JPWO2013180077A1 - 放射線画像撮影装置および放射線検出器 - Google Patents
放射線画像撮影装置および放射線検出器 Download PDFInfo
- Publication number
- JPWO2013180077A1 JPWO2013180077A1 JP2014518438A JP2014518438A JPWO2013180077A1 JP WO2013180077 A1 JPWO2013180077 A1 JP WO2013180077A1 JP 2014518438 A JP2014518438 A JP 2014518438A JP 2014518438 A JP2014518438 A JP 2014518438A JP WO2013180077 A1 JPWO2013180077 A1 JP WO2013180077A1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- drive signal
- scanning line
- lines
- scanning
- scanning lines
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 112
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 51
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 23
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 5
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 19
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 26
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 21
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 description 6
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 6
- 101100214488 Solanum lycopersicum TFT2 gene Proteins 0.000 description 5
- 101100489584 Solanum lycopersicum TFT1 gene Proteins 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000006261 foam material Substances 0.000 description 1
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000006335 response to radiation Effects 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 239000013585 weight reducing agent Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
- H01L27/14658—X-ray, gamma-ray or corpuscular radiation imagers
- H01L27/14659—Direct radiation imagers structures
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/32—Transforming X-rays
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4208—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
- A61B6/4233—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector using matrix detectors
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4283—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by a detector unit being housed in a cassette
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
- G01T1/247—Detector read-out circuitry
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/14603—Special geometry or disposition of pixel-elements, address-lines or gate-electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/14641—Electronic components shared by two or more pixel-elements, e.g. one amplifier shared by two pixel elements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
- H01L27/14658—X-ray, gamma-ray or corpuscular radiation imagers
- H01L27/14663—Indirect radiation imagers, e.g. using luminescent members
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/60—Control of cameras or camera modules
- H04N23/667—Camera operation mode switching, e.g. between still and video, sport and normal or high- and low-resolution modes
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/40—Extracting pixel data from image sensors by controlling scanning circuits, e.g. by modifying the number of pixels sampled or to be sampled
- H04N25/42—Extracting pixel data from image sensors by controlling scanning circuits, e.g. by modifying the number of pixels sampled or to be sampled by switching between different modes of operation using different resolutions or aspect ratios, e.g. switching between interlaced and non-interlaced mode
