JPWO2016075838A1 - 電子機器の冷却システム、及び冷却方法 - Google Patents

電子機器の冷却システム、及び冷却方法

Info

Publication number
JPWO2016075838A1
JPWO2016075838A1 JP2016558852A JP2016558852A JPWO2016075838A1 JP WO2016075838 A1 JPWO2016075838 A1 JP WO2016075838A1 JP 2016558852 A JP2016558852 A JP 2016558852A JP 2016558852 A JP2016558852 A JP 2016558852A JP WO2016075838 A1 JPWO2016075838 A1 JP WO2016075838A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cooling
coolant
boiling
heat
electronic device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2016558852A
Other languages
English (en)
Inventor
齊藤 元章
元章 齊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Exascaler Inc
Original Assignee
Exascaler Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Exascaler Inc filed Critical Exascaler Inc
Publication of JPWO2016075838A1 publication Critical patent/JPWO2016075838A1/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K7/00Constructional details common to different types of electric apparatus
    • H05K7/20Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating
    • H05K7/20218Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating using a liquid coolant without phase change in electronic enclosures
    • H05K7/20236Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating using a liquid coolant without phase change in electronic enclosures by immersion
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F25REFRIGERATION OR COOLING; COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS; HEAT PUMP SYSTEMS; MANUFACTURE OR STORAGE OF ICE; LIQUEFACTION SOLIDIFICATION OF GASES
    • F25DREFRIGERATORS; COLD ROOMS; ICE-BOXES; COOLING OR FREEZING APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F25D9/00Devices not associated with refrigerating machinery and not covered by groups F25D1/00 - F25D7/00; Combinations of devices covered by two or more of the groups F25D1/00 - F25D7/00
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F28HEAT EXCHANGE IN GENERAL
    • F28DHEAT-EXCHANGE APPARATUS, NOT PROVIDED FOR IN ANOTHER SUBCLASS, IN WHICH THE HEAT-EXCHANGE MEDIA DO NOT COME INTO DIRECT CONTACT
    • F28D1/00Heat-exchange apparatus having stationary conduit assemblies for one heat-exchange medium only, the media being in contact with different sides of the conduit wall, in which the other heat-exchange medium is a large body of fluid, e.g. domestic or motor car radiators
    • F28D1/02Heat-exchange apparatus having stationary conduit assemblies for one heat-exchange medium only, the media being in contact with different sides of the conduit wall, in which the other heat-exchange medium is a large body of fluid, e.g. domestic or motor car radiators with heat-exchange conduits immersed in the body of fluid
    • F28D1/0206Heat exchangers immersed in a large body of liquid
    • F28D1/0213Heat exchangers immersed in a large body of liquid for heating or cooling a liquid in a tank
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F28HEAT EXCHANGE IN GENERAL
    • F28DHEAT-EXCHANGE APPARATUS, NOT PROVIDED FOR IN ANOTHER SUBCLASS, IN WHICH THE HEAT-EXCHANGE MEDIA DO NOT COME INTO DIRECT CONTACT
    • F28D15/00Heat-exchange apparatus with the intermediate heat-transfer medium in closed tubes passing into or through the conduit walls ; Heat-exchange apparatus employing intermediate heat-transfer medium or bodies
    • F28D15/02Heat-exchange apparatus with the intermediate heat-transfer medium in closed tubes passing into or through the conduit walls ; Heat-exchange apparatus employing intermediate heat-transfer medium or bodies in which the medium condenses and evaporates, e.g. heat pipes
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F28HEAT EXCHANGE IN GENERAL
    • F28DHEAT-EXCHANGE APPARATUS, NOT PROVIDED FOR IN ANOTHER SUBCLASS, IN WHICH THE HEAT-EXCHANGE MEDIA DO NOT COME INTO DIRECT CONTACT
    • F28D15/00Heat-exchange apparatus with the intermediate heat-transfer medium in closed tubes passing into or through the conduit walls ; Heat-exchange apparatus employing intermediate heat-transfer medium or bodies
    • F28D15/02Heat-exchange apparatus with the intermediate heat-transfer medium in closed tubes passing into or through the conduit walls ; Heat-exchange apparatus employing intermediate heat-transfer medium or bodies in which the medium condenses and evaporates, e.g. heat pipes
    • F28D15/0275Arrangements for coupling heat-pipes together or with other structures, e.g. with base blocks; Heat pipe cores
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F28HEAT EXCHANGE IN GENERAL
    • F28DHEAT-EXCHANGE APPARATUS, NOT PROVIDED FOR IN ANOTHER SUBCLASS, IN WHICH THE HEAT-EXCHANGE MEDIA DO NOT COME INTO DIRECT CONTACT
    • F28D21/00Heat-exchange apparatus not covered by any of the groups F28D1/00 - F28D20/00
    • F28D21/0017Flooded core heat exchangers
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • G06F1/16Constructional details or arrangements
    • G06F1/20Cooling means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/42Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations selected or arranged to facilitate heating or cooling
    • H01L23/427Cooling by change of state, e.g. use of heat pipes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/44Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements the complete device being wholly immersed in a fluid other than air
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K7/00Constructional details common to different types of electric apparatus
    • H05K7/20Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating
    • H05K7/20709Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating for server racks or cabinets; for data centers, e.g. 19-inch computer racks
    • H05K7/20763Liquid cooling without phase change
    • H05K7/20772Liquid cooling without phase change within server blades for removing heat from heat source
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2200/00Indexing scheme relating to G06F1/04 - G06F1/32
    • G06F2200/20Indexing scheme relating to G06F1/20
    • G06F2200/201Cooling arrangements using cooling fluid
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K7/00Constructional details common to different types of electric apparatus
    • H05K7/20Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating
    • H05K7/20218Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating using a liquid coolant without phase change in electronic enclosures
    • H05K7/20254Cold plates transferring heat from heat source to coolant
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K7/00Constructional details common to different types of electric apparatus
    • H05K7/20Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating
    • H05K7/20218Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating using a liquid coolant without phase change in electronic enclosures
    • H05K7/20281Thermal management, e.g. liquid flow control

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Combustion & Propulsion (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

電子機器の冷却性能を向上させた、簡単かつ効率的な冷却システム、及び冷却方法を提供する。冷却システム10は冷却槽12を有し、冷却槽12の開放空間内には沸点T2を有する第2の冷却液13が入れられている。冷却槽12の開放空間内には、プロセッサ110を発熱体としてボード120上に搭載した電子機器100が収納され、第2の冷却液13に浸漬されている。沸騰冷却装置200は、プロセッサ110に熱的に接続されている冷却装置であって、沸点T1(ただし、T2>T1)を有する第1の冷却液11が封入されている。

Description

本発明は電子機器の冷却システムに係り、特に、スーパーコンピュータやデータセンター等の超高性能動作や安定動作が要求され、かつそれ自体からの発熱量が大きな電子機器を、効率的に冷却するための電子機器の冷却システム、及び冷却方法に関するものである。
近年のスーパーコンピュータの性能の限界を決定する最大の課題の一つは消費電力であり、スーパーコンピュータの省電力性に関する研究の重要性は、既に広く認識されている。すなわち、消費電力当たりの速度性能(Flops/W)が、スーパーコンピュータを評価する一つの指標となっている。また、データセンターにおいては、データセンター全体の消費電力の45%程度を冷却に費やしているとされ、冷却効率の向上による消費電力の削減の要請が大きくなっている。
スーパーコンピュータやデータセンターの冷却には、従来から空冷式と液冷式が用いられている。液冷式は、空気より格段に熱伝達性能の優れる液体を用いるため、一般的に冷却効率がよいとされている。例えば、東京工業大学が構築した「TSUBAME−KFC」では、合成油を用いた液浸冷却システムにより、4.50GFlops/Wを達成し、2013年11月、及び2014年6月発表の「Supercomputer Green500 List」において1位を獲得している。しかし、冷却液に粘性の高い合成油を用いているため、油浸ラックから取り出した電子機器から、そこに付着した油を完全に除去することが困難であり、電子機器のメンテナンス(具体的には、例えば調整、点検、修理、交換、増設。以下同様)が極めて困難であるという問題がある。更には、使用する合成油が、冷却系を構成するパッキン等を短期間に腐食させて漏えいするなどし、運用に支障を来す問題の発生も報告されている。
他方、上記のような問題を生ずる合成油ではなく、フッ化炭素系冷却液を用いる液浸冷却システムが提案されている。具体的には、フッ化炭素系の冷却液(3M社の商品名「Novec(3M社の商標。以下同様)7100」、「Novec7200」、「Novec7300」で知られる、ハイドロフルオロエーテル(HFE)化合物)を用いる例である(例えば、特許文献1、特許文献2)。
ところで、CPUなど特に大量の熱を発生する発熱体を局所的に冷却するために、冷却液の気化と凝縮のサイクルによって熱の輸送・放熱を行う沸騰冷却方式を用いる冷却装置の例が、いくつか提案されている。一つは、プロセッサの発熱表面に接続した蒸発部と、空冷ファンもしくは水冷配管に接続した凝縮部とを、2本の配管で接続して、気液平衡を利用した冷媒循環を行う、冷却モジュールの例である(非特許文献1)。もう一つは、特別な流路壁を内部に形成した平板状容器に、冷却液を封入し、平板状容器の受熱領域を発熱体と熱的に接続し、平板状容器の放熱領域を放熱フィンなどの放熱部と接続し、放熱領域は、放熱領域における冷却液の流路を形成する例である(例えば、特許文献3)。
特開2013−187251号公報 特表2012−527109号公報 特開2013−69740号公報 グリーンネットワーク・システム技術研究開発プロジェクト 「集熱沸騰冷却システムの研究開発(2008年度〜2012年度 5年間)」 8−9、11頁、2013年7月17日 URL:http://www.nedo.go.jp/content/100532511.pdf
特許文献1が開示する冷却システムは、電子機器の冷却に気化熱(潜熱)を使用するため、沸点が100℃以下のフッ化炭素系冷却液を用いている。そして、電子機器に搭載された素子の発熱で冷却液が蒸発するときの気化熱(潜熱)により素子の熱を奪い取り、当該素子を冷却している。従って、高温の素子表面で、局所的にフッ化炭素系冷却液が沸騰して気泡が断熱膜を形成することがあるため、冷却液が本来有している高い熱伝導能力が損なわれてしまうという問題がある。また、最近のスーパーコンピュータやデータセンター等で使用される電子機器には、冷却すべき対象がCPU(Central Processing Unit)以外にも、GPU(Graphics Processing Unit)、高速メモリ、チップセット、ネットワークユニット、バススイッチユニット、SSD(Solid State Drive)等、多数存在しており、気化する温度が異なるこれらの対象物全てを等しく冷却することは困難であり、表面の冷媒が気化しない対象物では冷却効率が極めて低くなってしまう。
また、特許文献2が開示する冷却システムは、1つ又はそれ以上の発熱する電子機器を収容する密封型モジュールの構成を採用している。このため、個々の密封型モジュールに冷却液を流通させるための機構全体が複雑となり、また、密封型モジュールから電子機器全体を簡単に取り出すことができないため、電子機器のメンテナンス性に劣るという問題がある。
グリーンネットワーク・システム技術研究開発プロジェクトが提案する冷却モジュールは、プロセッサ上の蒸発部とそこから離れたところに設置される凝縮部とを接続する2本の配管を別途設けることが必要となるため、冷却モジュール全体の構成が大型かつ複雑となるという問題がある。加えて、これら配管の存在が、空冷に頼らなければならない周辺の電子部品の冷却の妨げになるため、また、冷却ファンもしくは配管を使用した二次冷却では、特に配管を使用する場合には配管内の流量の制約から冷却効率が低く制約されてしまうため、電子機器全体としての冷却性能が制限されてしまうという問題がある。他方、特許文献3が開示する冷却装置は、局所的な一次冷却用の、小型の沸騰冷却装置を提供できるので有利であるものの、従来の、冷却効率の低い二次冷却技術を適用することによっては、電子機器全体の冷却性能の向上を図ることができないという問題がある。
以上のように、従来の液浸冷却方式においては、密封型モジュールに冷却液を流通させるための機構全体が複雑となり、電子機器のメンテナンス性に劣るという問題がある。また、従来の沸騰冷却方式は、電子機器の局所的冷却に適しているものの、機構全体が大型かつ複雑となるおそれがあり、また二次冷却の冷却効率が低いため電子機器全体の冷却性能の向上を図ることができないという問題がある。
従って、本発明の目的は、上記した従来技術の問題点を解決し、電子機器の冷却性能を向上させた、簡単かつ効率的な冷却システム、及び冷却方法を提供することにある。
上記の課題を解決するために、本発明の一局面によれば、電子機器を冷却液中に浸漬して直接冷却する、冷却システムであって、少なくとも1つの発熱体を有する電子機器の前記発熱体に熱的に接続される沸騰冷却装置であって、沸点Tを有する第1の冷却液が封入されている沸騰冷却装置と、前記第1の冷却液の沸点Tよりも高い沸点Tを有する第2の冷却液が入れられた冷却槽であって、前記沸騰冷却装置及び前記電子機器が前記第2の冷却液中に浸漬されて直接冷却される冷却槽とを含む冷却システムが提供される。
本発明に係る冷却システムの好ましい実施の形態において、前記沸騰冷却装置は、受熱側と放熱側を有する密閉容器と、前記放熱側に設けられた放熱部材とを有し、前記沸騰冷却装置及び前記電子機器が前記第2の冷却液中に浸漬されるとき、前記放熱側が前記受熱側より上に位置するように前記発熱体に熱的に接続されているよう構成してよい。
また、本発明に係る冷却システムの好ましい実施の形態において、前記第1の冷却液の沸点が100℃以下であり、前記第2の冷却液の沸点が150℃以上であるよう構成してよい。
さらに、本発明に係る冷却システムの好ましい実施の形態において、前記第1の冷却液が、主成分としてフッ化炭素化合物を含むよう構成してよい。
また、本発明に係る冷却システムの好ましい実施の形態において、前記第2の冷却液が、主成分として完全フッ素化物を含むよう構成してよい。
また、本発明に係る冷却システムの好ましい実施の形態において、前記電子機器が、ボード上で縦方向の異なる位置に配置された複数の発熱体を有し、前記複数の発熱体の各々に沸騰冷却装置が熱的に接続されており、前記第2の冷却液中に浸漬されるときに縦方向上方に位置する冷却装置には、下方に位置する冷却装置に使用する冷却液よりも沸点の高い冷却液を使用するよう構成してよい。
さらに、本発明に係る冷却システムの好ましい実施の形態において、前記冷却槽は、前記第2の冷却液の入口と出口を有し、前記出口と前記入口が、前記冷却槽の外部にある流通路により連結されており、前記流通路中に、前記第2の冷却液を移動させる少なくとも1つのポンプと、前記第2の冷却液を冷やす熱交換器が設けられていてよい。
また、本発明に係る冷却システムの好ましい実施の形態において、前記入口に連結され、前記冷却槽の幅方向に延びるヘッダを、前記冷却槽の底部に配置し、前記入口から供給される前記第2の冷却液を、前記ヘッダにアレイ状に設けられた複数のノズルから吐き出すように構成されていてよい。
さらに、本発明に係る冷却システムの好ましい実施の形態において、前記複数のノズルが、前記ヘッダの長手方向に所定間隔をおいて設けられた複数のノズル群からなり、各ノズル群は、吐出口が放射状に分散するように配置されたノズルで構成されていてよい。
また、本発明に係る冷却システムの好ましい実施の形態において、前記複数のノズル群の各々が、第2の冷却液中に浸漬される複数の前記電子機器の各々に対応していてよい。
加えて、本発明のもう一つの局面によれば、電子機器の冷却方法であって、少なくとも1つの発熱体を有する電子機器の前記発熱体に、第1の冷却液が封入された沸騰冷却装置を熱的に接続するステップと、前記第1の冷却液の沸点Tよりも高い沸点Tを有する第2の冷却液中に、前記沸騰冷却装置及び前記電子機器を浸漬するステップと、を含む方法が提供される。
本発明に係る冷却システムによれば、発熱体に熱的に接続されている沸騰冷却装置に封入された第1の冷却液が気化することにより、沸騰冷却装置が、発熱体から局所的にかつ強力に熱を奪い取ると同時に、第1の冷却液の沸点Tよりも高い沸点Tを有する第2の冷却液が、その熱を沸騰冷却装置から完全に奪い取ることにより、電子機器を全体的に冷却する。このとき、沸点が高い第2の冷却液が、電子機器に搭載される周辺の電子部品を、有効かつ強力に冷却する。すなわち、主要な発熱源であるプロセッサの沸騰冷却に対する二次冷却用の冷媒(第2の冷却液)が、周辺の電子部品に対して、有効な一次冷却用の冷媒としても機能する。これにより、電子機器の冷却性能を、著しく向上させることができる。また、第2の冷却液の沸点Tが第1の冷却液の沸点Tより高いので、第2の冷却液が蒸発しにくく、第2の冷却液を入れる冷却槽が非密閉の開放空間になっていてもよく、複雑で高価な密封構造を採る必要がない。加えて、従来の沸騰冷却方式で必要とされた、強制冷却のための冷却ファンや冷却配管が全て不要となり、構成部品が占める体積が小さくて済む。従って、冷却システムの簡素化及び小型化が実現される。さらに、従来の沸騰冷却方式では、主要な発熱源であるプロセッサを冷却するために、複雑な配管や大型のヒートシンクなどの機構を要し、これらの存在が、空冷に頼らなくてはならない周辺の電子部品の冷却を妨げる結果にもなっていた。このような従来技術に対して、本発明によれば、複雑な配管や大型のヒートシンクが不要となって周辺の電子部品の冷却に有利であることに加えて、二次冷却用の冷媒(第2の冷却液)が、遍く電子機器のボード全体に行き渡ることによって、高い効率で周辺の電子部品を冷却することが可能となる。なお、本明細書における「開放空間」を有する冷却槽には、電子機器の保守性を損なわない程度の簡素な密閉構造を有する冷却槽も含まれるものである。例えば、冷却槽の開口部に、パッキン等を介して天板を着脱可能に取り付ける構造は、簡素な密閉構造といえる。
上記した本発明の目的及び利点並びに他の目的及び利点は、以下の実施の形態の説明を通じてより明確に理解される。もっとも、以下に記述する実施の形態は例示であって、本発明はこれに限定されるものではない。
本発明の一実施形態に係る冷却システムの要部の構成を示す拡大縦断面図である。 沸騰冷却装置の一例を示す斜視図である。 沸騰冷却装置の他の例を示す斜視図である。 沸騰冷却装置の他の例を示す斜視図である。 本発明の一実施形態に係る高密度冷却システムの構成を示す縦断面図である。 本発明の一実施形態に係る高密度冷却システムの構成を示す横断面図である。 冷却槽の出口と入口とを連結する流通路中に、駆動系と冷却系を設けた冷却システムの模式図である。
以下、本発明に係る冷却システムの好ましい実施の形態を、図面に基づいて詳細に説明する。本実施形態の説明では、最初に、図1、図2A、図2B及び図2Cを参照して、ダイ(半導体チップ)とダイを取り囲むヒートスプレッダとからなるプロセッサを、発熱体としてボード上に搭載した電子機器を、冷却槽内に収納して冷却する、冷却システムの要部の構成を説明する。次に、図3、図4を参照して、電子機器として、複数個のプロセッサを搭載したプロセッサボードを、一の面に4枚配置した構造の電子機器(1ユニット)を、合計8ユニット、冷却槽内に高密度に収納して冷却する、高密度冷却システムの構成を説明する。なお、これは例示であって、ボード当たりのプロセッサの数や種類(CPU又はGPU)は任意であり、また、高密度冷却システムにおける電子機器のユニット数も任意であり、本発明における電子機器の構成を限定するものではない。
図1を参照して、冷却システム10は冷却槽12を有し、冷却槽12の開放空間内には沸点Tを有する第2の冷却液13が入れられている。冷却槽12の開放空間内には、プロセッサ110を発熱体としてボード120上に搭載した電子機器100が収納され、第2の冷却液13に浸漬されている。プロセッサ110は、ダイ111とダイを取り囲むヒートスプレッダ112とを含む。なお、ヒートスプレッダの使用は任意であり、省略してよい。電子機器100のボード120上には、プロセッサ110以外に、周辺の電子部品が当然に搭載されているが、これら電子部品については図示を省略している。沸騰冷却装置200は、発熱体としてのプロセッサ110に熱的に接続されている冷却装置であって、沸点T(ただし、T>T)を有する第1の冷却液11が封入されている。
図1及び図2Aに示すように、沸騰冷却装置200は、受熱側211と放熱側212を有する密閉容器210と、放熱側212に設けられた放熱部材220とを有している。図示する例では、密閉容器210は、6つの平板によって構成された薄い箱形を有しており、これにより断面矩形状の空間が形成されている。なお、密閉容器210の外形及び内部構造については任意であり、冷却する対象の放熱表面の面積や発生する熱量を考慮して、寸法及び形状を適宜に決定してよい。本実施形態では、便宜上、箱形の密閉容器210の下半分を受熱側211、上半分を放熱側212と呼ぶこととする。もっとも、後述するように、プロセッサ110の発熱表面に接続されるのは、密閉容器210の下半分の一つの面に過ぎないことに留意されたい。密閉容器210の材料としては、アルミニウム、銅、銀などの熱伝導性のよい金属を使用できるが、これらに限定されるものではない。
密閉容器210内には、受熱側211の空間を充たす程度の量の第1の冷却液11が封入されている。第1の冷却液としては、3M社の商品名「Novec(3M社の商標。以下同様)7000」(沸点34℃)、「Novec7100」(沸点61℃)、「Novec7200」(沸点76℃)、「Novec7300」(沸点98℃)として知られるハイドロフルオロエーテル(HFE)化合物を、好適に使用することができるが、これらに限定されるものではない。通常、プロセッサの動作温度を100℃以下に管理することが望ましいと考えられることから、沸騰冷却装置200の沸騰冷却機能が失われないよう、100℃以下の沸点を有する冷却液を使用することが好ましい。なお、密閉容器210内に第1の冷却液を封入する方法には、公知の方法を適用できるので、ここでの詳しい説明を省略する。
密閉容器210の受熱側211において、箱形の密閉容器210の背面が、プロセッサ110の発熱表面に熱的に接続されている。この接続には、熱伝導性の優れた金属グリスなどの接着剤を用いることができるが、これに限定されるものではない。なお、沸騰冷却装置200をプロセッサ110の発熱表面に接続するときの向きについては、沸騰冷却装置200及び電子機器100が第2の冷却液13中に浸漬されるとき、放熱側212が受熱側211より上に位置するような向きとするとよい。
密閉容器210の放熱側212において、箱形の密閉容器210の正面と背面には、それぞれ放熱部材(放熱フィン)220が設けられている。放熱部材220は、放熱側212の表面積を増減することで、第2の冷却液が奪い取る熱量を管理することができる。放熱部材220の材料としては、密閉容器210と同様の材料でよく、密閉容器への固定方法も、ろう付けなどの公知の方法を使用してよい。
図2Bは、沸騰冷却装置の他の例を示しており、図2Aと同様の部分には同様の符号を用いている。図2Bに示す例において、沸騰冷却装置300は、放熱部材220のサイズを幅方向に拡大し、フィンの数を増やすことで、図2Aに示す沸騰冷却装置200よりも放出される熱量を増やしている。逆に、将来の密閉容器210の素材技術の進歩により、放熱部材220の付設による表面積の増大をしなくても、所望の冷却性能を得られるときには、放熱部材220の付設を省略してよい。すなわち、図2Cに示す他の例のように、沸騰冷却装置400を、放熱部材が付設されていない密閉容器210のみで構成してもよい。
図1に戻って、冷却槽12には、沸騰冷却装置200及び電子機器100の全体を浸漬するのに十分な量の第2の冷却液13が、液面18まで入れられている。第2の冷却液としては、3M社の商品名「フロリナート(3M社の商標、以下同様)FC−72」(沸点56℃)、「フロリナートFC−770」(沸点95℃)、「フロリナートFC−3283」(沸点128℃)、「フロリナートFC−40」(沸点155℃)、「フロリナートFC−43」(沸点174℃)として知られる、完全フッ素化物(パーフルオロカーボン化合物)からなるフッ素系不活性液体を好適に使用することができるが、これらに限定されるものではない。ただし、本発明に従い、第2の冷却液13には、第1の冷却液11の沸点Tよりも高い沸点Tを有する冷媒を選択することが重要である。一例として、第1の冷却液11に、「Novec7000」(沸点34℃)を使用する場合、第2の冷却液13に、「フロリナートFC−43」(沸点174℃)を好適に使用することができる。
本発明者は、完全フッ素化物が、高い電気絶縁性と、高い熱伝達能力を有し、不活性で熱的・化学的に安定性が高く、不燃性で、かつ酸素を含まない化合物であるためオゾン破壊係数がゼロである等の優れた特性を有している点に着目し、そのような完全フッ素化物を主成分として含む冷却液を、高密度の電子機器の浸漬冷却用の冷媒として使用する冷却システムの発明を完成し、特許出願している(特願2014−170616)。この先行出願において開示しているように、特に、フロリナートFC−43又はFC−40を第2の冷却液に用いると、開放空間を有する冷却槽からの、第2の冷却液13の蒸発による損失を大幅に低減しながら、小さい体積の冷却槽内に高密度に設置された複数の電子機器を効率よく冷却することができ、極めて有利である。ただし、既に述べたように、本発明に従い、第2の冷却液13には、第1の冷却液11の沸点Tよりも高い沸点Tを有する冷却液として、フロリナートFC−72、FC−770、FC−3283のいずれかを選択することを制限するものではないことは勿論である。
なお、フロリナートFC−43又はFC−40は、その沸点が150℃以上であり、極めて蒸発しにくい性質を有するため、冷却槽12の上部開口に設けられる天板20は、電子機器100のメンテナンスを容易に行えるよう、冷却槽12の上部開口の一方縁部に設けられた図示しないヒンジ部により、開閉自在に支持されていてよい。また、図1には示されていないが、図3及び図4を参照して後述するように、冷却槽12には第2の冷却液13の入口と出口が設けられて、これにより冷却槽12の開放空間内に収容された電子機器100が、冷却槽12の開放空間内を流通する第2の冷却液13中に浸漬されて直接冷却されるよう構成されている。
次に、冷却システム10の動作について説明する。電子機器100の運用が開始された後、プロセッサ110の表面温度が上昇して第1の冷却液11の沸点(例えば、Novec7000において34℃)よりも高い温度に達すると、沸騰冷却装置200の密閉容器210内に封入された第1の冷却液11が、密閉容器210の受熱側211の内壁表面から気泡となって蒸発し始める。気化した第1の冷却液11は、密閉容器210の放熱側212の空間を上昇する。しかし、沸騰冷却装置200及び電子機器100の周囲にある第2の冷却液13(例えば、フロリナートFC−43)は、その温度が、例えば17℃−23℃と低く保たれているため、気化した第1の冷却液11は、密閉容器210の放熱側212の内壁表面において凝縮され、第1の冷却液11が液相状態にある受熱側211に向かって、内壁表面上を伝わって、重力で落下する。このような、沸騰冷却装置200における気相及び液相の冷媒循環により、沸騰冷却装置200が、プロセッサ110から局所的にかつ強力に熱を奪い取ると同時に、その周囲にある第2の冷却液13が、その熱を沸騰冷却装置200から(主に、放熱部材220を通して)完全に奪い取ることにより、電子機器を全体的に冷却する。このとき、沸点が高い第2の冷却液13が、電子機器100のボード120上に搭載される周辺の電子部品(図示せず)を、有効かつ強力に冷却する。すなわち、主要な発熱源であるプロセッサ110の沸騰冷却に対する二次冷却用の冷媒(第2の冷却液13)が、周辺の電子部品(図示せず)に対して、有効な一次冷却用の冷媒としても機能する。これにより、電子機器100の冷却性能を、著しく向上させることができる。
また、第2の冷却液13の沸点Tが第1の冷却液11の沸点Tより高いので、第2の冷却液13が蒸発しにくく、第2の冷却液13を入れる冷却槽12が非密閉の開放空間になっていてもよく、複雑で高価な密封構造を採る必要がない。加えて、従来の沸騰冷却方式で必要とされた、強制冷却のための冷却ファンや冷却配管が全て不要となり、構成部品が占める体積が小さくて済む。従って、冷却システムの簡素化及び小型化が実現される。さらに、従来の沸騰冷却方式では、主要な発熱源であるプロセッサを冷却するために、複雑な配管や大型のヒートシンクなどの機構を要し、これらの存在が、空冷に頼らなくてはならない周辺の電子部品の冷却を妨げる結果にもなっていた。このような従来技術に対して、本発明によれば、複雑な配管や大型のヒートシンクが不要となって周辺の電子部品(図示せず)の冷却に有利であることに加えて、二次冷却用の冷媒(第2の冷却液13)が、遍く電子機器100のボード120全体に行き渡ることによって、高い効率で周辺の電子部品(図示せず)を冷却することが可能となる。
次に、図3及び図4を参照して、高密度冷却システムの構成を説明する。なお、図1に示した冷却システムと同様の部分には同様の符号を用い、詳しい説明を省略する。冷却システム10において、冷却槽12の左側面底部側と右側面底部側には、2つずつ入口14が設けられており、冷却槽12の正面側と裏面側には、2つずつ出口16が設けられている。冷却槽12の開放空間内には、合計8ユニットの電子機器100が収容され、開放空間内を流通する第2の冷却液13中に、これら電子機器100を浸漬して直接冷却するよう構成されている。
図示の例では、電子機器100の1ユニットは、2個のプロセッサを搭載したプロセッサボードを、一の面に4枚配置した構造を有している。そして、沸騰冷却装置200a、200b、200c、200d、200e、200f、200g、200hが、それぞれのプロセッサの発熱表面に熱的に接続されている。図4に示すように、沸騰冷却装置200a、200b、200c、200dは、ボード120上で縦方向の異なる位置に配置されており、このことは、沸騰冷却装置200e、200f、200g、200hについても同様である。
なお、上述したように、第2の冷却液13として好適に用いることのできるフロリナートFC−43又はFC−40は、極めて蒸発しにくい性質を有するので、液面18は長期間に亘って保たれる。また、電子機器100に接続された種々のケーブルは、ケーブルクランプ21により把持された状態で、冷却槽12から引き出すことができる。
冷却槽12の底部には、冷却槽の幅方向(左右方向)に延びるヘッダ15が配置されている。ヘッダ15の一端は、冷却槽12の左側面底部側の2つの入口14に連結され、ヘッダ15の他端は、冷却槽12の右側面底部側の2つの入口14に連結されている。そしてヘッダには、複数のノズル151がアレイ状に設けられている。これにより、左右の入口14から供給される第2の冷却液13が、これら複数のノズル151から吐き出されるように構成されている
ノズル151は、ヘッダ15の長手方向(左右方向)に所定間隔をおいて設けられた複数のノズル群からなる。各ノズル群は、断面六角形状のヘッダ15の表面から吐出口が放射状に分散するように配置されたノズル151で構成されている。
冷却槽12の正面側と裏面側に2つずつ設けられている出口16の、冷却槽12側には、出口16全体を覆うように、但し、上方は開口部を形成するように、導液板17によって仕切られた領域が設けられている。従って、第2の冷却液13は、上方の開口部から出口16に向けて流れることになる。
次に、本発明の一実施形態に示す高密度冷却システムにおいて、ヘッダ15を設けたことによる利点について、図3及び図4を参照して説明する。
入口14から供給される第2の冷却液13を、ヘッダ15にアレイ状に設けられた複数のノズル151から吐き出すように構成されているので、(後述するように熱交換器によって冷却されて)冷えた第2の冷却液13を、冷却槽12の全体に亘って流通させることができる。これにより、電子機器100に対する、第2の冷却液13の強制対流による直接冷却の効果を高めることができる。
加えて、ヘッダ15の長手方向に所定間隔をおいて設けられた各ノズル群が、吐出口が放射状に分散するように配置されたノズル151で構成されているので、冷えた第2の冷却液13を冷却槽12の全体に亘ってより一層効率よく流通させることができる。特に、図3及び図4に示すように、複数のノズル群の各々が、複数の電子機器100の各々に対応しているので、冷却槽12内に高密度に電子機器100を収容していても、各電子機器100の冷却性能を均一にすることができる。
ところで、上記のように第2の冷却液13を流通させたときでも、冷却槽12内では、第2の冷却液13の温度分布が発生することがありうる。すなわち、冷却槽12内の第2の冷却液13が、冷却槽12の底部から液面18に向かうほど、高い温度を示すような温度分布となることがありうる。そうすると、同じ性能のプロセッサに同じ性能の沸騰冷却装置を熱的に接続していても、第2の冷却液13の温度分布、及びボード上のプロセッサの搭載位置の違いにより、冷却性能にバラツキが生じる可能性がある。このような場合に対処するための応用例として、ボードの縦方向上方に位置する沸騰冷却装置(例えば、沸騰冷却装置200c、200d、200g、200h)には、下方に位置する冷却装置(例えば、沸騰冷却装置200a、200b、200e、200f)に使用する冷却液よりも沸点の高い冷却液を使用するとよい。これにより、第2の冷却液の温度分布及びプロセッサの搭載位置の違いにかかわらず、冷却性能をより均一化することができる。
図5を参照して、冷却槽の出口から排出された第2の冷却液を、熱交換器で冷やし、冷えた第2の冷却液を冷却槽の入口に供給する流通路を構成する例について説明する。図示のとおり、冷却槽12の出口16と入口14が流通路30により連結されており、流通路30中に、第2の冷却液13を移動させるポンプ40と、第2の冷却液13を冷やす熱交換器90が設けられている。なお、流通路30を流れる第2の冷却液13の流量を調整するための流量調整バルブ50と流量計70も、流通路30中に設けられている。
ポンプ40は、動粘度が比較的大きい(室温25℃における動粘度が3cStを超える)液体を移動させる性能を備えていることが好ましい。例えば、第2の冷却液13として、フロリナートFC−43又はFC−40を使用する場合、FC−43の動粘度は2.5〜2.8cSt程度であり、FC−40の動粘度は1.8〜2.2cSt程度だからである。流量調整バルブ50は、手動で動作させるものでよく、また、流量計70の計測値に基づき流量を一定に保つような調整機構を備えたものでもよい。加えて、熱交換器90は、循環式の各種の熱交換器(ラジエータ又はチラー)や冷却器でよい。
上記の一実施形態において、電子機器100のボード上にプロセッサ110を搭載する例を図示しているが、プロセッサはCPU又はGPUのいずれか又は両方を含んでよく、また、図示しない高速メモリ、チップセット、ネットワークユニット、PCI Expressバスや、バススイッチユニット、SSD、パワーユニットを含んでよい。また、電子機器100は、ブレードサーバを含むサーバ、ルータ、SSD等の記憶装置等の電子機器であってもよい。
また、上記の一実施形態において、沸騰冷却装置200における密閉容器210として、縦長の薄い箱形を有する例を図示しているが、これを横置きに、横長の箱形を有するものとして使用してもよい。また、密閉容器210の受熱側と放熱側とを、便宜上、縦長の箱形の密閉容器210の上半分と下半分に分けて説明したが、受熱側と放熱側が上下方向で共通化されていてもよい(ただし、プロセッサ110の発熱表面と熱的に接続される面側が受熱側となる)。
以上、要するに、本発明に係る冷却システムは、従来技術との比較において次のような格別の利点を有している。まず、単純な沸騰冷却方式との比較において、従来は、プロセッサ以外の、周辺の電子部品の冷却は空冷であったが、本発明では、主要な、あるいは最も発熱量が大きくて冷却を必要としているプロセッサ以外の、周辺の電子部品についても、沸点が高い冷媒によって有効かつ強力に冷却することができる。すなわち、主要な発熱源であるプロセッサの沸騰冷却に対する二次冷却用の冷媒(第2の冷却液)が、他の周辺の電子部品に対しては有効な一次冷却用の冷媒としても機能する。これにより、電子機器の冷却性能を、著しく向上させることができる。加えて、従来の沸騰冷却方式では、主要な発熱源であるプロセッサを冷却するために、複雑な配管や大型のヒートシンクなどの機構を要し、これらの存在が、空冷に頼らなくてはならない周辺の電子部品の冷却を妨げる結果にもなっていた。これに対して、本発明によれば、複雑な配管や大型のヒートシンクが不要となって周辺の電子部品の冷却に有利であることに加えて、二次冷却用の冷媒(第2の冷却液)が、遍く電子機器のボード全体に行き渡ることによって、高い効率で周辺の電子部品を冷却することが可能となる。
最後に、本発明の好ましい実施の形態によってもたらされる、更なる利点を、以下にまとめて記載する。
本発明の好ましい実施の形態において、第2の冷却液の沸点が150℃以上であるときは、冷却槽が非密閉の開放空間である場合でも第2の冷却液が蒸発しにくく、第2の冷却液の蒸発による損失を大幅に低減することができるとともに、冷却槽内で第2の冷却液の局所的な沸騰が生じるおそれを回避することができる。従来のフッ化炭素化合物を使用した冷却システムにおいては、次のような問題点があったが、第2の冷却液に、沸点が150℃以上の完全フッ素化物を使用する場合、それらを悉く解決することができる。
(1)フッ化炭素化合物が沸騰した際に、周囲に存在する微量の水素や酸素を取り込んで極めて有害なフッ化水素などのフッ素化合物を生成する危険性がある。
(2)不活性液体中であっても、極めて高速で動作する電子部品の中には、局所では高温に達し、フッ化炭素化合物の沸騰が生じる可能性がある。
(3)冷却系が問題を生じて冷却機能が失われたり、低下したりした際に、設計限界以上に液温が高くなってフッ化炭素化合物の沸騰が生じる可能性がある。
(4)冷却槽の中で電子部品やシャーシの部品が脱落したり、開放系である冷却槽に外からの異物が混入したりした場合に、冷却槽内の局所の液体循環が停滞して局所的に高温になってフッ化炭素化合物の沸騰が生じる可能性がある。
本発明の好ましい実施の形態において、電子機器が、ボード上で縦方向の異なる位置に配置された複数の発熱体を有し、複数の発熱体の各々に沸騰冷却装置が熱的に接続されており、第2の冷却液中に浸漬されるときに縦方向上方に位置する冷却装置には、下方に位置する冷却装置に使用する冷却液よりも沸点の高い冷却液を使用する場合、第2の冷却液の温度分布及び発熱体が配置された位置の違いにかかわらず、冷却性能をより均一化することができる。
本発明の好ましい実施の形態において、冷却槽は、第2の冷却液の入口と出口を有し、出口と入口が、冷却槽の外部にある流通路により連結されており、流通路中に、第2の冷却液を移動させる少なくとも1つのポンプと、第2の冷却液を冷やす熱交換器が設けられている場合、冷却槽の出口から排出された第2の冷却液を熱交換器で冷やし、冷えた第2の冷却液を冷却槽の入口に供給するような流通路を構成して、連続的かつ安定的に運転することができる。
また、本発明の好ましい実施の形態において、入口に連結され、冷却槽の幅方向に延びるヘッダを、冷却槽の底部に配置し、入口から供給される第2の冷却液を、ヘッダにアレイ状に設けられた複数のノズルから吐き出すように構成されていると、冷えた第2の冷却液を冷却槽の全体に亘って流通させることができ、強制対流による直接冷却の効果を高めることができる。
本発明の好ましい実施の形態において、複数のノズルが、ヘッダの長手方向に所定間隔をおいて設けられた複数のノズル群からなり、各ノズル群は、吐出口が放射状に分散するように配置されたノズルで構成されていると、冷えた第2の冷却液を冷却槽の全体に亘ってより一層効率よく流通させることができ、強制対流による直接冷却の効果をより一層高めることができる。
本発明の好ましい実施の形態において、複数のノズル群の各々が、複数の電子機器の各々に対応していると、冷却槽内に高密度に電子機器を収容したときの、各電子機器の冷却性能を均一にすることができる。
本発明は、電子機器を効率よく冷却する、冷却システムに広く適用することができる。
10 冷却システム
100 電子機器
110 プロセッサ
111 ダイ(チップ)
112 ヒートスプレッダ
120 ボード
200、200a−200h、300、400 沸騰冷却装置
210 密閉容器
211 受熱側
212 放熱側
220 放熱部材(放熱フィン)
11 第1の冷却液
12 冷却槽
13 第2の冷却液
14 入口
15 ヘッダ
151 ノズル
16 出口
17 導液板
18 液面
20 天板
21 ケーブルクランプ
30 流通路
40 ポンプ
50 流量調整バルブ
70 流量計
90 熱交換器

Claims (15)

  1. 電子機器を冷却液中に浸漬して直接冷却する、冷却システムであって、
    少なくとも1つの発熱体を有する電子機器の前記発熱体に熱的に接続される沸騰冷却装置であって、沸点Tを有する第1の冷却液が封入されている沸騰冷却装置と、
    前記第1の冷却液の沸点Tよりも高い沸点Tを有する第2の冷却液が入れられた冷却槽であって、前記沸騰冷却装置及び前記電子機器が前記第2の冷却液中に浸漬されて直接冷却される冷却槽と
    を含む冷却システム。
  2. 前記沸騰冷却装置は、受熱側と放熱側を有する密閉容器と、前記放熱側に設けられた放熱部材とを有し、前記沸騰冷却装置及び前記電子機器が前記第2の冷却液中に浸漬されるとき、前記放熱側が前記受熱側より上に位置するように前記発熱体に熱的に接続されている、請求項1に記載の冷却システム。
  3. 前記第1の冷却液の沸点が100℃以下であり、前記第2の冷却液の沸点が150℃以上である、請求項1または2に記載の冷却システム。
  4. 前記第1の冷却液が、主成分としてフッ化炭素化合物を含む、請求項3に記載の冷却システム。
  5. 前記第2の冷却液が、主成分として完全フッ素化物を含む、請求項3に記載の冷却システム。
  6. 前記電子機器が、ボード上で縦方向の異なる位置に配置された複数の発熱体を有し、
    前記複数の発熱体の各々に沸騰冷却装置が熱的に接続されており、
    前記第2の冷却液中に浸漬されるときに縦方向上方に位置する冷却装置には、下方に位置する冷却装置に使用する冷却液よりも沸点の高い冷却液を使用する、請求項1に記載の冷却システム。
  7. 前記冷却槽は、前記第2の冷却液の入口と出口を有し、
    前記出口と前記入口が、前記冷却槽の外部にある流通路により連結されており、
    前記流通路中に、前記第2の冷却液を移動させる少なくとも1つのポンプと、前記第2の冷却液を冷やす熱交換器が設けられている、請求項1に記載の冷却システム。
  8. 前記入口に連結され、前記冷却槽の幅方向に延びるヘッダを、前記冷却槽の底部に配置し、前記入口から供給される前記第2の冷却液を、前記ヘッダにアレイ状に設けられた複数のノズルから吐き出すように構成されている、請求項7に記載の冷却システム。
  9. 前記複数のノズルが、前記ヘッダの長手方向に所定間隔をおいて設けられた複数のノズル群からなり、各ノズル群は、吐出口が放射状に分散するように配置されたノズルで構成されている、請求項8に記載の冷却システム。
  10. 前記複数のノズル群の各々が、第2の冷却液中に浸漬される複数の前記電子機器の各々に対応している、請求項8に記載の冷却システム。
  11. 電子機器の冷却方法であって、
    少なくとも1つの発熱体を有する電子機器の前記発熱体に、第1の冷却液が封入された沸騰冷却装置を熱的に接続するステップと、
    前記第1の冷却液の沸点Tよりも高い沸点Tを有する第2の冷却液中に、前記沸騰冷却装置及び前記電子機器を浸漬するステップと、
    を含む、方法。
  12. 前記沸騰冷却装置は、受熱側と放熱側を有する密閉容器と、前記放熱側に設けられた放熱部材とを有し、前記沸騰冷却装置及び前記電子機器が前記第2の冷却液中に浸漬されるとき、前記放熱側が前記受熱側より上に位置するように前記発熱体に熱的に接続されている、請求項11に記載の方法。
  13. 前記第1の冷却液の沸点が100℃以下であり、前記第2の冷却液の沸点が150℃以上である、請求項11または12に記載の方法。
  14. 前記第1の冷却液が、主成分としてフッ化炭素化合物を含む、請求項13に記載の方法。
  15. 前記第2の冷却液が、主成分として完全フッ素化物を含む、請求項13に記載の方法。
JP2016558852A 2014-11-14 2014-11-14 電子機器の冷却システム、及び冷却方法 Pending JPWO2016075838A1 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2014/080278 WO2016075838A1 (ja) 2014-11-14 2014-11-14 電子機器の冷却システム、及び冷却方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPWO2016075838A1 true JPWO2016075838A1 (ja) 2017-10-19

Family

ID=55953951

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016558852A Pending JPWO2016075838A1 (ja) 2014-11-14 2014-11-14 電子機器の冷却システム、及び冷却方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20170332514A1 (ja)
JP (1) JPWO2016075838A1 (ja)
WO (1) WO2016075838A1 (ja)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10398063B2 (en) * 2014-06-24 2019-08-27 David Lane Smith System and method for fluid cooling of electronic devices installed in an enclosure
US11191186B2 (en) 2014-06-24 2021-11-30 David Lane Smith System and method for fluid cooling of electronic devices installed in an enclosure
US11744041B2 (en) 2014-06-24 2023-08-29 David Lane Smith System and method for fluid cooling of electronic devices installed in an enclosure
JP6042587B1 (ja) * 2015-11-16 2016-12-14 株式会社ExaScaler 液浸冷却用電子機器、及びそれを用いた冷却システム
WO2017209665A1 (en) * 2016-05-30 2017-12-07 Saab Ab Cooling device with evenly distributed and directed cooling effect for high heat flux and deaeration functionality
JP6278071B2 (ja) * 2016-07-15 2018-02-14 富士通株式会社 電子機器の液浸槽
TWI692291B (zh) 2018-01-05 2020-04-21 威剛科技股份有限公司 動態隨機存取記憶體模組
US10925180B2 (en) * 2019-03-04 2021-02-16 Baidu Usa Llc IT container system design approach for fast deployment and high compatibility application scenarios
US20220078942A1 (en) * 2020-09-10 2022-03-10 Scott Douglas Bennett Systems and methods for optimizing flow rates in immersion cooling
CN113766804B (zh) * 2021-08-12 2023-06-20 中国电子科技集团公司电子科学研究院 一种机载沉浸式电子散热测试模块
US11805624B2 (en) 2021-09-17 2023-10-31 Green Revolution Cooling, Inc. Coolant shroud
US11925946B2 (en) * 2022-03-28 2024-03-12 Green Revolution Cooling, Inc. Fluid delivery wand
WO2024059016A1 (en) 2022-09-14 2024-03-21 Green Revolution Cooling, Inc. System and method for supplying uniform flow of dielectric cooling fluid for data servers

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6154654A (ja) * 1984-08-27 1986-03-18 Fujitsu Ltd 液冷装置
JPH04226057A (ja) * 1990-05-11 1992-08-14 Fujitsu Ltd 浸漬液冷用冷媒及びこれを用いた沸騰液冷式電子機器
JP2013007501A (ja) * 2011-06-22 2013-01-10 Nec Corp 冷却装置

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02214147A (ja) * 1989-02-15 1990-08-27 Fujitsu Ltd 冷却装置
JPH0363993U (ja) * 1989-10-26 1991-06-21
EP0456508A3 (en) * 1990-05-11 1993-01-20 Fujitsu Limited Immersion cooling coolant and electronic device using this coolant
JP2804640B2 (ja) * 1991-06-21 1998-09-30 富士通株式会社 半導体装置の冷却装置及び冷却方法
US5485671A (en) * 1993-09-10 1996-01-23 Aavid Laboratories, Inc. Method of making a two-phase thermal bag component cooler
JPH1168369A (ja) * 1997-06-10 1999-03-09 Toshiba Corp 冷却装置
DE10017971A1 (de) * 2000-04-11 2001-10-25 Bosch Gmbh Robert Kühlvorrichtung zur Kühlung von Bauelementen der Leistungselektronik mit einem Mikrowärmeübertrager
JP2003051689A (ja) * 2001-08-06 2003-02-21 Toshiba Corp 発熱素子用冷却装置
US7307841B2 (en) * 2005-07-28 2007-12-11 Delphi Technologies, Inc. Electronic package and method of cooling electronics
US20090225514A1 (en) * 2008-03-10 2009-09-10 Adrian Correa Device and methodology for the removal of heat from an equipment rack by means of heat exchangers mounted to a door
US7724524B1 (en) * 2008-11-12 2010-05-25 International Business Machines Corporation Hybrid immersion cooled server with integral spot and bath cooling
CN102869943A (zh) * 2010-05-19 2013-01-09 日本电气株式会社 沸腾冷却装置
JP5131323B2 (ja) * 2010-07-02 2013-01-30 日立電線株式会社 ヒートパイプ式冷却装置及びこれを用いた車両制御装置
EP2653386B1 (en) * 2012-04-17 2014-12-10 Airbus Operations GmbH Heat dissipation of power electronics of a cooling unit

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6154654A (ja) * 1984-08-27 1986-03-18 Fujitsu Ltd 液冷装置
JPH04226057A (ja) * 1990-05-11 1992-08-14 Fujitsu Ltd 浸漬液冷用冷媒及びこれを用いた沸騰液冷式電子機器
JP2013007501A (ja) * 2011-06-22 2013-01-10 Nec Corp 冷却装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
""浸漬液冷はHPC/スパコンの未来を救うのか? - ExaScalerが保守性に優れた完全開放型の液浸冷却システムを", [ONLINE], JPN6015005885, 22 October 2014 (2014-10-22) *

Also Published As

Publication number Publication date
WO2016075838A1 (ja) 2016-05-19
US20170332514A1 (en) 2017-11-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5956099B1 (ja) 電子機器の冷却システム
WO2016075838A1 (ja) 電子機器の冷却システム、及び冷却方法
JP6064083B1 (ja) 電子機器の冷却システム
US8619425B2 (en) Multi-fluid, two-phase immersion-cooling of electronic component(s)
JP5853072B1 (ja) 電子機器の冷却システム
US9750159B2 (en) Pump-enhanced, immersion-cooling of electronic compnent(s)
US8947873B2 (en) Immersion-cooled and conduction-cooled electronic system
US8953317B2 (en) Wicking vapor-condenser facilitating immersion-cooling of electronic component(s)
US8369091B2 (en) Interleaved, immersion-cooling apparatus and method for an electronic subsystem of an electronics rack
WO2016157397A1 (ja) 電子機器の冷却システム
US8179677B2 (en) Immersion-cooling apparatus and method for an electronic subsystem of an electronics rack
US9282678B2 (en) Field-replaceable bank of immersion-cooled electronic components and separable heat sinks
US8713957B2 (en) Thermoelectric-enhanced, vapor-condenser facilitating immersion-cooling of electronic component(s)
US7231961B2 (en) Low-profile thermosyphon-based cooling system for computers and other electronic devices
US8964390B2 (en) Sectioned manifolds facilitating pumped immersion-cooling of electronic components
JP2017050548A (ja) 電子機器の冷却システム
JP2018117039A (ja) 液浸冷却装置、液浸冷却システム及び電子装置の冷却方法
JPWO2016117098A1 (ja) 電子機器、及び電子機器の冷却装置
TWM451578U (zh) 雙相變化循環式水冷模組

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170803

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180710

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20180905

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20190326