JPWO2017057715A1 - 異物検査装置及び異物検査システム - Google Patents

Abstract

異物検査装置は、被検査物を搬送する搬送部と、Ｘ線の透過性を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる異物を検出するＸ線検査部と、磁界と金属との相互作用を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる異物を検出する金属検出部と、搬送部の少なくとも一部、Ｘ線検査部、及び金属検出部を内部に収容する筐体と、Ｘ線検査部の結果データと金属検出部の結果データとを関連付けて記憶部に記憶するデータ管理部と、を備える。

Description

本開示は、異物検査装置及び異物検査システムに関する。

特許文献１には、Ｘ線の透過性を利用して被検査物に含まれる異物を検出するＸ線検査と、磁界と金属との相互作用を利用して被検査物に含まれる異物を検出する金属検出との両方を行うことができる異物検査装置が記載されている。

特開２０１５−２８４６５号公報

特許文献１記載の異物検査装置では、金属検出では検出することが困難な非金属異物をＸ線検査で検出し、Ｘ線検査では検出することが困難な密度の低い異物を金属検出で検出することにより、異物検出の精度を高めている。しかしながら、特許文献１記載の異物検査装置では、例えば一方の結果データを用いて他方の検出閾値などの設定を調整するといったデータ活用を行うことができていない。

本開示は、Ｘ線検査の結果データと金属検出の結果データとを関連付けて利用することができる異物検査装置及び異物検査システムを提供することを目的とする。

本開示の一形態に係る異物検査装置は、被検査物を搬送する搬送部と、Ｘ線の透過性を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる異物を検出するＸ線検査部と、磁界と金属との相互作用を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる異物を検出する金属検出部と、搬送部の少なくとも一部、Ｘ線検査部、及び金属検出部を内部に収容する筐体と、Ｘ線検査部の結果データと金属検出部の結果データとを関連付けて記憶部に記憶するデータ管理部と、を備える。

この異物検査装置によれば、データ管理部により、Ｘ線検査部の結果データと金属検出部の結果データとが関連付けられて記憶部に記憶される。このため、Ｘ線検査の結果データと金属検出の結果データとを関連付けて利用することができる。

本開示の一形態に係る異物検査装置では、データ管理部は、Ｘ線検査部の検査時刻と、金属検出部の検出時刻とを用いて、Ｘ線検査部の結果データと金属検出部の結果データとを関連付けてもよい。検査時刻を用いることにより、同一の被検査物に対するＸ線検査部の結果データと金属検出部の結果データとを関連付けることができる。

本開示の一形態に係る異物検査装置では、データ管理部は、Ｘ線検査部又は金属検出部が異物を検出した場合には、Ｘ線検査部の結果データと金属検出部の結果データとを関連付けて記憶部に記憶してもよい。この場合、Ｘ線検査部及び金属検出部の一方が異物を検出した場合には、他方が異物を検出しない場合であっても両方の結果データを関連付けて記憶することができる。このため、異物が存在したにも関わらず異物が検出されなかった検査の設定などを事後的に検証することができる。

本開示の他形態に係る異物検査システムは、被検査物を搬送する搬送部と、Ｘ線の透過性を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる異物を検出するＸ線検査部と、磁界と金属との相互作用を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる異物を検出する金属検出部と、記憶部と、Ｘ線検査部の結果データと金属検出部の結果データとを関連付けて記憶部に記憶するデータ管理部と、を備える。

この異物検査システムによれば、上述した異物検査装置と同一の効果を奏する。

本開示によれば、Ｘ線検査の結果データと金属検出の結果データとを関連付けて利用することができる。

図１は、実施形態に係る異物検査装置の正面図である。 図２は、図１に示される異物検査装置の内部構成及び制御系を説明する概念図である。 図３は、図２のＸ線検査部及び金属検出部の主要構成の説明図である。 図４は、図２のＸ線検査部及び金属検出部の主要構成の斜視図である。 図５は、図１に示される異物検査装置のデータ管理の一例に関する機能ブロック図である。 図６は、図１に示される図１に示される異物検査装置のデータ管理の一例である。 図７は、図１に示される異物検査装置のデータ管理処理の一例を示すフローチャートである。 図８は、実施形態に係る異物検査システムの機能ブロック図である。

以下、図面を参照して、本開示の実施形態について説明する。なお、以下の説明において、同一又は相当要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。

図１は実施形態に係る異物検査装置１の正面図である。図１に示される異物検査装置１は、被検査物に含まれる異物を検出する装置である。被検査物は例えば食品である。異物検査装置１は、その内部において被検査物を搬送しつつＸ線検査及び金属検出を行い、被検査物に異物が含まれるか否かを検査する。

Ｘ線検査は、Ｘ線の透過性を利用して被検査物に含まれる異物を検出する手法であり、Ｘ線検査部２（図２参照）によって実現される。Ｘ線検査では、被検査物とは異なるＸ線透過性を有する異物を検出することができる。一方、金属検出は、磁界と金属との相互作用を利用して被検査物に含まれる異物を検出する手法であり、金属検出部３（図２参照）によって実現される。金属検出では金属異物を検出することができる。Ｘ線検査部２及び金属検出部３の詳細については後述する。