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/40—Extracting pixel data from image sensors by controlling scanning circuits, e.g. by modifying the number of pixels sampled or to be sampled
- H04N25/46—Extracting pixel data from image sensors by controlling scanning circuits, e.g. by modifying the number of pixels sampled or to be sampled by combining or binning pixels
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/68—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
- H04N25/766—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors comprising control or output lines used for a plurality of functions, e.g. for pixel output, driving, reset or power
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/58—Testing, adjusting or calibrating thereof
- A61B6/586—Detection of faults or malfunction of the device
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Multimedia (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Surgery (AREA)
- Biophysics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Public Health (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
Description
なお、上述の第2の走査線Mの端部とは、第2の走査線Mの末端のみではなく、第2の走査線Mの末端から、第2の走査線Mの末端の最も近くに接続されているTFT2まで第2の走査線M上の範囲を含む。また、上記端部とは、第2の走査線Mのガラス基板50上の配置における位置を示すものではない。
図10は、本発明の第2の例示的実施形態に係る放射線画像撮影装置100aの電気的構成を示す構成図である。本例示的実施形態に係る放射線画像撮影装置100aは、放射線検出器20aにおける第2の走査線Mの構成が上記した第1の例示的実施形態と異なる。すなわち、本例示的実施形態において、第2の走査線M1およびM2からなるペアおよび第2の走査線M3およびM4からなるペアがガラス基板50上で互いに電気的に接続されている。
図12は、本発明の第3の例示的実施形態に係る放射線画像撮影装置100bの電気的構成を示す構成図である。本例示的実施形態に係る放射線画像撮影装置100bは、放射線検出器20bの対向する2つの辺のうちの一方の辺に隣接して第1の走査線駆動回路30aが設けられ、他方の辺に隣接して第2の走査線駆動回路30bが設けられている。すなわち、第1の走査線駆動回路30aと第2の走査線駆動回路30bは、放射線検出器20bを間に挟むように配置されている。
図13は、本発明の第4の例示的実施形態に係る放射線画像撮影装置100cの電気的構成を示す構成図である。本例示的実施形態に係る放射線画像撮影装置100cは、第3の例示的実施形態と同様、放射線検出器20cの対向する2つの辺のうちの一方の辺に隣接して第1の走査線駆動回路30aが設けられ、他方の辺に隣接して第2の走査線駆動回路30bが設けられている。すなわち、第1の走査線駆動回路30aと第2の走査線駆動回路30bは、放射線検出器20cを間に挟むように配置されている。第1の走査線駆動回路30aは、第2の走査線Mが第2の走査線駆動回路30bと接続する接続端とは反対側の端部において第1の走査線Gの各々と接続されている。一方、第2の走査線駆動回路30bは、第1の走査線Gが第1の走査線駆動回路30aと接続する接続端とは反対側の端部において第2の走査線Mの各々と接続されている。放射線検出器20cの駆動態様は、第3の例示的実施形態と同様である。
図14は、本発明の第5の例示的実施形態に係る放射線画像撮影装置100dの電気的構成を示す構成図である。本例示的実施形態に係る放射線画像撮影装置100dを構成する放射線検出器20dにおいて、低解像度モード時に駆動されるTFT2の第2の走査線Mおよび信号線Dに対する接続形態が上記の第1〜第4の例示的実施形態と異なる。
Claims (13)
- 第1の方向に延設された複数の第1の走査線および複数の第2の走査線と、
前記第1の方向と交差する第2の方向に延設された複数の信号線と、
前記複数の信号線と前記複数の第1の走査線との各交差部に対応して設けられ且つ対応する第1の走査線に制御端が接続されると共に対応する信号線に出力端が接続された複数の第1のスイッチング素子と、
各々が、前記第1のスイッチング素子の各々の入力端に接続され且つ照射された放射線の強度または当該放射線に応じた光の強度に応じた電荷を発生させる複数のセンサと、
各々が、前記センサの各々に接続された入力端と前記第2の走査線に接続された制御端とを有し且つ前記第1の方向および前記第2の方向において隣接する複数のセンサの各々に入力端が接続されている各々の出力端が共通の信号線に接続された複数の第2のスイッチング素子と、
前記複数の第1の走査線に駆動信号を供給する第1の駆動信号供給部と、
前記複数の第2の走査線に駆動信号を供給する第2の駆動信号供給部と、
前記第2の駆動信号供給部によって同一または共通の駆動信号が供給される複数の第2の走査線を互いに電気的に接続する接続部と、
を含む放射線画像撮影装置。 - 前記接続部は、前記第2の走査線の前記第2の駆動信号供給部が接続されている側の第1の端部とは反対側の第2の端部に設けられている請求項1に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記接続部は、前記第2の走査線の前記第1の端部および前記第2の端部に設けられている請求項2に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記接続部は、前記第2の走査線の前記第1の端部と前記第2の端部との間に設けられている請求項2または3に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記接続部は、前記第2の走査線の各々と一体的に形成されている請求項1乃至4のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記接続部は、フレキシブルケーブル及び可撓性基板の少なくとも一方を含んで構成されている請求項1乃至4のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記第1の駆動信号供給部は、第1の撮影モード時において前記第1の走査線の各々に前記駆動信号を供給し、
