JPWO2013161173A1 - チップソーティング装置およびチップソーティング方法、制御プログラム、可読記憶媒体 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 142
- 238000003860 storage Methods 0.000 title claims description 13
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 29
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 12
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 6
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 5
- 238000012546 transfer Methods 0.000 abstract description 18
- 230000008521 reorganization Effects 0.000 abstract description 10
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 53
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 33
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 19
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 15
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 11
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 11
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 5
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 2
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000002716 delivery method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
- H01L21/67271—Sorting devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
- H01L22/10—Measuring as part of the manufacturing process
- H01L22/14—Measuring as part of the manufacturing process for electrical parameters, e.g. resistance, deep-levels, CV, diffusions by electrical means
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
- H01L22/20—Sequence of activities consisting of a plurality of measurements, corrections, marking or sorting steps
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
Description
2 供給テーブル
21 切断ウエハ
3 配列テーブル
31 ランクシート
4 搬送アーム
41 コレット
5 供給側画像処理部
6 配列側画像処理部
7 アンローダ部
8 アンローダ取出アーム
9、9A 制御装置
90 入力部
91 表示部
92、92A 制御部(CPU)
921 ソーティング数量管理最適化演算手段
922 装置セッティング手段
923 ソーティング手段
93 RAM
94 ROM
95 データベース
図1は、本発明の実施形態1におけるチップソーティング装置の要部構成例を概略的に示す平面模式図である。図2は、図1のチップソーティング装置におけるチップソーティング制御ハード構成図である。
図6は、本発明の実施形態2におけるチップソーティング装置におけるチップソーティング制御ハード構成図である。なお、図1および図2の構成部材と同一の作用効果を奏する構成部材には同一の符号を付して説明する。
Claims (13)
- 個々にチップ固有の特性データを持つ母集団から規定のランク毎に分類するチップソーティング装置において、
払い出すチップ数量について最小基準数に比べて少数のシートが発生しないように、該特性データからランク毎のソート数量としてソート払い出し数量を割り振る演算を行うソーティング数量管理演算手段と、
演算した該ソート払い出し数量に基づいてソーティング処理を制御するソーティング手段とを有するチップソーティング装置。 - 前記ソーティング数量管理演算手段は、前記ソーティング制御手段が前記ソーティング処理を実行する前に、前記母集団の一部または全体に対して前記ソート数量に関する演算を前記規定のランク毎に実施する請求項1に記載のチップソーティング装置。
- 前記ソーティング数量管理演算手段は、前記ソーティング処理を行う1枚目のランクシートから最大基準数でソーティングを行うように前記ソート数量を演算し、最後から少なくとも2枚のランクシートに載せるチップ数を、残りの全チップ数/残りのランクシート枚数から平均化し、割り切れない余りのチップ数をいずれか少なくとも1枚のランクシートに加えるように該ソート数量を演算する請求項2に記載のチップソーティング装置。
- 前記ソーティング数量管理演算手段は、前記ソーティング処理を行う全てのランクシートに載せるランク別全チップ数量を、ランク別全チップ数/ランク別全ランクシート枚数から平均化し、割り切れない余りのチップ数をいずれか少なくとも1枚のランクシートに加えるように該ソート数量を演算する請求項2に記載のチップソーティング装置。
- 前記ソーティング処理前に、該ソーティング処理が行われるランク毎に必要なランクシートの数量を前記母集団のランク別全チップ数量から予め計算して該必要なランクシートの数量を準備するための装置セッティング手段をさらに有する請求項1に記載のチップソーティング装置。
- 前記ソーティング処理は、ウエハ切断後の多数の半導体チップが搭載される供給テーブル上から配列テーブル上のランクシートに搬送アームにより該半導体チップを規定のランク別に順次移し変える請求項1に記載のチップソーティング装置。
- 個々にチップ固有の特性データを持つ母集団から規定のランク毎に分類するチップソーティング方法において、
ソーティング数量管理演算手段が、払い出すチップ数量について最小基準数に比べて少数のシートが発生しないように、該特性データからランク毎のソート数量としてソート払い出し数量を割り振る演算を行うソーティング数量管理演算工程と、
ソーティング手段が、演算した該ソート払い出し数量に基づいてソーティング処理を制御するソーティング工程とを有するチップソーティング方法。 - 前記ソーティング数量管理演算工程は、前記ソーティング制御手段が前記ソーティング処理を実行する前に、ソーティング数量管理演算手段が前記母集団の一部または全体に対して前記ソート数量に関する演算を前記規定のランク毎に実施する請求項7に記載のチップソーティング方法。