異物検査装置１は、その内部に空間が画成された筐体４を有する。筐体４は、Ｘ線検査部２及び金属検出部３を内部に収容する。筐体４は、Ｘ線検査部２により発生されるＸ線を遮蔽し、Ｘ線の外部漏洩を抑制する。筐体４は、例えばステンレスなどで形成される。

筐体４は、本実施形態では箱状を呈している。筐体４の左側面には、筐体４の内部に連通する開口部４ａが形成されている。同様に、筐体４の右側面には、筐体４の内部に連通する開口部４ｂが形成されている。本実施形態では、被検査物は、開口部４ａから筐体４の内部へ搬入されて検査が行われ、開口部４ｂから筐体４の外部へ搬出される。つまり、開口部４ａが被検査物の搬入口、開口部４ｂが被検査物の搬出口となる。

筐体４の前面には、筐体４を開閉する上部扉４０及び下部扉４１が設けられている。上部扉４０及び下部扉４１は、例えば開き戸構造である。上部扉４０又は下部扉４１が開閉されることで、後述するＸ線検査部２及び金属検出部３の少なくとも一部が外部に露出される。上部扉４０及び下部扉４１は、例えばステンレスなどで形成される。

上部扉４０の前面には、ディスプレイ５及び操作スイッチ６が設けられている。ディスプレイ５は、表示機能と入力機能とを兼ね備えた表示装置であり、例えばタッチパネルである。ディスプレイ５は、Ｘ線検査及び金属検出の結果などを表示するとともに、金属検出及びＸ線検査に関する各種パラメータの設定を行う操作画面を表示する。操作スイッチ６は、Ｘ線検査部２及び金属検出部３の電源スイッチなどである。

筐体４は、支持台７によって支持されている。筐体４の上面には、報知部８及びクーラー９が設けられている。報知部８は、異物混入や機器の作動状態を報知する。報知部８は、Ｘ線検査部２に対応する第１報知器８１、及び金属検出部３に対応する第２報知器８２を備えている。クーラー９は、筐体４の内部に冷気を送り、筐体４の内部に配置された機器の温度を調整する。

図２は、図１に示される異物検査装置１の内部構成及び制御系を説明する概念図である。図２に示されるように、筐体４の内部は、後述するＸ線発生器の一部や構成要素の制御基板などが配置される基板室Ｔ１と、被検査物Ｓが搬入されて検査が行われる検査室Ｔ２とに区画されている。基板室Ｔ１は、上述したクーラー９によって温度調整されている。

検査室Ｔ２には、被検査物Ｓを搬送するコンベヤ（搬送部）１０が配置されている。コンベヤ１０は、本実施形態ではローラ式のベルトコンベヤであり、一端部が開口部４ａに位置し且つ他端部が開口部４ｂに位置した状態で、筐体４の内部を水平方向に延在している。つまり、筐体４は、コンベヤ１０のうち一端部及び他端部を除く部分を内部に収容している。本実施形態のコンベヤ１０は、開口部４ａを介して被検査物Ｓを筐体４の内部に搬入し、開口部４ｂを介して被検査物Ｓを筐体４の外部に搬出する。

開口部４ａには、Ｘ線遮蔽カーテン４２が配置されている。同様に、開口部４ｂには、Ｘ線遮蔽カーテン４３が配置されている。Ｘ線遮蔽カーテン４２，４３は、上端が筐体４に対する固定端であり且つ下端が自由端である。Ｘ線遮蔽カーテン４２，４３は、Ｘ線検査部２が発生したＸ線を遮蔽し、Ｘ線の外部漏洩を抑制する。Ｘ線遮蔽カーテン４２，４３は、例えばタングステンを含有する可撓性材料などにより形成される。なお、被検査物Ｓの搬入及び搬出を自動化すべく、コンベヤ１０の右側に搬入用コンベヤ１１を配置し、コンベヤ１０の左側に搬出用コンベヤ１２を配置してもよい。また、搬出用コンベヤ１２が、被検査物Ｓの振分機能を備えていてもよい。

検査室Ｔ２には、被検査物Ｓを通過させるための貫通穴３１ａが形成された環状体のケース３１が配置されている。コンベヤ１０は、貫通穴３１ａを介してケース３１を貫通している。被検査物Ｓは、コンベヤ１０によってケース３１の貫通穴３１ａを通過し、ケース３１においてＸ線検査及び金属検出が順次実行される。ケース３１は、例えばステンレスなどで形成される。

最初に、Ｘ線検査を行うＸ線検査部２について説明する。Ｘ線検査部２は、Ｘ線検査制御部２０、Ｘ線発生器２１、及びＸ線検出器２２を備える。Ｘ線発生器２１は、Ｘ線を発生するＸ線源、及びスリット機構を含む。Ｘ線検出器２２は、Ｘ線発生器２１で発生したＸ線を検出する。Ｘ線発生器２１及びＸ線検出器２２は、コンベヤ１０及びケース３１を上下方向から挟むように対向配置されている。なお、Ｘ線発生器２１のうち、Ｘ線源などは基板室Ｔ１に配置され、Ｘ線を照射する機構が検査室Ｔ２に配置されている。Ｘ線検出器２２としては、例えば複数のＸ線検出センサを前後方向に沿って並設したラインセンサが用いられる。Ｘ線検出器２２は、Ｘ線漏洩を低減させるために、基板ケース２３に収容されている。基板ケース２３には、Ｘ線検出器２２へＸ線を到達させるために、スリット２３ａ（図４参照）が設けられている。

Ｘ線検査制御部２０は、外部との信号の入出力などを行う入出力インターフェースＩ／Ｏ、処理を行うためのプログラムおよび情報などが記憶されたＲＯＭ（Read Only Memory）、データを一時的に記憶するＲＡＭ（Random Access Memory）、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）などの記憶媒体、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、及び通信回路などを有する。Ｘ線検査制御部２０は、ＣＰＵが出力する信号に基づいて、入力データをＲＡＭに記憶し、ＲＯＭに記憶されているプログラムをＲＡＭにロードし、ＲＡＭにロードされたプログラムを実行することで、後述する機能を実現する。

Ｘ線検査制御部２０は、基板室Ｔ１に配置され、Ｘ線発生器２１及びＸ線検出器２２に接続されている。Ｘ線検査制御部２０は、ディスプレイ５に接続され、操作画面を介して作業員から操作情報を受け付ける。Ｘ線検査制御部２０は、操作情報に基づいてＸ線発生器２１及びＸ線検出器２２の動作プロファイルを設定するとともに、Ｘ線発生器２１及びＸ線検出器２２の動作を制御する。Ｘ線検査制御部２０は、Ｘ線発生器２１及びＸ線検出器２２よりも上流側に配置されたレーザセンサ２４を用いて被検査物Ｓを検出した場合、当該被検査物Ｓの検査を開始する。Ｘ線検査制御部２０は、Ｘ線発生器２１を制御して、コンベヤ１０によって搬送されている被検査物ＳにＸ線を照射させる。Ｘ線検出器２２は、被検査物Ｓを透過したＸ線のＸ線透過量を計測し、計測したＸ線透過量をＸ線検査制御部２０へ出力する。

Ｘ線検査制御部２０は、時系列で取得したＸ線透過量を画素値に反映させたＸ線透過画像を生成する。そして、Ｘ線検査制御部２０は、画像処理技術によりＸ線透過画像を解析して、異物を検出する。例えば、Ｘ線検査制御部２０は、Ｘ線透過画像の画素値に基づいて、被検査物Ｓの基準透過率との差が所定値以上となる画像領域が存在するか否かを判定する。そして、Ｘ線検査制御部２０は、被検査物Ｓの基準透過率との差が所定値以上となる画像領域が存在する場合には、異物を検出したと判定する。

Ｘ線検査制御部２０は、作業員からの要求に応じて、Ｘ線検査の結果データをディスプレイ５に表示させたり、記憶部に結果データを記憶したりする。また、Ｘ線検査制御部２０は、Ｘ線発生器２１及びＸ線検出器２２が正常に作動している場合、第１報知器８１を用いてＸ線検査に係る機器が作動中である旨を作業員に報知する。さらに、Ｘ線検査制御部２０は、異物を検出したと判定した場合、第１報知器８１を用いて異物を検知した旨を作業員に報知する。

図３は、図２のＸ線検査部２及び金属検出部３の主要構成の説明図である。図４は、図２のＸ線検査部２及び金属検出部３の主要構成の斜視図である。図３及び図４に示されるように、ケース３１は、本体部３２、第１フード部３３、及び第２フード部３４を有する。第１フード部３３は、本体部３２に対して開口部４ａ側（搬入口側）に設けられている。第２フード部３４は、本体部３２に対して開口部４ｂ側（搬出口側）に設けられている。上述したケース３１の貫通穴３１ａは、本体部３２、第１フード部３３、及び第２フード部３４それぞれの内壁によって画成されている。

第１フード部３３の上面には、Ｘ線を通過させるＸ線通過スリット３３ａがＸ線発生器２１の下方に位置するように形成されている。第１フード部３３の下面には、Ｘ線を通過させるＸ線通過スリット３３ｂがＸ線通過スリット３３ａと対向するように形成されている。Ｘ線通過スリット３３ｂの下方には、Ｘ線検出器２２が配置される。このように構成することで、Ｘ線発生器２１が発生したＸ線２１ａは、Ｘ線通過スリット３３ａ，３３ｂを通過し、ケース３１の内部を搬送されている被検査物Ｓに照射される。なお、第１フード部３３の側面において、Ｘ線通過スリット３３ａ，３３ｂよりも下流側（本体部３２側）にはスリット３３ｃが設けられている。スリット３３ｃには、レーザセンサ３８が配置される。レーザセンサ３８は、スリット３３ｃを介してコンベヤ１０上の被検査物Ｓにレーザを照射する。

次に、金属検出を行う金属検出部３について説明する。金属検出部３は、金属検出制御部３０、サーチコイルである環状の送信コイル３５、及びサーチコイルである環状の受信コイル３６，３７を備える。送信コイル３５及び受信コイル３６，３７は、金属などの導電性材料で形成され、ケース３１の本体部３２の内部に配置されている。送信コイル３５及び受信コイル３６，３７は、貫通穴３１ａの延在方向と同軸に配置されている。つまり、送信コイル３５及び受信コイル３６，３７は、貫通穴３１ａを囲むように配置されている。これにより、被検査物Ｓは、コンベヤ１０によって送信コイル３５及び受信コイル３６，３７を通過する。

送信コイル３５は、受信コイル３６，３７間に配置されている。受信コイル３６，３７は、互いに差動接続されるとともに送信コイル３５に対して対称に配置されている。２つの受信コイル３６，３７は、同一の鎖交磁束を有する。送信コイル３５は、通電可能に構成されており、磁束を発生する。受信コイル３６，３７それぞれには、送信コイル３５が発生した磁界の電磁誘導によって電圧が励起する。なお、第１フード部３３及び第２フード部３４は、送信コイル３５が発生した磁界の外部漏洩と外来磁界の進入とを遮蔽する。

金属検出制御部３０は、外部との信号の入出力などを行う入出力インターフェースＩ／Ｏ、処理を行うためのプログラムおよび情報などが記憶されたＲＯＭ、データを一時的に記憶するＲＡＭ、ＨＤＤなどの記憶媒体、ＣＰＵ、及び通信回路などを有する。金属検出制御部３０は、ＣＰＵが出力する信号に基づいて、入力データをＲＡＭに記憶し、ＲＯＭに記憶されているプログラムをＲＡＭにロードし、ＲＡＭにロードされたプログラムを実行することで、後述する機能を実現する。

金属検出制御部３０は、基板室Ｔ１に配置されるとともにＸ線検査制御部２０に接続され、Ｘ線検査制御部２０を介してディスプレイ５の操作画面に入力された作業員からの操作情報を受け付ける。金属検出制御部３０は、操作情報に基づいて送信コイル３５及び受信コイル３６，３７の動作プロファイルを設定する。金属検出制御部３０は、送信コイル３５及び受信コイル３６，３７よりも上流側に配置されたレーザセンサ３８を用いて被検査物Ｓを検出した場合、当該被検査物Ｓの金属検出を開始する。

金属検出制御部３０は、送信コイル３５へ交番励磁電流を供給し、磁束を発生させる。送信コイル３５によって発生された磁束は、２つの受信コイル３６，３７を貫通し、電磁誘導によって受信コイル３６，３７それぞれに電圧が励起される。金属検出制御部３０は、受信コイル３６，３７の差動接続の出力電圧を取得して、金属検出の判定を行う。金属検出制御部３０は、差動接続の出力電圧が０のときは、金属異物を検出していないと判定する。一方、金属検出制御部３０は、差動接続の出力電圧が０でないときは、金属異物を検出したと判定する。

金属検出制御部３０は、作業員からの要求に応じて、金属検出の結果データをディスプレイ５に表示させたり、記憶部に結果データを記憶したりする。また、金属検出制御部３０は、送信コイル３５及び受信コイル３６，３７が正常に作動している場合、第２報知器８２を用いて金属検出に係る機器が作動中である旨を作業員に報知する。さらに、金属検出制御部３０は、異物を検出したと判定した場合、第２報知器８２を用いて異物を検知した旨を作業員に報知する。なお、ケース３１は、耐振特性向上の目的で防振台３９（防振台３９ａ，３９ｂ）により保持されていてもよい。

上述したＸ線検査部２及び金属検出部３は、それぞれ独立に作動可能に構成されている。つまり、異物検査装置１は、Ｘ線検査及び金属検出の両方を行うだけでなく、Ｘ線検査及び金属検出の何れか一方を実行することもできる。上述のとおり、本実施形態では、Ｘ線検査部２がディスプレイ５の表示制御を行うため、Ｘ線検査部２が停止している場合には、ディスプレイ５に金属検出部３の操作画面が表示されない。このため、筐体４の内部には、金属検出部３に接続されたサブディスプレイ（不図示）が配置されている。金属検出部３は、Ｘ線検査部２が停止している場合には、サブディスプレイを介して操作情報を受け付け、サブディスプレイに結果データなどを表示する。

次に、異物検査装置１のデータ管理について説明する。図５は、図１に示される異物検査装置１のデータ管理の一例に関する機能ブロック図である。図５に示されるように、Ｘ線検査制御部２０は、第１記憶部２１１（記憶部の一例）を備えている。また、金属検出制御部３０は、第２記憶部３１０を備えている。第１記憶部２１１及び第２記憶部３１０は、電源をＯＦＦした場合であっても記憶を保持する不揮発性の記憶媒体であり、例えばフラッシュメモリ又はＨＤＤなどである。

最初にＸ線検査制御部２０による基本的なデータ管理について説明する。Ｘ線検査制御部２０は、Ｘ線検査の結果データを第１記憶部２１１に記憶する。Ｘ線検査の結果データとは、Ｘ線検査において取得された情報である。Ｘ線検査の結果データは、例えば、Ｘ線検査の異物判定に用いられた情報である。より具体的な一例としては、Ｘ線検査の結果データは、Ｘ線透過量を画素値に反映させたＸ線透過画像又はＸ線透過画像を加工した処理画像などである。

Ｘ線検査制御部２０は、Ｘ線検査の結果データとＸ線検査部２の検査時刻とを関連付けて第１記憶部２１１に記憶してもよい。Ｘ線検査部２の検査時刻とは、例えばレーザセンサ２４を用いて被検査物Ｓを検出した時刻であってもよいし、結果データの生成又は検査が完了した時刻であってもよい。Ｘ線検査制御部２０は、例えばＸ線検査制御部２０に備わるリアルタイムクロックの時計機能により時刻を取得する。

Ｘ線検査制御部２０は、Ｘ線検査の結果データとＸ線検査の検査結果とを関連付けて第１記憶部２１１に記憶してもよい。Ｘ線検査の検査結果とは、例えば、異物を検出したか否かを示す判定結果である。Ｘ線検査の検査結果は、例えば、異物を検出しないことを示す「ＯＫ」という情報、または、異物を検出したことを示す「ＮＧ」という情報である。

図６は、図１に示される異物検査装置１のデータ管理の一例である。図６の（Ａ）は、Ｘ線検査制御部２０のデータ管理の一例である。図６の（Ａ）に示されるように、Ｘ線検査制御部２０は、検査時刻、Ｘ線検査結果データ及び判定結果をテーブル形式で管理する。例えば、Ｘ線検査結果データ「Ａ１」は、検査時刻「Ｔ１」及び判定結果「ＯＫ」と関連付けられている。例えば、Ｘ線検査結果データ「Ａ２」は、検査時刻「Ｔ２」及び判定結果「ＮＧ」と関連付けられている。

なお、Ｘ線検査制御部２０は、Ｘ線検査の結果データとＸ線検査の設定情報とを関連付けて第１記憶部２１１に記憶してもよい。Ｘ線検査の設定情報とは、Ｘ線検査を行うために作業員又は自動で設定された情報である。Ｘ線検査の設定情報は、例えば、Ｘ線出力値、Ｘ線画像処理のパラメータ、異物検出の閾値などである。Ｘ線画像処理のパラメータとは、例えば、Ｘ線透過量を画素値へ変換する画像フィルタのパラメータである。異物検出の閾値とは、例えば、被検査物Ｓの基準透過率との差がどの程度であれば異物であると判定するのかを決定する閾値である。

さらに、Ｘ線検査制御部２０は、Ｘ線検査の結果データをＲＯＭなどに一時的に記憶し、データ記憶条件を満たしたときに、Ｘ線検査の結果データを第１記憶部２１１に記憶してもよい。データ記憶条件とは、結果データの記憶の要否を判断するための基準である。データ記憶条件の一例は、異物を検出した場合（検査結果が「ＮＧ」の場合）である。あるいは、データ記憶条件は、ディスプレイ５の操作画面を介して、作業員の記憶指示を受け付けた場合であってもよいし、第１記憶部２１１の記憶可能な容量が閾値以下となった場合であってもよい。Ｘ線検査の結果データは画像であるため、制限無く記憶した場合には第１記憶部２１１の容量を超えてしまうおそれがある。Ｘ線検査制御部２０は、データ記憶条件を用いてデータ管理を行うことで、第１記憶部２１１の容量を有効活用したり、容量を適正な値に維持したりすることができる。

次に、金属検出制御部３０による基本的なデータ管理について説明する。金属検出制御部３０は、金属検出の結果データを第２記憶部３１０に記憶する。金属検出の結果データとは、金属検出において取得された情報である。金属検出の結果データは、例えば、金属検出の金属異物判定に用いられた情報である。より具体的な一例としては、金属検出の結果データは、差動接続の出力電圧のグラフや出力電圧のピーク値である。

金属検出制御部３０は、金属検出の結果データと金属検出部３の検出時刻とを関連付けて第２記憶部３１０に記憶してもよい。金属検出部３の検出時刻とは、例えばレーザセンサ３８を用いて被検査物Ｓを検出した時刻であってもよいし、結果データの生成又は検出が完了した時刻であってもよい。金属検出制御部３０は、例えば金属検出制御部３０に備わるリアルタイムクロックの時計機能により時刻を取得する。

金属検出制御部３０は、金属検出の結果データと金属検出の検出結果とを関連付けて第２記憶部３１０に記憶してもよい。金属検出の検出結果とは、例えば、金属異物を検出したか否かを示す判定結果である。金属検出の検出結果は、例えば、金属異物を検出しないことを示す「ＯＫ」という情報、または、金属異物を検出したことを示す「ＮＧ」という情報である。

図６の（Ｂ）は、金属検出制御部３０のデータ管理の一例である。図６の（Ｂ）に示されるように、金属検出制御部３０は、検査時刻、金属検出結果データ及び判定結果をテーブル形式で管理する。例えば、金属検出結果データ「Ｂ１」は、検出時刻「Ｔ１」及び判定結果「ＯＫ」と関連付けられている。例えば、金属検出結果データ「Ｂ２」は、検査時刻「Ｔ２」及び判定結果「ＮＧ」と関連付けられている。

なお、金属検出制御部３０は、金属検出の結果データと金属検出の設定情報とを関連付けて第２記憶部３１０に記憶してもよい。金属検出の設定情報とは、金属検出を行うために作業員又は自動で設定された情報である。金属検出の設定情報は、例えば、交番励磁電流値、金属異物検出の閾値などである。金属異物検出の閾値とは、例えば、２つの受信コイル３６，３７の励起電圧の差がどの程度であれば異物であると判定するのかを決定する閾値である。例えば、差動接続の出力電圧が０のときに異物を検出するとしている場合には、閾値は０に設定されている。

さらに、金属検出制御部３０は、金属検出の結果データをＲＯＭなどに一時的に記憶し、データ記憶条件を満たしたときに、金属検出の結果データを第２記憶部３１０に記憶してもよい。データ記憶条件は、Ｘ線検査制御部２０で説明した内容と同一である。なお、金属検出制御部３０のデータ記憶条件は、Ｘ線検査制御部２０のデータ記憶条件と異なってもよい。

次に、異物検査装置１におけるＸ線検査及び金属検出の結果データを相互に活用するデータ管理について説明する。上述したように、Ｘ線検査制御部２０と金属検出制御部３０とは双方向通信可能である。Ｘ線検査制御部２０のデータ管理部２１０は、金属検出制御部３０から金属検出に係る情報を取得して、両者の結果データを関連付ける。金属検出に係る情報の取得タイミングは、金属検出が行われたタイミングであってもよいし、金属検出が行われた後の所定タイミングであってもよい。所定タイミングは、一定時間経過したタイミング、装置の電源ＯＦＦの直前のタイミングなどである。

データ管理部２１０は、Ｘ線検査部２の検査時刻と、金属検出部３の検出時刻とを用いて、Ｘ線検査部２の結果データと金属検出部３の結果データとを関連付ける。例えば、データ管理部２１０は、Ｘ線検査部２の検査時刻と金属検出部３の検出時刻とが所定の時間範囲内である場合に、Ｘ線検査部２の結果データと金属検出部３の結果データとを関連付ける。所定の時間範囲は、同一の被検査物Ｓに対するＸ線検査及び金属検出の実行時間差を用いて定められる。具体的には、所定の時間範囲は、Ｘ線検査及び金属検出が行われる位置およびコンベヤ１０の搬送速度に依存して決定される。なお、以下では、説明理解の容易性を考慮し、同一の被検査物Ｓに対するＸ線検査及び金属検出の実行タイミングに時間差が無いものとして説明する。

データ管理部２１０は、Ｘ線検査部２の結果データと金属検出部３の結果データとを関連付けて第１記憶部２１１に記憶する。データ管理部２１０は、第１記憶部２１１に両者の関連性のみ（例えば、データを特定可能な識別子のみ）を記憶してもよいし、両者の結果データを１つのデータとして纏めて記憶してもよい。

識別子を用いる場合、データ管理部２１０は、金属検出制御部３０から金属検出の結果データを特定可能な識別子を取得する。そして、データ管理部２１０は、取得した金属検出の識別子と、Ｘ線検査の結果データの識別子とを関連付けて記憶する。両者の結果データを１つのデータとする場合、データ管理部２１０は、金属検出制御部３０から、金属検出の結果データを取得する。そして、データ管理部２１０は、取得した金属検出の結果データと、Ｘ線検査の結果データとを１つのデータとして纏めて記憶する。

データ管理部２１０は、関連条件が満たされた場合のみ、Ｘ線検査部２の結果データと金属検出部３の結果データとを関連付けて第１記憶部２１１に記憶してもよい。関連条件とは、データ管理部２１０が両者の結果データを関連付けるか否かを判定するための条件である。関連条件が満たされた場合とは、例えば、Ｘ線検査部２又は金属検出部３が異物を検出した場合、又は、ディスプレイ５の操作画面を介して作業員の関連付け指示を受け付けた場合などである。

図６の（Ｃ）は、データ管理部２１０のデータ管理の一例である。図６の（Ｃ）に示されるように、データ管理部２１０は、Ｘ線検査部２又は金属検出部３が異物を検出した場合のみ、Ｘ線検査部２の結果データと金属検出部３の結果データとを関連付けて記憶する。例えば、検査時刻「Ｔ１」のＸ線検査データ「Ａ１」の判定結果は「ＯＫ」であり、検出時刻「Ｔ１」の金属検出データ「Ｂ１」の判定結果は「ＯＫ」である。この場合、データ管理部２１０は、Ｘ線検査データ「Ａ１」と金属検出データ「Ｂ１」とを関連付けない。例えば、検査時刻「Ｔ２」のＸ線検査データ「Ａ２」の判定結果は「ＮＧ」であり、検出時刻「Ｔ２」の金属検出データ「Ｂ２」の判定結果は「ＮＧ」である。この場合、データ管理部２１０は、Ｘ線検査データ「Ａ２」と金属検出データ「Ｂ２」とを関連付ける。例えば、検査時刻「Ｔ５」のＸ線検査データ「Ａ５」の判定結果は「ＮＧ」であり、検出時刻「Ｔ５」の金属検出データ「Ｂ５」の判定結果は「ＯＫ」である。この場合、データ管理部２１０は、Ｘ線検査データ「Ａ５」と金属検出データ「Ｂ５」とを関連付ける。このように、データ管理部２１０は、Ｘ線検査部２又は金属検出部３が異物を検出した場合のみ、Ｘ線検査部２の結果データと金属検出部３の結果データとを関連付けてもよい。

データ管理部２１０は、図６の（Ｃ）に示されたＸ線検査結果データ及び金属検出結果データのみを保護し、その他のデータ（両方の判定結果が「ＯＫ」の結果データ）を削除してもよい。データ管理部２１０は、例えばデータ生成から一定時間経過した場合、両方の判定結果が「ＯＫ」の結果データを削除してもよい。

次に、異物検査装置１のデータ管理処理の一例について説明する。図７は、図１に示される異物検査装置１のデータ管理処理の一例を示すフローチャートである。図７に示されるフローチャートは、例えば異物検査装置１の電源ＯＮのタイミングで実行される。なお、図７においては、Ｘ線検査部２及び金属検出部３が結果データを一時的な記憶媒体に保存し、データ管理部２１０によって記憶が必要と判断された場合のみ、結果データが不揮発性の記憶媒体に保存される例を説明する。

最初に、異物検査装置１のＸ線検査部２は、Ｘ線検査処理（Ｓ１０）を行う。Ｘ線検査部２は、Ｘ線検査処理（Ｓ１０）として、被検査物ＳにＸ線を照射し、Ｘ線透過画像及び検査時刻を取得してＲＯＭなどに一時的に記憶し、画像処理を施して異物判定を行う。

次に、異物検査装置１の金属検出部３は、金属検出処理（Ｓ１２）を行う。金属検出部３は、金属検出処理（Ｓ１２）として、被検査物Ｓがサーチコイルを通過するときの差動接続の出力電圧及び検出時刻を取得してＲＯＭなどに一時的に記憶し、異物判定を行う。

次に、異物検査装置１のデータ管理部２１０は、関連条件判定処理（Ｓ１４）を行う。データ管理部２１０は、関連条件判定処理（Ｓ１４）として、検査時刻及び検出時刻に基づいて、同一の被検査物Ｓに対するＸ線検査の判定結果及び金属検出の判定結果を特定する。そして、データ管理部２１０は、Ｘ線検査の判定結果及び金属検出の判定結果の何れか一方に「ＮＧ」があるか否かを判定する。

関連条件判定処理（Ｓ１４）において、両者の判定結果の何れかに「ＮＧ」があると判定された場合、データ管理部２１０は、記憶処理（Ｓ１６）を行う。データ管理部２１０は、記憶処理（Ｓ１６）として、両者の結果データを関連付けて第１記憶部２１１に記憶する。

一方、関連条件判定処理（Ｓ１４）において、両者の判定結果の何れかに「ＮＧ」があると判定されない場合、つまり両者の判定結果が何れも「ＯＫ」である場合には、データ管理部２１０は、データを関連付けることなく、図７に示す処理を終了する。

以上、図７に示されるフローチャートが実行されることにより、Ｘ線検査の判定結果及び金属検出の判定結果の何れか一方に「ＮＧ」がある場合に、両者の結果データが関連付けられて第１記憶部２１１に記憶される。

上述したように、本実施形態に係る異物検査装置１によれば、データ管理部２１０により、Ｘ線検査部２の結果データと金属検出部３の結果データとが関連付けられて第１記憶部２１１に記憶される。このため、Ｘ線検査の結果データと金属検出の結果データとを関連付けて利用することができる。

また、本実施形態に係る異物検査装置１によれば、データ管理部２１０は、Ｘ線検査部２又は金属検出部３が異物を検出した場合には、Ｘ線検査部２の結果データと金属検出部３の結果データとを関連付けて第１記憶部２１１に記憶することができる。この場合、Ｘ線検査部２及び金属検出部３の一方が異物を検出した場合には、他方が異物を検出しない場合であっても両方の結果データを関連付けて記憶することができる。このため、異物が存在したにも関わらず異物が検出されなかった検査の設定などを事後的に検証することができる。例えば、結果データと設定情報とをさらに関連付けて記憶している場合、異物が検出されなかった検査の設定情報を見直すことができる。さらに、結果データを記憶する記憶部の容量圧迫を回避することができる。

以上、本開示の一実施形態について説明したが、本開示の一形態は、上述した実施形態に限定されるものではない。

上述した実施形態において、データ管理部２１０がＸ線検査制御部２０に備わる例を示したが、データ管理部２１０が金属検出制御部３０に備わっていてもよい。この場合、データ管理部２１０は、Ｘ線検査制御部２０から情報を取得し、両者のデータを関連付けて第２記憶部３１０に記憶すればよい。また、データ管理部２１０は、Ｘ線検査制御部２０及び金属検出制御部３０以外の制御基板として用意されてもよい。

また、第１記憶部２１１及び第２記憶部３１０は、異物検査装置１が備えるものに限定されず、異物検査装置１に外部接続するメモリ又は外付けＨＤＤなどであってもよい。

また、上述した実施形態において、被検査物Ｓを開口部４ａから開口部４ｂへ搬送する例を示したが、搬送方向を逆にしてもよい。この場合、レーザセンサ２４を開口部４ｂと第２フード部３４との間に配置し、第２フード部３４の側面にスリットを設けてレーザセンサ３８を配置すればよい。

また、上述した実施形態において、筐体４の内部にコンベヤ１０の一部を配置する例を示したが、コンベヤ１０はその全てが筐体４の内部に収容されていてもよい。

また、上述した実施形態において、Ｘ線検査部２及び金属検出部３の判定結果が「ＯＫ」又は「ＮＧ」である例を示したが、判定結果に画像データなどが含まれてもよい。

異物検査装置１は、構成要素の一部が物理的に分離したシステムとして構成されていてもよい。図８は、実施形態に係る異物検査システム１００の機能ブロック図である。異物検査システム１００は、異物検査装置１に対応する構成要素を備えている。異物検査システム１００は、異物検査装置１と比べて、Ｘ線検査部２、金属検出部３及びデータ管理部２１０がそれぞれ物理的に分離している点、並びに、第３記憶部５０（記憶部の一例）を備える点が相違し、その他は同一である。つまり、異物検査システム１００と異物検査装置１とを比較すると、記憶部の数及び構成要素の配置のみが異なる。以下では、異物検査装置１との相違点を中心に説明し、重複する説明は省略する。

異物検査システム１００は、コンベヤ１０、Ｘ線検査部２Ａ、金属検出部３、データ管理部２１０Ａ及び第３記憶部５０を備える。Ｘ線検査部２Ａは、金属検出部３と物理的に分離している。例えば、筐体４と同一構成の筐体がコンベヤ１０に対して２つ設けられており、Ｘ線検査部２Ａは第１の筐体に収容され、金属検出部３は第２の筐体に収容される。

Ｘ線検査部２Ａは、第１記憶部２１１Ａを有するＸ線検査制御部２０Ａ、Ｘ線発生器２１、及び、Ｘ線検出器２２を備える。Ｘ線検査制御部２０Ａ、Ｘ線発生器２１及びＸ線検出器２２は、例えば、上述した第１の筐体内に収容される。金属検出部３は、第２記憶部３１０を有する金属検出制御部３０、送信コイル３５、及び、受信コイル３６，３７を備える。金属検出制御部３０、送信コイル３５及び受信コイル３６，３７は、例えば、上述した第２の筐体内に収容される。

データ管理部２１０Ａ及び第３記憶部５０は、Ｘ線検査部２Ａ及び金属検出部３と物理的に分離している。つまり、データ管理部２１０Ａ及び第３記憶部５０は、第１の筐体外であって第２の筐体外に配置されている。Ｘ線検査部２Ａ、金属検出部３、データ管理部２１０Ａ及び第３記憶部５０は、通信を介してそれぞれ接続されている。第３記憶部５０は、電源をＯＦＦした場合であっても記憶を保持する不揮発性の記憶媒体であり、例えばフラッシュメモリ又はＨＤＤなどである。

異物検査装置１においては、Ｘ線検査の結果が第１記憶部２１１に記憶され、金属検査の結果が第２記憶部３１０に記憶される。そして、Ｘ線検査部２Ａの結果データと金属検出部３の結果データとの関連付けに関するデータは、データ管理部２１０によって第１記憶部２１１に記憶される。これに対して、異物検査システム１００においては、関連付けに関するデータが、データ管理部２１０Ａによって第３記憶部５０に記憶される。つまり、異物検査システム１００においては、異物検査装置１におけるデータ関連付け機能に関する構成要素が異物検査装置１の外部に配置されている。異物検査システム１００のその他の構成や機能については、異物検査装置１と同一である。

上述した異物検査システム１００は、異物検査装置１と同一の効果を奏する。なお、異物検査システム１００は、Ｘ線検査部２Ａ、金属検出部３、データ管理部２１０Ａ及び第３記憶部５０の全てが分離している形態だけでなく、異物検査装置１の一部機能が装置外に配置されている形態とすることもできる。また、異物検査システム１００には、上述した異物検査装置１のデータ管理に関する変形例を全て適用することができる。

１…異物検査装置、２…Ｘ線検査部、３…金属検出部、４…筐体、５…ディスプレイ、８…報知部、１０…コンベヤ、２０…Ｘ線検査制御部、３０…金属検出制御部、２１０…データ管理部、２１１…第１記憶部、３１０…第２記憶部。

Claims (4)

1. 被検査物を搬送する搬送部と、
   Ｘ線の透過性を利用して、前記搬送部で搬送されている前記被検査物に含まれる異物を検出するＸ線検査部と、
   磁界と金属との相互作用を利用して、前記搬送部で搬送されている前記被検査物に含まれる異物を検出する金属検出部と、
   前記搬送部の少なくとも一部、前記Ｘ線検査部、及び前記金属検出部を内部に収容する筐体と、
   前記Ｘ線検査部の結果データと前記金属検出部の結果データとを関連付けて記憶部に記憶するデータ管理部と、
   を備える異物検査装置。
2. 前記データ管理部は、前記Ｘ線検査部の検査時刻と、前記金属検出部の検出時刻とを用いて、前記Ｘ線検査部の結果データと前記金属検出部の結果データとを関連付ける請求項１に記載の異物検査装置。
3. 前記データ管理部は、前記Ｘ線検査部又は前記金属検出部が異物を検出した場合には、前記Ｘ線検査部の結果データと前記金属検出部の結果データとを関連付けて前記記憶部に記憶する請求項１又は２に記載の異物検査装置。
4. 被検査物を搬送する搬送部と、
   Ｘ線の透過性を利用して、前記搬送部で搬送されている前記被検査物に含まれる異物を検出するＸ線検査部と、
   磁界と金属との相互作用を利用して、前記搬送部で搬送されている前記被検査物に含まれる異物を検出する金属検出部と、
   記憶部と、
   前記Ｘ線検査部の結果データと前記金属検出部の結果データとを関連付けて前記記憶部に記憶するデータ管理部と、
   を備える異物検査システム。

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