JP5398846B2 - 撮像装置及び撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム - Google Patents

撮像装置及び撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム Download PDF

Info

Publication number
JP5398846B2
JP5398846B2 JP2011544142A JP2011544142A JP5398846B2 JP 5398846 B2 JP5398846 B2 JP 5398846B2 JP 2011544142 A JP2011544142 A JP 2011544142A JP 2011544142 A JP2011544142 A JP 2011544142A JP 5398846 B2 JP5398846 B2 JP 5398846B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
imaging
bias light
scanning
detector
control
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2011544142A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2011067834A1 (ja
Inventor
啓吾 横山
忠夫 遠藤
登志男 亀島
朋之 八木
克郎 竹中
翔 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Publication of JPWO2011067834A1 publication Critical patent/JPWO2011067834A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5398846B2 publication Critical patent/JP5398846B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/40Extracting pixel data from image sensors by controlling scanning circuits, e.g. by modifying the number of pixels sampled or to be sampled
    • H04N25/44Extracting pixel data from image sensors by controlling scanning circuits, e.g. by modifying the number of pixels sampled or to be sampled by partially reading an SSIS array
    • H04N25/443Extracting pixel data from image sensors by controlling scanning circuits, e.g. by modifying the number of pixels sampled or to be sampled by partially reading an SSIS array by reading pixels from selected 2D regions of the array, e.g. for windowing or digital zooming
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/63Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to dark current