前記第2の駆動信号供給部は、第2の撮影モード時において前記第2の走査線の各々に前記駆動信号を供給する請求項1乃至6のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。 - 前記第1の駆動信号供給部と前記第2の駆動信号供給部は単一のパッケージ内に形成されている請求項1乃至7のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記第1の駆動信号供給部と前記第2の駆動信号供給部は前記複数の第1の走査線および前記複数の第2の走査線の一方の端部に接続されている請求項8に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記第1の駆動信号供給部と前記第2の駆動信号供給部は分離して設けられている請求項1乃至7のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記第1の駆動信号供給部は、前記複数の第2の走査線が前記第2の駆動信号供給部と接続する接続端とは反対側の端部において前記複数の第1の走査線の各々と接続されている請求項10に記載の放射線画像撮影装置。
- 前記複数の信号線の各々に接続され且つ前記第1のスイッチング素子または前記第2のスイッチング素子のオン駆動に応じて前記複数のセンサから前記信号線に読み出された電荷に応じた放射線画像を生成する信号処理部を更に含む請求項1乃至11のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
- 第1の方向に延設された複数の第1の走査線および複数の第2の走査線と、
前記第1の方向と交差する第2の方向に延設された複数の信号線と、
前記複数の信号線と前記複数の第1の走査線との各交差部に対応して設けられ且つ対応する第1の走査線に制御端が接続されると共に対応する信号線に出力端が接続された複数の第1のスイッチング素子と、
各々が、前記第1のスイッチング素子の各々の入力端に接続され且つ照射された放射線の強度または当該放射線に応じた光の強度に応じた電荷を発生させる複数のセンサと、
各々が、前記センサの各々に接続された入力端と前記第2の走査線に接続された制御端とを有し且つ前記第1の方向および前記第2の方向において隣接する複数のセンサの各々に入力端が接続されている各々の出力端が共通の信号線に接続された複数の第2のスイッチング素子と、
同一または共通の駆動信号が供給される複数の第2の走査線を互いに電気的に接続する接続部と、
を含む放射線検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014518438A JP5869113B2 (ja) | 2012-05-30 | 2013-05-27 | 放射線画像撮影装置および放射線検出器 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012123627 | 2012-05-30 | ||
JP2012123627 | 2012-05-30 | ||
JP2014518438A JP5869113B2 (ja) | 2012-05-30 | 2013-05-27 | 放射線画像撮影装置および放射線検出器 |
PCT/JP2013/064673 WO2013180077A1 (ja) | 2012-05-30 | 2013-05-27 | 放射線画像撮影装置および放射線検出器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2013180077A1 true JPWO2013180077A1 (ja) | 2016-01-21 |
JP5869113B2 JP5869113B2 (ja) | 2016-02-24 |
Family
ID=49673271
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014518438A Active JP5869113B2 (ja) | 2012-05-30 | 2013-05-27 | 放射線画像撮影装置および放射線検出器 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20150083924A1 (ja) |
JP (1) | JP5869113B2 (ja) |
CN (1) | CN104350737B (ja) |
WO (1) | WO2013180077A1 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104598131B (zh) * | 2015-01-15 | 2018-07-24 | 小米科技有限责任公司 | 调节页面显示方式的方法及装置 |
US10269839B2 (en) * | 2015-03-26 | 2019-04-23 | Carestream Health, Inc. | Apparatus and method using a dual gate TFT structure |
JP6527035B2 (ja) | 2015-06-30 | 2019-06-05 | 浜松ホトニクス株式会社 | 固体撮像装置 |
CN108507599B (zh) * | 2017-02-24 | 2021-05-14 | 奕瑞影像科技(太仓)有限公司 | 具有高兼容性的x射线传感器面板、x射线探测器 |
JP6818182B2 (ja) * | 2018-03-26 | 2021-01-20 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置 |
JP7134833B2 (ja) * | 2018-10-25 | 2022-09-12 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
WO2020234645A1 (en) * | 2019-05-21 | 2020-11-26 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Dual mode imaging devices |
JP2023003636A (ja) * | 2021-06-24 | 2023-01-17 | コニカミノルタ株式会社 | 放射線検出器 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000148037A (ja) * | 1998-09-01 | 2000-05-26 | Canon Inc | 半導体装置及びその製造方法 |
JP2002100753A (ja) * | 2000-06-15 | 2002-04-05 | Canon Inc | 半導体装置及び放射線検出装置並びに放射線撮像システム |
JP2004046143A (ja) * | 2002-05-21 | 2004-02-12 | Canon Inc | 画像形成装置及び放射線検出装置 |
JP2011120101A (ja) * | 2009-12-04 | 2011-06-16 | Canon Inc | 撮像装置及び撮像システム |
JP2012130656A (ja) * | 2010-11-30 | 2012-07-12 | Fujifilm Corp | 放射線検出素子及び放射線画像撮影装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6956216B2 (en) * | 2000-06-15 | 2005-10-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Semiconductor device, radiation detection device, and radiation detection system |
US7116319B2 (en) * | 2002-05-21 | 2006-10-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus and radiation detection system |
JP2007104219A (ja) * | 2005-10-03 | 2007-04-19 | Canon Inc | 放射線撮影装置及びその制御方法、放射線撮影システム |
JP5495711B2 (ja) * | 2009-10-26 | 2014-05-21 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム |
-
2013
- 2013-05-27 CN CN201380028287.2A patent/CN104350737B/zh active Active
- 2013-05-27 JP JP2014518438A patent/JP5869113B2/ja active Active
- 2013-05-27 WO PCT/JP2013/064673 patent/WO2013180077A1/ja active Application Filing
-
2014
- 2014-11-27 US US14/555,604 patent/US20150083924A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000148037A (ja) * | 1998-09-01 | 2000-05-26 | Canon Inc | 半導体装置及びその製造方法 |
JP2002100753A (ja) * | 2000-06-15 | 2002-04-05 | Canon Inc | 半導体装置及び放射線検出装置並びに放射線撮像システム |
JP2004046143A (ja) * | 2002-05-21 | 2004-02-12 | Canon Inc | 画像形成装置及び放射線検出装置 |
JP2011120101A (ja) * | 2009-12-04 | 2011-06-16 | Canon Inc | 撮像装置及び撮像システム |
JP2012130656A (ja) * | 2010-11-30 | 2012-07-12 | Fujifilm Corp | 放射線検出素子及び放射線画像撮影装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2013180077A1 (ja) | 2013-12-05 |
JP5869113B2 (ja) | 2016-02-24 |
CN104350737A (zh) | 2015-02-11 |
CN104350737B (zh) | 2017-09-19 |
US20150083924A1 (en) | 2015-03-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5869113B2 (ja) | 放射線画像撮影装置および放射線検出器 | |
JP5625833B2 (ja) | 放射線検出器および放射線撮影装置 | |
JP5171431B2 (ja) | 光電変換装置、放射線撮像装置及び放射線検出装置 | |
US8792618B2 (en) | Radiographic detector including block address pixel architecture, imaging apparatus and methods using the same | |
JP5361628B2 (ja) | 撮像装置及び撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム | |
US8436314B2 (en) | Imaging apparatus, imaging system, method of controlling the apparatus and the system, and program | |
KR101598233B1 (ko) | 고체 촬상 장치 및 x선 검사 시스템 | |
JPWO2007037121A1 (ja) | 放射線像撮像装置および放射線像撮像装置の撮像方法 | |
JP4383899B2 (ja) | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム | |
JP2003329777A (ja) | 撮像装置 | |
US8477907B2 (en) | Solid-state image pickup apparatus and X-ray inspection system | |
JP5398846B2 (ja) | 撮像装置及び撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム | |
WO2018135293A1 (ja) | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム | |
US20150369930A1 (en) | Radiographic imaging detector using voltage conversion on glass | |
WO2020085064A1 (ja) | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム | |
JP2012100081A (ja) | 放射線画像撮影装置 | |
JP6719324B2 (ja) | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム | |
JP2002051262A (ja) | 撮像装置、放射線撮像装置及びそれを用いた放射線撮像システム | |
JP2014179664A (ja) | 放射線画像検出装置及び放射線撮影システム | |
CN109561874B (zh) | 固体摄像装置、放射线摄像系统及固体摄像装置控制方法 | |
JP5784086B2 (ja) | 撮像装置及び撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム | |
JP2013069864A (ja) | 検出装置及び検出システム | |
JP2010171487A (ja) | 撮像装置および可搬型放射線画像撮影装置 | |
JP2018195949A (ja) | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20151215 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160106 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5869113 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |