JPWO2015030199A1 - 太陽電池素子およびその製造方法 - Google Patents

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Abstract

高い変換効率を有し、電極形成後の基板の反りが小さく、基板と電極との密着強度を向上させた太陽電池素子を提供するために、以下の太陽電池素子とする。表面にp型半導体領域を有するシリコン基板と、前記p型半導体領域の上に配置されたアルミニウムを主成分とする電極とを備えている太陽電池素子において、前記電極は、酸化バナジウム、酸化テルルおよび酸化ボロンを含むガラス成分を有しており、該ガラス成分において、酸化バナジウムの含有量は、酸化テルルの含有量と酸化ボロンの含有量との和よりも少ない。または、前記電極は、酸化バナジウム、酸化テルルおよび酸化ボロンを含むガラス成分を有しており、該ガラス成分は、該ガラス成分を100質量部とした場合に、酸化バナジウムを5〜33質量部、酸化テルルを4〜30質量部、および酸化ボロンを4〜18質量部含有している。

Description

本発明は太陽電池素子およびその製造方法に関する。
一般的に、半導体基板としてシリコン基板を用いた太陽電池素子は、一導電型のシリコン基板の受光面に逆導電型層が設けられたpn接合構造を有している。さらに、太陽電池素子は、p型シリコン領域に対して電気的に接続されるp型電極と、n型シリコン領域に対して電気的に接続されるn型電極とを有している。
上記のp型電極としては、アルミニウムを主成分とする電極が知られている。(例えば、特開2003−223813号公報、特開2012−218982号公報および特開2013−168369号公報を参照)。
太陽電池素子に用いられる電極は、例えば、電極が設けられる半導体基板に対する密着強度が大きいこと、電極形成後の半導体基板の反りの増大が小さいことなどが要求される。しかしながら、これらの電極の特性は、電極が形成される半導体基板の表面形状等の構造による影響を受けやすい。
本発明は、このような課題に鑑みてなされたものであり、特に、半導体基板に対する電極の密着強度が大きく、電極形成後のシリコン基板の反りの増大が小さい太陽電池素子およびその製造方法を提供することを目的とする。
本発明の一態様に係る太陽電池素子は、表面にp型半導体領域を有するシリコン基板と、前記p型半導体領域の上に配置されたアルミニウムを主成分とする電極とを備えている太陽電池素子において、前記電極は、酸化バナジウム、酸化テルルおよび酸化ボロンを含むガラス成分を有しており、該ガラス成分において、酸化バナジウムの含有量は、酸化テルルの含有量と酸化ボロンの含有量との和よりも少ない。
本発明の上記とは別の態様に係る太陽電池素子は、表面にp型半導体領域を有するシリコン基板と、前記p型半導体領域の上に配置されたアルミニウムを主成分とする電極とを備えている太陽電池素子であって、前記電極は、酸化バナジウム、酸化テルルおよび酸化ボロンを含むガラス成分を有しており、該ガラス成分は、該ガラス成分を100質量部とした場合に、酸化バナジウムを5〜33質量部、酸化テルルを4〜30質量部、および酸化ボロンを4〜18質量部含有している。
また、本発明の一態様に係る太陽電池素子の製造方法は、表面にp型半導体領域を有するシリコン基板と、前記p型半導体領域の上に配置されたアルミニウムを主成分とする電極とを備えている太陽電池素子の製造方法であって、前記シリコン基板の前記p型半導体領域の上に、酸化バナジウム、酸化テルルおよび酸化ボロンを含むガラス成分を有しており、該ガラス成分において酸化バナジウムの含有量が酸化テルルの含有量と酸化ボロンの含有量との和よりも少ない、アルミニウムを主成分とする粉末および有機ビヒクルを有する導電性ペーストを印刷する印刷工程と、前記導電性ペーストを焼成して、前記シリコン基板の前記p型半導体領域の上に前記電極を形成する電極形成工程とを有する。
本発明の上記とは別の態様に係る太陽電池素子の製造方法は、表面にp型半導体領域を有するシリコン基板と、前記p型半導体領域の上に配置されたアルミニウムを主成分とする電極とを備えている太陽電池素子の製造方法であって、前記シリコン基板の前記p型半導体領域の上に、酸化バナジウム、酸化テルルおよび酸化ボロンを含むガラス成分を有しており、該ガラス成分が、該ガラス成分を100質量部とした場合に、酸化バナジウムを5〜33質量部、酸化テルルを4〜30質量部、および酸化ボロンを4〜18質量部含有している、アルミニウムを主成分とする粉末および有機ビヒクルを有する導電性ペーストを印刷する印刷工程と、前記導電性ペーストを焼成して、前記シリコン基板の前記p型半導体領域の上に前記電極を形成する電極形成工程とを有する。
上記構成の太陽電池素子およびその製造方法によれば、高い変換効率を維持して、電極形成後のシリコン基板の反りの増大がなく、さらにシリコン基板と電極との密着強度を向上させた太陽電池素子を提供することができる。
上記構成の太陽電池素子およびその製造方法によれば、例えば、シリコン基板の電極形成面にテクスチャがある場合、または反射防止層が形成されている場合などにおいて、電極形成面の構造の影響を受けにくく、良好な電極特性を実現可能な太陽電池素子を提供できる。
図1は、本発明の一形態に係る太陽電池素子の一例を受光面側から見た平面図である。 図2は、本発明の一形態に係る太陽電池素子の一例を非受光面側から見た平面図である。 図3は、図1においてK−K線の一点鎖線部分で切断した部位の断面図である。
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、図面は模式的に示しているので、各図における構成要素のサイズおよび位置関係等は適宜変更し得る。
<導電性ペースト>
本実施形態の太陽電池素子に用いる電極用の導電性ペーストは、例えば、アルミニウムを主成分とするアルミニウム粉末と、少なくとも酸化バナジウム、酸化テルルおよび酸化ボロンを含むガラス成分と、有機ビヒクルとを有している。そして、ガラス成分においては、酸化バナジウムの含有量は、酸化テルルの含有量と酸化ボロンの含有量との和よりも少ない。また、この導電性ペーストのガラス成分は、ガラス成分を100質量部とした場合に、酸化バナジウムを5〜33質量部、酸化テルルを4〜30質量部、および酸化ボロンを4〜18質量部含有していてもよい。
アルミニウム粉末は、高純度のアルミニウムを主成分とするか、またはアルミニウムを主成分とする合金を主成分とする金属粉末である。ここで、「主成分」とは、金属粉末全体に対して50質量%以上存在する場合をいうものとし、以下の「主成分」についても同様に定義されるものとする。
アルミニウム粉末の形状は、特に制限はないが、球状またはフレーク状等の粉末を使用できる。また、アルミニウム粉末の粒径は、導電性ペーストの塗布(印刷)条件および焼成条件によって適宜選択される。ただし、平均粒径0.1〜10μm程度の粉末が印刷性および焼成特性の観点から適している。導電性ペーストの総質量に対するアルミニウム粉末の質量は、50%以上90%以下であることが好ましい。
アルミニウム粉末に対して、テルル、鉛、バナジウム、ボロン等を含有するガラス粉末を添加する。また、ガラス粉末はテルル、鉛、バナジウム、ボロン等の元素単体もしくはこれらの合金を主成分とする金属粒子または化合物粒子が含まれていてもよい。このガラス粉末は、例えば、PbO−B系の第1ガラスフリット、TeO−V系の第2ガラスフリットなどを混合して作製してもよいし、上記成分を混合して作製したガラスを粉砕して作製してもよい。
導電性ペーストの総質量に対するガラス粉末の含有質量は0.01%以上5%以下であることが好ましい。ガラス粉末の含有質量をこの数値範囲内にすることによって、シリコン基板と電極の電気的、機械的コンタクトが良好になり、電極形成後の基板の反りも小さく抑えられる。
有機ビヒクルは、バインダーとして使用される有機樹脂成分(有機バインダー)を有機溶剤に溶解して得られる。有機バインダーとしては、セルロース系樹脂、アクリル樹脂、またはアルキッド樹脂等が用いられる。また、有機溶剤としては、ターピネオール、ジエチレングリコールモノブチルエーテルアセテート等が用いられる。
なお、導電性ペーストの副成分として、シリコン粉末、亜鉛粉末などを添加してもよい。シリコン粉末と亜鉛粉末を適量含むことで、電極形成後の基板の反りおよび電極の抵抗などが改善する。
<太陽電池素子>
本実施形態の太陽電池素子10の基本構成について説明する。太陽電池素子10は、第1主面である裏面1bと、裏面1bの反対側に位置する第2主面である表面1aを有している。また、太陽電池素子10は、例えば、p型半導体領域が最も裏面1b側に位置するとともに、n型半導体領域が最も表面1a側に位置するように、p型半導体領域およびn型半導体領域が積み重ねられているシリコン基板1を有している。また、太陽電池素子10は、シリコン基板1のp型半導体領域の上に配置された電極をさらに有している。
ここで、上記電極は上記導電性ペーストのガラス成分の質量比がほぼ同一に保たれる。つまり、上記電極は、少なくとも酸化バナジウム、酸化テルルおよび酸化ボロンを含むガラス成分を有しており、このガラス成分において、酸化バナジウムの含有量は、酸化テルルの含有量と酸化ボロンの含有量との和よりも少ない。このように、ガラス成分に酸化バナジウム、酸化テルルおよび酸化ボロンが含まれることで、シリコン基板1の裏面にテクスチャおよび反射防止層が形成されている場合など、裏面の状態によらず、良好な電気的特性のp型電極が形成できる。また、上記ガラス成分によって反りが小さく、電極とシリコン基板1との密着性が向上した太陽電池素子を作製できる。
また、上記電極は、少なくとも酸化バナジウム、酸化テルルおよび酸化ボロンを含むガラス成分を有しており、このガラス成分は、ガラス成分を100質量部とした場合に、酸化バナジウムを5〜33質量部、酸化テルルを4〜30質量部、および酸化ボロンを4〜18質量部含有しているものでもよい。上記ガラス成分を用いてp型電極を形成することによって、特性が良好で反りが小さく、電極とシリコン基板1との密着性が向上した太陽電池素子を作製することができる。
次に、太陽電池素子10の具体的な例について説明する。シリコン基板1としては、所定のドーパント元素を有して一導電型(例えば、p型)を有する、単結晶シリコン基板または多結晶シリコン基板を用いる。シリコン基板1の比抵抗は0.2〜2Ω・cm程度である。また、シリコン基板1の厚みは、例えば、250μm以下であるのが好ましく、150μm以下とするのがさらに好ましい。また、シリコン基板1の形状は、特に限定されるものではない。ただし、平面視で四角形状であれば、製法上および多数の太陽電池素子を配列して太陽電池モジュールを構成する際に、太陽電池素子間の隙間を小さくすることができる等の観点から好適である。
シリコン基板1として、p型のシリコン基板を用いる例を説明する。シリコン基板1がp型を有するようにする場合、ドーパント元素としては、例えば、ボロンまたはガリウムを添加するのが好適である。
一導電型層2とpn接合を形成する逆導電型層3は、一導電型層2(シリコン基板1)と逆の導電型を有する層であり、シリコン基板1の表面1a側に設けられている。一導電型層2がp型の導電型を有する場合であれば、逆導電型層3はn型の導電型を有するように形成される。シリコン基板1がp型の導電型を有する場合には、逆導電型層3はシリコン基板1における表面1a側にリン等のドーパント元素を拡散させることによって形成できる。
反射防止層4は、表面1aにおける光の反射率を低減させて、シリコン基板1に吸収される光の量を増大させる。そして、光吸収によって生成する電子正孔対を増大させる役割を果たすことで太陽電池の変換効率の向上に寄与する。反射防止層4は、例えば、窒化シリコン膜、酸化チタン膜、酸化シリコン膜もしくは酸化アルミニウム膜、または、それらの積層膜からなる。反射防止層4の屈折率および厚みは、構成する材料によって適宜選択されて、適当な入射光に対して無反射条件を実現できるように設定される。シリコン基板1上に形成する反射防止層4の屈折率は1.8〜2.3程度、厚みは500〜1200Å程度が好ましい。また、反射防止層4は、シリコン基板1の界面および粒界でのキャリアの再結合による変換効率の低下を低減する、パッシベーション膜としての効果も有する。
BSF(Back-Surface-Field)領域7は、シリコン基板1の裏面1b側に内部電界を形成し、裏面1bの近傍でのキャリアの再結合による変換効率の低下を低減させる役割を有する。BSF領域7はシリコン基板1の一導電型層2と同一の導電型であるが、一導電型層2が含有する多数キャリアの濃度よりも高い多数キャリア濃度を有している。これは、BSF領域7には、一導電型層2にドープされているドーパント元素の濃度よりも高い濃度でドーパント元素が存在することを意味する。BSF領域7は、シリコン基板1がp型を有するのであれば、例えば、裏面1b側にボロンまたはアルミニウムなどのドーパント元素を拡散させることによって、これらドーパント元素の濃度が1×1018〜5×1021atoms/cm程度となるように形成されるのが好適である。
図1に示すように、表面電極5は、表面出力取出電極(フィンガー電極)5aと、表面集電電極(バスバー電極)5bとを有する。表面出力取出電極5aの少なくとも一部は、表面集電電極5bと交差している。この表面出力取出電極5aは、例えば1〜3mm程度の幅を有している。
一方、表面集電電極5bは、その線幅が50〜200μm程度であり、表面出力取出電極5aよりも細い。また、表面集電電極5bは、互いに1.5〜3mm程度の間隔を空けて複数設けられている。
表面電極5の厚みは、10〜40μm程度である。表面電極5は、例えば、銀粉末、ガラスフリット、有機ビヒクル等からなる銀ペーストをスクリーン印刷等によって所望の形状に塗布した後、焼成することによって形成できる。表面電極5の形成においては、銀ペーストの焼成中に溶融したガラスフリットの成分が、反射防止層4を溶融させ、さらにシリコン基板1の最表面と反応した後に固着して表面電極5を形成する。そして、表面電極5とシリコン基板1との電気的に接続されるとともに、表面電極5とシリコン基板1との機械的な接着強度を保持している。なお、表面電極5は、上述のように形成した下地電極層と、その上にめっき法によって形成した導電層であるめっき電極層とから構成されていてもよい。
裏面電極6は、図2に示すように、裏面出力取出電極6aと裏面集電電極6bとを有する。本実施形態の裏面出力取出電極6aの厚みは10〜30μm程度、幅は1.3〜7mm程度である。裏面出力取出電極6aは、例えば、上記の銀ペーストを所望の形状に塗布した後、焼成することによって形成できる。また、裏面集電電極6bは、厚みが15〜50μm程度であり、シリコン基板1の裏面1bの裏面出力取出電極6aの一部を除いた略全面に形成される。この裏面集電電極6bは、例えばアルミニウムを主成分とするアルミニウムペーストを所望の形状に塗布した後、焼成することによって形成できる。
本実施形態において、アルミニウムペーストは、前述のとおり、少なくとも酸化バナジウム、酸化テルルおよび酸化ボロンを含むガラス成分を有しており、このガラス成分において、酸化バナジウムの含有量は、酸化テルルの含有量と酸化ボロンの含有量との和よりも少ない。または、アルミニウムペーストは、少なくとも酸化バナジウム、酸化テルルおよび酸化ボロンを含むガラス成分を有しており、このガラス成分は、ガラス成分を100質量部とした場合に、酸化バナジウムを5〜33質量部、酸化テルルを4〜30質量部、および酸化ボロンを4〜18質量部含有している。これにより、裏面集電電極6bの形成後のシリコン基板1の反りを抑えた状態で、シリコン基板1と裏面集電電極6bとの密着強度を向上させた太陽電池素子10を提供することができる。アルミニウムペースト中の例えば酸化テルルであるTeOは、ガラスのネットワークを形成して、裏面集電電極6bの機械的強度の向上に寄与する。また、TeOは酸化鉛であるPbOよりも反応性が高いため、ペースト塗布面にSiなどの窒化膜またはSiOなどの酸化膜が存在していても、アルミニウムペーストの焼成時にファイヤスルーしやすい(窒化膜および酸化膜と反応したり、窒化膜および酸化膜を溶解させやすい)ので、シリコン基板1と裏面集電電極6bとの良好なコンタクトを実現できる。
本実施形態ではアルミニウムペースト中にテルルは酸化物として存在する例を示したが、テルル単体でも融点が約450℃と低いことが知られているので、アルミニウムペースト中にテルル粉末として添加しても同様の効果が期待できる。また、バナジウム酸化物であるVは電極の安定化、特に、耐湿性、耐水性向上に寄与する。ボロン酸化物であるBに含まれるBはシリコン基板1中に拡散した時にアクセプタ(p型ドーパント)として機能するので、特に、p型シリコン領域の上に電極を形成する際にコンタクト抵抗を小さくすることができる。
特に、本実施形態の裏面集電電極6bの形成に使用するアルミニウムペーストは、アルミニウムを主成分とし、テルル、鉛、バナジウムおよびボロン等を含む。これにより、太陽電池素子10の高い変換効率を維持し、電極形成後の基板の反りを増大させない。さらに、シリコン基板1と裏面集電電極6bとの密着強度を向上させた太陽電池素子10を提供することができる。なお、この電極成分として、ボロンおよびバナジウムを含んでいる場合、電極の機械的強度、耐湿性および電気的特性に優れるので好適である。特に、PbO−B系の第1ガラスフリットに、ガラス軟化点の低いTeO−V系の第2ガラスフリットを添加して使用することで、電極焼成時にガラスフリットがよく広がって、電極の密着強度が向上する。
ここで、太陽電池素子10の電極の構成成分を特定するためには、まず、太陽電池素子の断面をSEM(Scanning Electron Microscope)等で観察して、金属成分からなる領域とガラス成分からなる領域とを判別する。そして、これらの各領域において、EPMA(Electron Probe Micro・Analyser)、SEM−EDX(Scanning Electron Microscope-Energy Dispersive X-ray Detector)、AES(Auger Electron Spectroscopy)、SIMS(Secondary Ion Mass Spectrometry)またはXPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy)等の分析手法を使用して、各領域の組成を調べることができる。なお、アルミニウムペーストのガラス成分は、その焼成後の電極においても変化がほとんどなく、ほぼ同一であることを確認している。
また、ガラス成分からなる領域では、テルル、バナジウム、鉛、ボロン等の元素はTeO、V、PbO、B等の酸化物として存在している。これらの元素の酸化数はガラス成分領域の一部で一定でない場合もあるが、本実施形態においては、便宜上、化学量論に従った酸化物として存在しているものとしてその組成を換算して求めている。
<太陽電池素子の製造方法>
次に、太陽電池素子10の製造方法について説明する。上述したように、太陽電池素子10は半導体基板であるシリコン基板1と、このシリコン基板1の一主面上の第1領域に配置された反射防止層4と、シリコン基板1の一主面上の第2領域に配置された、上記の導電性ペーストを焼成してなる電極とを備えている。このように構成された太陽電池素子10を製造する場合、シリコン基板1の一主面上に反射防止層4を形成する第1工程と、上述した導電性ペーストを反射防止層4上に配置する第2工程と、上述した導電性ペーストを焼成してこの導電性ペーストの下に位置している反射防止層4を除去することによって、反射防止層4をシリコン基板1の第1領域に配置させるとともにシリコン基板1の第2領域に電極を形成する第3工程とを含む。
次に、太陽電池素子10の具体的な製造方法について説明する。まず、一導電型層2を構成するシリコン基板1を準備する。シリコン基板1が単結晶シリコン基板の場合は、例えばFZ(フローティングゾーン)法またはCZ(チョクラルスキー)法などによって形成される。シリコン基板1が多結晶シリコン基板の場合は、例えば鋳造法などによって形成される。なお、以下では、p型の多結晶シリコンを用いた例によって説明する。
最初に、例えば鋳造法によって多結晶シリコンのインゴットを作製する。次いで、そのインゴットを例えば250μm以下の厚みにスライスしてシリコン基板1を作製する。その後、シリコン基板1の切断面の機械的ダメージ層および汚染層を除去するために、表面をNaOH、KOH、またはフッ硝酸などの水溶液でごく微量エッチングするのが望ましい。なお、このエッチング工程後に、ウェットエッチング法またはドライエッチング法を用いて、シリコン基板1の表面に微小な凹凸構造(テクスチャ)を形成するのが望ましい。テクスチャの形成によって、表面1aにおける光の反射率が低減することで、太陽電池の変換効率が向上する。また、テクスチャの形成方法によっては、上記機械的ダメージ層の除去工程を省略することも可能である。
次に、シリコン基板1における表面1a側の表層内にn型の逆導電型層3を形成する。逆導電型層3は、ペースト状態にしたPをシリコン基板1の表面に塗布して熱拡散させる塗布熱拡散法、ガス状態にしたオキシ塩化リン(POCl)を拡散源とした気相熱拡散法、または、リンイオンを直接拡散させるイオン打ち込み法などによって形成される。逆導電型層3は0.1〜1μm程度の厚み、40〜150Ω/□程度のシート抵抗に形成される。なお、逆導電型層3の形成方法は、上記方法に限定されるものではなく、例えば薄膜形成技術を用いて、水素化アモルファスシリコン膜または微結晶シリコン膜を含む結晶質シリコン膜などを形成してもよい。さらに、シリコン基板1と逆導電型層3との間にi型シリコン領域を形成してもよい。
逆導電型層3形成時に、裏面1b側にも逆導電型層が形成された場合には、裏面1b側のみをエッチングして除去して、p型の導電型領域を露出させる。例えば、フッ硝酸溶液にシリコン基板1における裏面1b側のみを浸して逆導電型層3を除去する。その後、逆導電型層3を形成する際に、シリコン基板1の表面に付着した燐ガラスをエッチングして除去する。また、予め裏面1b側に拡散マスクを形成しておき、気相熱拡散法等によって逆導電型層3を形成して、続いて拡散マスクを除去するプロセスによっても、同様の構造を形成することが可能である。
以上により、一導電型層2と逆導電型層3とを備えたシリコン基板1を準備することができる。
次に、反射防止膜である反射防止層4を形成する。反射防止層4は、窒化シリコン、酸化チタン、酸化シリコン、または酸化アルミニウムなどからなる膜を、PECVD(plasma enhanced chemical vapor deposition)法、熱CVD法、蒸着法またはスパッタリング法などを用いて形成される。例えば、窒化シリコン膜からなる反射防止層4をPECVD法で形成する場合であれば、反応室内を500℃程度としてシラン(SiH)とアンモニア(NH)との混合ガスを窒素(N)で希釈し、グロー放電分解でプラズマ化させて堆積させることで反射防止層4が形成される。
次に、シリコン基板1の裏面1b側に、BSF領域7を形成する。製法としては、例えば、三臭化ボロン(BBr)を拡散源とした熱拡散法を用いて温度800〜1100℃程度で形成する方法、アルミニウムペーストを印刷法で塗布した後、温度600〜850℃程度で焼成してアルミニウムをシリコン基板1に拡散する方法を用いることができる。アルミニウムペーストを印刷して焼成する方法を用いれば、印刷面だけに所望の拡散領域を形成することができる。さらに、逆導電型層3の形成時に裏面1b側にも形成されているn型の逆導電型層を除去せずに、裏面1b側の周辺部のみにレーザー等を用いてpn分離(pn接合部の連続領域を分離すること)を行うことができる。なお、BSF領域7の形成方法は上記方法に限定されるものではなく、例えば薄膜技術を用いて、水素化アモルファスシリコン膜、または微結晶シリコン膜を含む結晶質シリコン膜などを形成してもよい。さらに、一導電型層2と第3半導体層4との間にi型シリコン領域を形成してもよい。
次に、表面電極5と裏面電極6とを形成する。表面電極5は、銀を主成分とする導電成分と、ガラスフリットと、有機ビヒクルとを含有する導電性ペーストを用いて作製される。この導電性ペーストを、シリコン基板1の表面1aに塗布する。その後、最高温度600〜850℃で数十秒〜数十分程度焼成することによって、シリコン基板1上に表面電極5が形成される。塗布法としては、スクリーン印刷法などを用いることができる。そして塗布後、好ましくは所定の温度で溶剤を蒸散させて乾燥させる。焼成過程ではファイヤスルーによって、高温下においてガラスフリットと反射防止層4が反応することで表面電極5がシリコン基板1と電気的、機械的に接続される。表面電極5は上述のように形成した下地電極層と、その上にめっき法によって形成しためっき電極層とから構成されていてもよい。
裏面集電電極6bは、例えば、少なくとも酸化バナジウム、酸化テルルおよび酸化ボロンを含むガラス成分を有しており、このガラス成分において、酸化バナジウムの含有量は、酸化テルルの含有量と酸化ボロンの含有量との和よりも少ない、アルミニウムを主成分とする粉末と、有機ビヒクルとを含有するアルミニウムペーストを用いて作製される。または、裏面集電電極6bは、酸化バナジウム、酸化テルルおよび酸化ボロンを含むガラス成分を有しており、このガラス成分は、ガラス成分を100質量部とした場合に、酸化バナジウムを5〜33質量部、酸化テルルを4〜30質量部、および酸化ボロンを4〜18質量部含有している、アルミニウムを主成分とする粉末と、有機ビヒクルとを含有するアルミニウムペーストを用いて作製される。このアルミニウムペーストを、裏面出力取出電極6aを形成する部位の一部を除いて、裏面1bのほぼ全面に塗布する。塗布法としては、スクリーン印刷法などを用いることができる。このように、アルミニウムペーストを塗布した後、所定の温度で溶剤を蒸散させて乾燥させる方が作業時にアルミニウムペーストがその他の部分に付着しにくいという観点から好ましい。
そして、本実施形態で用いるアルミニウムペーストは、前述のとおり、例えば、テルル、バナジウム、ボロン等を含有するので、電極形成後の基板の反りを増大させることなく、シリコン基板1と電極との密着強度を向上させた太陽電池素子10を提供できる。
裏面出力取出電極6aは、銀を主成分とする金属粉末と、ガラスフリットと、有機ビヒクルとを含有する銀ペーストを用いて作製される。この銀ペーストを予め決められた形状に塗布する。なお、銀ペーストは、アルミニウムペーストの一部と接する位置に塗布されることで、裏面出力取出電極6aと裏面集電電極6bとの一部が重なって電気的コンタクトを形成する。塗布法としては、スクリーン印刷法などを用いることができる。この塗布後、好ましくは所定の温度で溶剤を蒸散させて乾燥させる。
そして、シリコン基板1を焼成炉内にて最高温度が600〜850℃で数十秒〜数十分程度焼成することによって、裏面電極6がシリコン基板1の裏面1b側に形成される。裏面出力取出電極6aと裏面集電電極6bはどちらを先に塗布してもよく、また、同時に焼成してもよいし、どちらかを先に塗布・焼成してから、もう一方を塗布・焼成してもよい。
特に、裏面集電電極6bを塗布・焼成して形成してから裏面出力取出電極6aを塗布・焼成する場合には、アルミニウムペーストを用いる。これにより、裏面出力取出電極6aと裏面集電電極6bとの密着強度(剥離強度)が増加させながら、裏面集電電極6b表面の平坦性を保つことができて、裏面出力取出電極6aの印刷の際、所望の形状を形成しやすいので好適である。
シリコン基板1の表面のテクスチャは、前述のとおり受光面である表面1aに形成されるが、形成方法によっては、裏面1bにも形成される場合がある。特に、前記テクスチャの凹凸の幅が電極中のアルミニウム粒子の径よりも小さい場合は、電極の機械的強度が低下しやすい。よって、本実施形態に用いる導電性ペーストおよび電極は特に有効に用いられる。
反射防止層4として用いられる窒化膜または酸化膜は、シリコン基板1の受光面である表面1aに形成されるが、製法上、裏面1bにも回りこんで、その端部領域に形成される場合がある。本実施形態で用いる導電性ペーストはこのような膜に対しても焼成時のファイヤスルーによって裏面電極6を形成できるので好適である。
<その他の実施形態>
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、以下のように、本発明の範囲内で多くの修正および変更が可能である。
例えば、シリコン基板1の裏面1b側にパッシベーション膜を設けてもよい。このパッシベーション膜は、シリコン基板1の裏面1bにおいて、キャリアの再結合を低減する役割を有するものである。パッシベーション膜としては、窒化シリコン、酸化シリコン、酸化チタンまたは酸化アルミニウムなどが使用できる。パッシベーション膜の厚みは、100〜2000Å程度に、PECVD法、熱CVD法、蒸着法またはスパッタリング法などを用いて形成すればよい。そのため、シリコン基板1の裏面1b側の構造はPERC(Passivated Emitter and Rear Cell)構造またはPERL(Passivated Emitter Rear Locally-diffused)構造に用いられる裏面1b側の構造を用いることができる。本実施形態の導電性ペーストは、このような裏面パッシベーション膜上に導電性ペーストを塗布・焼成して電極を形成する工程にも好適に使用できる。
また、表面集電電極5bの長手方向に対して交差する両端部に表面集電電極5bと交差する線状の補助電極5cを形成してもよい。これにより、表面集電電極5bの一部で断線が生じても、抵抗の上昇を低減し、他の表面集電電極5bを通して表面出力取出電極5aに電流を流すことができる。
また、裏面電極6においても表面電極5と同様に、裏面出力取出電極6aと、裏面出力取出電極6aと交差する複数の線状の裏面集電電極6bとを有する形状であってもよく、下地電極層とめっき電極層よって形成されてもよい。
シリコン基板1の表面電極5形成位置において、逆導電型層3と同じ導電型であり、逆導電型層3より高濃度にドーピングされた領域(選択エミッタ領域)を形成してもよい。この時、選択エミッタ領域は逆導電型層3よりもシート抵抗が低く形成される。選択エミッタ領域のシート抵抗を低く形成することによって、電極とのコンタクト抵抗を低減することができる。選択エミッタ領域は、次のように形成できる。例えば、塗布熱拡散法または気相熱拡散法によって逆導電型層3を形成した後、リンガラスが残存する状態で表面電極5の電極形状に合わせて、シリコン基板1にレーザーを照射する。これにより、リンガラスから逆導電型層3へリンが再拡散することによって、選択エミッタ領域を形成することができる。
また、上述の実施形態では、シリコン基板1としてp型シリコン基板を用いた例について説明したが、これに限定されない。例えば、n型シリコン基板を用いて太陽電池素子10を作製することができる。シリコン基板1としてn型シリコン基板を用いた場合、一導電型層2はn型、逆導電型層3はp型の導電型を有する。n型の一導電型層2のドーパントとしてはリン、ヒ素などを用いることができ、p型の逆導電型層3のドーパントとしてはボロン、アルミニウムなどを用いることができる。また、表面電極5として、アルミニウムを主成分とし、テルル酸化物、鉛酸化物、バナジウム酸化物およびボロン酸化物を含むガラス成分を含む電極を形成する。これにより、高い変換効率を維持して、電極形成後の基板の反りを増大させることなく、基板と電極との密着強度を向上させた太陽電池素子を提供することができる。
以下に、実施例について説明する。なお、参照図面は図1〜3とする。
まず、平面形状が1辺156mmの正方形状、厚さが約200μm、比抵抗が約1.5Ω・cmの単結晶シリコン基板1を用意した。
次に、NaOH水溶液に2−プロパノールを添加したエッチング溶液を用いて、ウェットエッチング法によって、シリコン基板1の表面1aにテクスチャを形成した。
そして、POClを拡散源とした気相熱拡散法によって逆導電型層3を形成した。このとき生じた燐ガラスは、フッ酸溶液によるエッチングで除去した。また、レーザー光を用いてpn分離を行った。逆導電型層3のシート抵抗は約70Ω/□であった。
その後、シリコン基板1の表面1aにPECVD法によって、反射防止層4となる窒化シリコン膜を形成した。このとき、窒化シリコン膜の一部はシリコン基板1の裏面1bの端部に回りこんで形成された。
さらに、シリコン基板1の裏面1bにアルミニウムペーストを略全面に塗布して、これを焼成してBSF領域7および裏面集電電極6bを形成した。また、シリコン基板1の表面1aおよび裏面1bのそれぞれに銀ペーストを塗布して、これを焼成して表面電極5と裏面出力取出電極6aとを形成した。
裏面集電電極6bは、以下のようにして形成した。まず、アルミニウムペーストを、アルミニウム粉末、表1に示す成分のGF−A〜GF−Dのガラスフリットおよび有機ビヒクル等を混合して、表2に示す条件1〜11の成分比で作製した。
表1に示すように、ガラスフリットGF−Aは、Bが20質量部、PbOが80質量部であり、その他の成分は実質的に無い。一方、ガラスフリットGF−Bは、Vが45質量部、TeOが40質量部を含み、さらにその他の成分として15質量部含む。また。ガラスフリットGF−Cは、Vが46質量部、TeOが36質量部を含み、さらにその他の成分として18質量部含む。また、ガラスフリットGF−Dは、Bが14質量部、SiOが44質量部、Biが25質量部を含み、その他の成分として17質量部含む。
Figure 2015030199
Figure 2015030199
表2に示すように、条件1では、アルミニウム粉末を100質量部、ガラスフリットGF−Aを0.26質量部および有機ビヒクル等を混合してアルミニウムペーストを作製した。また、条件2−6では、アルミニウム粉末を100質量部、ガラスフリットGF−Aを0.26質量部、ガラスフリットGF−Bを0.03〜1.5質量部および有機ビヒクル等を混合してアルミニウムペーストを作製した。また、条件7−8では、アルミニウム粉末を100質量部、ガラスフリットGF−Aを0.26質量部、ガラスフリットGF−Cを0.15〜0.45質量部および有機ビヒクル等を混合してアルミニウムペーストを作製した。また、条件9では、アルミニウム粉末を100質量部、ガラスフリットGF−Aを0.26質量部、ガラスフリットGF−Bを0.08質量部、ガラスフリットGF−Cを0.08質量部および有機ビヒクル等を混合してアルミニウムペーストを作製した。また、条件10では、アルミニウム粉末を100質量部、ガラスフリットGF−Aを0.13質量部、ガラスフリットGF−Bを0.75質量部、ガラスフリットGF−Dを0.13質量部および有機ビヒクル等を混合してアルミニウムペーストを作製した。条件11では、アルミニウム粉末を100質量部、ガラスフリットGF−Bを0.75質量部、ガラスフリットGF−Dを0.26質量部および有機ビヒクル等を混合してアルミニウムペーストを作製した。
表1に示す主なガラス成分の値は、ガラスフリットが100質量部である場合に、ガラスフリット中に含まれる各金属酸化物成分の質量比である。この質量比はガラス成分中の金属酸化物が全て化学量論組成の特定の酸化物として存在するものとして換算した値であり、以下の説明においても同様とする。すなわち、バナジウムの酸化物(酸化バナジウム)は全てVとして存在するものとして換算した。また、テルルの酸化物(酸化テルル)は全てTeOで存在するものとして換算した。ボロンの酸化物(酸化ボロン)は全てBで存在するものとして換算した。鉛の酸化物(酸化鉛)は全てPbOで存在するものとして換算した。シリコンの酸化物は全てSiOで存在するものとして換算した。ビスマスの酸化物は全てBiで存在するものとして換算した。
その後、これらのアルミニウムペーストをスクリーン印刷法によって、各シリコン基板1の裏面1bに塗布した。なお、表1において、ガラスフリットGF−B、GF−CおよびGF−Dにおける「その他」の成分は、P、ZnO、BaO、AgOなどであり、副次的に添加されたものである。
そして、シリコン基板1のピーク温度が約800℃になるように、3分間アルミニウムペーストを焼成して、シリコン基板1の上に裏面集電電極6bを形成した。形成後の裏面集電電極6bの成分を表3に示す。
Figure 2015030199
表3は、作製した電極の成分構成比を示した表であり、アルミニウムを100質量部とした場合に、酸化バナジウム、酸化テルル、酸化ボロンおよび酸化鉛がどれだけ存在したかを示す。上述したように、例えばバナジウムであれば、バナジウム酸化物が全て化学量論組成のVで存在するものとして換算した。他の酸化物も表3に示した酸化物として存在するものとして換算した。
そして、作製した太陽電池素子10の光電変換効率とシリコン基板1の反りとを測定し、裏面集電電極6bとシリコン基板1との密着強度を評価するための剥離試験(ピール試験)を行った。ピール試験の結果を裏面集電電極6bのガラス成分構成比と併せて表4に示す。なお、表4のガラス成分構成比は、全ガラス成分を100質量部とした場合、各ガラス成分の質量比を示している。
Figure 2015030199
光電変換効率はJIS C 8913に基づいて、AM(Air Mass)1.5および100mW/cmの照射の条件下にて測定した。その結果、条件2〜11はいずれも条件1に対して高い光電変換効率を維持していることを確認した。
シリコン基板1の反りの測定は、シリコン基板1の表面1a側を下にした状態で水平な台の上に載置して、表面1aの最低点を含む水平面と裏面1bの最高点を含む水平面との鉛直方向距離を測定した。その結果、条件1〜11の反りは2.0〜2.7mmであり、いずれも条件1に比べて反りの大きな変化はなかった。ただし、条件2,3は反りが条件1よりも小さく、2.1mm以下であった。
つまり、本実施例のように、裏面集電電極6bにガラス成分100質量部中に酸化バナジウムを5〜33質量部含有させても、反りが大きくなることがなかったことが確認できた。
ピール試験は、太陽電池素子の周辺部(端部)および面内中央部において、裏面集電電極6b上に、接着強度が異なる3種類の評価用テープを接着して、接着面に対して垂直方向に所定速度でテープを引っ張ることによって、剥離箇所および剥離強度を評価した。また、表4において、「端部」とは太陽電池素子10の端から3mm以内の領域で定義されて、「面内」とはそれ以外の領域で定義される部位である。
ピール試験で使用した評価用の粘着テープは、テープ1、テープ2、テープ3の順で接着力が大きいものを使用した。ここで、接着力が最も小さいテープ1では、接着力は約1.2N/cmであった。また、ピール試験結果は0〜3の4段階のレベルで評価した。表4のレベル「3」はいずれのテープでも電極の剥がれが目視で見られなかった。この場合、工程が多少ばらついても電極の剥がれが生じないと予想される。表4のレベル「2」は、テープ2まで電極の剥がれが目視で見られず、太陽電池素子の量産時に求められる電極の密着力を有するレベルである。表4のレベル「1」は、テープ1までは電極の剥がれが目視で見られず、電極密着強度試験の下限であり、不良ではないというレベルである。一方、表4のレベル「0」は、テープ1で電極が剥がれたものであり、不良に相当する。
表4に示すように、裏面集電電極6bのガラス成分において、酸化バナジウムの含有量が、酸化テルルの含有量と酸化ボロンの含有量との和よりも少ない場合(条件2〜5および条件7〜11)、いずれも電極の剥がれがなく(レベル「1」以上)、ピール試験結果が良好であった。
また、裏面集電電極6bのガラス成分100質量部中酸化ボロンを4〜18質量部含有している条件2〜5および条件7〜11では、いずれも電極の剥がれがなく(レベル「1」以上)、ピール試験結果が良好であった。
また、裏面集電電極6bは、酸化バナジウム、酸化テルルおよび酸化ボロンを含むガラス成分を有しており、このガラス成分を100質量部とした場合に、酸化バナジウムを5〜33質量部、酸化テルルを4〜30質量部、および酸化ボロンを4〜18質量部含有している、条件2〜5および条件7〜11では、いずれも電極の剥がれがなく(レベル「1」以上)、ピール試験結果が良好であった。
また、裏面集電電極6bのガラス成分100質量部中に、酸化鉛を10〜72質量部含有している条件2−5および条件7〜10では、いずれも電極の剥がれがなく(レベル「1」以上)、ピール試験結果が良好であった。また、酸化鉛が実質的に無い場合(条件11)でも電極の剥がれがなかった。ただし、酸化鉛のガラス成分中の含有量は多すぎるとピール試験の端部での剥がれが生じた。これらの結果から、ガラス成分でピール試験の結果に特に大きく影響を及ぼしているのは、ガラス成分中の酸化バナジウム、酸化テルルおよび酸化ボロンの含有量であると思われる。
また、裏面集電電極6bは、酸化バナジウム、酸化テルルおよび酸化ボロンを含むガラス成分を有しており、このガラス成分を100質量部とした場合に、酸化バナジウムを16〜29質量部、酸化テルルを13〜25質量部、および酸化ボロンを7〜13質量部含有している、条件3〜4および条件7〜9では、いずれも電極の良好な密着力を示し(レベル「2」以上)、ピール試験結果がきわめて良好であった。
さらに、表3からは、裏面集電電極6bは、アルミニウムを100質量部とした場合に、少なくとも酸化バナジウムが0.01〜0.34質量部または酸化テルルが0.01〜0.30質量部含んでいる、条件2〜5および条件7〜11では、いずれも電極の剥がれがなく(レベル「1」以上)、ピール試験結果が良好であった。
以上の結果によって、裏面集電電極6bに少なくとも酸化バナジウム、酸化テルルおよび酸化ボロンを含むガラス成分を有しており、このガラス成分において、酸化バナジウムの含有量は、酸化テルルの含有量と酸化ボロンの含有量との和よりも少ない場合の効果を確認することができた。
また、同様に、裏面集電電極6bに少なくとも酸化バナジウム、酸化テルルおよび酸化ボロンを含むガラス成分を有しており、このガラス成分は、ガラス成分を100質量部とした場合に、酸化バナジウムを5〜33質量部、酸化テルルを4〜30質量部、および酸化ボロンを4〜18質量部含有している場合の効果も確認することができた。
1 :シリコン基板
1a :表面
1b :裏面
2 :第1半導体層
3 :第2半導体層
4 :反射防止層
5 :表面電極
5a :表面出力取出電極
5b :表面集電電極
5c :補助電極
6 :裏面電極
6a :裏面出力取出電極
6b :裏面集電電極
7 :BSF領域
10 :太陽電池素子
本発明の一態様に係る太陽電池素子は、表面にp型半導体領域を有するシリコン基板と、前記p型半導体領域の上に配置されたアルミニウムを主成分とする電極とを備えている太陽電池素子であって、前記電極は、酸化バナジウム、酸化テルル酸化ボロンおよび酸化鉛を含むガラス成分を有しており、該ガラス成分において、酸化バナジウムの含有量は、酸化テルルの含有量と酸化ボロンの含有量との和よりも少なく、前記ガラス成分を100質量部とした場合に、酸化鉛を10〜72質量部含有している
本発明の上記とは別の態様に係る太陽電池素子は、表面にp型半導体領域を有するシリコン基板と、前記p型半導体領域の上に配置されたアルミニウムを主成分とする電極とを備えている太陽電池素子であって、前記電極は、酸化バナジウム、酸化テルル酸化ボロンおよび酸化鉛を含むガラス成分を有しており、該ガラス成分は、該ガラス成分を100質量部とした場合に、酸化バナジウムを5〜33質量部、酸化テルルを4〜30質量部酸化ボロンを4〜18質量部、および酸化鉛を10〜72質量部含有している。
上記構成の太陽電池素子によれば、高い変換効率を維持して、電極形成後のシリコン基板の反りの増大がなく、さらにシリコン基板と電極との密着強度を向上させた太陽電池素子を提供することができる。
上記構成の太陽電池素子によれば、例えば、シリコン基板の電極形成面にテクスチャがある場合、または反射防止層が形成されている場合などにおいて、電極形成面の構造の影響を受けにくく、良好な電極特性を実現可能な太陽電池素子を提供できる。

Claims (8)

  1. 表面にp型半導体領域を有するシリコン基板と、前記p型半導体領域の上に配置されたアルミニウムを主成分とする電極とを備えている太陽電池素子であって、
    前記電極は、酸化バナジウム、酸化テルルおよび酸化ボロンを含むガラス成分を有しており、該ガラス成分において、酸化バナジウムの含有量は、酸化テルルの含有量と酸化ボロンの含有量との和よりも少ない太陽電池素子。
  2. 前記電極の前記ガラス成分は、該ガラス成分を100質量部とした場合に、酸化ボロンを4〜18質量部含有している請求項1に記載の太陽電池素子。
  3. 表面にp型半導体領域を有するシリコン基板と、前記p型半導体領域の上に配置されたアルミニウムを主成分とする電極とを備えている太陽電池素子であって、
    前記電極は、酸化バナジウム、酸化テルルおよび酸化ボロンを含むガラス成分を有しており、該ガラス成分は、該ガラス成分を100質量部とした場合に、酸化バナジウムを5〜33質量部、酸化テルルを4〜30質量部、および酸化ボロンを4〜18質量部含有している太陽電池素子。
  4. 前記電極の前記ガラス成分は、該ガラス成分を100質量部とした場合に、酸化バナジウムを16〜29質量部、酸化テルルを13〜25質量部、および酸化ボロンを7〜13質量部含有している請求項1乃至3のいずれかに記載の太陽電池素子。
  5. 前記電極の前記ガラス成分はさらに酸化鉛を含有しており、該酸化鉛含有ガラス成分を100質量部とした場合に、酸化鉛を10〜72質量部含有している請求項1乃至4のいずれかに記載の太陽電池素子。
  6. 前記電極は、アルミニウムを100質量部とした場合に、酸化バナジウムを0.01〜0.34質量部または酸化テルルを0.01〜0.30質量部含有している請求項1乃至4のいずれかに記載の太陽電池素子。
  7. 表面にp型半導体領域を有するシリコン基板と、前記p型半導体領域の上に配置されたアルミニウムを主成分とする電極とを備えている太陽電池素子の製造方法であって、
    前記シリコン基板の前記p型半導体領域の上に、酸化バナジウム、酸化テルルおよび酸化ボロンを含むガラス成分を有しており、該ガラス成分において酸化バナジウムの含有量が酸化テルルの含有量と酸化ボロンの含有量との和よりも少ない、アルミニウムを主成分とする粉末および有機ビヒクルを有する導電性ペーストを印刷する印刷工程と、
    前記導電性ペーストを焼成して、前記シリコン基板の前記p型半導体領域の上に前記電極を形成する電極形成工程とを有する太陽電池素子の製造方法。
  8. 表面にp型半導体領域を有するシリコン基板と、前記p型半導体領域の上に配置されたアルミニウムを主成分とする電極とを備えている太陽電池素子の製造方法であって、
    前記シリコン基板の前記p型半導体領域の上に、酸化バナジウム、酸化テルルおよび酸化ボロンを含むガラス成分を有しており、該ガラス成分が、該ガラス成分を100質量部とした場合に、酸化バナジウムを5〜33質量部、酸化テルルを4〜30質量部、および酸化ボロンを4〜18質量部含有している、アルミニウムを主成分とする粉末および有機ビヒクルを有する導電性ペーストを印刷する印刷工程と、
    前記導電性ペーストを焼成して、前記シリコン基板の前記p型半導体領域の上に前記電極を形成する電極形成工程とを有する太陽電池素子の製造方法。
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6580383B2 (ja) * 2015-06-17 2019-09-25 ナミックス株式会社 導電性ペースト、太陽電池及び太陽電池の製造方法
JP6713747B2 (ja) * 2015-10-14 2020-06-24 京都エレックス株式会社 抵抗体ペースト組成物およびこれを用いた発熱抵抗体
USD815029S1 (en) * 2016-08-12 2018-04-10 Solaria Corporation Solar cell article
USD815028S1 (en) * 2016-08-12 2018-04-10 Solaria Corporation Solar cell article
USD810676S1 (en) * 2016-08-12 2018-02-20 Solaria Corporation Solar cell article
USD810675S1 (en) * 2016-08-12 2018-02-20 Solaria Corporation Solar cell article
USD817264S1 (en) * 2016-08-12 2018-05-08 Solaria Corporation Solar cell article
US10040717B1 (en) * 2017-09-18 2018-08-07 Jiangxi Jiayin Science and Technology, Ltd. Thick-film paste with multiple discrete frits and methods for contacting crystalline silicon solar cell emitter surfaces
WO2022176519A1 (ja) * 2021-02-16 2022-08-25 昭和電工マテリアルズ株式会社 電極形成用組成物、太陽電池素子及びアルミニウム/銀積層電極
WO2022176520A1 (ja) * 2021-02-16 2022-08-25 昭和電工マテリアルズ株式会社 電極形成用組成物、太陽電池素子及びアルミニウム/銀積層電極

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009097264A1 (en) * 2008-01-30 2009-08-06 Basf Catalysts Llc Glass frits
WO2012099877A1 (en) * 2011-01-18 2012-07-26 Heraeus Precious Metals North America Conshohocken Llc Electroconductive paste compositions and solar cell electrodes and contacts made therefrom
JP2012218982A (ja) * 2011-04-11 2012-11-12 Hitachi Chemical Co Ltd 電子部品、それに適用されるアルミニウム電極用導電性ペースト、及びアルミニウム電極用ガラス組成物
JP2012227185A (ja) * 2011-04-14 2012-11-15 Hitachi Chem Co Ltd 電極用ペースト組成物、太陽電池素子及び太陽電池
JP2013026523A (ja) * 2011-07-22 2013-02-04 Hitachi Chem Co Ltd インクジェット用不純物拡散層形成組成物、不純物拡散層の製造方法、並びに、太陽電池素子及び太陽電池
JP2013025991A (ja) * 2011-07-20 2013-02-04 Hitachi Chem Co Ltd 電極用ペースト組成物および太陽電池
JP2013103840A (ja) * 2011-11-10 2013-05-30 Hitachi Ltd 導電性ガラスペースト及びそれを利用した電気電子部品
WO2013109466A1 (en) * 2012-01-16 2013-07-25 Ferro Corporation Aluminum conductor paste for back surface passivated cells with locally opened vias
JP2013149617A (ja) * 2012-01-17 2013-08-01 E I Du Pont De Nemours & Co 半導体デバイス製造における微細線高アスペクト比スクリーン印刷のための導電性ペースト

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04270140A (ja) * 1990-06-21 1992-09-25 Johnson Matthey Inc シーリングガラス組成物および導電性成分を含む同組成物
TWI448444B (zh) * 2010-08-11 2014-08-11 Hitachi Ltd A glass composition for an electrode, a paste for an electrode for use, and an electronic component to which the electrode is used

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009097264A1 (en) * 2008-01-30 2009-08-06 Basf Catalysts Llc Glass frits
WO2012099877A1 (en) * 2011-01-18 2012-07-26 Heraeus Precious Metals North America Conshohocken Llc Electroconductive paste compositions and solar cell electrodes and contacts made therefrom
JP2012218982A (ja) * 2011-04-11 2012-11-12 Hitachi Chemical Co Ltd 電子部品、それに適用されるアルミニウム電極用導電性ペースト、及びアルミニウム電極用ガラス組成物
JP2012227185A (ja) * 2011-04-14 2012-11-15 Hitachi Chem Co Ltd 電極用ペースト組成物、太陽電池素子及び太陽電池
JP2013025991A (ja) * 2011-07-20 2013-02-04 Hitachi Chem Co Ltd 電極用ペースト組成物および太陽電池
JP2013026523A (ja) * 2011-07-22 2013-02-04 Hitachi Chem Co Ltd インクジェット用不純物拡散層形成組成物、不純物拡散層の製造方法、並びに、太陽電池素子及び太陽電池
JP2013103840A (ja) * 2011-11-10 2013-05-30 Hitachi Ltd 導電性ガラスペースト及びそれを利用した電気電子部品
WO2013109466A1 (en) * 2012-01-16 2013-07-25 Ferro Corporation Aluminum conductor paste for back surface passivated cells with locally opened vias
JP2013149617A (ja) * 2012-01-17 2013-08-01 E I Du Pont De Nemours & Co 半導体デバイス製造における微細線高アスペクト比スクリーン印刷のための導電性ペースト

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