Description

本発明は、撮像装置、撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラムに関するものである。より具体的には、医療診断における一般撮影などの静止画撮影や透視撮影などの動画撮影に好適に用いられる、放射線撮像装置及び放射線撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラムに関する。なお、本発明において放射線は、放射線崩壊によって放出される粒子(光子を含む)の作るビームであるα線、β線、γ線などの他に、同程度以上のエネルギーを有するビーム、例えばX線や粒子線、宇宙線なども、含まれるものとする。
近年、X線による医療画像診断や非破壊検査に用いる撮影装置として、半導体材料によって形成された平面検出器(Flat Panel Detector、以下FPDと略す)を用いた放射線撮像装置が実用化され始めている。このような放射線撮像装置は、例えば医療画像診断においては、一般撮影のような静止画撮影や、透視撮影のような動画撮影のデジタル撮像装置として用いられている。
このような放射線撮像装置においては、特許文献1や特許文献2に開示されているように、FPDの読み出すエリア(視野サイズ)を任意に切り替え可能とすることが検討されている。
特開平11−128213号公報 特開平11−318877号公報
しかしながら、読み出すエリアが広くなるよう切り替わった場合、FPDの走査されていた領域と走査されていなかった領域との間で画素の感度や暗時出力が異なる。そのため、取得された画像に読み出すエリア(走査領域)の影響を受けたゴースト(画像段差)が発生してしまい、画質低下を招くおそれがあった。
本願発明者は、取得された画像に発生し得る走査領域の影響を受けた画像段差を低減させ、著しい画質低下を防ぐことが可能な撮像装置及びシステムを提供すべく、鋭意検討を重ねた結果、以下に示す発明の諸態様に想到した。
本発明に係る撮像システムは、放射線又は光を電荷に変換する変換素子を有する画素が行列状に複数配置され、照射された放射線又は光に応じた画像データを出力する撮影動作を行うための検出器と、前記検出器に前記放射線又は光と異なるバイアス光の照射を行うバイアス光源と、前記撮影動作を含む前記検出器の動作と前記バイアス光源の動作を制御するための制御部と、を有する撮像装置と、前記撮像装置を制御する制御コンピュータと、を含む放射線撮像システムであって、前記撮影動作は、複数の前記画素に含まれる一部の画素に相当する第1の走査領域で前記検出器が走査されて前記第1の走査領域の画像データを出力するための第1の撮影動作と、前記第1の走査領域より広い第2の走査領域で前記検出器が走査されて前記第2の走査領域の画像データを出力するための第2の撮影動作と、を含み、前記制御コンピュータは、前記第1の撮影動作における蓄積時間の積分量に関する情報に基づいて前記バイアス光源の動作を決定し、決定された前記バイアス光源の動作に基づいた制御信号を前記制御部に与え、前記制御部は、前記第1の走査領域から前記第2の走査領域への変更に伴い、前記第1の撮影動作と前記第2の撮影動作の間の期間に、前記制御信号に基づいて前記バイアス光の照射を行うように、前記バイアス光源の動作を制御することを特徴とする。
本発明に係る撮像装置は、放射線又は光を電荷に変換する変換素子を有する画素が行列状に複数配置され、照射された放射線又は光に応じた画像データを出力する撮影動作を行うための検出器と、前記放射線又は光と異なるバイアス光で前記画素の照射を行うバイアス光源と、前記撮影動作を含む前記検出器の動作と前記バイアス光源の動作を制御するための制御部と、を有する撮像装置であって、前記撮影動作は、複数の前記画素に含まれる一部の画素に相当する第1の走査領域で前記検出器が走査されて前記第1の走査領域の画像データを出力するための第1の撮影動作と、前記第1の走査領域より広い第2の走査領域で前記検出器が走査されて前記第2の走査領域の画像データを出力するための第2の撮影動作と、を含み、前記制御部は、前記第1の走査領域から前記第2の走査領域への変更に伴い、前記第1の撮影動作と前記第2の撮影動作の間の期間に、前記第1の撮影動作における蓄積時間の積分量に関する情報に基づいて決定された制御信号に基づいて前記バイアス光の照射を行うように、前記バイアス光源の動作を制御することを特徴とする。
本発明に係る制御方法は、放射線又は光を電荷に変換する変換素子を有する画素が行列状に複数配置され、照射された放射線又は光に応じた画像データを出力する撮影動作を行うための検出器と、前記放射線又は光と異なるバイアス光で前記画素の照射を行うバイアス光源と、を有し、前記撮影動作を含む前記検出器の動作と前記バイアス光源の動作を制御する撮像装置の制御方法であって、複数の前記画素に含まれる一部の画素に相当する第1の走査領域で前記検出器が走査されて前記第1の走査領域の画像データを出力するための第1の撮影動作を行い、前記第1の撮影動作における蓄積時間の積分量に関する情報に基づいて前記バイアス光源の動作を決定し、前記第1の走査領域より広い第2の走査領域で前記検出器が走査されて前記第2の走査領域の画像データを出力するための第2の撮影動作を行うために前記第1の走査領域から前記第2の走査領域へ変更する指示に伴い、前記第1の撮影動作と前記第2の撮影動作の間の期間に、決定された前記バイアス光源の動作に基づいて前記バイアス光の照射を行うことを特徴とする。
本発明に係るプログラムは、放射線又は光を電荷に変換する変換素子を有する画素が行列状に複数配置され、照射された放射線又は光に応じた画像データを出力する撮影動作を行うための検出器と、前記放射線又は光と異なるバイアス光で前記画素の照射を行うバイアス光源と、を有し、前記撮影動作を含む前記検出器の動作と前記バイアス光源の動作を制御する撮像装置の制御をコンピュータに実行させるプログラムであって、複数の前記画素に含まれる一部の画素に相当する第1の走査領域で前記検出器が走査されて前記第1の走査領域の画像データを出力するための第1の撮影動作を行う制御と、前記第1の撮影動作における蓄積時間の積分量に関する情報に基づく前記バイアス光源の動作を決定する制御と、前記第1の走査領域より広い第2の走査領域で前記検出器が走査されて前記第2の走査領域の画像データを出力するための第2の撮影動作を行うために前記第1の走査領域から前記第2の走査領域へ変更する指示に伴い、前記第1の撮影動作と前記第2の撮影動作の間の期間に、決定された前記バイアス光源の動作に基づいて前記バイアス光の照射を行う制御と、をコンピュータに実行させることを特徴とする。
本願発明により、FPDの駆動動作により、取得された画像に発生する走査領域の影響を受けたゴースト(画像段差)を低減させ、著しい画質低下を防ぐことが可能となる。
本発明に係る撮像装置を含む撮像システムの概念的ブロック図である。 本発明の実施形態に係る撮像装置の概念的等価回路図である。 本発明に係る撮像装置及び撮像システムの動作を示すフローチャートである。 本発明の撮像装置及び撮像システムの動作を説明するタイミングチャートである。 本発明の撮像装置及び撮像システムの動作を説明するタイミングチャートである。 本発明の撮像装置及び撮像システムの動作を説明するタイミングチャートである。 本発明の撮像装置及び撮像システムの動作を説明するタイミングチャートである。 本発明の処理動作を行う構成及び処理動作を説明するタイミングチャートである。 本発明の処理動作を行う構成及び処理動作を説明するタイミングチャートである。 本発明の処理動作を行う構成及び処理動作を説明するタイミングチャートである。 本発明に係る他の撮像装置の概念的等価回路図である。 本発明に係る他の撮像装置及び撮像システムの動作を説明するタイミングチャートである。 本発明に係る他の撮像装置及び撮像システムの動作を説明するタイミングチャートである。 本発明に係る他の撮像装置及び撮像システムの動作を説明するタイミングチャートである。
