太陽電池セルの裏面の斜視図である。本実施形態に係るPR構造型太陽電池セルは、上記説明した一般的なPR構造型太陽電池セルに対して電極の構造で相違する。半導体基板101や、半導体基板101に設けられたテクスチャ構造、BSF層104、パッシベーション膜103、106については同様である。
続いて、以上で説明したPR構造型太陽電池セルの製造に適した太陽電池の製造システム400について説明する。
上記はPR構造型太陽電池セルについての実施形態の例であるが、本発明は、非受光面にエミッタ層、BSF層の両方が形成された、裏面電極型太陽電池セルにも適用することもできる。
続いて、以上で説明した裏面電極型太陽電池セルの製造に適した太陽電池の製造システム500について説明する。
以下に、本発明の実施例および比較例をあげてさらに具体的に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではなく、幅広い用途で活用できるものである。
102…エミッタ層
103…パッシベーション膜
104…BSF層
105…電極
106…パッシベーション膜
107…電極
201…裏面フィンガー電極
202…裏面バスバー電極
203…中間層
301…第1フィンガー電極
302…第1バスバー電極
303…中間層
304…BSF層
305…エミッタ層
307…第2フィンガー電極
308…第2バスバー電極
400…製造システム
410…成膜装置
420…フィンガー電極形成装置
430…中間層形成装置
440…バスバー電極形成装置
500…製造システム
510…拡散層形成装置
520…成膜装置
530…第1フィンガー電極形成装置
540…第2フィンガー電極形成装置
550…中間層形成装置
560…第1バスバー電極形成装置
570…第2バスバー電極形成装置
Claims (10)
- 半導体基板を保護するパッシベーション膜と、
前記半導体基板の主面において前記半導体基板と接続される第1フィンガー電極と、
前記第1フィンガー電極と交差する第1バスバー電極と、
前記第1フィンガー電極と前記第1バスバー電極との交差位置に設けられる中間層と、
を備え、
前記第1フィンガー電極と前記第1バスバー電極とは、前記中間層を介して互いに電気的に導通していることを特徴とする太陽電池。 - 前記第1フィンガー電極は、アルミニウムの焼結体を含み、
前記第1バスバー電極は、エポキシ樹脂またはアクリル樹脂と、銀との焼結体を含み、
前記中間層は、ガラスフリットと銀との焼結体を含むことを特徴とする請求項1記載の太陽電池。 - 半導体基板の主面に設けられる第1導電型の第1不純物拡散層と、
前記主面に設けられる第2導電型の第2不純物拡散層と、
前記半導体基板、前記第1不純物拡散層および前記第2不純物拡散層を保護するパッシベーション膜と、
前記主面において前記第1不純物拡散層と接続される第1フィンガー電極と、
前記主面において前記第2不純物拡散層と接続される第2フィンガー電極と、
前記第1フィンガー電極と交差する第1バスバー電極と、
前記第2フィンガー電極と交差する第2バスバー電極と、
前記第1フィンガー電極と前記第1バスバー電極との交差位置に設けられる中間層と、
を備え、
前記第1フィンガー電極と前記第1バスバー電極とは、前記中間層を介して互いに電気的に導通していることを特徴とする太陽電池。 - 前記第1フィンガー電極は、アルミニウムの焼結体を含み、
前記第1バスバー電極は、エポキシ樹脂またはアクリル樹脂と、銀との焼結体を含み、
前記第2フィンガー電極および前記中間層は、ガラスフリットと、銀との焼結体を含むことを特徴とする請求項3記載の太陽電池。 - 前記第1フィンガー電極と前記第1バスバー電極との交差位置において、前記主面と直交する方向にみたときの前記中間層の面積をA、前記第1フィンガー電極と前記第1バスバー電極とが交差する面積をBとした場合、
A/Bは0.01以上1以下であることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1つに記載の太陽電池。 - 半導体基板を保護するパッシベーション膜を形成する成膜装置と、
前記半導体基板の主面において前記半導体基板と接続される第1フィンガー電極を形成するフィンガー電極形成装置と、
前記第1フィンガー電極の上に中間層を形成する中間層形成装置と、
前記中間層を介して前記第1フィンガー電極と交差する第1バスバー電極を形成するバスバー電極形成装置と、
を備え、
前記フィンガー電極形成装置は、導電性アルミペーストを焼成して前記第1フィンガー電極を形成し、
前記中間層形成装置は、ガラスフリットを含む第1の導電性銀ペーストを焼成して前記中間層を形成し、
前記導電性アルミペーストと前記第1導電性銀ペーストとは同時に焼成され、
前記バスバー電極形成装置は、エポキシ樹脂またはアクリル樹脂を含む第2導電性銀ペーストを加熱して前記第1バスバー電極を形成し、
前記導電性アルミペーストおよび前記第1導電性銀ペーストの焼成時ピーク温度と、前記第2導電性銀ペーストの加熱時ピーク温度との差が、300℃以上700℃以下であることを特徴とする太陽電池の製造システム。 - 半導体基板の主面に設けられる第1導電型の第1不純物拡散層と、前記主面に設けられる第2導電型の第2不純物拡散層とを形成する拡散層形成装置と、
前記半導体基板、前記第1不純物拡散層および前記第2不純物拡散層を保護するパッシベーション膜を形成する成膜装置と、
前記主面において前記第1不純物拡散層と接続される第1フィンガー電極を形成する第1フィンガー電極形成装置と、
前記主面において前記第2不純物拡散層と接続される第2フィンガー電極を形成する第2フィンガー電極形成装置と、
前記第1フィンガー電極の上に中間層を形成する中間層形成装置と、
前記中間層を介して前記第1フィンガー電極と交差する第1バスバー電極を形成する第1バスバー電極形成装置と、
前記第2フィンガー電極と交差する第2バスバー電極を形成する第2バスバー電極形成装置と、
を備え、
前記第2フィンガー電極形成装置は、ガラスフリットを含む第1導電性銀ペーストを焼成して前記第2フィンガー電極を形成し、
前記中間層形成装置は、ガラスフリットを含む第2導電性銀ペーストを焼成して前記中間層を形成し、
前記第1フィンガー電極形成装置は、導電性アルミペーストを焼成して前記第1フィンガー電極を形成し、
前記第1導電性銀ペースト、前記第2導電性銀ペーストおよび前記導電性アルミペーストは同時に焼成され、
前記第1バスバー電極形成装置は、エポキシ樹脂またはアクリル樹脂を含む第3導電性銀ペーストを加熱して前記第1バスバー電極を形成し、
前記第1導電性銀ペースト、前記第2導電性銀ペーストおよび前記導電性アルミペーストの焼成時ピーク温度と、前記第3導電性銀ペーストの加熱時ピーク温度の差が、300℃以上700℃以下であることを特徴とする、太陽電池の製造システム。 - 半導体基板を保護するパッシベーション膜を形成する工程と、
前記半導体基板の主面において前記半導体基板と接続される第1フィンガー電極を形成する工程と、
前記第1フィンガー電極の上に中間層を形成する工程と、
前記中間層を介して前記第1フィンガー電極と交差する第1バスバー電極を形成する工程と、
を備え、
前記第1フィンガー電極を形成する工程では、導電性アルミペーストを焼成して前記第1フィンガー電極を形成し、
前記中間層を形成する工程では、ガラスフリットを含む第1の導電性銀ペーストを焼成して前記中間層を形成し、
前記導電性アルミペーストと前記第1導電性銀ペーストとは同時に焼成され、
前記第1バスバー電極を形成する工程では、エポキシ樹脂またはアクリル樹脂を含む第2導電性銀ペーストを加熱して前記第1バスバー電極を形成し、
前記導電性アルミペーストおよび前記第1導電性銀ペーストの焼成時ピーク温度と、前記第2導電性銀ペーストの加熱時ピーク温度との差が、300℃以上700℃以下であることを特徴とする太陽電池の製造方法。 - 半導体基板の主面に設けられる第1導電型の第1不純物拡散層と、前記主面に設けられる第2導電型の第2不純物拡散層とを形成する工程と、
前記半導体基板、前記第1不純物拡散層および前記第2不純物拡散層を保護するパッシベーション膜を形成する工程と、
前記主面において前記第1不純物拡散層と接続される第1フィンガー電極を形成する工程と、
前記主面において前記第2不純物拡散層と接続される第2フィンガー電極を形成する工程と、
前記第1フィンガー電極の上に中間層を形成する工程と、
前記中間層を介して前記第1フィンガー電極と交差する第1バスバー電極を形成する工程と、
前記第2フィンガー電極と交差する第2バスバー電極を形成する工程と、
を備え、
前記第2フィンガー電極を形成する工程では、ガラスフリットを含む第1導電性銀ペーストを焼成して前記第2フィンガー電極を形成し、
前記中間層を形成する工程では、ガラスフリットを含む第2導電性銀ペーストを焼成して前記中間層を形成し、
前記第1フィンガー電極を形成する工程では、導電性アルミペーストを焼成して前記第1フィンガー電極を形成し、
前記第1導電性銀ペースト、前記第2導電性銀ペーストおよび前記導電性アルミペーストは同時に焼成され、
前記第1バスバー電極を形成する工程では、エポキシ樹脂またはアクリル樹脂を含む第3導電性銀ペーストを加熱して前記第1バスバー電極を形成し、
前記第1導電性銀ペースト、前記第2導電性銀ペーストおよび前記導電性アルミペーストの焼成時ピーク温度と、前記第3導電性銀ペーストの加熱時ピーク温度の差が、300℃以上700℃以下であることを特徴とする、太陽電池の製造方法。 - 前記第2フィンガー電極を形成する前記第1導電性銀ペーストの塗布と、前記中間層を形成する前記第2導電性銀ペーストの塗布とを、同時に行うことを特徴とする請求項9記載の太陽電池の製造方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016115893 | 2016-06-10 | ||
JP2016115893 | 2016-06-10 | ||
PCT/JP2017/014035 WO2017212759A1 (ja) | 2016-06-10 | 2017-04-04 | 太陽電池、太陽電池の製造システムおよび太陽電池の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2017212759A1 true JPWO2017212759A1 (ja) | 2019-02-07 |
JP6644884B2 JP6644884B2 (ja) | 2020-02-12 |
Family
ID=60578621
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018522347A Active JP6644884B2 (ja) | 2016-06-10 | 2017-04-04 | 太陽電池、太陽電池の製造システムおよび太陽電池の製造方法 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US11424372B2 (ja) |
EP (1) | EP3471150B1 (ja) |
JP (1) | JP6644884B2 (ja) |
KR (1) | KR102312039B1 (ja) |
CN (1) | CN109392312B (ja) |
MY (1) | MY190307A (ja) |
TW (1) | TWI777959B (ja) |
WO (1) | WO2017212759A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109004043B (zh) * | 2018-07-16 | 2021-03-16 | 南通天盛新能源股份有限公司 | 一种太阳能电池背面电极的制备方法与应用 |
CN114284381A (zh) * | 2020-09-18 | 2022-04-05 | 嘉兴阿特斯技术研究院有限公司 | 异质结太阳能电池及其制作方法 |
GB202020731D0 (en) * | 2020-12-30 | 2021-02-10 | Rec Solar Pte Ltd | A solar cell assembly |
CN115148837A (zh) * | 2022-06-29 | 2022-10-04 | 浙江晶科能源有限公司 | 一种太阳能电池及其制备方法和光伏组件 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IL71367A0 (en) | 1983-04-07 | 1984-06-29 | Vault Corp | Method and apparatus for controlled removal of oxide from floppy disks |
JP2001345469A (ja) * | 2000-06-01 | 2001-12-14 | Canon Inc | 光起電力素子および光起電力素子の製造方法 |
US20070095387A1 (en) * | 2003-11-27 | 2007-05-03 | Shuichi Fujii | Solar cell module |
DE102004033728B4 (de) | 2004-07-13 | 2009-07-23 | Plasmatreat Gmbh | Verfahren zum Bearbeiten und Verkleben von Werkstücken aus einem Metall oder einer Metalllegierung mit einer hydratisierten Oxid- und/oder Hydroxidschicht |
EP2430653B1 (en) | 2009-05-08 | 2019-03-13 | 1366 Technologies Inc. | Porous lift-off layer for selective removal of deposited films |
JP2011243806A (ja) * | 2010-05-19 | 2011-12-01 | Sharp Corp | 太陽電池 |
WO2012081813A1 (ko) * | 2010-12-17 | 2012-06-21 | 현대중공업 주식회사 | 후면전극형 태양전지 및 그 제조방법 |
JP2014053330A (ja) * | 2010-12-29 | 2014-03-20 | Sanyo Electric Co Ltd | 太陽電池 |
TW201234626A (en) * | 2011-01-13 | 2012-08-16 | Intevac Inc | Non-contacting bus bars for solar cells and methods of making non-contacting bus bars |
JPWO2012132758A1 (ja) * | 2011-03-28 | 2014-07-28 | 三洋電機株式会社 | 光電変換装置及び光電変換装置の製造方法 |
JP5645734B2 (ja) * | 2011-03-31 | 2014-12-24 | 京セラ株式会社 | 太陽電池素子 |
US20140360567A1 (en) * | 2011-08-05 | 2014-12-11 | Solexel, Inc. | Back contact solar cells using aluminum-based alloy metallization |
US20140332072A1 (en) * | 2011-12-13 | 2014-11-13 | Dow Corning Corporation | Photovoltaic Cell And Method Of Forming The Same |
WO2013150730A1 (ja) * | 2012-04-06 | 2013-10-10 | 三井化学東セロ株式会社 | 太陽電池モジュール |
KR20140011462A (ko) * | 2012-07-18 | 2014-01-28 | 엘지전자 주식회사 | 태양 전지 및 이의 제조 방법 |
EP2750142B1 (en) * | 2012-12-28 | 2017-05-24 | Heraeus Deutschland GmbH & Co. KG | An electro-conductive paste comprising an inorganic reaction system with a high glass transition temperature in the preparation of electrodes in mwt solar cells |
CN103337529A (zh) * | 2013-07-12 | 2013-10-02 | 苏州润阳光伏科技有限公司 | 全背接触太阳电池电极及其制作方法 |
JP6491555B2 (ja) * | 2014-07-07 | 2019-03-27 | エルジー エレクトロニクス インコーポレイティド | 太陽電池モジュールとその製造方法 |
US20170077320A1 (en) * | 2015-09-11 | 2017-03-16 | Solarcity Corporation | Anti-corrosion protection of photovoltaic structures |
-
2017
- 2017-04-04 US US16/308,294 patent/US11424372B2/en active Active
- 2017-04-04 KR KR1020187034264A patent/KR102312039B1/ko active IP Right Grant
- 2017-04-04 JP JP2018522347A patent/JP6644884B2/ja active Active
- 2017-04-04 EP EP17809942.0A patent/EP3471150B1/en active Active
- 2017-04-04 CN CN201780032752.8A patent/CN109392312B/zh active Active
- 2017-04-04 WO PCT/JP2017/014035 patent/WO2017212759A1/ja active Application Filing
- 2017-04-04 MY MYPI2018002133A patent/MY190307A/en unknown
- 2017-06-08 TW TW106119114A patent/TWI777959B/zh active
-
2022
- 2022-07-14 US US17/864,886 patent/US11658251B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3471150A4 (en) | 2020-04-22 |
CN109392312B (zh) | 2022-05-17 |
WO2017212759A1 (ja) | 2017-12-14 |
US11658251B2 (en) | 2023-05-23 |
MY190307A (en) | 2022-04-13 |
KR20190016493A (ko) | 2019-02-18 |
JP6644884B2 (ja) | 2020-02-12 |
US11424372B2 (en) | 2022-08-23 |
EP3471150B1 (en) | 2021-03-24 |
TWI777959B (zh) | 2022-09-21 |
US20220352396A1 (en) | 2022-11-03 |
TW201813113A (zh) | 2018-04-01 |
KR102312039B1 (ko) | 2021-10-12 |
US20200185547A1 (en) | 2020-06-11 |
CN109392312A (zh) | 2019-02-26 |
EP3471150A1 (en) | 2019-04-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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