- 前記ソーティング数量管理演算工程は、前記ソーティング処理を行う1枚目のランクシートから最大基準数でソーティングを行うように前記ソート数量を演算し、最後から少なくとも2枚のランクシートに載せるチップ数を、残りの全チップ数/残りのランクシート枚数から平均化し、割り切れない余りのチップ数をいずれか少なくとも1枚のランクシートに加えるように該ソート数量を演算する請求項8に記載のチップソーティング方法。
- 前記ソーティング数量管理演算工程は、前記ソーティング処理を行う全てのランクシートに載せるランク別全チップ数量を、ランク別全チップ数/ランク別全ランクシート枚数から平均化し、割り切れない余りのチップ数をいずれか少なくとも1枚のランクシートに加えるように前記ソート数量を演算する請求項8に記載のチップソーティング方法。
- 前記ソーティング処理前に、装置セッティング手段が、該ソーティング処理が行われるランク毎に必要なランクシートの数量を前記母集団のランク別全チップ数量から予め計算して該必要なランクシートの数量を準備するための装置セッティング工程をさらに有する請求項7に記載のチップソーティング方法。
- 請求項7〜11のいずれかに記載のチップソーティング方法の各工程をコンピュータに実行させるための処理手順が記述された制御プログラム。
- 請求項12に記載の制御プログラムが格納されたコンピュータ読み取り可能な可読記憶媒体。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012103500 | 2012-04-27 | ||
JP2012103500 | 2012-04-27 | ||
PCT/JP2013/001844 WO2013161173A1 (ja) | 2012-04-27 | 2013-03-18 | チップソーティング装置およびチップソーティング方法、制御プログラム、可読記憶媒体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2013161173A1 true JPWO2013161173A1 (ja) | 2015-12-21 |
JP5941982B2 JP5941982B2 (ja) | 2016-06-29 |
Family
ID=49482531
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014512314A Expired - Fee Related JP5941982B2 (ja) | 2012-04-27 | 2013-03-18 | チップソーティング装置およびチップソーティング方法、制御プログラム、可読記憶媒体 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5941982B2 (ja) |
CN (1) | CN104254911B (ja) |
TW (1) | TWI601224B (ja) |
WO (1) | WO2013161173A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6698213B2 (ja) * | 2017-03-09 | 2020-05-27 | 株式会社Fuji | ウエハ供給装置 |
JP6698212B2 (ja) * | 2017-03-09 | 2020-05-27 | 株式会社Fuji | 部品装着機 |
CN109830447B (zh) * | 2019-01-17 | 2020-11-27 | 深圳赛意法微电子有限公司 | 半导体晶圆芯片分选方法、半导体产品的封装方法及系统 |
CN112612660B (zh) * | 2020-12-16 | 2024-02-13 | 海光信息技术股份有限公司 | 规格信息数据库创建方法、芯片挑选方法及装置和系统 |
CN113387167B (zh) * | 2021-06-18 | 2023-04-28 | 上海金东唐科技有限公司 | 激光芯片的处理方法、装置及电子设备 |
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JP2002050645A (ja) * | 2000-08-03 | 2002-02-15 | Sanyo Electric Co Ltd | 半導体装置の製造方法 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01172536A (ja) * | 1987-12-25 | 1989-07-07 | Daihatsu Motor Co Ltd | 断熱、耐熱性セラミックス多孔体複合金属材料 |
JPH0936203A (ja) * | 1995-07-20 | 1997-02-07 | Canon Inc | 移動体装置及びその制御方法 |
AT6405U1 (de) * | 2002-06-05 | 2003-10-27 | Card Casinos Austria Res & Dev | Chipsortiervorrichtung |
TW200848722A (en) * | 2007-06-15 | 2008-12-16 | King Yuan Electronics Co Ltd | Automatic optical inspection device |
JP4931710B2 (ja) * | 2007-06-29 | 2012-05-16 | 株式会社リコー | ウエハにおける良品チップ分類方法、それを用いたチップ品質判定方法、ならびにチップ分類プログラム、チップ品質判定プログラム、マーキング機構及び半導体装置の製造方法 |
-
2013
- 2013-03-18 CN CN201380021965.2A patent/CN104254911B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2013-03-18 JP JP2014512314A patent/JP5941982B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2013-03-18 WO PCT/JP2013/001844 patent/WO2013161173A1/ja active Application Filing
- 2013-04-01 TW TW102111743A patent/TWI601224B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN104254911B (zh) | 2016-07-06 |
TW201351539A (zh) | 2013-12-16 |
JP5941982B2 (ja) | 2016-06-29 |
CN104254911A (zh) | 2014-12-31 |
WO2013161173A1 (ja) | 2013-10-31 |
TWI601224B (zh) | 2017-10-01 |
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Legal Events
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RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
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RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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