以下、本発明を好適に適用可能な実施形態について図面を参照しながら詳細に説明する。図1に示す本実施形態の放射線撮像システムは、撮像装置100、制御コンピュータ108、放射線制御装置109、放射線発生装置110、表示装置113、制御卓114を含むものである。撮像装置100は、放射線又は光を電気信号に変換する画素を複数備えた検出部101、検出部101を駆動する駆動回路102、駆動された検出部101からの電気信号を画像データとして出力する読出回路103、を有するFPD104を含む。撮像装置100は更に、FPD(平面検出器)104からの画像データを処理して出力する信号処理部105と、各構成要素に夫々制御信号を供給してFPD104と後述するバイアス光源115の動作を制御する制御部106を含む。また撮像装置100は、各構成要素及びバイアス光源115に夫々バイアスを供給する電源部107を含む。更に撮像装置100は、後述する放射線源111から発生される放射線又は後述する波長変換体によって放射線から変換された光とは別にバイアス光でFPD104に対して照射を行うバイアス光源115を備えている。信号処理部105は、後述する制御コンピュータ108から制御信号を受けて制御部106に提供する。制御部106は、後述する制御コンピュータ108からの制御信号を受けて、少なくとも2つの走査領域を切り替えられるよう、駆動回路102を制御する。駆動回路102は、制御部106からの制御信号を受けて、走査領域を切り替えることが可能な構成を有している。本実施形態では、制御部106は第1の走査領域Aと第2の走査領域Bとを切り替え可能な機能を有している。本発明の第1の走査領域Aでは、複数の画素に含まれる一部の画素、例えば総画素数が約2800行×約2800列であるときに約1000行×約2800列分の画素が駆動回路102によって走査される。また、本発明の第2の走査領域Bでは第1の走査領域Aより広い、例えば全ての画素が走査される。電源部107は、不図示の外部電源や内蔵バッテリーから電圧を受けて、検出部101、駆動回路102、読出回路103、及びバイアス光源115で必要な電圧を供給するレギュレータやインバータ等の電源回路を内包している。バイアス光源115は、検出部101が設けられる基板に対して、後述する画素が設けられる受光面と反対側の面(裏面)に対向して設けられ、裏面側から検出部101全体にバイアス光を照射するよう配置される。ここで、バイアス光源115は、後述する検出部101の第2の走査領域Bと同等若しくはより広い領域にバイアス光を照射することが可能であるように配置される。
制御コンピュータ108は、放射線発生装置110と撮像装置100との同期や、撮像装置100の状態を決定する制御信号の送信、撮像装置100からの画像データに対して補正や保存・表示のための画像処理を行う。また、制御コンピュータ108は、制御卓114からの情報に基づき放射線の照射条件を決定する制御信号を放射線制御装置109に送信する。
放射線制御装置109は制御コンピュータ108からの制御信号を受けて、放射線発生装置110に内包される放射線源111から放射線を照射する動作の制御を行う。照射野絞り機構112は、FPD104の検出部101に放射線又は放射線に応じた光が照射される領域である所定の照射野を変更することが可能な機能を有している。制御卓114は、制御コンピュータ108の各種制御のためのパラメータとして被検体の情報や撮影条件の入力を行い制御コンピュータ108に伝送する。表示装置113は、制御コンピュータ108で画像処理された画像データを表示する。
次に、図2を用いて本発明の第1の実施形態に係る撮像装置を説明する。なお、図1を用いて説明した構成と同じものは同じ番号を付与してあり、詳細な説明は割愛する。また、図2では説明の簡便化のためにn行×m列の画素を有するFPDを含む撮像装置を示す。ここでnとmは2以上の整数であり、実際の撮像装置はより多画素であり、例えば17インチの撮像装置では約2800行×約2800列の画素を有している。
検出部101は、行列状に複数配置された画素を有する。画素は、放射線又は光を電荷に変換する変換素子201と、その電荷に応じた電気信号を出力するスイッチ素子202と、を有する。本実施形態では、変換素子に照射された光を電荷に変換する光電変換素子として、ガラス基板等の絶縁性基板上に配置されアモルファスシリコンを主材料とするPIN型フォトダイオードを用いる。変換素子としては、上述の光電変換素子の放射線入射側に放射線を光電変換素子が感知可能な波長帯域の光に変換する波長変換体を備えた間接型の変換素子や、放射線を直接電荷に変換する直接型の変換素子が好適に用いられる。スイッチ素子202としては、制御端子と2つの主端子を有するトランジスタが好適に用いられ、本実施形態では薄膜トランジスタ(TFT)が用いられる。変換素子201の一方の電極はスイッチ素子202の2つの主端子の一方に電気的に接続され、他方の電極は共通のバイアス配線Bsを介してバイアス電源107aと電気的に接続される。行方向の複数のスイッチ素子、例えばT11〜T1mは、それらの制御端子が1行目の駆動配線G1に共通に電気的に接続されており、駆動回路102からスイッチ素子の導通状態を制御する駆動信号が駆動配線を介して行単位で与えられる。このように駆動回路102が行単位でスイッチ素子202の導通状態と非導通状態を制御することにより、駆動回路102は行単位で画素を走査する。なお、本発明の走査領域とは、上記のように駆動回路102が行単位で画素を走査する領域である。なお、図2では説明の簡便化のためにn行×m列の画素を示しているが、実際には、例えば総画素数が約2800行×約2800列であるときに第1の走査領域Aとして約1000行×約2800列分の画素が駆動回路102によって走査される。列方向の複数のスイッチ素子、例えばT11〜Tn1は、他方の主端子が1列目の信号配線Sig1に電気的に接続されており、スイッチ素子が導通状態である間に、変換素子の電荷に応じた電気信号を、信号配線を介して読出回路103に出力する。列方向に複数配列された信号配線Sig1〜Sigmは、複数の画素から出力された電気信号を並列に読出回路103に伝送する。
読出回路103は、検出部101から並列に出力された電気信号を増幅する増幅回路207を信号配線毎に対応して設けられている。また、各増幅回路207は、出力された電気信号を増幅する積分増幅器203と、積分増幅器203からの電気信号を増幅する可変増幅器204と、増幅された電気信号をサンプルしホールドするサンプルホールド回路205と、バッファアンプ206とを含む。積分増幅器203は、読み出された電気信号を増幅して出力する演算増幅器と、積分容量と、リセットスイッチと、を有する。積分増幅器203は、積分容量の値を変えることで増幅率を変更することが可能である。演算増幅器の反転入力端子には出力された電気信号が入力され、正転入力端子には基準電源107bから基準電圧Vrefが入力され、出力端子から増幅された電気信号が出力される。また、積分容量が演算増幅器の反転入力端子と出力端子の間に配置される。サンプルホールド回路205は、各増幅回路に対応して設けられ、サンプリングスイッチとサンプリング容量とによって構成される。また読出回路103は、各増幅回路207から並列に読み出された電気信号を順次出力して直列信号の画像信号として出力するマルチプレクサ208と、画像信号をインピーダンス変換して出力するバッファ増幅器209と、を有する。バッファ増幅器209から出力されたアナログな画像信号Voutは、A/D変換器210によってデジタルの画像データに変換されて信号処理部105へ出力される。そして、図1に示す信号処理部105で処理された画像データが制御コンピュータ108へ出力される。
駆動回路102は、図1に示す制御部106から入力された制御信号(D−CLK、OE、DIO)に応じて、スイッチ素子を導通状態にする導通電圧Vcomと非道通状態とする非導通電圧Vssを有する駆動信号を、各駆動配線に出力する。これにより、駆動回路102はスイッチ素子の導通状態及び非導通状態を制御し、検出部101を駆動する。
図1における電源部107は、図2に示すバイアス電源107a、増幅回路の基準電源107bを含む。バイアス電源107aは、バイアス配線Bsを介して各変換素子の他方の電極に共通にバイアス電圧Vsを供給する。このバイアス電圧Vsは、本発明の第1の電圧に相当するものである。基準電源107bは、各演算増幅器の正転入力端子に基準電圧Vrefを供給する。また、図1における電源部107は更にバイアス光源115の動作に必要な電圧を供給するインバータ等のバイアス光源用電源回路を含む。
図1に示す制御部106は、信号処理部105を介して装置外部の制御コンピュータ108等からの制御信号を受けて、駆動回路102、電源部107、読出回路103に各種の制御信号を与えてFPD104及びバイアス光源115の動作を制御する。制御部106は、駆動回路102に制御信号D−CLKと制御信号OE、制御信号DIOを与えることによって、駆動回路102の動作を制御する。ここで、制御信号D−CLKは駆動回路として用いられるシフトレジスタのシフトクロックであり、制御信号DIOはシフトレジスタが転送するパルス、OEはシフトレジスタの出力端を制御するものである。制御部106は、これらの制御信号によって駆動回路102を制御し、第1の走査領域Aと第2の走査領域Bとを切り替え可能としている。また、制御部106は、読出回路103に制御信号RC、制御信号SH、及び制御信号CLKを与えることによって、読出回路103の各構成要素の動作を制御する。ここで、制御信号RCは積分増幅器のリセットスイッチの動作を、制御信号SHはサンプルホールド回路205の動作を、制御信号CLKはマルチプレクサ208の動作を制御するものである。
次に、図1〜3、特に図3を用いて、本発明の撮像装置及び撮像システム全体の動作を説明する。オペレータによる制御卓114の操作によって制御コンピュータ108により照射条件が決定されて撮影開始がなされ、その照射条件で放射線制御装置109によって制御された放射線発生装置110から被写体に所望の放射線照射がなされる。撮像装置100は、被写体を透過した放射線に応じた画像データを出力し、出力された画像データは制御コンピュータ108によって画像処理されて表示装置113に表示される。
制御コンピュータ108は、次に撮影継続の要否の確認をオペレータに対して行い、オペレータから撮影継続否(NO)の指示を受けた場合には撮影終了とし、撮影継続要(YES)の指示を受けた場合には、走査領域変更の要否の確認をオペレータに対して行う。オペレータから走査領域変更否(NO)の指示を受けた場合には、制御コンピュータ108が先に決定された撮影条件で放射線制御装置109及び放射線発生装置110を制御して再度同じ条件で放射線照射がなされる。一方オペレータから走査領域変更要(YES)の指示を受けた場合に、制御コンピュータ100は変更後の走査領域を決定する。また制御コンピュータ108は、後で詳細に説明するバイアス光処理動作を行うか否かを判定する。そして制御コンピュータ108は、バイアス光処理動作を行うと判定した場合には後で詳細に説明するバイアス光処理動作を撮像装置100に行わせるように、制御部106に対して制御信号を与える。撮像装置100がバイアス光処理動作を終了した後、制御コンピュータ108は放射線制御装置109及び放射線発生装置110を制御して走査領域変更後の撮影の放射線照射がなされる。また、制御コンピュータ108は、走査領域変更後の撮影を行うために、制御部106に対して制御信号を与える。それにより撮像装置100は変更された走査領域で次の撮影を行う。
次に、図4A〜Dを用いて、本発明の撮像システムの動作について説明する。図4Aにおいて、変換素子201にバイアス電圧Vsが供給されると、撮像装置100はアイドリング期間にアイドリング動作を行う。ここで、アイドリング動作とは、バイアス電圧Vsの印加開始に起因する検出器104の特性変動を安定化させるために、少なくとも初期化動作K1を複数回繰り返し行う動作である。また、初期化動作とは、変換素子に蓄積動作前の初期のバイアスを与え、変換素子を初期化するための動作である。なお、図4Aでは、アイドリング動作として蓄積動作W1及び初期化動作K1の一組を複数回繰り返し行う動作を行っている。
図4Bは、図4Aの期間A−A’に係る撮像装置の動作を説明するタイミングチャートである。図4Bに示すように、蓄積動作W1では、変換素子201にバイアス電圧Vsが与えられた状態で、スイッチ素子202には非導通電圧Vssが与えられており、全ての画素のスイッチ素子は非道通状態とされる。初期化動作K1では、まずリセットスイッチにより積分増幅器の積分容量及び信号配線がリセットされ、駆動回路102から駆動配線G1に導通電圧Vcomが与えられ、1行目の画素のスイッチ素子T11〜T13が導通状態とされる。このスイッチ素子の導通状態により、変換素子が初期化される。その際に変換素子の電荷がスイッチ素子により電気信号として出力されるが、本実施形態ではサンプルホールド回路以降の回路を動作させていないため、読出回路103からその電気信号に応じたデータは出力されない。その後に再び積分容量及び信号配線がリセットされることにより、出力された電気信号は処理される。ただし、そのデータを補正などに使用したい場合には、サンプルホールド回路以降の回路を後述する画像出力動作や暗画像出力動作と同様に動作させてもよい。このようなスイッチ素子の導通状態の制御とリセットがn行目まで繰り返し行われることにより、検出器101の初期化動作がなされる。ここで、初期化動作においては、少なくともスイッチ素子の導通状態の間もリセットスイッチを導通状態に保ちリセットし続けていてもよい。また、初期化動作におけるスイッチ素子の導通時間は、後述する画像出力動作におけるスイッチ素子の導通時間より短くてもよい。また、初期化動作では複数行のスイッチ素子を同時に導通させてもよい。これらの場合には、初期化動作全体にかかる時間を短くすることが可能となり、より早く検出器の特性変動を安定化させることが可能となる。なお、本実施形態の初期化動作K1は、アイドリング動作の後に行われる透視撮影動作に含まれる画像出力動作と同じ期間で行われている。
図4Cは、図4Aの期間B−B’に係る撮像装置の動作を説明するタイミングチャートである。アイドリング動作が行われて検出器101が撮影可能な状態となった後、撮像装置100は、制御コンピュータ108からの制御信号を受けて、第1の走査領域AでFPD104が走査される透視撮影動作を行う。この透視撮影動作は、本発明の第1の撮影動作に相当する。この第1の撮影動作では、第1の走査領域で走査されたFPD104から、第1の走査領域に対応する画像データを出力することとなる。また、撮像装置100がこの透視撮影動作を行う期間を透視撮影期間と称する。透視撮影期間では、撮像装置100は、照射された放射線に応じて変換素子201が電荷を生成するために放射線の照射の時間に応じた期間で行われる蓄積動作W1と、蓄積動作W1で生成された電荷に基づいて画像データを出力する画像出力動作X1と、を行う。図4Cに示すように、本実施形態の画像出力動作では、まず制御部106は、制御信号OEがLoの状態で、第2の走査領域にのみ相当する行数分制御信号D−CLKを駆動回路102に入力する。それにより駆動回路102から駆動配線G1及びG2には導通電圧Vcomは与えられず、そのため、第2の走査領域に相当する1行目及び2行目は走査されない。そして、積分容量及び信号配線がリセットされた後、制御信号OEをHi状態とし、更に第1の走査領域に対応する行数分制御信号D−CLKを駆動回路102に入力する。それにより、駆動回路102から駆動配線G3に導通電圧Vcomが与えられ、3行目のスイッチ素子T31〜T3mが導通状態とされる。これにより3行目の変換素子S31〜S3mで発生された電荷に基づく電気信号が各信号配線に出力される。各信号配線を介して並列に出力された電気信号は、それぞれ各増幅回路206の演算増幅器203及び可変増幅器204で増幅される。増幅された電気信号はそれぞれ、制御信号SHによりサンプルホールド回路が動作され、各増幅回路内のサンプルホールド回路205に並列に保持される。保持された後、積分容量及び信号配線がリセットされる。リセットされた後、3行目と同様に4行目の駆動配線G4に導通電圧Vcomが与えられ、4行目のスイッチ素子T41〜T4mが導通状態とされる。4行目のスイッチ素子T41〜T4mが導通状態とされている期間内に、マルチプレクサ208がサンプルホールド回路205に保持された電気信号を順次出力する。これにより並列に読み出された3行目の画素からの電気信号は直列の画像信号に変換して出力され、A/D変換器210が1行分の画像データに変換して出力する。以上の動作を3行目からn行目に対して行単位で行うことにより、1フレーム分の画像データが撮像装置から出力される。更に本実施形態では、放射線の照射が行われない暗状態で変換素子201が電荷を生成するために蓄積動作W1と同じ期間で行われる蓄積動作W1と、蓄積動作W1で生成された電荷に基づいて暗画像データを出力する暗画像出力動作F1と、を行う。暗画像出力動作F1では、画像出力動作X1と同様の動作が撮像装置100で行われる。ここで、蓄積動作を行う時間と、画像出力動作を行う時間から各スイッチ素子が導通状態となっている時間を引いた時間と、を足した時間を蓄積時間と称する。また、各スイッチ素子が導通状態となっている時間を走査時間と称する。更に、蓄積動作と画像出力動作と蓄積動作と暗画像出力動作を含む1組の撮影動作を行う時間をフレーム時間と、そしてフレーム時間の逆数をフレーム速度と称する。なお、本実施形態の蓄積動作W1は本願発明の第1の蓄積動作に、本実施形態の画像出力動作X1又は案画像出力動作F1は本願発明の第1の出力動作に相当する。なお、本実施形態では、1行目及び2行目の画素は走査されない形態としているが、本発明はそれに限定されるものではない。例えば、1行目及び2行目の画素に相当する第2の画素全体が一度に走査される、もしくは第2の画素が第1の画素より短い走査時間で走査される形態でもよい。つまり、第2の画素が、第1の撮影動作中に通常の撮影動作が行われない形態であればよい。また、図4Bの初期化動作K1は、第2の走査領域の画素を順次走査しているが、本願発明はそれに限定されるものではなく、画像出力動作X1と同様の走査を行ってもよい。
次に、制御卓114から制御コンピュータ108に走査領域変更指示が送られると、それに応じて撮像装置100はバイアス光処理動作を行う。このバイアス光処理動作を行う期間をバイアス光処理期間と称する。バイアス光処理動作は図5を用いて後で詳細に説明する。
図4Dは、図4Aの期間C−C’に係る撮像装置の動作を説明するタイミングチャートである。バイアス光処理動作の後、撮像装置100は第1の走査領域Aより広い第2の走査領域BでFPD104が走査される一般(静止画)撮影動作を行う。この一般撮影動作は、本発明の第2の撮影動作に相当する。この第2の撮影動作では、第2の走査領域で走査されたFPD104から、第2の走査領域に対応する画像データを出力することとなる。また、撮像装置100がこの一般撮影動作を行う期間を一般撮影期間と称する。一般撮影期間では、撮像装置100は、照射された放射線に応じて変換素子が電荷を生成するために放射線の照射の時間に応じた期間で行われる蓄積動作W2と、蓄積動作W2で生成された電荷に基づいて画像データを出力する画像出力動作X2と、を行う。図4Dに示すように、ここで本実施形態において蓄積動作W2は、蓄積動作W1と同様の動作であり、本実施形態ではその期間が長いため、異なる表記を用いている。一方、画像出力動作X2は、1行目及び2行目も3行目以降と同様に走査される点を除いて、画像出力動作X1と同様であり、本実施形態ではその期間が長いため、異なる表記を用いている。ただし、それぞれ同じ期間の長さで行われてもよい。また、放射線の照射が行われない暗状態で変換素子が電荷を生成するために、画像出力動作X2の前の蓄積動作W2と同じ期間で行われる蓄積動作W2と、蓄積動作W2で生成された電荷に基づいて暗画像データを出力する暗画像出力動作F2と、を行う。暗画像出力動作F2では、画像出力動作X2と同様の動作が撮像装置100で行われる。更に本実施形態では、撮像装置100は、初期化動作K2を各蓄積動作W2の前に行う。ここで初期化動作K2は、先に説明した初期化動作K1と同様の動作であり、本実施形態ではその期間が長いため、異なる表記を用いている。ただし、同じ期間の長さで行われてもよい。なお、本実施形態の蓄積動作W2は本願発明の第2の蓄積動作に、本実施形態の画像出力動作X2又は案画像出力動作F2は本願発明の第2の出力動作に相当する。
ここで、本発明の処理の基となる画像段差の発生メカニズムを説明する。本願発明者は、平面検出器の暗時出力が、画素の走査履歴に依存すること、より具体的には平面検出器の変換素子へバイアス電圧を印加した以後の蓄積時間の積分量に依存することを見出した。本実施形態では、第1の撮影動作において第1の走査領域Aで撮影動作が行われている。そのため第1の走査領域Aに含まれる第1の画素は、複数回の撮影動作が繰り返し行われており、蓄積動作中に蓄積された暗時出力成分が各出力動作で出力されきれずに画素に残留した成分が画素の走査履歴となる。一方、第1の走査領域Aに含まれず且つ第2の走査領域Bに含まれる第2の画素は、第1の撮影動作中に通常の撮影動作が行われない。これは例えば第2の画素が常に蓄積動作とされている、又は第1の走査領域Aに含まれず且つ第2の走査領域Bに含まれる複数行の第2の画素全体が1度に走査される、若しくは第2の画素が第1の画素より短い走査時間で出力動作が行われる。このような場合では、第1の画素と第2の画素の蓄積時間が異なることとなる。例えば、第2の画素が第1の画素より短い走査時間で出力動作が行われる場合、第1の撮影動作の間における蓄積時間の積分量は、第1の画素の方が、第2の画素よりも短くなる。また、第1の撮影動作における放射線の積分量は、第1の撮影動作の時間に依存するため、蓄積時間の積分量に依存している。放射線の積分線量によって暗時出力の原因となる残留電荷の量が異なることとなる。そのため、第1の走査領域の暗時出力と第2の走査領域の暗時出力に差が生じ、暗時出力の差が画像段差となる。特に、透視撮影の動作期間が長くなるほど、第1の走査領域と第2の走査領域の暗時出力差が大きくなり、画像上の段差がより顕著となる。このように、平面検出器の暗時出力が、画素の走査履歴である蓄積時間の積分量に依存する。そのため、平面検出器内で撮影動作により走査される領域と走査されない領域の間で暗時出力に差が生じ、それにより走査領域に起因する画像のアーティファクトである画像段差が発生することを本願発明者は見出した。
本願発明者は、以下に示すバイアス光処理動動作により走査領域に起因する画像のアーティファクトである画像段差を低減し得ることを見出した。第1の走査領域Aから第2の走査領域Bへの変更に伴い、第1の撮影動作と第2の撮影動作の間の期間に、バイアス光源115が平面検出器104に対してバイアス光の照射を行う。ただし、走査領域の切り替えを行う時に、第1の画素と第2の画素との間で、その暗時出力の量の差が所定の閾値より小さければ、画像段差として認識されない。特に、画像全体のランダムノイズと観察者である人間の視覚特性を鑑みて、閾値を設定することは有効である。そのアーティファクト量としての暗時出力量の差が、画像データ全体のランダムノイズの実効値の1/10以下であれば、人間の視覚特性によりアーティファクトとしての画像段差が画像の中で観察者には認識されない。そのため制御コンピュータ108は、第1の撮影動作における蓄積時間の積分量に関する情報に基づいて走査領域の切り替えの際に領域間で発生し得るアーティファクトの量を算出する。そして算出されたアーティファクト量と予め設定された所定の閾値に基づいて、バイアス光処理動作を行うか否かを判定する。そして制御コンピュータ108は、バイアス光処理動作を行うと判定した場合にはバイアス光処理動作を行う旨の制御信号を制御部106に与える。制御信号を受けた制御部106は、制御信号に基づいてバイアス光源115及びFPD104の動作を制御する。一方、バイアス光処理動作を行わないと判定した場合には、バイアス光処理動作を行わない旨の制御信号を制御部106に与える。制御信号を受けた制御部106は、制御信号に基づいて及びFPD104の動作を制御し、またバイアス光源115を動作させないように制御する。
バイアス光源としてはELパネルや複数のLED素子が行列状にマトリクス配置されたLEDアレイを用いることができる。
次に、図5Aを用いて本発明の判定処理を行う構成及び具体的な判定処理を説明する。制御コンピュータ108は、画像データ処理部501、検知部502、判定部503、特性格納部504を有している。ここで特性格納部504には、第1の撮影動作における蓄積時間の積分量、第1の撮影動作における第2の走査領域の走査パターンに応じたアーティファクト量、及び所定の閾値に関する情報が格納されている。具体的には、第2の走査領域Bに含まれる第2の画素に対しては、以下に示す3つのパターンの走査が行われ得る。第1の走査パターンは、第2の画素が常に蓄積動作とされているものである。第2の走査パターンは、複数の第2の画素全体又は複数行の第2の画素が1度に走査されるものである。第3の走査パターンは、第2の画素が第1の走査領域の画素より短い走査時間で出力動作が行われるものである。アーティファクト量は、これら3つのパターン夫々に対して、予め蓄積時間の積分量に応じて測定され、特性格納部504に記憶しておく。特性格納部504としては、これらのデータが格納されたルックアップテーブルが好適に用いられる。本発明では、判定部503及び特性格納部504を含めて演算処理部505と称する。
撮像装置100から出力された画像データは、画像データ処理部501にて画像処理され、表示装置113に送信される。そのとき、検知部502は1フレーム単位の動作時間から走査領域毎に蓄積時間を求め、蓄積する。検知部502は、蓄積された1フレーム単位の蓄積時間をフレーム毎に加算して、第1の撮影動作における各走査領域の蓄積時間の積分量に関する情報を作成する。例えば、第1の撮影動作における蓄積時間の積分量に関する情報を制御卓114から取得された第1の撮影動作における撮影条件の情報を基に作成してもよい。検知部502は作成された蓄積時間の積分量に関する判定部503に出力する。
そして処理決定部503は、検知部502から出力された蓄積時間の積分量に関する情報と、アーティファクト量と予め設定された所定の閾値に基づいて、バイアス光処理動作を行うか否かを判定する。そして演算処理部505は、バイアス光処理動作を行うと判定した場合にはバイアス光処理動作を行う旨の制御信号を制御部106に与える。制御信号を受けた制御部106は、制御信号に基づいてバイアス光源115及びFPD104の動作を制御する。一方、バイアス光処理動作を行わないと判定した場合には、バイアス光処理動作を行わない旨の制御信号を制御部106に与える。この際に、蓄積時間の積分量に応じて放射線の積分線量が異なる。それにより、暗時出力の原因となる変換素子の残留電荷の量が変わり、変換素子の感度が変動する場合がある。その場合には、バイアス光処理動作において必要となるバイアス光の光量が変わる。そのため、制御部106は、蓄積時間の積分量に基づいてバイアス光源によって照射される光量を決定し、決定された光量を出射するようにバイアス光源の動作を制御することが望ましい。これにより、より少ない光量でバイアス光処理動作を行うことが可能となり、バイアス光源の低消費電力化が図れる。制御信号を受けた制御部106は、制御信号に基づいて及びFPD104の動作を制御し、またバイアス光源115を動作させないように制御する。なお本実施形態では、制御コンピュータ108が処理の決定を行っているが、本発明はそれに限定されるものではない。制御コンピュータからの制御信号を受けて、撮像装置100の制御部106が処理の決定を行ってもよい。
次に、図5B〜Cを用いて、本実施形態のバイアス光処理動作について説明する。本発明のバイアス光処理動作は、バイアス光源115がFPD104に対してバイアス光の照射を行う。そしてバイアス光の照射の後に、FPD104は変換素子の初期化動作を行う。また、バイアス光の照射と変換素子の初期化動作の組を複数回行うことにより、より段差低減効果が向上することを見出した。このようなバイアス光の照射と変換素子の初期化動作の組を1回又は複数行うバイアス光処理動作により、走査領域の変更に伴い取得画像に発生し得る画像の段差に起因する画質低下を防ぐことが可能となる。
図5Bに示すバイアス光処理動作において、バイアス光源115は、図4Cで説明した、走査領域変更前に行われる透視撮影動作における放射線の照射にあわせてバイアス光の照射を行う。そしてFPD104は、透視撮影動作の蓄積動作W1と初期化動作K1の一組を1回又は複数回行う。つまり、FPD104は走査領域変更後に行われる透視撮影動作に対応した蓄積動作W1と初期化動作K1の一組を1回又は複数回行う。図5Bのバイアス光処理動作では、動作に要する時間が短くなり、装置の操作性がより向上することとなる。ただし、バイアス光処理動作で行われる初期化動作が走査領域変更後の撮影動作に対応せず、走査領域後の撮影動作で行われる初期化動作と異なる期間の長さで行われる場合には、撮影動作の蓄積動作における変換素子の特性安定性が低下するおそれがある。それにより、アーティファクトの多い画像データが取得されるおそれがある。
図5Cに示す変更動作において、バイアス光源115は、図4Dで説明した、走査領域変更後に行われる一般撮影動作における放射線の照射にあわせてバイアス光の照射を行う。そしてFPD104は、走査領域変更後に行われる一般撮影動作の蓄積動作W2と初期化動作K2の一組を1回又は複数回行う。つまり、FPD104は走査領域変更後に行われる一般撮影動作に対応した蓄積動作W2と初期化動作K2の一組を1回又は複数回行う。このように、変更後になされる撮影動作の画像出力動作より前の動作に含まれる動作にあわせて変更動作を行うことにより、撮影動作の蓄積動作W2における変換素子の特性が安定し、アーティファクトのより少ない良好な画像データを取得することができる。また図5Cでは、透視撮影動作において、蓄積動作W1及び画像出力動作X1の組、及び蓄積動作W1及び暗画像出力動作F1の組の前に、蓄積動作W1にあわせたバイアス光の照射及び初期化動作K1を行っている。更に、一般撮影動作において、蓄積動作W2及び暗画像出力動作F2の組の前に、蓄積動作W2にあわせたバイアス光の照射及び初期化動作K2を行っている。特に一般撮影動作においては、放射線の照射の前にバイアス光処理動作におけるバイアス光の照射及び初期化動作K2を行っている。そのため、蓄積動作W2及び暗画像出力動作F2の組の前にバイアス光の照射及び初期化動作K2を行うことにより、蓄積動作W2及び画像出力動作F1の組と蓄積動作W2及び暗画像出力動作F2の組との動作をあわせることができる。それにより、放射線の画像データと暗画像データに対する暗出力の影響をあわせることができ、よりアーティファクトの少ない良好な画像データを取得することができる。
このように、走査領域変更後の撮影動作を開始する前にバイアス光処理動作を行うことにより、取得された画像に発生し得る走査領域の影響を受けたアーティファクト(画像段差)を低減させ、著しい画質低下を防ぐことが可能となる。
なお、本実施形態において、変換素子201にPIN型フォトダイオードを用いていたが、本発明はそれに限定されるものではない。図6(a)、(b)に示すような、変換素子601にMIS型変換素子としてMIS型光電変換素子を用い、出力用のスイッチ素子602に加えてリフレッシュ用のスイッチ素子603が設けられている画素を用いた撮像装置を用いてもよい。ここで図6(a)において、リフレッシュ用のスイッチ素子603の主端子の一方は変換素子601の第1の電極604とスイッチ素子602の2つの主端子の一方に電気的に接続される。また、スイッチ素子603の主端子の他方は、共通の配線を介して電源部107に内包されたリフレッシュ用電源107cと電気的に接続される。行方向の複数のスイッチ素子603は、制御端子がリフレッシュ用駆動配線Grに共通に電気的に接続され、リフレッシュ用駆動回路102rから駆動信号がリフレッシュ用駆動配線Grを介して行単位で与えられる。また、図6(b)のように、変換素子601は、第1の電極604と第2の電極608の間に半導体層606が、第1の電極604と半導体層606との間に絶縁層605が、半導体層606と第2の電極608との間に不純物半導体層が、それぞれ設けられている。第2の電極608は、バイアス配線Bsを介してバイアス電源107a’と電気的に接続される。変換素子601は、変換素子201と同様に、第2の電極608にバイアス電源107a’からバイアス電圧Vsが供給され、第1の電極604にスイッチ素子602を介して基準電圧Vrefが供給されて、蓄積動作がなされる。ここで、透視及び一般撮影動作において、第1の電極604にスイッチ素子603を介してリフレッシュ用電圧Vtが供給され、変換素子601はそのバイアス|Vs−Vt|によりリフレッシュされる。なお、図2の構成と同じものは同じ番号を付与してあり、詳細な説明は割愛する。
図7A〜Cに、図6の撮像装置の動作を示す。図7Aは、図4Aの期間A−A’に係る撮像装置の動作を説明するタイミングチャートである。図7Bは、図4Aの期間B−B’に係る撮像装置の動作を説明するタイミングチャートである。図7Cは、図4Aの期間C−C’に係る撮像装置の動作を説明するタイミングチャートである。図4Aに示す第1の実施形態の初期化動作K1、画像出力動作X1、暗画像出力動作F1の代わりに、それぞれ初期化動作K1’、画像出力動作X1’、暗画像出力動作F1’が行われる。また、図4Aに示す第1の実施形態の画像出力動作X2、暗画像出力動作F2の代わりに、それぞれ画像出力動作X2’、暗画像出力動作F2’が行われる。それ以外の動作は図4Aと同様であり、詳細な説明は割愛する。
なお、本発明の各実施形態は、例えば制御部106に含まれるコンピュータがプログラムを実行することによって実現することもできる。また、プログラムをコンピュータに供給するための手段、例えばかかるプログラムを記録したCD−ROM等のコンピュータ読み取り可能な記録媒体又はかかるプログラムを伝送するインターネット等の伝送媒体も本発明の実施形態として適用することができる。また、上記のプログラムも本発明の実施形態として適用することができる。上記のプログラム、記録媒体、伝送媒体及びプログラムプロダクトは、本発明の範疇に含まれる。また、本実施形態から容易に想像可能な組み合わせによる発明も本発明の範疇に含まれる。
100 撮像装置
101 検出部
102 駆動回路
103 読出回路
104 平面検出器
105 信号処理部
106 制御部
107 電源部
108 制御コンピュータ
109 放射線制御装置
110 放射線発生装置
111 放射線源
112 照射野絞り機構
113 表示装置
114 制御卓
115 バイアス光源

Claims (11)

  1. 放射線又は光を電荷に変換する変換素子を有する画素が行列状に複数配置され、照射された放射線又は光に応じた画像データを出力する撮影動作を行うための検出器と、
    前記検出器に前記放射線又は光とは別にバイアス光の照射を行うバイアス光源と、
    前記撮影動作を含む前記検出器の動作と前記バイアス光源の動作を制御するための制御部と、
    を有する撮像装置と、
    前記撮像装置を制御する制御コンピュータと、
    を含む放射線撮像システムであって、
    前記撮影動作は、複数の前記画素に含まれる一部の画素に相当する第1の走査領域で前記検出器が走査されて前記第1の走査領域の画像データを出力するための第1の撮影動作と、前記第1の走査領域より広い第2の走査領域で前記検出器が走査されて前記第2の走査領域の画像データを出力するための第2の撮影動作と、を含み、
    前記制御コンピュータは、前記第1の撮影動作における蓄積時間の積分量に関する情報に基づいて前記バイアス光源の動作を決定し、決定された前記バイアス光源の動作に基づいた制御信号を前記制御部に与え、
    前記制御部は、前記第1の走査領域から前記第2の走査領域への変更に伴い、前記第1の撮影動作と前記第2の撮影動作の間の期間に、前記制御信号に基づいて前記バイアス光の照射を行うように、前記バイアス光源の動作を制御することを特徴とする撮像システム。
  2. 前記制御コンピュータは、前記蓄積時間の積分量に関する情報に基づいて前記バイアス光源によるバイアス光の照射を行うか否かを判定し、前記バイアス光の照射を行うと判定した場合には前記バイアス光の照射を行うための制御信号を制御部に与え、前記バイアス光の照射を行わないと判定した場合には前記バイアス光の照射を行わないための制御信号を制御部に与えることを特徴とする請求項1に記載の撮像システム。
  3. 前記制御コンピュータは、特性格納部、検知部及び判定部を有し、
    前記格納部は、前記第1の撮影動作における前記蓄積時間の積分量に応じたアーティファクト量に関する情報及び所定の閾値に関する情報を格納しており、
    前記検知部は、前記第1の撮影動作における蓄積時間の積分量に関する情報を前記判定部に出力し、
    前記判定部は、前記検知部から出力された前記蓄積時間の積分量に関する情報と、前記格納部に格納された前記アーティファクト量に関する情報及び前記所定の閾値に関する情報と、に基づいて前記バイアス光の照射を行うか否かを判定することを特徴とする請求項2に記載の撮像システム。
  4. 前記アーティファクト量に関する情報は、前記第1の撮影動作における前記第2の走査領域の走査パターン及び蓄積時間の積分量に応じて予め取得され、
    前記所定の閾値に関する情報は、前記アーティファクト量が前記画像データのランダムノイズの実効値の1/10以下となるように、予め設定されたものであることを特徴とする請求項3に記載の撮像システム。
  5. 前記第1の撮影動作における撮影条件の情報を前記制御コンピュータに出力する制御卓を更に有し、
    前記検知部は、前記第1の撮影動作における前記蓄積時間の積分量に関する情報を前記制御卓から取得することを特徴とする請求項3又は4に記載の撮像システム。
  6. 前記制御部は、前記バイアス光の照射の後に、前記変換素子を初期化するための初期化動作を前記検出器が行うように、前記検出器の動作を制御することを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の撮像システム。
  7. 前記画素は、前記電荷に応じた電気信号を出力するためのスイッチ素子を更に有し、
    前記検出器は、前記画素が行列状に複数配列された検出部と、前記検出部を駆動するために前記スイッチ素子の導通状態を制御する駆動回路と、前記スイッチ素子に接続された信号配線を介して前記検出部から出力された前記電気信号を画像データとして出力する読出回路と、を含み、
    前記読出回路は、前記信号配線のリセットを行うリセットスイッチを含み、
    前記制御部は、前記バイアス光の照射の後に、前記変換素子を初期化するための初期化動作を前記検出器が行うように、前記駆動回路及び前記リセットスイッチを制御することを特徴とする請求項6に記載の撮像システム。
  8. 前記変換素子は、MIS型変換素子であり、
    前記画素は、前記電荷に応じた電気信号を出力するためのスイッチ素子と、前記スイッチ素子とは別の他のスイッチ素子と、を更に含み、
    前記検出器は、前記画素が行列状に複数配列された検出部と、前記検出部を駆動するために前記スイッチ素子の導通状態を制御する駆動回路と、前記スイッチ素子に接続された信号配線を介して前記検出部から出力された前記電気信号を画像データとして出力する読出回路と、前記他のスイッチ素子の導通状態を制御する他の駆動回路と、前記変換素子の一方の電極に前記スイッチ素子を介して基準電圧を与える基準電源と、前記一方の電極に前記他のスイッチ素子を介してリフレッシュ用電圧を与えるリフレッシュ用電源と、前記変換素子の他方の電極にバイアス電圧を与えるバイアス電源と、を含む電源部と、を更に含み、
    前記検出器は、前記スイッチ素子を非導通状態に保ち且つ前記他のスイッチ素子を導通状態とし、前記他方の電極に前記バイアス電圧を与え且つ前記他方の電極に前記他のスイッチ素子を介して前記リフレッシュ用電圧を与えることにより、前記変換素子をリフレッシュすることを特徴とする請求項7に記載の撮像システム
  9. 放射線又は光を電荷に変換する変換素子を有する画素が行列状に複数配置され、照射された放射線又は光に応じた画像データを出力する撮影動作を行うための検出器と、
    前記放射線又は光とは別にバイアス光で前記画素の照射を行うバイアス光源と、
    前記撮影動作を含む前記検出器の動作と前記バイアス光源の動作を制御するための制御部と、
    を有する撮像装置であって、
    前記撮影動作は、複数の前記画素に含まれる一部の画素に相当する第1の走査領域で前記検出器が走査されて前記第1の走査領域の画像データを出力するための第1の撮影動作と、前記第1の走査領域より広い第2の走査領域で前記検出器が走査されて前記第2の走査領域の画像データを出力するための第2の撮影動作と、を含み、
    前記制御部は、前記第1の走査領域から前記第2の走査領域への変更に伴い、前記第1の撮影動作と前記第2の撮影動作の間の期間に、前記第1の撮影動作における蓄積時間の積分量に関する情報に基づいて決定された制御信号に基づいて前記バイアス光の照射を行うように、前記バイアス光源の動作を制御することを特徴とする撮像装置。
  10. 放射線又は光を電荷に変換する変換素子を有する画素が行列状に複数配置され、照射された放射線又は光に応じた画像データを出力する撮影動作を行うための検出器と、前記放射線又は光とは別にバイアス光で前記画素の照射を行うバイアス光源と、を有し、前記撮影動作を含む前記検出器の動作と前記バイアス光源の動作を制御する撮像装置の制御方法であって、
    複数の前記画素に含まれる一部の画素に相当する第1の走査領域で前記検出器が走査されて前記第1の走査領域の画像データを出力するための第1の撮影動作を行い、
    前記第1の撮影動作における蓄積時間の積分量に関する情報に基づいて前記バイアス光源の動作を決定し、
    前記第1の走査領域より広い第2の走査領域で前記検出器が走査されて前記第2の走査領域の画像データを出力するための第2の撮影動作を行うために前記第1の走査領域から前記第2の走査領域へ変更する指示に伴い、前記第1の撮影動作と前記第2の撮影動作の間の期間に、決定された前記バイアス光源の動作に基づいて前記バイアス光の照射を行うことを特徴とする制御方法。
  11. 放射線又は光を電荷に変換する変換素子を有する画素が行列状に複数配置され、照射された放射線又は光に応じた画像データを出力する撮影動作を行うための検出器と、前記放射線又は光とは別にバイアス光で前記画素の照射を行うバイアス光源と、を有し、前記撮影動作を含む前記検出器の動作と前記バイアス光源の動作を制御する撮像装置の制御をコンピュータに実行させるプログラムであって、
    複数の前記画素に含まれる一部の画素に相当する第1の走査領域で前記検出器が走査されて前記第1の走査領域の画像データを出力するための第1の撮影動作を行う制御と、
    前記第1の撮影動作における蓄積時間の積分量に関する情報に基づく前記バイアス光源の動作を決定する制御と、
    前記第1の走査領域より広い第2の走査領域で前記検出器が走査されて前記第2の走査領域の画像データを出力するための第2の撮影動作を行うために前記第1の走査領域から前記第2の走査領域へ変更する指示に伴い、前記第1の撮影動作と前記第2の撮影動作の間の期間に、決定された前記バイアス光源の動作に基づいて前記バイアス光の照射を行う制御と、
    をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
JP2011544142A 2009-12-01 2009-12-01 撮像装置及び撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム Expired - Fee Related JP5398846B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2009/070201 WO2011067834A1 (ja) 2009-12-01 2009-12-01 撮像装置及び撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2011067834A1 JPWO2011067834A1 (ja) 2013-04-18
JP5398846B2 true JP5398846B2 (ja) 2014-01-29

Family

ID=44068555

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011544142A Expired - Fee Related JP5398846B2 (ja) 2009-12-01 2009-12-01 撮像装置及び撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20110128359A1 (ja)
JP (1) JP5398846B2 (ja)
CN (1) CN102640017B (ja)
WO (1) WO2011067834A1 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5720429B2 (ja) * 2011-06-14 2015-05-20 コニカミノルタ株式会社 放射線画像撮影装置
JP5849646B2 (ja) * 2011-10-25 2016-01-27 コニカミノルタ株式会社 放射線画像撮影システムおよび放射線画像撮影装置
RU2668652C2 (ru) * 2014-02-20 2018-10-02 ЭксКАУНТЕР АБ Детектор излучения и способ уменьшения количества захваченных носителей заряда в детекторе излучения
KR101777094B1 (ko) * 2014-07-21 2017-09-08 바렉스 이미징 코포레이션 자동 감지 기능을 갖는 저출력 이미저
JP6400053B2 (ja) * 2016-07-22 2018-10-03 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及び放射線撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム
CN110022771B (zh) * 2016-11-23 2023-04-18 卡尔斯特里姆保健公司 针对动态成像的同步
JP6775408B2 (ja) * 2016-12-20 2020-10-28 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及び放射線撮像システム

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11318877A (ja) * 1998-01-29 1999-11-24 Toshiba Corp X線平面検出器を用いたx線診断装置及びx線診断装置の制御方法
WO2003094733A1 (en) * 2002-05-07 2003-11-20 Philips Intellectual Property & Standards Gmbh Apparatus and method for reducing image artefacts
JP2007173986A (ja) * 2005-12-19 2007-07-05 Canon Inc 撮像装置及びその制御方法、コンピュータプログラム及び記憶媒体
JP2007225598A (ja) * 2006-01-25 2007-09-06 Canon Inc 放射線検出装置及び放射線撮像システム
JP2008134237A (ja) * 2006-11-01 2008-06-12 Canon Inc 放射線撮像装置
JP2008219594A (ja) * 2007-03-06 2008-09-18 Canon Inc 撮像装置及びその駆動方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6188744B1 (en) * 1998-03-30 2001-02-13 Kabushiki Kaisha Toshiba X-ray CT apparatus
CN1152232C (zh) * 1998-12-22 2004-06-02 三菱电机株式会社 使用定位标记的位置误差测量方法和装置及根据使用定位标记的位置误差测量结果进行位置修正的加工装置
US6952015B2 (en) * 2001-07-30 2005-10-04 Canon Kabushiki Kaisha Image pick-up apparatus and image pick-up system
US20050238140A1 (en) * 2003-08-20 2005-10-27 Dan Hardesty X-ray imaging system with automatic image resolution enhancement
US7344304B2 (en) * 2005-06-14 2008-03-18 Varian Medical Systems Technologies, Inc. Self-alignment of radiographic imaging system
JP2007104219A (ja) * 2005-10-03 2007-04-19 Canon Inc 放射線撮影装置及びその制御方法、放射線撮影システム
JP5412013B2 (ja) * 2005-10-17 2014-02-12 株式会社カネカ 医療用カテーテルチューブ及びその製造方法
JP5412030B2 (ja) * 2007-04-02 2014-02-12 オリンパス株式会社 固体撮像装置
JP5105940B2 (ja) * 2007-04-06 2012-12-26 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像システム、その制御方法及びプログラム

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11318877A (ja) * 1998-01-29 1999-11-24 Toshiba Corp X線平面検出器を用いたx線診断装置及びx線診断装置の制御方法
WO2003094733A1 (en) * 2002-05-07 2003-11-20 Philips Intellectual Property & Standards Gmbh Apparatus and method for reducing image artefacts
JP2007173986A (ja) * 2005-12-19 2007-07-05 Canon Inc 撮像装置及びその制御方法、コンピュータプログラム及び記憶媒体
JP2007225598A (ja) * 2006-01-25 2007-09-06 Canon Inc 放射線検出装置及び放射線撮像システム
JP2008134237A (ja) * 2006-11-01 2008-06-12 Canon Inc 放射線撮像装置
JP2008219594A (ja) * 2007-03-06 2008-09-18 Canon Inc 撮像装置及びその駆動方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20110128359A1 (en) 2011-06-02
WO2011067834A1 (ja) 2011-06-09
CN102640017A (zh) 2012-08-15
CN102640017B (zh) 2015-02-11
JPWO2011067834A1 (ja) 2013-04-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5517484B2 (ja) 撮像装置及び撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム
JP5792923B2 (ja) 放射線撮像装置及び放射線撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム
JP5566209B2 (ja) 撮像装置及び撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム
JP5361628B2 (ja) 撮像装置及び撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム
JP5274661B2 (ja) 放射線撮像装置及び放射線撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム
JP5448643B2 (ja) 撮像システム、その画像処理方法及びそのプログラム
JP5642166B2 (ja) 撮像システム及びその制御方法
JP5721405B2 (ja) 撮像システム、その制御方法及びプログラム
JP5398846B2 (ja) 撮像装置及び撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム
JP5539139B2 (ja) 撮像装置、撮像システム、撮像装置の制御方法
JP5774114B2 (ja) 撮像装置、撮像システム、及び撮像装置の制御方法
JP5460276B2 (ja) 撮像装置及び撮像システム
JP6061865B2 (ja) 撮像装置、撮像システム、及び撮像装置の制御方法
JP5784086B2 (ja) 撮像装置及び撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム
US20120241634A1 (en) Image pickup apparatus, image pickup system, and method of controlling them

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130924

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20131022

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5398846

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees